JPH0629847B2 - Chromatoskiana - Google Patents

Chromatoskiana

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JPH0629847B2
JPH0629847B2 JP10548085A JP10548085A JPH0629847B2 JP H0629847 B2 JPH0629847 B2 JP H0629847B2 JP 10548085 A JP10548085 A JP 10548085A JP 10548085 A JP10548085 A JP 10548085A JP H0629847 B2 JPH0629847 B2 JP H0629847B2
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JP
Japan
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peak
scanning
sample
processing unit
unit
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JP10548085A
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JPS61262635A (en
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和也 新屋
邦彦 大久保
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Shimadzu Corp
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Shimadzu Corp
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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/59Transmissivity
    • G01N21/5907Densitometers
    • G01N21/5911Densitometers of the scanning type
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N30/00Investigating or analysing materials by separation into components using adsorption, absorption or similar phenomena or using ion-exchange, e.g. chromatography or field flow fractionation
    • G01N30/90Plate chromatography, e.g. thin layer or paper chromatography
    • G01N30/95Detectors specially adapted therefor; Signal analysis

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明はTLC(薄層クロマトグラフィ)プレートや電
気泳動ゲルのような試料に光を照射し、その反射光又は
透過光により定量を行なうクロマトスキャナに関するも
のである。
The present invention relates to a chromatographic scanner that irradiates a sample such as a TLC (thin layer chromatography) plate or an electrophoretic gel with light and quantifies the reflected light or transmitted light. It is about.

(従来の技術) TLCプレートや電気泳動ゲルは、試料上で直線上に離
散的に広がったパターンをもっている。第8図はTLC
プレート、第9図は電気泳動ゲルの例であり、30,3
2はスポットである。
(Prior Art) A TLC plate or an electrophoretic gel has a pattern that spreads linearly and discretely on a sample. Figure 8 shows TLC
Plate, Fig. 9 is an example of electrophoresis gel,
2 is a spot.

従来のクロマトスキャナでは、TLCプレートや電気泳
動ゲルのようにY方向の直線上に離散的に広がったパタ
ーンを走査し、定量を行なう場合、ジグザグ走査の走査
開始点を短冊形の走査範囲の端に設定し、Y方向のステ
ップ数を一定にし、第10図に示されるようにジグザグ
のスイング幅で決まる短冊形の全面を走査していた。
In a conventional chromatographic scanner, when a pattern spread discretely on a straight line in the Y direction like a TLC plate or an electrophoretic gel is scanned to perform quantification, the scanning start point of the zigzag scanning is set at the end of the strip-shaped scanning range. Was set, the number of steps in the Y direction was made constant, and as shown in FIG. 10, the entire surface of the strip shape determined by the zigzag swing width was scanned.

(発明が解決しようとする問題点) 試料のスポットは離散しているが、従来のクロマトスキ
ャナではスポットの存在しない部分もスポットの存在す
る重要な部分と同様に走査しなければならず、特に定量
精度向上のために積算を行なう場合など、必要以外の部
分のために浪費する時間は膨大なものであった。
(Problems to be solved by the invention) Although the spots of the sample are discrete, in the conventional chromatographic scanner, the spot-free portion must be scanned in the same manner as the important spot-containing portion. The amount of time wasted for unnecessary parts, such as when integrating to improve accuracy, was enormous.

本発明は、試料スポットの位置を自動的に高速で探索す
ることにより、定量精度を下げずに走査時間を短縮する
クロマトスキャナを提供することを目的とするものであ
る。
An object of the present invention is to provide a chromatographic scanner that automatically searches the position of a sample spot at high speed to shorten the scanning time without lowering the quantitative accuracy.

(問題点を解決するための手段) 本発明は、第1図に示されるように、モード切換え部が
粗走査モードと本走査モードの切換えを行なう。
(Means for Solving the Problems) In the present invention, as shown in FIG. 1, the mode switching unit switches between the coarse scanning mode and the main scanning mode.

粗走査時にはステージ制御部により試料ステージ20は
X方向を固定してY方向のみのリニア走査を行なう。こ
のリニア走査時にピーク処理部は検出信号からピーク位
置を検出し、そのピーク位置はメモリ18に記憶され
る。
At the time of rough scanning, the stage controller fixes the sample stage 20 in the X direction and performs linear scanning only in the Y direction. During this linear scanning, the peak processing unit detects the peak position from the detection signal, and the peak position is stored in the memory 18.

