JPH07219088A - X-ray film inspection device and x-ray inspecting method for power cable - Google Patents
X-ray film inspection device and x-ray inspecting method for power cableInfo
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- JPH07219088A JPH07219088A JP6009585A JP958594A JPH07219088A JP H07219088 A JPH07219088 A JP H07219088A JP 6009585 A JP6009585 A JP 6009585A JP 958594 A JP958594 A JP 958594A JP H07219088 A JPH07219088 A JP H07219088A
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Abstract
Description
【０００１】[0001]
【産業上の利用分野】本発明は、電力ケーブル等の非破
壊検査に用いられるＸ線フィルム検査装置に係り、特
に、検査不可能領域をなくすことができ、複数のＸ線フ
ィルムを無人で検査できるＸ線フィルム検査装置及び電
力ケーブルのＸ線検査方法に関するものである。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an X-ray film inspection apparatus used for nondestructive inspection of electric power cables and the like, and in particular, it can eliminate a non-inspectable area and inspects a plurality of X-ray films unattended. The present invention relates to a possible X-ray film inspection device and a power cable X-ray inspection method.
【０００２】[0002]
【従来の技術】電力ケーブル等の非破壊検査にあって
は、被検査物のＸ線像をＸ線フィルムに写し取り、この
Ｘ線フィルムを検査して欠陥を発見する。従来のＸ線フ
ィルム検査装置は、例えば、特開平３−２９７０１４号
公報に記載されている。このＸ線フィルム検査装置は、
フィルムから画像データを読み取るスキャナと読み取っ
たデータを画像処理する画像処理装置とから構成され、
スキャナを用いてフィルムから画像データを読み取るた
めに、レーザ光をフィルムの主走査方向にスキャニング
させ、透過したレーザ光をフォトマルチプライヤで受光
し、フィルムを副走査方向に移動させている。そして、
濃淡処理やフィルタ処理にはこのスキャナで読み取った
画像データを用いている。2. Description of the Related Art In a nondestructive inspection of a power cable or the like, an X-ray image of an object to be inspected is copied on an X-ray film and the X-ray film is inspected to find a defect. A conventional X-ray film inspection apparatus is described in, for example, Japanese Patent Laid-Open No. 3-297014. This X-ray film inspection device
It consists of a scanner that reads image data from film and an image processing device that processes the read data.
In order to read image data from a film using a scanner, a laser beam is scanned in the main scanning direction of the film, the transmitted laser beam is received by a photomultiplier, and the film is moved in the sub scanning direction. And
Image data read by this scanner is used for the gradation processing and the filter processing.
【０００３】[0003]
【発明が解決しようとする課題】上記従来技術は、主走
査と副走査とにより各スポットの明るさ情報を得て、全
体の画像データを形成している。１主走査における明る
さ情報の変化グラフは、例えば、図１１のようになる。
このグラフには入力範囲１１０即ち、スキャナで取り込
むことのできる明るさ情報の範囲が示されているが、こ
の入力範囲１１０が有限であるのに対し、曲線１１１で
示されるＸ線フィルムの明るさ情報の変動の範囲はこれ
よりも大きい。このため入力範囲１１０の下限より下の
部分（斜線部）をスキャナで読み取った画像データには
明るさの変化を示す情報が失われている。読取りにおい
て既に情報が失われているので、その画像データに画像
処理を行っても欠陥の検出はできない。即ち、この部分
は検査不可能領域１１２となる。In the above prior art, the brightness information of each spot is obtained by the main scanning and the sub-scanning to form the entire image data. A change graph of brightness information in one main scan is as shown in FIG. 11, for example.
This graph shows the input range 110, that is, the range of brightness information that can be captured by the scanner. While this input range 110 is finite, the brightness of the X-ray film shown by the curve 111 is shown. The range of variation of information is larger than this. Therefore, the image data obtained by scanning the portion (hatched portion) below the lower limit of the input range 110 has lost the information indicating the change in brightness. Since information has already been lost during reading, it is not possible to detect defects even if image processing is performed on the image data. That is, this portion becomes the non-inspectable area 112.
【０００４】また、複数枚のフィルムを検査したいと
き、副走査のための送り機構にフィルムを付け替えなけ
ればならない。このフィルム交換の作業を人手で行うの
は煩わしい。Further, when it is desired to inspect a plurality of films, the films must be replaced with a feeding mechanism for sub scanning. It is troublesome to manually perform this film exchange work.
【０００５】そこで、本発明の目的は、上記課題を解決
し、検査不可能領域をなくすことができ、複数のＸ線フ
ィルムを無人で検査できるＸ線フィルム検査装置及び電
力ケーブルのＸ線検査方法を提供することにある。SUMMARY OF THE INVENTION Therefore, an object of the present invention is to solve the above problems, to eliminate the non-inspectable area, and to inspect a plurality of X-ray films unattended, and an X-ray inspection method for a power cable. To provide.
【０００６】[0006]
【課題を解決するための手段】本発明の第１の目的は、
明るさ情報が入力範囲に収まるようにし、検査に最適な
明るさ情報を得て検査不可能領域を無くすことにある。The first object of the present invention is to:
The purpose is to keep the brightness information within the input range, obtain the optimum brightness information for the inspection, and eliminate the non-inspectable area.
【０００７】この目的を達成するために本発明は、被検
査物のＸ線像が写されたＸ線フィルムを背面から照明す
る照明手段と、このＸ線フィルムの透過光の明るさ情報
を入力する画像入力手段と、この入力した明るさ情報を
基に被検査物の欠陥を認識する認識手段と、その認識結
果を出力する出力手段とを備えたＸ線フィルム検査装置
において、Ｘ線フィルムを複数の微小区域に分割する分
割手段と、この微小区域毎に明るさ値を測定する測定手
段と、この明るさ値に基づいて上記透過光を微小区域毎
に上記画像入力手段の明るさ入力範囲に入るように調整
する調整手段とを設けたものである。In order to achieve this object, the present invention inputs an illuminating means for illuminating an X-ray film on which an X-ray image of an object to be inspected is reflected, and brightness information of transmitted light of the X-ray film. In the X-ray film inspection apparatus, the X-ray film inspection apparatus is provided with: an image inputting unit for recognizing the defect; a recognizing unit for recognizing the defect of the inspection object based on the input brightness information; and an output unit for outputting the recognition result. Dividing means for dividing into a plurality of minute areas, measuring means for measuring the brightness value for each minute area, and the brightness input range of the image input means for the transmitted light for each minute area based on the brightness value And an adjusting means for adjusting so as to enter.
