JPH07129966A - マルチビーム光ヘッド - Google Patents
マルチビーム光ヘッドInfo
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- JPH07129966A JPH07129966A JP5276402A JP27640293A JPH07129966A JP H07129966 A JPH07129966 A JP H07129966A JP 5276402 A JP5276402 A JP 5276402A JP 27640293 A JP27640293 A JP 27640293A JP H07129966 A JPH07129966 A JP H07129966A
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- Japan
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- light emitting
- moving
- fitting
- optical axis
- cylindrical surface
- Prior art date
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- Pending
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-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
- G11B7/12—Heads, e.g. forming of the optical beam spot or modulation of the optical beam
- G11B7/22—Apparatus or processes for the manufacture of optical heads, e.g. assembly
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Optical Head (AREA)
- Moving Of The Head For Recording And Reproducing By Optical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 マルチビーム光ヘッドにおいて、光源を光軸
および発光点の配列方向の両者に垂直な方向の軸まわり
に調整可能な構成とすることにより、従来と同等の半導
体レーザの形状精度仕様とフォーカスサーボ系およびサ
ーボ信号検出系の設計条件においても、十分なフォーカ
シング性能を確保する。 【構成】 ２ビーム半導体レーザ10は移動金具103と嵌
合しており、ネジ105a,105bにより固定金具104に締結さ
れ、固定金具104は光軸と発光点10a,10bの配列方向の両
者に垂直な軸110を中心とする円筒面104aにて移動金具1
03の摺動面103aと接する構成により、発光点とコリメー
トレンズ101の相対位置誤差は、固定金具104を適宜動か
すことにより所定の値以下になるよう調整され、移動金
具103を固定金具104の円筒面104aに沿ってＡまたはＢの
方向に移動させると、移動量に応じて発光点の配列の傾
き角が変化し、それに応じて光軸方向の相対位置が変化
する。
および発光点の配列方向の両者に垂直な方向の軸まわり
に調整可能な構成とすることにより、従来と同等の半導
体レーザの形状精度仕様とフォーカスサーボ系およびサ
ーボ信号検出系の設計条件においても、十分なフォーカ
シング性能を確保する。 【構成】 ２ビーム半導体レーザ10は移動金具103と嵌
合しており、ネジ105a,105bにより固定金具104に締結さ
れ、固定金具104は光軸と発光点10a,10bの配列方向の両
者に垂直な軸110を中心とする円筒面104aにて移動金具1
03の摺動面103aと接する構成により、発光点とコリメー
トレンズ101の相対位置誤差は、固定金具104を適宜動か
すことにより所定の値以下になるよう調整され、移動金
具103を固定金具104の円筒面104aに沿ってＡまたはＢの
方向に移動させると、移動量に応じて発光点の配列の傾
き角が変化し、それに応じて光軸方向の相対位置が変化
する。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、光学的に記録再生でき
る記録媒体に情報を記録し、この媒体から記録した情報
を再生するための光学式記録再生装置に係り、特に記録
媒体からの反射光を利用して各種サーボ信号及び再生信
号を得るためのマルチビーム光ヘッドに関する。
る記録媒体に情報を記録し、この媒体から記録した情報
を再生するための光学式記録再生装置に係り、特に記録
媒体からの反射光を利用して各種サーボ信号及び再生信
号を得るためのマルチビーム光ヘッドに関する。
【０００２】
【従来の技術】一般に光学式記録再生装置においては、
情報を高密度に記録・再生するために、記録媒体、例え
ばディスク上の情報トラックは、１〜２μｍ程度のピッ
チの微細なスパイラルまたは同心円形状になっている。
このようなディスクに、直径１μｍ程度に絞り込まれた
光スポットが照射され、その反射光からディスク上の情
報が読み出される。
情報を高密度に記録・再生するために、記録媒体、例え
ばディスク上の情報トラックは、１〜２μｍ程度のピッ
チの微細なスパイラルまたは同心円形状になっている。
このようなディスクに、直径１μｍ程度に絞り込まれた
光スポットが照射され、その反射光からディスク上の情
報が読み出される。
【０００３】このような装置において、情報の転送速度
を向上させる必要がある場合や、記録時に照合を並行し
て行う場合には、一つのヘッドで複数の光束を導くマル
チビーム方式が採用されることが多い。このようなマル
チビームヘッドでは、複数の発光点を有するモノリシッ
クな半導体レーザから出射される複数の光束が、同一の
光学系を通してディスクまで導かれる。
を向上させる必要がある場合や、記録時に照合を並行し
て行う場合には、一つのヘッドで複数の光束を導くマル
チビーム方式が採用されることが多い。このようなマル
チビームヘッドでは、複数の発光点を有するモノリシッ
クな半導体レーザから出射される複数の光束が、同一の
光学系を通してディスクまで導かれる。
【０００４】一般に光学式記録再生装置においては、デ
ィスクの回転方向と垂直な方向のディスクの面ブレに対
し、絞り込まれた光スポットが常にディスク上に照射で
きるように光ヘッドを追従させるフォーカスサーボが必
要である。これは通常、光束をディスク面上に絞り込む
対物レンズをディスクの面ブレに応じて光軸方向に駆動
することにより行われる。
ィスクの回転方向と垂直な方向のディスクの面ブレに対
し、絞り込まれた光スポットが常にディスク上に照射で
きるように光ヘッドを追従させるフォーカスサーボが必
要である。これは通常、光束をディスク面上に絞り込む
対物レンズをディスクの面ブレに応じて光軸方向に駆動
することにより行われる。
【０００５】そのためのサーボ信号は、ディスクからの
反射光束の断面形状や位置の変化等を検出することによ
り得られる。フォーカスサーボの偏差とサーボ信号検出
系の誤差を０にすることはできず、この合計がレーザ波
長と対物レンズの開口数で決まる焦点深度以下に収まる
ようにサーボ系およびサーボ信号検出系を設計する。
反射光束の断面形状や位置の変化等を検出することによ
り得られる。フォーカスサーボの偏差とサーボ信号検出
系の誤差を０にすることはできず、この合計がレーザ波
長と対物レンズの開口数で決まる焦点深度以下に収まる
ようにサーボ系およびサーボ信号検出系を設計する。
【０００６】マルチビーム光ヘッドの場合、複数の光束
が同一の対物レンズを通るため、いずれか一つの光束を
用いてフォーカスサーボ信号を検出し、その光束の光ス
ポットがディスク面上で最も絞り込まれた状態になるよ
うにフォーカスサーボを行う。
が同一の対物レンズを通るため、いずれか一つの光束を
用いてフォーカスサーボ信号を検出し、その光束の光ス
ポットがディスク面上で最も絞り込まれた状態になるよ
うにフォーカスサーボを行う。
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来の
マルチビーム光ヘッドでは、前記のようにいずれか一つ
の光束のみについてフォーカスサーボをかけるため、サ
ーボ信号検出に用いる光束以外の光束はディスク面上で
必ずしも最小に絞り込まれているとは限らない。たとえ
ば、光源の発光点の光軸方向の位置が揃っていない場
合、ディスク面上での光スポットの光軸方向の位置にも
ズレが生じる。図５は、この原理を説明するためにマル
チビーム光ヘッドの光学系を簡略化した模式図である。
簡単のため、発光点が２個である２ビームの場合とし
た。
マルチビーム光ヘッドでは、前記のようにいずれか一つ
の光束のみについてフォーカスサーボをかけるため、サ
ーボ信号検出に用いる光束以外の光束はディスク面上で
必ずしも最小に絞り込まれているとは限らない。たとえ
ば、光源の発光点の光軸方向の位置が揃っていない場
合、ディスク面上での光スポットの光軸方向の位置にも
ズレが生じる。図５は、この原理を説明するためにマル
チビーム光ヘッドの光学系を簡略化した模式図である。
簡単のため、発光点が２個である２ビームの場合とし
た。
【０００８】図５において、半導体レーザの２つの発光
点１０ａ，１０ｂから出射した光束は、焦点距離ｆ１の
コリメートレンズ１０１で平行光にされた後、焦点距離
ｆ２の対物レンズ１０２に導かれ、絞り込まれてディス
ク面２０上に光スポット２０ａ，２０ｂを形成する。発
光点１０ａ，１０ｂは、製造誤差のため通常そのパッケ
ージ１０の軸に対して傾いている。その傾きの角度をθ
とすると、発光点１０ａ，１０ｂの光軸方向の位置は、
その間隔Ｌによりδ＝Ｌｓｉｎθだけずれる。このと
き、光スポット２０ａ，２０ｂの光軸方向位置のズレ
（以下、相対フォーカス誤差と呼ぶことにする）εは光
学系の結像倍率によって決まり、 ε＝（ｆ２／ｆ１）2 δ になる。マルチビーム半導体レーザの典型例として、Ｌ
＝１００μｍ、θ＝２ｄｅｇとし、またヘッド光学系の
典型例としてｆ１＝８ｍｍ，ｆ２＝４ｍｍとすると、ε
＝０．９μｍになる。
点１０ａ，１０ｂから出射した光束は、焦点距離ｆ１の
コリメートレンズ１０１で平行光にされた後、焦点距離
ｆ２の対物レンズ１０２に導かれ、絞り込まれてディス
ク面２０上に光スポット２０ａ，２０ｂを形成する。発
光点１０ａ，１０ｂは、製造誤差のため通常そのパッケ
ージ１０の軸に対して傾いている。その傾きの角度をθ
とすると、発光点１０ａ，１０ｂの光軸方向の位置は、
その間隔Ｌによりδ＝Ｌｓｉｎθだけずれる。このと
き、光スポット２０ａ，２０ｂの光軸方向位置のズレ
（以下、相対フォーカス誤差と呼ぶことにする）εは光
学系の結像倍率によって決まり、 ε＝（ｆ２／ｆ１）2 δ になる。マルチビーム半導体レーザの典型例として、Ｌ
＝１００μｍ、θ＝２ｄｅｇとし、またヘッド光学系の
典型例としてｆ１＝８ｍｍ，ｆ２＝４ｍｍとすると、ε
＝０．９μｍになる。
【０００９】マルチビーム光ヘッドの場合、フォーカス
サーボ偏差とサーボ信号検出誤差とに、前記のような光
スポット間の相対フォーカス誤差εを加えても前記焦点
深度以下になるようにしなければならない。例えばレー
ザ波長７８０ｎｍ、対物レンズの開口数０．５の場合の
焦点深度は１．６μｍ程度であり、従来の単一ビームヘ
ッドではこれがすべてサーボ系およびサーボ信号検出系
の設計マージンに振り向けられていたが、２ビーム光ヘ
ッドの前記典型例では、相対フォーカス誤差が０．９μ
ｍと焦点深度の半分以上の大きさになるので、前記設計
マージンを従来の１／２以下にする必要がある。
サーボ偏差とサーボ信号検出誤差とに、前記のような光
スポット間の相対フォーカス誤差εを加えても前記焦点
深度以下になるようにしなければならない。例えばレー
ザ波長７８０ｎｍ、対物レンズの開口数０．５の場合の
焦点深度は１．６μｍ程度であり、従来の単一ビームヘ
ッドではこれがすべてサーボ系およびサーボ信号検出系
の設計マージンに振り向けられていたが、２ビーム光ヘ
ッドの前記典型例では、相対フォーカス誤差が０．９μ
ｍと焦点深度の半分以上の大きさになるので、前記設計
マージンを従来の１／２以下にする必要がある。
【００１０】それは実際上極めて困難であるばかりか、
３ビーム以上の光ヘッドでは、両端の光スポットの相対
フォーカス誤差はスポットの数に応じてεが積算され、
この相対フォーカス誤差のみで焦点深度を越えてしまう
ことも起こり得る。これを回避するためには、光スポッ
ト間の相対フォーカス誤差εをできるだけ小さくしなけ
ればならないが、そのために発光点配列方向の半導体レ
ーザのパッケージに対する傾きθや発光点間隔Ｌを厳し
く制限しなければならず、半導体レーザの製造が困難に
なり歩留まりが極めて悪化するという問題が生じる。
３ビーム以上の光ヘッドでは、両端の光スポットの相対
フォーカス誤差はスポットの数に応じてεが積算され、
この相対フォーカス誤差のみで焦点深度を越えてしまう
ことも起こり得る。これを回避するためには、光スポッ
ト間の相対フォーカス誤差εをできるだけ小さくしなけ
ればならないが、そのために発光点配列方向の半導体レ
ーザのパッケージに対する傾きθや発光点間隔Ｌを厳し
く制限しなければならず、半導体レーザの製造が困難に
なり歩留まりが極めて悪化するという問題が生じる。
【００１１】本発明は上述のような欠点を解消し、半導
体レーザの歩留まり及びフォーカスサーボ系・サーボ信
号検出系の設計条件が従来の単一ビームヘッドと同じま
までも、単一ビームヘッドと同等のフォーカシング性能
を有するマルチビーム光ヘッドを提供することを目的と
する。
体レーザの歩留まり及びフォーカスサーボ系・サーボ信
号検出系の設計条件が従来の単一ビームヘッドと同じま
までも、単一ビームヘッドと同等のフォーカシング性能
を有するマルチビーム光ヘッドを提供することを目的と
する。
【００１２】
【課題を解決するための手段】この目的を達成するため
本発明では、半導体レーザを、光軸および発光点の配列
方向の両者に垂直な方向の軸を中心とする円筒面のまわ
りに移動および固定可能ならしめる光源固定手段によ
り、光ヘッド本体に固定する構成である。
本発明では、半導体レーザを、光軸および発光点の配列
方向の両者に垂直な方向の軸を中心とする円筒面のまわ
りに移動および固定可能ならしめる光源固定手段によ
り、光ヘッド本体に固定する構成である。
【００１３】
【作用】半導体レーザを、光軸および発光点の配列方向
の両者に垂直な方向の軸を中心とする円筒面に沿って移
動させると、発光点の光軸方向の位置が変化し、理論的
には前記位置を完全に一致させることが可能である。こ
の場合、ディスク上での光スポット間の相対フォーカス
誤差は０になるので、いずれか一つの光スポットについ
てフォーカスサーボをかければ他のスポットのフォーカ
シング性能も確保できることになり、単一ビームヘッド
の場合と全く同一の条件になる。
の両者に垂直な方向の軸を中心とする円筒面に沿って移
動させると、発光点の光軸方向の位置が変化し、理論的
には前記位置を完全に一致させることが可能である。こ
の場合、ディスク上での光スポット間の相対フォーカス
誤差は０になるので、いずれか一つの光スポットについ
てフォーカスサーボをかければ他のスポットのフォーカ
シング性能も確保できることになり、単一ビームヘッド
の場合と全く同一の条件になる。
【００１４】実用的には発光点の光軸方向位置を、ディ
スク面上での相対フォーカス誤差が焦点深度と比べて無
視し得る程度の量になるような値になるように調整す
る。たとえば、発光点の傾き角θを０．１ｄｅｇ程度の
精度で調整すれば、前記典型例にならうと光スポット間
の相対フォーカス誤差はε＝０．０４μｍとなり、焦点
深度と比べて無視し得る量になる。
スク面上での相対フォーカス誤差が焦点深度と比べて無
視し得る程度の量になるような値になるように調整す
る。たとえば、発光点の傾き角θを０．１ｄｅｇ程度の
精度で調整すれば、前記典型例にならうと光スポット間
の相対フォーカス誤差はε＝０．０４μｍとなり、焦点
深度と比べて無視し得る量になる。
【００１５】
【実施例】以下、本発明の実施例について、図面を参照
しながら説明する。図１は本発明の一実施例であるマル
チビーム光ヘッドの光源部を示す図である。簡単のため
２ビームの場合としている。
しながら説明する。図１は本発明の一実施例であるマル
チビーム光ヘッドの光源部を示す図である。簡単のため
２ビームの場合としている。
【００１６】図１において、２ビーム半導体レーザ１０
は移動金具１０３と嵌合しており、ネジ１０５ａ，１０
５ｂにより固定金具１０４に締結されている。固定金具
１０４はネジ１０６ａ，１０６ｂにより光ヘッド本体１
００に締結されている。固定金具１０４は光軸と発光点
１０ａ，１０ｂの配列方向の両者に垂直な軸１１０を中
心とする円筒面１０４ａを有し、この円筒面１０４ａに
て移動金具１０３の摺動面１０３ａと接している。
は移動金具１０３と嵌合しており、ネジ１０５ａ，１０
５ｂにより固定金具１０４に締結されている。固定金具
１０４はネジ１０６ａ，１０６ｂにより光ヘッド本体１
００に締結されている。固定金具１０４は光軸と発光点
１０ａ，１０ｂの配列方向の両者に垂直な軸１１０を中
心とする円筒面１０４ａを有し、この円筒面１０４ａに
て移動金具１０３の摺動面１０３ａと接している。
【００１７】発光点１０ａ，１０ｂとコリメートレンズ
１０１の相対位置誤差は、固定金具１０４を適宜動かす
ことにより所定の値以下になるよう調整される。また、
移動金具１０３を固定金具１０４の円筒面１０４ａに沿
ってＡまたはＢの方向に移動させると、移動量に応じて
発光点１０ａ，１０ｂの配列の傾き角が変化し、それに
応じて光軸方向の相対位置が変化する。
１０１の相対位置誤差は、固定金具１０４を適宜動かす
ことにより所定の値以下になるよう調整される。また、
移動金具１０３を固定金具１０４の円筒面１０４ａに沿
ってＡまたはＢの方向に移動させると、移動量に応じて
発光点１０ａ，１０ｂの配列の傾き角が変化し、それに
応じて光軸方向の相対位置が変化する。
【００１８】たとえば、移動金具１０３をＡ方向に動か
すと発光点ａが発光点ｂよりもコリメートレンズ１０１
に近づくように動き、Ｂ方向に動かすとその逆になる。
発光点１０ａ，１０ｂの光軸方向相対位置誤差が所定の
値以下になるように移動金具１０３を動かした後、ネジ
１０５ａ，１０５ｂを締め込んで移動金具１０３と固定
金具１０４を固定する。移動金具１０３を動かした際、
半導体レーザ１０とコリメートレンズ１０１の相対位置
も変化するので、移動金具１０３を動かした量とほぼ同
じ量だけ反対方向に固定金具１０４を動かして固定す
る。
すと発光点ａが発光点ｂよりもコリメートレンズ１０１
に近づくように動き、Ｂ方向に動かすとその逆になる。
発光点１０ａ，１０ｂの光軸方向相対位置誤差が所定の
値以下になるように移動金具１０３を動かした後、ネジ
１０５ａ，１０５ｂを締め込んで移動金具１０３と固定
金具１０４を固定する。移動金具１０３を動かした際、
半導体レーザ１０とコリメートレンズ１０１の相対位置
も変化するので、移動金具１０３を動かした量とほぼ同
じ量だけ反対方向に固定金具１０４を動かして固定す
る。
【００１９】発光点１０ａ，１０ｂの光軸方向相対位置
の調整精度は、移動金具１０３の移動精度と円筒面１０
４ａの半径との比により決まる。例えば、前者を実現容
易な値として０．０５ｍｍ、後者を実用的な値の例とし
て３０ｍｍ、発光点１０ａ，１０ｂの間隔を１００μｍ
とすると、位置調整精度は０．１７μｍとなる。このと
き、図５と同じ光学系ではディスク面上での光スポット
の相対フォーカス誤差は０．０４μｍとなり、無視し得
る量になる。
の調整精度は、移動金具１０３の移動精度と円筒面１０
４ａの半径との比により決まる。例えば、前者を実現容
易な値として０．０５ｍｍ、後者を実用的な値の例とし
て３０ｍｍ、発光点１０ａ，１０ｂの間隔を１００μｍ
とすると、位置調整精度は０．１７μｍとなる。このと
き、図５と同じ光学系ではディスク面上での光スポット
の相対フォーカス誤差は０．０４μｍとなり、無視し得
る量になる。
【００２０】図２は、移動金具１０３と固定金具１０４
の接触部を拡大したものである。本実施例では移動金具
１０３の接触面１０３ａを平面としているが、この面は
円筒面１０４ａと同じかそれ以上の半径を持つ円筒面と
しても良い。
の接触部を拡大したものである。本実施例では移動金具
１０３の接触面１０３ａを平面としているが、この面は
円筒面１０４ａと同じかそれ以上の半径を持つ円筒面と
しても良い。
【００２１】さて、図１および図２の実施例は円筒面の
中心軸１１０が半導体レーザ１０から離れた構成であっ
たが、これを光軸方向の位置が発光点と同じになるよう
に構成しても良い。図３はこの場合の実施例であり、図
１と同様の構成要素については同一の符号を付した。
中心軸１１０が半導体レーザ１０から離れた構成であっ
たが、これを光軸方向の位置が発光点と同じになるよう
に構成しても良い。図３はこの場合の実施例であり、図
１と同様の構成要素については同一の符号を付した。
【００２２】図３において、１０７は移動金具、１０８
は固定金具である。固定金具１０８は、光軸と発光点１
０ａ，１０ｂの配列方向の両者に垂直であり、かつ発光
点１０ａ，１０ｂの中央に位置する軸１２０を中心とす
る円筒面１０８ａを有し、この円筒面１０８ａにて移動
金具１０７の摺動面１０７ａと接している。
は固定金具である。固定金具１０８は、光軸と発光点１
０ａ，１０ｂの配列方向の両者に垂直であり、かつ発光
点１０ａ，１０ｂの中央に位置する軸１２０を中心とす
る円筒面１０８ａを有し、この円筒面１０８ａにて移動
金具１０７の摺動面１０７ａと接している。
【００２３】発光点１０ａ，１０ｂとコリメートレンズ
１０１の相対位置誤差は、図１の実施例と同様、固定金
具１０８を適宜動かすことにより所定の値以下になるよ
う調整される。また、移動金具１０７を円筒面１０８ａ
に沿ってＡまたはＢの方向に移動させると、その移動量
に応じて発光点１０ａ，１０ｂは軸１２０を中心として
回転移動し、光軸方向の相対位置が変化する。たとえば
移動金具１０７をＡ方向に動かすと、発光点ａはコリメ
ートレンズ１０１に近づき、発光点ｂは遠ざかる。Ｂ方
向に動かすとその逆になる。発光点１０ａ，１０ｂの光
軸方向相対位置誤差が所定の値以下になるように移動金
具１０７を動かした後、ネジ１０５ａ，１０５ｂを締め
込んで移動金具１０７と固定金具１０８を固定する。
１０１の相対位置誤差は、図１の実施例と同様、固定金
具１０８を適宜動かすことにより所定の値以下になるよ
う調整される。また、移動金具１０７を円筒面１０８ａ
に沿ってＡまたはＢの方向に移動させると、その移動量
に応じて発光点１０ａ，１０ｂは軸１２０を中心として
回転移動し、光軸方向の相対位置が変化する。たとえば
移動金具１０７をＡ方向に動かすと、発光点ａはコリメ
ートレンズ１０１に近づき、発光点ｂは遠ざかる。Ｂ方
向に動かすとその逆になる。発光点１０ａ，１０ｂの光
軸方向相対位置誤差が所定の値以下になるように移動金
具１０７を動かした後、ネジ１０５ａ，１０５ｂを締め
込んで移動金具１０７と固定金具１０８を固定する。
【００２４】本実施例の場合、移動金具１０７を動かし
ても、半導体レーザ１０は円筒面１０８ａの中心軸１２
０を中心に回転移動するので、コリメートレンズ１０１
に対する相対位置はほとんど変化しない。従って、移動
金具１０７の調整の後、固定金具１０８を再び動かさな
くてもよい。
ても、半導体レーザ１０は円筒面１０８ａの中心軸１２
０を中心に回転移動するので、コリメートレンズ１０１
に対する相対位置はほとんど変化しない。従って、移動
金具１０７の調整の後、固定金具１０８を再び動かさな
くてもよい。
【００２５】発光点１０ａ，１０ｂの光軸方向相対位置
の調整精度は、移動金具１０７の移動精度により決ま
る。例えばこれを十分実現可能な値として０．１ｄｅｇ
とし、発光点１０ａ，１０ｂの間隔を１００μｍとする
と、位置調整精度は０．１７μｍとなる。このとき、図
５と同じ光学系ではディスク面上での光スポットの相対
フォーカス誤差は０．０４μｍとなり、無視し得る量に
なる。
の調整精度は、移動金具１０７の移動精度により決ま
る。例えばこれを十分実現可能な値として０．１ｄｅｇ
とし、発光点１０ａ，１０ｂの間隔を１００μｍとする
と、位置調整精度は０．１７μｍとなる。このとき、図
５と同じ光学系ではディスク面上での光スポットの相対
フォーカス誤差は０．０４μｍとなり、無視し得る量に
なる。
【００２６】図４は、移動金具１０７と固定金具１０８
の接触部を拡大したものである。本実施例では、移動金
具１０７の接触面１０７ａを平面としているが、この面
は円筒面１０８ａと同じかそれ以上の半径を持つ円筒面
としても良い。
の接触部を拡大したものである。本実施例では、移動金
具１０７の接触面１０７ａを平面としているが、この面
は円筒面１０８ａと同じかそれ以上の半径を持つ円筒面
としても良い。
【００２７】なお、以上の説明は２ビームヘッドについ
て述べたが、本発明は３ビーム以上のヘッドについても
適用可能である。
て述べたが、本発明は３ビーム以上のヘッドについても
適用可能である。
【００２８】
【発明の効果】以上のように、本発明は光源の発光点の
光軸方向相対位置を調整できるため、半導体レーザの形
状精度仕様を厳しくすることなく、またフォーカスサー
ボ系およびサーボ信号検出系の設計条件が従来の単一ビ
ームヘッドと同じでも、従来と同等のフォーカシング性
能を得ることができる。
光軸方向相対位置を調整できるため、半導体レーザの形
状精度仕様を厳しくすることなく、またフォーカスサー
ボ系およびサーボ信号検出系の設計条件が従来の単一ビ
ームヘッドと同じでも、従来と同等のフォーカシング性
能を得ることができる。
【図１】本発明の一実施例の２ビーム光ヘッドにおける
光源部の構成図
光源部の構成図
【図２】本発明の一実施例の２ビーム光ヘッドにおける
光源部の拡大図
光源部の拡大図
【図３】本発明の他の実施例の２ビーム光ヘッドにおけ
る光源部の構成図
る光源部の構成図
【図４】本発明の他の実施例の２ビーム光ヘッドにおけ
る光源部の拡大図
る光源部の拡大図
【図５】２ビーム光ヘッドにおける相対フォーカス誤差
発生原理を示す図
発生原理を示す図
１０ ２ビーム半導体レーザ １０ａ、１０ｂ 発光点 １０１ コリメートレンズ １０２ 対物レンズ １０３ 移動金具 １０３ａ 移動金具の摺動面 １０４ 固定金具 １０４ａ 固定金具の円筒面 １０５ａ、１０５ｂ ネジ １０６ａ、１０６ｂ ネジ １０７ 移動金具 １０７ａ 移動金具の摺動面 １０８ 固定金具 １０８ａ 固定金具の円筒面 １１０ 円筒面の中心軸 １２０ 円筒面の中心軸
Claims (2)
- 【請求項１】複数のレーザ光を発する光源と、光軸およ
び発光点の配列方向の両者に垂直な方向の軸を中心とす
る円筒面に沿って前記光源を移動および固定可能ならし
める光源固定手段とを備えたマルチビーム光ヘッド。 - 【請求項２】光源固定手段の円筒面の中心軸の光軸方向
位置を発光点の位置と概略同一位置になるように設定し
た請求項１記載のマルチビーム光ヘッド。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5276402A JPH07129966A (ja) | 1993-11-05 | 1993-11-05 | マルチビーム光ヘッド |
| US08/331,723 US5490128A (en) | 1993-11-05 | 1994-10-31 | Optical head having a light source adjusting mechanism and a method for adjusting a light source in an optical head |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5276402A JPH07129966A (ja) | 1993-11-05 | 1993-11-05 | マルチビーム光ヘッド |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH07129966A true JPH07129966A (ja) | 1995-05-19 |
Family
ID=17568911
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5276402A Pending JPH07129966A (ja) | 1993-11-05 | 1993-11-05 | マルチビーム光ヘッド |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5490128A (ja) |
| JP (1) | JPH07129966A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR19980030363A (ko) * | 1996-10-29 | 1998-07-25 | 김광호 | 광 픽업장치 |
| US7616531B2 (en) | 2005-08-26 | 2009-11-10 | Sharp Kabushiki Kaisha | Integrated optical unit, adjusting method therefor, and optical pickup |
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| US5758950A (en) | 1996-03-05 | 1998-06-02 | Ricoh Company, Ltd. | Light source device for an image forming apparatus |
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|---|---|---|---|---|
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| JPH04146533A (ja) * | 1990-10-05 | 1992-05-20 | Mitsubishi Electric Corp | マルチビーム光ヘッド |
-
1993
- 1993-11-05 JP JP5276402A patent/JPH07129966A/ja active Pending
-
1994
- 1994-10-31 US US08/331,723 patent/US5490128A/en not_active Expired - Fee Related
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Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US5490128A (en) | 1996-02-06 |
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