JPH07181346A - 孔、ｖ溝等の測定方法 - Google Patents
孔、ｖ溝等の測定方法Info
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- JPH07181346A JPH07181346A JP34619393A JP34619393A JPH07181346A JP H07181346 A JPH07181346 A JP H07181346A JP 34619393 A JP34619393 A JP 34619393A JP 34619393 A JP34619393 A JP 34619393A JP H07181346 A JPH07181346 A JP H07181346A
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- measuring
- insertion hole
- pin
- fiber
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 高精度な測定が可能な孔、Ｖ溝等の測定方法
を提供する。 【構成】 孔、Ｖ溝等の測定部１（多心フェルールのガ
イドピン挿入孔、ファイバ挿入孔等）に測定用ピン２を
挿入し、その測定用ピン２の突出部３の外周部に輪郭形
状測定機４を接触させて測定用ピン２の輪郭形状を多点
測定し、その測定値を演算処理して測定部１を測定す
る。 【効果】 測定用ピン２への接触式であるため透過光方
式のように、挿入孔やＶ溝のぼけ、輪郭のダレ、ゴミ等
の影響がなく、多点測定が可能であるため高精度の測定
が可能となる。
を提供する。 【構成】 孔、Ｖ溝等の測定部１（多心フェルールのガ
イドピン挿入孔、ファイバ挿入孔等）に測定用ピン２を
挿入し、その測定用ピン２の突出部３の外周部に輪郭形
状測定機４を接触させて測定用ピン２の輪郭形状を多点
測定し、その測定値を演算処理して測定部１を測定す
る。 【効果】 測定用ピン２への接触式であるため透過光方
式のように、挿入孔やＶ溝のぼけ、輪郭のダレ、ゴミ等
の影響がなく、多点測定が可能であるため高精度の測定
が可能となる。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明の孔、Ｖ溝等の測定方法
は、光通信に用いられる光コネクタフェルールのガイド
ピン挿入孔、ファイバ挿入孔の中心位置、二つのガイド
ピン挿入孔間の寸法、複数のファイバ挿入孔間の寸法、
ガイドピン挿入孔とファイバ挿入孔間の寸法、二つのガ
イドピン挿入孔間を結ぶ基準線からのファイバ挿入孔の
位置ずれ等を求めるのに使用されるものである。
は、光通信に用いられる光コネクタフェルールのガイド
ピン挿入孔、ファイバ挿入孔の中心位置、二つのガイド
ピン挿入孔間の寸法、複数のファイバ挿入孔間の寸法、
ガイドピン挿入孔とファイバ挿入孔間の寸法、二つのガ
イドピン挿入孔間を結ぶ基準線からのファイバ挿入孔の
位置ずれ等を求めるのに使用されるものである。
【０００２】
【従来の技術】近年、図４（ａ）に示すような多心光コ
ネクタが普及してきた。この多心光コネクタは図４
（ｂ）に示すようにガイドピン挿入孔Ａ、ファイバ挿入
孔Ｂが形成された多心フェルールＣを二つ組合わせて使
用するものである。この場合、多心フェルールＣのファ
イバ挿入孔Ｂに光ファイバテープ心線Ｄのファイバを挿
入固定し、連結する二つの多心フェルールＣのうち一方
の多心フェルールＣのガイドピン挿入孔Ａにガイドピン
Ｅを挿入し、そのガイドピンＥの突出部Ｅを他方の多心
フェルールＣのガイドピン挿入孔Ａに挿入することによ
り、二つの多心フェルールＣを突合わせて連結し、これ
により各多心フェルールＣに挿入固定されているファイ
バ同士を突合わせる様にしたものである。更に、突き合
わせた両多心フェルールＣの下からクランプスプリング
Ｆを押込んで、その押当部Ｇを各多心フェルールＣの外
側面に押し当てて両多心フェルールＣの連結を確保する
ようにしてある。
ネクタが普及してきた。この多心光コネクタは図４
（ｂ）に示すようにガイドピン挿入孔Ａ、ファイバ挿入
孔Ｂが形成された多心フェルールＣを二つ組合わせて使
用するものである。この場合、多心フェルールＣのファ
イバ挿入孔Ｂに光ファイバテープ心線Ｄのファイバを挿
入固定し、連結する二つの多心フェルールＣのうち一方
の多心フェルールＣのガイドピン挿入孔Ａにガイドピン
Ｅを挿入し、そのガイドピンＥの突出部Ｅを他方の多心
フェルールＣのガイドピン挿入孔Ａに挿入することによ
り、二つの多心フェルールＣを突合わせて連結し、これ
により各多心フェルールＣに挿入固定されているファイ
バ同士を突合わせる様にしたものである。更に、突き合
わせた両多心フェルールＣの下からクランプスプリング
Ｆを押込んで、その押当部Ｇを各多心フェルールＣの外
側面に押し当てて両多心フェルールＣの連結を確保する
ようにしてある。
【０００３】前記結合においてファイバ同士の結合精度
を高めるためには、多心フェルールＣの二つのガイドピ
ン挿入孔Ａ間の寸法Ｌ（図６）、複数のファイバ挿入孔
Ｂ間の寸法Ｗ、ガイドピン挿入孔Ａとファイバ挿入孔Ｂ
間の寸法が正確であり、また、二つのガイドピン挿入孔
Ａの中心を結ぶ基準線Ｘ−Ｘに対してファイバ挿入孔Ｂ
が位置ずれしていないこと等が必要である。
を高めるためには、多心フェルールＣの二つのガイドピ
ン挿入孔Ａ間の寸法Ｌ（図６）、複数のファイバ挿入孔
Ｂ間の寸法Ｗ、ガイドピン挿入孔Ａとファイバ挿入孔Ｂ
間の寸法が正確であり、また、二つのガイドピン挿入孔
Ａの中心を結ぶ基準線Ｘ−Ｘに対してファイバ挿入孔Ｂ
が位置ずれしていないこと等が必要である。
【０００４】前記の多心フェルールＣは前記の様に結合
されるため、ガイドピン挿入孔Ａが位置ずれするとファ
イバ挿入孔Ｂが正確でも同ファイバ挿入孔Ｂ内に挿入さ
れたファイバ同士が心ずれしてしまう。このように多心
フェルールＣではガイドピン挿入孔Ａがコネクタの機械
的結合の基準となる。また、多心フェルールＣの寸法測
定において求められたガイド挿入孔Ａの中心同士を結ん
だ線（図６のＸ−Ｘ線）が座標系の１つの軸となる。従
って、多心フェルールＣの測定精度を高めるためにはガ
イド挿入孔Ａの中心をいかに精度良く測定するかがポイ
ントとなる。
されるため、ガイドピン挿入孔Ａが位置ずれするとファ
イバ挿入孔Ｂが正確でも同ファイバ挿入孔Ｂ内に挿入さ
れたファイバ同士が心ずれしてしまう。このように多心
フェルールＣではガイドピン挿入孔Ａがコネクタの機械
的結合の基準となる。また、多心フェルールＣの寸法測
定において求められたガイド挿入孔Ａの中心同士を結ん
だ線（図６のＸ−Ｘ線）が座標系の１つの軸となる。従
って、多心フェルールＣの測定精度を高めるためにはガ
イド挿入孔Ａの中心をいかに精度良く測定するかがポイ
ントとなる。
【０００５】前記の様な多心フェルールＣの良否判定
は、従来は、多心フェルールＣのファイバ挿入孔Ｂにフ
ァイバを挿入固定し、その突合わせ端面を研磨した後の
接続損失を測定して判定するのが一般的であった。
は、従来は、多心フェルールＣのファイバ挿入孔Ｂにフ
ァイバを挿入固定し、その突合わせ端面を研磨した後の
接続損失を測定して判定するのが一般的であった。
【０００６】しかし、従来の測定方法では多心フェルー
ルＣのファイバ挿入孔Ｂに一々ファイバを挿入固定しな
ければならないので、接続損失を測定するまでの作業が
面倒であった。
ルＣのファイバ挿入孔Ｂに一々ファイバを挿入固定しな
ければならないので、接続損失を測定するまでの作業が
面倒であった。
【０００７】そこで多心フェルールＣのファイバ挿入孔
Ｂにファイバを挿入固定する前に、多心フェルールＣそ
のものの寸法を測定して良否を判定することができれば
従来の測定方法における面倒がなくなり、また、製品の
歩留向上を図る意味でも非常に有利である。
Ｂにファイバを挿入固定する前に、多心フェルールＣそ
のものの寸法を測定して良否を判定することができれば
従来の測定方法における面倒がなくなり、また、製品の
歩留向上を図る意味でも非常に有利である。
【０００８】また、通常は多心フェルールＣはプラスチ
ック成形されているため、多心フェルールＣの良否判定
をファイバ挿入固定する前の多心フェルールそのもので
行うことができれば、不良発生時にその旨を測定前の工
程（成形工程）へスピーディにフィードバックすること
ができ、不良品の発生をその時点で止めることもでき
る。
ック成形されているため、多心フェルールＣの良否判定
をファイバ挿入固定する前の多心フェルールそのもので
行うことができれば、不良発生時にその旨を測定前の工
程（成形工程）へスピーディにフィードバックすること
ができ、不良品の発生をその時点で止めることもでき
る。
【０００９】そこで従来はファイバを挿入固定する前の
多心フェルールの孔位置を図５（ａ）に示す測定系を用
いて測定していた。この測定系による測定はガラス板等
の透光性のあるステージＨの上の所定位置に測定対象で
ある多心フェルールＣを縦向きに（図４ｂのガイドピン
挿入孔Ａ、ファイバ挿入孔Ｂが上下を向く様に）セット
し、ステージＨの下方の光源Ｊからの光をステージＨに
投射して、その光をステージＨの上のフェルールＩのガ
イドピン挿入孔Ａ、ファイバ挿入孔Ｂの一端から入射し
て他端に出射（透過）させ、その出射端の透過光の状態
を出射側に設置した顕微鏡Ｋを通してＣＣＤカメラＬで
撮影し、ＣＣＤカメラＬからの画像を画像処理装置Ｍで
画像処理してガイドピン挿入孔Ａ、ファイバ挿入孔Ｂの
エッジを検出し、それに基づいて図５（ｂ）のようにエ
ッジの数点の座標点Ｐ1 、Ｐ2 、Ｐ3 を算出し、その測
定座標に基づいてガイドピン挿入孔Ａ、ファイバ挿入孔
Ｂの直径、中心を算出するようにしたものである。
多心フェルールの孔位置を図５（ａ）に示す測定系を用
いて測定していた。この測定系による測定はガラス板等
の透光性のあるステージＨの上の所定位置に測定対象で
ある多心フェルールＣを縦向きに（図４ｂのガイドピン
挿入孔Ａ、ファイバ挿入孔Ｂが上下を向く様に）セット
し、ステージＨの下方の光源Ｊからの光をステージＨに
投射して、その光をステージＨの上のフェルールＩのガ
イドピン挿入孔Ａ、ファイバ挿入孔Ｂの一端から入射し
て他端に出射（透過）させ、その出射端の透過光の状態
を出射側に設置した顕微鏡Ｋを通してＣＣＤカメラＬで
撮影し、ＣＣＤカメラＬからの画像を画像処理装置Ｍで
画像処理してガイドピン挿入孔Ａ、ファイバ挿入孔Ｂの
エッジを検出し、それに基づいて図５（ｂ）のようにエ
ッジの数点の座標点Ｐ1 、Ｐ2 、Ｐ3 を算出し、その測
定座標に基づいてガイドピン挿入孔Ａ、ファイバ挿入孔
Ｂの直径、中心を算出するようにしたものである。
【００１０】
【発明が解決しようとする課題】図５（ａ）に示す測定
系を用いた測定方法では、ステージＨの変位をレーザー
