JPH065747A - 半導体装置の実装構造 - Google Patents

半導体装置の実装構造

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JPH065747A
JPH065747A JP4184451A JP18445192A JPH065747A JP H065747 A JPH065747 A JP H065747A JP 4184451 A JP4184451 A JP 4184451A JP 18445192 A JP18445192 A JP 18445192A JP H065747 A JPH065747 A JP H065747A
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JP
Japan
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semiconductor device
circuit board
resin material
conductor pattern
mounting structure
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JP4184451A
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English (en)
Inventor
Yuichi Takagi
祐一 高木
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Sony Corp
Original Assignee
Sony Corp
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Publication date
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    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/15Details of package parts other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/181Encapsulation
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K1/00Printed circuits
    • H05K1/02Details
    • H05K1/0201Thermal arrangements, e.g. for cooling, heating or preventing overheating
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K3/00Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
    • H05K3/30Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor
    • H05K3/303Surface mounted components, e.g. affixing before soldering, aligning means, spacing means
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
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    • H05K3/3421Leaded components

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Abstract

(57)【要約】 【目的】 きわめて安価に半導体装置の発熱を抑えるこ
とができる半導体装置の実装構造を提供する。 【構成】 複数の導体パターン2が積層された回路基板
1と、それら各導体パターン2に接続して回路基板1に
穿設されたスルーホール4と、このスルーホール4と対
向する状態で回路基板1の導体パターン2上に実装され
た半導体装置5とからなるもので、半導体装置5の下面
5aと回路基板1の導体パターン2とに接触する状態で
高熱伝導性の樹脂材7を装填した。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、半導体装置の実装構造
に係わり、特に、回路基板上に実装された半導体装置の
発熱を抑えた構造に関するものである。
【0002】
【従来の技術】図2は従来構造を示す側面概略図であ
る。図示した半導体装置の実装構造において、50は半
導体装置であり、この半導体装置50の側部には外部リ
ード51が植設されている。一方、図中52は回路基板
であり、この回路基板52の表面には導体パターン53
が形成されている。そして、回路基板52に対して半導
体装置50は、外部リード51を介して導体パターン5
3上に実装されている。
【0003】ところで、種々の半導体装置の回路でも、
特にC(Complementary)MOSタイプの
場合は消費電力が少ないことから発熱量も小さく、よっ
てパッケージの素材としては樹脂製のもので十分である
とされていた。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら最近で
は、パッケージ内に納められるチップのゲート数が膨大
なものとなり、それに伴う消費電力の増加によって発熱
量も増大し、樹脂パッケージの熱容量だけでは半導体装
置50の温度上昇を抑えることが困難になってきた。す
なわち、上記従来の実装構造において、半導体装置50
が樹脂パッケージで構成されている場合は、パッケージ
の熱容量で吸収できない熱が半導体装置50の内部に蓄
熱され、これが半導体装置50の温度を上げる要因とな
っていた。
【0005】そこで上記問題の対応策としては、例えば
半導体装置50にセラミックパッケージを用いたり、或
いは半導体装置50にヒートシンクを接続させたりし
て、半導体装置50の放熱性を高める方法が考えられ
る。しかし、前者の場合は半導体装置の価格を大幅に上
昇させてしまうことになり、後者の場合は回路基板全体
が大型化するうえに、部品点数の増加や製造工程の煩雑
化に伴って大幅な価格上昇を招いてしまう。
【0006】本発明は、上記問題を解決するためになさ
れたもので、きわめて安価に半導体装置の発熱を抑える
ことができる半導体装置の実装構造を提供することを目
的とする。
【0007】
【課題を解決するための手段】本発明は、上記目的を達
成するためになされたもので、複数の導体パターンが積
層された回路基板と、それら各導体パターンに接続して
回路基板に穿設されたスルーホールと、このスルーホー
ルと対向する状態で回路基板の導体パターン上に実装さ
れた半導体装置とからなるものであって、半導体装置の
下面と回路基板の導体パターンとに接触する状態で高熱
伝導性の樹脂材を装填した半導体装置の実装構造であ
る。
【0008】
【作用】本発明の実装構造においては、半導体装置の下
面と回路基板の導体パターンとに接触する状態で高熱伝
導性の樹脂材が装填されることで、半導体装置と回路基
板とが樹脂材を介して熱的に接続され、これにより、半
導体装置の発熱に対する全体の熱容量が従来よりも大き
く確保される。
【0009】
【実施例】以下、本発明に係わる実施例を図面に基づい
て説明する。図1は、本発明の一実施例を示す側面概略
図である。図示した半導体装置の実装構造において、1
は回路基板であり、この回路基板1には複数(図例では
4枚)の導体パターン2が積層されている。この回路基
板1は、例えばガラスエポキシ基材3と導体パターン2
とを順次積層して、一体化したものである。
【0010】また、回路基板1の所定位置には、各導体
パターン2に接続してスルーホール4が穿設されてい
る。ここで、回路基板1に積層された各導体パターン2
は、厚さ0.1mm程度の薄い銅箔で形成されている。
これに対してスルーホール4の孔壁には銅メッキが施さ
れており、これによって各導体パターン2とスルーホー
ル4とが電気的且つ熱的に接続されている。
【0011】上記構成の回路基板1に対して、半導体装
置5は、その側部に植設された外部リード6を介して回
路基板1の導体パターン2上に実装され、且つスルーホ
ール4と対向する状態に配置される。
【0012】このような実装状態の下で本実施例の実装
構造においては、半導体装置5の下面5aと回路基板1
の導体パターン2とに接触する状態で高熱伝導性の樹脂
材7が装填されている。ここで、高熱伝導性の樹脂材7
としては、例えばエポキシ系の熱伝導性樹脂に二酸化珪
素を加えたものや、或いは熱伝導率の大きな金属粉末
(例えばAg粉末)やセラミック粉末を添加したものな
どが考えられる。
【0013】また、樹脂材7の装填方法としては、回路
基板1に半導体装置5を実装した後に、スルーホール4
を通して樹脂材7を注入する方法や、半導体装置5の外
部リード6の隙間から樹脂材7を注入する方法が考えら
れる。しかし、発熱源となるチップが半導体装置5の中
央に配置されることや、樹脂材7を注入する際の作業性
等を考慮すると、後者の方が好適である。
【0014】上記構成からなる本実施例の実装構造にお
いては、半導体装置5の下面5aと回路基板1の導体パ
ターン2とに接触する状態で高熱伝導性の樹脂材7が装
填されることで、半導体装置5と回路基板1とが樹脂材
7を介して熱的に接続される。すなわち、半導体装置5
のパッケージ内に発生した熱は、樹脂材7、スルーホー
ル4、さらには導体パターン2を通して回路基板1全体
に伝熱される。これにより、半導体装置5の発熱に対す
る全体の熱容量としては、半導体装置5自体の持つ熱容
量に回路基板1全体の熱容量を加えたものとなるため、
従来構造に比較して格段に大きく確保されるようにな
り、この構造をもって半導体装置5の発熱が抑えられ
る。
【0015】なお、図1に示す実装構造においては、高
熱伝導性の樹脂材7がスルーホール4にまで充填されて
いるが、本発明はこれに限らず、樹脂材7の注入量とし
ては半導体装置5の下面5aと回路基板1の導体パター
ン2との間に充填される程度で十分である。なぜなら、
各導体パターン2とスルーホール4とは、あらかじめ熱
伝導率のきわめて大きな導体(本例では銅)によって熱
的に接続されているからである。
【0016】
【発明の効果】以上、説明したように本発明によれば、
通常の回路基板の製造工程で形成されるスルーホールを
利用して、半導体装置の下面と回路基板の導体パターン
とに接触させた高熱伝導性の樹脂材で、半導体装置と回
路基板とを熱的に接続させることにより、半導体装置の
発熱に対する全体の熱容量が従来構造に比べて格段に大
きく確保される。これにより、大幅な価格上昇を犠牲に
して、半導体装置にセラミックパッケージを採用した
り、ヒートシンクを接続させたりすることなく、簡単な
構造上の改良によって、きわめて安価に半導体装置の温
度上昇を抑えることが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例を示す側面概略図である。
【図2】従来構造を示す側面概略図である。
【符号の説明】
1 回路基板 2 導体パターン 4 スルーホール 5 半導体装置 5a 下面 7 樹脂材

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 複数の導体パターンが積層された回路基
    板と、前記各導体パターンに接続して前記回路基板に穿
    設されたスルーホールと、前記スルーホールと対向する
    状態で前記回路基板の導体パターン上に実装された半導
    体装置とからなるものであって、 前記半導体装置の下面と前記回路基板の導体パターンと
    に接触する状態で高熱伝導性の樹脂材を装填したことを
    特徴とする半導体装置の実装構造。
JP4184451A 1992-06-17 1992-06-17 半導体装置の実装構造 Pending JPH065747A (ja)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0723388A1 (en) * 1995-01-20 1996-07-24 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd Printed circuit board
US6335862B1 (en) 1999-11-17 2002-01-01 Nec Corporation Multilayer printed wiring board provided with injection hole for thermally conductive filler

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