JPH06236577A - 光学式情報読み取り装置 - Google Patents
光学式情報読み取り装置Info
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- JPH06236577A JPH06236577A JP5020159A JP2015993A JPH06236577A JP H06236577 A JPH06236577 A JP H06236577A JP 5020159 A JP5020159 A JP 5020159A JP 2015993 A JP2015993 A JP 2015993A JP H06236577 A JPH06236577 A JP H06236577A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 周囲温度変化や経年変化による影響や、迷光
との干渉による影響を受けることなく、所望の信号を安
定して得られる光学式情報読み取り装置を提供する。 【構成】 半導体レーザ(1) からの光を、トラッキング
機能を有する回動可能なビームスプリッタ(21)に入射さ
せ、このビームスプリッタで分離される一方の光束を対
物レンズ(6) を経て記録媒体(7) に照射し、他方の光束
を光検出器(8) で受光するようにした光学式情報読み取
り装置において、ビームスプリッタ(21)は非平行な第1
の面(21a) および第2の面(21b) を有する平板からな
り、第1の面(21a) で反射される光束を対物レンズ(6)
を経て記録媒体(7) に照射し、第1の面(21a) を透過
し、第2の面(21b) で反射して再び第1の面(21a) を透
過する光束を光検出器(8) で受光する。
との干渉による影響を受けることなく、所望の信号を安
定して得られる光学式情報読み取り装置を提供する。 【構成】 半導体レーザ(1) からの光を、トラッキング
機能を有する回動可能なビームスプリッタ(21)に入射さ
せ、このビームスプリッタで分離される一方の光束を対
物レンズ(6) を経て記録媒体(7) に照射し、他方の光束
を光検出器(8) で受光するようにした光学式情報読み取
り装置において、ビームスプリッタ(21)は非平行な第1
の面(21a) および第2の面(21b) を有する平板からな
り、第1の面(21a) で反射される光束を対物レンズ(6)
を経て記録媒体(7) に照射し、第1の面(21a) を透過
し、第2の面(21b) で反射して再び第1の面(21a) を透
過する光束を光検出器(8) で受光する。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は、光学式記録媒体にレ
ーザ光を照射して情報を読み取る光学式情報読み取り装
置に関するものである。
ーザ光を照射して情報を読み取る光学式情報読み取り装
置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】従来の光学式情報読み取り装置として、
例えば図5に示すようなものが提案されている。この装
置においては、半導体レーザ1からの光をコリメータレ
ンズ2で平行光としてビームスプリッタ3に入射させ、
該ビームスプリッタ3を透過する光をトラッキングミラ
ー4で全反射させた後、平行平板のビームスプリッタ5
に入射させて、該ビームスプリッタ5を透過する光を対
物レンズ6を経て光ディスク7に照射し、ビームスプリ
ッタ5で反射される光を2分割光検出器8に入射してい
る。また、光ディスク7で反射される戻り光は、対物レ
ンズ6、ビームスプリッタ5およびトラッキングミラー
4を経てビームスプリッタ3に入射させ、該ビームスプ
リッタ3で反射される戻り光を2分割光検出器9で受光
するようにしている。
例えば図5に示すようなものが提案されている。この装
置においては、半導体レーザ1からの光をコリメータレ
ンズ2で平行光としてビームスプリッタ3に入射させ、
該ビームスプリッタ3を透過する光をトラッキングミラ
ー4で全反射させた後、平行平板のビームスプリッタ5
に入射させて、該ビームスプリッタ5を透過する光を対
物レンズ6を経て光ディスク7に照射し、ビームスプリ
ッタ5で反射される光を2分割光検出器8に入射してい
る。また、光ディスク7で反射される戻り光は、対物レ
ンズ6、ビームスプリッタ5およびトラッキングミラー
4を経てビームスプリッタ3に入射させ、該ビームスプ
リッタ3で反射される戻り光を2分割光検出器9で受光
するようにしている。
