KR200234483Y1 - 회로기판상 전자부품측정장치 - Google Patents

회로기판상 전자부품측정장치 Download PDF

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KR200234483Y1 KR2020000037145U KR20000037145U KR200234483Y1 KR 200234483 Y1 KR200234483 Y1 KR 200234483Y1 KR 2020000037145 U KR2020000037145 U KR 2020000037145U KR 20000037145 U KR20000037145 U KR 20000037145U KR 200234483 Y1 KR200234483 Y1 KR 200234483Y1
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본 고안은 개인용 컴퓨터의 제어에 의한 인서키트 테스터에 관한 것으로, 이는 시스템 전체적인 제어를 개인용 컴퓨터에서 통합하므로 하드웨어구성의 효율을 높힐 뿐만 아니라 시스템을 구성하는 소자들의 발전에 따라 보다 능동적으로 인서키트 테스트기능을 향상시킬 수 있는 회로기판상 전자부품측정장치에 관한 것이다.
이를 위한 본 고안은, 개인용 컴퓨터와 더불어 DC 제어신호, AC 제어신호, 멀티플랙서 제어신호및 측정데이터등을 통해 DC 측정부(24), AC 측정부(25)및 피측정물(27)이 연결된 멀티플랙서(26)가 각각 연결되고 있는 인서키트 테스터에 있어서, 상기 개인용 컴퓨터(20)는 통신소프트웨어가 없어지고 직접 PLD(22)에 데이터를 입력시켜 측정에 필요한 제어신호를 발생시키고, 상기 PLD(22)의 적용으로 고속의 입출력이 가능한 입출력 인터페이스부(21)가 설치된 것을 특징으로 한다.

Description

회로기판상 전자부품측정장치{IN-CIRCUIT TESTER}
본 고안은 개인용 컴퓨터의 제어에 의한 인서키트 테스터에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 시스템 전체적인 제어를 개인용 컴퓨터에서 통합하므로 하드웨어구성의 효율을 높힐 뿐만 아니라 시스템을 구성하는 소자들의 발전에 따라 보다 능동적으로 인서키트 테스트기능을 향상시킬 수 있는 회로기판상 전자부품측정장치에 관한 것이다.
보통 인서키트 테스터는 전자부품을 검사하는 테스터의 일종으로 단일 부품을 검사하는 일반 계측기와는 다르게 회로기판상에 조립된 전자부품을, 즉 회로구성이 이루어져 주변 부품의 영향을 받고 있는 상태를 미리 입력해 놓은 정보에 따라 모든 부품에 대하여 주변회로의 영향을 제거하면서 자동으로 검사하여 불량항목 , 불량내용및 불량위치등을 디스플레이시켜주는 측정장치인 것이다.
종래의 회로기판상 전자부품측정장치는 도 1 과 같이 구성되고 있는 바, 이는 개인용 컴퓨터(1)가 통신 제어신호와 통신 데이터를 통해 중앙처리부(2)에 연결되고 있고, 이 중앙처리부(2)는 마이크로프로세서(7), 프로그램메모리(8),데이터메모리(9) 및 입출력 인터페이스(10)로 구성되어 있다. 상기 중앙처리부(2)의 입출력 인터페이스(10)로부터 통신 제어신호와 통신데이터, DC 제어신호, AC 제어신호, 멀티플랙서 제어신호및 측정데이터등을 통해 DC 측정부(3), AC 측정부(4)및피측정물(6)이 연결된 멀티플랙서(5)가 각각 연결되어 있다.
상기 개인용 컴퓨터(1)는 사용자로부터 피측정물(6)인 회로기판과 기판상에 있는 전자부품의 정보들을 입력받아서 이를 저장하고 관리하면서 중앙처리부(2)와 통신하여 실제로 측정이 완료된 결과를 받아 이를 분석한 다음 사용자에게 알려주므로 사용자와 측정장치간의 인터페이스를 담당하고 있다. 상기 중앙처리부(2)는 각 측정부를 모두 제어하는 부분으로 마이크로프로세서(7)와 그 프로그램으로 동작하면서 개인용 컴퓨터(1)와는 병행하여 일을 처리할 수 있다.
상기 DC 측정부(3)는 전자부품을 검사하는 테스터의 하나로써 주로 DC 전원을 이용하여 전자부품을 검사하고, 상기 AC 측정부(4)는 콘덴서, 코일과 같은 교류전원을 이용하여 검사하는 부품을 검사하며, 멀티플랙서(5)는 회로기판상에 조립된 수많은 부품을 하나씩 측정부에 연결시켜주는 역할을 한다. 상기 중앙처리부(2)에서의 마이크로프로세서(7)는 프로그램에 의해 동작하는 콘트롤러이고, 프로그램 메모리(8)는 측정부의 모든 동작을 제어하는 프로그램이 저장되는 곳이며, 데이터메모리(9)는 측정정보 또는 측정결과를 일시 저장하는 곳이다. 그리고, 입출력 인터페이스(10)의 모든 동작은 상기 마이크로프로세서(7)의 프로그램에 의해 움직이게 된다.
상기 중앙처리부(2)의 동작 흐름은 도 2 와 같이 행하여지게 되는 바, 이는로컬 메모리및 측정부(3, 4)를 초기화시키고 측정이 가능한 상태를 개인용 컴퓨터 (1)에 알려 측정된 전자부품의 정보를 요청하게 되고, 개인용 컴퓨터(1)와 통신하여 검사하려는 부품들의 정보를 받아서 로컬 메모리에 저장하게 된다. 미리 저장된 프로그램을 이용하여 수신된 부품정보에 해당하는 제어신호를 만들고 이 제어신호로 각 측정부(3, 4)가 동작하여 부품측정을 완료하고, 이 측정 결과를 내부 메모리에 임시 저장하며, 상기 개인용 컴퓨터(1)와 통신하여 측정 결과를 전송하도록 되어 있다.
이상과 같이 구성되는 종래의 회로기판상 전자부품측정장치에서는 개인용 컴퓨터(1)보다는 중앙처리부(2)에 보다 기술이 집중되어 있는 관계로 각 부분의 측정부(3, 4)를 제어하면서 동시에 사용자와의 인터페이스 작업을 수행하기에 처리속도가 너무 느리게 되어 있다. 상기 개인용 컴퓨터(1)는 사용자와의 인터페이스작업, 즉 부품정보의 입력, 측정결과의 출력및 자료의 보관등을 전달하고 마이크로프로세서(7)를 이용한 전용 중앙처리부(2)가 각 측정부(3, 4)를 제어하면서 부품검사를 완료한 다음 그 측정결과를 수집하여 개인용 컴퓨터(1)에 전달하도록 되어 있다.
이처럼 2 개의 처리장치가 서로 다른 영역의 일을 처리하므로써 빠른 속도로 부품검사를 행할 수 있는 바, 여기서의 단점은 인서키트 테스터기능의 향상 또는 확대시키고자 할 경우에 나타나고 있다. 이는 중앙처리부(2)에 사용하는 마이크로프로세서(7)를 고성능으로 교체할 경우에 해당 마이크로프로세서의 사용법 습득은물론 주변회로의 설계와 제어프로그램의 작성도 새롭게 해야 한다는 시스템상 설계문제가 있었다.
한편, 각 측정부(3, 4)가 동작하는 시기는 제어신호가 상당히 복잡하고 정확한 타이밍으로 출력되어야 하고, 이 제어신호를 만들기 위해서는 하드웨어적 회로구성과 마이크로프로세서의 콘트롤러를 이용한 소프웨어적 구성등이 있다. 전자의 경우는 회로구성만으로 제어신호를 만들게 되면 빠른 속도로 안정된 제어신호를 만들어 내는 장점이 있겠지만 방대한 회로를 설계해야 했다. 그 때문에 종래에는 대부분 기본적인 회로만 구성하고 마이크로프로세서와 그 프로그램을 이용하여 소프트웨어적으로 제어신호를 만들어내곤 하였다. 이는 하드웨어구성보다 처리속도가 느리기 때문에 보다 고가, 고성능의 마이크로프로세서를 이용해야만 했다.
본 고안은 상기와 같은 종래의 회로기판상 전자부품측정장치가 갖고 있는 제반 결점을 해소하기 위해 안출한 것으로, 별도의 입출력 인터페이스부에 PLD의 펌웨어집적회로를 설치하여 언제든 데이터만 입력시켜주면 필요한 하드웨어회로가 내부에서 새로 만들어지거나 수정되므로 기능향상과 더불어 개인용 컴퓨터의 프로그램 수정과 상기 PLD 의 데이터변경만으로 가능하게되는 인서키트 테스터인 회로기판상 전자부품측정장치를 제공함에 그 목적이 있다.
도 1 은 종래의 회로기판상 전자부품측정장치를 설명하기 위한 블록도,
도 2 는 도 1 에 도시된 중앙처리부를 설명하기 위한 동작 흐름도,
도 3 은 본 고안의 실시예에 관한 회로기판상 전자부품측정장치를 도시해 놓은 블록도,
도 4 는 본 고안의 회로기판상 전자부품측정장치를 설명하기 위한 동작흐름도이다.
* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명
20 : 개인용 컴퓨터 21 : 입출력인터페이스부
22 : PLD(PROGRAMMABLE LOGIC DEVICE)
23 : A/D 컨버터 24 : DC 측정부
25 : AC 측정부 26 : 멀티플랙서
27 : 피측정물
상기 목적을 달성하기 위한 본 고안은, 개인용 컴퓨터와 더불어 DC 제어신호, AC 제어신호, 멀티플랙서 제어신호및 측정데이터등을 통해 DC 측정부(24), AC 측정부(25)및 피측정물(27)이 연결된 멀티플랙서(26)가 각각 연결되고 있는 인서키트 테스터에 있어서, 상기 개인용 컴퓨터(20)는 통신소프트웨어가 없어지고 직접 PLD(22)에 데이터를 입력시켜 측정에 필요한 제어신호를 발생시키고, 상기 PLD(22)의 적용으로 고속의 입출력이 가능한 입출력 인터페이스부(21)가 설치된 것을 그 특징으로 한다.
이하, 본 고안의 실시예를 예시도면에 의거하여 상세히 설명한다.
도 3 은 본 고안의 실시예에 관한 회로기판상 전자부품측정장치를 설명하기 위한 블록도로서, 본 고안은 개인용 컴퓨터의 제어에 의한 인서키트 테스터로써 시스템 전체적인 제어를 개인용 컴퓨터(20)에서 통합하므로 하드웨어구성의 효율을 높힐 뿐만 아니라 시스템을 구성하는 소자들의 발전에 따라 보다 능동적으로 인서키트 테스트기능을 향상시킬 수 있도록 되어 있다.
상기 개인용 컴퓨터(20)에는 입출력 인터페이스부(21)를 매개로 DC 제어신호, AC 제어신호, 멀티플랙서 제어신호및 측정데이터등을 통해 DC 측정부(24), AC 측정부(25)및 피측정물(27)이 연결된 멀티플랙서(26)가 각각 연결되고 있는 바, 상기 개인용 컴퓨터(20)는 종래와 달리 통신소프트웨어가 없어지고 직접 PLD(22)에데이터를 입력시켜 측정에 필요한 제어신호를 발생시키고 있고, 상기 PLD(22)의 적용으로 고속의 입출력이 가능한 입출력 인터페이스부(21)가 설치되고 있다. 이 입출력 인터페이스부(21)에는 A/D 컨버터(23)가 구성되어 있다.
이상과 같이 구성되는 본 고안의 인서키트 테스터는 개인용 컴퓨터(20)의 고성능화및 제조업체에 의한 지속적인 개인용 컴퓨터의 발전에 맞게 용이하게 적용하여 공급할 수 있다. 본 고안의 인서키트 테스터인 회로기판상 전자부품측정장치의 동작흐름은 도 4 와 같이 행하여지게 된다.
즉, 작업자에 의해 검사하려는 회로기판의 모델명이 개인용 컴퓨터(20)를 통해 입력하며, 내부의 하드디스크드라이버에서 세부 부품정보가 저장되어 있는 화일을 로드하고, 이어 검사하려는 상기 회로기판을 DC 측정부(24)와 AC 측정부(25)의 위치에 올려놓고 시작버튼을 누른다. 상기 개인용 컴퓨터(20)에서는 각 부품에 해당하는 부품정보를 분석하여 그에 맞는 특정한 코드를 입출력 인터페이스부(21)의 PLD(22)에 입력시키면, 이 PLD(22)는 다시 내부의 로직에 의하여 자동적으로 각 측정부에 필요한 제어신호를 출력하게 되므로 측정결과는 개인용 컴퓨터(20)로 입력되어진다.
상기 개인용 컴퓨터(20)는 PLD(22)의 코드를 출력한 다음에 측정결과가 도착하기를 기다리고 있다가 그 결과가 도착하면 검사한 전자부품별로 측정결과를 저장하게 되는 바, 위 과정에서는 한번에 하나의 부품을 검사하는 것이기 때문에 마지막 부품까지 차례대로 반복하게 된다. 따라서, 피측정물(27)인 회로기판상에 있는 모든 부품을 마지막까지 검사하면 미리 저장된 측정결과를 전부 분석하여 최종 결과를 모니터화면상의 디스플레이 또는 프린터의 출력을 하게 된다.
이상 설명한 바와 같이 본 고안에 의하면, 종래의 마이크로프로세서를 사용하는 것에 비해 제조원가가 저렴하고 복잡한 회로구조를 없애므로 고장발생률이 적어질 뿐만 아니라 빠르고 쉽게 인서키트 테스터의 기능을 향상시킬 수 있는 잇점이 있다.

Claims (1)

  1. 개인용 컴퓨터와 DC전원을 이용하여 부품을 검사하는 DC측정부, 교류전원을 이용하는 부품을 검사하는 AC측정부 및 피측정물내의 수많은 부품을 상기 측정부에 연결시켜주는 멀티플랙서가 각각 연결되어 있는 회로기판상 전자부품측정장치에 있어서,
    상기 개인용 컴퓨터는 회로기판의 모델별로 세부 부품정보가 하드디스크에 저장되고, 각 부품에 해당하는 부품정보를 분석하여 그에 맞는 특정 코드를 출력하여 측정에 필요한 제어신호를 발생시키도록 이루어지고,
    상기 개인용 컴퓨터의 데이터 입출력단에는 데이터의 입력에 따라 새로운 형태의 하드웨어회로가 내부에서 형성되도록 이루어진 PLD와 상기 PLD에서 출력되는 제어신호를 디지털신호로 변환하여 상기 각 측정부로 전송하도록 이루어진 A/D컨버터를 구비하고 있는 고속 입출력 인터페이스가 연결되어, 상기 고속 입출력 인터페이스에 상기 각 측정부 및 피측정물을 연결하여 부품측정이 이루어지도록 된 것을 특징으로 하는 회로기판상 전자부품측정장치.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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KR100519593B1 (ko) * 2002-05-29 2005-10-07 주식회사 메디코아 아이알 인서키트 테스트시스템

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