【０００８】上記調整手段は、微小区域内の明るさ情報
を平均して明るさ値を測定し、予め最適値として持って
いる欠陥検出に最適な明るさ値と比較し、その差に応じ
て透過光を調整してもよい。The adjusting means measures the brightness value by averaging the brightness information in the minute area, compares the brightness value with the optimum brightness value which is previously set as an optimum value and is optimum for defect detection, and according to the difference. The transmitted light may be adjusted.
【０００９】また、本発明の第２の目的は、フィルムの
自動交換機能を付加することにより、複数のフィルムの
検査を無人で行うようにすることにある。A second object of the present invention is to add a function of automatically changing films so that a plurality of films can be inspected unattended.
【００１０】この目的を達成するために本発明は、被検
査物のＸ線像が写されたＸ線フィルムを固定する固定手
段と、この固定されたＸ線フィルムを背面から照明する
照明手段と、このＸ線フィルムの透過光の明るさ情報を
入力する画像入力手段と、この入力した明るさ情報を基
に被検査物の欠陥を認識する認識手段と、その認識結果
を出力する出力手段とを備えたＸ線フィルム検査装置に
おいて、未検査のＸ線フィルムを複数収容できる第１収
容手段と、検査済みのＸ線フィルムを複数収容できる第
２収容手段と、この第１収容手段から上記固定手段へＸ
線フィルムを移送し、この固定手段から上記第２収容手
段へＸ線フィルムを移送する移送手段と、複数のＸ線フ
ィルムの認識結果を記憶する記憶手段とを設けたもので
ある。To achieve this object, the present invention provides a fixing means for fixing an X-ray film on which an X-ray image of an object to be inspected is recorded, and an illuminating means for illuminating the fixed X-ray film from the back side. An image input means for inputting the brightness information of the transmitted light of the X-ray film, a recognition means for recognizing the defect of the inspection object based on the input brightness information, and an output means for outputting the recognition result. In an X-ray film inspection apparatus including: a first accommodating means capable of accommodating a plurality of uninspected X-ray films; a second accommodating means capable of accommodating a plurality of inspected X-ray films; X to means
A transfer means for transferring the X-ray film and for transferring the X-ray film from the fixing means to the second accommodating means, and a storage means for storing the recognition results of the plurality of X-ray films are provided.
【００１１】また、本発明のＸ線フィルム検査装置を応
用した電力ケーブルのＸ線検査方法は、電力ケーブルの
接続部を被覆して成型された絶縁体をＸ線撮影し、その
Ｘ線フィルムに照明光を透過させ、この透過光によるＸ
線フィルムの全体画像から上記絶縁体の形状に応じた検
査範囲を切り出し、その検査範囲を複数の微小区域に分
割し、各微小区域毎に絞りを調整して背景と欠陥像とが
区別しやすい明るさの画像を入力し、この画像から上記
絶縁体内部の金属異物や気泡等の欠陥による上記欠陥像
を検出するものである。Further, in the X-ray inspection method of the power cable to which the X-ray film inspection apparatus of the present invention is applied, the insulator molded by covering the connection portion of the power cable is subjected to X-ray photography, and the X-ray film is formed. The illumination light is transmitted, and X due to this transmitted light
The inspection range corresponding to the shape of the insulator is cut out from the entire image of the line film, the inspection range is divided into a plurality of minute areas, and the aperture is adjusted for each minute area to easily distinguish the background from the defect image. An image of brightness is input, and the defect image due to defects such as metallic foreign matters and bubbles inside the insulator is detected from this image.
【００１２】[0012]
【作用】図９に示されるように、Ｘ線フィルムをある方
向にスキャンした場合の明るさ情報の曲線９１の変動
は、数値で表すと０〜１０００まで広がっており、画像
入力手段の明るさ入力範囲９２の幅よりも大きい。しか
し、位置の範囲を部分的に限定して見ると、その範囲内
では曲線９１が明るさ入力範囲９２に入る。もし、画像
入力手段が入力範囲を９３或いは９４のように移動でき
るならば、入力範囲９２に入ってない曲線９１を入力範
囲９３又は９４に収めることができる。画像入力手段の
入力範囲９２を固定して明るさ情報を移動させても、相
対的に入力範囲を移動したことになる。As shown in FIG. 9, when the X-ray film is scanned in a certain direction, the variation of the curve 91 of the brightness information spreads from 0 to 1000 when expressed numerically, and the brightness of the image input means is increased. It is larger than the width of the input range 92. However, if the position range is partially limited, the curve 91 falls within the brightness input range 92 within that range. If the image input means can move the input range 93 or 94, the curve 91 not included in the input range 92 can be included in the input range 93 or 94. Even if the input range 92 of the image input means is fixed and the brightness information is moved, the input range is relatively moved.
【００１３】明るさ情報の変動はＸ線フィルムの縦方向
にも横方向にも同様に生じている。そこで、位置の範囲
を部分的に限定するために、図２に示されるように縦横
に有限の幅を有するメッシュを想定し、分割手段は、こ
のメッシュでＸ線フィルムを複数の微小区域に分割す
る。測定手段は、この微小区域毎に透過光の明るさ値を
測定する。調整手段は、この明るさ値に基づいて透過光
を微小区域毎に画像入力手段の明るさ入力範囲に入るよ
うに調整する。例えば、図１０（ａ）に示されるよう
に、Ｘ線フィルムをある方向にスキャンした場合の透過
光の明るさ情報が曲線１０１のようになっており、画像
入力手段の明るさ入力範囲１０２が数値で表すと０〜２
５５であるとする。図１０（ｂ）に示されるように画像
入力手段１０３が点Ａ〜点Ｂの位置範囲の透過光の明る
さ情報を入力するときには、破線で挟まれた範囲１０２
の透過光が数値０〜２５５に収まるように調整され、図
１０（ｃ）に示されるように、曲線１０６のような画像
入力が得られる。また、図１０（ｂ）の点Ｃ〜点Ｄの位
置範囲の透過光の明るさ情報は、破線で挟まれた範囲１
０３の透過光が数値０〜２５５に収まるように調整さ
れ、図１０（ｄ）に示されるように、曲線１０７のよう
な画像入力となる。Fluctuations in the brightness information occur in the vertical and horizontal directions of the X-ray film as well. Therefore, in order to partially limit the range of positions, a mesh having a finite width in the vertical and horizontal directions is assumed as shown in FIG. 2, and the dividing means divides the X-ray film into a plurality of minute areas by this mesh. To do. The measuring means measures the brightness value of the transmitted light for each of these minute areas. The adjusting means adjusts the transmitted light for each minute area so as to fall within the brightness input range of the image input means based on the brightness value. For example, as shown in FIG. 10A, the brightness information of the transmitted light when the X-ray film is scanned in a certain direction is as shown by a curve 101, and the brightness input range 102 of the image input means is When expressed numerically 0-2
Let's say it is 55. As shown in FIG. 10B, when the image input means 103 inputs the brightness information of the transmitted light in the position range of the points A to B, the range 102 sandwiched by the broken lines.
The transmitted light is adjusted to fall within a numerical value of 0 to 255, and an image input like a curve 106 is obtained as shown in FIG. In addition, the brightness information of the transmitted light in the position range from point C to point D in FIG.
The transmitted light of No. 03 is adjusted to fall within the numerical value of 0 to 255, and the image is input as shown by the curve 107 as shown in FIG.
【００１４】透過光の調整を行うために、調整手段は、
微小区域内の明るさ情報を平均し、この値を当該微小区
域の明るさ値とする。この調整手段は、欠陥を検出する
のに最適な調整を行ったときの明るさ値を最適値として
予め持っている。当該明るさ値をこの最適値と比較す
る。その差に応じて透過光を調整することにより、画像
入力手段には欠陥を検出するのに最適な明るさ情報が得
られる。In order to adjust the transmitted light, the adjusting means is
The brightness information in the micro area is averaged, and this value is set as the brightness value of the micro area. This adjusting means has in advance a brightness value when the optimum adjustment is made to detect a defect as an optimum value. The brightness value is compared with this optimum value. By adjusting the transmitted light according to the difference, the image input means can obtain the optimum brightness information for detecting the defect.
【００１５】フィルムの自動交換は、以下のようにして
行われる。まず、第１収容手段は未検査のＸ線フィルム
を複数収容している。移送手段は、そのなかから１枚の
Ｘ線フィルムを固定手段へ移送する。固定手段は検査す
るＸ線フィルムを固定し、照明手段は固定されたＸ線フ
ィルムを背面から照明する。検査後、移送手段は固定手
段から第２収容手段へＸ線フィルムを移送する。第２収
容手段は検査済みのＸ線フィルムを収容する。記憶手段
は、検査されるＸ線フィルムの認識結果を記憶する。こ
のようにして複数のＸ線フィルムが順次連続的に検査さ
れる。The automatic exchange of the film is performed as follows. First, the first accommodating means accommodates a plurality of uninspected X-ray films. The transfer means transfers one X-ray film from the transfer means to the fixing means. The fixing means fixes the X-ray film to be inspected, and the illuminating means illuminates the fixed X-ray film from the back side. After the inspection, the transfer means transfers the X-ray film from the fixing means to the second accommodating means. The second storage means stores the inspected X-ray film. The storage means stores the recognition result of the X-ray film to be inspected. In this way, a plurality of X-ray films are sequentially and successively inspected.
【００１６】電力ケーブルは接続時に接続部に絶縁体を
成型によって被覆する。この成型の際に絶縁体内部に金
属異物や気泡等の欠陥が生じると、高電圧印加時に絶縁
破壊が引き起こされる。そこで、この欠陥を非破壊検査
するために、この絶縁体をＸ線撮影する。そのＸ線フィ
ルムに照明光を透過させる。Ｘ線フィルムには欠陥像と
その背景とが写っているが、透過光の明るさは欠陥像と
背景とで大きな差がなく、背景の変化による差が大き
い。背景が明るい部分にも暗い部分にも欠陥像は存在す
るが区別が困難である。そこで、まず、透過光によるＸ
線フィルムの全体画像を得る。全体画像から絶縁体の形
状に応じた検査範囲を切り出す。これによりＸ線フィル
ム上の検査の必要な範囲が限定される。その検査範囲を
さらに複数の微小区域に分割する。Ｘ線フィルム全体で
は背景の変化が大きいのに対し、微小区域内では背景の
変化があまり大きくない。そこで各微小区域毎に絞りを
調整する。絞り調整により、それぞれの微小区域におい
て背景と欠陥像とが区別しやすい明るさの画像を入力す
ることができる。この画像から絶縁体内部の金属異物や
気泡等の欠陥による欠陥像を検出する。When connecting a power cable, the connecting portion is covered with an insulator by molding. If defects such as foreign metal particles and bubbles occur inside the insulator during this molding, dielectric breakdown is caused when a high voltage is applied. Therefore, in order to perform nondestructive inspection of this defect, this insulator is radiographed. Illumination light is transmitted through the X-ray film. The defect image and the background thereof are shown on the X-ray film, but the brightness of the transmitted light is not significantly different between the defect image and the background, and the difference due to the change in the background is large. There are defect images in the light background and the dark background, but it is difficult to distinguish them. Therefore, first, X by transmitted light
Obtain the whole image of the line film. The inspection range is cut out from the whole image according to the shape of the insulator. This limits the required area of inspection on the X-ray film. The inspection range is further divided into a plurality of minute areas. The background change is large in the entire X-ray film, whereas the background change is not so large in the minute area. Therefore, the diaphragm is adjusted for each minute area. By adjusting the aperture, it is possible to input an image having brightness such that the background and the defect image can be easily distinguished in each minute area. From this image, a defect image due to defects such as metallic foreign matters and bubbles inside the insulator is detected.
【００１７】[0017]
【実施例】以下本発明の一実施例を添付図面に基づいて
詳述する。DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS An embodiment of the present invention will be described in detail below with reference to the accompanying drawings.
【００１８】図３に本発明のＸ線フィルム検査装置の機
械的構成を示した。FIG. 3 shows the mechanical construction of the X-ray film inspection apparatus of the present invention.
【００１９】未検査Ｘ線フィルム用スタッカ（第１収容
手段）５０及び検査済みＸ線フィルム用スタッカ（第２
収容手段）５１は上部が開口されＸ線フィルム５３より
やや大きい四角の底面を有する周囲が側壁で囲まれた容
器であり、それぞれＸ線フィルムを所定枚数重ね置いて
収容することができる。これら両スタッカ５０、５１は
並べられてスタッカ移動ロボット４３に装着されてい
る。スタッカ移動ロボット４３は両スタッカ５０、５１
の並び方向（Ｙ軸方向）に両スタッカ５０、５１を往復
移動させるものであり、両スタッカ５０、５１のいずれ
かを所定の作動位置に位置させることができる。Uninspected X-ray film stacker (first accommodating means) 50 and inspected X-ray film stacker (second)
The accommodating means 51 is a container having an opening at the top and a square bottom surface slightly larger than the X-ray film 53 and surrounded by side walls, and a predetermined number of X-ray films can be stacked and accommodated. These stackers 50 and 51 are arranged side by side and mounted on the stacker mobile robot 43. The stacker mobile robot 43 uses both stackers 50 and 51.