本走査時にはステージ制御部により試料ステージ20は
ジグザグ走査を行なうが、このときステージ制御部はメ
モリ18に記憶されているピーク位置に従って、ピーク
位置では精度の高いジグザグ走査を行ない、ピーク位置
以外の部分ではジグザグ走査を省略し又は粗く走査を行
なうように試料ステージ20を制御する。データ処理部
はこの本走査時の検出信号から定量的なデータ処理を行
なう。
At the time of main scanning, the stage controller performs zigzag scanning on the sample stage 20. At this time, the stage controller performs highly accurate zigzag scanning at the peak position according to the peak position stored in the memory 18, and at the parts other than the peak position. Then, the sample stage 20 is controlled so that zigzag scanning is omitted or rough scanning is performed. The data processing unit performs quantitative data processing from the detection signal at the time of main scanning.

(実施例) 第2図は本発明の一実施例を表わす。(Embodiment) FIG. 2 shows an embodiment of the present invention.

2は試料3に光照射を行なう光学系である。TLCプレ
ートや電気泳動ゲルのような試料3はX,Y両方向に移
動することのできる試料ステージ20上に保持されてい
る。試料ステージ20は駆動機構(図示略)を介してマ
イクロコンピュータ12により制御され、粗走査のリニ
ア走査と本走査のジグザグ走査を行なう。
An optical system 2 irradiates the sample 3 with light. A sample 3 such as a TLC plate or an electrophoretic gel is held on a sample stage 20 that can move in both X and Y directions. The sample stage 20 is controlled by the microcomputer 12 via a drive mechanism (not shown), and performs rough scanning linear scanning and main scanning zigzag scanning.

4は試料3からの反射光を受光して電気信号に変換する
光電変換部としての光電子増倍管、6は試料3からの透
過光を受光して電気信号に変換する光電変換部としての
光電子増倍管である。光電子増倍管4又は6の出力信号
は増幅器8で増幅され、信号変換部としてのA/D変換
器10でデジタル信号に変換された後、マイクロコンピ
ュータ12に取り込まれる。
Reference numeral 4 is a photomultiplier tube as a photoelectric conversion unit that receives reflected light from the sample 3 and converts it into an electric signal, and 6 is photoelectron as a photoelectric conversion unit that receives the transmitted light from the sample 3 and converts it into an electric signal. It is a multiplier tube. The output signal of the photomultiplier tube 4 or 6 is amplified by the amplifier 8, converted into a digital signal by the A / D converter 10 as a signal conversion unit, and then taken into the microcomputer 12.

マイクロコンピュータ12は取り込んだ信号から粗走査
時のピーク位置検出と本走査時のデータ処理を行なう。
The microcomputer 12 performs peak position detection during rough scanning and data processing during main scanning from the captured signal.

14はマイクロコンピュータ12によるデータ処理結果
を表示するプリンタ、16はCRTである。
Reference numeral 14 is a printer for displaying the result of data processing by the microcomputer 12, and 16 is a CRT.

マイクロコンピュータ12は、本発明におけるデータ処
理部、ピーク処理部、メモリ、ステージ制御部及びモー
ド切換え部を実現する。
The microcomputer 12 realizes the data processing unit, peak processing unit, memory, stage control unit and mode switching unit in the present invention.

次に、本実施例の動作を第2図ないし第7図を参照して
説明する。
Next, the operation of this embodiment will be described with reference to FIGS.

光学系2による試料3の照射位置が走査開始点へくるよ
うに試料ステージ20を位置決めする(ステップS
1)。測定モードを粗走査モードに設定する(ステップ
S2)。これにより試料ステージ20はマイクロコンピ
ュータ12の制御を受けて、第4図に示されるように、
X方向を固定しY方向送りを大きくとってスポット30
の列のリニア走査を積算なしで行なう(ステップS
3)。
The sample stage 20 is positioned so that the irradiation position of the sample 3 by the optical system 2 comes to the scanning start point (step S
1). The measurement mode is set to the coarse scanning mode (step S2). As a result, the sample stage 20 is controlled by the microcomputer 12, and as shown in FIG.
Spot 30 with fixed X direction and large Y direction feed
The linear scanning of the column is performed without integration (step S
3).

このリニア走査により光電子増倍管4又は6により第5
図に示されるような反射光強度又は透過光強度の波形が
検出される。マイクロコンピュータ12はこの波形から
各ピークについてピーク開始位置y,ピークトップ位
置y及びピーク終了位置yというピーク位置を求め
るピーク処理を行なう(ステップS4)。このピーク処
理は、例えば第5図のような波形を微分し、微分値によ
り行なうことができる。
By this linear scanning, the photomultiplier tube 4 or 6
A waveform of reflected light intensity or transmitted light intensity as shown in the figure is detected. The microcomputer 12 performs peak processing for obtaining peak positions such as a peak start position y 1 , a peak top position y 2 and a peak end position y 3 for each peak from this waveform (step S4). This peak processing can be performed by differentiating the waveform as shown in FIG. 5, for example.

次に、このピーク処理で求められたピーク範囲y〜y
を第6図に示されるY〜Yのように適当量だけ広
げ(ステップS5)、この広げられたピーク範囲を各ピ
ークについてメモリに記憶する(ステップS6)。
Next, the peak range y 1 to y obtained by this peak processing
3 spread by an appropriate amount as Y 1 to Y 3 illustrated in FIG. 6 (step S5), and stores the broadened peak range in the memory for each peak (step S6).

次に、再び照射位置を試料の走査開始点へ位置決めし、
測定モードを本走査モードに設定する(ステップS
7)。マイクロコンピュータ12ではメモリから最初の
ピーク位置を読み出し(ステップS8)、試料ステージ
20をそのピーク位置まで移動させ、第7図に示される
ピーク範囲Aについて本来のジグザグ走査を行ない、
検出信号を取り込んでデータ処理を行なう(ステップS
9,S10)。このジグザグ走査及びデータ処理は従来
から行なわれているものである。
Next, position the irradiation position again to the scanning start point of the sample,
Set the measurement mode to the main scanning mode (step S
7). The microcomputer 12 reads the first peak position from the memory (step S8), moves the sample stage 20 to the peak position, and performs the original zigzag scanning for the peak range A 1 shown in FIG.
The detection signal is fetched and data processing is performed (step S
9, S10). This zigzag scanning and data processing are conventional.

第1のピーク範囲Aのジグザグ走査が終了するとマイ
クロコンピュータ12は次のピーク位置を読み出し、同
じようにジグザグ走査によるデータ処理を行なって行
く。このようにして、第7図にA,A,A,……
で示されるピーク範囲のジグザグ走査が全てのピークに
ついて終了するまで、順次繰り返されて行く(ステップ
S11)。
When the zigzag scanning of the first peak range A 1 is completed, the microcomputer 12 reads the next peak position and similarly performs data processing by the zigzag scanning. Thus, in FIG. 7, A 1 , A 2 , A 3 , ...
The zigzag scanning in the peak range shown by is repeated for all the peaks in sequence (step S11).

以上の処理によりジグザグ走査を行なう範囲がスポット
のある領域のみに制限され、大部分を占めるバックグラ
ンド領域はジグザグ走査の対象から除外され、走査時間
が短縮される。
By the above processing, the range in which zigzag scanning is performed is limited to only the spotted area, and the background area that occupies most of the area is excluded from the zigzag scanning target, and the scanning time is shortened.

以上の実施例では、ジグザグ走査を行なう本走査範囲を
スポットを含むピーク範囲のみに絞り、ピーク範囲以外
の領域では全く本走査を行なっていない。しかし、例え
ば、ピーク範囲以外の領域でもジグザグ走査は行なうが
そのY方向送りを大きくしたり、積算回数を減らすよう
にしてもよい。このような操作によっても走査時間を短
縮することができる。
In the above embodiment, the main scanning range in which the zigzag scanning is performed is limited to only the peak range including the spot, and the main scanning is not performed in any area other than the peak range. However, for example, zigzag scanning may be performed in a region other than the peak range, but the Y-direction feed may be increased or the number of integrations may be reduced. The scanning time can also be shortened by such an operation.

(発明の効果) 本発明のクロマトスキャナは、光学系、光電変換部、信
号変換部、及びマイクロコンピュータにより駆動が制御
される試料ステージ、並びにマイクロコンピュータによ
り実現されるデータ処理部、ピーク処理部、メモリ、ス
テージ制御部及びモード切換え部を備え、粗調査によっ
て精度の高い本走査を行なう範囲を自動的に制限するよ
うに動作するので、スポットのないバックグランド部で
の走査時間が短縮され、定量精度を下げずに走査時間を
大幅に短縮することができる。
(Effects of the Invention) The chromatographic scanner of the present invention includes an optical system, a photoelectric conversion unit, a signal conversion unit, a sample stage whose drive is controlled by a microcomputer, and a data processing unit, a peak processing unit, which are realized by the microcomputer. It is equipped with a memory, stage control unit, and mode switching unit, and operates so as to automatically limit the range in which high-precision main scanning is performed by rough investigation, thus reducing the scanning time in the background section without spots and quantifying it. The scanning time can be significantly reduced without lowering the accuracy.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

第1図は本発明の構成を示すブロック用、第2図は本発
明の一実施例を示す概略図、第3図は一実施例の動作を
示すフローチャート、第4図は同実施例における粗走査
のリニア走査を示す図、第5図はリニア走査で得られる
検出波形を示す図、第6図はメモリに記憶されるピーク
範囲を示す図、第7図は同実施例における本走査範囲を
示す図、第8図はTLCプレートを示す図、第9図は電
気泳動ゲルを示す図、第10図は従来のジグザグ走査を
示す図である。 2……光学系、 4,6……光電子増倍管、 10……A/D変換器、 12……マイクロコンピュータ、 18……メモリ、 20……試料ステージ。
FIG. 1 is a block diagram showing the structure of the present invention, FIG. 2 is a schematic view showing an embodiment of the present invention, FIG. 3 is a flow chart showing the operation of the embodiment, and FIG. FIG. 5 is a diagram showing linear scanning of scanning, FIG. 5 is a diagram showing detection waveforms obtained by linear scanning, FIG. 6 is a diagram showing peak ranges stored in a memory, and FIG. 7 is a main scanning range in the same embodiment. Fig. 8 is a diagram showing a TLC plate, Fig. 9 is a diagram showing an electrophoretic gel, and Fig. 10 is a diagram showing conventional zigzag scanning. 2 ... Optical system, 4, 6 ... Photomultiplier tube, 10 ... A / D converter, 12 ... Microcomputer, 18 ... Memory, 20 ... Sample stage.

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】試料に光照射を行なう光学系と、 試料からの反射光又は透過光を受光して電気信号に変換
する光電変換部と、 この光電変換部からの出力信号をデジタル信号に変換す
る信号変換部と、 本走査時にこの信号変換部の出力信号を処理して出力す
るデータ処理部と、 粗走査時に前記信号変換部の出力信号からピークの位置
を検出するピーク処理部と、 このピーク処理部で検出されたピークの位置を記憶する
メモリと、 試料を移動させる試料ステージと、 粗走査時には予め設定された移動様式により、本走査時
には前記メモリに記憶されたピークの位置に従って前記
試料ステージの駆動を制御するステージ制御部と、 本走査時と粗走査時とで前記データ処理部、ピーク処理
部及びステージ制御部の動作を切り換えるモード切換え
部と、を備えたクロマトスキャナ。
1. An optical system for irradiating a sample with light, a photoelectric conversion unit for receiving reflected light or transmitted light from the sample and converting it into an electrical signal, and an output signal from this photoelectric conversion unit is converted into a digital signal. And a data processing unit that processes and outputs the output signal of this signal conversion unit during main scanning, and a peak processing unit that detects the position of the peak from the output signal of the signal conversion unit during rough scanning. A memory that stores the position of the peak detected by the peak processing unit, a sample stage that moves the sample, and a preset movement mode during rough scanning, and the sample position according to the peak position stored in the memory during main scanning A stage control unit that controls the driving of the stage, and a mode switching unit that switches the operations of the data processing unit, the peak processing unit, and the stage control unit between the main scanning and the rough scanning. , Chromatographic scanner with a.
JP10548085A 1985-05-16 1985-05-16 Chromatoskiana Expired - Lifetime JPH0629847B2 (en)

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JPS61262635A JPS61262635A (en) 1986-11-20
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Families Citing this family (6)

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Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2869250B2 (en) * 1992-05-15 1999-03-10 三菱電機株式会社 Automotive control device
JP4188538B2 (en) * 2000-04-12 2008-11-26 浜松ホトニクス株式会社 Immunochromatographic test piece measuring device
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