JPH0658325B2 - 横方向光透過測定器 - Google Patents
横方向光透過測定器Info
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- JPH0658325B2 JPH0658325B2 JP63218820A JP21882088A JPH0658325B2 JP H0658325 B2 JPH0658325 B2 JP H0658325B2 JP 63218820 A JP63218820 A JP 63218820A JP 21882088 A JP21882088 A JP 21882088A JP H0658325 B2 JPH0658325 B2 JP H0658325B2
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- light
- incident
- lateral
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- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/47—Scattering, i.e. diffuse reflection
- G01N21/4738—Diffuse reflection, e.g. also for testing fluids, fibrous materials
- G01N21/474—Details of optical heads therefor, e.g. using optical fibres
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Description
【発明の詳細な説明】 本発明は被測定物体の横方向の光透過性を測定するため
の横方向光透過測定器に関するもので、自動車の車体や
家具の塗装の外観上の品質評価あるいは人間の肌の美的
な評価などに広く用いられる。
の横方向光透過測定器に関するもので、自動車の車体や
家具の塗装の外観上の品質評価あるいは人間の肌の美的
な評価などに広く用いられる。
自動車の車体や家具の塗装の品質評価にあたっては、そ
表面の光反射を測定することがなされている。また、特
殊な塗装効果を評価する場合には、その反射スペクトル
や吸収スペクトルの評価もされている。
表面の光反射を測定することがなされている。また、特
殊な塗装効果を評価する場合には、その反射スペクトル
や吸収スペクトルの評価もされている。
第１３図は従来の評価方法の一例を示す図である。同図
において、光源９１から発せられた白色光または単色光
は、基本９２およびその表面に形成された塗装部９３に
照射される。そして、これによって反射、透過あるいは
屈折された光は集光レンズ９４を介して光検出器９５に
入射され、検出信号として図示しない評価装置に送られ
る。
において、光源９１から発せられた白色光または単色光
は、基本９２およびその表面に形成された塗装部９３に
照射される。そして、これによって反射、透過あるいは
屈折された光は集光レンズ９４を介して光検出器９５に
入射され、検出信号として図示しない評価装置に送られ
る。
ここで、光検出器９５で検出される光としては、基体９
２の表面あるいは塗装部９３の表面で反射された光（第
１３図にて実線、一点鎖線で図示）のほか、塗装部９３
の内部で散乱された光（同図にて点線で図示）や、基体
９２で反射された後に塗装部９３の内部で散乱された光
（同図にて二点鎖線で図示）などが含まれる。
２の表面あるいは塗装部９３の表面で反射された光（第
１３図にて実線、一点鎖線で図示）のほか、塗装部９３
の内部で散乱された光（同図にて点線で図示）や、基体
９２で反射された後に塗装部９３の内部で散乱された光
（同図にて二点鎖線で図示）などが含まれる。
このように、塗装を施した物体からの光は、反射光の他
に散乱光も含まれているが、従来はこの検出を一括して
行なっている。このため、塗装部内での散乱光などを特
別に評価することは困難であった。
に散乱光も含まれているが、従来はこの検出を一括して
行なっている。このため、塗装部内での散乱光などを特
別に評価することは困難であった。
ところが、物体の外観上の品質評価（美的品質の評価）
においては、上記の散乱光の評価は極めて重要である。
例えば、物体表面に非常に小さなスポット光を照射した
場合に、上記のような塗装部による散乱がないときには
反射光は非常に小さなスポット光となる。これに対し、
物体表面に散乱を生じさせる塗装が施してあるときに
は、反射光のスポットを囲むように散乱光の広がり（に
じみ）が生じる。そして、これが物体表面の外観上の品
質を大きく左右することになる。
においては、上記の散乱光の評価は極めて重要である。
例えば、物体表面に非常に小さなスポット光を照射した
場合に、上記のような塗装部による散乱がないときには
反射光は非常に小さなスポット光となる。これに対し、
物体表面に散乱を生じさせる塗装が施してあるときに
は、反射光のスポットを囲むように散乱光の広がり（に
じみ）が生じる。そして、これが物体表面の外観上の品
質を大きく左右することになる。
そこで本発明は、物体表面の外観上の品質を正確に評価
することのできる横方向光透過測定器を提供することを
目的とする。
することのできる横方向光透過測定器を提供することを
目的とする。
本発明は、被測定物体の平坦な表面における横方向の光
透過性を測定する横方向光透過測定器において、光源
と、この光源からの光を伝送し、これを被測定物体に向
けて出射する少なくとも１本の出射用光ファイバと、被
測定物体からの光を入射して伝送する少なくとも１本の
入射用光ファイバと、この入射用光ファイバからの光を
検出する光検出器と、出射用光ファイバの出射端面と入
射用光ファイバの入射端面が、所定の間隔をあけてほぼ
同一の平面上に配置されるように、出射用光ファイバと
入射用光ファイバを一体に保持する保持部材と、この保
持部材に基端が保持され、出射用光ファイバの出射端面
と入射用光ファイバの入射端面とを含む平面からその先
端が出射用光ファイバの光出射側に張出した略管状の弾
性体からなり、被測定物体の測定領域への外光の入射を
遮蔽する遮蔽部材とを備えることを特徴とする。
透過性を測定する横方向光透過測定器において、光源
と、この光源からの光を伝送し、これを被測定物体に向
けて出射する少なくとも１本の出射用光ファイバと、被
測定物体からの光を入射して伝送する少なくとも１本の
入射用光ファイバと、この入射用光ファイバからの光を
検出する光検出器と、出射用光ファイバの出射端面と入
射用光ファイバの入射端面が、所定の間隔をあけてほぼ
同一の平面上に配置されるように、出射用光ファイバと
入射用光ファイバを一体に保持する保持部材と、この保
持部材に基端が保持され、出射用光ファイバの出射端面
と入射用光ファイバの入射端面とを含む平面からその先
端が出射用光ファイバの光出射側に張出した略管状の弾
性体からなり、被測定物体の測定領域への外光の入射を
遮蔽する遮蔽部材とを備えることを特徴とする。
ここで、入射用光ファイバを所定の位置関係で入射端面
が配設された複数本の光ファイバで構成し、光検出器を
入射用光ファイバをなす複数本の光ファイバごとに設
け、かつ、この光検知器ごとに検知された光量を相互に
比較する比較手段を更に備えるようにしてもよい。さら
に、光検出器の前面に複数本の光ファイバからの光路を
切り換える手段を設け、切り換えられた光の光量を上記
比較手段で比較するようにしてもよい。
が配設された複数本の光ファイバで構成し、光検出器を
入射用光ファイバをなす複数本の光ファイバごとに設
け、かつ、この光検知器ごとに検知された光量を相互に
比較する比較手段を更に備えるようにしてもよい。さら
に、光検出器の前面に複数本の光ファイバからの光路を
切り換える手段を設け、切り換えられた光の光量を上記
比較手段で比較するようにしてもよい。
本発明の構成によれば、出射用光ファイバからの測定光
は物体表面の塗装部内を横方向に透過し、入射用光ファ
イバに透過検出光として入射される。
は物体表面の塗装部内を横方向に透過し、入射用光ファ
イバに透過検出光として入射される。
ここで、出射用光ファイバの出射端面と入射用光ファイ
バの入射端面はサイズが十分に小さく、かつその間隔が
所定値に設定されている。また、略管状の弾性体からな
る遮蔽部材の先端が物体表面に密接するので、その物体
表面の測定領域は外光から遮蔽されている。従って、横
方向透過光の検出を精度よく行なうことができる。
バの入射端面はサイズが十分に小さく、かつその間隔が
所定値に設定されている。また、略管状の弾性体からな
る遮蔽部材の先端が物体表面に密接するので、その物体
表面の測定領域は外光から遮蔽されている。従って、横
方向透過光の検出を精度よく行なうことができる。
以下、添付図面を参照して本発明の実施例を詳細に説明
する。
する。
第１図は、第１実施例の構成を示している。同図（ａ）
は一部を破砕して示した側面図であり、同図（ｂ）は先
端部（プローブ部）の正面図である。測定光を出射する
ための出射用光ファイバ１は、中心部のコアおよび外側
のクラッドからなるガラスファイバ１ａと、この外側の
コーティング層１ｂから構成され、これにはナイロンな
どの保護被覆１ｃが施されている。透過検出光を入射す
