JPS5942684Y2 - densitometer - Google Patents

Description

【考案の詳細な説明】 本考案はジグザグスキャンニング方式のデンシトメータ
に関する。[Detailed Description of the Invention] The present invention relates to a zigzag scanning type densitometer.

薄層クロマトグラフィ等において薄層上に展開された試
料のスポットの透過光、反射光、けい光を測定して定量
的分析を行う場合、薄層を光ビームによってジグザグに
走査しスボッＨＣ釦ける透過光或は反射光或はけい光の
強度を測定して積分すると云う方法が用いられる。When performing quantitative analysis by measuring the transmitted light, reflected light, and fluorescence of a sample spot developed on a thin layer in thin layer chromatography, etc., the thin layer is scanned in a zigzag pattern with a light beam, and the transmission is performed by scanning the HC button. A method is used in which the intensity of light, reflected light, or fluorescent light is measured and integrated.

この場合試料スポットを担持している担体の薄層には厚
さむら、組織むら等があって、それが透過光或は反射光
或はけい光の強度のベースラインの変動となって現われ
積分結果の精度を低下させる。In this case, the thin layer of the carrier supporting the sample spot has thickness unevenness, texture unevenness, etc., which appears as a fluctuation in the baseline of the intensity of transmitted light, reflected light, or fluorescent light, and the integration Reduces accuracy of results.

このためジグザグスキャンニングの各ストロークの端に
おいてそこでは試料のスポットがないから薄層だけの透
過光或は反射光もしくはけい光の強度を測定しその結果
を次のストロークにおけるベースラインとして用いるこ
とによりベースライン補正を行う方法が採用された。Therefore, at the end of each stroke of zigzag scanning, since there is no sample spot there, the intensity of the transmitted light, reflected light, or fluorescence of only the thin layer is measured, and the result is used as a baseline for the next stroke. A method of baseline correction was adopted.

第１図でＴは担体であり、Ｗが試料スポットでジグザグ
の線２が光ビームの走査軌跡である。In FIG. 1, T is a carrier, W is a sample spot, and a zigzag line 2 is a scanning locus of a light beam.

この走査軌跡においてイの走査ストロークに釦けるベー
スライン補正の情報はイのストロークの始点であるａ点
で得られたものであり、次の口の走査ストロークにおけ
るベースライン補正の精報はイのストロークの終点のｂ
点にかいて得たものである。In this scanning trajectory, the baseline correction information for the scanning stroke of A is obtained at point a, which is the starting point of the stroke of A, and the detailed information of the baseline correction for the next scanning stroke of the mouth is obtained from the button of A. b at the end of the stroke
This is what I learned from the point.

ａ点とｂ点とでは担体Ｔの厚さ等は成る程度相違してい
るが２つのストロ−クイ。Although the thickness of the carrier T at point a and point b differs to some extent, they are two strokes.

口の中央点ｃ、ｃ’付近では損体上の距離がａｂ両点間
に比しずっと接近しているから、ｃ、ｃ′点における担
体Ｔ自体の差異は少ない筈である。Since the distance on the body near the center points c and c' of the mouth is much closer than between points a and b, there should be little difference in the carrier T itself at points c and c'.

しかるにベースライン補正はイのストロークではａ点の
情報によりなされ、口のストロークではｂ点の情報でな
されているので、本来互に相似た値を示す筈のｃ 、
ｃ’点における吸光度等の測定値はベースライン補正を
行ったことにより却って異なったものとなり、３番目の
走査ストロークハではイのストロークの始点に近いｄ点
の情報によってベースライン補正がなされているのでそ
の中央点Ｃ“の測定値はＣ′よりもむしろＣに近いもの
となる。However, since the baseline correction is made using the information of point a for the stroke of A, and the information of point b for the stroke of the mouth, c and C, which should originally show similar values,
Measured values such as absorbance at point c' are rather different due to baseline correction, and in the third scanning stroke C, baseline correction is performed using information from point d, which is close to the starting point of stroke A. Therefore, the measured value at the center point C'' is closer to C than to C'.

この結果上記した方法によってベースライン補正ヲ行っ
た場合の吸光度等の記録は第２図に示すように往復のス
トローク毎にピーク高さが上下した甚だ見難いものにな
る。As a result, when baseline correction is performed using the method described above, the record of absorbance, etc. becomes extremely difficult to read as the peak height rises and falls with each reciprocating stroke, as shown in FIG.

もちろんこの方法でも担体の長さ方向にわたるベースラ
インの補正は適正になされているので全体としての記録
結果にはベースライン変動による歪はないのであるが、
局部的に見るとき１ストローク毎の記録が上下して見難
いものとなっているのである。Of course, even with this method, the baseline along the length of the carrier is properly corrected, so the overall recording result is free from distortion due to baseline fluctuations.
When viewed locally, the records for each stroke move up and down, making it difficult to see.

本考案は上述したような理由による走査ストローク毎の
測定結果の不揃いを解消して見易い測定結果が得られる
ようにすることを目的としてなされた。The present invention has been made with the aim of eliminating the unevenness of measurement results for each scanning stroke due to the reasons described above, and making it possible to obtain measurement results that are easy to see.

本考案は第１図において走査ストロ−クイの両端ａ、ｂ
両点における測定値の平均或はａ点の測定値だけによっ
て走査ストロ−クロにおける測定値のベースライン補正
を行うようにしたデンシトメータを提供するものである
。The present invention is shown in FIG.
The object of the present invention is to provide a densitometer that performs baseline correction of measured values in a scanning stroke using the average of measured values at both points or only the measured value at point a.

以下実施例によって本考案を説明する。The present invention will be explained below with reference to Examples.

第３図は本考案の一実施例装置の構成を示す。FIG. 3 shows the configuration of an apparatus according to an embodiment of the present invention.

Ｍはモノクロメータでこのモノクロメータから射出され
た単色光束はレンズｆで薄層Ｓ上に集束せられ、薄層を
透過した光がホトマルチプライヤＰに入射して電気信号
に変動される。M is a monochromator, and the monochromatic light beam emitted from this monochromator is focused onto a thin layer S by a lens f, and the light transmitted through the thin layer enters a photomultiplier P and is converted into an electrical signal.

この信号は吸光度変換回路で対数に変動され吸光度に比
例した信号になる。This signal is logarithmically varied by an absorbance conversion circuit and becomes a signal proportional to the absorbance.

Ｄは薄層Ｓを駆動する駆動装置で、薄層Ｓを図の紙面に
垂直の方向（Ｘ方向）に往復させると共ＣＸ方向の往復
運動の各終端で一定量ずつｙ方向に送るように駆動する
。D is a drive device that drives the thin layer S, and when the thin layer S is reciprocated in the direction perpendicular to the plane of the drawing (X direction), it is also sent a fixed amount in the Y direction at each end of the reciprocating motion in the CX direction. drive

このため薄層Ｓ上においてモノクロメータＭの射出光の
照射点は第５図に示すようなジグザグの軌跡２を画くこ
とになる。Therefore, on the thin layer S, the irradiation point of the light emitted from the monochromator M traces a zigzag trajectory 2 as shown in FIG.

ＰＧはパルスジェネレータで駆動装置りの動作と同期し
て第４図に示すような４種のパルス信号１〜４を出力す
る。PG is a pulse generator that outputs four types of pulse signals 1 to 4 as shown in FIG. 4 in synchronization with the operation of the drive device.

パルス信号１は第４図４’ｌ−いて左側のｙ方向送り期
間に相当し、パルス信号２は同じく右側のｙ方向送り期
間に相当し、パルス信号３，４はパルス信号１の立下り
でセットされ、同２の立下りでリセットされるフリップ
フロップのセット出力及びリセット出力である。Pulse signal 1 corresponds to the y-direction feeding period on the left side of FIG. These are the set output and reset output of a flip-flop that is set and reset at the falling edge of the second signal.

第３図に卦けるスイッチ用ＦＥＴ Ｇ１−Ｇ４のゲー
ト端子１〜４に同じ番号のパルス信号が印加されるよう
になっている。Pulse signals having the same number are applied to gate terminals 1 to 4 of switch FETs G1 to G4 shown in FIG. 3.

スイッチＧ３はパルス信号３のハイレベル期間において
導通しこのときスイッチＧ４は閉じられているので吸光
度信号がベースライン補正用の出力演算増幅器ＯＡＫ入
力されることになる。Since the switch G3 is conductive during the high level period of the pulse signal 3 and the switch G4 is closed at this time, the absorbance signal is inputted to the output operational amplifier OAK for baseline correction.

パルス信号３は第５図に釦イテ左カラ右への走査ストロ
ークの間ハイレベルとなっているから、この間だけ吸光
度信号が人力される。Since the pulse signal 3 is at a high level during the scanning stroke of the button from left to right in FIG. 5, the absorbance signal is input manually only during this period.

パルス信号４がハイレベルの期、即ち第５図で右から左
への走査期間中はスイッチＧ３が閉、同Ｇ４が開で出力
演算増幅器ＯＡの２人力が同じになり、ＯＡの出力はＯ
となっている。During the period when the pulse signal 4 is at a high level, that is, during the period of scanning from right to left in FIG.
It becomes.

従って出力演算増幅器ＯＡの出力の記録は第６図に示す
ようになり、同図の各ピークは第４図における左から右
への走査期間中に画かれたものである。The output of the output operational amplifier OA is therefore traced as shown in FIG. 6, in which each peak is plotted during a scan from left to right in FIG.

スイッチＦＥＴ Ｇ１．Ｇ２のゲートにはパルス信号
１，２が印加され、薄層Ｓのｙ方向送りの間、即ちモノ
クロメータＭの射出光が薄層の側縁部を照射している間
だけ導通して薄層Ｓだけの吸光度信号をサンプリングす
る。Switch FET G1. Pulse signals 1 and 2 are applied to the gate of G2, and conduction occurs only while the thin layer S is being fed in the y direction, that is, while the emitted light from the monochromator M is irradiating the side edge of the thin layer. Sample the absorbance signal of only S.

ＣＩ、Ｃ２はこのようにしてサンプリングされた信号を
保持するためのコンデンサで、Ｃ１は第５図で薄層の左
側の口。CI and C2 are capacitors for holding the signals sampled in this way, and C1 is the left opening of the thin layer in Figure 5.

二等の部分の吸光度信号を保持し、Ｃ２は同じく薄層の
右側のイ、へ等の部分の吸光度信号を保持する。The absorbance signal of the second part is held, and C2 also holds the absorbance signal of the parts A, B, etc. on the right side of the thin layer.

ＣＩ、Ｃ２に保持されている信号は夫々バッファ増幅器
Ｂｌ、Ｂ２を介して加算回路Ａに入力され加算される。The signals held in CI and C2 are input to the adder circuit A via buffer amplifiers Bl and B2, respectively, and are added together.

第４図、第５図を参照して説明すると、第４図でパルス
信号２におけるａのパルスによって第５図のイの部分の
吸光度がコンデンサＣ１に保持されており、次にパルス
信号１におけるｂのパルスで第５図の口の部分の吸光度
がコンデンサＣ２に保持すれるので、ｂのパルスの後パ
ルス信号２の次のパルスＣが出る昔での印加算回路Ａの
出力はイ２ロ両部分の吸光度の和に比例した出力を出し
ており、回路Ａの入出力の倍率を１／２ＶＣ設定してお
くとＡの出力はイ９ロ両部分の吸光度の平均を示すこと
になる。To explain this with reference to FIGS. 4 and 5, in FIG. 4, the absorbance at the part A in FIG. 5 is held in the capacitor C1 by the pulse a in the pulse signal 2, and then in the pulse signal 1 Since the absorbance at the mouth part in Figure 5 is held in the capacitor C2 by the pulse b, the output of the adder circuit A in the past when the next pulse C of the pulse signal 2 is generated after the pulse b is 2 ro. It outputs an output proportional to the sum of the absorbances of both parts, and if the input/output magnification of circuit A is set to 1/2 VC, the output of A will show the average of the absorbances of both parts.

さてパルスｂ以後パルスＣが出る１での間出力演算増幅
器ＯＡの十入力端子には上記したイ９ロ両部分の吸光度
の平均の値に相当する信号が印加されてお悦、ＯＡの出
力はこの信号レベルを基準とした吸光度信号を記録計Ｒ
に出力することになる。Now, during the time period 1 when pulse C is generated after pulse B, a signal corresponding to the average value of the absorbance of both parts (a) and (b) above is applied to the input terminal of the output operational amplifier OA, and the output of OA is Recorder R records the absorbance signal based on this signal level.
It will be output to .

以下パルスｃ、ｄ、ｅＶＣついても同様のことが行われ
、記録計Ｒの記録（第６図）は各ピーク部分が夫々薄層
走査ストロークの両端の吸光度の平均によってベースラ
イン補正されたものとなっている。The same thing was done for pulses c, d, and eVC, and the recording by recorder R (Fig. 6) shows that each peak portion has been baseline corrected by the average of the absorbance at both ends of the thin layer scanning stroke. It has become.

本考案によれば第６図に示すように各ピークの高さが単
調に変化している記録が得られるので、各ピークの頂上
を連ねる包絡線を容易に想定して薄層上にスポットを形
成上た試料成分の総量を求める積分を行うことができる
。According to the present invention, a record in which the height of each peak changes monotonically as shown in Figure 6 can be obtained, so it is easy to imagine an envelope connecting the tops of each peak and place a spot on the thin layer. Integration can be performed to determine the total amount of sample components formed.

従来装置による測定記録は第２図に示すように隣接ピー
クが互にベースライン補正の基準が異なっているためピ
ーク高さが一つかきに上下しており、分析操作を実行し
ている者はこのような記録から平均化した単調な包絡線
を想定することには現実のデータを便宜的に操作してい
るような強い心理的抵抗を感じるものである。As shown in Figure 2, measurement records using conventional equipment show that adjacent peaks have different standards for baseline correction, so the peak heights go up and down all at once. There is a strong psychological resistance to assuming a monotonous averaged envelope from such records, as if we are manipulating actual data for convenience.

これに対し本考案装置に卦いては上述したように装置そ
のものが単調化処理を行って記録をするので分析操作者
は容易に記録結果を処理することができることになる。On the other hand, in the apparatus of the present invention, as described above, the apparatus itself performs monotonic processing and records, so that the analysis operator can easily process the recorded results.

なお本考案は上述実施態様の他にもその趣旨に沿った種
々な実施態様が可能である。In addition to the embodiments described above, the present invention can be implemented in various other ways according to the spirit thereof.

まず、上述実施例でｙ方向の送りなＯとし、Ｘ方向往復
の各ストローク端でパルス信号１，２等の期間だけ停止
させることにし、他方モノクロメータＭの波長を次第に
変えて行くと、薄層上の一つのスポットについて吸光度
最大の波長を検出することができる。First, in the above embodiment, the feed in the y direction is set to O, and it is decided to stop the pulse signal 1, 2, etc. at each stroke end of the reciprocating stroke in the X direction, and on the other hand, if the wavelength of the monochromator M is gradually changed, the thin The wavelength of maximum absorbance can be detected for one spot on the layer.

従来装置で同様の操作をするときは走査の往ストローク
と復ストロークではベースライン補正基準が異なるから
記録は第７図のようになり、この記録の各ピークを連ね
たカーブはあたかも最大吸収を示す波長が２つあるよう
な錯覚を与えることになるが、本考案装置によればその
ようなことがなくなる。When performing the same operation with a conventional device, the baseline correction standard is different for the forward and backward strokes of scanning, so the record will be as shown in Figure 7, and the curve that connects each peak in this record will appear to indicate maximum absorption. This would give the illusion that there are two wavelengths, but the device of the present invention eliminates this.

更に本考案の趣旨をつきつめると、従来は往復の各スト
ロークにおいて、往ストロークの始点のデータで往スト
ローク中の測定結果を補正し、復ストロークの始点のデ
ータで環ストローク中の測定データを補正していた＼め
隣接測定結果の補正基準が異なったものとなっていたの
を往ストロークまたは復ストローク何れかのストローク
のみで測定を行い、補正基準を同質化した点に本考案の
趣旨があるので、補正のためのデータのサンプリング位
置を第４図のイ、へ等薄層の片側に限定することも本考
案の範囲に属するのである。Further, to get to the point of this invention, conventionally, for each reciprocating stroke, the measurement results during the forward stroke were corrected using the data at the starting point of the forward stroke, and the measured data during the ring stroke were corrected using the data at the starting point of the backward stroke. The purpose of the present invention is to measure only the forward stroke or the backward stroke, and to make the correction standards homogeneous, since the correction standards for adjacent measurement results were different. , it is also within the scope of the present invention to limit the sampling position of data for correction to one side of the thin layer such as A in FIG.

また本考案装置に２波長法によるノイズ除去の手段を併
設することも任意に可能である。Further, it is also possible to optionally provide the apparatus of the present invention with means for noise removal using a two-wavelength method.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第１図は従来のベースライン補正方法を説明する薄層の
走査軌跡図、第２図は従来装置による記録の一例を示す
グラフ、第３図は本考案の一実施例装置の構成を示すブ
ロック図、第４図は上記装置に釦ける制御パルスの波形
図、第５図は上記装置による薄層走査の軌跡と各制御パ
ルスとの関係を説明する走査軌跡図、第６図は上記装置
による記録の一例を示すグラフ、第７図は一つのスポッ
トにち・ける最大吸収波長を検出する場合の従来装置に
よる測定記録を示すグラフである。 Ｍ・・・・・・モノクロメータ、Ｓ・・・・・・薄層、
Ｐ・・・・・・ホトマルチプライヤ、Ｄ・・・・・・走
査駆動装置、ＰＧ・・・・・・パルスジェネレータ、Ｌ
・・・・・・吸光度変換器、ＯＡ・・・・・・ベースラ
イン補正用出力演算増幅器、ＣＩ、Ｃ２・・・・・・サ
ンプリング情報保持用コンデンサ、Ａ・・・・・・加算
回路。Fig. 1 is a scan locus diagram of a thin layer explaining a conventional baseline correction method, Fig. 2 is a graph showing an example of recording by a conventional device, and Fig. 3 is a block diagram showing the configuration of an embodiment of the device of the present invention. Figure 4 is a waveform diagram of the control pulse that is pressed in the above device, Figure 5 is a scanning locus diagram explaining the relationship between the locus of thin layer scanning by the above device and each control pulse, and Figure 6 is a waveform diagram of the control pulse used by the above device. FIG. 7 is a graph showing an example of a record, and is a graph showing a measurement record by a conventional device when detecting the maximum absorption wavelength at one spot. M... Monochromator, S... Thin layer,
P...Photomultiplier, D...Scanning drive device, PG...Pulse generator, L
...Absorbance converter, OA... Output operational amplifier for baseline correction, CI, C2... Capacitor for holding sampling information, A... Addition circuit.

Claims (1)

【実用新案登録請求の範囲】[Scope of utility model registration request] 展開試料担体を光点により走査し反射或は透過光或はけ
い光を測光する構成を有し、上記走査と同期して走査の
一方向のストロークの一端または両端Ｖｃ釦ける測光出
力をサンプリングする手段と、このサンプリング情報を
次のサンプリングまで保持する手段と、上記走査の一方
向のストロークにおける測光出力をベースライン補正回
路に入力させる手段と、手記ストロークの一端における
サンプリング情報の保持出力或は両端におけるサンプリ
ング精報の保持出力の和をベースライン補正信号として
入力される上記ベースライン補正回路とよりなるデンシ
トメータ。It has a configuration in which the developed sample carrier is scanned by a light spot and reflected, transmitted, or fluorescent light is photometered, and in synchronization with the scanning, the photometric output is sampled by pressing the Vc button at one end or both ends of the scanning stroke in one direction. means for retaining the sampling information until the next sampling; means for inputting the photometric output in one direction of the scanning stroke to the baseline correction circuit; and retaining output of the sampling information at one end of the handwriting stroke or at both ends. A densitometer comprising the above-mentioned baseline correction circuit which receives the sum of the held outputs of the sampling precision signals as a baseline correction signal.