JPH06267283A - データ書き込み可能な読み出し専用メモリ及びそのデータ書き込み/読み出し方法 - Google Patents

データ書き込み可能な読み出し専用メモリ及びそのデータ書き込み/読み出し方法

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JPH06267283A
JPH06267283A JP5564693A JP5564693A JPH06267283A JP H06267283 A JPH06267283 A JP H06267283A JP 5564693 A JP5564693 A JP 5564693A JP 5564693 A JP5564693 A JP 5564693A JP H06267283 A JPH06267283 A JP H06267283A
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Yasuhiro Okuda
靖浩 奥田
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Mitsubishi Electric Corp
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Mitsubishi Electric Corp
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    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C16/00Erasable programmable read-only memories
    • G11C16/02Erasable programmable read-only memories electrically programmable
    • G11C16/06Auxiliary circuits, e.g. for writing into memory
    • G11C16/26Sensing or reading circuits; Data output circuits
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C16/00Erasable programmable read-only memories
    • G11C16/02Erasable programmable read-only memories electrically programmable
    • G11C16/06Auxiliary circuits, e.g. for writing into memory
    • G11C16/10Programming or data input circuits

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Abstract

(57)【要約】 【目的】 PROMの電源ラインのアルミ幅を縮小すること
を可能とし、また1回の書き込み動作で書き込まれるデ
ータ長を拡大する場合に電源ラインのアルミ幅を拡大す
る必要がなく、消費電流を削減することを可能とする。 【構成】 メモリセルアレイ(1) に書き込まれるべきデ
ータの内の”0”のビット数が所定ビット長の1/2以
上であるか否かを判定する”0”数判定回路(8) と、こ
の判定結果をそれぞれのデータに対応させて記憶するモ
ニタビットセル群(9) と、書き込まれるべきデータの内
の”0”の数が所定ビット長の1/2以上であると判定
された場合はそのデータの各ビットの値を反転してデー
タ書込み/読出し回路(2) に出力しすると共に、読み出
されるべきデータの内の”0”の数が所定ビット長の1
/2以上であったことをモニタビットセル群(9) が記憶
している場合はデータメモリセルアレイ(1) が読み出し
たデータの各ビットの値を反転して出力するデータ反転
選択回路(12)とを備えている。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、PROM(Programable Rea
d-Only Memory)と称されるデータ書き込み可能な読み出
し専用メモリ、特に電気的な操作によりデータの書き込
みが可能な固定記憶素子であるEEPROMに関し、またその
データ書き込み/読み出し方法に関する。
【0002】
【従来の技術】図3は一般的なマイクロコンピュータに
内蔵される従来データ書き込み可能な読み出し専用メモ
リとしてののPROMの構成を示すブロック図である。図3
において、参照符号1はデータを保持するためのメモリ
本体としてのメモリセルアレイを示しており、複数のメ
モリセル1aが行×列方向のマトリックス状に配列された
構成になっている。
【0003】このメモリセルアレイ1は後述するデータ
書き込み/読み出し回路2を介してデータバスDBと接続
されている。各メモリセル1aにはデータ書き込み/読み
出し回路(データW/R回路)2によりデータバスDBか
ら入力されたデータの各ビットの値が書き込まれ、また
逆に各メモリセル1aに記憶されている値がデータの各ビ
ットの値としてデータバスDBへ読み出される。
【0004】メモリセルアレイ1内の各メモリセル1a
は、上述のようにマトリックス状に配列されており、そ
の各行 (列) 方向のメモリセル1aは共通のワード線7に
接続され、各列(行)方向のメモリセル1aは共通のビッ
ト線6に接続されている。従って、各メモリセル1aはい
ずれか1本のワード線7といずれか1本のビット線6と
に接続されている。
【0005】各ワード線7はワード選択回路20に、各ビ
ット線6はデータ書き込み/読み出し回路2にそれぞれ
接続されている。データ書き込み/読み出し回路2に
は、データ書き込み信号(以下、DR信号という) 線3、
データ書き込みパルス信号(以下、 PGM信号という)線
4及び電源ライン5が接続されている。
【0006】電源ライン5はデータ書き込み/読み出し
回路2にデータ書き込み電圧Vppを供給する。また、DR
信号線3によりデータ書き込み/読み出し回路2に与え
られるDR信号がアクティブになるとメモリセルアレイ1
の1本のワード線7に接続されている1行(列)の各メ
モリセル1aからデータ書き込み/読み出し回路2へデー
タが読み出される。 PGM信号4によりメモリセルアレイ
1に与えられる PGM信号がLレベルになると、データ”
0”が書き込まれるべきビット線6に電源ライン5が選
択的に接続されてデータ書き込み電圧Vppが出力され
る。
【0007】上述のように構成された従来のPROMのデー
タ書き込み時の動作は以下の如くである。まず、メモリ
セルアレイ1に記憶されるべきデータがデータバスDBか
らデータ書き込み/読み出し回路2に与えられると共
に、そのデータが記憶されるべきメモリセルアレイ1の
アドレスを指示するアドレス信号が図示されていないデ
コーダに外部から与えられる。
【0008】この外部から与えられたアドレスのデコー
ド結果に応じてワード選択回路20が1本のワード線7を
選択することにより、その選択されたワード線7に接続
されている1行(列)の各メモリセル1aがアクセスされ
る。次に、 PGM信号線4により与えられている PGM信号
がLレベルになると、データ書き込み/読み出し回路2
はメモリセルアレイ1に書き込むべきデータの内の”
0”のデータが書き込まれるべきメモリセル1aに接続し
ているビット線6の電位を電源ライン5から与えられて
いるデータ書き込み電圧Vppに固定する。そして、この
PGM信号がLレベルを維持している期間において、ビッ
ト線6を介して各メモリセル1aのソース・ドレイン間に
電流を流すことにより、データの書き込みが行われる。
【0009】このデータ書き込みの際の各1回の動作、
換言すればメモリセルアレイ1の各1行(列)にデータ
を書き込む際に必要な電流Ippは、電流が流れたビット
線6の数、即ちメモリセルアレイ1の各1行(列) に書
き込まれるべきデータの内の”0”のデータの数により
規定される。従って、1行(列) に書き込まれるべきデ
ータの全ビットが”0”である場合に電流Ippが最大に
なる。通常、1個の”0”のデータを書き込むために必
要な電流Ippは1mA程度であるので、たとえばメモリセ
ルアレイ1に16ビット単位でデータの書き込みが行われ
るとすれば、電流Ippの最大値は16mA程度になる。
【0010】一方、データの読み出し時の動作は以下の
ようになる。まず、メモリセルアレイ1から読み出され
るべきデータが記憶されているメモリセルアレイ1のア
ドレスを指示するアドレス信号が図示されていないデコ
ーダに外部から与えられる。
【0011】この外部から与えられたアドレスのデコー
ド結果に応じてワード選択回路20が1本のワード線7を
選択することにより、その選択されたワード線7に接続
されているメモリセルアレイ1の1行(列)の各メモリ
セル1aがアクセスされる。次に、DR信号線3により与え
られているDR信号がアクティブになると、データ書き込
み/読み出し回路2はワード選択回路20により選択され
ているワード線7と接続されている1行(列)の各メモ
リセル1aに記憶されている信号(データ)を読み出して
データバスDBへ出力する。
【0012】
【発明が解決しようとする課題】従来のPROM、即ちデー
タ書き込み可能な読み出し専用メモリにおいては上述の
ような手法でデータの書き込みを行っているため、1回
のデータの書き込み動作に際して、書き込まれるべきデ
ータの全ビットが”0”である場合にデータ書き込み電
流Ippが最大になる。一方、データ書き込み電圧Vppを
供給する電源ラインのアルミ幅は上述のデータ書き込み
電流Ippの最大値を許容する幅が必要になると共に消費
電流も増大する。また、PROMに書き込むデータ長を拡大
する場合、たとえば16ビットから32ビットに拡大する場
合にはそれに応じて電源ラインのアルミ幅を拡大する必
要が生じ、また消費電流も増大する。
【0013】本発明はこのような事情に鑑みてなされた
ものであり、従来のデータ書き込み可能な読み出し専用
メモリの電源ラインのアルミ幅を縮小することを可能と
し、また1回の書き込み動作で書き込まれるデータ長を
拡大する場合に電源ラインのアルミ幅を拡大する必要が
なく、消費電流を削減することが可能なデータ書き込み
可能な読み出し専用メモリ及びそのデータ書き込み/読
み出し方法の提供を目的とする。
【0014】
【課題を解決するための手段】本発明に係るデータ書き
込み可能な読み出し専用メモリは、メモリ本体に書き込
まれるべきデータの内の第1の値のビット数が所定ビッ
ト長の1/2以上であるか否かを判定する判定手段と、
この判定手段の判定結果をそれぞれのデータに対応させ
て記憶する判定結果記憶手段と、メモリ本体に書き込ま
れるべきデータの内の第1の値の数が所定ビット長の1
/2以上であると判定手段が判定した場合はそのデータ
の各ビットの値を反転してデータ書き込み/読み出し手
段へ出力し、メモリ本体から読み出されるべきデータの
内の第1の値の数が所定ビット長の1/2以上であるこ
とを判定結果記憶手段が記憶している場合はデータ書き
込み/読み出し手段がメモリ本体から読み出したデータ
の各ビットの値を反転してデータバスへ出力するデータ
反転手段とを備えたことを特徴とする。
【0015】また、本発明のデータ書き込み可能な読み
出し専用メモリは、前述の判定結果記憶手段が、電流が
通流することにより第1の値が、電流が通流しないこと
により第2の値がそれぞれ書き込まれる複数の判定結果
メモリセルにて構成された判定結果メモリ本体と、メモ
リ本体に書き込まれるべきデータの内の第1の値の数が
所定ビット長の1/2以上であると判定手段が判定した
場合に第2の値を、メモリ本体に書き込まれるべきデー
タの内の第1の値の数が所定ビット長の1/2未満であ
ると判定手段が判定した場合に第1の値をそれぞれのデ
ータに対応する判定結果メモリセルに書き込み、またメ
モリ本体から読み出されるべきデータに対応する判定結
果メモリセルに記憶されている値を読み出してデータ書
き込み/読み出し手段へ出力する判定結果データ書き込
み/読み出し手段とを備えたことを特徴とする。
【0016】更に、本発明のデータ書き込み可能な読み
出し専用メモリのデータ書き込み/読み出し方法は、メ
モリ本体に書き込まれるべきデータの内の第1の値のビ
ット数が所定ビット長の1/2以上であるか否かを判定
し、メモリ本体に書き込まれるべきデータの内の第1の
値の数が所定ビット長の1/2以上であると判定された
場合はそのデータの各ビットの値を反転して、他の場合
は反転せずにメモリ本体の指定されたメモリセルそれぞ
れに書き込み、メモリ本体から読み出されるべきデータ
がメモリ本体に書き込まれた際にその内の第1の値の数
が所定ビット長の1/2以上であったと判定されていた
場合は、メモリ本体の指定されたメモリセルそれぞれか
ら読み出されたデータの各ビットの値を反転して、他の
場合は反転せずに読み出すことを特徴とする。
【0017】また、本発明のデータ書き込み可能な読み
出し専用メモリのデータ書き込み/読み出し方法は、電
流が通流することにより第1の値が、電流が通流しない
ことにより第2の値がそれぞれ書き込まれる複数の判定
結果メモリセルにて構成された判定結果メモリ本体のそ
れぞれのデータに対応した判定結果メモリセルそれぞれ
に、メモリ本体に書き込まれるべきデータの内の第1の
値の数が所定ビット長の1/2以上であると判定された
場合に第2の値を、メモリ本体に書き込まれるべきデー
タの内の第1の値の数が所定ビット長の1/2未満であ
ると判定された場合に第1の値をそれぞれのデータに対
応して書き込むことを特徴とする。
【0018】
【作用】本発明に係るデータ書き込み可能な読み出し専
用メモリでは、メモリ本体に書き込まれるべきデータの
内の第1の値のビット数が所定ビット長の1/2以上で
あるか否かが判定手段により判定され、この判定結果が
それぞれのデータに対応させて判定結果記憶手段により
記憶され、データの書き込みに際しては書き込まれるべ
きデータの内の第1の値の数が所定ビット長の1/2以
上であると判定手段が判定した場合はデータバスから入
力されたデータの各ビットの値がデータ反転手段により
反転されてデータ書き込み/読み出し手段によりメモリ
本体に書き込まれ、データの読み出しに際しては読み出
されるべきデータの内の第1の値の数が所定ビット長の
1/2以上であることが判定結果記憶手段に記憶されて
いる場合はデータ書き込み/読み出し手段がメモリ本体
から読み出したデータの各ビットの値がデータ反転手段
により反転されてデータバスへ出力される。
【0019】また、本発明のデータ書き込み可能な読み
出し専用メモリでは、前述の判定結果記憶手段におい
て、判定結果メモリ本体の複数の判定結果メモリセルに
電流が通流することにより第1の値が、電流が通流しな
いことにより第2の値がそれぞれ書き込まれ、メモリ本
体へのデータの書き込みに際してはメモリ本体に書き込
まれるべきデータの内の第1の値の数が所定ビット長の
1/2以上であると判定手段が判定した場合に第2の値
が、メモリ本体に書き込まれるべきデータの内の第1の
値の数が所定ビット長の1/2未満であると判定手段が
判定した場合に第1の値がそれぞれのデータに対応する
判定結果メモリセルに判定結果データ書き込み/読み出
し手段により書き込まれ、またメモリ本体からのデータ
の読み出しに際してはメモリ本体から読み出されるべき
データに対応する判定結果メモリセルに記憶されている
値がデータ書き込み/読み出し手段により読み出され
る。
【0020】更に、本発明のデータ書き込み可能な読み
出し専用メモリのデータ書き込み/読み出し方法では、
データの書き込みに際してはメモリ本体に書き込まれる
べきデータの内の第1の値のビット数が所定ビット長の
1/2以上であるか否かが判定され、書き込まれるべき
データの内の第1の値の数が所定ビット長の1/2以上
であると判定された場合はデータバスから入力されたデ
ータの各ビットの値が反転されて、他の場合は反転され
ずにメモリ本体の指定されたメモリセルそれぞれに書き
込まれ、データの読み出しに際しては読み出されるべき
データがメモリ本体に書き込まれた際にその内の第1の
値の数が所定ビット長の1/2以上であったと判定され
ていた場合は、メモリ本体の指定されたメモリセルそれ
ぞれから読み出されたデータの各ビットの値が反転され
て、他の場合は反転されずに読み出される。
【0021】また、本発明のデータ書き込み可能な読み
出し専用メモリのデータ書き込み/読み出し方法では、
電流が通流することにより第1の値が、電流が通流しな
いことにより第2の値がそれぞれ書き込まれる複数の判
定結果メモリセルにて構成された判定結果メモリ本体の
それぞれのデータに対応した判定結果メモリセルそれぞ
れに、メモリ本体に書き込まれるべきデータの内の第1
の値の数が所定ビット長の1/2以上であると判定され
た場合に第2の値が、メモリ本体に書き込まれるべきデ
ータの内の第1の値の数が所定ビット長の1/2未満で
あると判定された場合に第1の値がそれぞれのデータに
対応して書き込まれる。
【0022】
【実施例】以下、本発明をその実施例を示す図面に基づ
いて詳述する。
【0023】図1は本発明に係るデータ書き込み可能な
読み出し専用メモリの一実施例の構成を示すブロック図
である。図1において、参照符号1はデータを保持する
ためのメモリ本体としてのメモリセルアレイを示してお
り、複数のメモリセル1aが行×列方向のマトリックス状
に配列された構成になっている。
【0024】このメモリセルアレイ1は後述するデータ
反転手段としてのデータ反転選択回路12及びデータ書き
込み/読み出し回路2を介してデータバスDBと接続され
ている。各メモリセル1aにはデータ書き込み/読み出し
回路(データW/R回路)2によりデータバスDBから入
力されたデータの各ビットの値が書き込まれ、また逆に
各メモリセル1aに記憶されている値がデータの各ビット
の値としてデータバスDBへ読み出される。
【0025】メモリセルアレイ1内の各メモリセル1a
は、上述のようにマトリックス状に配列されており、そ
の各行 (列) 方向のメモリセル1aは共通のワード線7に
接続され、各列(行)方向のメモリセル1aは共通のビッ
ト線6に接続されている。従って、各メモリセル1aはい
ずれか1本のワード線7といずれか1本のビット線6と
に接続されている。
【0026】各ワード線7はワード選択回路20に、各ビ
ット線6はデータ書き込み/読み出し回路2にそれぞれ
接続されている。データ書き込み/読み出し回路2に
は、データ書き込み信号(以下、DR信号という) 線3、
データ書き込みパルス信号(以下、 PGM信号という)線
4及び電源ライン5が接続されている。
【0027】電源ライン5はデータ書き込み/読み出し
回路2にデータ書き込み電圧Vppを供給する。また、DR
信号線3によりデータ書き込み/読み出し回路2に与え
られるDR信号がアクティブになると、メモリセルアレイ
1からデータ書き込み/読み出し回路2へデータが読み
出される。 PGM信号4によりメモリセルアレイ1に与え
られる PGM信号がLレベルになると、データ”0”が書
き込まれるべきビット線6に電源ライン5が選択的に接
続されてデータ書き込み電圧Vppが出力される。
【0028】参照符号8は判定手段としての”0”数判
定回路である。この”0”数判定回路8はデータバスDB
と接続されており、データバスDBからメモリセルアレイ
1に書き込まれるべきデータがこの”0”数判定回路8
にも与えられるようになっている。そして、”0”数判
定回路8はメモリセルアレイ1に書き込まれるべきデー
タがデータバスDBから与えられると、その内の”0”の
データのビット数がデータ長の1/2以上であるか否かを
判定する。
【0029】具体的には、メモリセルアレイ1の各ワー
ド線7に接続されているメモリセル1aが16個であれば、
換言すれば1回のデータ書き込み動作でメモリセルアレ
イ1に書き込まれるデータ長が16ビットであれば、その
データの内の8ビット以上が”0”である場合は”0”
数判定回路8は後述する如くHレベルのオーバフロー信
号OVF をオーバフロー信号線13へ出力する。このオーバ
フロー信号OVF はオーバフロー信号線13から”0”信号
線131 を介して前述のデータ反転選択回路12に”0”数
判定結果信号(以下、”0”信号という)として与えら
れると共に、オーバフロー信号線13からモニタデータ書
き込みパルス信号(以下、MPGM信号という)線132 を介
して判定結果データ書き込み/読み出し手段としてのモ
ニタビット書き込み/読み出し回路(モニタビットW/
R回路)10にはMPGM信号として与えられる。
【0030】参照符号9は判定結果記憶手段としてのモ
ニタビットセル群を、10は上述の如くモニタビット書き
込み/読み出し回路をそれぞれ示している。モニタビッ
トセル群9はワード線7の数と同数の判定結果メモリセ
ルとしのモニタビットセル9aにて構成されており、各モ
ニタビットセル9aにはそれぞれ対応するモニタビットセ
ル9aがメモリセルアレイ1を貫通して接続されている。
また、モニタビットセル群9の各モニタビットセル9aに
はモニタビット書き込み/読み出し回路10からモニタビ
ット線11が接続されている。
【0031】従って、ワード選択回路20によりいずれか
のワード線7が選択されると、そのワード線7に接続す
るメモリセルアレイ1の各メモリセル1aのみならず、そ
のワード線7に接続するモニタビットセル9aもアクセス
されることになる。
【0032】モニタビット書き込み/読み出し回路10に
はデータ書き込み/読み出し回路2と同様にDR信号線3
及び電源ライン5が接続されており、またMPGM信号線13
2 を介してMPGM信号も与えられているので、基本的な動
作も、データ書き込み/読み出し回路2のビット線6に
相当するモニタビット線11が1本であること以外はデー
タ書き込み/読み出し回路2と同様である。
【0033】但し、モニタビット書き込み/読み出し回
路10には、”0”数判定回路8からオーバフロー信号線
13及びMPGM信号線132 を介してオーバフロー信号OVF が
MPGM信号として与えられている。従って、モニタビット
書き込み/読み出し回路10は、MPGM信号がHレベルであ
る場合には”1”のデータを、Lレベルである場合に
は”0”のデータをそれぞれ書き込む動作を行う。
【0034】具体的には、MPGM信号がLレベルであれ
ば、モニタビット書き込み/読み出し回路10は電源ライ
ン5から供給されているデータ書き込み電圧Vppをモニ
タビット線11へ出力することにより、ワード選択回路20
により選択されているワード線7に接続するモニタビッ
トセル9aに”0”のデータを書き込む。一方、MPGM信号
がHレベルであれば、モニタビット書き込み/読み出し
回路10は電源ライン5から供給されているデータ書き込
み電圧Vppをモニタビット線11へ出力しないことによ
り、ワード選択回路20により選択されているワード線7
に接続するモニタビットセル9aに”1”のデータを書き
込む。
【0035】一方、メモリセルアレイ1からのデータの
読み出しに際しては、データ書き込み/読み出し回路2
と同様に、DR信号線3を介してDR信号が与えられること
により、モニタビット書き込み/読み出し回路10は選択
されているワード線7と接続するモニタビットセル9aが
記憶しているデータを読み出してモニタビット信号(以
下、MB信号という) としてモニタビット信号線14へ出力
してデータ反転選択回路12に与えている。
【0036】図2は”0”数判定回路8の構成例を示す
ブロック図である。図2において、参照符号8aはシフト
レジスタを、8bは2入力のORゲートを、8cはアップカウ
ンタをそれぞれ示している。
【0037】シフトレジスタ8aはデータバスDBと接続さ
れていて、メモリセルアレイ1に記憶されるべきデータ
が入力される。またシフトレジスタ8aにはクロックCLK
が与えられており、データバスDBから入力したデータを
クロックCLK に同期して1ビットずつ、図2上で左側か
ら右側へシフトしつつ最右側のビットを出力してORゲー
ト8bの一方の入力端子に入力させる。
【0038】ORゲート8bの他方の入力端子にはクロック
CLK が入力されている。従って、シフトレジスタ8aから
出力されるデータが”0”である場合にはORゲート8bの
出力としてクロックCLK がそのまま出力され、シフトレ
ジスタ8aから出力されるデータが”1”である場合には
ORゲート8bの出力はHレベルに固定される。
【0039】アップカウンタ8cは上述のようなORゲート
8bの出力を入力してクロックCLK の立下がりエッジを計
数するように構成されている。従って、アップカウンタ
8cはシフトレジスタ8aに保持されているデータの内の”
0”のデータの数を計数することになる。そして、この
アップカウンタ8cはメモリセルアレイ1に記憶されるデ
ータ長の1/2の数(データ長が16ビットであれば8)を
カウントするとオーバフローしてHレベルのオーバフロ
ー信号OVF を出力する。このオーバフロー信号OVF がオ
ーバフロー信号線13へ出力され、データ反転選択回路12
には”0”信号線131 から”0”信号として、モニタビ
ット書き込み/読み出し回路10にはMPGM信号線132 から
MPGM信号としてそれぞれ与えられている。
【0040】以上のように構成された本発明のPROMの動
作について、以下に説明する。データ書き込み時の動作
は以下の如くである。
【0041】まず、メモリセルアレイ1に記憶されるべ
きデータが1行(列)データバスDBからデータ反転選択
回路12及び”0”数判定回路8に与えられる。またこの
際、そのデータが記憶されるべきメモリセルアレイ1の
アドレスを指示するアドレス信号が図示されていないデ
コーダに外部から与えられる。
【0042】”0”数判定回路8ではデータバスDBから
与えられたデータの”0”のビットがデータ長の1/2
以上であるか否かを前述のようにして判定する。いまた
とえばデータ長が16ビットであるとして”0”のビット
が8個以上であったとすると、”0”数判定回路8から
Hレベルのオーバフロー信号OVF がオーバフロー信号線
13へ出力されてデータ反転選択回路12には”0”信号線
131 から”0”信号として、モニタビット書き込み/読
み出し回路10にはMPGM信号線132からMPGM信号としてそ
れぞれ与えられる。
【0043】データ反転選択回路12では”0”信号線13
1 から与えられる”0”信号がHレベルであれば、デー
タバスDBから入力されているデータの各ビットの値を反
転する。たとえば、データバスDBから入力されたデータ
が”00h (hは16進数を表す)”であれば”FFh ”にす
る。データ反転選択回路12はこのように各ビットの値を
反転したデータをデータ書き込み/読み出し回路2に送
る。
【0044】一方、外部から与えられたアドレスのデコ
ード結果に応じてワード選択回路20が1本のワード線7
を選択することにより、そのワード線7に接続されてい
るメモリセルアレイ1の1行(列)の各メモリセル1aが
アクセスされる。
【0045】次に、 PGM信号線4によりデータ書き込み
/読み出し回路2に与えられているPGM信号がLレベル
になると、従来例と同様に、データ書き込み/読み出し
回路2は前述のようにデータ反転選択回路12から送られ
てきたデータの内の”0”のデータが書き込まれるべき
メモリセル1aに接続しているビット線6の電位を電源ラ
イン5から与えられているデータ書き込み電圧Vppに固
定する。そして、このPGM信号がLレベルを維持してい
る期間において、ビット線6を介して各メモリセル1aの
ソース・ドレイン間に電流を流すことにより、データの
書き込みが行われる。
【0046】なお、上述のようにしてデータ書き込み/
読み出し回路2によりメモリセルアレイ1に書き込まれ
るデータは、データ反転選択回路12により本来のデータ
の各ビットの値を反転したデータであることは言うまで
もない。
【0047】また、上述のメモリセルアレイ1へのデー
タの書き込みと同時に、ワード選択回路20により選択さ
れているワード線7と接続しているモニタビットセル群
9のモニタビットセル9aもアクセスされると共に、モニ
タビット書き込み/読み出し回路10にMPGM信号線132 か
ら与えられているMPGM信号はHレベルになる。従って、
選択されているワード線7に接続しているモニタビット
セル9aには”1”が書き込まれる。
【0048】次に、メモリセルアレイ1に記憶されるべ
きデータのデータ長がたとえば16ビットであるとして”
0”のビットが8個未満である場合について説明する。
この場合、”0”数判定回路8からLレベルのオーバフ
ロー信号OVF がオーバフロー信号線13へ出力されてデー
タ反転選択回路12には”0”信号線131 から”0”信号
として、モニタビット書き込み/読み出し回路10にはMP
GM信号線132 からMPGM信号としてそれぞれ与えられる。
【0049】データ反転選択回路12では”0”信号線13
1 から与えられる”0”信号がHレベルであれば、デー
タバスDBから入力されているデータの各ビットの値を反
転することなしにそのままデータ書き込み/読み出し回
路2に送る。このデータ反転選択回路12からデータ書き
込み/読み出し回路2に送られたデータがメモリセルア
レイ1に書き込まれる動作は上述の場合と同様であるの
で省略する。
【0050】一方、上述のメモリセルアレイ1へのデー
タの書き込みと同時に、ワード選択回路20により選択さ
れているワード線7と接続しているモニタビットセル群
9のモニタビットセル9aもアクセスされると共に、モニ
タビット書き込み/読み出し回路10にMPGM信号線132 か
ら与えられているMPGM信号はLレベルになる。従って、
選択されているワード線7に接続しているモニタビット
セル9aには”0”が書き込まれる。
【0051】一方、データの読み出し時の動作は以下の
ようになる。まず、メモリセルアレイ1から読み出され
るべきデータが記憶されているメモリセルアレイ1のア
ドレスを指示するアドレス信号が図示されていないデコ
ーダに外部から与えられる。
【0052】この外部から与えられたアドレスのデコー
ド結果に応じてワード選択回路20が1本のワード線7を
選択することにより、その選択されたワード線7に接続
されているメモリセルアレイ1の1行(列)の各メモリ
セル1aがアクセスされる。次に、DR信号線3により与え
られているDR信号がアクティブになると、データ書き込
み/読み出し回路2はワード選択回路20により選択され
ているワード線7と接続されている1行(列)の各メモ
リセル1aに記憶されている信号(データ)を読み出して
データ反転選択回路12へ出力する。
【0053】一方、ワード選択回路20により選択された
ワード線7と接続するモニタビットセル群9のモニタビ
ットセル9aもアクセスされる。また同時に、DR信号線3
を介してモニタビット書き込み/読み出し回路10に与え
られているDR信号もアクティブになるので、ワード選択
回路20により選択されたワード線7と接続するモニタビ
ットセル群9のモニタビットセル9aが記憶している値が
モニタビット書き込み/読み出し回路10に読み出され
る。
【0054】このようにしてモニタビット書き込み/読
み出し回路10に読み出された値が”0”であれば、メモ
リセルアレイ1からデータ書き込み/読み出し回路2へ
読み出されたデータはそれがメモリセルアレイ1に記憶
された時点では反転されていなかったことになる。この
場合、メモリセルアレイ1からデータ書き込み/読み出
し回路2に読み出されたデータはデータ反転選択回路12
で反転されること無しにデータバスDBへそのまま出力さ
れる。
【0055】しかし、モニタビット書き込み/読み出し
回路10に読み出された値が”1”であれば、メモリセル
アレイ1からデータ書き込み/読み出し回路2へ読み出
されたデータはそれがメモリセルアレイ1に記憶された
時点で反転されていたことになる。この場合、メモリセ
ルアレイ1からデータ書き込み/読み出し回路2に読み
出されたデータはデータ反転選択回路12で反転された上
でデータバスDBへ出力される。
【0056】以上の実施例のように、本発明のデータ書
き込み可能な読み出し専用メモリ及びそのデータ書き込
み/読み出し方法によれば、2進値の”0”をPROMのメ
モリセルに書込む際にそのメモリセルに電流が通流され
るが、その場合に必要な電流Ippの最大値は、従来のPR
OMにおいてメモリセルアレイに書き込まれるデータのデ
ータ長の1/2のビット数が”0”である場合と同様に
なる。
【0057】具体的には、たとえばデータ長が16ビット
であって、その内の8個のビットが”0”である場合に
は、データが反転されてPROMのメモリセルアレイには8
個の”0”が書き込まれるが、モニタビットセル群に
は”1”が書き込まれるので、全体では8個の”0”が
書き込まれることになる。また、たとえばデータ長が16
ビットであって、その内の7ビットが”0”である場合
には、データは反転されずにPROMのメモリセルアレイに
は7個の”0”が書き込まれるが、モニタビットセル群
には”0”が書き込まれるので、全体では8個の”0”
が書き込まれることになる。更に、たとえばデータ長が
16ビットであって、その内の9ビットが”0”である場
合には、データは反転されてPROMのメモリセルアレイに
は7個の”0”が書き込まれるが、モニタビットセル群
には”1”が書き込まれるので、全体では7個の”0”
が書き込まれることになる。
【0058】従って、データ長がそのままであれば、PR
OMへのデータ書き込み時における消費電流が削減され、
またデータ書き込み電圧を供給する電源ラインのアルミ
幅も狭くすることが可能になる。またデータ長を拡大す
る場合には、PROMへのデータ書き込み時における消費電
流をデータ拡張後もほぼ同程度に抑えることが可能であ
り、またデータ書き込み電圧を供給する電源ラインのア
ルミ幅も拡大する必要が無くなる。
【0059】なお、データ長が奇数である場合、たとえ
ばデータ長が17ビットであって、その内の9個のビット
が”0”である場合には、データが反転されてPROMのメ
モリセルアレイには8個の”0”が書き込まれるが、モ
ニタビットセル群には”1”が書き込まれるので、全体
では8個の”0”が書き込まれることになる。また、同
様にたとえばデータ長が17ビットであって、その内の8
ビットが”0”である場合には、データは反転されずに
PROMのメモリセルアレイには8個の”0”が書き込まれ
るが、モニタビットセル群には”0”が書き込まれるの
で、全体では9個の”0”が書き込まれることになる。
【0060】従って、データ長が奇数の場合には、最大
値としてはデータ長に1を加算した値の1/2のビット
数の”0”が全体として書き込まれることになり、上述
のデータ長が偶数の場合とほぼ同様の効果を奏する。
【0061】なお、上記実施例では、2進値の”1”が
書き込まれるメモリセルに電流を通流するようにしてい
るが、”1”が書き込まれるメモリセルに電流を通流す
るようにしたPROMにも本発明を適用することは勿論可能
であり、その場合には”1”が書き込まれるメモリセル
の数がデータ長の1/2以上であるか否かに応じて、デ
ータを反転してメモリセルアレイに書込むか否かを決定
すればよい。
【0062】
【発明の効果】以上に詳述したように、本発明のデータ
書き込み可能な読み出し専用メモリ及びそのデータ書き
込み/読み出し方法によれば、2進値のたとえば”0”
をPROMのメモリセルに書込む際にそのメモリセルに電流
を通流させる必要があるとすると、データ書き込み電流
Ippの最大値は、従来のPROMにおいてメモリセルアレイ
に書き込まれるデータのデータ長の1/2のビット数
が”0”である場合と同様になる。
【0063】従って、本発明を適用すれば、データ長が
そのままである場合にはメモリセルアレイへのデータ書
き込み時における消費電流が削減され、またデータ書き
込み電圧を供給する電源ラインのアルミ幅も狭くするこ
とが可能になる。またデータ長を拡大する場合には、メ
モリセルアレイへのデータ書き込み時における消費電流
をデータ拡張後もほぼ同程度に抑えることが可能であ
り、またデータ書き込み電圧を供給する電源ラインのア
ルミ幅も拡大する必要が無くなる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に係るデータ書き込み可能な読み出し専
用メモリの一実施例の構成を示すブロック図である。
【図2】本発明に係るデータ書き込み可能な読み出し専
用メモリの”0”数判定回路の構成例を示すブロック図
である。
【図3】一般的なマイクロコンピュータに内蔵される従
来のデータ書き込み可能な読み出し専用メモリとしての
PROMの構成を示すブロック図である。
【符号の説明】
DB データバスDB 1 メモリセルアレイ 1a メモリセル 2 データ書き込み/読み出し回路 4 PGM信号線 5 電源ライン 6 ビット線 7 ワード線 8 ”0”数判定回路 9 モニタビットセル群 10 モニタビット書き込み/読み出し回路 12 データ反転選択回路 20 ワード選択回路 131 ”0”信号線 132 MPGM信号線
─────────────────────────────────────────────────────
【手続補正書】
【提出日】平成5年7月12日
【手続補正1】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】0005
【補正方法】変更
【補正内容】
【0005】各ワード線7はワード選択回路20に、各ビ
ット線6はデータ書き込み/読み出し回路2にそれぞれ
接続されている。データ書き込み/読み出し回路2に
は、データ読み出し信号(以下、DR信号という) 線3、
データ書き込みパルス信号(以下、 PGM信号という)線
4及び電源ライン5が接続されている。
【手続補正2】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】0026
【補正方法】変更
【補正内容】
【0026】各ワード線7はワード選択回路20に、各ビ
ット線6はデータ書き込み/読み出し回路2にそれぞれ
接続されている。データ書き込み/読み出し回路2に
は、データ読み出し信号(以下、DR信号という) 線3、
データ書き込みパルス信号(以下、 PGM信号という)線
4及び電源ライン5が接続されている。
【手続補正3】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】0030
【補正方法】変更
【補正内容】
【0030】参照符号9は判定結果記憶手段としてのモ
ニタビットセル群を、10は上述の如くモニタビット書き
込み/読み出し回路をそれぞれ示している。モニタビッ
トセル群9はワード線7の数と同数の判定結果メモリセ
としてのモニタビットセル9aにて構成されており、各
モニタビットセル9aにはそれぞれ対応するワード線7
メモリセルアレイ1を貫通して接続されている。また、
モニタビットセル群9の各モニタビットセル9aにはモニ
タビット書き込み/読み出し回路10からモニタビット線
11が接続されている。
【手続補正4】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】0061
【補正方法】変更
【補正内容】
【0061】なお、上記実施例では、2進値の”0”
書き込まれるメモリセルに電流を通流するようにしてい
るが、”1”が書き込まれるメモリセルに電流を通流す
るようにしたPROMにも本発明を適用することは勿論可能
であり、その場合には”1”が書き込まれるメモリセル
の数がデータ長の1/2以上であるか否かに応じて、デ
ータを反転してメモリセルアレイに書込むか否かを決定
すればよい。
【手続補正5】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】符号の説明
【補正方法】変更
【補正内容】
【符号の説明】 DB データバスDB 1 メモリセルアレイ 1a メモリセル 2 データ書き込み/読み出し回路3 データ読み出し信号(DR信号) 線 4 PGM信号線 5 電源ライン 6 ビット線 7 ワード線 8 ”0”数判定回路 9 モニタビットセル群 10 モニタビット書き込み/読み出し回路 12 データ反転選択回路 20 ワード選択回路 131 ”0”信号線 132 MPGM信号線

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 電流が通流することにより第1の値が、
    電流が通流しないことにより第2の値がそれぞれ書き込
    まれる複数のメモリセルにて構成されたメモリ本体と、 データバスと接続されており、該データバスから入力さ
    れた各ビットが第1の値または第2の値のいずれかで2
    値表示された所定ビット長のデータの各ビットの値を前
    記メモリ本体の指定されたメモリセルそれぞれに書き込
    み、また所定ビット長のデータの各ビットの値を前記メ
    モリ本体の指定されたメモリセルそれぞれから読み出し
    て前記データバスへ出力するデータ書き込み/読み出し
    手段とを備えたデータ書き込み可能な読み出し専用メモ
    リにおいて、 前記メモリ本体に書き込まれるべきデータの内の第1の
    値のビット数が前記所定ビット長の1/2以上であるか
    否かを判定する判定手段と、 該判定手段の判定結果をそれぞれのデータに対応させて
    記憶する判定結果記憶手段と、 前記メモリ本体に書き込まれるべきデータの内の第1の
    値の数が前記所定ビット長の1/2以上であると前記判
    定手段が判定した場合はそのデータの各ビットの値を反
    転して前記データ書き込み/読み出し手段へ出力し、前
    記メモリ本体から読み出されるべきデータの内の第1の
    値の数が前記所定ビット長の1/2以上であることを前
    記判定結果記憶手段が記憶している場合は前記データ書
    き込み/読み出し手段が前記メモリ本体から読み出した
    データの各ビットの値を反転して前記データバスへ出力
    するデータ反転手段とを備えたことを特徴とするデータ
    書き込み可能な読み出し専用メモリ。
  2. 【請求項2】 判定結果記憶手段は、 電流が通流することにより第1の値が、電流が通流しな
    いことにより第2の値がそれぞれ書き込まれる複数の判
    定結果メモリセルにて構成された判定結果メモリ本体
    と、 メモリ本体に書き込まれるべきデータの内の第1の値の
    数が所定ビット長の1/2以上であると判定手段が判定
    した場合に第2の値を、メモリ本体に書き込まれるべき
    データの内の第1の値の数が所定ビット長の1/2未満
    であると前記判定手段が判定した場合に第1の値をそれ
    ぞれのデータに対応する判定結果メモリセルに書き込
    み、また前記メモリ本体から読み出されるべきデータに
    対応する判定結果メモリセルに記憶されている値を読み
    出してデータ書き込み/読み出し手段へ出力する判定結
    果データ書き込み/読み出し手段とを備えたことを特徴
    とする請求項1に記載のデータ書き込み可能な読み出し
    専用メモリ。
  3. 【請求項3】 電流が通流することにより第1の値が、
    電流が通流しないことにより第2の値がそれぞれ書き込
    まれる複数のメモリセルにて構成されたメモリ本体の指
    定されたメモリセルそれぞれに各ビットが第1の値また
    は第2の値のいずれかで2値表示された所定ビット長の
    データの各ビットの値を書き込み、前記メモリ本体の指
    定されたメモリそれぞれから所定ビット長のデータの各
    ビットの値を読み出すデータ書き込み可能な読み出し専
    用メモリのデータ書き込み/読み出し方法において、 前記メモリ本体に書き込まれるべきデータの内の第1の
    値のビット数が前記所定ビット長の1/2以上であるか
    否かを判定し、 前記メモリ本体に書き込まれるべきデータの内の第1の
    値の数が前記所定ビット長の1/2以上であると判定さ
    れた場合はそのデータの各ビットの値を反転して、他の
    場合は反転せずに前記メモリ本体の指定されたメモリセ
    ルそれぞれに書き込み、 前記メモリ本体から読み出されるべきデータが前記メモ
    リ本体に書き込まれた際にその内の第1の値の数が前記
    所定ビット長の1/2以上であったと判定されていた場
    合は、前記メモリ本体の指定されたメモリセルそれぞれ
    から読み出されたデータの各ビットの値を反転して、他
    の場合は反転せずに読み出すことを特徴とするデータ書
    き込み可能な読み出し専用メモリのデータ書き込み/読
    み出し方法。
  4. 【請求項4】 電流が通流することにより第1の値が、
    電流が通流しないことにより第2の値がそれぞれ書き込
    まれる複数の判定結果メモリセルにて構成された判定結
    果メモリ本体のそれぞれのデータに対応した判定結果メ
    モリセルそれぞれに、メモリ本体に書き込まれるべきデ
    ータの内の第1の値の数が所定ビット長の1/2以上で
    あると判定された場合に第2の値を、メモリ本体に書き
    込まれるべきデータの内の第1の値の数が所定ビット長
    の1/2未満であると判定された場合に第1の値をそれ
    ぞれのデータに対応して書き込むことを特徴とする請求
    項3に記載のデータ書き込み可能な読み出し専用メモリ
    のデータ書き込み/読み出し方法。
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Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0745085A (ja) * 1993-07-30 1995-02-14 Tec Corp データ書込装置及びデータ読取装置
JP2006053246A (ja) * 2004-08-10 2006-02-23 Sanyo Electric Co Ltd データ処理装置、データ処理プログラム、データ処理装置のデータ処理方法
JP2007310964A (ja) * 2006-05-18 2007-11-29 Toshiba Corp Nand型フラッシュメモリ装置及びメモリデバイス
JP2008090451A (ja) * 2006-09-29 2008-04-17 Toshiba Corp 記憶装置
JP2008269773A (ja) * 2007-04-24 2008-11-06 Hynix Semiconductor Inc フラッシュメモリ素子の動作方法及びそのための制御回路
JP2011204304A (ja) * 2010-03-25 2011-10-13 Toshiba Corp データ記憶装置、及びその書き込み方法
JP2020511731A (ja) * 2017-03-23 2020-04-16 シリコン ストーリッジ テクノロージー インコーポレイテッドSilicon Storage Technology, Inc. フラッシュメモリシステム内のアドレス障害検出

Families Citing this family (20)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FR2713008B1 (fr) * 1993-11-23 1995-12-22 Sgs Thomson Microelectronics Mémoire non volatile modifiable électriquement avec contrôle d'écriture.
US5530803A (en) * 1994-04-14 1996-06-25 Advanced Micro Devices, Inc. Method and apparatus for programming memory devices
KR0172366B1 (ko) * 1995-11-10 1999-03-30 김광호 불휘발성 반도체 메모리 장치의 독출 및 프로그램 방법과 그 회로
US5673224A (en) * 1996-02-23 1997-09-30 Micron Quantum Devices, Inc. Segmented non-volatile memory array with multiple sources with improved word line control circuitry
JP3371682B2 (ja) * 1996-04-26 2003-01-27 トヨタ自動車株式会社 半導体記憶装置
US6292868B1 (en) 1996-10-15 2001-09-18 Micron Technology, Inc. System and method for encoding data to reduce power and time required to write the encoded data to a flash memory
JP3175648B2 (ja) * 1997-07-07 2001-06-11 ソニー株式会社 記憶装置及びデータの書込み方法
EP1067558A1 (en) * 1999-07-08 2001-01-10 STMicroelectronics S.r.l. Data codification method for the writing of non volatile memory cells
US7149955B1 (en) * 2001-03-07 2006-12-12 Marvell International Ltd. Encoding and decoding apparatus and method with hamming weight enhancement
KR100459726B1 (ko) * 2002-10-05 2004-12-03 삼성전자주식회사 멀티-비트 프리페치 반도체 장치의 데이터 반전 회로 및데이터 반전 방법
US20040205306A1 (en) * 2003-04-08 2004-10-14 David Janas Manipulating data for improving storage and transmission
KR100546339B1 (ko) 2003-07-04 2006-01-26 삼성전자주식회사 차동 데이터 스트로빙 모드와 데이터 반전 스킴을 가지는단일 데이터 스트로빙 모드를 선택적으로 구현할 수 있는반도체 장치
KR100560773B1 (ko) 2003-10-09 2006-03-13 삼성전자주식회사 동작 모드의 재설정없이 버스트 길이를 제어할 수 있는반도체 메모리 장치 및 그것을 포함하는 메모리 시스템
FR2862421B1 (fr) * 2003-11-14 2006-06-09 St Microelectronics Sa Circuit memoire et procede de traitement d'un code destine a etre charge dans ladite memoire
US7443732B2 (en) * 2005-09-20 2008-10-28 Spansion Llc High performance flash memory device capable of high density data storage
US7372763B2 (en) * 2005-12-28 2008-05-13 Intel Corporation Memory with spatially encoded data storage
US7420862B2 (en) * 2006-04-25 2008-09-02 Infineon Technologies Ag Data inversion device and method
US7692949B2 (en) * 2006-12-04 2010-04-06 Qimonda North America Corp. Multi-bit resistive memory
CN103761990A (zh) * 2014-02-19 2014-04-30 上海新储集成电路有限公司 一种减少只读存储器漏电流的方法
US20160276042A1 (en) * 2015-03-20 2016-09-22 Microchip Technology Incorporated One Time Programmable Memory

Family Cites Families (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
IT1246754B (it) * 1990-12-28 1994-11-26 Sgs Thomson Microelectronics Circuito di lettura di celle eprom
JPH0589687A (ja) * 1991-09-27 1993-04-09 Nec Corp 不揮発性半導体記憶装置
JPH05290584A (ja) * 1992-04-08 1993-11-05 Nec Corp 半導体記憶装置

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0745085A (ja) * 1993-07-30 1995-02-14 Tec Corp データ書込装置及びデータ読取装置
JP2006053246A (ja) * 2004-08-10 2006-02-23 Sanyo Electric Co Ltd データ処理装置、データ処理プログラム、データ処理装置のデータ処理方法
JP2007310964A (ja) * 2006-05-18 2007-11-29 Toshiba Corp Nand型フラッシュメモリ装置及びメモリデバイス
JP2008090451A (ja) * 2006-09-29 2008-04-17 Toshiba Corp 記憶装置
JP2008269773A (ja) * 2007-04-24 2008-11-06 Hynix Semiconductor Inc フラッシュメモリ素子の動作方法及びそのための制御回路
JP2011204304A (ja) * 2010-03-25 2011-10-13 Toshiba Corp データ記憶装置、及びその書き込み方法
JP2020511731A (ja) * 2017-03-23 2020-04-16 シリコン ストーリッジ テクノロージー インコーポレイテッドSilicon Storage Technology, Inc. フラッシュメモリシステム内のアドレス障害検出

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Publication number Publication date
DE4408876C2 (de) 1999-09-02
US5426609A (en) 1995-06-20
DE4408876A1 (de) 1994-09-22

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