JPH0266429A - 横方向光透過測定器 - Google Patents
横方向光透過測定器Info
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- JPH0266429A JPH0266429A JP21882088A JP21882088A JPH0266429A JP H0266429 A JPH0266429 A JP H0266429A JP 21882088 A JP21882088 A JP 21882088A JP 21882088 A JP21882088 A JP 21882088A JP H0266429 A JPH0266429 A JP H0266429A
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/47—Scattering, i.e. diffuse reflection
- G01N21/4738—Diffuse reflection, e.g. also for testing fluids, fibrous materials
- G01N21/474—Details of optical heads therefor, e.g. using optical fibres
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は被測定物体の横方向の光透過性を測定器するた
めの横方向光透過測定器に関するもので、自動車の車体
や家具の塗装の外観上の品質評価あるいは人間の肌の美
的な評価などに広く用いられる。
めの横方向光透過測定器に関するもので、自動車の車体
や家具の塗装の外観上の品質評価あるいは人間の肌の美
的な評価などに広く用いられる。
自動車の車体や家具の塗装の品質評価にあたっては、そ
の表面の光反射を測定することがなされている。また、
特殊な塗装効果を評価する場合には、その反射スペクト
ルや吸収スペクトルの評価もなされている。
の表面の光反射を測定することがなされている。また、
特殊な塗装効果を評価する場合には、その反射スペクト
ルや吸収スペクトルの評価もなされている。
第13図は従来の評価方法の一例を示す図である。同図
において、光源91から発せられた白色光または単色光
は、基体92およびその表面に形成された塗装部93に
照射される。そして、これによって反射、透過あるいは
屈折された光は集光レンズ94を介して光検出器95に
入射され、検出信号として図示しない評価装置に送られ
る。
において、光源91から発せられた白色光または単色光
は、基体92およびその表面に形成された塗装部93に
照射される。そして、これによって反射、透過あるいは
屈折された光は集光レンズ94を介して光検出器95に
入射され、検出信号として図示しない評価装置に送られ
る。
ここで、光検出器95で検出される光としては、基体9
2の表面あるいは塗装部93の表面で反射された光(第
13図にて実線、−点鎖線で図示)のほか、塗装部93
の内部で散乱された光(同図にて点線で図示)や、基体
92で反射された後に塗装部93の内部で散乱された光
(同図にて二点鎖線で図示)などが含まれる。
2の表面あるいは塗装部93の表面で反射された光(第
13図にて実線、−点鎖線で図示)のほか、塗装部93
の内部で散乱された光(同図にて点線で図示)や、基体
92で反射された後に塗装部93の内部で散乱された光
(同図にて二点鎖線で図示)などが含まれる。
このように、塗装を施した物体からの光は、反射光の他
に散乱光も含まれているが、従来はこの検出を一括して
行なっている。このため、塗装部内での散乱光などを特
別に評価することは困難であった。
に散乱光も含まれているが、従来はこの検出を一括して
行なっている。このため、塗装部内での散乱光などを特
別に評価することは困難であった。
ところが、物体の外観上の品質評価(美的品質の評価)
においては、上記の散乱光の評価は極めて重要である。
においては、上記の散乱光の評価は極めて重要である。
例えば、物体表面に非常に小さなスポット光を照射した
場合に、上記のような塗装部による散乱がないときには
反射光は非常に小さなスポット光となる。これに対し、
物体表面に散乱を生じさせる塗装が施しであるときには
、反射光のスポットを囲むように散乱光の広がり(にじ
み)が生じる。そして、これが物体表面の外観上の品質
を大きく左右することになる。
場合に、上記のような塗装部による散乱がないときには
反射光は非常に小さなスポット光となる。これに対し、
物体表面に散乱を生じさせる塗装が施しであるときには
、反射光のスポットを囲むように散乱光の広がり(にじ
み)が生じる。そして、これが物体表面の外観上の品質
を大きく左右することになる。
そこで本発明は、物体表面の外観上の品質を正確に評価
することのできる横方向光透過測定器を提供することを
目的とする。
することのできる横方向光透過測定器を提供することを
目的とする。
本発明に係る横方向光透過測定器は、光源と、この光源
からの光(測定光)を伝送し、これを被測定物体に向け
て出射する少なくとも1本の出射用光ファイバと、被測
定物体からの光(透過検出光)を入射して伝送する少な
くとも1本の入射用光ファイバと、この入射用光ファイ
バからの透過検出光を検出する光検出器と、出射用光フ
ァイバの出射端面と入射用光ファイバの入射端面が所定
の間隔あけてほぼ同一の平面上に配置されるように、出
射用光ファイバと入射用光ファイバを一体に保持する保
持部材とを備えることを特徴とする。
からの光(測定光)を伝送し、これを被測定物体に向け
て出射する少なくとも1本の出射用光ファイバと、被測
定物体からの光(透過検出光)を入射して伝送する少な
くとも1本の入射用光ファイバと、この入射用光ファイ
バからの透過検出光を検出する光検出器と、出射用光フ
ァイバの出射端面と入射用光ファイバの入射端面が所定
の間隔あけてほぼ同一の平面上に配置されるように、出
射用光ファイバと入射用光ファイバを一体に保持する保
持部材とを備えることを特徴とする。
ここで、入射用光ファイバを所定の位置関係で入射端面
が配設された複数本の光ファイバで構成し、光検出器を
入射用光ファイバをなす複数本の光ファイバごとに設け
、かつ、この光検知器ごとに検知された光量を相互に比
較する比較手段を更に備えるようにしてもよい。さらに
、光検出器の前面に複数本の光ファイバからの光路を切
り換える手段を設け、切り換えられた光の光量を上記比
較手段で比較するようにしてもよい。
が配設された複数本の光ファイバで構成し、光検出器を
入射用光ファイバをなす複数本の光ファイバごとに設け
、かつ、この光検知器ごとに検知された光量を相互に比
較する比較手段を更に備えるようにしてもよい。さらに
、光検出器の前面に複数本の光ファイバからの光路を切
り換える手段を設け、切り換えられた光の光量を上記比
較手段で比較するようにしてもよい。
本発明の構成によれば、出射用光ファイバからの測定光
は物体表面の塗装部内を横方向に透過し、入射用光ファ
イバに透過検出光として入射される。
は物体表面の塗装部内を横方向に透過し、入射用光ファ
イバに透過検出光として入射される。
ここで、出射用光ファイバの出射端面と入射用光ファイ
バの入射端面はサイズが十分に小さく、かつその間隔が
所定値に設定されている。従って、横方向透過光の検出
を精度よく行なうことができる。
バの入射端面はサイズが十分に小さく、かつその間隔が
所定値に設定されている。従って、横方向透過光の検出
を精度よく行なうことができる。
以下、添付図面を参照して本発明の実施例を詳細に〜説
明する。
明する。
第1図は、第1実施例の構成を示している。同図(a)
は一部を破砕して示した側面図であり、同図(b)は先
端部(プローブ部)の正面図である。ΔIII定光を出
射するための出射用光ファイバ1は、中心部のコアおよ
び外側のクラッドからなるガラスファイバ1aと、この
外側のコーティング層1bから構成され、これにはナイ
ロンなどの保護被覆ICが施されている。透過検出光を
入射するための入射用光ファイバ2についても、中心部
のコアおよび外側のクラッドからなるガラスファイバ2
aと、この外側のコーティング層2bから構成され、こ
れには保護被覆2Cが施されている。
は一部を破砕して示した側面図であり、同図(b)は先
端部(プローブ部)の正面図である。ΔIII定光を出
射するための出射用光ファイバ1は、中心部のコアおよ
び外側のクラッドからなるガラスファイバ1aと、この
外側のコーティング層1bから構成され、これにはナイ
ロンなどの保護被覆ICが施されている。透過検出光を
入射するための入射用光ファイバ2についても、中心部
のコアおよび外側のクラッドからなるガラスファイバ2
aと、この外側のコーティング層2bから構成され、こ
れには保護被覆2Cが施されている。
この出射用光ファイバ1および入射用光ファイバ2の先
端部は保持ケース3内に収容されて互いに隣接させられ
る。そして、出射用光ファイバ1の他端には発光ダイオ
ード(LED)などからなる光源4が接続され、入射用
光ファイバ2の他端には光電子増倍管やフォトダイオー
ド(PD)などからなる光検出器5が接続されている。
端部は保持ケース3内に収容されて互いに隣接させられ
る。そして、出射用光ファイバ1の他端には発光ダイオ
ード(LED)などからなる光源4が接続され、入射用
光ファイバ2の他端には光電子増倍管やフォトダイオー
ド(PD)などからなる光検出器5が接続されている。
ここで、出射用光ファイバ1と入射用光ファイバ2の間
でクロストークが生じないようにするため、反射や透過
を生じない樹脂をコーティング層lb、2bなどとして
、あるいは別途に保持ケース3中に介在させておくのが
望ましい。また、光ファイバ1.2の端面は鏡面に研磨
しておき、物体との密着性を良好にしておくのが望まし
い。さらに、外光が測定の障害にならないようにするた
め、外光遮蔽用のゴム製などのカバー7をプローブ部の
先端に取り付けておく。
でクロストークが生じないようにするため、反射や透過
を生じない樹脂をコーティング層lb、2bなどとして
、あるいは別途に保持ケース3中に介在させておくのが
望ましい。また、光ファイバ1.2の端面は鏡面に研磨
しておき、物体との密着性を良好にしておくのが望まし
い。さらに、外光が測定の障害にならないようにするた
め、外光遮蔽用のゴム製などのカバー7をプローブ部の
先端に取り付けておく。
次に、上記第1実施例の作用を第2図により説明する。
物体表面の品質評価に際しては、基体92に施された塗
装部93の表面に保持ケース3を操作して出射用光ファ
イバ1および入射用光ファイバ2の端面を当接させる。
装部93の表面に保持ケース3を操作して出射用光ファ
イバ1および入射用光ファイバ2の端面を当接させる。
そして、光源4から1lPI定光を出射用光ファイバ1
に入射する。この入射光(測定光)はガラスファイバ1
aのコアを通って出射端面から塗装部93中に入り、例
えば、第2図中に点線、−点鎖線および二点鎖線で示す
ような経路を通り、入射用光ファイバ2のガラスファイ
バ2a中のコアに入射される。このように入射された光
は透過検出光として光検出器5に送られ、第1図のよう
に透過光信号に変換されて図示しない評価装置に送られ
る。
に入射する。この入射光(測定光)はガラスファイバ1
aのコアを通って出射端面から塗装部93中に入り、例
えば、第2図中に点線、−点鎖線および二点鎖線で示す
ような経路を通り、入射用光ファイバ2のガラスファイ
バ2a中のコアに入射される。このように入射された光
は透過検出光として光検出器5に送られ、第1図のよう
に透過光信号に変換されて図示しない評価装置に送られ
る。
ここで、出射用光ファイバ1および入射用光ファイバ2
を構成するガラスファイバla、2aの径は数10〜数
1−00μm程度にすることができ、従って入射光(I
l′lII定光)のスポット径と出射光(透過検出光)
の検出範囲を十分に小さくできる。
を構成するガラスファイバla、2aの径は数10〜数
1−00μm程度にすることができ、従って入射光(I
l′lII定光)のスポット径と出射光(透過検出光)
の検出範囲を十分に小さくできる。
また、ガラスファイバ1aのコアによる出射端面とガラ
スファイバ2aのコアによる入射端面の中心間隔は、出
射用光ファイバ1および入射用光ファイバ2の外径値な
どにより一定に設定できるので、光の透過距離を定量的
に把握できる。このため、スポット光が照射されたとき
の光の広がり(にじみ)を正確に検知できるので、塗装
部93における光の散乱を精度よく検出できる。また、
外光はカバー7により遮蔽されるので、測定環境によっ
て測定結果が左右されることはない。さらに、塗装部9
3の表面で反射された成分は入射用光ファイバ2のコア
1aに入射することがないので、塗装部93の表面状態
によって測定結果が左右されることもない占 次に、第3図および第4図を参照して、第1実施例の変
形例を説明する。
スファイバ2aのコアによる入射端面の中心間隔は、出
射用光ファイバ1および入射用光ファイバ2の外径値な
どにより一定に設定できるので、光の透過距離を定量的
に把握できる。このため、スポット光が照射されたとき
の光の広がり(にじみ)を正確に検知できるので、塗装
部93における光の散乱を精度よく検出できる。また、
外光はカバー7により遮蔽されるので、測定環境によっ
て測定結果が左右されることはない。さらに、塗装部9
3の表面で反射された成分は入射用光ファイバ2のコア
1aに入射することがないので、塗装部93の表面状態
によって測定結果が左右されることもない占 次に、第3図および第4図を参照して、第1実施例の変
形例を説明する。
第3図は第1の変形例の断面図である。この場合には、
保持ケース31は出射用光ファイバ1および入射用光フ
ァイバ2のみならず、光源としてのLED41およびL
ED駆動回路42、光検出器としての光電子増倍管(P
MT)51、さらに電源ブリーダ100をも内部に収容
する構造となっている。そして、保持ケース31の後端
部には電源入力端子101と出力端子102が設けられ
ている。第4図は第2の変形例の構成図であり、この場
合には、第1の変形例と異なり光源4が保持ケース32
の外部に設けられている。そして、PMT51と電源ブ
リーダ100はソケット103を介して接続されている
。
保持ケース31は出射用光ファイバ1および入射用光フ
ァイバ2のみならず、光源としてのLED41およびL
ED駆動回路42、光検出器としての光電子増倍管(P
MT)51、さらに電源ブリーダ100をも内部に収容
する構造となっている。そして、保持ケース31の後端
部には電源入力端子101と出力端子102が設けられ
ている。第4図は第2の変形例の構成図であり、この場
合には、第1の変形例と異なり光源4が保持ケース32
の外部に設けられている。そして、PMT51と電源ブ
リーダ100はソケット103を介して接続されている
。
上記変形例のいずれの場合にも、出射用光ファイバ1お
よび入射用光ファイバ2は保持ケース31.32の先端
部(プローブ部)において第1図(b)のように保持さ
れている。従って、第2図を参照して説明したのと同様
の効果を奏する。
よび入射用光ファイバ2は保持ケース31.32の先端
部(プローブ部)において第1図(b)のように保持さ
れている。従って、第2図を参照して説明したのと同様
の効果を奏する。
更に、光検出器としてPMT51が用いられているので
、光源の発光量が少ない場合や透過光の弱い場合に適用
でき、検出感度を著しく向上できるだけでなく、構成も
コンパクトで操作性にも優れている。
、光源の発光量が少ない場合や透過光の弱い場合に適用
でき、検出感度を著しく向上できるだけでなく、構成も
コンパクトで操作性にも優れている。
次に、第2の実施例について説明する。
第5図はその要部(プローブ部)の構成を示す斜視図で
ある。図示の通り、この実施例では、入射用光ファイバ
2は4本の光ファイバ21〜24から構成され、これら
は出射用光ファイバ2と直線的に配設されている。この
第2実施例の全体構成は第6図のようになっている。出
射用光ファイバ1の後端には発光素子43が接続され、
この発光素子43は発光素子駆動回路44によって駆動
されるようになっている。入射用光ファイバ2を構成す
る4本の光ファイバ21〜24の後端には、それぞれ光
検出器5、〜54が接続され、その出力信号(透過光信
号)は入射光量比較装置110に与えられるようになっ
ている。
ある。図示の通り、この実施例では、入射用光ファイバ
2は4本の光ファイバ21〜24から構成され、これら
は出射用光ファイバ2と直線的に配設されている。この
第2実施例の全体構成は第6図のようになっている。出
射用光ファイバ1の後端には発光素子43が接続され、
この発光素子43は発光素子駆動回路44によって駆動
されるようになっている。入射用光ファイバ2を構成す
る4本の光ファイバ21〜24の後端には、それぞれ光
検出器5、〜54が接続され、その出力信号(透過光信
号)は入射光量比較装置110に与えられるようになっ
ている。
ここで、プローブ部における光ファイバの配列は、第5
図に示すように直線的になっている。そして、各ファイ
バの光出射および入射端面の中心間隔aは、光ファイバ
2.11〜14の外径寸法およびその間に介在する樹脂
組成物8によって一定に設定されている。従って、塗装
部93に入った光の横方向透過の程度を、透過距離との
関係で定量的に観測できるようになっている。
図に示すように直線的になっている。そして、各ファイ
バの光出射および入射端面の中心間隔aは、光ファイバ
2.11〜14の外径寸法およびその間に介在する樹脂
組成物8によって一定に設定されている。従って、塗装
部93に入った光の横方向透過の程度を、透過距離との
関係で定量的に観測できるようになっている。
次に、上記第2実施例の作用を説明する。
まず、測定にあたっては保持ケース3の先端部(プロー
ブ部)を基体92に施させた塗装部93に当接させる。
ブ部)を基体92に施させた塗装部93に当接させる。
そして、発光素子43を点灯させると測定光LOが出射
用光ファイバ1のコア部から出射され、塗装部93中に
入る。測定光LOは塗装部93中で散乱され、あるいは
基体92の表面で反射され、再び塗装部93の表面に戻
ってくる。そして、透過検出光LI、〜LI4として入
射用光ファイバ2を構成する各光ファイバ21〜24に
入射され、これらは光検出器5□〜54で光電変換され
、透過光信号として入射光量比較装置110に入力され
る。入射光量比較装置110では各透過光信号の光量レ
ベルを比較し、そのレベル変化のパターンを調べる。そ
して、そのパターンをあらかじめ設定されているパター
ンと対比し、塗装部93を施した基体92の外観上の品
質を評価する。例えば、第7図に示すように、パターン
が図中の実線のようになるときは品質は「しっとりした
感じ」と判断され、点線のようになるときは「乾いた感
じ」と判断される。
用光ファイバ1のコア部から出射され、塗装部93中に
入る。測定光LOは塗装部93中で散乱され、あるいは
基体92の表面で反射され、再び塗装部93の表面に戻
ってくる。そして、透過検出光LI、〜LI4として入
射用光ファイバ2を構成する各光ファイバ21〜24に
入射され、これらは光検出器5□〜54で光電変換され
、透過光信号として入射光量比較装置110に入力され
る。入射光量比較装置110では各透過光信号の光量レ
ベルを比較し、そのレベル変化のパターンを調べる。そ
して、そのパターンをあらかじめ設定されているパター
ンと対比し、塗装部93を施した基体92の外観上の品
質を評価する。例えば、第7図に示すように、パターン
が図中の実線のようになるときは品質は「しっとりした
感じ」と判断され、点線のようになるときは「乾いた感
じ」と判断される。
第8図は第2実施例の変形例の要部を斜視図にて示して
いる。
いる。
この場合には、入射用光ファイバ2の周囲に6本の入射
用光ファイバ21〜26が配置されている。そして、こ
れらの先端は保持ケース3によって一体に保持されてい
る。このプローブを用いれば、透過光が方向によってど
の様に異なるかを定量的に検出できる。
用光ファイバ21〜26が配置されている。そして、こ
れらの先端は保持ケース3によって一体に保持されてい
る。このプローブを用いれば、透過光が方向によってど
の様に異なるかを定量的に検出できる。
光ファイバの配列の態様については、第5図および第8
図の例に限られず、種々の態様が可能であるが、基本的
には第9図のような4態様にまとめることができる。同
図(a)は一方向のみへの透過を測定する場合で、出射
用光ファイバ1に対しても8本の入射用光ファイバ2が
一方向に配置されている。同図(b)は互いに反対の2
方向への透過を測定する場合で、1本の出射用光ファイ
バ1に対して各6本の入射用光ファイバ2が反対方向に
直線的に配置されている。同図(C)はX方向およびy
方向の透過を同時にΔPI定する場合のもので、1本の
出射用光ファイバ1に対して5X4本の入射用光ファイ
バ2が十文字に配置されている。さらに、同図(d)は
透過分布を二次元的に測定する場合のもので、1本の出
射用光ファイバ1を中心にして多数の入射用光ファイバ
2が分散させられている。
図の例に限られず、種々の態様が可能であるが、基本的
には第9図のような4態様にまとめることができる。同
図(a)は一方向のみへの透過を測定する場合で、出射
用光ファイバ1に対しても8本の入射用光ファイバ2が
一方向に配置されている。同図(b)は互いに反対の2
方向への透過を測定する場合で、1本の出射用光ファイ
バ1に対して各6本の入射用光ファイバ2が反対方向に
直線的に配置されている。同図(C)はX方向およびy
方向の透過を同時にΔPI定する場合のもので、1本の
出射用光ファイバ1に対して5X4本の入射用光ファイ
バ2が十文字に配置されている。さらに、同図(d)は
透過分布を二次元的に測定する場合のもので、1本の出
射用光ファイバ1を中心にして多数の入射用光ファイバ
2が分散させられている。
第9図(a)のような配列に関して、本発明者は第10
図および第11図のような実験を行なった。
図および第11図のような実験を行なった。
第10図は実験系の構成を示しており、第11図はその
結果を示している。まず、第11図のように外径が10
0μmの光ファイバを6本用意し、1本を出射用光ファ
イバ1とし、他の5本を入射用光ファイバ21〜25と
した。そして、樹脂組成物8を用いて中心間隔が200
μmとなるように各ファイバ1,21〜25を固定し、
光源としてLEDを用い、さらに光検出器としてPMT
を用い、その出力をフォトカウンタで計数するようにし
た。なお、入射用光ファイバ21〜25からの透過検出
光はファイバからの光路を図中の矢印のように切り換え
ることでPMTに順次に与えられるようにし、光源(L
ED)についてはDC点灯を行なった。
結果を示している。まず、第11図のように外径が10
0μmの光ファイバを6本用意し、1本を出射用光ファ
イバ1とし、他の5本を入射用光ファイバ21〜25と
した。そして、樹脂組成物8を用いて中心間隔が200
μmとなるように各ファイバ1,21〜25を固定し、
光源としてLEDを用い、さらに光検出器としてPMT
を用い、その出力をフォトカウンタで計数するようにし
た。なお、入射用光ファイバ21〜25からの透過検出
光はファイバからの光路を図中の矢印のように切り換え
ることでPMTに順次に与えられるようにし、光源(L
ED)についてはDC点灯を行なった。
以上の実験系の装置を用い、被測定物体として人間の顔
の肌を調べたところ、しっとりした顔の場合には測定値
は第11図の実線のようになり、乾いた顔の場合にはa
ll定値は点線のようになった。
の肌を調べたところ、しっとりした顔の場合には測定値
は第11図の実線のようになり、乾いた顔の場合にはa
ll定値は点線のようになった。
なお、本発明は上記の実施例に限定されるものではなく
、種々の変形が可能である。
、種々の変形が可能である。
例えば、光ファイバの材料としては二酸化シリコン製の
ものあるいはプラスチック製のものなど各種のものを用
いることができ、光ファイバの寸法についても適宜に変
更することができる。光源についても、LEDのほか半
導体レーザ(LD)、タングステン(W)ランプ、水銀
(Hg )ランプやハロゲンランプなどを用いることが
できる。また、光検出器についても、フォトダイオード
やPMTに限られない。ここで、特定波長の光のみを利
用して分光透過特性を調べたいときには、例えば分光器
や光フィルタを用いればよい。第12図はPMT51の
前面に光フィルタ58を設けた例を示している。
ものあるいはプラスチック製のものなど各種のものを用
いることができ、光ファイバの寸法についても適宜に変
更することができる。光源についても、LEDのほか半
導体レーザ(LD)、タングステン(W)ランプ、水銀
(Hg )ランプやハロゲンランプなどを用いることが
できる。また、光検出器についても、フォトダイオード
やPMTに限られない。ここで、特定波長の光のみを利
用して分光透過特性を調べたいときには、例えば分光器
や光フィルタを用いればよい。第12図はPMT51の
前面に光フィルタ58を設けた例を示している。
出射用光ファイバ1および入射用光ファイバ2のプロー
ブ部での固定については、実施例のように樹脂組成物に
よる接着剤を用いることができるが、各光ファイバの間
に適当なスペーサを介在させることにより、光出射およ
び入射端面の間隔を所望に設定することができる。また
、外光遮蔽用のカバーは第5図、第8図等のプローブ部
にも備えることができ、その形状および材料についても
適宜に変更できる。
ブ部での固定については、実施例のように樹脂組成物に
よる接着剤を用いることができるが、各光ファイバの間
に適当なスペーサを介在させることにより、光出射およ
び入射端面の間隔を所望に設定することができる。また
、外光遮蔽用のカバーは第5図、第8図等のプローブ部
にも備えることができ、その形状および材料についても
適宜に変更できる。
以上、詳細に説明した通り本発明では、出射用光ファイ
バからの測定光は物体表面の塗装部内等を横方向に透過
し、入射用光ファイバに透過検出光として入射される。
バからの測定光は物体表面の塗装部内等を横方向に透過
し、入射用光ファイバに透過検出光として入射される。
ここで、出射用光ファイバの出射端面と入射用光ファイ
バの入射端面はサイズが十分に小さく、かつその間隔が
所定値に設定されている。従って、横方向透過光の検出
を精度よく行なうことができるので、物体の表面の外観
上の美的品質を正確に評価することが可能となる。
バの入射端面はサイズが十分に小さく、かつその間隔が
所定値に設定されている。従って、横方向透過光の検出
を精度よく行なうことができるので、物体の表面の外観
上の美的品質を正確に評価することが可能となる。
第1図は、本発明の第1実施例の構成を示す図、第2図
は、ml実施例の作用を説明する図、第3図および第4
図は、それぞれ第1実施例の第1および第2の変形例を
示す図、第5図は、本発明の第2実施例の要部の斜視図
、第6図は、その全体構成を示す図、第7図は、その特
有の作用を示す図、第8図は、第2実施例の変形例の要
部の斜視図、第9図は、光ファイバの配列の態様を示す
図、第10図は、本発明者による実験系の装置の構成図
、第11図は、実験の結果を示す図、第12図は、変形
例に係る光検出器の構成図、第13図は、来技術を示す
図である。 1・・・出射用光ファイバ、2.21〜26・・・入射
用光ファイバ、 3゜ 31゜ 2・・・保持ケース、 4・・・光源、 5・・・光検出器、 7・・・カバー 2・・・基 体、 3・・・塗装部。
は、ml実施例の作用を説明する図、第3図および第4
図は、それぞれ第1実施例の第1および第2の変形例を
示す図、第5図は、本発明の第2実施例の要部の斜視図
、第6図は、その全体構成を示す図、第7図は、その特
有の作用を示す図、第8図は、第2実施例の変形例の要
部の斜視図、第9図は、光ファイバの配列の態様を示す
図、第10図は、本発明者による実験系の装置の構成図
、第11図は、実験の結果を示す図、第12図は、変形
例に係る光検出器の構成図、第13図は、来技術を示す
図である。 1・・・出射用光ファイバ、2.21〜26・・・入射
用光ファイバ、 3゜ 31゜ 2・・・保持ケース、 4・・・光源、 5・・・光検出器、 7・・・カバー 2・・・基 体、 3・・・塗装部。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、光源と、 この光源からの光を伝送し、これを被測定物体に向けて
出射する少なくとも1本の出射用光ファイバと、 前記被測定物体からの光を入射して伝送する少なくとも
1本の入射用光ファイバと、 この入射用光ファイバからの光を検出する光検出器と、 前記出射用光ファイバの出射端面と前記入射用光ファイ
バの入射端面が、所定の間隔あけてほぼ同一の平面上に
配置されるように、前記出射用光ファイバと入射用光フ
ァイバを一体に保持する保持部材と を備えることを特徴とする横方向光透過測定器。 2、前記光源は特定波長の光を選択的に発することを特
徴とする請求項1記載の横方向光透過測定器。 3、前記光検出器は、前記入射用光ファイバとの結合端
面に特定波長の光のみを透過するフィルタを有すること
を特徴とする請求項1または2記載の横方向光透過測定
器。 4、前記出射用光ファイバおよび入射用光ファイバは、
樹脂を介して前記保持部材に固定されている請求項1な
いし3のいずれかに記載の横方向光透過測定器。 5、前記保持部材は被測定物体の測定領域への外光の入
射を遮蔽する部材を有することを特徴とする請求項1な
いし4のいずれかに記載の横方向光透過測定器。 6、前記入射用光ファイバは所定の位置関係で入射端面
が配設された複数本の光ファイバであり、前記光検出器
は前記入射用光ファイバをなす複数本の光ファイバごと
に設けられ、かつ、前記光検出器ごとに検知された光量
を相互に比較する比較手段を更に備えることを特徴とす
る請求項1記載の横方向光透過測定器。 7、前記光検出器と前記複数本の光ファイバの間には光
路を切り換える切換手段が設けられ、前記比較手段は切
り換えられた前記複数本の光ファイバからの光量を相互
に比較することを特徴とする請求項6記載の横方向光透
過測定器。 8、前記入射用光ファイバは、前記出射用光ファイバを
取り囲むように配設された複数本の光ファイバからなる
ことを特徴とする請求項6または7記載の横方向光透過
測定器。 9、前記入射用光ファイバは前記出射用光ファイバと同
一直線上に配置された複数本の光ファイバからなること
を特徴とする請求項6または7記載の横方向光透過測定
器。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63218820A JPH0658325B2 (ja) | 1988-09-01 | 1988-09-01 | 横方向光透過測定器 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63218820A JPH0658325B2 (ja) | 1988-09-01 | 1988-09-01 | 横方向光透過測定器 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0266429A true JPH0266429A (ja) | 1990-03-06 |
JPH0658325B2 JPH0658325B2 (ja) | 1994-08-03 |
Family
ID=16725860
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP63218820A Expired - Fee Related JPH0658325B2 (ja) | 1988-09-01 | 1988-09-01 | 横方向光透過測定器 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0658325B2 (ja) |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2000031514A1 (fr) * | 1998-11-24 | 2000-06-02 | Otsuka Electronics Co., Ltd. | Instrument de mesure de la diffusion de la lumiere |
JP2002369813A (ja) * | 2002-05-07 | 2002-12-24 | Hitachi Ltd | 生体光計測装置 |
US7286870B2 (en) | 1994-10-06 | 2007-10-23 | Hitachi, Ltd. | Optical system for measuring metabolism in a body and imaging method |
US8934095B2 (en) | 2002-02-21 | 2015-01-13 | Vita Zahnfabrik H. Rauter Gmbh & Co. Kg | Miniaturized system and method for measuring optical characteristics |
US8998613B2 (en) | 1997-01-02 | 2015-04-07 | 511 Innovations Inc. | Apparatus and method for measuring optical characteristics using a camera and a calibration chart imaged with the camera |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6031041A (ja) * | 1983-07-29 | 1985-02-16 | Iseki & Co Ltd | 穀物判別センサ− |
JPS60174930A (ja) * | 1984-02-21 | 1985-09-09 | Fuji Electric Corp Res & Dev Ltd | 濃度計 |
JPS61200444A (ja) * | 1985-03-02 | 1986-09-05 | Kawasaki Steel Corp | 粉粒体の水分測定方法及び装置 |
JPS6358128A (ja) * | 1986-08-28 | 1988-03-12 | Kanzaki Paper Mfg Co Ltd | 光散乱性物質の測色装置 |
-
1988
- 1988-09-01 JP JP63218820A patent/JPH0658325B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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JPS6031041A (ja) * | 1983-07-29 | 1985-02-16 | Iseki & Co Ltd | 穀物判別センサ− |
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JPS61200444A (ja) * | 1985-03-02 | 1986-09-05 | Kawasaki Steel Corp | 粉粒体の水分測定方法及び装置 |
JPS6358128A (ja) * | 1986-08-28 | 1988-03-12 | Kanzaki Paper Mfg Co Ltd | 光散乱性物質の測色装置 |
Cited By (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7286870B2 (en) | 1994-10-06 | 2007-10-23 | Hitachi, Ltd. | Optical system for measuring metabolism in a body and imaging method |
US7440794B2 (en) | 1994-10-06 | 2008-10-21 | Hitachi, Ltd. | Optical system for measuring metabolism in a body and imaging method |
US7715904B2 (en) | 1994-10-06 | 2010-05-11 | Hitachi, Ltd. | Optical system for measuring metabolism in a body and imaging method |
US8050744B2 (en) | 1994-10-06 | 2011-11-01 | Hitachi, Ltd. | Optical system for measuring metabolism in a body and imaging method |
US8998613B2 (en) | 1997-01-02 | 2015-04-07 | 511 Innovations Inc. | Apparatus and method for measuring optical characteristics using a camera and a calibration chart imaged with the camera |
WO2000031514A1 (fr) * | 1998-11-24 | 2000-06-02 | Otsuka Electronics Co., Ltd. | Instrument de mesure de la diffusion de la lumiere |
US8934095B2 (en) | 2002-02-21 | 2015-01-13 | Vita Zahnfabrik H. Rauter Gmbh & Co. Kg | Miniaturized system and method for measuring optical characteristics |
JP2002369813A (ja) * | 2002-05-07 | 2002-12-24 | Hitachi Ltd | 生体光計測装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0658325B2 (ja) | 1994-08-03 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |