JP2794258B2 - Ｖ溝の測定方法 - Google Patents
Ｖ溝の測定方法Info
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- JP2794258B2 JP2794258B2 JP35516392A JP35516392A JP2794258B2 JP 2794258 B2 JP2794258 B2 JP 2794258B2 JP 35516392 A JP35516392 A JP 35516392A JP 35516392 A JP35516392 A JP 35516392A JP 2794258 B2 JP2794258 B2 JP 2794258B2
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Description
【０００１】
【産業上の利用分野】この発明は、通信用光ファイバ接
続用コネクタおよびコネクタ成形用金型の、Ｖ溝のセン
タ位置を測定する方法に関するものである。
続用コネクタおよびコネクタ成形用金型の、Ｖ溝のセン
タ位置を測定する方法に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】図３にＶ溝を用いた光コネクタ１０の一
例を示す。これは光コネクタ１０をｚ方向から見た端面
を示す（ｘｙｚ方向は矢印のように決める）。１２はフ
ェルール、１４は位置決めピンで、１６はそのＶ溝、１
８は光ファイバで、２０はそのＶ溝である。ピン１４は
光ファイバ１８よりも大径であるから、Ｖ溝１６はＶ溝
２０よりも大きい。２２は押えである。
例を示す。これは光コネクタ１０をｚ方向から見た端面
を示す（ｘｙｚ方向は矢印のように決める）。１２はフ
ェルール、１４は位置決めピンで、１６はそのＶ溝、１
８は光ファイバで、２０はそのＶ溝である。ピン１４は
光ファイバ１８よりも大径であるから、Ｖ溝１６はＶ溝
２０よりも大きい。２２は押えである。
【０００３】光コネクタ１０において、 ・左右の位置決めピン１４のセンタ間の間隔ａ、 ・位置決めピン１４と一番外側の光ファイバ１８のセン
タ間の間隔ｂ、 ・各光ファイバ１８のセンタ間の間隔ｃ、 が、すべて正確に規格どおりであれば、このような光コ
ネクタ同志の接続損失は最低になる。
タ間の間隔ｂ、 ・各光ファイバ１８のセンタ間の間隔ｃ、 が、すべて正確に規格どおりであれば、このような光コ
ネクタ同志の接続損失は最低になる。
【０００４】従来は、Ｖ溝１６，２０の形状を、透過光
による画像処理、接触式輪郭形状測定機などにより測定
し、Ｖ溝１６，２０の各センタ１６０，２００を算出し
（図４）、それから上記ａ，ｂ，ｃの値を求めていた。
による画像処理、接触式輪郭形状測定機などにより測定
し、Ｖ溝１６，２０の各センタ１６０，２００を算出し
（図４）、それから上記ａ，ｂ，ｃの値を求めていた。
【０００５】
（１）Ｖ溝の表面の粗さ、うねり、曲面度の影響があ
り、精度が悪かった。 （２）靱性材料の場合、バリ２０２が影響した。 （３）図５のように、光ファイバ１８の場合の例につい
て言えば、Ｖ溝２０に角度差（θ1≠θ2）があるとき、
Ｖ溝２０のセンタ２００と、光ファイバ１８の中心１８
０とが一致しなかったので、コネクタ接続時に光ファイ
バ端面間に軸ずれが生じた。
り、精度が悪かった。 （２）靱性材料の場合、バリ２０２が影響した。 （３）図５のように、光ファイバ１８の場合の例につい
て言えば、Ｖ溝２０に角度差（θ1≠θ2）があるとき、
Ｖ溝２０のセンタ２００と、光ファイバ１８の中心１８
０とが一致しなかったので、コネクタ接続時に光ファイ
バ端面間に軸ずれが生じた。
【０００６】
（１）図１のように、ｚ方向のＶ溝１６，２０にダミー
となる所定形状、たとえば円柱状のピン３０，３２を置
き、ｙ方向の上方から画像センサ４２で、反射照明によ
り観察し、その出力信号を画像処理して、前記ピンのセ
ンタ位置を求める。 （２）または図２のように、ｚ方向のＶ溝１６，２０に
球３４，３６を置き、ｚ方向の横から画像センサ４２
で、反射照明により観察し、その出力信号を画像処理し
て、前記球のセンタ位置を求める。
となる所定形状、たとえば円柱状のピン３０，３２を置
き、ｙ方向の上方から画像センサ４２で、反射照明によ
り観察し、その出力信号を画像処理して、前記ピンのセ
ンタ位置を求める。 （２）または図２のように、ｚ方向のＶ溝１６，２０に
球３４，３６を置き、ｚ方向の横から画像センサ４２
で、反射照明により観察し、その出力信号を画像処理し
て、前記球のセンタ位置を求める。
【０００７】
【作 用】画像センサ４２の出力信号を画像処理によ
り、たとえば２値化したとき、受光量やしきい値のとり
方によりピン３０，３２の外側位置（直径）は変化する
が、センタ位置は変化しない。よって、実際に位置決め
ピンや光ファイバを配置したときと同状態で測定できる
から、Ｖ溝の形状や面精度に関係なくセンタ位置の高精
度の測定ができる。
り、たとえば２値化したとき、受光量やしきい値のとり
方によりピン３０，３２の外側位置（直径）は変化する
が、センタ位置は変化しない。よって、実際に位置決め
ピンや光ファイバを配置したときと同状態で測定できる
から、Ｖ溝の形状や面精度に関係なくセンタ位置の高精
度の測定ができる。
【０００８】
【実施例１】図１のように、円柱状のピン３０，３２を
Ｖ溝１６，２０に置く。同図（ａ）はフェルール１２を
ｙ方向の上から見た状態、（ｂ）はフェルール１２をｚ
方向の横から見た状態を示す。同図（ｂ）のように、光
４０を真上からフェルール１２の表面に照射し、反射光
を画像センサ４２（たとえばＣＣＤカメラ）でとらえ
る。図１（ｃ）に示すように、ピン３０の表面は、端部
側３００より中央側３０２の方が反射光量が大きくな
る。画像センサ４２の出力信号を画像処理する。同図
（ｂ）に、２値化した後のパターン４４を、ディスプレ
イ４６（たとえばＣＲＴ）上に示した場合を示す。波形
パターン内で各凹部（Ｌ）のセンタ位置は、ピン３０，
３２のセンタ位置と正確に一致する。また、ピン３０の
センタ位置は、Ｖ溝１６に入れる位置決めピン１４のセ
ンタ位置とも正確に一致し、またピン３２のセンタ位置
は、Ｖ溝２０に入れる光ファイバ１８のセンタ位置とも
正確に一致する。
Ｖ溝１６，２０に置く。同図（ａ）はフェルール１２を
ｙ方向の上から見た状態、（ｂ）はフェルール１２をｚ
方向の横から見た状態を示す。同図（ｂ）のように、光
４０を真上からフェルール１２の表面に照射し、反射光
を画像センサ４２（たとえばＣＣＤカメラ）でとらえ
る。図１（ｃ）に示すように、ピン３０の表面は、端部
側３００より中央側３０２の方が反射光量が大きくな
る。画像センサ４２の出力信号を画像処理する。同図
（ｂ）に、２値化した後のパターン４４を、ディスプレ
イ４６（たとえばＣＲＴ）上に示した場合を示す。波形
パターン内で各凹部（Ｌ）のセンタ位置は、ピン３０，
３２のセンタ位置と正確に一致する。また、ピン３０の
センタ位置は、Ｖ溝１６に入れる位置決めピン１４のセ
ンタ位置とも正確に一致し、またピン３２のセンタ位置
は、Ｖ溝２０に入れる光ファイバ１８のセンタ位置とも
正確に一致する。
【０００９】
【実施例２】図２のように、球３４，３６をＶ溝１６，
２０に置く。同図（ａ）はｙ方向の上から見た状態、
（ｂ）はｚ方向の横から見た状態、（ｃ）はｘ方向の横
から見た状態を示す。同図（ｃ）のように、光４０をｚ
方向の真横からフェルール１２の正面に照射し、反射光
を画像センサ４２（たとえばＣＣＤカメラ）でとらえ
る。それ以後は、上記実施例１の場合と同じである。
２０に置く。同図（ａ）はｙ方向の上から見た状態、
（ｂ）はｚ方向の横から見た状態、（ｃ）はｘ方向の横
から見た状態を示す。同図（ｃ）のように、光４０をｚ
方向の真横からフェルール１２の正面に照射し、反射光
を画像センサ４２（たとえばＣＣＤカメラ）でとらえ
る。それ以後は、上記実施例１の場合と同じである。
【００１０】位置決めで重要な要素はピン３０間の長さ
であり、またピン３０はピン３２よりも大きく画像処理
も容易で精度も優れるから、この長さが規定値であるか
どうかを検討するだけでもコネクタ精度は向上する。ピ
ンは、断面円形の円柱状ピンが好ましいが、他形状でも
よい。なお、Ｖ溝研削加工機に、本発明を適用すれば、
機上測定が可能で、ワークをチャックから外さずに、Ｖ
溝測定ができる。
であり、またピン３０はピン３２よりも大きく画像処理
も容易で精度も優れるから、この長さが規定値であるか
どうかを検討するだけでもコネクタ精度は向上する。ピ
ンは、断面円形の円柱状ピンが好ましいが、他形状でも
よい。なお、Ｖ溝研削加工機に、本発明を適用すれば、
機上測定が可能で、ワークをチャックから外さずに、Ｖ
溝測定ができる。
【００１１】
【発明の効果】Ｖ溝に所定形状たとえば円柱状ピンまた
は球を置き、それを画像センサで観察し、その出力信号
を画像処理するので、ピンまたは球のセンタは、上記の
ように、正確に求められる。また、ピンまたは球のセン
タ位置は、位置決めピン１４，光ファイバ１８のセンタ
位置とも正確に一致する。したがって、Ｖ溝の角度差や
表面の粗さ、うねり、曲面度、バリ等の影響を受けず
に、Ｖ溝のセンタ位置を高い精度で測定できるから、高
精度の光ファイバコネクタ用の金型や光コネクタを提供
することができる。
は球を置き、それを画像センサで観察し、その出力信号
を画像処理するので、ピンまたは球のセンタは、上記の
ように、正確に求められる。また、ピンまたは球のセン
タ位置は、位置決めピン１４，光ファイバ１８のセンタ
位置とも正確に一致する。したがって、Ｖ溝の角度差や
表面の粗さ、うねり、曲面度、バリ等の影響を受けず
に、Ｖ溝のセンタ位置を高い精度で測定できるから、高
精度の光ファイバコネクタ用の金型や光コネクタを提供
することができる。
【図１】本発明の実施例１の説明図。
【図２】本発明の実施例２の説明図。
【図３】Ｖ溝を用いたコネクタの端面の説明図。
【図４】Ｖ溝の説明図。
【図５】Ｖ溝の角度差や表面の粗さ、バリ等の説明図。
１０ 光コネクタ １２ フェルール １４ 位置決めピン １６，２０ Ｖ溝 ２２ 押え ３０，３２ ピン ３４，３６ 球 ４０ 光 ４２ 画像センサ ４４ パターン ４６ ディスプレイ
フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.6，ＤＢ名) G01B 11/00 - 11/30 G01B 21/00 - 21/32 G02B 6/24,6/36,6/38,6/40
Claims (2)
- 【請求項１】 ｚ方向のＶ溝に所定形状のピンを置き、
ｙ方向の上方から画像センサで、反射照明により観察
し、その出力信号を画像処理して、前記ピンのセンタ位
置を求める、Ｖ溝の測定方法。 - 【請求項２】 ｚ方向のＶ溝に球を置き、ｚ方向の横か
ら画像センサで、反射照明により観察し、その出力信号
を画像処理して、前記球のセンタ位置を求める、Ｖ溝の
測定方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP35516392A JP2794258B2 (ja) | 1992-12-17 | 1992-12-17 | Ｖ溝の測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP35516392A JP2794258B2 (ja) | 1992-12-17 | 1992-12-17 | Ｖ溝の測定方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06185982A JPH06185982A (ja) | 1994-07-08 |
| JP2794258B2 true JP2794258B2 (ja) | 1998-09-03 |
Family
ID=18442311
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP35516392A Expired - Fee Related JP2794258B2 (ja) | 1992-12-17 | 1992-12-17 | Ｖ溝の測定方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2794258B2 (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US8363904B2 (en) | 2009-10-13 | 2013-01-29 | Mitutoyo Corporation | Offset amount calibrating method and surface texture measuring machine |
| US8650939B2 (en) | 2009-10-13 | 2014-02-18 | Mitutoyo Corporation | Surface texture measuring machine and a surface texture measuring method |
| US8654351B2 (en) | 2009-10-13 | 2014-02-18 | Mitutoyo Corporation | Offset amount calibrating method and surface profile measuring machine |
-
1992
- 1992-12-17 JP JP35516392A patent/JP2794258B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US8363904B2 (en) | 2009-10-13 | 2013-01-29 | Mitutoyo Corporation | Offset amount calibrating method and surface texture measuring machine |
| US8650939B2 (en) | 2009-10-13 | 2014-02-18 | Mitutoyo Corporation | Surface texture measuring machine and a surface texture measuring method |
| US8654351B2 (en) | 2009-10-13 | 2014-02-18 | Mitutoyo Corporation | Offset amount calibrating method and surface profile measuring machine |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH06185982A (ja) | 1994-07-08 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |