JPH0636175B2 - CAD device with test data editing function - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 〔概要〕 テストデータ編集機能付ＣＡＤ装置であって、既に定義
済みのピンのうち任意のピン(Pn)が指定された時に、該
ピン(Pn)に対応のテストデータ(TDn)に対しファインド
手段（４）を用いて任意の時点を設定し、この設定され
た時点より後の時点において該テストデータ(TDn)のパ
ターン変化点を検出し、この検出されたパターン変化点
の部分を表示手段（２）の画面上で指示することによ
り、テストデータ編集の効率化を図り、テストデータ相
互間の容易なチェックを可能とする。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Outline] A CAD device with a test data editing function, wherein when an arbitrary pin (Pn) among the already defined pins is designated, the test data corresponding to the pin (Pn) is specified. An arbitrary time point is set for (TDn) using the finding means (4), a pattern change point of the test data (TDn) is detected at a time point after the set time point, and the detected pattern change point is detected. By designating the portion of the dot on the screen of the display means (2), the efficiency of editing the test data can be improved and the test data can be easily checked.

〔産業上の利用分野〕[Industrial application field]

本発明は、テストデータ編集機能付ＣＡＤ（コンピュー
タ支援設計）装置に関し、より詳細にはゲートアレイ、
スタンダードセル等の論理ＩＣ（集積回路）または論理
ＬＳＩ（大規模集積回路）を設計する際に該論理ＩＣま
たは論理ＬＳＩの外部端子用ピンを指定して該ピンに対
応するテストパターンのデータを入力し、論理シミュレ
ーション用のテストデータを編集する機能を備えたＣＡ
Ｄ装置に関する。The present invention relates to a CAD (Computer Aided Design) device with a test data editing function, and more particularly to a gate array,
When designing a logic IC (integrated circuit) or a logic LSI (large-scale integrated circuit) such as a standard cell, a pin for an external terminal of the logic IC or the logic LSI is designated and data of a test pattern corresponding to the pin is input. CA with the function to edit test data for logical simulation
D device.

〔従来の技術、および発明が解決しようとする問題点〕[Prior art and problems to be solved by the invention]

ＣＡＤ装置、より広くはＣＡＤシステム、を用いて論理
シミュレーション用のテストデータの編集を行う場合、
通常用いられている手順としては、まずオペレータがキ
ーボードよりＩＣまたはＬＳＩの外部端子用ピンを指示
するデータを入力し、それに続いて該ピンに対応するテ
ストパターンのデータを入力する。ピンのデータは、外
部端子名、例えばVCC（電源）、ＣＬＫ（クロック）、
Ｄ（データ）、Ｂ（バス）等、とその属性、すなわちＩ
（信号入力用）かＯ（信号出力用）かの指定、との組合
せにより規定される。一方、テストパターンデータは、
信号入力用の属性を有するピンについては実際に入力さ
れる信号のデータが入力され、信号出力用の属性を有す
るピンについては出力されるべき期待値のデータが入力
され、タイミングデータとパターンデータの組合せによ
り規定される。このように所定の規定に基づき記述され
たテストデータは“テキスト”と呼ばれているが、この
テキスト方式に基づいてキーボードより入力された各デ
ータは、ＣＲＴ（陰極線管）表示器にそのままの状態
で、すなわちキー入力時の言語形態の状態で表示され
る。When editing test data for logic simulation using a CAD device, more broadly a CAD system,
As a normally used procedure, an operator first inputs data indicating an external terminal pin of an IC or LSI from a keyboard, and then inputs data of a test pattern corresponding to the pin. Pin data can be external terminal names such as VCC (power supply), CLK (clock),
D (data), B (bus), etc. and their attributes, that is, I
It is defined by a combination of designation (for signal input) or O (for signal output). On the other hand, the test pattern data is
The data of the signal that is actually input is input to the pin that has the attribute for signal input, and the expected value data that should be output is input to the pin that has the attribute of signal output. Specified by the combination. Although the test data described in accordance with the predetermined rules is called "text", each data input from the keyboard based on this text system is displayed in the CRT (cathode ray tube) display as it is. That is, it is displayed in the state of the language form at the time of key input.

第６図には従来形の一例としてのテストデータの表示例
が示され、第７図には第６図の表示内容を表わす波形が
示される。FIG. 6 shows a display example of test data as an example of the conventional type, and FIG. 7 shows waveforms showing the display contents of FIG.

第６図においてＤＳＰは表示画面を表わし、VCC，Ｂ
０，Ｂ１，…，Ｄ０，Ｄ１，…、は外部端子（ピン）名
を、ＩおよびＯは属性を、20Ｈ，30Ｈ，50Ｌ，…、はテ
ストパターンデータを、それぞれ示す。例えば、双方向
信号用の端子Ｂ１に対応するデータは、５０(ns)の時点
で立上り（Ｈ）、７０(ns)の時点で立下り（Ｌ）、８０
(ns)の時点で立上り（Ｈ）、以降同様に変化し、最後は
140(ns)の時点で立下る（Ｌ）といった変化をする信号
を表わしている。In FIG. 6, DSP represents a display screen, and VCC, B
, 0, B1, ..., D0, D1, ... represent external terminal (pin) names, I and O represent attributes, and 20H, 30H, 50L, ... Represent test pattern data. For example, the data corresponding to the bidirectional signal terminal B1 has a rising edge (H) at 50 (ns), a falling edge (L) at 70 (ns), and 80
At the time of (ns), it rises (H), then changes in the same way, and finally
It represents a signal that changes such as falling (L) at the time of 140 (ns).

第６図に示される一表示例からも明らかなように従来の
テストデータ編集の形態によれば、外部ピンに対応のテ
ストデータが言語の形態で表示されるようになっている
ため、第６図に示される表示内容が第７図に示される波
形を表わすものであることを即座にかつ正確に認識する
ことは難しく、従って、いったん表示させたテストデー
タを後でオペレータが入力チェックする際にはその作業
が極めて煩雑なものとなり、場合によってはオペレータ
の入力ミスをひき起こす場合もあり、強いてはテストデ
ータ編集の効率が全体的に低下するという問題があっ
た。As is clear from the display example shown in FIG. 6, according to the conventional test data editing mode, the test data corresponding to the external pin is displayed in the language mode. It is difficult to immediately and accurately recognize that the display contents shown in the figure represent the waveform shown in FIG. 7, and therefore, when the operator displays the test data once displayed, the operator can check the input later. Has a problem in that the work becomes extremely complicated and may cause an input error by the operator in some cases, which inevitably reduces the efficiency of editing the test data as a whole.

また、既に定義されている複数のピンにそれぞれ対応す
るデストデータにおいて任意の時点における該テストデ
ータ相互間のレべル関係をチェックしたい場合、または
該任意の時点において各テストデータの再編集を行う場
合には、従来のテストデータ編集の形態によれば手計算
によりパターン変化点の時点を見つけるようにしている
ため、その作業が煩雑で、しかも時間を要し、場合によ
っては操作ミスをひき起こすという不都合があった。こ
のようなことは、テストデータ編集の効率化をさらに妨
げるものであるので好ましくない。Further, when it is desired to check the level relationship between the test data at any time in the destination data corresponding to each of a plurality of already defined pins, or each test data is re-edited at the arbitrary time. In this case, according to the conventional form of test data editing, the time point of the pattern change point is found by manual calculation, so the work is complicated and time consuming, and in some cases an operation error is caused. There was an inconvenience. This is not preferable because it further hinders the efficiency of editing the test data.

本発明は、上述した従来技術における問題点に鑑み創作
されたもので、テストデータ編集の効率化を図ると共
に、オペレータの操作ミスを極少にし、テストデータ相
互間の容易なチェックを可能にするテストデータ編集機
能付ＣＡＤ装置を提供することを目的としている。The present invention was created in view of the above-mentioned problems in the conventional technology, and improves the efficiency of test data editing, minimizes operator's operation mistakes, and enables easy checking between test data. It is intended to provide a CAD device with a data editing function.

〔問題点を解決するための手段〕[Means for solving problems]

第１図には本発明によるテストデータ編集機能付ＣＡＤ
装置の原理ブロック図が示される。FIG. 1 shows a CAD with a test data editing function according to the present invention.
A principle block diagram of the device is shown.

第１図において１はデータ入力手段であって、集積回路
の外部端子用ピン(Pi)を指示するデータ(PDi)と該ピン
に対応するテストデータ(TDi)を入力するためのもので
ある。（２）は表示手段であって、データ入力手段
（１）より入力されたピンのデータ(PDi)を表示すると
共に、該ピンに対応のテストデータ(TDi)をグラフィッ
ク表示する機能を有している。従って、入力されたテス
トデータは言語形態ではなく波形の形態で表示される。
（３）は記憶手段であって、入力されたピンのデータ(P
Di)および該ピンに対応のテストデータ(TDi)を記憶す
る。In FIG. 1, reference numeral 1 is a data input means for inputting data (PDi) designating an external terminal pin (Pi) of the integrated circuit and test data (TDi) corresponding to the pin. (2) is a display means, which has a function of displaying the data (PDi) of the pin input from the data input means (1) and graphically displaying the test data (TDi) corresponding to the pin. There is. Therefore, the input test data is displayed in the form of a waveform instead of the language.
(3) is a storage means, and the input pin data (P
Di) and the test data (TDi) corresponding to the pin are stored.

（４）はファインド手段であり、記憶手段（３）に既に
定義済みのピンのうち任意のピン(Pn)が指定された時
に、データ入力手段（１）からの第１の指令信号(FD)に
応答して上述の任意のピン(Pn)に対応のテストデータ(T
Dn)に対し任意の時点を設定し、該設定された時点より
後の時点において該テストデータ(TDn)のパターン変化
点(PT)を検出する機能を有している。（５）は表示制御
手段であって、ファインド手段（４）からの指令に基づ
き該パターン変化点(PT)の部分を表示手段(2)の画面上
で指示する機能を有している。Reference numeral (4) is a finding means, which is a first command signal (FD) from the data input means (1) when an arbitrary pin (Pn) among the pins already defined in the storage means (3) is designated. In response to the test data (Tn
It has a function of setting an arbitrary time point for Dn) and detecting a pattern change point (PT) of the test data (TDn) at a time point after the set time point. A display control means (5) has a function of instructing a portion of the pattern change point (PT) on the screen of the display means (2) based on a command from the find means (4).

〔作用〕[Action]

本発明によるテストデータ編集機能付ＣＡＤ装置におい
ては、記憶手段（３）に既に定義済みのピンのうち任意
のピン(Pn)が指定された時に、ファインド手段（４）は
データ入力手段（１）からの指令信号(FD)に応答して上
述の任意のピン(Pn)に対応のテストデータ(TDn)に対し
任意の時点を設定し、この設定された時点より後の時点
においてこのテストデータ(TDn)のパターンが変化して
いる点、すなわちパターン変化点(PT)を検出（ファイン
ド）する。このファインドされたパターン変化点(PT)の
部分は、表示制御手段（５）により、表示手段（２）の
画面上で表示される。In the CAD device with the test data editing function according to the present invention, when any pin (Pn) among the already defined pins is designated in the memory means (3), the find means (4) causes the data input means (1). In response to a command signal (FD) from, set an arbitrary time point for the test data (TDn) corresponding to the above-mentioned arbitrary pin (Pn), and set this test data (TDn) at a time point after this set time point. The point where the pattern of TDn) has changed, that is, the pattern change point (PT) is detected (find). The portion of the found pattern change point (PT) is displayed on the screen of the display means (2) by the display control means (5).

このように本発明の装置は、任意のテストデータ(TDn)
に対し必要に応じてファインド機能を働かせ、ファイン
ドされたパターン変化点(PT)の部分を表示画面上でグラ
フィック的に指示させることにより、データの認識度を
向上させてオペレータの操作ミスを極少にし、テストデ
ータ相互間の容易なチェックを可能にすると共に、テス
トデータ編集の効率化を図るものである。As described above, the device of the present invention can be used for arbitrary test data (TDn)
On the other hand, the find function is activated as necessary, and the portion of the pattern change point (PT) that has been found is indicated graphically on the display screen, improving the data recognition and minimizing operator error. , The test data can be easily checked with each other, and the test data can be edited efficiently.

〔実施例〕〔Example〕

第２図には本発明の一実施例としてのテストデータ編集
機能付ＣＡＤ装置の概略的なシステム構成が示される。
同図において（２０）はデータバス、制御バス等からな
るシステムバスであり、このバス（２０）を介してキー
ボード（２１）、表示器（２２）、メモリ（２３）、Ｍ
ＰＵ（マイクロプロセッサユニット）（２４）およびマ
ウス（２５）が互いに接続されている。FIG. 2 shows a schematic system configuration of a CAD device with a test data editing function as an embodiment of the present invention.
In the figure, (20) is a system bus composed of a data bus, a control bus, and the like, and a keyboard (21), a display (22), a memory (23), an M via this bus (20).
A PU (microprocessor unit) (24) and a mouse (25) are connected to each other.

キーボード（２１）は、テンキー、アルファベットキー
等の通常のキーの他に、表示器（２２）の画面に表示さ
れているデータの変更(change)、削除(delete)、挿入(i
nsert)、移動(move)、スクロール(scroll)等を行うため
のファンクションキーを備え、さらに本発明の特徴をな
すファインド(find)キーを備えている。このキーボード
（２１）は、ＩＣまたはＬＳＩの外部端子用ピンを指示
するデータとこのピンに対応するテストパターンのデー
タとを入力するためのものであり、第１図に示されるデ
ータ入力手段（１）に相当する。ピンを指示するデータ
は、ピン名、例えばＶCC（電源）、ＣＬＫ（クロッ
ク）、Ｄ（データ）、Ｂ（バス）等、とその属性、すな
わちＩ（信号入力用）かＯ（信号出力用）かの指定、と
の組合せにより規定され、実際の入力操作に際してはテ
ンキーおよびアルファベットキーの操作によりデータが
入力される。一方、テストパターンデータについては、
方向キーを用いてタイミングを設定し、テンキーおよび
アルファベットキーを用いてテストパターンデータの入
力が行われるようになっている。例えば、２０(ns)の時
点でパルスデータを入力する場合には、まず右向きの方
向キーを２０回操作し、それから“１”のキーを操作す
ればよい。The keyboard (21) is used to change (delete), delete (delete) and insert (i) data displayed on the screen of the display (22) in addition to ordinary keys such as ten keys and alphabet keys.
It has function keys for performing nsert, move, scroll, etc., and further has a find key which is a feature of the present invention. The keyboard (21) is for inputting data indicating an IC or LSI external terminal pin and data of a test pattern corresponding to the pin, and is a data input means (1) shown in FIG. ) Is equivalent to. The data indicating a pin is a pin name, for example, Vcc (power supply), CLK (clock), D (data), B (bus), and the attribute thereof, that is, I (for signal input) or O (for signal output). It is defined by a combination of the designation and, and in the actual input operation, data is input by operating the ten keys and the alphabet keys. On the other hand, for the test pattern data,
Timing is set using the direction keys, and test pattern data is input using the ten keys and the alphabet keys. For example, when inputting pulse data at the time of 20 (ns), first, the right direction key is operated 20 times, and then the “1” key is operated.

表示器（２２）は、キーボード（２１）より入力された
各データを表示するためのもので、ピンを指示するデー
タ、すなわちピン名とその属性については通常の表示を
行い、テストパターンデータについては波形表示の形態
でグラフィック表示を行う。この場合、信号出力用の属
性をもつピンのテストデータについては、波形表示と共
に、キー入力時の言語形態の状態、すなわち“Ｈ”また
は“Ｌ”、が表示される。表示器（２２）は、第１図に
示される表示手段（２）に相当する。メモリ（２３）
は、(MPU 24)が行う処理を表わすプログラムの他に、キ
ーボード（２１）より入力された各データを記憶するた
めのものであり、第１図の記憶手段（３）に相当する。The display (22) is for displaying each data input from the keyboard (21), and displays the data designating the pin, that is, the pin name and its attribute as usual, and the test pattern data. Graphic display is provided in the form of waveform display. In this case, regarding the test data of the pin having the attribute for signal output, the state of the language form at the time of key input, that is, "H" or "L" is displayed together with the waveform display. The display (22) corresponds to the display means (2) shown in FIG. Memory (23)
Is for storing each data input from the keyboard (21) in addition to the program representing the processing performed by the (MPU 24), and corresponds to the storage means (3) in FIG.

(MPU 24)は、メモリ（２３）に記憶されているプログラ
ムに基づき所定の処理を実行し、その基本的な機能とし
ては、キーボード（２１）より入力された各データをメ
モリ（２３）に一時格納すると共に表示器（２２）にグ
ラフィック表示させる。他の機能として(MPU 24)は、メ
モリ（２３）に既に定義済みのピンのうち任意のピンが
指定された時に、キーボード（２１）からのファインド
指令に基づいて上述の任意のピンに対応のテストデータ
に対し任意の時点を設定し、この設定された時点より後
の時点においてこのテストデータのパターン変化点をフ
ァインド（検出）する機能を有している。さらに他の機
能として(MPU 24)は、このパターン変化点の部分を表示
器（２２）の画面上で指示する機能を有している。ま
た、さらに他の機能として(MPU 24)は、キーボード（２
１）からのスクロール指令に基づいて上述のパターン変
化点の部分が表示器（２２）の画面上で左端にくるよう
に表示データをスクロールさせる機能を有している。実
際上の処理においては、上述したファインド指令および
スクロール指令に基づくデータの表示は、オペレータが
キーボード（２１）よりファインドキーの操作、指定さ
れた任意のピンに対応のテストデータに対する任意の時
点の設定、およびスクロールキーの操作を行うことによ
り、実行される。この(MPU 24)は、第１図に示されるフ
ァインド手段（４）および表示制御手段（５）に相当す
る。The (MPU 24) executes a predetermined process based on the program stored in the memory (23), and the basic function thereof is to temporarily store each data input from the keyboard (21) in the memory (23). The data is stored and displayed graphically on the display (22). As another function, the (MPU 24) corresponds to any of the above-mentioned pins based on the find command from the keyboard (21) when any of the pins already defined in the memory (23) is designated. It has a function of setting an arbitrary time point on the test data and finding (detecting) a pattern change point of the test data at a time point after the set time point. As another function, the (MPU 24) has a function of indicating the pattern change point portion on the screen of the display (22). In addition, as another function (MPU 24), the keyboard (2
Based on the scroll command from 1), it has a function of scrolling the display data so that the above-mentioned pattern change point portion comes to the left end on the screen of the display (22). In the actual process, the display of the data based on the above-mentioned find command and scroll command is performed by the operator operating the find key from the keyboard (21) and setting the test data corresponding to any specified pin at any time. It is executed by operating the, and scroll keys. This (MPU 24) corresponds to the finding means (4) and the display control means (5) shown in FIG.

マウス（２５）は、手動操作に基づいて表示器（２２）
の画面上の位置の指定を行うためのものである。The mouse (25) is an indicator (22) based on manual operation.
This is for specifying the position on the screen of.

第３図には第２図のＣＡＤ装置によるテストデータ編集
を説明するためのフローチャートが示される。FIG. 3 shows a flow chart for explaining the test data editing by the CAD device of FIG.

まず、ステップ301では編集するテストデータ名が定義
され、ステップ302ではＩＣまたはＬＳＩのピン数Ｎの
設定と変数ｉの初期設定が行われる。次のステップ303
においては、ＶCC、ＣＬＫ、Ｄ、Ｂ等のピン名と、信号
入力用（Ｉ）または信号出力用（Ｏ）を指示する属性と
が定義される。ステップ301〜303は、キーボード（２
１）からの入力操作により実行される。なお、ピン名(P
i)に付与される変数ｉは、ピンの配列順序に従うのでは
なく、オペレータが定義するピンのデータ入力順に従
う。次のステップ304では、キーボード（２１）より入
力されたテストデータ名、ピン名およびその属性が表示
器（２２）に表示される。ステップ305ではテストデー
タ(TDi)（この場合は(TD₁)の入力操作が行われ、ステッ
プ306ではこのテストデータ(TD₁)が表示器（２２）にグ
ラフィック表示される。ステップ305および306は実際
上、同時的に実行される。従って、オペレータは表示器
（２２）の画面上で自ら入力したテストデータを波形の
形態で確認することができるので、データの認識度が高
まり、これによって入力ミスが減少すると共に、テスト
データの入力チェックを簡単に行うことができる。First, in step 301, a test data name to be edited is defined, and in step 302, the number N of pins of the IC or LSI and the initial setting of the variable i are performed. Next Step 303
In, the pin names such as Vcc, CLK, D, and B and the attributes for instructing signal input (I) or signal output (O) are defined. Steps 301-303 are for keyboard (2
It is executed by the input operation from 1). The pin name (P
The variable i given to i) does not follow the pin arrangement order but follows the pin data input order defined by the operator. In the next step 304, the test data name, pin name and their attributes input from the keyboard (21) are displayed on the display (22). In step 305, the test data (TDi) (in this case, (TD ₁ )) is input, and in step 306, this test data (TD ₁ ) is displayed graphically on the display (22). In practice, the operations are performed simultaneously, so that the operator can confirm the test data input by himself / herself on the screen of the display (22) in the form of a waveform, thereby increasing the degree of recognition of the data and thereby inputting the data. The number of mistakes is reduced and the input check of the test data can be easily performed.

次のステップ307では表示器（２２）の画面に表示され
ているデータ、すなわちテストデータ名、ピン名、属性
およびテストデータ、がメモリ（２３）に記憶され、ス
テップ308では論理シミュレーション用のテストデータ
作成が行われる。ステップ307および308は、(MPU 24)に
より実行される。次のステップ309においては、メモリ
（２３）に既に定義済みのピンのうち任意のピン(Pn)が
指定された(YES)か否(NO)かの判定が行われる。この判
定は、キーボード（２１）からのキー操作に基づいて行
われるものであるが、もし判定がＹＥＳの場合にはステ
ップ310に進み、ＮＯの場合にはステップ311に飛ぶ。ス
テップ310ではファインド指令が出された(YES)か否(NO)
かの判定が行われる。この判定は、キーボード（２１）
からのファインドキーの操作に基づいて行われるもので
あるが、もし判定がＮＯの場合にはステップ311に進
む。ステップ311では変数ｉの値がピン数Ｎの値と等し
い(YES)か否(NO)かの判定が行われ、判定がＹＥＳの場
合にはフローは終わりとなり、判定がＮＯの場合にはス
テップ312に進む。ステップ312ではｉの値の歩進が行わ
れ（この場合にはｉ＝２）、そしてステップ303に戻
る。In the next step 307, the data displayed on the screen of the display (22), that is, the test data name, the pin name, the attribute and the test data are stored in the memory (23), and in step 308 the test data for the logic simulation is stored. Creation is done. Steps 307 and 308 are executed by (MPU 24). In the next step 309, it is determined whether or not an arbitrary pin (Pn) among the pins already defined in the memory (23) is designated (YES) or not (NO). This determination is made based on the key operation from the keyboard (21). If the determination is YES, the process proceeds to step 310, and if the determination is NO, the process jumps to step 311. At step 310, a find command is issued (YES) or not (NO)
Is determined. This judgment is made on the keyboard (21)
If the determination is NO, the process proceeds to step 311. In step 311, it is determined whether the value of the variable i is equal to the value of the number of pins N (YES) or not (NO). If the determination is YES, the flow ends. If the determination is NO, the step is finished. Continue to 312. In step 312, the value of i is incremented (i = 2 in this case), and the process returns to step 303.

一方、ステップ310において判定がＹＥＳの場合、すな
わちキーボード（２１）よりファインドキーが操作され
た場合には、ステップ321に進む。ステップ321では、オ
ペレータは指定した任意のピン(Pn)に対応のテストデー
タ(TDn)に対して任意の時点を設定する。次のステップ3
22では、(MPU 24)はこの設定された時点より後の時点に
おいてテストデータ(TDn)のパターン変化点(PT)を検出
する（ファインド処理）。さらに次のステップ323で
は、このパターン変化点(PT)の部分が(MPU 24)により表
示器（２２）の画面上で指示される。これによって、オ
ペレータは表示器（２２）の画面上でパターン変化点(P
T)の部分に対応する時点においてテストデータ相互間の
レべル関係を即座にかつ正確に認識することができる。On the other hand, if the determination is YES in step 310, that is, if the find key is operated from the keyboard (21), the process proceeds to step 321. In step 321, the operator sets an arbitrary time point for the test data (TDn) corresponding to the specified arbitrary pin (Pn). Next Step 3
At 22, the (MPU 24) detects the pattern change point (PT) of the test data (TDn) at a time point after the set time point (finding process). Further, in the next step 323, the portion of the pattern change point (PT) is designated by the (MPU 24) on the screen of the display (22). As a result, the operator can change the pattern change point (P
It is possible to immediately and accurately recognize the level relationship between test data at the time corresponding to the part (T).

次のステップ324ではスクロール指令が出された(YES)か
否(NO)かの判定が行われる。この判定は、キーボード
（２１）からのスクロールキーの操作に基づいて行われ
るものであるが、もし判定がＮＯの場合にはステップ31
1に飛び、ＹＥＳの場合にはステップ325に進む。ステッ
プ325ではスクロール処理、すなわち上述したパターン
変化点(PT)の部分が表示器（２２）の画面上で左端にく
るように表示データをスクロールさせるための処理が行
われる。ステップ326においては、キーボード（２１）
よりのキー操作に基づいてテストデータの再編集が行わ
れ、次のステップ327では画面上の表示データをタイミ
ング的に元の位置にスクロールするための処理が行われ
る。ステップ322〜325、および327は、(MPU 24)により
実行される。ステップ327の終了後、またはステップ324
において判定がＮＯの場合には、ステップ311に戻る。In the next step 324, it is determined whether a scroll command has been issued (YES) or not (NO). This judgment is made based on the operation of the scroll key from the keyboard (21), but if the judgment is NO, step 31
Jump to 1, and if YES, proceed to step 325. In step 325, a scrolling process, that is, a process for scrolling the display data so that the above-mentioned pattern change point (PT) portion comes to the left end on the screen of the display (22) is performed. In step 326, the keyboard (21)
The test data is re-edited on the basis of the key operation, and in the next step 327, a process for scrolling the display data on the screen to the original position in timing is performed. Steps 322-325 and 327 are performed by the (MPU 24). After step 327 or step 324
If the determination is NO at step 3, the process returns to step 311.

以上説明したように、ファインド機能を働かせ、ファイ
ンドされたパターン変化点(PT)の部分を表示画面上でグ
ラフィック的に指示させることにより、また必要に応じ
てこの指示されたパターン変化点(PT)の部分を表示器
（２２）の画面上で左端にスクロールさせることによ
り、データの認識度を向上させ、オペレータの操作ミス
を極小にし、強いてはテストデータ相互間の容易なチェ
ックを可能にすると共に、テストデータ編集の効率化を
図ることができる。As described above, the find function is activated and the portion of the pattern change point (PT) that has been found is indicated graphically on the display screen, and if necessary, this indicated pattern change point (PT) By scrolling the part of the screen to the left end on the screen of the display (22), the degree of recognition of the data is improved, the operator's operation error is minimized, and in the strongest, it is possible to easily check between the test data. It is possible to improve the efficiency of editing test data.

第４図には第２図装置の表示器（２２）によるファイン
ド処理時のテストデータ表示の一例が示され、第５図に
は第４図の表示データをスクロール処理した時の表示例
が示される。前述したように、信号出力用の属性をもつ
ピン、すなわち(D15)，(D14)，…、のテストデータにつ
いては、波形表示と共に、キー入力時の言語形態の状態
“Ｈ”または“Ｌ”が表示される。また、第４図の例示
は外部ピン(B2)のテストデータに対してファインド機能
を働かせた場合を示しており、図中、(t_K)はキーボード
より設定された任意の時点（５３番目のパターンに相
当）を表わし、(PT)はパターン変化点（５６番目のパタ
ーンに相当）を表わす。ハッチングが施された部分(A)
は、パターン変化点(PT)を表わす部分として画面上で、
例えば点滅表示される。このようにして画面上で指示さ
れたパターン変化点(PT)の部分は、第５図に示されるよ
うに左端にスクロールされる。これによって、何番目の
パターンでデータがどのように変化しているかという認
識を容易に行うことができ、また、他のピンのテストデ
ータとの間の信号の関係を即座にかつ正確に認識するこ
とができるので、テストデータ相互間のチェックが容易
となり、従って、テストデータ編集の効率化を図ること
ができる。FIG. 4 shows an example of test data display at the time of a find process by the display (22) of the device shown in FIG. 2, and FIG. 5 shows an example of display data when the display data of FIG. 4 is scrolled. Be done. As described above, regarding the test data of the pins having the attribute for signal output, that is, (D15), (D14), ..., the waveform display and the state "H" or "L" of the language form at the time of key input Is displayed. Further, the example of FIG. 4 shows the case where the find function is activated for the test data of the external pin (B2). In the figure, (t _K ) is an arbitrary time point (53th position) set by the keyboard. (PT) represents a pattern change point (equivalent to the 56th pattern). Hatched area (A)
On the screen as a part showing the pattern change point (PT),
For example, it is displayed blinking. In this way, the portion of the pattern change point (PT) designated on the screen is scrolled to the left end as shown in FIG. This makes it easy to recognize how the data is changing in what pattern, and to recognize the signal relationship with the test data of other pins immediately and accurately. Therefore, it is easy to check the test data with each other, and thus the efficiency of the test data editing can be improved.

〔発明の効果〕〔The invention's effect〕

以上説明したように本発明によれば、テストデータ編集
の効率化を図ることができると共に、オペレータの操作
ミスを極少にし、テストデータ相互間のチェックを容易
に行うことができる。As described above, according to the present invention, it is possible to improve the efficiency of test data editing, minimize operation errors by the operator, and easily perform a check between test data.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

第１図は本発明によるテストデータ編集機能付ＣＡＤ装
置の原理ブロック、 第２図は本発明の一実施例を示すシステム構成図、 第３図は第２図のＣＡＤ装置によるテストデータ編集を
説明するためのフローチャート、 第４図は第２図装置の表示器（２２）によるファインド
処理時のテストデータ表示の一例を示す図、 第５図は第４図の表示データをスクロール処理した時の
表示例を示す図、 第６図は従来形のテストデータ表示の一例を示す図、 第７図は第６図の表示内容を表わす波形図、 である。 （符号の説明） （１）……データ入力手段、（２）……表示手段、 （３）……記憶手段、（４）……ファインド手段、 （５）……表示制御手段、(Pi)，(Pn)……ピン、 (PDi)，(PDn)……ピンを指示するデータ、 (TDi)，(TDn)……テストデータ、 (FD)……指令信号、(PT)……パターン変化点。FIG. 1 is a principle block diagram of a CAD device with a test data editing function according to the present invention, FIG. 2 is a system configuration diagram showing an embodiment of the present invention, and FIG. 3 is an explanation of test data editing by the CAD device of FIG. FIG. 4 is a diagram showing an example of test data display at the time of a find process by the display (22) of the apparatus shown in FIG. 2, and FIG. 5 is a table when the display data of FIG. 4 is scroll-processed. FIG. 6 is a diagram showing an example, FIG. 6 is a diagram showing an example of conventional test data display, and FIG. 7 is a waveform diagram showing the display contents of FIG. (Explanation of symbols) (1) ... data input means, (2) ... display means, (3) ... storage means, (4) ... find means, (5) ... display control means, (Pi) , (Pn) ... pin, (PDi), (PDn) ... pin designating data, (TDi), (TDn) ... test data, (FD) ... command signal, (PT) ... pattern change point.

Claims (2)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項１】集積回路の外部端子用ピン(Pi)を指示する
データ(PDi)と該ピンに対応するテストデータ(TDi)を入
力し得る手段（１）と、 該入力されたピンのデータ(PDi)を表示すると共にテス
トデータ(TDi)をグラフィック表示する手段（２）と、 該入力されたデータ(PDi,TDi)を記憶する手段（３）
と、 該記憶手段（３）に既に定義済みのピンのうち任意のピ
ン(Pn)が指定された時に、該データ入力手段（１）から
の指令信号(FD)に応答して該任意のピン(Pn)に対応のテ
ストデータ(TDn)に対し任意の時点を設定し、該設定さ
れた時点より後の時点において該テストデータ(TDn)の
パターン変化点(PT)を検出するファインド手段（４）
と、 該ファインド手段（４）からの指令に基づき該パターン
変化点(PT)の部分を該表示手段（２）の画面上で指示す
る表示制御手段（５）と、 を備えてなるテストデータ編集機能付ＣＡＤ装置。1. A means (1) for inputting data (PDi) designating an external terminal pin (Pi) of an integrated circuit and test data (TDi) corresponding to the pin, and data of the input pin. Means (2) for displaying (PDi) and graphically displaying test data (TDi), and means (3) for storing the input data (PDi, TDi)
And when an arbitrary pin (Pn) among the already defined pins is designated in the storage means (3), the arbitrary pin (Pn) is responded to by the command signal (FD) from the data input means (1). (Pn) is set to an arbitrary time point with respect to the test data (TDn), and a finding means (4) for detecting a pattern change point (PT) of the test data (TDn) at a time point after the set time point. )
And a display control means (5) for instructing the portion of the pattern change point (PT) on the screen of the display means (2) on the basis of a command from the find means (4). CAD device with functions. 【請求項２】前記表示制御手段（５）は、前記パターン
変化点(PT)の部分が前記表示手段（２）の画面上で左端
にくるように表示データをスクロールさせる手段を含
む、特許請求の範囲第１項に記載の装置。2. The display control means (5) includes means for scrolling the display data so that the portion of the pattern change point (PT) is at the left end on the screen of the display means (2). The apparatus according to claim 1 in the range.