るための入射用光ファイバ２についても、中心部のコア
および外側のクラッドからなるガラスファイバ２ａと、
この外側のコーティング層２ｂから構成され、これには
保護被覆２ｃが施されている。この出射用光ファイバ１
および入射用光ファイバ２の先端部は保持ケース３内に
収容されて互いに隣接させられる。そして、出射用光フ
ァイバ１の他端には発光ダイオード（ＬＵＤ）などから
なる光源４が接続され、入射用光ファイバ２の他端には
光電子増倍管やフォトダイオード（ＰＤ）などからなる
光検出器５が接続されている。
は一部を破砕して示した側面図であり、同図（ｂ）は先
端部（プローブ部）の正面図である。測定光を出射する
ための出射用光ファイバ１は、中心部のコアおよび外側
のクラッドからなるガラスファイバ１ａと、この外側の
コーティング層１ｂから構成され、これにはナイロンな
どの保護被覆１ｃが施されている。透過検出光を入射す
るための入射用光ファイバ２についても、中心部のコア
および外側のクラッドからなるガラスファイバ２ａと、
この外側のコーティング層２ｂから構成され、これには
保護被覆２ｃが施されている。この出射用光ファイバ１
および入射用光ファイバ２の先端部は保持ケース３内に
収容されて互いに隣接させられる。そして、出射用光フ
ァイバ１の他端には発光ダイオード（ＬＵＤ）などから
なる光源４が接続され、入射用光ファイバ２の他端には
光電子増倍管やフォトダイオード（ＰＤ）などからなる
光検出器５が接続されている。
ここで、出射用光ファイバ１と入射用光ファイバ２の間
でクロストークが生じないようにするため、反射や透過
を生じない樹脂をコーティング層１ｂ，２ｂなどとし
て、あるいは別途に保持ケース３中に介在させておくの
が望ましい。また、光ファイバ１，２の端面は鏡面に研
磨しておき、物体との密着性を良好にしておくのが望ま
しい。さらに、外光が測定の障害にならないようにする
ため、外光遮蔽用のゴム製などの略管状の弾性体からな
るカバー７をプローブ部の先端に取り付けておく。
でクロストークが生じないようにするため、反射や透過
を生じない樹脂をコーティング層１ｂ，２ｂなどとし
て、あるいは別途に保持ケース３中に介在させておくの
が望ましい。また、光ファイバ１，２の端面は鏡面に研
磨しておき、物体との密着性を良好にしておくのが望ま
しい。さらに、外光が測定の障害にならないようにする
ため、外光遮蔽用のゴム製などの略管状の弾性体からな
るカバー７をプローブ部の先端に取り付けておく。
次に、上記第１実施例の作用を第２図により説明する。
物体表面の品質評価に際しては、基本９２に施された塗
装部９３の表面に保持ケース３を操作して出射用光ファ
イバ１および入射用光ファイバ２の端面を当接させる。
そして、光源４から測定光を出射用光ファイバ１に入射
する。この入射光（測定光）はガラスファイバ１ａのコ
アを通って出射端面から塗装部９３中に入り、例えば、
第２図中に点線、一点鎖線および二点鎖線で示すような
経路を通り、入射用光ファイバ２のガラスファイバ２ａ
中のコアに入射される。このように入射された光は透過
検出光として光検出器５に送られ、第１図のように透過
光信号に変換されて図示しない評価装置に送られる。
装部９３の表面に保持ケース３を操作して出射用光ファ
イバ１および入射用光ファイバ２の端面を当接させる。
そして、光源４から測定光を出射用光ファイバ１に入射
する。この入射光（測定光）はガラスファイバ１ａのコ
アを通って出射端面から塗装部９３中に入り、例えば、
第２図中に点線、一点鎖線および二点鎖線で示すような
経路を通り、入射用光ファイバ２のガラスファイバ２ａ
中のコアに入射される。このように入射された光は透過
検出光として光検出器５に送られ、第１図のように透過
光信号に変換されて図示しない評価装置に送られる。
ここで、出射用光ファイバ１および入射用光ファイバ２
を構成するガラスファイバ１ａ，２ａの径は数１０〜数
１００μｍ程度にすることができ、従って入射光（測定
光）のスポット径と出射光（透過検出光）の検出範囲を
十分に小さくできる。また、ガラスファイバ１ａのコア
による出射端面とガラスファイバ２ａのコアによる入射
端面の中心間隔は、出射用光ファイバ１および入射用光
ファイバ２の外径値などにより一定に設定できるので、
光の透過距離を定量的に把握できる。このため、スポッ
ト光が照射されたときの光の広がり（にじみ）を正確に
検知できるので、塗装部９３における光の散乱を精度よ
く検出できる。また、外光はカバー７にり遮蔽されるの
で、測定環境によって測定結果が左右されることはな
い。さらに、塗装部９３の表面で反射された成分は入射
用光ファイバ２のコア２ａに入射することがないので、
塗装部９３の表面状態によって測定結果が左右されるこ
ともない。
を構成するガラスファイバ１ａ，２ａの径は数１０〜数
１００μｍ程度にすることができ、従って入射光（測定
光）のスポット径と出射光（透過検出光）の検出範囲を
十分に小さくできる。また、ガラスファイバ１ａのコア
による出射端面とガラスファイバ２ａのコアによる入射
端面の中心間隔は、出射用光ファイバ１および入射用光
ファイバ２の外径値などにより一定に設定できるので、
光の透過距離を定量的に把握できる。このため、スポッ
ト光が照射されたときの光の広がり（にじみ）を正確に
検知できるので、塗装部９３における光の散乱を精度よ
く検出できる。また、外光はカバー７にり遮蔽されるの
で、測定環境によって測定結果が左右されることはな
い。さらに、塗装部９３の表面で反射された成分は入射
用光ファイバ２のコア２ａに入射することがないので、
塗装部９３の表面状態によって測定結果が左右されるこ
ともない。
次に、第３図および第４図を参照して、第１実施例の変
形例を説明する。
形例を説明する。
第３図は第１の変形例の断面図である。この場合には、
保持ケース３１は出射用光ファイバ１および入射用光フ
ァイバ２のみならず、光源としてのＬＥＤ４１およびＬ
ＥＤ駆動回路４２、光検出器としての光電子増倍管（Ｐ
ＭＴ）５１、さらに電源ブリーダ１００をも内部に収容
する構造となっている。そして、保持ケース３１の後端
部には電源入力端子１０１と出力端子１０２が設けられ
ている。第４図は第２の変形例の構成図であり、この場
合には、第１の変形例と異なり光源４が保持ケース３２
の外部に設けられている。そして、ＰＴＭ５１と電源プ
リーダ１００はソケット１０３を介して接続されてい
る。
保持ケース３１は出射用光ファイバ１および入射用光フ
ァイバ２のみならず、光源としてのＬＥＤ４１およびＬ
ＥＤ駆動回路４２、光検出器としての光電子増倍管（Ｐ
ＭＴ）５１、さらに電源ブリーダ１００をも内部に収容
する構造となっている。そして、保持ケース３１の後端
部には電源入力端子１０１と出力端子１０２が設けられ
ている。第４図は第２の変形例の構成図であり、この場
合には、第１の変形例と異なり光源４が保持ケース３２
の外部に設けられている。そして、ＰＴＭ５１と電源プ
リーダ１００はソケット１０３を介して接続されてい
る。
上記変形例のいずれの場合にも、出射用光ファイバ１お
よび入射用光ファイバ２は保持ケース３１，３２の先端
部（プローブ部）において第１図（ｂ）のように保持さ
れている。従って、第２図を参照して説明したのと同様
の効果を奏する。更に、光検出器としてＰＭＴ５１が用
いられているので、光源の発光量が少ない場合や透過光
の弱い場合に適用でき、検出感度を著しく向上できるだ
けでなく、構成もコンパクトで操作性にも優れている。
よび入射用光ファイバ２は保持ケース３１，３２の先端
部（プローブ部）において第１図（ｂ）のように保持さ
れている。従って、第２図を参照して説明したのと同様
の効果を奏する。更に、光検出器としてＰＭＴ５１が用
いられているので、光源の発光量が少ない場合や透過光
の弱い場合に適用でき、検出感度を著しく向上できるだ
けでなく、構成もコンパクトで操作性にも優れている。
次に、第２の実施例について説明する。
第５図はその要部（プローブ部）の構成を示す斜視図で
ある。図示の通り、この実施例では、入射用光ファイバ
２は４本の光ファイバ２１〜２４から構成され、これら
は出射用光ファイバ２と直線的に配設されている。この
第２実施例の全体構成は第６図のようになっている。出
射用光ファイバ１の後端には発光素子４３が接続され、
この発光素子４３は発光素子駆動回路４４によって駆動
されるようになっている。入射用光ファイバ２を構成す
る４本の光ファイバ２１〜２４の後端には、それぞれ光
検出器５１〜５４が接続され、その出力信号（透過光信
号）は入射光量比較装置１１０に与えられるようになっ
ている。
ある。図示の通り、この実施例では、入射用光ファイバ
２は４本の光ファイバ２１〜２４から構成され、これら
は出射用光ファイバ２と直線的に配設されている。この
第２実施例の全体構成は第６図のようになっている。出
射用光ファイバ１の後端には発光素子４３が接続され、
この発光素子４３は発光素子駆動回路４４によって駆動
されるようになっている。入射用光ファイバ２を構成す
る４本の光ファイバ２１〜２４の後端には、それぞれ光
検出器５１〜５４が接続され、その出力信号（透過光信
号）は入射光量比較装置１１０に与えられるようになっ
ている。
ここで、プローブ部における光ファイバの配列は、第５
図に示すように直線的になっている。そして、各ファイ
バの光出射および入射端面の中心間隔ａは、光ファイバ
２，１１〜１４の外径寸法およびその間に介在する樹脂
組成物８によって一定に設定されている。従って、塗装
部９３に入った光の横方向透過の程度を、過程距離との
関係で定量的に観測できるようになっている。
図に示すように直線的になっている。そして、各ファイ
バの光出射および入射端面の中心間隔ａは、光ファイバ
２，１１〜１４の外径寸法およびその間に介在する樹脂
組成物８によって一定に設定されている。従って、塗装
部９３に入った光の横方向透過の程度を、過程距離との
関係で定量的に観測できるようになっている。
次に、上記第２実施例の作用を説明する。
まず、測定にあたっては保持ケース３の先端部（プロー
ブ部）を基体９２に施された塗装部９３に当接させる。
そして、発光素子４３を点灯させると測定光ＬＯが出射
用光ファイバ１のコア部から出射され、塗装部９３中に
入る。測定光ＬＯは塗装部９３中で散乱され、あるいは
基体９２の表面で反射され、再び塗装部９３の表面に戻
ってくる。そして、透過検出光ＬＩ１〜ＬＩ４として入
射用光ファイバ２を構成する各光ファイバ２１〜２４に
入射され、これらは光検出器５１〜５４で光電変換さ
れ、透過光信号として入射光量比較装置１１０に入力さ
れる。入射光量比較装置１１０では各透過光信号の光量
レベルを比較し、そのレベル変化のパターンを調べる。
そして、そのパターンをあらかじめ設定されているパタ
ーンと対比し、塗装部９３を施した基体９２の外観上の
品質を評価する。例えば、第７図に示すように、パター
ンが図中の実線のようになるときは品質は「しっとりし
た感じ」と判断され、点線のようになるときは「乾いた
感じ」と判断される。
ブ部）を基体９２に施された塗装部９３に当接させる。
そして、発光素子４３を点灯させると測定光ＬＯが出射
用光ファイバ１のコア部から出射され、塗装部９３中に
入る。測定光ＬＯは塗装部９３中で散乱され、あるいは
基体９２の表面で反射され、再び塗装部９３の表面に戻
ってくる。そして、透過検出光ＬＩ１〜ＬＩ４として入
射用光ファイバ２を構成する各光ファイバ２１〜２４に
入射され、これらは光検出器５１〜５４で光電変換さ
れ、透過光信号として入射光量比較装置１１０に入力さ
れる。入射光量比較装置１１０では各透過光信号の光量
レベルを比較し、そのレベル変化のパターンを調べる。
そして、そのパターンをあらかじめ設定されているパタ
ーンと対比し、塗装部９３を施した基体９２の外観上の
品質を評価する。例えば、第７図に示すように、パター
ンが図中の実線のようになるときは品質は「しっとりし
た感じ」と判断され、点線のようになるときは「乾いた
感じ」と判断される。
第８図は第２実施例の変形例の要部を斜視図にて示して
いる。
いる。
この場合には、入射用光ファイバ２の周囲に６本の入射
用光ファイバ２１〜２６が配置されている。そして、こ
れらの先端は保持ケース３によって一体に保持されてい
る。このプローブを用いれば、透過光が方向によってど
の様に異なるかを定量的に検出できる。
用光ファイバ２１〜２６が配置されている。そして、こ
れらの先端は保持ケース３によって一体に保持されてい
る。このプローブを用いれば、透過光が方向によってど
の様に異なるかを定量的に検出できる。
光ファイバの配列の態様については、第５図および第８
図の例に限られず、種々の態様が可能であるが、基本的
には第９図のような４態様にまとめることができる。同
図（ａ）は一方向のみへの透過を測定する場合で、出射
用光ファイバ１に対しても８本の入射用光ファイバ２が
一方向に配置されている。同図（ｂ）は互いに反対の２
方向への透過を測定する場合で、１本の出射用光ファイ
バ１に対して各６本の入射用光ファイバ２が反対方向に
直線的に配置されている。同図（ｃ）はｘ方向および方
向の透過を同時に測定する場合のもので、１本の出射用
光ファイバ１に対して５×４本の入射用光ファイバ２が
十文字に配置されている。さらに、同図（ｄ）は透過分
布を二次元的に測定する場合のもので、１本の出射用光
ファイバ１を中心にして多数の入射用光ファイバ２が分
散させられている。
図の例に限られず、種々の態様が可能であるが、基本的
には第９図のような４態様にまとめることができる。同
図（ａ）は一方向のみへの透過を測定する場合で、出射
用光ファイバ１に対しても８本の入射用光ファイバ２が
一方向に配置されている。同図（ｂ）は互いに反対の２
方向への透過を測定する場合で、１本の出射用光ファイ
バ１に対して各６本の入射用光ファイバ２が反対方向に
直線的に配置されている。同図（ｃ）はｘ方向および方
向の透過を同時に測定する場合のもので、１本の出射用
光ファイバ１に対して５×４本の入射用光ファイバ２が
十文字に配置されている。さらに、同図（ｄ）は透過分
