JPH07181346A - 孔、v溝等の測定方法 - Google Patents
孔、v溝等の測定方法Info
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- JPH07181346A JPH07181346A JP34619393A JP34619393A JPH07181346A JP H07181346 A JPH07181346 A JP H07181346A JP 34619393 A JP34619393 A JP 34619393A JP 34619393 A JP34619393 A JP 34619393A JP H07181346 A JPH07181346 A JP H07181346A
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- Japan
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- measuring
- insertion hole
- pin
- fiber
- measurement
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 高精度な測定が可能な孔、V溝等の測定方法
を提供する。 【構成】 孔、V溝等の測定部1(多心フェルールのガ
イドピン挿入孔、ファイバ挿入孔等)に測定用ピン2を
挿入し、その測定用ピン2の突出部3の外周部に輪郭形
状測定機4を接触させて測定用ピン2の輪郭形状を多点
測定し、その測定値を演算処理して測定部1を測定す
る。 【効果】 測定用ピン2への接触式であるため透過光方
式のように、挿入孔やV溝のぼけ、輪郭のダレ、ゴミ等
の影響がなく、多点測定が可能であるため高精度の測定
が可能となる。
を提供する。 【構成】 孔、V溝等の測定部1(多心フェルールのガ
イドピン挿入孔、ファイバ挿入孔等)に測定用ピン2を
挿入し、その測定用ピン2の突出部3の外周部に輪郭形
状測定機4を接触させて測定用ピン2の輪郭形状を多点
測定し、その測定値を演算処理して測定部1を測定す
る。 【効果】 測定用ピン2への接触式であるため透過光方
式のように、挿入孔やV溝のぼけ、輪郭のダレ、ゴミ等
の影響がなく、多点測定が可能であるため高精度の測定
が可能となる。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明の孔、V溝等の測定方法
は、光通信に用いられる光コネクタフェルールのガイド
ピン挿入孔、ファイバ挿入孔の中心位置、二つのガイド
ピン挿入孔間の寸法、複数のファイバ挿入孔間の寸法、
ガイドピン挿入孔とファイバ挿入孔間の寸法、二つのガ
イドピン挿入孔間を結ぶ基準線からのファイバ挿入孔の
位置ずれ等を求めるのに使用されるものである。
は、光通信に用いられる光コネクタフェルールのガイド
ピン挿入孔、ファイバ挿入孔の中心位置、二つのガイド
ピン挿入孔間の寸法、複数のファイバ挿入孔間の寸法、
ガイドピン挿入孔とファイバ挿入孔間の寸法、二つのガ
イドピン挿入孔間を結ぶ基準線からのファイバ挿入孔の
位置ずれ等を求めるのに使用されるものである。
【0002】
【従来の技術】近年、図4(a)に示すような多心光コ
ネクタが普及してきた。この多心光コネクタは図4
(b)に示すようにガイドピン挿入孔A、ファイバ挿入
孔Bが形成された多心フェルールCを二つ組合わせて使
用するものである。この場合、多心フェルールCのファ
イバ挿入孔Bに光ファイバテープ心線Dのファイバを挿
入固定し、連結する二つの多心フェルールCのうち一方
の多心フェルールCのガイドピン挿入孔Aにガイドピン
Eを挿入し、そのガイドピンEの突出部Eを他方の多心
フェルールCのガイドピン挿入孔Aに挿入することによ
り、二つの多心フェルールCを突合わせて連結し、これ
により各多心フェルールCに挿入固定されているファイ
バ同士を突合わせる様にしたものである。更に、突き合
わせた両多心フェルールCの下からクランプスプリング
Fを押込んで、その押当部Gを各多心フェルールCの外
側面に押し当てて両多心フェルールCの連結を確保する
ようにしてある。
ネクタが普及してきた。この多心光コネクタは図4
(b)に示すようにガイドピン挿入孔A、ファイバ挿入
孔Bが形成された多心フェルールCを二つ組合わせて使
用するものである。この場合、多心フェルールCのファ
イバ挿入孔Bに光ファイバテープ心線Dのファイバを挿
入固定し、連結する二つの多心フェルールCのうち一方
の多心フェルールCのガイドピン挿入孔Aにガイドピン
Eを挿入し、そのガイドピンEの突出部Eを他方の多心
フェルールCのガイドピン挿入孔Aに挿入することによ
り、二つの多心フェルールCを突合わせて連結し、これ
により各多心フェルールCに挿入固定されているファイ
バ同士を突合わせる様にしたものである。更に、突き合
わせた両多心フェルールCの下からクランプスプリング
Fを押込んで、その押当部Gを各多心フェルールCの外
側面に押し当てて両多心フェルールCの連結を確保する
ようにしてある。
【0003】前記結合においてファイバ同士の結合精度
を高めるためには、多心フェルールCの二つのガイドピ
ン挿入孔A間の寸法L(図6)、複数のファイバ挿入孔
B間の寸法W、ガイドピン挿入孔Aとファイバ挿入孔B
間の寸法が正確であり、また、二つのガイドピン挿入孔
Aの中心を結ぶ基準線X−Xに対してファイバ挿入孔B
が位置ずれしていないこと等が必要である。
を高めるためには、多心フェルールCの二つのガイドピ
ン挿入孔A間の寸法L(図6)、複数のファイバ挿入孔
B間の寸法W、ガイドピン挿入孔Aとファイバ挿入孔B
間の寸法が正確であり、また、二つのガイドピン挿入孔
Aの中心を結ぶ基準線X−Xに対してファイバ挿入孔B
が位置ずれしていないこと等が必要である。
【0004】前記の多心フェルールCは前記の様に結合
されるため、ガイドピン挿入孔Aが位置ずれするとファ
イバ挿入孔Bが正確でも同ファイバ挿入孔B内に挿入さ
れたファイバ同士が心ずれしてしまう。このように多心
フェルールCではガイドピン挿入孔Aがコネクタの機械
的結合の基準となる。また、多心フェルールCの寸法測
定において求められたガイド挿入孔Aの中心同士を結ん
だ線(図6のX−X線)が座標系の1つの軸となる。従
って、多心フェルールCの測定精度を高めるためにはガ
イド挿入孔Aの中心をいかに精度良く測定するかがポイ
ントとなる。
されるため、ガイドピン挿入孔Aが位置ずれするとファ
イバ挿入孔Bが正確でも同ファイバ挿入孔B内に挿入さ
れたファイバ同士が心ずれしてしまう。このように多心
フェルールCではガイドピン挿入孔Aがコネクタの機械
的結合の基準となる。また、多心フェルールCの寸法測
定において求められたガイド挿入孔Aの中心同士を結ん
だ線(図6のX−X線)が座標系の1つの軸となる。従
って、多心フェルールCの測定精度を高めるためにはガ
イド挿入孔Aの中心をいかに精度良く測定するかがポイ
ントとなる。
【0005】前記の様な多心フェルールCの良否判定
は、従来は、多心フェルールCのファイバ挿入孔Bにフ
ァイバを挿入固定し、その突合わせ端面を研磨した後の
接続損失を測定して判定するのが一般的であった。
は、従来は、多心フェルールCのファイバ挿入孔Bにフ
ァイバを挿入固定し、その突合わせ端面を研磨した後の
接続損失を測定して判定するのが一般的であった。
【0006】しかし、従来の測定方法では多心フェルー
ルCのファイバ挿入孔Bに一々ファイバを挿入固定しな
ければならないので、接続損失を測定するまでの作業が
面倒であった。
ルCのファイバ挿入孔Bに一々ファイバを挿入固定しな
ければならないので、接続損失を測定するまでの作業が
面倒であった。
【0007】そこで多心フェルールCのファイバ挿入孔
Bにファイバを挿入固定する前に、多心フェルールCそ
のものの寸法を測定して良否を判定することができれば
従来の測定方法における面倒がなくなり、また、製品の
歩留向上を図る意味でも非常に有利である。
Bにファイバを挿入固定する前に、多心フェルールCそ
のものの寸法を測定して良否を判定することができれば
従来の測定方法における面倒がなくなり、また、製品の
歩留向上を図る意味でも非常に有利である。
【0008】また、通常は多心フェルールCはプラスチ
ック成形されているため、多心フェルールCの良否判定
をファイバ挿入固定する前の多心フェルールそのもので
行うことができれば、不良発生時にその旨を測定前の工
程(成形工程)へスピーディにフィードバックすること
ができ、不良品の発生をその時点で止めることもでき
る。
ック成形されているため、多心フェルールCの良否判定
をファイバ挿入固定する前の多心フェルールそのもので
行うことができれば、不良発生時にその旨を測定前の工
程(成形工程)へスピーディにフィードバックすること
ができ、不良品の発生をその時点で止めることもでき
る。
【0009】そこで従来はファイバを挿入固定する前の
多心フェルールの孔位置を図5(a)に示す測定系を用
いて測定していた。この測定系による測定はガラス板等
の透光性のあるステージHの上の所定位置に測定対象で
ある多心フェルールCを縦向きに(図4bのガイドピン
挿入孔A、ファイバ挿入孔Bが上下を向く様に)セット
し、ステージHの下方の光源Jからの光をステージHに
投射して、その光をステージHの上のフェルールIのガ
イドピン挿入孔A、ファイバ挿入孔Bの一端から入射し
て他端に出射(透過)させ、その出射端の透過光の状態
を出射側に設置した顕微鏡Kを通してCCDカメラLで
撮影し、CCDカメラLからの画像を画像処理装置Mで
画像処理してガイドピン挿入孔A、ファイバ挿入孔Bの
エッジを検出し、それに基づいて図5(b)のようにエ
ッジの数点の座標点P1 、P2 、P3 を算出し、その測
定座標に基づいてガイドピン挿入孔A、ファイバ挿入孔
Bの直径、中心を算出するようにしたものである。
多心フェルールの孔位置を図5(a)に示す測定系を用
いて測定していた。この測定系による測定はガラス板等
の透光性のあるステージHの上の所定位置に測定対象で
ある多心フェルールCを縦向きに(図4bのガイドピン
挿入孔A、ファイバ挿入孔Bが上下を向く様に)セット
し、ステージHの下方の光源Jからの光をステージHに
投射して、その光をステージHの上のフェルールIのガ
イドピン挿入孔A、ファイバ挿入孔Bの一端から入射し
て他端に出射(透過)させ、その出射端の透過光の状態
を出射側に設置した顕微鏡Kを通してCCDカメラLで
撮影し、CCDカメラLからの画像を画像処理装置Mで
画像処理してガイドピン挿入孔A、ファイバ挿入孔Bの
エッジを検出し、それに基づいて図5(b)のようにエ
ッジの数点の座標点P1 、P2 、P3 を算出し、その測
定座標に基づいてガイドピン挿入孔A、ファイバ挿入孔
Bの直径、中心を算出するようにしたものである。
【0010】
【発明が解決しようとする課題】図5(a)に示す測定
系を用いた測定方法では、ステージHの変位をレーザー
スケールNで読み取っているため、その精度(分解能
0.005μm)は十分過ぎるほどであり、ガラススケ
ールの場合でも分解能0.1μmであり使えない精度で
はない。しかし透過光方式で多心フェルールCのエッジ
を透過光に基づいて検出するため次のような問題があっ
た。
系を用いた測定方法では、ステージHの変位をレーザー
スケールNで読み取っているため、その精度(分解能
0.005μm)は十分過ぎるほどであり、ガラススケ
ールの場合でも分解能0.1μmであり使えない精度で
はない。しかし透過光方式で多心フェルールCのエッジ
を透過光に基づいて検出するため次のような問題があっ
た。
【0011】1.光量のミスマッチ(明る過ぎや暗過
ぎ)によりガイドピン挿入孔A、ファイバ挿入孔Bの輪
郭がピンボケすることがある。 2.ガイドピン挿入孔A、ファイバ挿入孔Bのエッジ部
分にダレ、欠け等があると撮影画像が不鮮明になる。 3.ガイドピン挿入孔A、ファイバ挿入孔B内にゴミ等
が付着すると、それが邪魔になってそれらの孔の撮影画
像が不鮮明になる。 4.多心フェルールがプラスチックの場合、成形後の変
形により孔が歪んで非真円に変形することがある。この
ため機械的基準となるガイド孔の中心の測定がばらつ
く。しかもそのばらつき幅が約2μmと大きい。当然ガ
イドピン挿入孔A、ファイバ挿入孔B孔のピッチ寸法も
繰り返し測定時にσ=約1μmと大きく、不十分であっ
た。
ぎ)によりガイドピン挿入孔A、ファイバ挿入孔Bの輪
郭がピンボケすることがある。 2.ガイドピン挿入孔A、ファイバ挿入孔Bのエッジ部
分にダレ、欠け等があると撮影画像が不鮮明になる。 3.ガイドピン挿入孔A、ファイバ挿入孔B内にゴミ等
が付着すると、それが邪魔になってそれらの孔の撮影画
像が不鮮明になる。 4.多心フェルールがプラスチックの場合、成形後の変
形により孔が歪んで非真円に変形することがある。この
ため機械的基準となるガイド孔の中心の測定がばらつ
く。しかもそのばらつき幅が約2μmと大きい。当然ガ
イドピン挿入孔A、ファイバ挿入孔B孔のピッチ寸法も
繰り返し測定時にσ=約1μmと大きく、不十分であっ
た。
【0012】本発明の目的は精度の高い測定が可能な
孔、V溝等の測定方法を提供することにある。
孔、V溝等の測定方法を提供することにある。
【0013】
【課題を解決するための手段】本発明の孔、V溝等の測
定方法は図1、図3に示す様に、多心コネクタフェルー
ル1のガイドピン挿入孔或はV溝、ファイバ挿入孔或は
V溝等の測定部1に測定用ピン2を挿入し、測定部1の
外部に突出する測定用ピン2の突出部3の外周部に輪郭
形状測定機4を接触させて測定用ピン2の輪郭形状を多
点測定し、その測定値を演算処理して測定部1を測定す
るものである。
定方法は図1、図3に示す様に、多心コネクタフェルー
ル1のガイドピン挿入孔或はV溝、ファイバ挿入孔或は
V溝等の測定部1に測定用ピン2を挿入し、測定部1の
外部に突出する測定用ピン2の突出部3の外周部に輪郭
形状測定機4を接触させて測定用ピン2の輪郭形状を多
点測定し、その測定値を演算処理して測定部1を測定す
るものである。
【0014】
【作用】本発明の孔、V溝等の測定方法では、測定部1
に挿入した測定用ピン2の突出部3の外周部に輪郭形状
測定機4を接触させて多点測定し、その測定値を演算処
理するので、例えば測定部1の中心位置を求めることが
できる。このため、多心フェルールのガイドピン挿入
孔、ファイバ挿入孔或はV溝を透過した光を画像撮影し
て測定する場合よりも正確に測定することができる。
に挿入した測定用ピン2の突出部3の外周部に輪郭形状
測定機4を接触させて多点測定し、その測定値を演算処
理するので、例えば測定部1の中心位置を求めることが
できる。このため、多心フェルールのガイドピン挿入
孔、ファイバ挿入孔或はV溝を透過した光を画像撮影し
て測定する場合よりも正確に測定することができる。
【0015】
【実施例】本発明の孔、V溝等の測定方法を図1〜図3
に基づいて詳細に説明する。図1に示すものは測定部1
が多心フェルール8のガイドピン挿入孔6、ファイバ挿
入孔7の場合であり、図3に示すものは測定部1がV溝
の場合である。
に基づいて詳細に説明する。図1に示すものは測定部1
が多心フェルール8のガイドピン挿入孔6、ファイバ挿
入孔7の場合であり、図3に示すものは測定部1がV溝
の場合である。
【0016】図1の多心フェルール8としては例えばガ
イドピン挿入孔6の配列ピッチが設計値で8mm、ファ
イバ挿入孔7の配列ピッチが0.25mmの4心、8心
等のものがある。多心フェルール8の材質はプラスチッ
クが考えられる。
イドピン挿入孔6の配列ピッチが設計値で8mm、ファ
イバ挿入孔7の配列ピッチが0.25mmの4心、8心
等のものがある。多心フェルール8の材質はプラスチッ
クが考えられる。
【0017】そして図1では前記の多心フェルール8の
ガイドピン挿入孔6に測定用ピン2を挿入する。この場
合、測定用ピン2の長さは任意でかまわないが、少なく
とも3mm以上は挿入でき、しかもフェルール8の外部
に測定に必要な長さの突出部3が突出するものとする。
また、測定用ピン2としては例えば外径精度が0.1μ
m、真円度0.1μm以下、円筒度0.3μm以下で、
ガイドピン挿入孔6に対してクリアランス0.1μm以
下となるように挿入できるものを用意する。
ガイドピン挿入孔6に測定用ピン2を挿入する。この場
合、測定用ピン2の長さは任意でかまわないが、少なく
とも3mm以上は挿入でき、しかもフェルール8の外部
に測定に必要な長さの突出部3が突出するものとする。
また、測定用ピン2としては例えば外径精度が0.1μ
m、真円度0.1μm以下、円筒度0.3μm以下で、
ガイドピン挿入孔6に対してクリアランス0.1μm以
下となるように挿入できるものを用意する。
【0018】次に図1の測定用ピン2のうちフェルール
8から突出している突出部3の輪郭を測定する。この場
合、測定用ピン2の測定は接触式の測長機或は真円度測
定機等の輪郭形状測定機4を用い、それらの先端部を図
1に示すように突出部3の上部外周面に沿ってなぞる。
この場合、測定用ピン2が挿入されたフェルール8を動
かないようにバイスや専用の治具等で固定して行う。こ
の輪郭測定は温度変化による寸法のばらつきをなくすた
めに恒温恒湿室(例えば22℃60%)内で行うのが望
ましい。
8から突出している突出部3の輪郭を測定する。この場
合、測定用ピン2の測定は接触式の測長機或は真円度測
定機等の輪郭形状測定機4を用い、それらの先端部を図
1に示すように突出部3の上部外周面に沿ってなぞる。
この場合、測定用ピン2が挿入されたフェルール8を動
かないようにバイスや専用の治具等で固定して行う。こ
の輪郭測定は温度変化による寸法のばらつきをなくすた
めに恒温恒湿室(例えば22℃60%)内で行うのが望
ましい。
【0019】輪郭部形状測定機4としては最小分解能が
0.1μm程度のものを使用するのが望ましい。輪郭部
形状測定機4の接触子9の先端形状としては円錐、半円
錐などが考えられる。測定点数としては1ミクロンピッ
チのサンプルリングでピンの頂点から±60°の範囲を
測定領域とすれば、φ2mmのピンで約2000点とな
り非常に多くの点数をデータとして取り込むことができ
る。
0.1μm程度のものを使用するのが望ましい。輪郭部
形状測定機4の接触子9の先端形状としては円錐、半円
錐などが考えられる。測定点数としては1ミクロンピッ
チのサンプルリングでピンの頂点から±60°の範囲を
測定領域とすれば、φ2mmのピンで約2000点とな
り非常に多くの点数をデータとして取り込むことができ
る。
【0020】前記の輪郭測定により求められた円弧の値
を演算処理して測定用ピン2の中心位置、即ち、ガイド
ピン挿入孔6の中心位置を求める。更に、この中心位置
に基づいてその中心位置間の寸法、即ち、測定したガイ
ドピン挿入孔6のピッチ寸法(図6のL)を求めること
ができる。その測定結果(測定回数n=15)の一例を
次に示す。
を演算処理して測定用ピン2の中心位置、即ち、ガイド
ピン挿入孔6の中心位置を求める。更に、この中心位置
に基づいてその中心位置間の寸法、即ち、測定したガイ
ドピン挿入孔6のピッチ寸法(図6のL)を求めること
ができる。その測定結果(測定回数n=15)の一例を
次に示す。
【0021】 (1) 8.0000mm (6) 8.0002mm (11) 8.0001mm (2) 8.0000mm (7) 8.0000mm (12) 8.0002mm (3) 7.9997mm (8) 8.0002mm (13) 8.0002mm (4) 8.0003mm (9) 8.0002mm (14) 8.0005mm (5) 8.0005mm (10) 8.0000mm (15) 8.0003mm
【0022】上記より、平均8.00016、標準偏差
0.000206となり、標準偏差が従来方法で求めた
場合の1/5となり、その有意差が明らかとなった。
0.000206となり、標準偏差が従来方法で求めた
場合の1/5となり、その有意差が明らかとなった。
【0023】本発明の孔、V溝等の測定方法によれば、
前記の様にしてガイドピン挿入孔6の中心位置を求める
ことができるので、それに基づいてガイドピン挿入孔6
の輪郭、二つのガイドピン挿入孔6の中心位置を結ぶ基
準線X−X、基準線X−Xに対するファイバ挿入孔7の
位置ずれ等を測定することができる。
前記の様にしてガイドピン挿入孔6の中心位置を求める
ことができるので、それに基づいてガイドピン挿入孔6
の輪郭、二つのガイドピン挿入孔6の中心位置を結ぶ基
準線X−X、基準線X−Xに対するファイバ挿入孔7の
位置ずれ等を測定することができる。
【0024】本発明の孔、V溝等の測定方法によれば、
多心フェルールのファイバ挿入孔7の中心位置、輪郭、
ピッチ等を求めることもできる。この場合、通常使われ
る光ファイバの外径は約φ0.125mmであるため、
それと同径の測定用ピン2をファイバ挿入孔7に挿入
し、その測定用ピン2に実施例1と同じように輪郭部形
状測定機4の接触子9を接触させて測定すると、測定用
ピン2が接触圧(測定圧:通常数gf)に負けて撓んだ
り、折れたりして測定不可能となることがある。
多心フェルールのファイバ挿入孔7の中心位置、輪郭、
ピッチ等を求めることもできる。この場合、通常使われ
る光ファイバの外径は約φ0.125mmであるため、
それと同径の測定用ピン2をファイバ挿入孔7に挿入
し、その測定用ピン2に実施例1と同じように輪郭部形
状測定機4の接触子9を接触させて測定すると、測定用
ピン2が接触圧(測定圧:通常数gf)に負けて撓んだ
り、折れたりして測定不可能となることがある。
【0025】このような問題を解決するため、測定用ピ
ン2として図2(a)に示すように多心フェルール8の
うちファイバ挿入孔7(測定部1)に差込む部分10の
径を細くし、多心フェルール8の外側に突出する突出部
3を太くした段付きの測定用ピン2を用いるのが望まし
い。これにより実施例1と全く同等な高精度測定が可能
となる。ただし、この場合は段付きの測定用ピン2の同
心度は十分にでているものとする(0.1μm以下が理
想)。もし同心度が出ていない場合は測定用ピン2を回
して何方向かで測定し、演算によりファイバ挿入孔7の
中心を算出する。
ン2として図2(a)に示すように多心フェルール8の
うちファイバ挿入孔7(測定部1)に差込む部分10の
径を細くし、多心フェルール8の外側に突出する突出部
3を太くした段付きの測定用ピン2を用いるのが望まし
い。これにより実施例1と全く同等な高精度測定が可能
となる。ただし、この場合は段付きの測定用ピン2の同
心度は十分にでているものとする(0.1μm以下が理
想)。もし同心度が出ていない場合は測定用ピン2を回
して何方向かで測定し、演算によりファイバ挿入孔7の
中心を算出する。
【0026】本発明の孔、V溝等の測定方法は多心フェ
ルールのガイドピン挿入孔6、ファイバ挿入孔7等の測
定に限らず、図3に示す様にセラミックに切削加工によ
り形成したV溝や、シリコン基板にエッチング加工によ
り形成したV溝等のピッチ、深さ等の測定に適用するこ
ともできる。
ルールのガイドピン挿入孔6、ファイバ挿入孔7等の測
定に限らず、図3に示す様にセラミックに切削加工によ
り形成したV溝や、シリコン基板にエッチング加工によ
り形成したV溝等のピッチ、深さ等の測定に適用するこ
ともできる。
【0027】
【発明の効果】本発明の孔、V溝等の測定方法は測定用
ピン2を挿入して接触式の測定を行うので次の様な効果
がある。 1.従来の透過光方式の様な測定用ピン2のぼけがない
ので高精度の測定が可能になる。 2.測定用ピン2の輪郭を接触式で測定するので、孔や
V溝の輪郭にダレがあっても高精度の測定が可能にな
る。 3.測定用ピン2の輪郭を測定するので、測定用ピン2
に付着しているゴミを除去し易く、比較的ゴミの影響を
受けにくい。 4.真円度の出ている測定用ピン2を使うので孔やV溝
が非真円である場合の問題を排除できる。 5.透過光方式では測定にかかる時間の都合上、一つの
孔に対してそれほど多くのエッジを検出できなかった
(最大10〜20点)が、本発明の測定方法ではサンプ
リング間隔の加減により最大数百点以上の多点測定が可
能であるため、高精度の測定が可能である。
ピン2を挿入して接触式の測定を行うので次の様な効果
がある。 1.従来の透過光方式の様な測定用ピン2のぼけがない
ので高精度の測定が可能になる。 2.測定用ピン2の輪郭を接触式で測定するので、孔や
V溝の輪郭にダレがあっても高精度の測定が可能にな
る。 3.測定用ピン2の輪郭を測定するので、測定用ピン2
に付着しているゴミを除去し易く、比較的ゴミの影響を
受けにくい。 4.真円度の出ている測定用ピン2を使うので孔やV溝
が非真円である場合の問題を排除できる。 5.透過光方式では測定にかかる時間の都合上、一つの
孔に対してそれほど多くのエッジを検出できなかった
(最大10〜20点)が、本発明の測定方法ではサンプ
リング間隔の加減により最大数百点以上の多点測定が可
能であるため、高精度の測定が可能である。
【図1】本発明の孔、V溝等の測定方法の説明図。
【図2】(a)は本発明の孔、V溝等の測定方法で使用
される段付きの測定用ピンの説明図、(b)は(a)の
測定用ピンを多心フェルールに挿入した状態の側面図。
される段付きの測定用ピンの説明図、(b)は(a)の
測定用ピンを多心フェルールに挿入した状態の側面図。
【図3】本発明の測定方法でV溝を測定する場合の説明
図。
図。
【図4】(a)は多心フェルールの結合説明図、(b)
は多心フェルールの斜視図。
は多心フェルールの斜視図。
【図5】(a)は従来の多心フェルールのガイドピン挿
入孔並びにファイバ挿入孔の測定方法の説明図、(b)
は(a)の測定データに基づく中心位置算出方法の説明
図。
入孔並びにファイバ挿入孔の測定方法の説明図、(b)
は(a)の測定データに基づく中心位置算出方法の説明
図。
【図6】多心フェルールにおけるガイドピン挿入孔、フ
ァイバ挿入孔の説明図。
ァイバ挿入孔の説明図。
1 測定部 2 測定用ピン 3 突出部 4 輪郭形状測定機
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 柳瀬 博之 東京都千代田区丸の内2丁目6番1号 古 河電気工業株式会社内 (72)発明者 金井 憲 東京都千代田区丸の内2丁目6番1号 古 河電気工業株式会社内 (72)発明者 長沢 真二 東京都千代田区内幸町一丁目1番6号 日 本電信電話株式会社内
Claims (1)
- 【請求項1】 孔、V溝等の測定部1に測定用ピン2を
その端部が外部に突出するように挿入し、その測定用ピ
ン2の突出部3の外周部に輪郭形状測定機4を接触させ
て測定用ピン2の輪郭形状を多点測定し、その測定値を
演算処理して測定部1を測定することを特徴とする孔、
V溝等の測定方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP34619393A JPH07181346A (ja) | 1993-12-22 | 1993-12-22 | 孔、v溝等の測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP34619393A JPH07181346A (ja) | 1993-12-22 | 1993-12-22 | 孔、v溝等の測定方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH07181346A true JPH07181346A (ja) | 1995-07-21 |
Family
ID=18381746
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP34619393A Pending JPH07181346A (ja) | 1993-12-22 | 1993-12-22 | 孔、v溝等の測定方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH07181346A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN108981532A (zh) * | 2018-08-20 | 2018-12-11 | 天津仲宇博金属制品有限公司 | 一种大连环的转动臂检测组件 |
-
1993
- 1993-12-22 JP JP34619393A patent/JPH07181346A/ja active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN108981532A (zh) * | 2018-08-20 | 2018-12-11 | 天津仲宇博金属制品有限公司 | 一种大连环的转动臂检测组件 |
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