JP2019029893A - 判定装置 - Google Patents
判定装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2019029893A JP2019029893A JP2017149153A JP2017149153A JP2019029893A JP 2019029893 A JP2019029893 A JP 2019029893A JP 2017149153 A JP2017149153 A JP 2017149153A JP 2017149153 A JP2017149153 A JP 2017149153A JP 2019029893 A JP2019029893 A JP 2019029893A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- unit
- determination
- input
- control unit
- measurement
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims abstract description 79
- 230000007274 generation of a signal involved in cell-cell signaling Effects 0.000 claims abstract description 23
- 230000004308 accommodation Effects 0.000 claims description 3
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 96
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 64
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 41
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 21
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 20
- 238000011990 functional testing Methods 0.000 description 13
- 238000000034 method Methods 0.000 description 11
- 230000008569 process Effects 0.000 description 10
- 230000004044 response Effects 0.000 description 8
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 3
- 229910003460 diamond Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000010432 diamond Substances 0.000 description 2
- 230000005856 abnormality Effects 0.000 description 1
- 230000032683 aging Effects 0.000 description 1
- 230000015556 catabolic process Effects 0.000 description 1
- 230000008859 change Effects 0.000 description 1
- 238000012790 confirmation Methods 0.000 description 1
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 238000006731 degradation reaction Methods 0.000 description 1
- 238000013461 design Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 230000010365 information processing Effects 0.000 description 1
- 238000012423 maintenance Methods 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 238000004321 preservation Methods 0.000 description 1
- 230000003449 preventive effect Effects 0.000 description 1
- 239000012925 reference material Substances 0.000 description 1
- 238000012795 verification Methods 0.000 description 1
Images
Landscapes
- Telephone Function (AREA)
Abstract
Description
図1は、本発明における判定装置1の外観の一例を示す図である。判定装置1は、自装置に収容された基板の良否を判定する。ここで、基板は、例えば局側の伝送装置に利用される基板である。一例として、基板は、3.4KHz専用線で使用される基板が挙げられる。判定装置1は、タッチパネル10及び収容部20を備える。
収容部20は、良否判定の対象となる基板(以下「対象基板」という。)を収容するための収容口である。ここで、良否判定とは、対象基板自体、又は機能に問題があるか否かを判定する処理であり、例えば、良否判定には対象基板が収容部20に収容された時点における電源系の良否判定と、対象基板が収容部20に収容された後で実行される機能テストにおける良否判定とがある。
図2(A)は対象基板21のハードウェア構成を表す図であり、図2(B)は対象基板21に備えられるLEDランプの一例を示す図である。
対象基板21は、回線設定として、2W式設定と4W式設定とに対応する。図2(A)に示されるように、対象基板21は、入出力コネクタ22、制御回路23及び発光部24を備える。入出力コネクタ22は、判定装置1と対象基板21とを接続するためのインタフェースである。入出力コネクタ22は、判定装置1から出力された信号を制御回路23に出力し、制御回路23から出力された信号を判定装置1に出力する。
判定装置1は、タッチパネル10、制御部11、給電部12、入出力コネクタ13、テスト結果記憶部14及び入出力部15を備える。なお、タッチパネル10は、図1において説明したため説明を省略する。
制御部11は、判定装置1の各機能部の動作を制御する。制御部11は、表示制御部111、入出力制御部112、信号生成部113、測定部114及び判定部115を備える。表示制御部111は、タッチパネル10の表示を制御する。入出力制御部112は、入出力コネクタ13及び入出力部15の信号の入出力を制御する。信号生成部113は、各種信号を生成する。例えば、信号生成部113は、テスト用に第2ランプ242を点灯させるための信号(以下「テスト用信号」という。)と、機能テスト用信号とを生成する。
入出力コネクタ13は、自装置と、対象基板21とを接続するためのインタフェースである。入出力コネクタ13は、自装置から対象基板21に対する信号と、対象基板21から自装置に対する信号との入出力を行う。
入出力部15は、自装置と、他の装置(例えば、パーソナルコンピュータ等の情報処理装置)とを接続するためのインタフェースである。入出力部15は、接続されている他の装置に対して、保存データを所定の形式で出力する。ここで、所定の形式とは、例えばCSVファイルの形式である。
図4(A)は選択画面30の一例を示す図であり、図4(B)はエラー画面36の一例を示す図である。選択画面30とは、ユーザに対して判定装置1に実行させる指示を選択させるための画面である。選択画面30は、対象基板自体に問題がないと判定された場合にタッチパネル10に表示される。また、エラー画面36とは、ユーザに対してエラーであることを通知するための画面である。エラー画面36は、対象基板自体に問題があると判定された場合にタッチパネル10に表示される。
また、エラー画面36には、エラーであることをユーザに通知するための情報35が表示される。
図5に示す画面は、選択画面30において機能テストボタン32が選択され、機能テストが実行された後にタッチパネル10に表示される。以下の説明では、図5に示す画面を機能テスト結果表示画面と記載する。機能テスト結果表示画面には、機能テストが行われる検査項目37と、検査項目37に対する機能テストの判定結果38とが対応付けて表示される。図5において、レベルダイヤ及び伝送損失周波数特性の項目に対する判定結果と、実行リターンロスの項目に対する判定結果と、無通話時雑音の項目に対する判定結果とが異なる態様で表示されている。このような表示は、表示制御部111が、以下の3つの表示基準に基づいて実行する。なお、機能テストの検査項目毎に、図6及び図7に示されるように、複数の測定対象となる項目(以下「測定項目」という。)がある。
1.機能テストによる検査項目における測定項目の測定結果全てが、対象基板21の仕様で規定されている値(以下「規定値」という。)以上であり、かつ、規定値よりも良いとされる値(以下「推奨閾値」という。)以上である場合
2.機能テストによる検査項目における測定項目の測定結果の全てが規定値以上であり、かつ、一部又は全てが推奨閾値未満である場合
3.機能テストによる検査項目における測定項目の測定結果の一部又は全てが、規定値未満である場合
図6(A)はレベルダイヤの測定項目に対する測定結果を表す図であり、図6(B)は伝送損失周波数の測定項目に対する測定結果を表す図であり、図7(A)は実行リターンロスの測定項目に対する測定結果を表す図であり、図7(B)は無通話時雑音の測定項目に対する測定結果を表す図である。図6及び図7に示すように、測定項目に対する測定結果においても、測定結果が規定値以上であるか否か、推奨閾値以上であるか否かに応じて表示制御部111が異なる態様で表示する。
保存データの一覧画面は、選択画面30において結果表示ボタン33が選択された場合にタッチパネル10に表示される画面である。図8に示すように、保存データの一覧画面には、No.1〜No.20の20個の保存データの保存領域39が表示される。表示制御部111は、図8に示すように、保存されている保存データにおける測定結果に基づいて、保存データを識別するための識別番号を異なる態様で表示する。例えば、No.8〜No.10、No.14及びNo.15は、測定項目の全てが推奨閾値以上のデータがある、すなわち、機能テストの全ての検査項目において、測定項目の全てが推奨閾値以上のデータがある。この場合、表示制御部111は、その旨を示すように表示態様を変えて表示する。
入出力制御部112は、収容部20内に基板が収容されると、給電部12に対して給電を指示する。給電部12は、入出力制御部112の指示に従って、入出力コネクタ13を介して対象基板に給電する(ステップS101)。判定部115は、入出力コネクタ13を介して、対象基板から応答があったか否かを判定する(ステップS102)。具体的には、判定部115は、入出力コネクタ13を介して給電を受けている旨の通知を取得したか否かによって対象基板から応答があったか否かを判定する。入出力コネクタ13を介して給電を受けている旨の通知を取得した場合、判定部115は対象基板から応答があったと判定する。入出力コネクタ13を介して給電を受けている旨の通知を取得していない場合、判定部115は対象基板から応答があったと判定する。
判定部115は、タッチパネル10を介して入力された指示を判定する(ステップS201)。具体的には、判定部115は、タッチパネル10を介して入力された指示が、LEDテスト、機能テスト、結果表示の何れであるのかを判定する。なお、選択画面には、輝度調整も表示されるが、輝度調整の説明については図4で説明したため省略する。
また、例えば、表示制御部111は、全ての項目で推奨閾値以上である場合には、判定結果を青で表示する。
一方、全ての機能テストが終了した場合(ステップS208−YES)、入出力制御部112は機能テストの結果を、機能テスト実行前に選択された保存先に保存する(ステップS209)。
タッチパネル10を介して保存データの選択がなされると、表示制御部111は選択された保存データの詳細情報をタッチパネル10に表示する(ステップS211)。例えば、表示制御部111は、図5〜7に示すような画面を表示する。
一方、保存データの出力指示がなされた場合(ステップS212−YES)、入出力制御部112は入出力部15を介して接続されている他の装置に対して、選択された保存データを所定の形式で出力する(ステップS213)。
保存結果の表示において、「検査結果の全てがOKで、かつ、全ての検査結果の値がより良いとされる水準を満たす」データと、「検査結果の全てがOKで、かつ、一部の検査結果の値(一つの値でも)がより良いとされる水準を満たない」データと、「検査結果の一部又は全てがNG」のデータのそれぞれで表示態様を変える。例えば、「検査結果の全てがOKで、かつ、全ての検査結果の値がより良いとされる水準を満たす」データを「緑色」で表示したり、または、「検査結果の全てがOKで、かつ、一部の検査結果の値(一つの値でも)がより良いとされる水準を満たない」データを「橙色」で表示したり、「検査結果の一部又は全てがNG」のデータを「赤色」で表示したり、等である。
本実施形態では、機能テストとして、レベルダイヤ測定、伝送損失周波数測定、実行リターンロス測定及び無通話時雑音測定を例に説明したが、機能テストはこれに限定される必要はない。例えば、機能テストは、レベルダイヤ測定、伝送損失周波数測定、実行リターンロス測定及び無通話時雑音測定のいずれかであってもよいし、上述した機能以外を含んでもよい。機能テストが、レベルダイヤ測定、伝送損失周波数測定、実行リターンロス測定及び無通話時雑音測定のいずれかである場合、例えば表示制御部111はユーザによってレベルダイヤ測定、伝送損失周波数測定、実行リターンロス測定及び無通話時雑音測定のいずれの機能テストを実行するのかを選択する表示を行ってもよい。
Claims (2)
- 良否判定の対象となる基板を収容するための収容部と、
前記収容部に収容された前記基板の機能を確認するための信号を複数生成する信号生成部と、
生成された前記信号それぞれに基づいて得られる結果から前記基板の良否を判定する判定部と、
を備える判定装置。 - 前記結果を複数記憶する結果記憶部と、
表示制御部と、をさらに備え、
前記表示制御部は、前記結果記憶部に記憶されている複数の結果をそれぞれ、結果に応じた態様で表示部に表示させる、請求項1に記載の判定装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2017149153A JP6530790B2 (ja) | 2017-08-01 | 2017-08-01 | 判定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2017149153A JP6530790B2 (ja) | 2017-08-01 | 2017-08-01 | 判定装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2019029893A true JP2019029893A (ja) | 2019-02-21 |
JP6530790B2 JP6530790B2 (ja) | 2019-06-12 |
Family
ID=65476649
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2017149153A Active JP6530790B2 (ja) | 2017-08-01 | 2017-08-01 | 判定装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP6530790B2 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2022244264A1 (ja) * | 2021-05-21 | 2022-11-24 | 日本電信電話株式会社 | 判定装置、および、判定方法 |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH07318614A (ja) * | 1994-05-23 | 1995-12-08 | Tescon:Kk | ファンクションテスト・システム |
JPH1183946A (ja) * | 1997-09-01 | 1999-03-26 | Nec Eng Ltd | 被測定基板用テスト装置 |
JP2002010305A (ja) * | 2000-06-22 | 2002-01-11 | Nec Corp | 回線インタフェースカードテスター |
JP2007017190A (ja) * | 2005-07-05 | 2007-01-25 | Toshiba Corp | 回路基板試験装置、回路基板試験方法、及び回路基板試験プログラム |
-
2017
- 2017-08-01 JP JP2017149153A patent/JP6530790B2/ja active Active
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH07318614A (ja) * | 1994-05-23 | 1995-12-08 | Tescon:Kk | ファンクションテスト・システム |
JPH1183946A (ja) * | 1997-09-01 | 1999-03-26 | Nec Eng Ltd | 被測定基板用テスト装置 |
JP2002010305A (ja) * | 2000-06-22 | 2002-01-11 | Nec Corp | 回線インタフェースカードテスター |
JP2007017190A (ja) * | 2005-07-05 | 2007-01-25 | Toshiba Corp | 回路基板試験装置、回路基板試験方法、及び回路基板試験プログラム |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2022244264A1 (ja) * | 2021-05-21 | 2022-11-24 | 日本電信電話株式会社 | 判定装置、および、判定方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP6530790B2 (ja) | 2019-06-12 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US10094866B2 (en) | Portable multi-function cable tester | |
US9075135B2 (en) | Reporting connection failure | |
US11360138B2 (en) | Portable multi-function cable tester | |
JP4420043B2 (ja) | 音響機器 | |
CN110737560B (zh) | 一种服务状态检测方法、装置、电子设备和介质 | |
JP2019029893A (ja) | 判定装置 | |
US7714604B2 (en) | System and method for testing an operating condition of LEDs on a motherboard | |
US11216328B2 (en) | Server, electronic device, and control method thereof | |
KR101239804B1 (ko) | 제어봉제어계통 고장진단 장치 및 그 방법 | |
TWI491898B (zh) | 薄膜開關電路之測試系統 | |
KR20130049283A (ko) | 소형 와이어 하네스 검사장치 및 이를 이용한 검사방법 | |
JP2008139243A (ja) | 制御盤試験装置 | |
KR101322172B1 (ko) | 자기 테스팅 디바이스 컴포넌트 | |
CN110907789B (zh) | 器件测试方法、装置及电子设备 | |
KR100872964B1 (ko) | 스크립트의 재사용이 가능한 시험 자동화 시스템 및 방법 | |
EP3492940B1 (en) | Display device capable of performing self-diagnosis in relation to partial discharge | |
CN111095805B (zh) | 模拟信号输入输出装置及模拟信号输入输出装置的控制方法 | |
JP6980447B2 (ja) | 無線リレー、無線リレーの設定のための装置及び無線リレーシステム | |
KR101478790B1 (ko) | 인쇄회로기판의 테스트 장치 | |
KR20150050031A (ko) | Smps 검사 장치 | |
JP2016151974A (ja) | ヒューマンマシーンインタフェースシステム、ヒューマンマシーンインタフェース装置、及びプログラム | |
KR20240014965A (ko) | 고조파 제어 방법, 디바이스 및 기록매체 | |
JP2014016171A (ja) | 検査システム及び信号生成装置 | |
JP2020042387A (ja) | 機能安全判定システム、機能安全判定方法およびプログラム | |
JP2023107080A (ja) | 表示システム、及び、表示方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20190129 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20190228 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20190514 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20190517 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 6530790 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |