JPH06245917A - Ｍｒｉ装置 - Google Patents
Ｍｒｉ装置Info
- Publication number
- JPH06245917A JPH06245917A JP5033159A JP3315993A JPH06245917A JP H06245917 A JPH06245917 A JP H06245917A JP 5033159 A JP5033159 A JP 5033159A JP 3315993 A JP3315993 A JP 3315993A JP H06245917 A JPH06245917 A JP H06245917A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- gradient
- magnetic field
- phase
- mri apparatus
- offset
- Prior art date
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- Pending
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- Magnetic Resonance Imaging Apparatus (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 整磁板のヒステリシス特性と勾配磁場とによ
る残留磁化の影響を補正する。 【構成】 オフセット電流を勾配コイルに流し、周波数
エンコード軸上にオフセット勾配磁場を形成し、周波数
エンコード軸上のヒステリシス勾配磁場を打ち消して、
静磁場の不均一を補正する。また、ヒステリシス勾配磁
場により生じる位相ずれΔθｉｓを計算により補正し
て、正しい位相を再現する。 【効果】 イメージの歪や，画質劣化を防止することが
出来る。
る残留磁化の影響を補正する。 【構成】 オフセット電流を勾配コイルに流し、周波数
エンコード軸上にオフセット勾配磁場を形成し、周波数
エンコード軸上のヒステリシス勾配磁場を打ち消して、
静磁場の不均一を補正する。また、ヒステリシス勾配磁
場により生じる位相ずれΔθｉｓを計算により補正し
て、正しい位相を再現する。 【効果】 イメージの歪や，画質劣化を防止することが
出来る。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】この発明は、ＭＲＩ装置に関し、
さらに詳しくは、整磁板の残留磁化による影響を補正す
ることが出来るＭＲＩ装置に関する。
さらに詳しくは、整磁板の残留磁化による影響を補正す
ることが出来るＭＲＩ装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】図８は、ＭＲＩ装置のマグネットアセン
ブリの一例の模式図である。このマグネットアセンブリ
５では、永久磁石２１，２２と整磁板２５，２６とによ
り静磁場を形成する。整磁板２５，２６には、純鉄など
の軟磁性材料が使用される。２３，２４は、ヨークであ
る。図９は、ＳＥ法によるイメージング用パルスシーケ
ンスである。位相エンコード勾配ＧＷを変えながら各ビ
ューのエコーをサンプリングすることを繰り返し、ｋ空
間の全域のデータを収集する。
ブリの一例の模式図である。このマグネットアセンブリ
５では、永久磁石２１，２２と整磁板２５，２６とによ
り静磁場を形成する。整磁板２５，２６には、純鉄など
の軟磁性材料が使用される。２３，２４は、ヨークであ
る。図９は、ＳＥ法によるイメージング用パルスシーケ
ンスである。位相エンコード勾配ＧＷを変えながら各ビ
ューのエコーをサンプリングすることを繰り返し、ｋ空
間の全域のデータを収集する。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】図８に示すＭＲＩ装置
において、整磁板２５，２６には軟磁性材料が使用され
ているが、それでもヒステリシス特性を持っている。こ
のため、勾配磁場による磁化が、勾配電流を０にしても
整磁板２５，２６にわずかに残り、小さな勾配磁場（以
下、これをヒステリシス勾配という）を形成する。そし
て、周波数エンコード勾配，スライス勾配に起因するヒ
ステリシス勾配の影響は、静磁場を不均一にし、イメー
ジを歪ませる。また、位相エンコード勾配に起因するヒ
ステリシス勾配の影響は、位相ずれを生じさせ、画質を
劣化させる。そこで、この発明の目的は、整磁板の残留
磁化による影響を補正できるようにしたＭＲＩ装置を提
供することにある。
において、整磁板２５，２６には軟磁性材料が使用され
ているが、それでもヒステリシス特性を持っている。こ
のため、勾配磁場による磁化が、勾配電流を０にしても
整磁板２５，２６にわずかに残り、小さな勾配磁場（以
下、これをヒステリシス勾配という）を形成する。そし
て、周波数エンコード勾配，スライス勾配に起因するヒ
ステリシス勾配の影響は、静磁場を不均一にし、イメー
ジを歪ませる。また、位相エンコード勾配に起因するヒ
ステリシス勾配の影響は、位相ずれを生じさせ、画質を
劣化させる。そこで、この発明の目的は、整磁板の残留
磁化による影響を補正できるようにしたＭＲＩ装置を提
供することにある。
【０００４】
【課題を解決するための手段】第１の観点では、この発
明は、永久磁石と整磁板とにより静磁場を形成するＭＲ
Ｉ装置において、整磁板の残留磁化による静磁場の不均
一を補正するためのオフセット電流を勾配コイルに流
し、周波数エンコード軸上にオフセット勾配磁場を形成
するオフセット電流供給手段を具備したことを特徴とす
るＭＲＩ装置を提供する。
明は、永久磁石と整磁板とにより静磁場を形成するＭＲ
Ｉ装置において、整磁板の残留磁化による静磁場の不均
一を補正するためのオフセット電流を勾配コイルに流
し、周波数エンコード軸上にオフセット勾配磁場を形成
するオフセット電流供給手段を具備したことを特徴とす
るＭＲＩ装置を提供する。
【０００５】第２の観点では、この発明は、永久磁石と
整磁板とにより静磁場を形成するＭＲＩ装置において、
整磁板の残留磁化による静磁場の不均一を補正するため
のオフセット電流を勾配コイルに流し、周波数エンコー
ド軸，スライス軸，位相エンコード軸のうちの少なくと
も１つの軸上にオフセット勾配磁場を形成するオフセッ
ト電流供給手段を具備したことを特徴とするＭＲＩ装置
を提供する。
整磁板とにより静磁場を形成するＭＲＩ装置において、
整磁板の残留磁化による静磁場の不均一を補正するため
のオフセット電流を勾配コイルに流し、周波数エンコー
ド軸，スライス軸，位相エンコード軸のうちの少なくと
も１つの軸上にオフセット勾配磁場を形成するオフセッ
ト電流供給手段を具備したことを特徴とするＭＲＩ装置
を提供する。
【０００６】第３の観点では、この発明は、永久磁石と
整磁板とにより静磁場を形成するＭＲＩ装置において、
整磁板の残留磁化による位相のずれを演算により補正す
る位相補正演算手段を具備したことを特徴とするＭＲＩ
装置を提供する。
整磁板とにより静磁場を形成するＭＲＩ装置において、
整磁板の残留磁化による位相のずれを演算により補正す
る位相補正演算手段を具備したことを特徴とするＭＲＩ
装置を提供する。
【０００７】
【作用】上記第１の観点によるこの発明のＭＲＩ装置で
は、オフセット電流を勾配コイルに流し、周波数エンコ
ード軸上にオフセット勾配磁場を形成し、これにより周
波数エンコード軸上のヒステリシス勾配磁場を打ち消し
て、静磁場の不均一を補正する。従って、整磁板の残留
磁化による影響を補正できる。
は、オフセット電流を勾配コイルに流し、周波数エンコ
ード軸上にオフセット勾配磁場を形成し、これにより周
波数エンコード軸上のヒステリシス勾配磁場を打ち消し
て、静磁場の不均一を補正する。従って、整磁板の残留
磁化による影響を補正できる。
【０００８】上記第２の観点によるこの発明のＭＲＩ装
置では、オフセット電流を勾配コイルに流し、周波数エ
ンコード軸，スライス軸，位相エンコード軸のうちから
選択した少なくとも１つの軸上にオフセット勾配磁場を
形成し、これにより選択した軸上のヒステリシス勾配磁
場を打ち消して、静磁場の不均一を補正する。従って、
整磁板の残留磁化による影響を補正できる。
置では、オフセット電流を勾配コイルに流し、周波数エ
ンコード軸，スライス軸，位相エンコード軸のうちから
選択した少なくとも１つの軸上にオフセット勾配磁場を
形成し、これにより選択した軸上のヒステリシス勾配磁
場を打ち消して、静磁場の不均一を補正する。従って、
整磁板の残留磁化による影響を補正できる。
【０００９】上記第３の観点によるこの発明のＭＲＩ装
置では、ヒステリシス勾配磁場により生じる位相のずれ
を計算により補正して、正しい位相を再現する。従っ
て、整磁板の残留磁化による影響を補正できる。
置では、ヒステリシス勾配磁場により生じる位相のずれ
を計算により補正して、正しい位相を再現する。従っ
て、整磁板の残留磁化による影響を補正できる。
【００１０】
【実施例】以下、図に示す実施例によりこの発明をさら
に詳しく説明する。なお、これによりこの発明が限定さ
れるものではない。
に詳しく説明する。なお、これによりこの発明が限定さ
れるものではない。
【００１１】図１は、この発明の一実施例のＭＲＩ装置
１を示すブロック図である。計算機２は、操作卓１３か
らの指示に基づき、全体の作動を制御する。シーケンス
コントローラ３は、記憶しているシーケンスに基づい
て、磁場駆動回路４を作動させ、マグネットアセンブリ
５の勾配磁場コイルで勾配磁場を発生させる。また、ゲ
ート変調回路７を制御し、ＲＦ発振回路６で発生したＲ
Ｆ信号を変調してＲＦパルスとし、ＲＦ電力増幅器８か
らマグネットアセンブリ５の送信コイルに加える。マグ
ネットアセンブリ５の受信コイルで得られたＮＭＲ信号
は、前置増幅器９を介して位相検波器１０に入力され、
さらにＡＤ変換器１１を介して計算器２に入力される。
計算機２は、ＡＤ変換器１１から得たＮＭＲ信号のデー
タに基づき、画像データを算出し、表示装置１２に画像
を表示する。
１を示すブロック図である。計算機２は、操作卓１３か
らの指示に基づき、全体の作動を制御する。シーケンス
コントローラ３は、記憶しているシーケンスに基づい
て、磁場駆動回路４を作動させ、マグネットアセンブリ
５の勾配磁場コイルで勾配磁場を発生させる。また、ゲ
ート変調回路７を制御し、ＲＦ発振回路６で発生したＲ
Ｆ信号を変調してＲＦパルスとし、ＲＦ電力増幅器８か
らマグネットアセンブリ５の送信コイルに加える。マグ
ネットアセンブリ５の受信コイルで得られたＮＭＲ信号
は、前置増幅器９を介して位相検波器１０に入力され、
さらにＡＤ変換器１１を介して計算器２に入力される。
計算機２は、ＡＤ変換器１１から得たＮＭＲ信号のデー
タに基づき、画像データを算出し、表示装置１２に画像
を表示する。
【００１２】図２は、ヒステリシス勾配による静磁場の
不均一を防止するために、周波数エンコード軸上に加え
るオフセット勾配の大きさを決定する処理のフロー図で
ある。なお、ここでは、イメージング用パルスシーケン
スとして、図９のＳＥ法のイメージング用パルスシーケ
ンスを想定する。ステップＳ１では、オペレータが、図
９のＳＥ法のイメージング用パルスシーケンスのための
スキャンパラメータを設定する。これにより、９０゜励
起パルス時のスライス勾配ＧＳ９０の大きさ，１８０゜
反転パルス時のスライス勾配ＧＳ１８０の大きさ，１８
０゜反転パルスの後のリフェーズおよびスポイラ勾配Ｇ
ＳＳＰの大きさ，９０゜励起パルスと１８０゜反転パル
スの間に出力するプリフェーズ用周波数エンコード勾配
Ｇｄの大きさ，データ収集時に出力するプロジェクショ
ン用周波数エンコード勾配Ｇｒの大きさが決まる。ステ
ップＳ２では、勾配磁場駆動回路４における周波数エン
コード勾配に対応した勾配電源のオフセット電流Ｉｆを
０に初期化する。
不均一を防止するために、周波数エンコード軸上に加え
るオフセット勾配の大きさを決定する処理のフロー図で
ある。なお、ここでは、イメージング用パルスシーケン
スとして、図９のＳＥ法のイメージング用パルスシーケ
ンスを想定する。ステップＳ１では、オペレータが、図
９のＳＥ法のイメージング用パルスシーケンスのための
スキャンパラメータを設定する。これにより、９０゜励
起パルス時のスライス勾配ＧＳ９０の大きさ，１８０゜
反転パルス時のスライス勾配ＧＳ１８０の大きさ，１８
０゜反転パルスの後のリフェーズおよびスポイラ勾配Ｇ
ＳＳＰの大きさ，９０゜励起パルスと１８０゜反転パル
スの間に出力するプリフェーズ用周波数エンコード勾配
Ｇｄの大きさ，データ収集時に出力するプロジェクショ
ン用周波数エンコード勾配Ｇｒの大きさが決まる。ステ
ップＳ２では、勾配磁場駆動回路４における周波数エン
コード勾配に対応した勾配電源のオフセット電流Ｉｆを
０に初期化する。
【００１３】ステップＳ３では、図３に示す補正用パル
スシーケンスを走らせる。この図３の補正用パルスシー
ケンスは、図９のイメージング用パルスシーケンスにお
けるＡ部分の勾配（但し、位相エンコード勾配は除く）
を加えた後、それによるヒステリシス勾配Ｇｈとオフセ
ット勾配Ｇｆとでエコーを集束させるパルスシーケンス
である。ある勾配を加えた後に残るヒステリシス勾配の
大きさは、その勾配を加える直前に加えた勾配にも依存
することが分った。そこで、図３の補正用パルスの出力
順を図９のＡ部分と同様にするのである。ステップＳ４
では、収集したエコー信号をフーリエ変換し、スペクト
ル幅（例えば半値幅）を計算する。
スシーケンスを走らせる。この図３の補正用パルスシー
ケンスは、図９のイメージング用パルスシーケンスにお
けるＡ部分の勾配（但し、位相エンコード勾配は除く）
を加えた後、それによるヒステリシス勾配Ｇｈとオフセ
ット勾配Ｇｆとでエコーを集束させるパルスシーケンス
である。ある勾配を加えた後に残るヒステリシス勾配の
大きさは、その勾配を加える直前に加えた勾配にも依存
することが分った。そこで、図３の補正用パルスの出力
順を図９のＡ部分と同様にするのである。ステップＳ４
では、収集したエコー信号をフーリエ変換し、スペクト
ル幅（例えば半値幅）を計算する。
【００１４】ステップＳ５では、補正用パルスシーケン
スの１回目の実行かチェックし、１回目ならステップＳ
７に進む。２回目以降ならステップＳ６に進む。ステッ
プＳ６では、スペクトル幅が最小になったかチェックす
る。最小になっていないならステップＳ７に進む。最小
になったら処理を終了する。ヒステリシス勾配Ｇｈをオ
フセット勾配Ｇｆが打ち消したとき磁場が均一になるか
ら、スペクトル幅が最小になる。ステップＳ７では、オ
フセット電流Ｉｆを変更する。そして、前記ステップＳ
３に戻る。
スの１回目の実行かチェックし、１回目ならステップＳ
７に進む。２回目以降ならステップＳ６に進む。ステッ
プＳ６では、スペクトル幅が最小になったかチェックす
る。最小になっていないならステップＳ７に進む。最小
になったら処理を終了する。ヒステリシス勾配Ｇｈをオ
フセット勾配Ｇｆが打ち消したとき磁場が均一になるか
ら、スペクトル幅が最小になる。ステップＳ７では、オ
フセット電流Ｉｆを変更する。そして、前記ステップＳ
３に戻る。
【００１５】この後、図９のイメージング用パルスシー
ケンスでイメージング用データを収集するが、その際、
上記処理により得られたオフセット電流Ｉｆを周波数エ
ンコード軸に対応した勾配電源に加えれば、静磁場の不
均一を補正でき、イメージの歪を防止することが出来
る。なお、計算機２とシーケンスコントローラ３と勾配
磁場駆動回路４が、オフセット電流供給手段に相当す
る。
ケンスでイメージング用データを収集するが、その際、
上記処理により得られたオフセット電流Ｉｆを周波数エ
ンコード軸に対応した勾配電源に加えれば、静磁場の不
均一を補正でき、イメージの歪を防止することが出来
る。なお、計算機２とシーケンスコントローラ３と勾配
磁場駆動回路４が、オフセット電流供給手段に相当す
る。
【００１６】変形実施例としては、上記と同様にして、
周波数エンコード軸，スライス軸，位相エンコード軸の
うちの少なくとも１つの軸上にオフセット勾配磁場を形
成するオフセット電流を求めて、そのオフセット電流を
加えてイメージング用データを収集するものが挙げられ
る。
周波数エンコード軸，スライス軸，位相エンコード軸の
うちの少なくとも１つの軸上にオフセット勾配磁場を形
成するオフセット電流を求めて、そのオフセット電流を
加えてイメージング用データを収集するものが挙げられ
る。
【００１７】図４は、ヒステリシス勾配による位相ずれ
を計算により補正する処理のフロー図である。なお、こ
こでは、イメージング用パルスシーケンスとして、図７
のグラジエントエコー法のイメージング用パルスシーケ
ンスを想定する。ステップＰ１では、オペレータが、図
７のグラジエントエコー法のイメージング用パルスシー
ケンスのためのスキャンパラメータを設定する。これに
より、時間Ｔθが決まる。また、位相エンコード勾配Ｇ
ｗのステップ番号ｉ＝１〜Ｎと勾配の大きさＧｗｉが決
まる。勾配ステップ量をＧwsとすると、 Ｇｗ１＝Ｇws・（Ｎ／２） Ｇｗ２＝Ｇws・（Ｎ／２−１） … ＧｗＮ＝Ｇws・（Ｎ／２−Ｎ＋１） である。
を計算により補正する処理のフロー図である。なお、こ
こでは、イメージング用パルスシーケンスとして、図７
のグラジエントエコー法のイメージング用パルスシーケ
ンスを想定する。ステップＰ１では、オペレータが、図
７のグラジエントエコー法のイメージング用パルスシー
ケンスのためのスキャンパラメータを設定する。これに
より、時間Ｔθが決まる。また、位相エンコード勾配Ｇ
ｗのステップ番号ｉ＝１〜Ｎと勾配の大きさＧｗｉが決
まる。勾配ステップ量をＧwsとすると、 Ｇｗ１＝Ｇws・（Ｎ／２） Ｇｗ２＝Ｇws・（Ｎ／２−１） … ＧｗＮ＝Ｇws・（Ｎ／２−Ｎ＋１） である。
【００１８】ステップＰ２では、図５に示す補正用パル
スシーケンスを走らせる。この図５の補正用パルスシー
ケンスは、１つ前のビューの位相エンコード勾配を出力
した後、その位相エンコード勾配によるヒステリシス勾
配の下で所定のスライスからのＦＩＤ信号をサンプリン
グすることを繰り返すものである。各位相エンコード勾
配Ｇｐｉの大きさは出力順に次のようになる。 Ｇｐ１＝Ｇws・（Ｎ／２−Ｎ＋１）＝ＧｗＮ Ｇｐ２＝Ｇws・（Ｎ／２）＝Ｇｗ１ Ｇｐ３＝Ｇws・（Ｎ／２−１）＝Ｇｗ２ … Ｇｗ（Ｎ＋１）＝Ｇws・（Ｎ／２−Ｎ＋１）＝ＧｗＮ 図３の補正用パルスシーケンスを実施することにより、
イメージング用パルスシーケンスでの最初の位相エンコ
ード勾配Ｇｗ１の１つ前の位相エンコード勾配の大きさ
はＧｗＮに対応する。よって、最初に出力する位相エン
コード勾配Ｇｐ１は位相エンコード勾配ＧｗＮになって
いる。
スシーケンスを走らせる。この図５の補正用パルスシー
ケンスは、１つ前のビューの位相エンコード勾配を出力
した後、その位相エンコード勾配によるヒステリシス勾
配の下で所定のスライスからのＦＩＤ信号をサンプリン
グすることを繰り返すものである。各位相エンコード勾
配Ｇｐｉの大きさは出力順に次のようになる。 Ｇｐ１＝Ｇws・（Ｎ／２−Ｎ＋１）＝ＧｗＮ Ｇｐ２＝Ｇws・（Ｎ／２）＝Ｇｗ１ Ｇｐ３＝Ｇws・（Ｎ／２−１）＝Ｇｗ２ … Ｇｗ（Ｎ＋１）＝Ｇws・（Ｎ／２−Ｎ＋１）＝ＧｗＮ 図３の補正用パルスシーケンスを実施することにより、
イメージング用パルスシーケンスでの最初の位相エンコ
ード勾配Ｇｗ１の１つ前の位相エンコード勾配の大きさ
はＧｗＮに対応する。よって、最初に出力する位相エン
コード勾配Ｇｐ１は位相エンコード勾配ＧｗＮになって
いる。
【００１９】ステップＰ３では、各位相エンコード勾配
ＧｐｉにおけるＦＩＤ信号の位相θｉ（ｔ）を求める。
ステップＰ４では、最初に印加した位相エンコード勾配
Ｇｐ１におけるＦＩＤ信号の位相θ１（ｔ）を求め、そ
れを基準にして、各位相エンコード勾配Ｇｐｉにおける
ＦＩＤ信号の位相θｉ（ｔ）との位相差Δθｉ（ｔ）を
求める。
ＧｐｉにおけるＦＩＤ信号の位相θｉ（ｔ）を求める。
ステップＰ４では、最初に印加した位相エンコード勾配
Ｇｐ１におけるＦＩＤ信号の位相θ１（ｔ）を求め、そ
れを基準にして、各位相エンコード勾配Ｇｐｉにおける
ＦＩＤ信号の位相θｉ（ｔ）との位相差Δθｉ（ｔ）を
求める。
【００２０】ステップＰ５では、図６に示すように、位
相差Δθｉ（ｔ）を直線フィッティングし、係数ａｉを
求める。位相エンコード勾配Ｇｗによるヒステリシス勾
配はデータ収集中は一定なので、これによる位相ずれは
時間に対しリニアであるから、直線フィッティングす
る。直線の係数ａｉは、ヒステリシス勾配の大きさを表
している。ステップＰ６では、図７のイメージング用パ
ルスシーケンスでの時間Ｔθの間の位相ずれ量Δθｉｓ
（＝ａｉ・Ｔθ）を計算する。
相差Δθｉ（ｔ）を直線フィッティングし、係数ａｉを
求める。位相エンコード勾配Ｇｗによるヒステリシス勾
配はデータ収集中は一定なので、これによる位相ずれは
時間に対しリニアであるから、直線フィッティングす
る。直線の係数ａｉは、ヒステリシス勾配の大きさを表
している。ステップＰ６では、図７のイメージング用パ
ルスシーケンスでの時間Ｔθの間の位相ずれ量Δθｉｓ
（＝ａｉ・Ｔθ）を計算する。
【００２１】ステップＰ７では、図７のイメージング用
パルスシーケンスを走らせ、各位相エンコード勾配Ｇｗ
ｉでのローデータを収集する。イメージでの位相は周波
数エンコード方向での１Ｄフーリエ変換のＤＣ成分に相
当するから、ローデータを１Ｄフーリエ変換し、そのデ
ータをＲｉ（real(ｊ)，imag(ｊ)）とする。ステップＰ
８では、Ｒｉ（real(ｊ)，imag(ｊ)）に対して位相ずれ
量Δθｉｓを補正する。
パルスシーケンスを走らせ、各位相エンコード勾配Ｇｗ
ｉでのローデータを収集する。イメージでの位相は周波
数エンコード方向での１Ｄフーリエ変換のＤＣ成分に相
当するから、ローデータを１Ｄフーリエ変換し、そのデ
ータをＲｉ（real(ｊ)，imag(ｊ)）とする。ステップＰ
８では、Ｒｉ（real(ｊ)，imag(ｊ)）に対して位相ずれ
量Δθｉｓを補正する。
【００２２】この後、位相エンコード方向にフーリエ変
換し、絶対値処理して、イメージを得れば、位相ずれに
よる画質劣化を防止できる。なお、計算機２とシーケン
スコントローラ３と勾配磁場駆動回路４が、位相補正演
算手段に相当する。
換し、絶対値処理して、イメージを得れば、位相ずれに
よる画質劣化を防止できる。なお、計算機２とシーケン
スコントローラ３と勾配磁場駆動回路４が、位相補正演
算手段に相当する。
【００２３】他の実施例としては、上記オフセット勾配
による補正と位相ずれ補償計算による補正とを併用する
ものが挙げられる。
による補正と位相ずれ補償計算による補正とを併用する
ものが挙げられる。
【００２４】
【発明の効果】この発明のＭＲＩ装置によれば、整磁板
のヒステリシス特性と勾配磁場とによる残留磁化の影響
を補正することが出来るので、イメージの歪や画質劣化
を防止することが出来る。
のヒステリシス特性と勾配磁場とによる残留磁化の影響
を補正することが出来るので、イメージの歪や画質劣化
を防止することが出来る。
【図１】この発明の一実施例のＭＲＩ装置のブロック図
である。
である。
【図２】図１のＭＲＩ装置におけるオフセット量決定処
理のフロー図である。
理のフロー図である。
【図３】オフセット量決定のための補正用パルスシーケ
ンス図である。
ンス図である。
【図４】図１のＭＲＩ装置における位相ずれ補正処理の
フロー図である。
フロー図である。
【図５】位相ずれ測定のための補正用パルスシーケンス
図である。
図である。
【図６】位相ずれ量の説明図である。
【図７】グラジエントエコー法によるイメージング用パ
ルスシーケンス図である。
ルスシーケンス図である。
【図８】マグネットアセンブリの模式図である。
【図９】ＳＥ法によるイメージング用パルスシーケンス
図である。
図である。
１ ＭＲＩ装置 ２ 計算機 ３ シーケンスコントローラ ６ ＲＦ発振回路 ７ ゲート変調回路 ８ ＲＦ電力増幅器
Claims (3)
- 【請求項１】 永久磁石と整磁板とにより静磁場を形成
するＭＲＩ装置において、 整磁板の残留磁化による静磁場の不均一を補正するため
のオフセット電流を勾配コイルに流し、周波数エンコー
ド軸上にオフセット勾配磁場を形成するオフセット電流
供給手段を具備したことを特徴とするＭＲＩ装置。 - 【請求項２】 永久磁石と整磁板とにより静磁場を形成
するＭＲＩ装置において、 整磁板の残留磁化による静磁場の不均一を補正するため
のオフセット電流を勾配コイルに流し、周波数エンコー
ド軸，スライス軸，位相エンコード軸のうちの少なくと
も１つの軸上にオフセット勾配磁場を形成するオフセッ
ト電流供給手段を具備したことを特徴とするＭＲＩ装
置。 - 【請求項３】 永久磁石と整磁板とにより静磁場を形成
するＭＲＩ装置において、 整磁板の残留磁化による位相のずれを演算により補正す
る位相補正演算手段を具備したことを特徴とするＭＲＩ
装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5033159A JPH06245917A (ja) | 1993-02-23 | 1993-02-23 | Ｍｒｉ装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5033159A JPH06245917A (ja) | 1993-02-23 | 1993-02-23 | Ｍｒｉ装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
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-
1993
- 1993-02-23 JP JP5033159A patent/JPH06245917A/ja active Pending
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