KR950006461B1 - 다심광커넥터의 축어긋남검사방법 - Google Patents

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후루카와덴기코교 카부시키가이샤
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Abstract

내용 없음.

Description

다심광커넥터의 축어긋남검사방법
제1도는 본 발명의 다심커넥터의 축어긋남검사방법에 관한 제1의 실시예를 설명하는 것으로서, 본 발명 방법에 사용하는 축어긋남검사계의 개략구성도.
제2도는 다심커넥터의 사시도.
제3도는 다심커넥터의 위치결정을 표시한 요부단면도.
제4도는 제1의 실시예의 변경예를 설명하는 것으로서, 축어긋남검사계의 요부를 표시한 개략구성도.
제5도는 제1의 실시예의 변경예에 있어서, 다심파이버를 페루울에 끼워통하게하는 끼워붙임스테이지를 표시한 것으로서, 커넥터장착부재를 단면으로 해서 표시한 측면도.
제6도는 제1의 실시예의 또다른 변경예를 설명한 것으로서, 축어긋남검사계의 개략구성도.
제7도는 제6도에 있어서, 커넥터장착부재를 단면으로해서 표시한 요부정면도.
제8도는 본 발명의 다심커넥터의 축어긋남검사방법에 관한 제 2 의 실시예를 설명하는 것으로서, 본 발명 방법에 사용하는 축어긋남검사계의 개략구성도.
* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명
1 : 축어긋남검사계 2 : 광원
3 : 커넥터장착부재 4 : 광학계
4a : 프리즘 4b : 곁상렌즈
5 : PDS(위치검출센서) 8 : 기준커넥터
9 : 샘플커넥터 10,12 : 페루울
10b,11b : 파이버삽입구멍 11,13 : 다심파이버
11a,13a : 광파이버심선 20 : 끼워붙임스테이지
21 : 프리즘 22 : 차광판
30 : 축어긋남검사계
본 발명은, 다심커넥터의 축어긋남검사방법에 관한 것이다.
다심커넥터는, 안내핀을 상대쪽의 다심커넥터의 핀구멍에 끼워맞추어서 맞대고 접속하는 것으로서, 플라스틱제의 페루울내에 예를 들면, 테이프파이버 등, 복수의 광파이버를 삽입하고, 이들을 접착제로 고정한 것이다.
여기에 있어서, 상기 페루울에는 복수의 광파이버를 삽입하는 파이버구멍 또는 V홈이 정밀하게 형성되어 있다. 그러나, 이들 구멍의 형성정밀도가 나쁘면, 다른 다심커넥터와 맞대고 접속하였을때에, 맞대게 되는 광파이버 상호간의 축어긋남에 의해서 접속손실이 발생하여, 안정된 광통신의 방해가 된다.
이 때문에, 다심커넥터에 있어서는, 페루울의 제조후, 품질관리를 위하여, 광파이버를 임시고정하거나, 접착고정하거나 함으로써, 각 광파이버의 축어긋남을 검사할 필요가 있었다.
이러한 방법으로서, 종래는, 다심커넥터를 서로 맞대어 접속하고, 화상처리기술을 사용하거나, 접속손실을 측정하므로써, 다심커넥터에 있어서의 광파이버의 축어긋남을 검사하고 있었다.
그러나, 화상처리기술을 사용하는 경우에는, 맞대고 접속되는 다심커넥터 상호간을, 평면내에서 정밀하게 위치결정할 수 있는 고가인 광학스테이지를 필요로 하는 위에, 측정에 시간이 걸린다고 하는 문제가 있었다.
또, 접속손실을 측정하는 경우에는, 각 파이버의 위치를 측정하지 않기 때문에 축어긋남을 정량적으로 파악할 수 없었다. 또, 각 광파이버를 페루울에 접착고정해두지 않으면 정확한 측정을 할 수 없고, 큰 축어긋남이 발생한 경우에는 당해 다심커넥터는 사용할 수 없어 제조상의 낭비가 있었다.
본 발명은 상기한 점에 비추어 이루어진 것으로서, 다심커넥터에 있어서의 광파이버의 축어긋남을 값싸고, 또한, 신속하게 또한 제조상의 낭비없이 고정밀도로 검사할 수 있는 방법을 제공하는 것을 목적으로 한다.
상기 목적을 달성하기 위하여 본 발명의 다심커넥터의 축어긋남검사방법에 의하면, 광파이버를 끼워통하게 하는 복수의 파이버삽입구멍을 구비한 기준커넥터와 샘플커넥터를 소정위치에 순차 위치결정하고, 상기 각 파이버삽입구멍 또는 당해 파이버삽입구멍의 각각에 끼워통하게한 각 광파이버로부터 출사되는 검사광의 위치를 위치검출센서에 의해서 순차검출하고, 상기 위치검출센서에 의해서 검출되는 상기 각 검사광의 위치에 의거해서, 상기 기준커넥터의 각 파이버삽입구멍 또는 당해 파이버삽입구멍의 각각에 끼워통하게한 각 광파이버에 대한, 상기 샘플커넥터의 대응하는 각 파이버삽입구멍 또는 당해 파이버삽입구멍의 각각에 끼워 통하게한 각 광파이버의 축어긋남량을 검사하는 구성으로한 것이다.
위치검출센서는, 당해 검출센서의 수광면에 있어서, 각 커넥터에 유지된 광파이버로부터 출사된 검사광의 위치를 정량적으로 검출할 수 있으면 특히 한정은 없고, 예를들면, 센서의 수광면에 있어서, 검사광의 스포트위치를 정량적으로 검출할 수 있는 PSD(Position Sensing Device)나 다분할포토다이오우드 등이 사용된다.
소정위치에 순차위치결정된 각 커넥터로부터 출사한 각 검사광은 위치검출센서로 유도된다.
위치검사센서는 이와같이해서 도달하는 각 커넥터의 광파이버 또는 파이버삽입구멍으로부터 출사된 검사광의 수광면에 있어서의 위치를 검출한다.
이들 검사광의 위치에 의거해서, 기준커넥터의 각 파이버삽입구멍 또는 당해 파이버삽입구멍의 각각에 끼워통하게한 각 광파이버에 대한, 샘플커넥터의 대응하는 각 파이버삽입구멍 또는 당해 파이버삽입구멍의 각각에 끼워통하게한 각 광파이버의 축어긋남량이 구해진다.
이하, 본 발명의 제1의 실시예를 제1도 내지 제7도에 의거해서 상세히 설명한다.
제1도는, 본 발명방법을 실시하기 위한 축어긋남검사계의 개략구성도로서, 축어긋남검사계(1)은, 광원(2), 커넥터장착부재(3), 광학계(4), 위치검출센서(이하, 간단하게 "PDS"라고 칭한다) (5), PDS(5)를 광축에 대해서 직교하는 수평방향으로 이동시키는 이동스테이지(6) 및 PDS(5)가 검출한 각출사광의 위치를 기억하는 동시에, 축어긋남량을 연산하는 연산장치(ECU) (7)을 구비하고 있다.
여기서, 광원(2)는 후술하는 기준커넥터(8) 및 샘플커넥터(9)로부터 출사되는 검사광의 강도분포가 균일하게 되도록, 똑같이 안정된 것을 사용한다.
커넥터장착부재(3)은, 기준커넥터(8) 및 샘플커넥터(9)를 장착하는 장착부(3a) (3b)가 소정간격을 두고 설치되고, 각 장착부(3a), (3b)에는, 각 커넥터(8), (9)를 위치결정하는 2줄기의 V홈(3c), (3c) (제 3도 참조)가 각각 형성되어 있다.
기준커넥터(8) 및 샘플커넥터(9)는, 다같이 구성이 동일하므로, 기준커넥터(8)에 대해서 설명하고, 다른 샘플커넥터(9)에 대해서는, 도면가운데 대응하는 부분에 대응하는 부호를 부여해서 그 상세한 설명은 생략한다.
기준커넥터(8)은, 제2도에 표시한 바와 같이, 페루울(10)에 다심파이버(11)을 장착한 것이다.
페루울(10)은, 본체(10a)에 복수의 파이버삽입구멍(10b)가 형성되는 동시에 이들 파이버삽입구멍(10b)를 끼우는 양쪽에 2개의 안내핀(10c)가 심어설치되어 있다.
또, 다심파이버(11)은 복수의 광파이버심선을 합성수지로 피복된 테이프파이버로서, 일단부의 피복을 제거해서 광파이버심선(11a) (제3도 참조)마다 분리하고, 각 심선(11a)를 파이버삽입구멍(10b)에 끼워통하게해서 접착제로 고정함으로써, 페루울(10)에 장착되고, 타단부는 광원(2)에 광접속되어 있다. 그리고, 기준커넥터(8)은, 페루울(10)의 맞대는 단부면(10d)가, 복수의 광파이버심선(11a)와 함께 단부면이 연마되어 있다.
그리고, 기준커넥터(8)은, 제3도에 표시한 바와 같이, 장착부(3a)에 형성된 2줄기의 V홈(3c)에서 안내핀(10c), (10c)를 위치결정하여, 커넥터장착부재(3)에 장착된다.
광학계(4)는 제1도에 표시한 바와 같이, 복수의 프리즘(4a)와 결상렌즈(4b)를 가지고 있으며, 각 커넥터(8), (9)로부터 출사되는 광원(2)로부터의 검사광을 도면중에 1점쇄선으로 표시한 바와 같이, 광로를 일치시켜서 PDS(5) 위에 결상시킨다.
본 발명은, 축어긋남검사계(1)을 사용해서 각 커넥터(8), (9)에 4심의 다심파이버(11)을 장착하였을때의 각 광파이버심선(11a)의 축어긋남을 다음과 같이해서 검사한다.
먼저, 안내핀(10c), (10c)를 V홈(3c), (3c)에 고정해서, 기준커넥터(8)를 커넥터장착부재(3)의 장착부(3a)에 장착한다.
다음에, 다심파이버(11)의 제1의 광파이버심선(11a)에 검사광을 입사한다. 그러자, 이 검사광은, 광학계(4)를 통과해서 PDS(5)에 결상되어, 그 스포트위치가 검출된다.
이어서, PDS(5)에서 검출된 검사광의 스포트위치를 미리 설정한 X,Y축에 의거한 좌표치로서 연상장치(7)에 기억시킨다. 이때의 값은, 예를들면 (PXM1,PYM1)으로 한다.
이하, 마찬가지로해서, 제2, 제3, 제4…로 모든 광파이버심선(11a)에 검사광을 순차입사해가고, PDS(5)에 검출되는 검사광의 스포트위치(PXM2,PYM2), (PXM3,PYM3), (PXM4,PYM4)를 연산장치(7)에 기억시켜 간다.
그런 연후에, 기준커넥터(8)을 커넥터장착부재(3)의 장착부(3b)로 절환하고, 다심파이버(11)의 각 광파이버심선(11a)에 대해서, 마찬가지의 조작을 반복한다. 이렇게하여, PDS(5)에서 검출되는 검사광의 스포트위치(PXN1,PYN1), (PXN2,PYN2), (PXN3,PYN3), (PXN4,PYN4)를 순차연산장치(7)에 기억시켜 간다.
이때, PDS(5)는 수광면적이 작으므로, 검사대상이 되는 광파이버심선(11a)가 바뀔 때마다, 이동스테이지(6)을 소정량 이동시켜, 검사광의 스포트위치가 수광면의 대략 중앙에 위치하도록 조절한다.
이와 같이해서 얻게되는 각 스포트위치로부터, 다음식으로 표시되는 △PX,△PY에 관한 값을 연산장치(7)에 의해서 구하고, 기억시켜 둔다.
△PX1=PXN1-PXM1, △PX2=PXN2-PXM2
△PX3=PXN3-PXM3, △PX4=PXN4-PXM4
△PY1=PYN1-PYM1, △PY2=PYN2-PYM2
△PY3=PYN3-PYM3, △PY4=PYN4-PYM4
여기서, 광학계(4)에 있어서는, 본래, 복수의 프리즘(4a) 및 결상렌즈(4b)에 의해서, 각 장착부(3a), (3b)에 장착된 다심커넥터로부터의 검사광이 동일한 광로를 통과하도록 조절되어 있다. 그러나, 이러한 경우라도 약간의 광축의 어긋남이 있다.
따라서, 상기의 식에서 표시되는 △PX1~△PX4및 △PY1~△PY4는, 장착부(3a), (3b)에 장착한 각 커넥터(8), (9)의 광학계(4)에 의한 측어긋남량을 나타내고 있다.
또, 다심파이버(11)의 심선수가 다르고, 예를들면, 심선수가 n의 경우에는 최후의 스포트위치는 장착부(3a)와 장착부(3b)의 각 경우에 있어서, 각각(PXMn,PYMn), (PXNn,PYNn)가 되고, 상기 △PX 및 △PY에 관한 식은, 각각 다음과 같이된다.
PXn=PXNn-PXMn,△PYn=PYNn-PYMn
다음에, 페루울(12)에 다심파이버(13)이 장착된 샘플커넥터(9)의 즉청중을 개시한다. 이때, 기준커넥터(8)은 장착부(3a)에 심플커넥터(9)는 장착부(3b)이, 각각 장착한다.
그리고, 상기와 마찬가지로해서, 각 광파이버심선(11a), (13a)를 전송되어오는 검사광을 순차 PSD(5)에서 검출하고, 각 검사광의 스포트위치를 구하여, 연산장치(7)에 기억해간다.
여기서, 예를들면, 기준커넥터(8)에 있어서의 제1의 광파이버심선(11a)의 스포트위치와, 샘플커넥터(9)의 제1의 광파이버심선(13a)의 스포트위치는, 상기와 마찬가지로해서, 각각 (XM1, YM1), (XN1, YN1)로 표시한다.
그리고, 제1의 광파이버심선(11a)에 대한 제1의 광파이버심선(13a)의, X축 및 Y축에 관한 상대적인 축어긋남량 △X1,△Y1을 연산장치(7)에 의해서 다음식에 의해 산출한다.
△X1=(XN1-XM1)-△PX1
△Y1=(YN1-YM1)-△PY1
이하, 다른 광파이버심선에 대해서도, 마찬가지로해서, 상대적인 축어긋남량 △ X2, △X3, △X4및 △Y2, △Y3, △Y4를 연산장치(7)에 의해서 산출한다.
이와 같이해서, 각 광파이버심선(13a)의 대응하는 광파이버심선(11a)에 대한 상대적인 축어긋남량을, 광학스테이지 등의 고가인 장치를 사용하는 일없이 간단하게 검사 측정할 수 있다.
상기 검사방법에 있어서, 각 광파이버심선의 축어긋남검사에 있어서의 측정정밀도는 위치검사센서에 다분할다이오우드를 사용하였을때에는, 0.2㎛ 정도의 서브미크론오오더에서 얻게 되었다.
또, 본 발명방법에 있어서는, 샘플커넥터(9)는 다심파이버(13)을 페루울(12)에 접착고정하고 있지않는, 임시고정 상태라도 실시가능하다.
이러한 경우에는 제4도 및 제5도에 표시한 바와 같이, 상기한 축어긋남검사계(1)에 샘플커넥터(9)의 페루울(12)에 다심파이버(13)을 끼워붙이는 삽착테이프(20)를 부가한다. 또한, 제4도 및 제5도에 있어서는, 광학계(4), PDS(5) 이동스테이지(6) 및 연산장치(7)은 도시하고 있지 않다.
삽착스테이지(20)은, 제5도에 표시한 바와 같이, 다심파이버(13)을 유지하는 유지블록(20a)를 구동실린더(20b)에 의해서 전진시키므로써, 예를 들면, V홈(도시생략)에 의해서 안내하면서, 각 광파이버심선(13a)를 페루울(12)의 파이버삽입구멍(12b)에 삽입하는 것으로, 커넥터장착부재(3)의 장착부(3b) 근방에 설치한다.
그리고, 먼저, 페루울(10)을 장착부(3a)에 장착해서, 광원(2)와 광학계(4)의 사이를 광학적으로 접속한다.
이어서, 안내핀(12c), (12c)에 의해서 위치결정하고, 페루울(12)만을 장착부(3b)에 장착한다. 그런 연후에, 경면절단되어, 파이버심선(13a)마다 분리된 다심파이버(13)의 일단부쪽을, 삽착스테이지(20)의 유지블록(20a)에 장착한다. 여기에 있어서, 다심파이버(13)의 타단부는, 미리, 광원(2)에 접속되어 있다.
다음에, 삽착스테이지(20)을 조작하여, 복수의 파이버심선(13a)를 페루울(12)의 대응하는 각 파이버삽입구멍(12b)에 일괄해서 삽입하고, 맞대는 단부면(12d)에서 각 파이버심선(13a)의 단부면을 위치결정한다.
이와같이해서 다심파이버(13)을 페루울(12)에 임시고정한 상태에서, 상기한 바와 같이, 각 커넥터(10), (12)에 유지된 각 광파이버심선(11a), (13a)마다 축어긋남을 검사한다.
이와같이, 다심파이버(13)을 임시고정한 상태에서 검사하면, 기준커넥터(8)과 다심파이버(13)은 그대로, 샘플커넥터(9)만을 교환해서 축어긋남을 검사할 수 있으므로, 검사를 자동화하는 일이 가능하게 된다.
또한, 검사한 샘플커넥터(9)의 페루울(12)에 있어서, 파이버삽입구멍(12b)의 축어긋남량이 크고 제품으로서 사용불능한 경우에는, 페루울(12)만을 파기하면 된다.
이 때문에, 페루울(12)에 다심파이버(13)을 접착고정하였을 경우에 비해, 제조상의 낭비가 없다.
이와 같이 축어긋남검사를 자동화하였을 경우, 샘플커넥터(9)에 의해 삽입에 있어서, 파이버심선(13a)의 절손 등 삽입사고가 발생하는 일이있다. 이와같은 경우, 삽입사고가 발생한 파이버심선(13a)를 전송되어 오는 검사광은, 거의 PDS(5)에 도달하지 않는다.
이 때문에, PDS(5)에 있어서의 수광량이 0이 되므로, 연산장치(7)에 있어서, 수광량으로부터 사입사고의 발생의 유무를 판단하고, 사고발생없다고 판단하였을 경우에만, 상기 측정을 실행하도록 하면된다.
또, 본 발명방법에 있어서는, 기준커넥터(8) 및 샘플커넥터(9)에 다심파이버(11)을 임시고정을 하지않고, 파이버삽입구멍의 위치를 측정하는데 따라서도, 축어긋남검사를 실행할 수 있다.
이러한 경우에는, 예를 들면, 제6도 및 제7도에 표시한 바와 같이, 광원으로부터의 검사광은 복수의 프리즘(21)에 의해서, 1점 쇄선으로 표시한 바와 같이, 2계통으로 분리해서 각 검사광을 각각 기준커넥터(8)및 샘플커넥터(9)의 파이버삽입구멍에 입사시키는 광학계를 사용한다.
또, 광원으로부터의 검사광은, 커넥터장착부재(3)과 광학계(4)와의 사이에 배치한 차광판(22)에 의해서 절환함으로써, 각각 기준커넥터(8) 또는 샘플커넥터(9)로부터 PSD(5)에 순차입사하도록 설정한다.
이와 같이하면, 상기와 같이, 검사한 페루울의 축어긋남이 컸을때에는, 불량품의 페루울만을 파기하면 된다고하는 이점이 있는 것에 더하여, 검사광을 2계통으로 분리해서 동일한 광원을 사용함으로써, 광원의 불안정요소를 제거할 수 있다고 하는 이점이 있다.
다음에, 본 발명의 제2의 실시예를, 제8도 및 제1의 실시예에 관한 제2도 및 제3도를 참조하면서 상세하게 설명한다. 또한, 이하의 설명에 있어서, 상기한 제1의 실시예의 구성요소와 대응하는 것에는 도면중 동일한 부호를 부여해서 상세한 설명은 생략한다.
제8도는, 축어긋남검사계의 개략구성도로서, 축어긋남검사계(30)은, 광원(2), 커넥터장착부재(3), 결상렌즈(광학계) (4), 위치검출센서(이하, 간단히 "PDS"라 칭한다) (5), PDS(5)를 광축에 대해서 직교하는 수평방향으로 이동시키는 이동스테이지(6) 및 PDS(5)가 검출된 각출사광의 위치를 기억하는 동시에, 축어긋남량을 연산하는 연산장치(ECU) (7)을 구비하고 있다.
커넥터장착부재(3)은, 제8도에 표시한 바와 같이, 기준커넥터(8) 및 샘플커넥터(9)를 장착하는 장착부(3a)가 설치되고, 장착부(3a)에는, 각 커넥터(8), (9)를 위치결정하는 V홈(3c) (제3도 참조)가 형성되어 있다.
여기서, 결상렌즈(4)는, 제8도에 표시한 바와 같이, 기준커넥터(8) 또는 샘플커넥터(9)로부터 출사되는 광원(2)로부터의 검사광을, PDS(5) 위에 결상시킨다.
본 발명은, 상기 축어긋남검사계(30)을 사용해서 각 커넥터(8), (9)에 4심의 다심파이버(11)을 장착하였을때의 기준커넥터(8)에 대한 샘플커넥터(9)의 축어긋남을 이하와 같이해서 검사한다.
먼저, 안내핀(10c), (10c)를 V홈(3c), (3c)에 고정해서, 기준커넥터(8)을 커넥터장착부재(3)의 장착부(3a)에 장착한다.
다음에, 다심파이버(11)의 제1의 광파이버심선(11a)에 검사광을 입사한다. 그러자, 이 검사광은, 결상렌즈(4)를 통과하여 PDS(5)에 결상되어, 그 스포트위치가 검출된다.
이어서, PDS(5)에서 검출된 검사광의 스포트위치를, 미리 설정한 X, Y축에 의거한 좌표치로서 연산장치(7)에 기억시킨다. 이때의 값은, 예를 들면(XM1, YM1)로 한다.
다음에, 기준커넥터(8)을 커넥터장착부재(3)의 장착부(3a)로부터 분리하여, 샘플커넥터(9)를 장착부(3a)에 장착한다.
그런연후에, 다심파이버(13)의 제2의 광파이버심선(13a)에 검사광을 입사해서, PDS(5)에서 검출되는 검사광의 스포트위치(XN1, YN1)를 연산장치(7)에 기억시킨다. 이동안, 이동스테이지(6)은 고정해두고 수평방향으로는 움직이게 하지 않는다.
그리고, 제1의 광파이버심선(11a)에 대한 제2의 광파이버심선(13a)의 X축 및 Y축에 관한 상대적인 축어긋남량 △X1, △Y1을 연산장치(7)에 의해서 다음식에 의해 연산한다.
△X1=XN-1-XM-1, △Y1=YN1-YM1
이하, 다른 광파이버심선에 대해서도, 마찬가지로해서, 상대적인 축어긋남량 △X2, △X3, △X4및 △Y2, △Y3, △Y4를 연산장치(7)에 의해서 산출한다.
이때, PDS(5)는 일반적으로 수광면적이 작고, 제1의 광파이버심선으로부터 제4의 광파이버심선에 이르는 검사광을 동시에 수광할 수 없으므로, 검사대상이 되는 각 광파이버심선이 바뀔 때마다, 이동스테이지(6)을 소정량이동시켜, 각 광파이버심선으로부터의 검사광의 스포트위치가 수광면의 대략 중앙에 위치하도록 조절한다.
이와 같이해서, 각 광파이버심선(13a)의 대응하는 광파이버심선(11a)에 대한 상대적인 축어긋남량을 광학스테이지 등의 고가의 장치를 사용하는 일없이 간단하게 검사 측정할 수 있다.
상기 검사방법에 있어서, 위치검출센서에 PSD를 사용하였던바, 각 광파이버심선의 축어긋남검사에 있어서의 측정정밀도는 0.2㎛ 이하의 서브미크론 오오더에서 얻게 되었다.
또, 본 실시예에 있어서도, 제1의 실시예와 마찬가지로, 샘플커넥터(9)는 다심파이버(13)을 페루울(12)에 접착고정하고 있지않는 임시고정의 상태라도 실시가능하다. 이 경우, 검사한 샘플커넥터(9)의 페루울(12)에 있어서, 파이버삽입구멍(12b)의 축어긋남량이 크고, 제품으로서 사용불능의 경우에는, 페루울(12)만을 파기하면되고, 다심파이버(13)을 접착고정한 경우에 비해, 제조상의 낭비가 없다.
또, 본 실시예에서는, 기준커넥터(8) 및 샘플커넥터(9)에 다심파이버(11)을 임시고정하지 않고, 파이버삽입구멍의 위치를 측정하는데 따라서도, 축어긋남검사를 실행할 수 있다. 이 경우, 상기와 마찬가지로, 검사한 페루울의 축어긋남이 컸을때에는, 불량품의 페루울만을 파기하면 된다고 하는 이점이 있다.
이상의 설명에 의해서 명백한 바와 같이, 본 발명의 다심커넥터의 축어긋남검사방법에 의하면, 간단한 검사계에 의해서, 다심커넥터에 있어서의 광파이버의 축어긋남을 값싸고, 또한, 신속하게, 또한 제조상의 낭비를 발생하는 일없이 고정밀도로 검사할 수 있다.

Claims (1)

  1. 광파이버를 끼워통하게하는 복수의 파이버삽입구멍을 구비한 기주커넥터와, 샘플커넥터를 소정위치에 순차위치결정하고, 상기 각 파이버삽입구멍 또는 당해 파이버삽입구멍의 각각에 끼워통하게한 각 광파이버로부터 출사되는 검사광의 위치를 위치검출센서에 의해서 순차검출하고, 상기 위치검출센서에 의해서 검출되는 상기 각 검사광의 위치에 의거해서, 상기 기준커넥터의 각 파이버삽입구멍 또는 당해 파이버삽입구멍의 각각에 끼워통하게한 각 광파이버에 대한, 상기 샘플커넥터의 대응하는 각 파이버삽입구멍 또는 당해 파이버삽입구멍의 각각에 끼워통하게한 각 광파이버의 축어긋남량을 검사하는 것을 특징으로 하는 다심광커넥터의 축어긋남검사방법.
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