布を二次元的に測定する場合のもので、１本の出射用光
ファイバ１を中心にして多数の入射用光ファイバ２が分
散させられている。
第９図（ａ）のような配列に関して、本発明者は第１０
図および第１１図のような実験を行なった。
図および第１１図のような実験を行なった。
第１０図は実験系の構成を示しており、第１１図はその
結果を示している。まず、第１１図のように外径が１０
０μｍの光ファイバを６本用意し、１本を出射用光ファ
イバ１とし、他の５本を入射用光ファイバ２１〜２５と
した。そして、樹脂組成物８を用いて中心間隔が２００
μｍとなるように各ファイバ１，２１〜２５を固定し、
光源としてＬＥＤを用い、さらに光検出器としてＰＭＴ
を用い、その出力をフォトカウンタで計数するようにし
た。なお、入射用光ファイバ２１〜２５からの透過検出
光はファイバからの光路を図中の矢印のように切り換え
ることでＰＭＴに順次に与えられるようにし、光源（Ｌ
ＥＤ）についてはＤＣ点灯を行なった。
結果を示している。まず、第１１図のように外径が１０
０μｍの光ファイバを６本用意し、１本を出射用光ファ
イバ１とし、他の５本を入射用光ファイバ２１〜２５と
した。そして、樹脂組成物８を用いて中心間隔が２００
μｍとなるように各ファイバ１，２１〜２５を固定し、
光源としてＬＥＤを用い、さらに光検出器としてＰＭＴ
を用い、その出力をフォトカウンタで計数するようにし
た。なお、入射用光ファイバ２１〜２５からの透過検出
光はファイバからの光路を図中の矢印のように切り換え
ることでＰＭＴに順次に与えられるようにし、光源（Ｌ
ＥＤ）についてはＤＣ点灯を行なった。
以上の実験系の装置を用い、被測定物体として人間の顔
の肌を調べたところ、しっとりとした顔の場合には測定
値は第１１図の実線のようになり、乾いた顔の場合には
測定値は点線のようになった。
の肌を調べたところ、しっとりとした顔の場合には測定
値は第１１図の実線のようになり、乾いた顔の場合には
測定値は点線のようになった。
なお、本発明は上記の実施例に限定されるものではな
く、種々の変形が可能である。
く、種々の変形が可能である。
例えば、光ファイバの材料としては二酸化シリコン製の
ものあるいはプラスチック製のものなど各種のものを用
いることができ、光ファイバの寸法についても適宜に変
更することができる。光源についても、ＬＥＤのほか半
導体レーザ（ＬＤ）、タングステン（Ｗ）ランプ、水銀
（Ｈｇ）ランプやハロゲンランプなどを用いることがで
きる。また、光検出器についても、フォトダイオードや
ＰＭＴに限られない。ここで、特定波長の光のみを利用
して分光透過特性を調べたいときには、例えば分光器や
光フィルタを用いればよい。第１２図はＰＭＴ５１の前
面に光フィルタ５８を設けた例を示している。
ものあるいはプラスチック製のものなど各種のものを用
いることができ、光ファイバの寸法についても適宜に変
更することができる。光源についても、ＬＥＤのほか半
導体レーザ（ＬＤ）、タングステン（Ｗ）ランプ、水銀
（Ｈｇ）ランプやハロゲンランプなどを用いることがで
きる。また、光検出器についても、フォトダイオードや
ＰＭＴに限られない。ここで、特定波長の光のみを利用
して分光透過特性を調べたいときには、例えば分光器や
光フィルタを用いればよい。第１２図はＰＭＴ５１の前
面に光フィルタ５８を設けた例を示している。
出射用光ファイバ１および入射用光ファイバ２のプロー
ブ部での固定については、実施例のように樹脂組成物に
よる接続剤を用いることができるが、各光ファイバの間
に適当なスペーサを介在させることにより、光出射およ
び入射端面の間隔を所望に設定することができる。ま
た、外光遮蔽用のカバーは第５図、第８図等のプローブ
部にも備えることができ、その形状および材料について
も適宜に変更できる。
ブ部での固定については、実施例のように樹脂組成物に
よる接続剤を用いることができるが、各光ファイバの間
に適当なスペーサを介在させることにより、光出射およ
び入射端面の間隔を所望に設定することができる。ま
た、外光遮蔽用のカバーは第５図、第８図等のプローブ
部にも備えることができ、その形状および材料について
も適宜に変更できる。
以上、詳細に説明した通り本発明では、出射用光ファイ
バからの測定光は物体表面の塗装部内等を横方向に透過
し、入射用光ファイバに透過検出光として入射される。
ここで、出射用光ファイバの出射端面と入射用光ファイ
バの入射端面はサイズが十分に小さく、かつその間隔が
所定値に設定されている。また、略管状の弾性体からな
る遮蔽部材の先端が物体表面に密接するので、その物体
表面の測定領域は外光から遮蔽されている。従って、横
方向透過光の検出を精度よく行なうことができるので、
物体の表面の外観上の美的品質を正確に評価することが
可能となる。
バからの測定光は物体表面の塗装部内等を横方向に透過
し、入射用光ファイバに透過検出光として入射される。
ここで、出射用光ファイバの出射端面と入射用光ファイ
バの入射端面はサイズが十分に小さく、かつその間隔が
所定値に設定されている。また、略管状の弾性体からな
る遮蔽部材の先端が物体表面に密接するので、その物体
表面の測定領域は外光から遮蔽されている。従って、横
方向透過光の検出を精度よく行なうことができるので、
物体の表面の外観上の美的品質を正確に評価することが
可能となる。
第１図は、本発明の第１実施例の構成を示す図、第２図
は、第１実施例の作用を説明する図、第３図および第４
図は、それぞれ第１実施例の第１および第２の変形例を
示す図、第５図は、本発明の第２実施例の要部の斜視
図、第６図は、その全体構成を示す図、第７図は、その
特有の作用を示す図、第８図は、第２実施例の変形例の
要部の斜視図、第９図は、光ファイバの配列の態様を示
す図、第１０図は、本発明者による実験系の装置の構成
図、第１１図は、実験の結果を示す図、第１２図は、変
形例に係る光検出器の構成図、第１３図は、来技術を示
す図である。 １……出射用光ファイバ、２，２１〜２６……入射用光
ファイバ、３，３１，３２……保持ケース、４……光
源、５……光検出器、７……カバー、９２……基体、９
３……塗装部。
は、第１実施例の作用を説明する図、第３図および第４
図は、それぞれ第１実施例の第１および第２の変形例を
示す図、第５図は、本発明の第２実施例の要部の斜視
図、第６図は、その全体構成を示す図、第７図は、その
特有の作用を示す図、第８図は、第２実施例の変形例の
要部の斜視図、第９図は、光ファイバの配列の態様を示
す図、第１０図は、本発明者による実験系の装置の構成
図、第１１図は、実験の結果を示す図、第１２図は、変
形例に係る光検出器の構成図、第１３図は、来技術を示
す図である。 １……出射用光ファイバ、２，２１〜２６……入射用光
ファイバ、３，３１，３２……保持ケース、４……光
源、５……光検出器、７……カバー、９２……基体、９
３……塗装部。
Claims (8)
- 【請求項１】被測定物体の平坦な表面における横方向の
光透過性を測定する横方向光透過測定器において、 光源と、 この光源からの光を伝送し、これを前記被測定物体に向
けて出射する少なくとも１本の出射用光ファイバと、 前記被測定物体からの光を入射して伝送する少なくとも
１本の入射用光ファイバと、 この入射用光ファイバからの光を検出する光検出器と、 前記出射用光ファイバの出射端面と前記入射用光ファイ
バの入射端面が、所定の間隔をあけてほぼ同一の平面上
に配置されるように、前記出射用光ファイバと入射用光
ファイバを一体に保持する保持部材と、 この保持部材に基端が保持され、前記出射用光ファイバ
の出射端面と前記入射用光ファイバの入射端面とを含む
前記平面からその先端が前記出射用光ファイバの光出射
側に張り出した略管状の弾性体からなり、前記被測定物
体の測定領域への外光の入射を遮蔽する遮蔽部材と を備えることを特徴とする横方向光透過測定器。 - 【請求項２】前記光源は特定波長の光を選択的に発する
ことを特徴とする請求項１記載の横方向透過測定器。 - 【請求項３】前記光検出器は、前記入射用光ファイバと
の結合端面に特定波長の光のみを透過するフィルタを有
することを特徴とする請求項１または２記載の横方向光
透過測定器。 - 【請求項４】前記出射用光ファイバおよび入射用光ファ
イバは、樹脂を介して前記保持部材に固定されている請
求項１ないし３のいずれかに記載の横方向光透過測定
器。 - 【請求項５】前記入射用光ファイバは所定の位置関係で
入射端面が配設された複数本の光ファイバであり、前記
光検出器は前記入射用光ファイバをなす複数本の光ファ
イバごとに設けられ、かつ、前記光検出器ごとに検知さ
れた光量を相互に比較する比較手段を更に備えることを
特徴とする請求項１記載の横方向光透過測定器。 - 【請求項６】前記光検出器と前記複数本の光ファイバの
間には光路を切り換える切換手段が設けられ、前記比較
手段は切り換えられた前記複数本の光ファイバからの光
量を相互に比較することを特徴とする請求項５記載の横
方向光透過測定器。 - 【請求項７】前記入射用光ファイバは、前記出射用光フ
ァイバを取り囲むように配設された複数本の光ファイバ
からなることを特徴とする請求項５または６記載の横方
向光透過測定器。 - 【請求項８】前記入射用光ファイバは、前記出射用光フ
ァイバと同一直線上に配置された複数本の光ファイバか
らなることを特徴とする請求項５または６記載の横方向
光透過測定器。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63218820A JPH0658325B2 (ja) | 1988-09-01 | 1988-09-01 | 横方向光透過測定器 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63218820A JPH0658325B2 (ja) | 1988-09-01 | 1988-09-01 | 横方向光透過測定器 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0266429A JPH0266429A (ja) | 1990-03-06 |
| JPH0658325B2 true JPH0658325B2 (ja) | 1994-08-03 |
Family
ID=16725860
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63218820A Expired - Fee Related JPH0658325B2 (ja) | 1988-09-01 | 1988-09-01 | 横方向光透過測定器 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0658325B2 (ja) |
Families Citing this family (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5803909A (en) | 1994-10-06 | 1998-09-08 | Hitachi, Ltd. | Optical system for measuring metabolism in a body and imaging method |
| US6254385B1 (en) | 1997-01-02 | 2001-07-03 | Lj Laboratories, Llc | Apparatus and method for measuring optical characteristics of teeth |
| WO2000031514A1 (fr) * | 1998-11-24 | 2000-06-02 | Otsuka Electronics Co., Ltd. | Instrument de mesure de la diffusion de la lumiere |
| US6903813B2 (en) | 2002-02-21 | 2005-06-07 | Jjl Technologies Llc | Miniaturized system and method for measuring optical characteristics |
| JP3602111B2 (ja) * | 2002-05-07 | 2004-12-15 | 株式会社日立製作所 | 生体光計測装置 |
Family Cites Families (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6031041A (ja) * | 1983-07-29 | 1985-02-16 | Iseki & Co Ltd | 穀物判別センサ− |
| JPS60174930A (ja) * | 1984-02-21 | 1985-09-09 | Fuji Electric Corp Res & Dev Ltd | 濃度計 |
| JPS61200444A (ja) * | 1985-03-02 | 1986-09-05 | Kawasaki Steel Corp | 粉粒体の水分測定方法及び装置 |
| JPS6358128A (ja) * | 1986-08-28 | 1988-03-12 | Kanzaki Paper Mfg Co Ltd | 光散乱性物質の測色装置 |
-
1988
- 1988-09-01 JP JP63218820A patent/JPH0658325B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0266429A (ja) | 1990-03-06 |
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Legal Events
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|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |