JPH0652288B2 - 配線検査装置 - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は配線検査装置、特に、プリント基板などの配線
パターンの正誤を検査する配線検査装置に関する。

〔共通的技術〕

一般に、配線検査装置は被検査品の正規の配線データに
もとづいて配線による接続が指定されている端子間に実
際に接続されていることを検査する導通検査と、接続が
指定されている端子以外の端子とは接続がないことを検
査する絶縁検査の２つの検査を行う。

〔従来の技術〕 従来の配線検査装置は配線データ毎に各配線の先頭の端
子と前記先頭の端子に接続される端子間で導通検査を行
い、導通していない端子は導通不良端子として記憶し、
この導通不良端子と各配線の先頭端子とによって絶縁検
査の対象となる絶縁検査端子データを作る。

任意の絶縁検査端子を選択し、その端子に検査電圧を印
加して１対多の絶縁検査を行うために他の総ての絶縁検
査端子の電圧を同時に取込み、あらかじめ設定された判
定電圧より低ければ接続されていないと判断し、高けれ
ば同時に取込んだ端子のいずれかの端子が接続されてい
ると判断する。

接続されていると判断した場合１対１の絶縁検査を行う
ために１端子づつ順次電圧を取込み同様の判断をし接続
されている端子を検出し絶縁不良端子として記憶する。

次に選択した端子と、その端子に接続されていると判断
した端子を絶縁検査端子データから削除し、絶縁検査端
子データがなくなるまで絶縁検査を続ける。

導通不良端子と絶縁不良端子を正規の配線データと比較
照合して被検査品の配線の正誤を検査する。

〔発明が解決しようとする問題点〕

上述した従来の配線検査装置は、配線データ毎に導通検
査を行い、導通不良端子と各配線データの先頭端子を絶
縁検査端子データとし、１対多の絶縁検査を行い接続さ
れていると判断した場合１対１の絶縁検査を行う。導通
不良端子がある場合１対１の絶縁検査において導通検査
で検査した端子間を再び検査するのでこの１対１の絶縁
検査は無駄な検査となり、必要以上の検査時間を費やす
という欠点があった。

〔問題点を解決するための手段〕

本発明の配線検査装置は、配線による接続の有無を示す
複数個の端子データからなる被検査品に関する正規の配
線データと配線番号を記憶する配線データ記憶手段と、
前記被検査品の任意の１端子に検査電圧を印加する検査
電圧印加手段と、前記被検査品の任意の端子を基準抵抗
に接続する検査端子接続手段と、前記基準抵抗による検
出電圧があらかじめ設定された判定電圧より高いか否か
により前記被検査品の任意の端子間の配線の有無を判定
する判定手段と、前記判定手段により導通がないと判定
された端子の端子番号と前記端子を含む配線の配線番号
を対にして端子データとして記憶する導通不良端子記憶
手段と、前記導通不良端子記憶手段に記憶された端子デ
ータと前記被検査品の正規の配線データから導通検査デ
ータと絶縁検査データを作成する検査データ作成手段
と、前記検査データ作成手段で作成した検査データと前
記判定手段での判定結果を照合し異常があった時にはそ
の内容を出力する検査結果出力手段とを含んで構成され
る。

〔実施例〕

次に、本発明の実施例について、図面を参照して詳細に
説明する。

第１図は本発明の一実施例を示すブロック図である。

第１図に示す配線検査装置は、被検査品１の正規の配線
データを登録してあるハードディスク２と、検査結果を
出力するプリンタ３と、被検査品の品名を入力するター
ミナル４とを周辺に接続しているいわゆるマイクロコン
ピュータ、メモリ等よりなる中央制御部５と、中央制御
部５からの印加端子指令信号ａをうけて−出力を接地し
た検査電圧源６の＋出力から入力した検査電圧ｃを被検
査品１の指定の１端子に出力する検査電圧印加部７と、
中央制御部５からの検査端子指令信号ｂをうけて被検査
品１の指定の１ないし複数の端子を同時にコンパレータ
１１の＋入力端子と一端を接地した基準抵抗９の他端に
接続する検査端子接続部８と、＋入力端子に入力された
検査端子接続部８からの検出電圧ｄと−入力端子に入力
された−出力を接地した判定電圧源１０の＋出力からの
出力電圧とを比較し判定信号ｅとして＋入力端子の電圧
が−入力端子の電圧より高い時に導通を示す論理１を−
入力端子の電圧の方が高い時には絶縁を示す論理０を中
央制御部５に出力するコンパレータ１１を含んで達成さ
れる。

第２図は第１図に示す検査電圧印加部７の詳細回路図で
あり、印加端子指令信号ａを入力したデコーダ４２か
ら、印加端子選択リレー群４３内のリレー１２からリレ
ー２１の１０個の各リレーのコイルに個別に印加リレー
ドライブ信号ｆが出力されリレー１２からリレー２１の
１０個のリレーのいづれか１個のリレーがドライブされ
その接点がとじる。ドライブされていないリレーの接点
は開いている。

リレー１２からリレー２１の１０個のリレーの接点のコ
モン側は全て共通線に接続されていて検査電圧ｃが印加
されている。

リレー１２からリレー２１の接点のノーマルオープン側
は各々端子３２から端子４１に個別に接続されている。

印加端子指令信号ａにより指定された端子に対応する１
個のリレーがドライブされリレーの接点が閉じて指定さ
れた端子に検査電圧ｃを印加する。（検査電圧を印加し
た端子を以後印加端子と称す。） 第３図は第１図に示す検査端子接続部８の詳細回路図で
あり、検査端子指令信号ｂを入力したラッチ回路４４か
ら検査端子選択リレー群４５のリレー２２からリレー３
１の１０個の各リレーのコイルに個別に検査リレードラ
イブ信号ｇが出力されリレー２２からリレー３１の１０
個のリレーの中から指定の１ないし複数のリレーが同時
にドライブされその接点がとじる。ドライブされていな
いリレーの接点は開いている。

リレー２２からリレー３１の１０個のリレー接点のコモ
ン側は全て共通線に接続されていて検出電圧ｄを出力す
る。

リレー２２からリレー３１の接点のノーマルオープン側
は各々端子３２から端子４１に個別に接続されている。

検査端子指令信号ｂにより指定された１ないし複数の端
子に対応するリレーがドライブされリレーの接点が閉じ
て指定された端子から検出電圧ｄを出力する。（検出電
圧を出力する端子を以後検査端子と称す。） 次に図面を用いて本実施例の動作について説明する。

第４図は中央制御部５による検査データ作成の概念図、
第５図は中央制御部の配線検査の処理手順を示すフロー
チャート、第６図は中央制御部５による１ネット内の導
通検査の処理手順を示すフローチャート、第７図は絶縁
検査の処理手順を示すフローチャート、第８図は正規の
被検査品の配線図、第９図は不具合のある被検査品の配
線図、第１０図は被検査品の正規の配線データと配線番
号、第１１図は第１０図の正規の配線データと配線番号
から作成されたネットデータ、第１２図は第１０図正規
の配線データと配線番号から作成された独立端子デー
タ、第１３図は第１０図の正規の配線データと配線番号
から作成された先頭端子データ、第１４図は第９図の不
具合のある被検査品の導通検査を実行して検出された導
通不良端子データ、第１５図は第１２図の独立端子デー
タと第１３図の先頭端子データと第１４図の導通不良端
子データとから作成された絶縁検査データ、第１６図は
第９図の不具合のある被検査品の検査結果のプリンタへ
の出力である。

ここで第１０，１２図中に示す記号＊１は配線番号を意
味する。

第５図に示したように中央制御部はターミナル４から指
定された被検査品の品名対応した配線データ（第１０
図）をハードディスクから読出し、配線データと配線番
号から複数の端子間が配線により接続されてネットを構
成しているデータだけを選択して導通検査データとなる
ネットデータ（第１１図）を作成する。

次に他の端子といっさい接続のない独立の端子のみを集
めて独立端子データ（第１２図）を作成する。既に作成
してあるネットデータ（第１１図）から各ネットの先頭
の端子を取り出して先頭端子データ（第１３図）を作成
する。

次にネットデータ（第１１図）をもとに導通検査を行
う。導通検査の手順を第６図をもとに説明する。第１１
図に示した(1)のネットデータの場合にはまず中央制御
部５は端子３４を印加端子に指定し端子３２を検査端子
にするためにそれぞれ印加端子指令信号ａと検査端子指
令信号ｂを出力する。第８図に示した正規の被検査品の
場合には導通があるのでコンパレータ１１から論理１が
出力される。

次に印加端子を端子３５に設定し端子３２との間の導通
を調べる。同様に印加端子を端子３６、端子３７を順次
移して行き端子３２との導通を調べる。第８図に示した
正規の被検査品の場合には、正常にネットが構成されて
いるのでコンパレータからは論理１が出力される。第１
１図の(2)のネットについても同様に端子４１を印加端
子に指定し端子３８を検査端子に指定して導通の確認を
行う。

ここで第９図に示した不具合のある被検査品の導通検査
を行った場合について説明する。まず、端子３４を印加
端子に指定し端子３２を検査端子に指定する。この時導
通がないのでコンパレータ１１は論理０出力するので中
央制御部５は端子34を導通不良端子として導通不良端子
データに登録する。（第１４図−(1)） 次に端子３４を検査端子に追加設定する。（この時点で
の検査端子は端子３２，３４）印加端子として次に端子
３５を設定し導通の確認を行う。以下同様に導通不良の
あった時にだけその時の印加端子を検査端子に追加設定
し印加端子を更新し、不良のない時には印加端子のみを
更新していく。

第９図の被検査品の場合には端子３７を印加端子に設定
した時にも導通がないので導通不良端子データには端子
３７も登録される。（第１４図−(2)） 中央制御部５は、１ネット分の導通検査を終了し導通不
良を検出していた時には不良箇所の端子をプリンタ３に
出力する。（第１６図−(1)） 次に中央制御部５は独立端子データ（第１２図）と先頭
端子データ（第１３図）と導通不良端子データ（第１４
図）から絶縁検査データを作成する。第８図の正規の被
検査品の場合には独立端子データと先頭端子データをあ
わせたものであり第９図の不具合のある被検査品の場合
には導通不良端子データもあるので第１５図に示したよ
うな絶縁検査データとなる。

次に中央制御部５は絶縁検査を実行する。絶縁検査の手
順は第７図に示した通りであるが第９図の被検査品を例
に絶縁検査の手順を説明する。まず中央制御部５は端子
３２を印加端子に指定し絶縁検査データ内の他の端子
（つまり端子３３，３４，３７，３８，３９，４０）を
全て検査端子に指定しコンパレータ１１の出力をチェッ
クする。この時には端子３２と端子４０の間に導通があ
るのでコンパレータは論理１を出力するので中央制御部
５は端子３２は他のいづれかの端子と絶縁の不良がある
と認識し次に検査端子を端子３３から端子４０まで１端
子づつ設定し絶縁の確認を行う。ただし、端子データの
配線番号から端子３２と端子３４、端子３７は同一ネッ
トの導通不良端子であることがわかるので端子３４と端
子３７に対して前記確認は行わない。ここで端子４０を
検査端子に設定した時に端子３２と導通があるためコン
パレータ１１は論理１を出力するので中央制御部５はこ
の時の印加端子と検査端子をプリンタに出力する。（第
１６図−(2)）又は、絶縁不良の端子として検出した端
子４０と印加端子の端子３２を絶縁検査データから削除
する。以下同様に印加端子を順次更新し絶縁検査データ
内の他の端子との絶縁不良がないか検査する。

第９図の被検査品の場合には端子３７を端子３８との間
にも導通があるため絶縁不良として検出されプリンタに
出力する。（第１６図−(3)）絶縁検査データ内の全て
の端子の絶縁検査を終了すると被検査品の配線検査を全
て完了する。

第９図に示した被検査品の検査、判定回数は従来が１８
回であるのに対して本実施例の場合は１６回となる。

〔発明の効果〕

本発明の配線検査装置は端子データとして端子番号とそ
の端子を含む配線の配線番号を対にして記憶することに
よって、導通不良端子が存在し絶縁不良が発生した場合
において絶縁不良箇所を検出するために必要最小限のコ
ンパレータの判定回数により検査を終了することができ
るので、検査時間を短縮することができるという効果が
ある。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の一実施例を示すブロック図、第２図は
第１図に示す検査電圧印加部の詳細回路図、第３図は第
１図に示す検査端子接続部の詳細回路図、第４図は検査
データ作成の概念図、第５図は中央制御部の配線検査の
処理手順を示すフローチャート、第６図は１ネット内の
導通検査の処理手順を示すフローチャート、第７図は絶
縁検査の処理手順を示すフローチャート、第８図は正規
の被検査品の配線図、第９図は不具合のある被検査品の
配線図、第１０図は被検査品の正規の配線データ、第１
１図は第１０図の正規の配線データから作成されたネッ
トデータ、第１２図は第１０図の正規の配線データから
作成された独立端子データ、第１３図は第１０図の正規
の配線データから作成された先頭端子データ、第１４図
は第９図の不具合のある被検査品の導通検査を実行して
検出された導通不良端子データ、第１５図は第１２図の
独立端子データと第１３図の先頭端子データと第１４図
の導通不良端子データとから作成された絶縁検査デー
タ、第１６図は第９図の不具合のある被検査品の検査結
果のプリンタへの出力である。 １……被検査品、２……ハードディスク、３……プリン
タ、４……ターミナル、５……中央制御部、６……検査
電圧源、７……検査電圧印加部、８……検査端子接続
部、９……基準抵抗、１０……判定電圧源、１１……コ
ンパレータ、１２〜３１……リレー、３２〜４１……端
子、４２……デコーダー、４３……印加端子選択リレー
群、４４……ラッチ回路、４５……検査端子選択リレー
群、ａ……印加端子指令信号、ｂ……検査端子指令信
号、ｃ……検査電圧、ｄ……検出電圧、ｅ……判定信
号、ｆ……印加リレードライブ信号、ｇ……検査リレー
ドライブ信号。

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】配線による接続の有無を示す複数個の端子
   データからなる被検査品に関する正規の配線データと配
   線番号を記憶する配線データ記憶手段と、前記被検査品
   の任意の１端子に検査電圧を印加する検査電圧印加手段
   と、前記被検査品の任意の端子を基準抵抗に接続する検
   査端子接続手段と、前記基準抵抗による検査電圧があら
   かじめ設定された判定電圧より高いか否かにより前記被
   検査品の任意の端子間の配線の有無を判定する判定手段
   と、前記判定手段により導通がないと判定された端子の
   端子番号と前記端子を含む配線の配線番号を対にして端
   子データとして記憶する導通不良端子記憶手段と、前記
   導通不良端子記憶手段に記憶された端子データと前記被
   検査品の正規の配線データから導通検査データと絶縁検
   査データを作成する検査データ作成手段と、前記検査デ
   ータ作成手段で作成した検査データと前記判定手段での
   判定結果を照合し異常があった時にはその内容を出力す
   る検査結果出力手段とを含むことを特徴とする配線検査
   装置。