JPH0637334A - 圧力センサの構造 - Google Patents
圧力センサの構造Info
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- JPH0637334A JPH0637334A JP23125492A JP23125492A JPH0637334A JP H0637334 A JPH0637334 A JP H0637334A JP 23125492 A JP23125492 A JP 23125492A JP 23125492 A JP23125492 A JP 23125492A JP H0637334 A JPH0637334 A JP H0637334A
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- JP
- Japan
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- diaphragm
- thin film
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- polycrystalline thin
- strain gauge
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- Pending
Links
- 239000010409 thin film Substances 0.000 claims abstract description 22
- 239000010408 film Substances 0.000 claims abstract description 15
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims abstract description 9
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 claims abstract description 9
- 239000010703 silicon Substances 0.000 claims abstract description 9
- 238000005530 etching Methods 0.000 claims abstract description 7
- 230000001681 protective effect Effects 0.000 claims abstract description 5
- 230000003647 oxidation Effects 0.000 abstract description 2
- 238000007254 oxidation reaction Methods 0.000 abstract description 2
- 229910052581 Si3N4 Inorganic materials 0.000 abstract 1
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- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 description 7
- 229910004298 SiO 2 Inorganic materials 0.000 description 1
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Landscapes
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- Pressure Sensors (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 多結晶薄膜歪ゲージを用いた圧力センサにお
いて、歪素子の特徴とシリコンダイヤフラムの応力分布
とを考慮して最適な位置に歪ゲージを配置し、高出力を
得る圧力センサの構造を提供する。 【構成】 シリコンウェハー(2)の表面に異方性エッ
チングにより長方形ダイヤフラム(3)を、裏面に絶縁
膜(5),多結晶薄膜歪ゲージ(1),保護膜(6),
電極膜(9)を、それぞれ形成し、上記多結晶薄膜歪ゲ
ージ(1)はダイヤフラム(3)の短辺A1と短辺A2
と平行にかつ短辺A1と短辺A2との中心に、電流の方
向と一致させて上記ダイヤフラム(3)の中心付近に2
本、エッジ付近に2本それぞれ配置して、4−アクティ
ブブリッジを構成する。
いて、歪素子の特徴とシリコンダイヤフラムの応力分布
とを考慮して最適な位置に歪ゲージを配置し、高出力を
得る圧力センサの構造を提供する。 【構成】 シリコンウェハー(2)の表面に異方性エッ
チングにより長方形ダイヤフラム(3)を、裏面に絶縁
膜(5),多結晶薄膜歪ゲージ(1),保護膜(6),
電極膜(9)を、それぞれ形成し、上記多結晶薄膜歪ゲ
ージ(1)はダイヤフラム(3)の短辺A1と短辺A2
と平行にかつ短辺A1と短辺A2との中心に、電流の方
向と一致させて上記ダイヤフラム(3)の中心付近に2
本、エッジ付近に2本それぞれ配置して、4−アクティ
ブブリッジを構成する。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、圧力センサに関するも
のである。
のである。
【0002】
【従来の技術】従来、図4,図5に示すように、シリコ
ンウェハー11の表面に、異方性エッチングにより長方
形のダイヤフラム12を形成した圧力センサには、拡散
歪ゲージ10を使用しており、その配置は主としてダイ
ヤフラム12の応力分布と拡散歪ゲージ10の結晶方向
により決定されている。
ンウェハー11の表面に、異方性エッチングにより長方
形のダイヤフラム12を形成した圧力センサには、拡散
歪ゲージ10を使用しており、その配置は主としてダイ
ヤフラム12の応力分布と拡散歪ゲージ10の結晶方向
により決定されている。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】本発明の多結晶薄膜歪
ゲージを使用した圧力センサでは、歪ゲージの電流の方
向に対して、歪ゲージとしての感度が異なり、従来の拡
散歪ゲージ10と同じ配置をした場合には、充分な出力
が得られないという問題があった。尚、歪ゲージの電流
の流れる方向と平行な向きに対する歪感度を縦感度、垂
直な向きを横感度と表現すると以下の相違があった。 拡散歪ゲージ 縦感度:横感度≒1:1 薄膜歪ゲージ 縦感度:横感度≒1:0.1〜0.3
ゲージを使用した圧力センサでは、歪ゲージの電流の方
向に対して、歪ゲージとしての感度が異なり、従来の拡
散歪ゲージ10と同じ配置をした場合には、充分な出力
が得られないという問題があった。尚、歪ゲージの電流
の流れる方向と平行な向きに対する歪感度を縦感度、垂
直な向きを横感度と表現すると以下の相違があった。 拡散歪ゲージ 縦感度:横感度≒1:1 薄膜歪ゲージ 縦感度:横感度≒1:0.1〜0.3
【0004】
【課題を解決するための手段】本発明は前記課題を解決
するためになされたもので、実施例に対応する図1〜図
3で説明すると、本発明による圧力センサの構造は、シ
リコンウェハー2の表面に異方性エッチングにより長方
形ダイヤフラム3を、裏面に絶縁膜5,多結晶薄膜歪ゲ
ージ1,保護膜6,電極膜7を、それぞれ形成し、上記
多結晶薄膜歪ゲージ1は、ダイヤフラム3の短辺A1と
短辺A2と平行にかつ短辺A1と短辺A2との中心に、
電流の方向と一致させて上記ダイヤフラム3の中心付近
に2本、エッジ付近に2本それぞれ配置して、4−アク
ティブブリッジを構成したものである。
するためになされたもので、実施例に対応する図1〜図
3で説明すると、本発明による圧力センサの構造は、シ
リコンウェハー2の表面に異方性エッチングにより長方
形ダイヤフラム3を、裏面に絶縁膜5,多結晶薄膜歪ゲ
ージ1,保護膜6,電極膜7を、それぞれ形成し、上記
多結晶薄膜歪ゲージ1は、ダイヤフラム3の短辺A1と
短辺A2と平行にかつ短辺A1と短辺A2との中心に、
電流の方向と一致させて上記ダイヤフラム3の中心付近
に2本、エッジ付近に2本それぞれ配置して、4−アク
ティブブリッジを構成したものである。
【0005】
【作用】シリコンウェハー2の表面に異方性エッチング
により長方形ダイヤフラム3を形成することにより、圧
力が加わると、図6に示すようにダイヤフラム3が変形
し、応力が発生する。ここで長方形のダイヤフラム3の
場合、発生する応力は短辺部のEに対し、長辺部のDが
大きく、同様に短辺部のFに対して長辺部のCが大きく
発生する。尚、この場合、長辺部のDの圧縮応力より長
辺部のCの圧縮応力が大となる。また、ダイヤフラム3
の中心部に発生する引張り応力は、B方向に対してA方
向が大きい。従って、本発明では応力の高いA方向に多
結晶薄膜歪ゲージ1を2本、C方向に同様に2本配置し
てある。依って、応力の高い方向と多結晶薄膜歪ゲージ
1の電流の方向とを一致させることにより、多結晶薄膜
歪ゲージ1の抵抗変化を大きくとることができる。
により長方形ダイヤフラム3を形成することにより、圧
力が加わると、図6に示すようにダイヤフラム3が変形
し、応力が発生する。ここで長方形のダイヤフラム3の
場合、発生する応力は短辺部のEに対し、長辺部のDが
大きく、同様に短辺部のFに対して長辺部のCが大きく
発生する。尚、この場合、長辺部のDの圧縮応力より長
辺部のCの圧縮応力が大となる。また、ダイヤフラム3
の中心部に発生する引張り応力は、B方向に対してA方
向が大きい。従って、本発明では応力の高いA方向に多
結晶薄膜歪ゲージ1を2本、C方向に同様に2本配置し
てある。依って、応力の高い方向と多結晶薄膜歪ゲージ
1の電流の方向とを一致させることにより、多結晶薄膜
歪ゲージ1の抵抗変化を大きくとることができる。
【0006】
【実施例】以下、本発明を図により説明する。図1,図
2に示すように、本発明による圧力センサの構造は、シ
リコンウェハー2の表面から1.4×2.1mmの長方
形ダイヤフラム3を異方性エッチングにより形成する。
この時のダイヤフラム3の厚さは約30μmである。裏
面には、熱酸化またはP.C.V.D等により絶縁膜5
を形成し、その上にP.C.V.D等により多結晶薄膜
歪ゲージ1をデポジットしてフォトリソグラフィにより
パターニングし、SOI構造とする。その後Si
3N4、SiO2などの保護膜6、Alなどの電極膜7
を形成パターニングして4−アクティブブリッジを構成
する。この場合、多結晶薄膜歪ゲージ1はダイヤフラム
3の短辺A1と短辺A2と平行にかつ短辺A1と短辺A
2との中心に、電流の方向と一致させて上記ダイヤフラ
ム3の中心付近に2本、エッジ付近に2本それぞれ配置
する。以上により形成したシリコンウェハー2をダイシ
ングし、ケースに接着して、ボンディング等の配線を行
って圧力センサとする。
2に示すように、本発明による圧力センサの構造は、シ
リコンウェハー2の表面から1.4×2.1mmの長方
形ダイヤフラム3を異方性エッチングにより形成する。
この時のダイヤフラム3の厚さは約30μmである。裏
面には、熱酸化またはP.C.V.D等により絶縁膜5
を形成し、その上にP.C.V.D等により多結晶薄膜
歪ゲージ1をデポジットしてフォトリソグラフィにより
パターニングし、SOI構造とする。その後Si
3N4、SiO2などの保護膜6、Alなどの電極膜7
を形成パターニングして4−アクティブブリッジを構成
する。この場合、多結晶薄膜歪ゲージ1はダイヤフラム
3の短辺A1と短辺A2と平行にかつ短辺A1と短辺A
2との中心に、電流の方向と一致させて上記ダイヤフラ
ム3の中心付近に2本、エッジ付近に2本それぞれ配置
する。以上により形成したシリコンウェハー2をダイシ
ングし、ケースに接着して、ボンディング等の配線を行
って圧力センサとする。
【0007】ダイヤフラム3の中心部に発生する引張り
応力は、図6を用いて説明したようにB方向に対してA
方向が大きい。従って、応力の高いA方向に多結晶薄膜
歪ゲージ1を2本、C方向に同様に2本配置してあるの
で、応力の高い方向と多結晶薄膜歪ゲージ1の電流の方
向とを一致させることにより、多結晶薄膜歪ゲージ1の
抵抗変化を大きくとることができる。この圧力センサに
定格圧力の1kg/cm2を加えた場合、75mVの出
力が得られた。この出力は、従来の拡散歪ゲージと同様
の横方向配置をした場合と比較して3.1倍の出力であ
った。
応力は、図6を用いて説明したようにB方向に対してA
方向が大きい。従って、応力の高いA方向に多結晶薄膜
歪ゲージ1を2本、C方向に同様に2本配置してあるの
で、応力の高い方向と多結晶薄膜歪ゲージ1の電流の方
向とを一致させることにより、多結晶薄膜歪ゲージ1の
抵抗変化を大きくとることができる。この圧力センサに
定格圧力の1kg/cm2を加えた場合、75mVの出
力が得られた。この出力は、従来の拡散歪ゲージと同様
の横方向配置をした場合と比較して3.1倍の出力であ
った。
【0008】
【発明の効果】高い応力の位置に多結晶薄膜歪ゲージを
配置し、しかも歪感度の高い向きにパターニングしてあ
るため、ダイヤフラムの変形に対して多結晶薄膜歪ゲー
ジの抵抗変化が大きく得られ、充分な出力が得られる。
さらに、拡散歪ゲージと同様に横方向の配置をした場合
と比較して、2〜3倍の高出力が得られる。また、多結
晶薄膜歪ゲージのパターンを小さくしてスポット配置を
行うとさらに大きな出力が得られる。
配置し、しかも歪感度の高い向きにパターニングしてあ
るため、ダイヤフラムの変形に対して多結晶薄膜歪ゲー
ジの抵抗変化が大きく得られ、充分な出力が得られる。
さらに、拡散歪ゲージと同様に横方向の配置をした場合
と比較して、2〜3倍の高出力が得られる。また、多結
晶薄膜歪ゲージのパターンを小さくしてスポット配置を
行うとさらに大きな出力が得られる。
【図1】本発明による圧力センサの平面図。
【図2】本発明による圧力センサの断面図。
【図3】本発明による圧力センサの断面詳細図。
【図4】従来の圧力センサの平面図。
【図5】従来の圧力センサの断面図。
【図6】シリコンダイヤフラムの応力線図。
1 多結晶薄膜歪ゲージ 2,11 シリコンウェハー 3,12 ダイヤフラム 4 ダイヤフラムエッジ 5 絶縁膜 6 保護膜 7 電極膜 10 拡散歪ゲージ
Claims (1)
- 【請求項1】 シリコンウェハー(2)の表面に異方性
エッチングにより長方形ダイヤフラム(3)を、裏面に
絶縁膜(5),多結晶薄膜歪ゲージ(1),保護膜
(6),電極膜(7)を、それぞれ形成し、上記多結晶
薄膜歪ゲージ(1)は上記ダイヤフラム(3)の短辺A
1と短辺A2と平行にかつ短辺A1と短辺A2との中心
に、電流の方向と一致させて上記ダイヤフラム(3)の
中心付近に2本、エッジ付近に2本それぞれ配置して、
4−アクティブブリッジを構成したことを特徴とする圧
力センサの構造。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP23125492A JPH0637334A (ja) | 1992-07-16 | 1992-07-16 | 圧力センサの構造 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP23125492A JPH0637334A (ja) | 1992-07-16 | 1992-07-16 | 圧力センサの構造 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0637334A true JPH0637334A (ja) | 1994-02-10 |
Family
ID=16920739
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP23125492A Pending JPH0637334A (ja) | 1992-07-16 | 1992-07-16 | 圧力センサの構造 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0637334A (ja) |
Cited By (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2011125923A1 (ja) * | 2010-04-01 | 2011-10-13 | 日立オートモティブシステムズ株式会社 | 熱式流量センサ |
US20160282205A1 (en) * | 2015-03-26 | 2016-09-29 | Sensata Technologies, Inc. | Semiconductor strain gauge |
US10323998B2 (en) | 2017-06-30 | 2019-06-18 | Sensata Technologies, Inc. | Fluid pressure sensor |
CN109913880A (zh) * | 2017-12-13 | 2019-06-21 | 南京机器人研究院有限公司 | 一种焊接件表面保护方法 |
US10488289B2 (en) | 2016-04-11 | 2019-11-26 | Sensata Technologies, Inc. | Pressure sensors with plugs for cold weather protection and methods for manufacturing the plugs |
US10545064B2 (en) | 2017-05-04 | 2020-01-28 | Sensata Technologies, Inc. | Integrated pressure and temperature sensor |
US10557770B2 (en) | 2017-09-14 | 2020-02-11 | Sensata Technologies, Inc. | Pressure sensor with improved strain gauge |
US10724907B2 (en) | 2017-07-12 | 2020-07-28 | Sensata Technologies, Inc. | Pressure sensor element with glass barrier material configured for increased capacitive response |
US10871413B2 (en) | 2016-04-20 | 2020-12-22 | Sensata Technologies, Inc. | Method of manufacturing a pressure sensor |
-
1992
- 1992-07-16 JP JP23125492A patent/JPH0637334A/ja active Pending
Cited By (14)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2011215062A (ja) * | 2010-04-01 | 2011-10-27 | Hitachi Automotive Systems Ltd | 熱式流量センサ |
US8935959B2 (en) | 2010-04-01 | 2015-01-20 | Hitachi Automotive Systems, Ltd. | Thermal type flow rate sensor |
WO2011125923A1 (ja) * | 2010-04-01 | 2011-10-13 | 日立オートモティブシステムズ株式会社 | 熱式流量センサ |
US20160282205A1 (en) * | 2015-03-26 | 2016-09-29 | Sensata Technologies, Inc. | Semiconductor strain gauge |
US9714876B2 (en) * | 2015-03-26 | 2017-07-25 | Sensata Technologies, Inc. | Semiconductor strain gauge |
US10488289B2 (en) | 2016-04-11 | 2019-11-26 | Sensata Technologies, Inc. | Pressure sensors with plugs for cold weather protection and methods for manufacturing the plugs |
US10871413B2 (en) | 2016-04-20 | 2020-12-22 | Sensata Technologies, Inc. | Method of manufacturing a pressure sensor |
US11105698B2 (en) | 2017-05-04 | 2021-08-31 | Sensata Technologies, Inc. | Method of assembling a sensing device having a double clinch seal |
US10545064B2 (en) | 2017-05-04 | 2020-01-28 | Sensata Technologies, Inc. | Integrated pressure and temperature sensor |
US10969288B2 (en) | 2017-06-30 | 2021-04-06 | Sensata Technologies, Inc. | Fluid pressure sensor |
US10323998B2 (en) | 2017-06-30 | 2019-06-18 | Sensata Technologies, Inc. | Fluid pressure sensor |
US10724907B2 (en) | 2017-07-12 | 2020-07-28 | Sensata Technologies, Inc. | Pressure sensor element with glass barrier material configured for increased capacitive response |
US10557770B2 (en) | 2017-09-14 | 2020-02-11 | Sensata Technologies, Inc. | Pressure sensor with improved strain gauge |
CN109913880A (zh) * | 2017-12-13 | 2019-06-21 | 南京机器人研究院有限公司 | 一种焊接件表面保护方法 |
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