スケールＮで読み取っているため、その精度（分解能
０．００５μｍ）は十分過ぎるほどであり、ガラススケ
ールの場合でも分解能０．１μｍであり使えない精度で
はない。しかし透過光方式で多心フェルールＣのエッジ
を透過光に基づいて検出するため次のような問題があっ
た。
系を用いた測定方法では、ステージＨの変位をレーザー
スケールＮで読み取っているため、その精度（分解能
０．００５μｍ）は十分過ぎるほどであり、ガラススケ
ールの場合でも分解能０．１μｍであり使えない精度で
はない。しかし透過光方式で多心フェルールＣのエッジ
を透過光に基づいて検出するため次のような問題があっ
た。
【００１１】１．光量のミスマッチ（明る過ぎや暗過
ぎ）によりガイドピン挿入孔Ａ、ファイバ挿入孔Ｂの輪
郭がピンボケすることがある。 ２．ガイドピン挿入孔Ａ、ファイバ挿入孔Ｂのエッジ部
分にダレ、欠け等があると撮影画像が不鮮明になる。 ３．ガイドピン挿入孔Ａ、ファイバ挿入孔Ｂ内にゴミ等
が付着すると、それが邪魔になってそれらの孔の撮影画
像が不鮮明になる。 ４．多心フェルールがプラスチックの場合、成形後の変
形により孔が歪んで非真円に変形することがある。この
ため機械的基準となるガイド孔の中心の測定がばらつ
く。しかもそのばらつき幅が約２μｍと大きい。当然ガ
イドピン挿入孔Ａ、ファイバ挿入孔Ｂ孔のピッチ寸法も
繰り返し測定時にσ＝約１μｍと大きく、不十分であっ
た。
ぎ）によりガイドピン挿入孔Ａ、ファイバ挿入孔Ｂの輪
郭がピンボケすることがある。 ２．ガイドピン挿入孔Ａ、ファイバ挿入孔Ｂのエッジ部
分にダレ、欠け等があると撮影画像が不鮮明になる。 ３．ガイドピン挿入孔Ａ、ファイバ挿入孔Ｂ内にゴミ等
が付着すると、それが邪魔になってそれらの孔の撮影画
像が不鮮明になる。 ４．多心フェルールがプラスチックの場合、成形後の変
形により孔が歪んで非真円に変形することがある。この
ため機械的基準となるガイド孔の中心の測定がばらつ
く。しかもそのばらつき幅が約２μｍと大きい。当然ガ
イドピン挿入孔Ａ、ファイバ挿入孔Ｂ孔のピッチ寸法も
繰り返し測定時にσ＝約１μｍと大きく、不十分であっ
た。
【００１２】本発明の目的は精度の高い測定が可能な
孔、Ｖ溝等の測定方法を提供することにある。
孔、Ｖ溝等の測定方法を提供することにある。
【００１３】
【課題を解決するための手段】本発明の孔、Ｖ溝等の測
定方法は図１、図３に示す様に、多心コネクタフェルー
ル１のガイドピン挿入孔或はＶ溝、ファイバ挿入孔或は
Ｖ溝等の測定部１に測定用ピン２を挿入し、測定部１の
外部に突出する測定用ピン２の突出部３の外周部に輪郭
形状測定機４を接触させて測定用ピン２の輪郭形状を多
点測定し、その測定値を演算処理して測定部１を測定す
るものである。
定方法は図１、図３に示す様に、多心コネクタフェルー
ル１のガイドピン挿入孔或はＶ溝、ファイバ挿入孔或は
Ｖ溝等の測定部１に測定用ピン２を挿入し、測定部１の
外部に突出する測定用ピン２の突出部３の外周部に輪郭
形状測定機４を接触させて測定用ピン２の輪郭形状を多
点測定し、その測定値を演算処理して測定部１を測定す
るものである。
【００１４】
【作用】本発明の孔、Ｖ溝等の測定方法では、測定部１
に挿入した測定用ピン２の突出部３の外周部に輪郭形状
測定機４を接触させて多点測定し、その測定値を演算処
理するので、例えば測定部１の中心位置を求めることが
できる。このため、多心フェルールのガイドピン挿入
孔、ファイバ挿入孔或はＶ溝を透過した光を画像撮影し
て測定する場合よりも正確に測定することができる。
に挿入した測定用ピン２の突出部３の外周部に輪郭形状
測定機４を接触させて多点測定し、その測定値を演算処
理するので、例えば測定部１の中心位置を求めることが
できる。このため、多心フェルールのガイドピン挿入
孔、ファイバ挿入孔或はＶ溝を透過した光を画像撮影し
て測定する場合よりも正確に測定することができる。
【００１５】
【実施例】本発明の孔、Ｖ溝等の測定方法を図１〜図３
に基づいて詳細に説明する。図１に示すものは測定部１
が多心フェルール８のガイドピン挿入孔６、ファイバ挿
入孔７の場合であり、図３に示すものは測定部１がＶ溝
の場合である。
に基づいて詳細に説明する。図１に示すものは測定部１
が多心フェルール８のガイドピン挿入孔６、ファイバ挿
入孔７の場合であり、図３に示すものは測定部１がＶ溝
の場合である。
【００１６】図１の多心フェルール８としては例えばガ
イドピン挿入孔６の配列ピッチが設計値で８ｍｍ、ファ
イバ挿入孔７の配列ピッチが０．２５ｍｍの４心、８心
等のものがある。多心フェルール８の材質はプラスチッ
クが考えられる。
イドピン挿入孔６の配列ピッチが設計値で８ｍｍ、ファ
イバ挿入孔７の配列ピッチが０．２５ｍｍの４心、８心
等のものがある。多心フェルール８の材質はプラスチッ
クが考えられる。
【００１７】そして図１では前記の多心フェルール８の
ガイドピン挿入孔６に測定用ピン２を挿入する。この場
合、測定用ピン２の長さは任意でかまわないが、少なく
とも３ｍｍ以上は挿入でき、しかもフェルール８の外部
に測定に必要な長さの突出部３が突出するものとする。
また、測定用ピン２としては例えば外径精度が０．１μ
ｍ、真円度０．１μｍ以下、円筒度０．３μｍ以下で、
ガイドピン挿入孔６に対してクリアランス０．１μｍ以
下となるように挿入できるものを用意する。
ガイドピン挿入孔６に測定用ピン２を挿入する。この場
合、測定用ピン２の長さは任意でかまわないが、少なく
とも３ｍｍ以上は挿入でき、しかもフェルール８の外部
に測定に必要な長さの突出部３が突出するものとする。
また、測定用ピン２としては例えば外径精度が０．１μ
ｍ、真円度０．１μｍ以下、円筒度０．３μｍ以下で、
ガイドピン挿入孔６に対してクリアランス０．１μｍ以
下となるように挿入できるものを用意する。
【００１８】次に図１の測定用ピン２のうちフェルール
８から突出している突出部３の輪郭を測定する。この場
合、測定用ピン２の測定は接触式の測長機或は真円度測
定機等の輪郭形状測定機４を用い、それらの先端部を図
１に示すように突出部３の上部外周面に沿ってなぞる。
この場合、測定用ピン２が挿入されたフェルール８を動
かないようにバイスや専用の治具等で固定して行う。こ
の輪郭測定は温度変化による寸法のばらつきをなくすた
めに恒温恒湿室（例えば２２℃６０％）内で行うのが望
ましい。
８から突出している突出部３の輪郭を測定する。この場
合、測定用ピン２の測定は接触式の測長機或は真円度測
定機等の輪郭形状測定機４を用い、それらの先端部を図
１に示すように突出部３の上部外周面に沿ってなぞる。
この場合、測定用ピン２が挿入されたフェルール８を動
かないようにバイスや専用の治具等で固定して行う。こ
の輪郭測定は温度変化による寸法のばらつきをなくすた
めに恒温恒湿室（例えば２２℃６０％）内で行うのが望
ましい。
【００１９】輪郭部形状測定機４としては最小分解能が
０．１μｍ程度のものを使用するのが望ましい。輪郭部
形状測定機４の接触子９の先端形状としては円錐、半円
錐などが考えられる。測定点数としては１ミクロンピッ
チのサンプルリングでピンの頂点から±６０°の範囲を
測定領域とすれば、φ２ｍｍのピンで約２０００点とな
り非常に多くの点数をデータとして取り込むことができ
る。
０．１μｍ程度のものを使用するのが望ましい。輪郭部
形状測定機４の接触子９の先端形状としては円錐、半円
錐などが考えられる。測定点数としては１ミクロンピッ
チのサンプルリングでピンの頂点から±６０°の範囲を
測定領域とすれば、φ２ｍｍのピンで約２０００点とな
り非常に多くの点数をデータとして取り込むことができ
る。
【００２０】前記の輪郭測定により求められた円弧の値
を演算処理して測定用ピン２の中心位置、即ち、ガイド
ピン挿入孔６の中心位置を求める。更に、この中心位置
に基づいてその中心位置間の寸法、即ち、測定したガイ
ドピン挿入孔６のピッチ寸法（図６のＬ）を求めること
ができる。その測定結果（測定回数ｎ＝１５）の一例を
次に示す。
を演算処理して測定用ピン２の中心位置、即ち、ガイド
ピン挿入孔６の中心位置を求める。更に、この中心位置
に基づいてその中心位置間の寸法、即ち、測定したガイ
ドピン挿入孔６のピッチ寸法（図６のＬ）を求めること
ができる。その測定結果（測定回数ｎ＝１５）の一例を
次に示す。
【００２１】 (1) ８．００００ｍｍ (6) ８．０００２ｍｍ (11) ８．０００１ｍｍ (2) ８．００００ｍｍ (7) ８．００００ｍｍ (12) ８．０００２ｍｍ (3) ７．９９９７ｍｍ (8) ８．０００２ｍｍ (13) ８．０００２ｍｍ (4) ８．０００３ｍｍ (9) ８．０００２ｍｍ (14) ８．０００５ｍｍ (5) ８．０００５ｍｍ (10) ８．００００ｍｍ (15) ８．０００３ｍｍ
【００２２】上記より、平均８．０００１６、標準偏差
０．０００２０６となり、標準偏差が従来方法で求めた
場合の１／５となり、その有意差が明らかとなった。
０．０００２０６となり、標準偏差が従来方法で求めた
場合の１／５となり、その有意差が明らかとなった。
【００２３】本発明の孔、Ｖ溝等の測定方法によれば、
前記の様にしてガイドピン挿入孔６の中心位置を求める
ことができるので、それに基づいてガイドピン挿入孔６
の輪郭、二つのガイドピン挿入孔６の中心位置を結ぶ基
準線Ｘ−Ｘ、基準線Ｘ−Ｘに対するファイバ挿入孔７の
位置ずれ等を測定することができる。
前記の様にしてガイドピン挿入孔６の中心位置を求める
ことができるので、それに基づいてガイドピン挿入孔６
の輪郭、二つのガイドピン挿入孔６の中心位置を結ぶ基
準線Ｘ−Ｘ、基準線Ｘ−Ｘに対するファイバ挿入孔７の
位置ずれ等を測定することができる。
【００２４】本発明の孔、Ｖ溝等の測定方法によれば、
多心フェルールのファイバ挿入孔７の中心位置、輪郭、
ピッチ等を求めることもできる。この場合、通常使われ
る光ファイバの外径は約φ０．１２５ｍｍであるため、
それと同径の測定用ピン２をファイバ挿入孔７に挿入
し、その測定用ピン２に実施例１と同じように輪郭部形
状測定機４の接触子９を接触させて測定すると、測定用
ピン２が接触圧（測定圧：通常数ｇｆ）に負けて撓んだ
り、折れたりして測定不可能となることがある。
多心フェルールのファイバ挿入孔７の中心位置、輪郭、
ピッチ等を求めることもできる。この場合、通常使われ
る光ファイバの外径は約φ０．１２５ｍｍであるため、
それと同径の測定用ピン２をファイバ挿入孔７に挿入
し、その測定用ピン２に実施例１と同じように輪郭部形
状測定機４の接触子９を接触させて測定すると、測定用
ピン２が接触圧（測定圧：通常数ｇｆ）に負けて撓んだ
り、折れたりして測定不可能となることがある。
【００２５】このような問題を解決するため、測定用ピ
ン２として図２（ａ）に示すように多心フェルール８の
うちファイバ挿入孔７（測定部１）に差込む部分１０の
径を細くし、多心フェルール８の外側に突出する突出部
３を太くした段付きの測定用ピン２を用いるのが望まし
い。これにより実施例１と全く同等な高精度測定が可能
となる。ただし、この場合は段付きの測定用ピン２の同
心度は十分にでているものとする（０．１μｍ以下が理
想）。もし同心度が出ていない場合は測定用ピン２を回
して何方向かで測定し、演算によりファイバ挿入孔７の
中心を算出する。
ン２として図２（ａ）に示すように多心フェルール８の
うちファイバ挿入孔７（測定部１）に差込む部分１０の
径を細くし、多心フェルール８の外側に突出する突出部
３を太くした段付きの測定用ピン２を用いるのが望まし
い。これにより実施例１と全く同等な高精度測定が可能
となる。ただし、この場合は段付きの測定用ピン２の同
心度は十分にでているものとする（０．１μｍ以下が理
想）。もし同心度が出ていない場合は測定用ピン２を回
して何方向かで測定し、演算によりファイバ挿入孔７の
中心を算出する。
【００２６】本発明の孔、Ｖ溝等の測定方法は多心フェ
ルールのガイドピン挿入孔６、ファイバ挿入孔７等の測
定に限らず、図３に示す様にセラミックに切削加工によ
り形成したＶ溝や、シリコン基板にエッチング加工によ
り形成したＶ溝等のピッチ、深さ等の測定に適用するこ
ともできる。
ルールのガイドピン挿入孔６、ファイバ挿入孔７等の測
定に限らず、図３に示す様にセラミックに切削加工によ
り形成したＶ溝や、シリコン基板にエッチング加工によ
り形成したＶ溝等のピッチ、深さ等の測定に適用するこ
ともできる。
【００２７】
【発明の効果】本発明の孔、Ｖ溝等の測定方法は測定用
ピン２を挿入して接触式の測定を行うので次の様な効果
がある。 １．従来の透過光方式の様な測定用ピン２のぼけがない
ので高精度の測定が可能になる。 ２．測定用ピン２の輪郭を接触式で測定するので、孔や
Ｖ溝の輪郭にダレがあっても高精度の測定が可能にな
る。 ３．測定用ピン２の輪郭を測定するので、測定用ピン２
に付着しているゴミを除去し易く、比較的ゴミの影響を
受けにくい。 ４．真円度の出ている測定用ピン２を使うので孔やＶ溝
が非真円である場合の問題を排除できる。 ５．透過光方式では測定にかかる時間の都合上、一つの
孔に対してそれほど多くのエッジを検出できなかった
（最大１０〜２０点）が、本発明の測定方法ではサンプ
リング間隔の加減により最大数百点以上の多点測定が可
能であるため、高精度の測定が可能である。
ピン２を挿入して接触式の測定を行うので次の様な効果
がある。 １．従来の透過光方式の様な測定用ピン２のぼけがない
ので高精度の測定が可能になる。 ２．測定用ピン２の輪郭を接触式で測定するので、孔や
Ｖ溝の輪郭にダレがあっても高精度の測定が可能にな
る。 ３．測定用ピン２の輪郭を測定するので、測定用ピン２
に付着しているゴミを除去し易く、比較的ゴミの影響を
受けにくい。 ４．真円度の出ている測定用ピン２を使うので孔やＶ溝
が非真円である場合の問題を排除できる。 ５．透過光方式では測定にかかる時間の都合上、一つの
孔に対してそれほど多くのエッジを検出できなかった
（最大１０〜２０点）が、本発明の測定方法ではサンプ
リング間隔の加減により最大数百点以上の多点測定が可
能であるため、高精度の測定が可能である。
【図１】本発明の孔、Ｖ溝等の測定方法の説明図。
【図２】（ａ）は本発明の孔、Ｖ溝等の測定方法で使用
される段付きの測定用ピンの説明図、（ｂ）は（ａ）の
測定用ピンを多心フェルールに挿入した状態の側面図。
される段付きの測定用ピンの説明図、（ｂ）は（ａ）の
測定用ピンを多心フェルールに挿入した状態の側面図。
【図３】本発明の測定方法でＶ溝を測定する場合の説明
図。
図。
【図４】（ａ）は多心フェルールの結合説明図、（ｂ）
は多心フェルールの斜視図。
は多心フェルールの斜視図。
【図５】（ａ）は従来の多心フェルールのガイドピン挿
入孔並びにファイバ挿入孔の測定方法の説明図、（ｂ）
は（ａ）の測定データに基づく中心位置算出方法の説明
図。
入孔並びにファイバ挿入孔の測定方法の説明図、（ｂ）
は（ａ）の測定データに基づく中心位置算出方法の説明
図。
【図６】多心フェルールにおけるガイドピン挿入孔、フ
ァイバ挿入孔の説明図。
ァイバ挿入孔の説明図。
１ 測定部 ２ 測定用ピン ３ 突出部 ４ 輪郭形状測定機
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 柳瀬 博之 東京都千代田区丸の内２丁目６番１号 古 河電気工業株式会社内 (72)発明者 金井 憲 東京都千代田区丸の内２丁目６番１号 古 河電気工業株式会社内 (72)発明者 長沢 真二 東京都千代田区内幸町一丁目１番６号 日 本電信電話株式会社内
Claims (1)
- 【請求項１】 孔、Ｖ溝等の測定部１に測定用ピン２を
その端部が外部に突出するように挿入し、その測定用ピ
ン２の突出部３の外周部に輪郭形状測定機４を接触させ
て測定用ピン２の輪郭形状を多点測定し、その測定値を
演算処理して測定部１を測定することを特徴とする孔、
Ｖ溝等の測定方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP34619393A JPH07181346A (ja) | 1993-12-22 | 1993-12-22 | 孔、ｖ溝等の測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP34619393A JPH07181346A (ja) | 1993-12-22 | 1993-12-22 | 孔、ｖ溝等の測定方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH07181346A true JPH07181346A (ja) | 1995-07-21 |
Family
ID=18381746
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP34619393A Pending JPH07181346A (ja) | 1993-12-22 | 1993-12-22 | 孔、ｖ溝等の測定方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH07181346A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN108981532A (zh) * | 2018-08-20 | 2018-12-11 | 天津仲宇博金属制品有限公司 | 一种大连环的转动臂检测组件 |
-
1993
- 1993-12-22 JP JP34619393A patent/JPH07181346A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN108981532A (zh) * | 2018-08-20 | 2018-12-11 | 天津仲宇博金属制品有限公司 | 一种大连环的转动臂检测组件 |
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