Both stackers 50, 51 are reciprocally moved in the arrangement direction (Y-axis direction), and either of the stackers 50, 51 can be positioned at a predetermined operating position.
【００２０】この作動位置のＸ軸方向に並ぶように透過
式照明装置（照明手段兼固定手段）５２が設けられてい
る。透過式照明装置５２は、光源を内蔵した箱状体で構
成され、上部に透明若しくは半透明の透過板が設けられ
ている。この透過板にはＸ線フィルム５３を載せること
ができる。透過式照明装置５２に載せられたＸ線フィル
ム５３は下方より背照され、その透過光を上方（Ｚ軸方
向）から見ることができる。ここで、欠陥像を背景と区
別するために必要な透過光の明るさ情報の差を１Ｌｕｘ
とする。例えば、欠陥像の明るさ情報が９９Ｌｕｘ、そ
の周辺の背景の明るさ情報が１００Ｌｕｘであれば、欠
陥像が判別できるものとする。これに対し、透過光は、
Ｘ線フィルム５３上の位置により０〜１０００Ｌｕｘの
範囲で変動するのが通常である。A transmissive illumination device (illuminating means and fixing means) 52 is provided so as to be lined up in the X-axis direction at the operating position. The transmissive illumination device 52 is configured by a box-shaped body having a built-in light source, and a transparent or semitransparent transmissive plate is provided on the upper part thereof. An X-ray film 53 can be placed on this transmission plate. The X-ray film 53 mounted on the transmissive illumination device 52 is back-lit from below and the transmitted light can be seen from above (Z-axis direction). Here, the difference in the brightness information of the transmitted light necessary to distinguish the defect image from the background is 1 Lux.
And For example, if the defect image brightness information is 99Lux and the surrounding background brightness information is 100Lux, the defect image can be identified. In contrast, the transmitted light is
It usually varies in the range of 0 to 1000 Lux depending on the position on the X-ray film 53.
【００２１】透過式照明装置５２の上方には可変絞りレ
ンズ３１を装着したＣＣＤカメラ（画像入力手段）３２
が下方に向けて設けられている。ＣＣＤカメラ３２の明
るさ入力範囲は固定されており、例えば、０．５〜４０
０Ｌｕｘである。この場合、０．５Ｌｕｘ未満の明るさ
情報は感知することができない。可変絞りレンズ３１は
調整手段の一部を構成しており、透過光を調整して、０
〜１０００Ｌｕｘの明るさ情報の範囲内の任意の範囲を
ＣＣＤカメラ３２の明るさ入力範囲に移動させることが
できる。A CCD camera (image input means) 32 having a variable aperture lens 31 mounted above the transmissive illumination device 52.
Is provided downward. The brightness input range of the CCD camera 32 is fixed, for example, 0.5 to 40.
It is 0 Lux. In this case, brightness information of less than 0.5 Lux cannot be detected. The variable diaphragm lens 31 constitutes a part of the adjusting means, adjusts the transmitted light, and
It is possible to move any range within the range of brightness information of 1000 Lux to the brightness input range of the CCD camera 32.
【００２２】図示されない分割処理専用カメラは、透過
式照明装置５２に載せられたＸ線フィルム５３全体を撮
像することができる。この画像を画像処理することによ
り検査する範囲を限定し、その検査範囲を複数の微小区
域に分割することができる。A camera for exclusive use of division processing (not shown) can take an image of the entire X-ray film 53 mounted on the transmissive illumination device 52. By subjecting this image to image processing, the inspection range can be limited, and the inspection range can be divided into a plurality of minute areas.
【００２３】ＣＣＤカメラ３２とＸ線フィルム５３との
相対移動のために、この実施例ではＣＣＤカメラ３２の
位置が固定されており、透過式照明装置５２の方が移動
自在になっている。即ち、透過式照明装置５２をＸ軸方
向に往復移動するＸ軸ロボット４１及びＹ軸方向に往復
移動するＹ軸ロボット４２が設けられている。ＣＣＤカ
メラ３２はＸ軸及びＹ軸方向にそれぞれ所定個数の画素
を有しており、その視野は図４に示されるように、Ｘ線
フィルム５３の微小区域６０となっている。Ｘ軸ロボッ
ト４１及びＹ軸ロボット４２を所定の距離づつ作動させ
ることにより図４に示されるように任意のメッシュをＣ
ＣＤカメラ３２の視野に位置させることができる。Due to the relative movement of the CCD camera 32 and the X-ray film 53, the position of the CCD camera 32 is fixed in this embodiment, and the transmissive illumination device 52 is movable. That is, the X-axis robot 41 that reciprocates the transmissive illumination device 52 in the X-axis direction and the Y-axis robot 42 that reciprocates in the Y-axis direction are provided. The CCD camera 32 has a predetermined number of pixels in each of the X-axis and Y-axis directions, and its field of view is a minute area 60 of the X-ray film 53, as shown in FIG. By operating the X-axis robot 41 and the Y-axis robot 42 by a predetermined distance, as shown in FIG.
It can be located in the field of view of the CD camera 32.
【００２４】上記両スタッカ５０、５１の作動位置と透
過式照明装置５２の原点位置との間に移動式の吸着パッ
ド（移送手段）４６が設けられている。吸着パッド４６
はＸ線フィルム５３を吸盤で吸い付けることができるも
のであり、Ｘ線フィルム５３の上面から作用するように
なっている。この吸着パッド４６はＺ軸方向に往復移動
するフィルム搬送用Ｚ軸ロボット４５に取り付けられ、
さらにこのフィルム搬送用Ｚ軸ロボット４５はＸ軸方向
に往復移動するフィルム搬送用Ｘ軸ロボット４４に取り
付けられている。A movable suction pad (transfer means) 46 is provided between the operating positions of the stackers 50 and 51 and the origin position of the transmissive illumination device 52. Suction pad 46
Is capable of sucking the X-ray film 53 with a suction cup, and acts from the upper surface of the X-ray film 53. This suction pad 46 is attached to a Z-axis robot 45 for film transport that reciprocates in the Z-axis direction,
Further, the film transport Z-axis robot 45 is attached to the film transport X-axis robot 44 that reciprocates in the X-axis direction.
【００２５】図１に本発明のＸ線フィルム検査装置の電
気的構成を示した。FIG. 1 shows the electrical construction of the X-ray film inspection apparatus of the present invention.
【００２６】Ｘ線フィルム検査装置は、主にプログラム
を格納するＲＯＭ３６、そのプログラムを実行するＣＰ
Ｕ３７、メモリエリアやワークエリアを提供するＲＡＭ
３５、ＣＣＤカメラ３２が読み取った明るさ情報をデジ
タル化するＡ／Ｄ変換器３３、そのデジタル情報を格納
するＶＲＡＭ３４、可変絞りレンズ３１に絞り値を出力
するＤ／Ａ変換器３８、及び前記各ロボット等への入出
力を行うＩ／Ｏ３９からなる。Ｉ／Ｏ３９には、検出さ
れた欠陥像等を表示するためのビデオモニタ等のモニタ
装置（出力手段）４０が接続されると共に、Ｘ軸ロボッ
ト４１、Ｙ軸ロボット４２、スタッカ移動ロボット４
３、フィルム搬送用Ｘ軸ロボット４４、フィルム搬送用
Ｚ軸ロボット４５及び吸着パッド４６の駆動信号及び動
作検出信号が接続される。The X-ray film inspection apparatus mainly includes a ROM 36 for storing a program and a CP for executing the program.
U37, RAM providing memory area and work area
35, an A / D converter 33 that digitizes the brightness information read by the CCD camera 32, a VRAM 34 that stores the digital information, a D / A converter 38 that outputs an aperture value to the variable aperture lens 31, and each of the above. It is composed of an I / O 39 that performs input / output to / from a robot or the like. A monitor device (output means) 40 such as a video monitor for displaying the detected defect image or the like is connected to the I / O 39, and the X-axis robot 41, the Y-axis robot 42, and the stacker mobile robot 4 are connected.
3, drive signals and operation detection signals of the film transport X-axis robot 44, the film transport Z-axis robot 45, and the suction pad 46 are connected.
【００２７】本実施例にあっては、図２のようにＸ線フ
ィルムを複数の微小区域に分割する分割手段はプログラ
ムで構成される。即ち、分割手段のプログラムは、上記
分割処理専用カメラの画像から微小区域を決定すること
ができる。この決定に基づきＸ軸ロボット４１、Ｙ軸ロ
ボット４２が所定の距離づつ作動することにより透過式
照明装置５２がＣＣＤカメラ３２に対して移動するよう
になっている。また、この微小区域毎に明るさ値を測定
する測定手段もプログラムで構成される。即ち、測定手
段のプログラムは、ＣＣＤカメラ３２の入力した明るさ
情報から明るさ値を測定することができる。調整手段
は、可変絞りレンズ３１とプログラムとで構成される。
被検査物の欠陥を認識する認識手段もまたプログラムで
構成される。In this embodiment, as shown in FIG. 2, the dividing means for dividing the X-ray film into a plurality of minute areas is constituted by a program. That is, the program of the dividing unit can determine the minute area from the image of the camera dedicated to the dividing process. Based on this determination, the X-axis robot 41 and the Y-axis robot 42 are operated at predetermined distances so that the transmissive illumination device 52 moves with respect to the CCD camera 32. Further, the measuring means for measuring the brightness value for each minute area is also configured by a program. That is, the program of the measuring means can measure the brightness value from the brightness information input by the CCD camera 32. The adjusting means is composed of a variable diaphragm lens 31 and a program.
The recognition means for recognizing the defect of the object to be inspected is also composed of a program.
【００２８】認識結果を記憶する記憶手段はＲＡＭ３５
で構成される。また、ＲＯＭ３６には、欠陥を検出する
のに最適な明るさ値が予め最適値として記憶されてい
る。The storage means for storing the recognition result is the RAM 35.
Composed of. Further, the ROM 36 stores in advance the optimum brightness value for detecting a defect as the optimum value.
【００２９】次に実施例の作用を述べる。Next, the operation of the embodiment will be described.
【００３０】図５のフローチャートに基づいて本発明の
欠陥像検出動作を説明する。The defect image detecting operation of the present invention will be described with reference to the flowchart of FIG.
【００３１】まず、検査作業者はこれから検査しようと
する所望の枚数の未検査Ｘ線フィルムを未検査Ｘ線フィ
ルム用スタッカ５０内に重ね置く（ステップ１）。検査
済みＸ線フィルム用スタッカ５１は空にしておく。作業
者がＸ線フィルム検査装置を起動すると、スタッカ移動
ロボット４３が未検査Ｘ線フィルム用スタッカ５０を作
動位置に移動させ、フィルム搬送用Ｚ軸ロボット４５が
吸着パッド４６を上下させる。吸着パッド４６の吸着動
作により、一番上にあるＸ線フィルム５３が吸着パッド
４６に吸着されて持ち上げられる（ステップ２）。フィ
ルム搬送用Ｘ軸ロボット４４がこの吸着パッド４６を透
過式照明装置５２の原点位置に移動させる。このとき透
過式照明装置５２は予め原点位置に復帰しており、吸着
パッド４６が降下して吸着を停止することにより、搬送
されたＸ線フィルム５３が透過式照明装置５２の背照面
上の所定位置にセットされる（ステップ３）。First, the inspection operator stacks a desired number of uninspected X-ray films to be inspected in the uninspected X-ray film stacker 50 (step 1). The inspected X-ray film stacker 51 is emptied. When the operator activates the X-ray film inspection apparatus, the stacker moving robot 43 moves the uninspected X-ray film stacker 50 to the operating position, and the film transport Z-axis robot 45 moves the suction pad 46 up and down. By the suction operation of the suction pad 46, the X-ray film 53 on the top is sucked by the suction pad 46 and lifted (step 2). The X-axis robot 44 for film transport moves the suction pad 46 to the origin position of the transmissive illumination device 52. At this time, the transmissive illumination device 52 has been returned to the original position in advance, and the suction pad 46 descends to stop the adsorption, whereby the conveyed X-ray film 53 has a predetermined size on the back illuminated surface of the transmissive illumination device 52. It is set to the position (step 3).
【００３２】次にＸ線フィルム５３が図２にようにメッ
シュ状に分割され、多数の微小区域が形成される（ステ
ップ４）。このとき、Ｘ線フィルム５３に割り当てた各
微小区域毎にＣＣＤカメラ３２が明るさ情報を読み取れ
るように、Ｘ軸ロボット４１、Ｙ軸ロボット４２の毎回
の移動量が計算される。Next, the X-ray film 53 is divided into meshes as shown in FIG. 2 to form a large number of minute areas (step 4). At this time, the amount of movement of each of the X-axis robot 41 and the Y-axis robot 42 is calculated so that the CCD camera 32 can read the brightness information for each minute area assigned to the X-ray film 53.
【００３３】透過式照明装置５２は、まず微小区域６０
がＣＣＤカメラ３２の視野に一致するようにＸ軸ロボッ
ト４１、Ｙ軸ロボット４２により移動される（ステップ
５）。次に、可変絞りレンズ３１に絞り値が出力され、
透過光が入力範囲に入るように調整される（ステップ
６）。なお、ステップ６の詳細は後述する。The transmissive illuminator 52 first comprises a micro area 60.
Is moved by the X-axis robot 41 and the Y-axis robot 42 so as to match the visual field of the CCD camera 32 (step 5). Next, the aperture value is output to the variable aperture lens 31,
The transmitted light is adjusted so as to be within the input range (step 6). The details of step 6 will be described later.
【００３４】入力範囲の調整後、ＣＣＤカメラ３２は微
小区域６０の明るさ情報を入力する。ＣＰＵは所定の認
識プログラムにより欠陥を認識する。その欠陥像がモニ
タ装置４０に表示され（ステップ７）、認識査結果はＲ
ＡＭ３５に記憶される（ステップ８）。すべての微小区
域について検査が終了していなければ、次の微小区域が
ＣＣＤカメラ３２の視野に一致するように透過式照明装
置５２が移動される（ステップ５）。ステップ６以下の
動作が繰り返され、すべての微小区域について検査が終
了する。ステップ８において記憶された各認識結果は今
回のＸ線フィルムの認識結果として記憶される。その
後、Ｘ軸ロボット４１、Ｙ軸ロボット４２が透過式照明
装置５２を原点位置に復帰させ、スタッカ移動ロボット
４３が検査済みＸ線フィルム用スタッカ５１を作動位置
に移動させる。吸着パッド４６、フィルム搬送用Ｚ軸ロ
ボット４５及びフィルム搬送用Ｘ軸ロボット４４が前記
と逆の動作により、透過式照明装置５２上のＸ線フィル
ムを吸着搬送して検査済みＸ線フィルム用スタッカ５１
に重ね置く（ステップ１０）。すべてのＸ線フィルムの
検査が終了していなければ（ステップ１１）、再び未検
査Ｘ線フィルムが取り出され上記検査が繰り返される。
この繰り返しにより、Ｘ線フィルム毎の認識結果がＲＡ
Ｍ３５に記憶されることになる。そして、全てのＸ線フ
ィルムの検査が終了する。After adjusting the input range, the CCD camera 32 inputs the brightness information of the minute area 60. The CPU recognizes the defect by a predetermined recognition program. The defect image is displayed on the monitor device 40 (step 7), and the recognition inspection result is R.
It is stored in the AM 35 (step 8). If the inspection has not been completed for all the micro areas, the transmissive illuminator 52 is moved so that the next micro area matches the field of view of the CCD camera 32 (step 5). The operation from step 6 onward is repeated, and the inspection is completed for all the minute areas. Each recognition result stored in step 8 is stored as the recognition result of the X-ray film this time. Then, the X-axis robot 41 and the Y-axis robot 42 return the transmissive illumination device 52 to the original position, and the stacker moving robot 43 moves the inspected X-ray film stacker 51 to the operating position. The suction pad 46, the Z-axis robot 45 for film transport, and the X-axis robot 44 for film transport reversely operate to suction and transport the X-ray film on the transmissive illumination device 52 to inspect and stack the X-ray film stacker 51.
(Step 10). If the inspection of all X-ray films has not been completed (step 11), the uninspected X-ray film is taken out again and the above-mentioned inspection is repeated.
By repeating this, the recognition result for each X-ray film becomes RA.
It will be stored in M35. Then, the inspection of all X-ray films is completed.
【００３５】次に、ステップ６における調整方法を図６
のフローチャートに基づいて説明する。Next, the adjustment method in step 6 will be described with reference to FIG.
A description will be given based on the flowchart.
【００３６】まず、ＣＣＤカメラ３２より当該微小領域
の明るさ情報が入力される（ステップ２０）。この明る
さ情報はＡ／Ｄ変換器３３によりデジタル化され、その
情報はＶＲＡＭ３４に格納される。ＣＰＵ３７は、この
情報を平均することによって当該微小領域の明るさ値を
求める（ステップ２１）。次に、ＣＰＵ３７は、この明
るさ値を最適値と比較して、最適な明るさ情報が得られ
ているかどうかを判断する。最適でなければ、最適値と
の差を求める（ステップ２３）。その差の値をＤ／Ａ変
換器３８によってアナログ信号に変換する（ステップ２
４）。このアナログ信号が可変絞りレンズ３１に絞り値
として供給され、可変絞りレンズ３１により透過光が調
整される（ステップ２５）。First, the brightness information of the minute area is input from the CCD camera 32 (step 20). This brightness information is digitized by the A / D converter 33, and the information is stored in the VRAM 34. The CPU 37 obtains the brightness value of the minute area by averaging this information (step 21). Next, the CPU 37 compares this brightness value with the optimum value and determines whether or not the optimum brightness information is obtained. If it is not optimum, the difference from the optimum value is obtained (step 23). The difference value is converted into an analog signal by the D / A converter 38 (step 2).
4). This analog signal is supplied to the variable aperture lens 31 as an aperture value, and the transmitted light is adjusted by the variable aperture lens 31 (step 25).
【００３７】以上説明したように、欠陥像を検出するの
に最適な範囲で明るさの情報が入力できるように透過光
を調整しているので、Ｘ線フィルムの明るさ分布が急変
するような場合でも、欠陥像を検出することができる。As described above, since the transmitted light is adjusted so that the brightness information can be input in the optimum range for detecting the defect image, the brightness distribution of the X-ray film may suddenly change. Even in this case, the defect image can be detected.
【００３８】また、未検査Ｘ線フィルムをスタッカ５０
にセットしておくだけで、自動的にＸ線フィルムが取り
出され、検査が行われ、検査終了後には自動的に回収さ
れるので、人手を介さずに複数のＸ線フィルムを連続的
に検査できる。Further, an uninspected X-ray film is put on the stacker 50.
The X-ray film is automatically taken out, inspected, and automatically collected after the inspection, so multiple X-ray films can be inspected continuously without human intervention. it can.
【００３９】次に、本発明のＸ線フィルム検査装置を応
用した電力ケーブルのＸ線検査方法を説明する。Next, an X-ray inspection method for a power cable to which the X-ray film inspection apparatus of the present invention is applied will be described.
【００４０】まず、電力ケーブルの接続は、図７（ａ）
に示されるように、電線７１の被覆７２を剥き導体７３
を露出させて、導体７３同士を接続する。この接続部を
覆うように成型用の型７４をはめ合せ、この型７４内に
高熱で溶かした絶縁体（ポリエチレン）を流し込む。こ
の際、絶縁体内部に金属異物や気泡が混入することがあ
るので、これを検査するために成型終了後、図７（ｂ）
に示されるように、この接続部を被覆して成型された絶
縁体７５を線源７６を用いてＸ線フィルム７７にＸ線撮
影する。First, the connection of the power cable is as shown in FIG.
As shown in FIG.
Is exposed and the conductors 73 are connected to each other. A molding die 74 is fitted so as to cover the connection portion, and an insulator (polyethylene) melted with high heat is poured into the die 74. At this time, since foreign metal particles or air bubbles may be mixed in the inside of the insulator, in order to inspect this, after the molding is completed, as shown in FIG.
As shown in (3), the insulator 75 molded by covering the connection portion is X-rayed on the X-ray film 77 using the radiation source 76.
【００４１】次に、現像されたＸ線フィルム７７を図
１、３で説明したＸ線フィルム検査装置にセットし、図
示されない分割処理専用カメラによるＸ線フィルムの全
体画像から絶縁体７５の形状に応じた検査範囲を切り出
す。例えば、図８（ａ）に示されるように、Ｘ線フィル
ム７７を横断する２つの帯状の検査範囲７８が得られ
る。この検査範囲７８を図８（ｂ）のように６行１４列
の微小区域に分割する。各微小区域毎に可変絞りレンズ
３１を調整することにより、ＣＣＤカメラ３２には背景
と欠陥像とが区別しやすい明るさの画像が入力される。
この画像から絶縁体７５内部の金属異物や気泡等の欠陥
による上記欠陥像を検出する。Next, the developed X-ray film 77 is set in the X-ray film inspection apparatus described with reference to FIGS. 1 and 3, and the whole image of the X-ray film by a camera not shown for division is formed into the shape of the insulator 75. Cut out the appropriate inspection range. For example, as shown in FIG. 8A, two strip-shaped inspection areas 78 that cross the X-ray film 77 are obtained. This inspection range 78 is divided into minute areas of 6 rows and 14 columns as shown in FIG. By adjusting the variable aperture lens 31 for each minute area, the CCD camera 32 receives an image having a brightness that makes it easy to distinguish the background from the defect image.
From this image, the defect image due to defects such as metallic foreign matters and bubbles inside the insulator 75 is detected.
【００４２】１つの微小区域内で入力する明るさ情報の
範囲が０〜２５５の範囲に入らない場合、さらに小さい
分割が行われる。即ち、検査範囲７８を図８（ｃ）のよ
うに１２行２７列の微小区域に分割する。If the range of the brightness information input within one minute area does not fall within the range of 0 to 255, smaller division is performed. That is, the inspection range 78 is divided into minute areas of 12 rows and 27 columns as shown in FIG.
【００４３】なお、Ｘ線撮影する対象は、上記接続部に
限らず、電力ケーブル全般としてもよく、この電力ケー
ブル全般をＸ線撮影したＸ線フィルムにより電力ケーブ
ル全般の欠陥を検査することができる。The object to be X-ray photographed is not limited to the above-mentioned connecting portion, but may be any power cable in general, and defects of the power cable can be inspected by an X-ray film obtained by X-raying this power cable in general. .
【００４４】[0044]
【発明の効果】本発明は次の如き優れた効果を発揮す
る。The present invention exhibits the following excellent effects.
【００４５】（１）Ｘ線フィルムの明るさ分布が大きく
変化している場合でも、欠陥像を検出することができる
ので、検査能力が向上する。(1) Since the defect image can be detected even when the brightness distribution of the X-ray film is largely changed, the inspection capability is improved.
【００４６】（２）自動的にＸ線フィルムの取り出し、
検査、回収が行われ、人手を介さずに複数のＸ線フィル
ムを連続的に検査できる。(2) Automatically take out the X-ray film,
Inspection and collection are performed, and a plurality of X-ray films can be continuously inspected without human intervention.
【図１】本発明の一実施例を示すＸ線フィルム検査装置
の電気的構成図である。FIG. 1 is an electrical configuration diagram of an X-ray film inspection apparatus showing an embodiment of the present invention.
【図２】Ｘ線フィルムを複数の微小区域に分割すること
を示す平面図である。FIG. 2 is a plan view showing division of an X-ray film into a plurality of minute areas.
【図３】本発明のＸ線フィルム検査装置の機械的構成図
である。FIG. 3 is a mechanical configuration diagram of an X-ray film inspection apparatus of the present invention.
【図４】ＣＣＤカメラの視野にＸ線フィルムのメッシュ
を位置させることを示す斜視図である。FIG. 4 is a perspective view showing the positioning of an X-ray film mesh in the field of view of a CCD camera.
【図５】本発明の欠陥像検出動作のフローチャートであ
る。FIG. 5 is a flowchart of a defect image detecting operation of the present invention.
【図６】本発明の調整方法を示すフローチャートであ
る。FIG. 6 is a flowchart showing an adjusting method of the present invention.
【図７】電力ケーブルのＸ線撮影方法を示す斜視図であ
る。FIG. 7 is a perspective view showing an X-ray imaging method of a power cable.
【図８】電力ケーブルが写されたＸ線フィルムを分割す
ることを示す平面図である。FIG. 8 is a plan view showing dividing the X-ray film on which the power cable is copied.
【図９】Ｘ線フィルムをある方向にスキャンした場合の
明るさ情報を示すグラフである。FIG. 9 is a graph showing brightness information when an X-ray film is scanned in a certain direction.
【図１０】透過光の調整の様子を示すグラフ及び斜視図
である。10A and 10B are a graph and a perspective view showing how the transmitted light is adjusted.
【図１１】従来の１スキャンにおける明るさ情報の変化
グラフである。FIG. 11 is a change graph of brightness information in one conventional scan.
３１ 可変絞りレンズ（調整手段） ３２ ＣＣＤカメラ（画像入力手段） ３５ ＲＡＭ（記憶手段） ３６ ＲＯＭ ３７ ＣＰＵ ４０ モニタ装置（出力手段） ４６ 吸着パッド（移送手段） ５０ 未検査Ｘ線フィルム用スタッカ（第１収容手段） ５１ 検査済みＸ線フィルム用スタッカ（第２収容手
段） ５２ 透過式照明装置（照明手段兼保持手段） ５３、７７ Ｘ線フィルム31 Variable Aperture Lens (Adjusting Means) 32 CCD Camera (Image Input Means) 35 RAM (Memory Means) 36 ROM 37 CPU 40 Monitor Device (Output Means) 46 Adsorption Pad (Transfer Means) 50 Uninspected X-ray Film Stacker (No. 1) 1 storage means) 51 stacker for inspected X-ray film (second storage means) 52 transmissive illumination device (illumination means and holding means) 53, 77 X-ray film
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 矢野 爽一 千葉県習志野市東習志野７丁目１番１号 日立京葉エンジニアリング株式会社内 (72)発明者 久我 豊和 千葉県習志野市東習志野７丁目１番１号 日立京葉エンジニアリング株式会社内 ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continuation of the front page (72) Inventor Shoichi Yano 7-1, 1-1 Higashi Narashino, Narashino City, Chiba Prefecture Hitachi Keiyo Engineering Co., Ltd. (72) Inventor Toyokazu Kuga 7-1, 1-1 Higashi Narashino, Narashino City, Chiba Prefecture Within Hitachi Keiyo Engineering Co., Ltd.
Claims (4)
ムを背面から照明する照明手段と、このＸ線フィルムの
透過光の明るさ情報を入力する画像入力手段と、この入
力した明るさ情報を基に被検査物の欠陥を認識する認識
手段と、その認識結果を出力する出力手段とを備えたＸ
線フィルム検査装置において、Ｘ線フィルムを複数の微
小区域に分割する分割手段と、この微小区域毎に明るさ
値を測定する測定手段と、この明るさ値に基づいて上記
透過光を微小区域毎に上記画像入力手段の明るさ入力範
囲に入るように調整する調整手段とを設けたことを特徴
とするＸ線フィルム検査装置。1. An illuminating means for illuminating an X-ray film on which an X-ray image of an object to be inspected is photographed from the back side, an image inputting means for inputting brightness information of transmitted light of the X-ray film, and the input means. X including a recognition means for recognizing the defect of the inspection object based on the brightness information and an output means for outputting the recognition result.
In the X-ray film inspection apparatus, dividing means for dividing the X-ray film into a plurality of minute areas, measuring means for measuring the brightness value for each minute area, and the transmitted light for each minute area based on the brightness value. An X-ray film inspection apparatus, further comprising: adjusting means for adjusting the image inputting means so that the brightness is within the input range.
報を平均して明るさ値を測定し、予め最適値として持っ
ている欠陥検出に最適な明るさ値と比較し、その差に応
じて透過光を調整することを特徴とする請求項１記載の
Ｘ線フィルム検査装置。2. The adjusting means averages the brightness information in the minute areas to measure the brightness value, compares the brightness value with an optimum brightness value which is previously stored as an optimum value, and compares the brightness value with the optimum brightness value. The X-ray film inspection apparatus according to claim 1, wherein the transmitted light is adjusted according to the above.
ムを固定する固定手段と、この固定されたＸ線フィルム
を背面から照明する照明手段と、このＸ線フィルムの透
過光の明るさ情報を入力する画像入力手段と、この入力
した明るさ情報を基に被検査物の欠陥を認識する認識手
段と、その認識結果を出力する出力手段とを備えたＸ線
フィルム検査装置において、未検査のＸ線フィルムを複
数収容できる第１収容手段と、検査済みのＸ線フィルム
を複数収容できる第２収容手段と、この第１収容手段か
ら上記固定手段へＸ線フィルムを移送し、この固定手段
から上記第２収容手段へＸ線フィルムを移送する移送手
段と、複数のＸ線フィルムの認識結果を記憶する記憶手
段とを設けたことを特徴とするＸ線フィルム検査装置。3. Fixing means for fixing an X-ray film on which an X-ray image of an object to be inspected is photographed, illuminating means for illuminating the fixed X-ray film from the back surface, and light transmitted through the X-ray film. An X-ray film inspection apparatus comprising: an image input unit for inputting brightness information; a recognition unit for recognizing a defect of an object to be inspected based on the input brightness information; and an output unit for outputting the recognition result. A first accommodating means capable of accommodating a plurality of uninspected X-ray films, a second accommodating means capable of accommodating a plurality of inspected X-ray films, and transferring the X-ray film from the first accommodating means to the fixing means, An X-ray film inspection apparatus comprising: a transfer unit that transfers the X-ray film from the fixing unit to the second accommodating unit; and a storage unit that stores the recognition results of the plurality of X-ray films.
れた絶縁体をＸ線撮影し、そのＸ線フィルムに照明光を
透過させ、この透過光によるＸ線フィルムの全体画像か
ら上記絶縁体の形状に応じた検査範囲を切り出し、その
検査範囲を複数の微小区域に分割し、各微小区域毎に絞
りを調整して背景と欠陥像とが区別しやすい明るさの画
像を入力し、この画像から上記絶縁体内部の金属異物や
気泡等の欠陥による上記欠陥像を検出することを特徴と
する電力ケーブルのＸ線検査方法。4. An X-ray image of an insulator molded to cover a connection portion of a power cable, the illumination light is transmitted through the X-ray film, and the insulator is obtained from the entire image of the X-ray film by the transmitted light. Cut out an inspection range according to the shape of, divide the inspection range into a plurality of minute areas, adjust the aperture for each minute area and input an image of brightness that makes it easy to distinguish the background image from the defect image. An X-ray inspection method for a power cable, comprising detecting the defect image due to defects such as metallic foreign matters and bubbles inside the insulator from an image.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP00958594A JP3315000B2 (en) | 1994-01-31 | 1994-01-31 | X-ray film inspection apparatus and power cable X-ray inspection method |
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| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP00958594A JP3315000B2 (en) | 1994-01-31 | 1994-01-31 | X-ray film inspection apparatus and power cable X-ray inspection method |
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| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH07219088A true JPH07219088A (en) | 1995-08-18 |
| JP3315000B2 JP3315000B2 (en) | 2002-08-19 |
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ID=11724405
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| JP00958594A Expired - Fee Related JP3315000B2 (en) | 1994-01-31 | 1994-01-31 | X-ray film inspection apparatus and power cable X-ray inspection method |
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