JPH06331657A - プローブ - Google Patents

プローブ

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JPH06331657A
JPH06331657A JP11689693A JP11689693A JPH06331657A JP H06331657 A JPH06331657 A JP H06331657A JP 11689693 A JP11689693 A JP 11689693A JP 11689693 A JP11689693 A JP 11689693A JP H06331657 A JPH06331657 A JP H06331657A
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JP
Japan
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probe
input
amplifier
capacitor
signal
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JP11689693A
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English (en)
Inventor
Masaaki Matsuzaki
正明 松崎
Shusaku Shimada
修作 島田
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Yokogawa Electric Corp
Original Assignee
Yokogawa Electric Corp
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Abstract

(57)【要約】 【目的】小型でかつある程度のケーブル長を有していな
がら、周波数特性のよい(入力容量の小さい)受動型プ
ローブを提供すること。 【構成】被測定対象の信号を入力するための先端部と、
この先端部に接続し、入力信号の電圧値を1/10以下
に減衰するための受動減衰プローブ回路部と、この受動
減衰プローブ回路部を介した入力信号を、増幅させるた
めの増幅回路と、この増幅回路の出力を波形観測装置本
体に接続する手段とを有するプローブ。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、オシロスコープ等にお
いて波形観測に用いられる電圧プローブに関する。
【0002】
【従来の技術】従来より、オシロスコープ等におけるプ
ローブは、被測定回路への影響をできるだけ小さくする
ために入力抵抗が大きいことが要求され、また、高周波
における周波数特性をよくするため入力容量が小さい事
が要求される。このような要求に対しては、FETプロ
ーブを用いるということも考えられるが、この場合、測
定する部分に接触するための先端部の形状が大きくなる
という問題が発生する。一方、入力容量を小さくするた
めに、プローブにおける減衰比を大きくするということ
も考えられるが、減衰比を大きくすると電圧の測定の感
度が悪くなるという問題が発生する。
【0003】これらの状況を鑑み、一般的な10:1の
受動型プローブを用いて、入力容量を小さくさせるにあ
たっての問題の所在を明らかにさせる。図7に、従来か
ら用いられる10:1の受動型プローブの構成を示す。
図7において、3は先端部、4はケーブル、5は補償用
ボックス、14はオシロスコープ本体である。図7に示
す構成のプローブの等価回路を図8に示す。図8におい
てR1およびR2は抵抗で、これらの抵抗の抵抗値も示
すものである。C1およびC2はコンデンサで、これら
のコンデンサの容量値も示すものである。
【0004】このような等価回路を用いて、図7に示す
プローブの動作を具体的に説明する。抵抗R1,コンデ
ンサC1はプローブ先端部3に内蔵されているものであ
り、抵抗R2はオシロスコープの入力抵抗、C2はプロ
ーブケーブルの静電容量とオシロスコープの入力容量、
及び補償ボックス内のコンデンサー容量値等の合成値を
表すものである。
【0005】このような、等価回路で示される図7の構
成の受動型プローブによって得られる利得が、直流電圧
が入力されたときから高周波が入力された場合にまで同
一であるためには、(1)式の条件が成立したときとな
る。この事は回路網の計算上確かめられるものである。 R1・C1=R2・C2 … (1) ここで例えばR1=9MΩ、R2=1MΩとすれば減衰比
10:1が得られ、さらに式(1)より、この状態で
は、コンデンサC1の値はコンデンサC2の値の9分の
1になる。
【0006】なお、入力から見た容量値は、コンデンサ
C1とC2の直列合成値となるので、10:1のプロー
ブの場合はC1の約9/10の値となる。よって、プロ
ーブ先端から見た入力容量は、C1×9/10と先端部
の浮遊容量成分の合計となる。一般に浮遊容量はコンデ
ンサC1の容量値よりも十分小さいので、入力容量の決
定要因はコンデンサC1の値が支配的となる。このよう
な受動減衰プローブでケーブル長を1.5〜2メートル
ほど確保しようとすると、使用するケーブルの静電容量
はメートルあたり30〜40pFであるので、図8の浮遊
容量C2はオシロスコープの入力容量等を含めたトータ
ルで100pF近くになってしまう。このため、内蔵コン
デンサC1の値は100pFの9分の1つまり11pF程度
であることが要求される。従って、図7の様な構成の受
動型プローブの入力容量には、C1の値で決定される。
コンデンサC1の容量を小さくする方法の一つとしてケ
ーブル長を短くして容量C2を減らす事が考えられる
が、プローブとしての使用方法を考慮するとすれば、ケ
ーブル長は1メートル程度を確保する必要があり、容量
C2を減らすことは困難であり、大幅な改善は期待でき
ない。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】本発明は以上のような
問題点に鑑み、ケーブル長の長さを短くすることなく、
かつ、プローブの先端部におけるコンデンサの容量を少
なくした電圧プローブを提供する事を目的とする。
【0008】
【課題を解決するための手段】本発明は、被測定対象の
信号を入力するための先端部と、この先端部に接続し、
入力信号の電圧値を減衰するための受動減衰プローブ回
路部と、この受動減衰プローブ回路部を介した入力信号
を、増幅させるための増幅回路と、この増幅回路の出力
を波形観測装置本体に接続する手段とを有するプローブ
である。
【0009】
【作用】先端部として10:1以上の減衰比を有する受
動減衰プローブの補償用ボックス部にプローブ全体とし
ての減衰比を最適値に回復させるための増幅器を内蔵さ
せたため、10:1の減衰比を保ちつつ、先端部の形状
が小型であり、先端容量値が低減されて、周波数特性が
よいプローブとなる。
【0010】
【実施例】図1は、本発明の一実施例の基本的構成図で
ある。図2は外観図を示す。図において、先端部3は、
観測信号を入力するもので、抵抗1及びコンデンサ2の
並列回路から構成される。これら抵抗1及びコンデンサ
2の並列回路から構成される回路は、電気的な雑音を防
止する処理の施された(以下、シールドの施された、と
いう)先端部ケース3に内蔵される。4はケーブルで、
先端部3と補償用ボックス5を接続する。補償用ボック
ス5は、その入力端子と接地間に配された、可変コンデ
ンサ6と可変抵抗7とを直列に接続した回路、及び抵抗
8と入力端子に接続された増幅器9とから構成される。
10は同軸コネクタで、補償用ボックス5とオシロスコ
ープ本体を接続するものである。11は電源用コネクタ
で、増幅器9等に電源を供給する。
【0011】例えば、抵抗1を950kΩ、コンデンサ2を
5pFとし、ケーブル4はケーブル長1.5メートルを有
し、シールドが施されたカーマロイ線により構成され
る。また、補償用ボックス5の入力部には周波数特性補
償用の可変コンデンサ6及び可変抵抗7が接地電位の間
に直列に挿入される。更に後続の入力抵抗を決定するた
めの抵抗8が接地電位との間に接続され、抵抗8は50K
Ωとする。増幅器9は、その利得を2倍とし、また、い
わゆる広帯域増幅器に該当する。さらに、この増幅器9
の入力抵抗は抵抗8に比べて無視できるほど大きく設計
されている。増幅器9の出力は同軸コネクタ10に接続
され、この同軸コネクタ10を介し、入力抵抗を50Ωに
設定したオシロスコープ本体に接続される。
【0012】次に、このような構成における本発明の動
作を説明する。入力信号のうち低周波成分は抵抗1の95
0kΩと抵抗8の50KΩにより、20:1に減衰されて増
幅器9に入力される。一方、高周波成分はコンデンサ2
の5pFと先端部以降の後続の合成容量、すなわち、ケー
ブル4、可変コンデンサ6、増幅器9の入力容量の合成
値(以下、単に後続の合成容量という)とで分圧され
る。この時、前述の式(1)(R1・C1=R2・C
2)が成り立つように 可変コンデンサ6を調整する。
具体的には方形波を入力してその出力波形が平坦になる
ように、オシロスコープの画面上で観測しつつ調整し、
その結果直流から高周波まで平坦な周波数特性を有する
20:1の減衰器が構成される。尚、可変抵抗7は、ケ
ーブル4の抵抗成分等に起因する高周波成分のゲイン低
下を補償するためのもので、可変コンデンサ6と同様に
立ち上がりの急峻な方形波を入力して同様な方法で調整
する。
【0013】この実施例において、後続の合成容量の条
件が従来の受動型プローブと同等すなわち100pF程度で
あるとすると、減衰量が2倍になっているので先端部3
におけるコンデンサ2は従来の約半分の5pFにできる。
この減衰した信号は増幅器9で2倍に増幅され、結局、
入力信号はプローブ全体では10:1の減衰比に復帰し
て、オシロスコープ本体に入力される。このようにし
て、入力容量の低減を可能にしながら、10:1の減衰
比を有する受動型プローブが実現できる。
【0014】尚、本実施例では増幅器9を補償用ボック
ス5内に内蔵したが、増幅器9を図3に示すようにBN
Cタイプの入力コネクタを有する専用のアダプターボッ
クス13内に内蔵し、受動減衰プローブの部分を取り外
ずしが可能となるように構成しても良い。また、増幅器
9の入力容量を小さく設計し、またケーブル長を1メー
トル程度に短くする等で後続の合成容量を低減し、先端
容量値(コンデンサC1の容量)を更に小さくする事も
可能である。また、先端部3を含む減衰比を30:1
(20:1以上の)とし、増幅器9の利得を3倍にする
事により先端容量値をさらに小さくすることができる。
【0015】図4は、本発明の他の実施例の基本的構成
図である。図5は外観図を示す。両図において、図1と
同様のものには、同符号を付ける。12は特性インピー
ダンスが50Ωの同軸ケーブルで、一端は、増幅器9の
出力に接続し、他端はオシロスコープ本体に接続する。
【0016】図4において、例えば、抵抗1を9MΩ、コ
ンデンサー2が3pFとする。またケーブル4は、ケブー
ル長を30cmとし、抵抗8は1MΩとする。また、こ
こでの増幅器9は、いわゆるバッファーアンプである。
ここでバッファーアンプたる増幅器9の入力抵抗は抵抗
8に比べて無視できるほど充分大きく設計されている。
【0017】このような構成における動作を説明する。
入力信号の低周波成分は9MΩの抵抗1と1MΩの抵抗2に
より10:1に減衰されて増幅器9に入力される。一
方、高周波成分はコンデンサ2の3pFと後続の合成容量
とで分圧される。この時も上述の場合と同様に、式
(1)(R1・C1=R2・C2)が成り立つように
可変コンデンサ6および可変抵抗7を調整する。
【0018】この実施例では、ケーブル4のケーブル長
が30cmであるため、ケーブル4の静電容量は10pF程
度となる。その他増幅器9の入力容量と可変コンデンサ
等のトータル値を17pF程度に設計すれば、受動型プロー
ブの先端部3内のコンデンサ2より後続の総容量値は27
pF程度にできる。よって、(1)式より、先端のコンデ
ンサ2は従来の受動減衰プローブの3分の1以下の3pF
という容量値で設計できる。
【0019】入力信号が10:1に減衰した信号は、増
幅器9でインピダンス変換される。このように、増幅器
9で、インピダンス変換されているため信号は、その特
性が失われることなく、1.5mの同軸ケーブル12を
介し、オシオスコープ本体に入力される。このようにし
て、入力容量の低減を可能にすると共に、小型である事
が要求される先端部は簡単な回路構成で済み、補償用ボ
ックス部5は被測定回路にじゃまにならない程度の中間
位置に下げられ、さらに低インピダンスの伝送ケーブル
で延長される事により、測定に問題のない程度の長さの
ケーブル長を有するプローブが実現できる。尚、この実
施例にあっても、図1の実施例と同様に、図6に示すよ
うに、増幅器9をBNCタイプの入力コネクタを有する
専用のアダプターボックス13内に内蔵し、受動型プロ
ーブの部分をに取り外しに設計することも可能である。
【0020】
【発明の効果】以上述べたように本発明では、10:1
以上の減衰量を有する受動減衰プローブ回路の出力を、
減衰量が最適な値に復帰するだけの利得を有した増幅器
で増幅してオシロスコープ本体に出力する事により、先
端部の構造が簡単なため超小型化が可能でかつ安価であ
り、従来の受動減衰プローブより入力容量が小さく高周
波性能が改善され、しかも減衰比をオシロスコープ本体
の電圧軸表示に適した値に設定された受動型プローブを
実現できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例の構成図である。
【図2】本発明の一実施例の外観図である。
【図3】本発明の一の実施例の応用図の外観図である。
【図4】本発明の他の実施例の構成図である。
【図5】本発明の他の実施例の外観図である。
【図6】本発明の他の実施例の応用図の外観図である。
【図7】本発明の説明図である。
【図8】本発明の基本的構成図である。
【符号の説明】
3 先端部 4 ケーブル 5 補償用ボックス 9 増幅器 10 入力端子

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】被測定対象の信号を入力するための先端部
    と、 この先端部に接続し、入力信号の電圧値を減衰するため
    の受動減衰プローブ回路部と、 この受動減衰プローブ回路部を介した入力信号を、増幅
    させるための増幅回路と、 この増幅回路の出力を波形観測装置本体に接続する手段
    とを有するプローブ。
  2. 【請求項2】被測定対象の信号を入力するための先端部
    と、 一端がこの先端部に接続され、入力容量に関連した長さ
    を有するケーブルと、 このケーブルの他端に接続され、入力信号の電圧値を減
    衰するための受動減衰プローブ回路部と、 この受動減衰プローブ回路からの出力をインピーダンス
    変換するバッファアンプ回路と、 このバッファーアンプ回路と波形観測装置本体とを接続
    する延長ケーブル手段とを有するプローブ。
JP11689693A 1993-05-19 1993-05-19 プローブ Pending JPH06331657A (ja)

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Cited By (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH08254545A (ja) * 1995-02-03 1996-10-01 Hewlett Packard Co <Hp> 多数リードの電圧プローブ
JP2005345469A (ja) * 2004-06-01 2005-12-15 Tektronix Inc 測定プローブ用広帯域入力減衰回路
JP2007171184A (ja) * 2005-12-20 2007-07-05 Tektronix Inc アクセサリ・デバイス電圧管理システム
JP2008014846A (ja) * 2006-07-07 2008-01-24 Yokogawa Electric Corp アクティブプローブ
JP2008271449A (ja) * 2007-04-25 2008-11-06 Yokogawa Electric Corp 減衰器
JP2009145172A (ja) * 2007-12-13 2009-07-02 Yokogawa Electric Corp パッシブプローブ装置
WO2011121658A1 (ja) * 2010-03-31 2011-10-06 株式会社アドバンテスト 可変イコライザ回路およびそれを用いた試験装置
JP2011255440A (ja) * 2010-06-07 2011-12-22 Mitsubishi Electric Corp ワイヤ放電加工装置
JP2017227552A (ja) * 2016-06-23 2017-12-28 横河電機株式会社 絶縁電圧プローブ
JP2018048838A (ja) * 2016-09-20 2018-03-29 横河電機株式会社 プローブ装置
US20180372779A1 (en) * 2017-06-26 2018-12-27 Rohde & Schwarz Gmbh & Co. Kg Measurement input circuit and measurement device
EP3428658A1 (en) * 2017-07-10 2019-01-16 Tektronix, Inc. Probe attenuator for reduced input capacitance
CN112946616A (zh) * 2020-12-30 2021-06-11 广东电网有限责任公司电力科学研究院 基于行波的电缆长度测量装置

Cited By (20)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH08254545A (ja) * 1995-02-03 1996-10-01 Hewlett Packard Co <Hp> 多数リードの電圧プローブ
JP2005345469A (ja) * 2004-06-01 2005-12-15 Tektronix Inc 測定プローブ用広帯域入力減衰回路
JP2007171184A (ja) * 2005-12-20 2007-07-05 Tektronix Inc アクセサリ・デバイス電圧管理システム
JP2008014846A (ja) * 2006-07-07 2008-01-24 Yokogawa Electric Corp アクティブプローブ
JP2008271449A (ja) * 2007-04-25 2008-11-06 Yokogawa Electric Corp 減衰器
JP2009145172A (ja) * 2007-12-13 2009-07-02 Yokogawa Electric Corp パッシブプローブ装置
WO2011121658A1 (ja) * 2010-03-31 2011-10-06 株式会社アドバンテスト 可変イコライザ回路およびそれを用いた試験装置
JP2011255440A (ja) * 2010-06-07 2011-12-22 Mitsubishi Electric Corp ワイヤ放電加工装置
US10962572B2 (en) 2016-06-23 2021-03-30 Yokogawa Electric Corporation Isolated voltage probe
JP2017227552A (ja) * 2016-06-23 2017-12-28 横河電機株式会社 絶縁電圧プローブ
JP2018048838A (ja) * 2016-09-20 2018-03-29 横河電機株式会社 プローブ装置
US20180372779A1 (en) * 2017-06-26 2018-12-27 Rohde & Schwarz Gmbh & Co. Kg Measurement input circuit and measurement device
CN109116076A (zh) * 2017-06-26 2019-01-01 罗德施瓦兹两合股份有限公司 测量输入电路和测量设备
US11287447B2 (en) * 2017-06-26 2022-03-29 Rohde & Schwarz Gmbh & Co. Kg Measurement input circuit and measurement device
US11852658B2 (en) 2017-06-26 2023-12-26 Rohde & Schwarz Gmbh & Co. Kg Measurement input circuit and measurement device
EP3428658A1 (en) * 2017-07-10 2019-01-16 Tektronix, Inc. Probe attenuator for reduced input capacitance
CN109239420A (zh) * 2017-07-10 2019-01-18 特克特朗尼克公司 用于减小的输入电容的探针衰减器
JP2019023627A (ja) * 2017-07-10 2019-02-14 テクトロニクス・インコーポレイテッドTektronix,Inc. 試験測定プローブ及び試験測定プローブの校正方法
US11079407B2 (en) 2017-07-10 2021-08-03 Tektronix, Inc. Probe attenuator for reduced input capacitance
CN112946616A (zh) * 2020-12-30 2021-06-11 广东电网有限责任公司电力科学研究院 基于行波的电缆长度测量装置

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