【0003】この装置では、図5に平面図をも示すよう
に、2分割光検出器8の受光領域8a,8bの出力を差
検出器10に供給し、これによりトラッキングミラー4
の回動角度に比例した差信号Sを得、この差信号Sをサ
ーボ信号として利用している。すなわち、光ディスク7
がトラック方向に偏芯すると、トラッキングミラー4
は、同一トラック上に光スポットが追従するように矢印
Aの方向に回動し、それに応じて2分割光検出器8上の
光スポットが矢印B方向に移動することになる。ここ
で、2分割光検出器8上の光スポットは、一般にトラッ
キングミラー4が中立位置にあるときに、その中心が受
光領域8a,8bの分割線上に位置するように設定され
ている。したがって、トラッキングミラー4が回動し
て、2分割光検出器8上の光スポットが移動すると、差
検出器10から得られる差信号Sが0でなくなり、トラ
ッキングミラー4の回動角度に比例した信号が得られる
ことになる。また、この装置では、図5に平面図をも示
すように、2分割光検出器9の受光領域9a,9bの出
力を差検出器11に供給し、これによりプッシュプル法
によってトラックエラー信号(TE)を得るようにして
いる。なお、フォーカスエラー信号の検出については、
この発明に関係ないので、説明を省略する。
に、2分割光検出器8の受光領域8a,8bの出力を差
検出器10に供給し、これによりトラッキングミラー4
の回動角度に比例した差信号Sを得、この差信号Sをサ
ーボ信号として利用している。すなわち、光ディスク7
がトラック方向に偏芯すると、トラッキングミラー4
は、同一トラック上に光スポットが追従するように矢印
Aの方向に回動し、それに応じて2分割光検出器8上の
光スポットが矢印B方向に移動することになる。ここ
で、2分割光検出器8上の光スポットは、一般にトラッ
キングミラー4が中立位置にあるときに、その中心が受
光領域8a,8bの分割線上に位置するように設定され
ている。したがって、トラッキングミラー4が回動し
て、2分割光検出器8上の光スポットが移動すると、差
検出器10から得られる差信号Sが0でなくなり、トラ
ッキングミラー4の回動角度に比例した信号が得られる
ことになる。また、この装置では、図5に平面図をも示
すように、2分割光検出器9の受光領域9a,9bの出
力を差検出器11に供給し、これによりプッシュプル法
によってトラックエラー信号(TE)を得るようにして
いる。なお、フォーカスエラー信号の検出については、
この発明に関係ないので、説明を省略する。
【0004】また、従来の他の光学式情報読み取り装置
として、図6に示すようなものが提案されている。この
装置は、図5に示す構成においてビームスプリッタ5を
省略し、往路におけるトラッキングミラー4の透過光を
2分割光検出器8で受光するようにしたものである。こ
の場合、トラッキングミラー4が矢印A方向に回動する
と、それに応じてトラッキングミラー4の透過光は、平
行光のまま図6に平面図をも示すように、2分割光検出
器8上で矢印B方向に移動するので、差検出器10から
はトラッキングミラー4の回動角度に比例した差信号S
が得られることになる。
として、図6に示すようなものが提案されている。この
装置は、図5に示す構成においてビームスプリッタ5を
省略し、往路におけるトラッキングミラー4の透過光を
2分割光検出器8で受光するようにしたものである。こ
の場合、トラッキングミラー4が矢印A方向に回動する
と、それに応じてトラッキングミラー4の透過光は、平
行光のまま図6に平面図をも示すように、2分割光検出
器8上で矢印B方向に移動するので、差検出器10から
はトラッキングミラー4の回動角度に比例した差信号S
が得られることになる。
【0005】さらに他の光学式情報読み取り装置とし
て、図7に示すようなものが提案されている。この装置
は、平行平板のビームスプリッタ5での往路における反
射光を一つの受光領域からなる光検出器12で受光し、
その出力に基づいて半導体レーザ1の出射光量を制御す
るようにしたものである。
て、図7に示すようなものが提案されている。この装置
は、平行平板のビームスプリッタ5での往路における反
射光を一つの受光領域からなる光検出器12で受光し、
その出力に基づいて半導体レーザ1の出射光量を制御す
るようにしたものである。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、図5に
示した装置にあっては、平行平板のビームスプリッタ5
を介してトラッキングミラー4の回動角度を検出するよ
うにしているため、ビームスプリッタ5が周囲温度変化
や経年変化により矢印Cのように角度変化を起こすと、
トラッキングミラー4が中立位置にあるにもかかわら
ず、2分割光検出器8上の光スポットの中心が分割線上
からずれて、差信号Sにオフセットが生じるという問題
がある。
示した装置にあっては、平行平板のビームスプリッタ5
を介してトラッキングミラー4の回動角度を検出するよ
うにしているため、ビームスプリッタ5が周囲温度変化
や経年変化により矢印Cのように角度変化を起こすと、
トラッキングミラー4が中立位置にあるにもかかわら
ず、2分割光検出器8上の光スポットの中心が分割線上
からずれて、差信号Sにオフセットが生じるという問題
がある。
【0007】また、ビームスプリッタ5の光ディスク7
側の表面5aには、一般に反射防止膜が施されるが、こ
の反射防止膜の効果が、製造上のばらつきで不十分な場
合には、表面5aでの反射光が破線で示すように2分割
光検出器8に入射し、この光がビームスプリッタ5の裏
面5bで正規に反射される光と重なって干渉を起こすこ
とになる。しかも、この干渉状態は、周囲温度の変化に
よるビームスプリッタ5の波長オーダの厚みの変化によ
って変化する。このように、干渉状態が変化すると、2
分割光検出器8上での光スポットの光量分布が変化する
ため、トラッキングミラー4が中立位置にあっても差信
号Sが0とならず、オフセットが生じることになる。
側の表面5aには、一般に反射防止膜が施されるが、こ
の反射防止膜の効果が、製造上のばらつきで不十分な場
合には、表面5aでの反射光が破線で示すように2分割
光検出器8に入射し、この光がビームスプリッタ5の裏
面5bで正規に反射される光と重なって干渉を起こすこ
とになる。しかも、この干渉状態は、周囲温度の変化に
よるビームスプリッタ5の波長オーダの厚みの変化によ
って変化する。このように、干渉状態が変化すると、2
分割光検出器8上での光スポットの光量分布が変化する
ため、トラッキングミラー4が中立位置にあっても差信
号Sが0とならず、オフセットが生じることになる。
【0008】また、図6に示した装置においては、周囲
温度の変化や経年変化による差信号のオフセットは生じ
ないが、トラッキングミラー4の透過光により角度検出
を行っているため、検出感度が低いという問題がある。
温度の変化や経年変化による差信号のオフセットは生じ
ないが、トラッキングミラー4の透過光により角度検出
を行っているため、検出感度が低いという問題がある。
【0009】さらに、図7に示した装置にあっては、図
5において説明したと同様に、ビームスプリッタ5の表
面5aでの不所望な反射光と、裏面5bでの正規の反射
光との干渉が生じるため、光検出器12に入射する光
と、対物レンズ6に入射する光との光量比が変化し、こ
れがため実際には半導体レーザ1の光量が変化していな
いにもかかわらず、光検出器12に入射する光量が変化
して、半導体レーザ1の光量制御が行われてしまうとい
う問題がある。
5において説明したと同様に、ビームスプリッタ5の表
面5aでの不所望な反射光と、裏面5bでの正規の反射
光との干渉が生じるため、光検出器12に入射する光
と、対物レンズ6に入射する光との光量比が変化し、こ
れがため実際には半導体レーザ1の光量が変化していな
いにもかかわらず、光検出器12に入射する光量が変化
して、半導体レーザ1の光量制御が行われてしまうとい
う問題がある。
【0010】なお、特開平3−254448号公報に
は、ハーフミラー、全反射膜および偏光膜を有するウェ
ッジプリズムを用いて往路と復路とを分離すると共に、
往路の光の偏光成分を分離してそれぞれ光検出器で受光
するようにしたものが提案されている。この公報には、
ウェッジプリズムにトラッキングミラー機能を持たせる
ことについては記載されていないが、トラッキングミラ
ー機能を持たせた場合には、ウェッジプリズム内での多
重反射光は光検出器の方向には出射しないので、干渉の
問題は生じないが、図5と同様に周囲温度変化や経年変
化等によるウェッジプリズムの変位により光検出器に入
射する光スポットの位置がずれるため、サーボ信号にオ
フセットが生じることになる。
は、ハーフミラー、全反射膜および偏光膜を有するウェ
ッジプリズムを用いて往路と復路とを分離すると共に、
往路の光の偏光成分を分離してそれぞれ光検出器で受光
するようにしたものが提案されている。この公報には、
ウェッジプリズムにトラッキングミラー機能を持たせる
ことについては記載されていないが、トラッキングミラ
ー機能を持たせた場合には、ウェッジプリズム内での多
重反射光は光検出器の方向には出射しないので、干渉の
問題は生じないが、図5と同様に周囲温度変化や経年変
化等によるウェッジプリズムの変位により光検出器に入
射する光スポットの位置がずれるため、サーボ信号にオ
フセットが生じることになる。
【0011】この発明は、上述した従来の問題点に着目
してなされたもので、周囲温度変化や経年変化による影
響や、迷光との干渉による影響を受けることなく、所望
の信号を安定して得られるよう適切に構成した光学式情
報読み取り装置を提供することを目的とする。
してなされたもので、周囲温度変化や経年変化による影
響や、迷光との干渉による影響を受けることなく、所望
の信号を安定して得られるよう適切に構成した光学式情
報読み取り装置を提供することを目的とする。
【0012】
【課題を解決するための手段および作用】上記目的を達
成するため、この発明では、半導体レーザからの光を、
トラッキング機能を有する回動可能なビームスプリッタ
に入射させ、このビームスプリッタで分離される一方の
光束を対物レンズを経て記録媒体に照射し、他方の光束
を光検出器で受光するようにした光学式情報読み取り装
置において、前記ビームスプリッタは非平行な第1の面
および第2の面を有する平板からなり、前記第1の面で
反射される光束を前記対物レンズを経て前記記録媒体に
照射し、前記第1の面を透過し、前記第2の面で反射し
て再び前記第1の面を透過する光束を前記光検出器で受
光する。
成するため、この発明では、半導体レーザからの光を、
トラッキング機能を有する回動可能なビームスプリッタ
に入射させ、このビームスプリッタで分離される一方の
光束を対物レンズを経て記録媒体に照射し、他方の光束
を光検出器で受光するようにした光学式情報読み取り装
置において、前記ビームスプリッタは非平行な第1の面
および第2の面を有する平板からなり、前記第1の面で
反射される光束を前記対物レンズを経て前記記録媒体に
照射し、前記第1の面を透過し、前記第2の面で反射し
て再び前記第1の面を透過する光束を前記光検出器で受
光する。
【0013】さらに、この発明では、半導体レーザから
の光をビームスプリッタに入射させ、このビームスプリ
ッタで分離される一方の光束を対物レンズを経て記録媒
体に照射し、他方の光束を光検出器で受光するようにし
た光学式情報読み取り装置において、前記ビームスプリ
ッタは非平行な第1の面および第2の面を有する平板か
らなり、前記第1の面および第2の面を順次透過する光
束を前記対物レンズを経て前記記録媒体に照射し、前記
第1の面で反射される光と、該第1の面を透過して、前
記第2の面および第1の面との間の前記ビームスプリッ
タ内で多重反射して、前記第1の面を透過する光束と
を、前記光検出器で受光する。
の光をビームスプリッタに入射させ、このビームスプリ
ッタで分離される一方の光束を対物レンズを経て記録媒
体に照射し、他方の光束を光検出器で受光するようにし
た光学式情報読み取り装置において、前記ビームスプリ
ッタは非平行な第1の面および第2の面を有する平板か
らなり、前記第1の面および第2の面を順次透過する光
束を前記対物レンズを経て前記記録媒体に照射し、前記
第1の面で反射される光と、該第1の面を透過して、前
記第2の面および第1の面との間の前記ビームスプリッ
タ内で多重反射して、前記第1の面を透過する光束と
を、前記光検出器で受光する。
【0014】
【実施例】図1は、この発明の第1実施例を示すもので
ある。この実施例では、半導体レーザ1からの光をコリ
メータレンズ2で平行光としてビームスプリッタ3に入
射させ、該ビームスプリッタ3を透過する光を非平行平
板よりなるトラッキングミラー21に入射させる。トラ
ッキングミラー21には、その表面(第1の面)21a
に、例えば高屈折率と低屈折率の誘電体多層膜を施し
て、入射光量のほぼ90%を反射させるようにする。こ
のトラッキングミラー21の表面21aで反射される光
は、対物レンズ6を経て光ディスク7に集光させ、表面
21aを透過して裏面(第2の面)21bで反射され、
さらに表面21aを透過する光を、図1に平面図をも示
すように、紙面垂直方向の分割線で分割された2つの受
光領域8a,8bを有する2分割光検出器8で受光し、
それらの出力を差検出器10に供給して差信号Sを得る
ようにする。
ある。この実施例では、半導体レーザ1からの光をコリ
メータレンズ2で平行光としてビームスプリッタ3に入
射させ、該ビームスプリッタ3を透過する光を非平行平
板よりなるトラッキングミラー21に入射させる。トラ
ッキングミラー21には、その表面(第1の面)21a
に、例えば高屈折率と低屈折率の誘電体多層膜を施し
て、入射光量のほぼ90%を反射させるようにする。こ
のトラッキングミラー21の表面21aで反射される光
は、対物レンズ6を経て光ディスク7に集光させ、表面
21aを透過して裏面(第2の面)21bで反射され、
さらに表面21aを透過する光を、図1に平面図をも示
すように、紙面垂直方向の分割線で分割された2つの受
光領域8a,8bを有する2分割光検出器8で受光し、
それらの出力を差検出器10に供給して差信号Sを得る
ようにする。
【0015】また、光ディスク7での反射光(戻り光)
は、対物レンズ6を経てトラッキングミラー21の表面
21aで反射させ、さらにビームスプリッタ3で反射さ
せて、紙面垂直方向の分割線で分割された2つの受光領
域9a,9bを有する2分割光検出器9で受光し、それ
らの出力を差検出器11に供給してプッシュプル法によ
りトラックエラー信号(TE)を得るようにする。
は、対物レンズ6を経てトラッキングミラー21の表面
21aで反射させ、さらにビームスプリッタ3で反射さ
せて、紙面垂直方向の分割線で分割された2つの受光領
域9a,9bを有する2分割光検出器9で受光し、それ
らの出力を差検出器11に供給してプッシュプル法によ
りトラックエラー信号(TE)を得るようにする。
【0016】ここで、トラッキングミラー21の角度α
は、往路においては、表面21aを透過して裏面21b
で反射され、さらに表面21aで反射されて、トラッキ
ングミラー21内を多重反射する光が2分割光検出器8
に入射しないようにすると共に、復路においては、戻り
光がトラッキングミラー21の表面21aを透過して裏
面21bで反射され、さらに表面21aを透過する光
が、破線で示すように表面21aで反射される光とは別
の光路をとり、2分割光検出器9に入射しないような角
度に設定する。
は、往路においては、表面21aを透過して裏面21b
で反射され、さらに表面21aで反射されて、トラッキ
ングミラー21内を多重反射する光が2分割光検出器8
に入射しないようにすると共に、復路においては、戻り
光がトラッキングミラー21の表面21aを透過して裏
面21bで反射され、さらに表面21aを透過する光
が、破線で示すように表面21aで反射される光とは別
の光路をとり、2分割光検出器9に入射しないような角
度に設定する。
【0017】かかる構成において、差検出器10から得
られる差信号Sは、光ディスク7上のスポットが記録ト
ラック上にあるとき0となるようになっている。また、
光ディスク7のグルーブ方向は、紙面垂直方向となって
いる。したがって、光ディスク7に偏芯が生じて、トラ
ッキングミラー21が回動すると、2分割光検出器8上
の光スポットが移動して、差検出器10から得られる差
信号Sが0でなくなり、差検出器10からは、図5の場
合と同様にトラッキングミラー21の回動角度に比例し
た信号が得られることになる。
られる差信号Sは、光ディスク7上のスポットが記録ト
ラック上にあるとき0となるようになっている。また、
光ディスク7のグルーブ方向は、紙面垂直方向となって
いる。したがって、光ディスク7に偏芯が生じて、トラ
ッキングミラー21が回動すると、2分割光検出器8上
の光スポットが移動して、差検出器10から得られる差
信号Sが0でなくなり、差検出器10からは、図5の場
合と同様にトラッキングミラー21の回動角度に比例し
た信号が得られることになる。
【0018】この実施例によれば、図5におけるトラッ
キングミラー4とビームスプリッタ5とを、非平行平板
の一つのトラッキングミラー21で兼ねているので、温
度変化や経年変化により差信号Sにオフセットが生じる
ことはない。また、往路において、トラッキングミラー
21内で多重反射した光が、2分割光検出器8に入射し
ないので、2分割光検出器8上で干渉を起こすことがな
い。したがって、周囲温度の変化によって、トラッキン
グミラー21の厚さが変化しても、図5におけるような
オフセットは生じない。さらに、往路におけるトラッキ
ングミラー21の裏面21bでの反射光によって、トラ
ッキングミラー21の角度検出を行っているので、図6
におけるよりも検出感度を高くできる。
キングミラー4とビームスプリッタ5とを、非平行平板
の一つのトラッキングミラー21で兼ねているので、温
度変化や経年変化により差信号Sにオフセットが生じる
ことはない。また、往路において、トラッキングミラー
21内で多重反射した光が、2分割光検出器8に入射し
ないので、2分割光検出器8上で干渉を起こすことがな
い。したがって、周囲温度の変化によって、トラッキン
グミラー21の厚さが変化しても、図5におけるような
オフセットは生じない。さらに、往路におけるトラッキ
ングミラー21の裏面21bでの反射光によって、トラ
ッキングミラー21の角度検出を行っているので、図6
におけるよりも検出感度を高くできる。
【0019】なお、図1においては、2分割光検出器8
の2つの受光領域8a,8bの出力の和を検出し、この
和信号を半導体レーザ1の出射光量の制御に用いること
もできる。
の2つの受光領域8a,8bの出力の和を検出し、この
和信号を半導体レーザ1の出射光量の制御に用いること
もできる。
【0020】図2は、この発明の第2実施例を示すもの
である。この実施例は、図1に示す構成において、トラ
ッキングミラー21と2分割光検出器8との間に、集光
レンズ22を付加して、2分割光検出器8への入射光を
集光するようにしたもので、その他の構成および動作は
図1と同様である。このように2分割光検出器8への入
射光を集光レンズ22で集光すれば、トラッキングミラ
ー21の回動角度の検出感度を高くできると共に、2分
割光検出器8を小型にできるので、装置の小型化および
コストダウンを図ることができる。
である。この実施例は、図1に示す構成において、トラ
ッキングミラー21と2分割光検出器8との間に、集光
レンズ22を付加して、2分割光検出器8への入射光を
集光するようにしたもので、その他の構成および動作は
図1と同様である。このように2分割光検出器8への入
射光を集光レンズ22で集光すれば、トラッキングミラ
ー21の回動角度の検出感度を高くできると共に、2分
割光検出器8を小型にできるので、装置の小型化および
コストダウンを図ることができる。
【0021】図3は、この発明の第3実施例を示すもの
である。この実施例では、半導体レーザ1からの光をコ
リメータレンズ2で平行光として非平行平板よりなるビ
ームスプリッタ25に入射させ、このビームスプリッタ
25の表面(第1の面)25aで反射される光を、一つ
の受光領域を有する光検出器26で受光して半導体レー
ザ1の出射光量を制御するようにし、表面25aおよび
裏面(第2の面)25bを順次透過する光を、対物レン
ズ6を経て光ディスク7に集光させる。また、光ディス
ク7での反射光(戻り光)は、対物レンズ6を経てビー
ムスプリッタ25の裏面25bで反射させて、2分割光
検出器9で受光する。
である。この実施例では、半導体レーザ1からの光をコ
リメータレンズ2で平行光として非平行平板よりなるビ
ームスプリッタ25に入射させ、このビームスプリッタ
25の表面(第1の面)25aで反射される光を、一つ
の受光領域を有する光検出器26で受光して半導体レー
ザ1の出射光量を制御するようにし、表面25aおよび
裏面(第2の面)25bを順次透過する光を、対物レン
ズ6を経て光ディスク7に集光させる。また、光ディス
ク7での反射光(戻り光)は、対物レンズ6を経てビー
ムスプリッタ25の裏面25bで反射させて、2分割光
検出器9で受光する。
【0022】ここで、ビームスプリッタ25の角度α
は、往路において、表面25aで正規に反射される光
と、表面25aを透過してビームスプリッタ25内で多
重反射して表面25aから出射する光とが干渉して、光
検出器26上のスポットに干渉縞ができるように、数度
〜数分の角度に設定する。
は、往路において、表面25aで正規に反射される光
と、表面25aを透過してビームスプリッタ25内で多
重反射して表面25aから出射する光とが干渉して、光
検出器26上のスポットに干渉縞ができるように、数度
〜数分の角度に設定する。
【0023】かかる構成において、往路において、ビー
ムスプリッタ25を経て対物レンズ6側に行く光量と、
光検出器26側に行く光量との和は常に一定で、光検出
器26上の干渉縞の明暗が対物レンズ1側に分光するこ
とになる。この分光比は、ビームスプリッタ25の表面
25aまたは裏面25bに施される誘電体または金属薄
膜で決定される。したがって、周囲温度が変化してビー
ムスプリッタ25の厚みが変化した場合には、一定の周
期で干渉縞の明部と暗部とが入れ替わることになるの
で、光検出器26上の光量の変動は干渉縞の数に反比例
して小さくなる。したがって、光検出器26の出力によ
る半導体レーザ1の出射光量制御を精度良く行うことが
でき、所望の出射光量を安定して保つことができる。な
お、この実施例の場合、対物レンズ6側に行く光も干渉
縞を生じることになるが、この光は対物レンズ6により
光ディスク7上に集光されるので、何ら問題とならな
い。
ムスプリッタ25を経て対物レンズ6側に行く光量と、
光検出器26側に行く光量との和は常に一定で、光検出
器26上の干渉縞の明暗が対物レンズ1側に分光するこ
とになる。この分光比は、ビームスプリッタ25の表面
25aまたは裏面25bに施される誘電体または金属薄
膜で決定される。したがって、周囲温度が変化してビー
ムスプリッタ25の厚みが変化した場合には、一定の周
期で干渉縞の明部と暗部とが入れ替わることになるの
で、光検出器26上の光量の変動は干渉縞の数に反比例
して小さくなる。したがって、光検出器26の出力によ
る半導体レーザ1の出射光量制御を精度良く行うことが
でき、所望の出射光量を安定して保つことができる。な
お、この実施例の場合、対物レンズ6側に行く光も干渉
縞を生じることになるが、この光は対物レンズ6により
光ディスク7上に集光されるので、何ら問題とならな
い。
【0024】図4は、この発明の第4実施例を示すもの
である。この実施例は、固定部31と可動部32とを有
する分離光学系を示すものである。固定部31には、半
導体レーザ1、コリメータレンズ2、ビームスプリッタ
3、非平行平板よりなるビームスプリッタ25、光検出
器26および2分割光検出器9を設け、可動部32には
反射プリズム33および対物レンズ6を設けて、半導体
レーザ1からの光を、コリメータレンズ2で平行光とし
た後、ビームスプリッタ3を透過させてビームスプリッ
タ25に入射させ、このビームスプリッタ25の表面2
5aで反射される光を、光検出器26で受光して半導体
レーザ1の出射光量を制御するようにし、ビームスプリ
ッタ25を透過する光を、反射プリズム33および対物
レンズ6を経て光ディスク7に集光させるようにする。
である。この実施例は、固定部31と可動部32とを有
する分離光学系を示すものである。固定部31には、半
導体レーザ1、コリメータレンズ2、ビームスプリッタ
3、非平行平板よりなるビームスプリッタ25、光検出
器26および2分割光検出器9を設け、可動部32には
反射プリズム33および対物レンズ6を設けて、半導体
レーザ1からの光を、コリメータレンズ2で平行光とし
た後、ビームスプリッタ3を透過させてビームスプリッ
タ25に入射させ、このビームスプリッタ25の表面2
5aで反射される光を、光検出器26で受光して半導体
レーザ1の出射光量を制御するようにし、ビームスプリ
ッタ25を透過する光を、反射プリズム33および対物
レンズ6を経て光ディスク7に集光させるようにする。
【0025】ここで、ビームスプリッタ25の角度α
は、第3実施例と同様に、往路において、表面25aで
正規に反射される光と、表面25aを透過してビームス
プリッタ25内で多重反射して表面25aから出射する
光とが干渉して、光検出器26上のスポットに干渉縞が
できるように、数度〜数分の角度に設定する。
は、第3実施例と同様に、往路において、表面25aで
正規に反射される光と、表面25aを透過してビームス
プリッタ25内で多重反射して表面25aから出射する
光とが干渉して、光検出器26上のスポットに干渉縞が
できるように、数度〜数分の角度に設定する。
【0026】また、光ディスク7からの戻り光は、対物
レンズ6および反射プリズム33を経てビームスプリッ
タ25に入射させ、このビームスプリッタ25を透過す
る戻り光をビームスプリッタ3で反射させて2分割光検
出器9で受光する。なお、固定部31は、ビームスプリ
ッタ25を光の入出射窓として兼用して、ほぼ密閉構造
とする。
レンズ6および反射プリズム33を経てビームスプリッ
タ25に入射させ、このビームスプリッタ25を透過す
る戻り光をビームスプリッタ3で反射させて2分割光検
出器9で受光する。なお、固定部31は、ビームスプリ
ッタ25を光の入出射窓として兼用して、ほぼ密閉構造
とする。
【0027】この実施例によれば、可動部32を軽くで
きるので、高速アクセスが可能になる。また、固定部3
1をほぼ密閉構造としたので、固定部31内への塵埃の
侵入を有効に防止することができる。したがって、半導
体レーザ1の出射パワーが変化していないにもかかわら
ず、光検出器26への塵埃の付着による検出出力の低下
により、出射パワーを不所望に変更するのを有効に防止
でき、半導体レーザ1の出射パワーを常に正確に制御す
ることができる。
きるので、高速アクセスが可能になる。また、固定部3
1をほぼ密閉構造としたので、固定部31内への塵埃の
侵入を有効に防止することができる。したがって、半導
体レーザ1の出射パワーが変化していないにもかかわら
ず、光検出器26への塵埃の付着による検出出力の低下
により、出射パワーを不所望に変更するのを有効に防止
でき、半導体レーザ1の出射パワーを常に正確に制御す
ることができる。
【0028】
【発明の効果】以上のように、この発明によれば、半導
体レーザからの光を分離して、一方は記録媒体に、他方
は光検出器に導くビームスプリッタを、非平行な第1の
面および第2の面を有する平板で構成して、その第1の
面で反射される光束を記録媒体に導き、第1の面を透過
し、第2の面で反射して再び第1の面を透過する光束を
光検出器に導くようにしたので、または第1の面および
第2の面を順次透過する光束を記録媒体に導き、第1の
面で反射される光と、該第1の面を透過して、第2の面
および第1の面との間で多重反射して、第1の面を透過
する光束とを、光検出器に導くようにしたので、周囲温
度変化や経年変化による影響や、迷光との干渉による影
響を受けることなく、光検出器から所望の信号を安定し
て得ることができる。
体レーザからの光を分離して、一方は記録媒体に、他方
は光検出器に導くビームスプリッタを、非平行な第1の
面および第2の面を有する平板で構成して、その第1の
面で反射される光束を記録媒体に導き、第1の面を透過
し、第2の面で反射して再び第1の面を透過する光束を
光検出器に導くようにしたので、または第1の面および
第2の面を順次透過する光束を記録媒体に導き、第1の
面で反射される光と、該第1の面を透過して、第2の面
および第1の面との間で多重反射して、第1の面を透過
する光束とを、光検出器に導くようにしたので、周囲温
度変化や経年変化による影響や、迷光との干渉による影
響を受けることなく、光検出器から所望の信号を安定し
て得ることができる。
【図1】この発明の第1実施例を示す図である。
【図2】同じく第2実施例を示す図である。
【図3】同じく第3実施例を示す図である。
【図4】同じく第4実施例を示す図である。
【図5】従来の技術を説明するための図である。
【図6】同じく従来の技術を説明するための図である。
【図7】同じく従来の技術を説明するための図である。
1 半導体レーザ 2 コリメータレンズ 3 ビームスプリッタ 21 トラッキングミラー 21a 表面(第1の面) 21b 裏面(第2の面) 6 対物レンズ 7 光ディスク 8,9 2分割光検出器 10,11 差検出器 22 集光レンズ 25 ビームスプリッタ 25a 表面(第1の面) 25b 裏面(第2の面) 26 光検出器 31 固定部 32 可動部 33 反射プリズム
─────────────────────────────────────────────────────
【手続補正書】
【提出日】平成5年3月26日
【手続補正1】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】0009
【補正方法】変更
【補正内容】
【0009】さらに、図7に示した装置にあっては、図
5において説明したと同様に、ビームスプリッタ5の表
面5bでの正規の反射光と、裏面5aでの不所望な反射
光との干渉が生じるため、光検出器12に入射する光
と、対物レンズ6に入射する光との光量比が変化し、こ
れがため実際には半導体レーザ1の光量が変化していな
いにもかかわらず、光検出器12に入射する光量が変化
して、半導体レーザ1の光量制御が行われてしまうとい
う問題がある。
5において説明したと同様に、ビームスプリッタ5の表
面5bでの正規の反射光と、裏面5aでの不所望な反射
光との干渉が生じるため、光検出器12に入射する光
と、対物レンズ6に入射する光との光量比が変化し、こ
れがため実際には半導体レーザ1の光量が変化していな
いにもかかわらず、光検出器12に入射する光量が変化
して、半導体レーザ1の光量制御が行われてしまうとい
う問題がある。
Claims (2)
- 【請求項1】 半導体レーザからの光を、トラッキング
機能を有する回動可能なビームスプリッタに入射させ、
このビームスプリッタで分離される一方の光束を対物レ
ンズを経て記録媒体に照射し、他方の光束を光検出器で
受光するようにした光学式情報読み取り装置において、
前記ビームスプリッタは非平行な第1の面および第2の
面を有する平板からなり、前記第1の面で反射される光
束を前記対物レンズを経て前記記録媒体に照射し、前記
第1の面を透過し、前記第2の面で反射して再び前記第
1の面を透過する光束を前記光検出器で受光するよう構
成したことを特徴とする光学式情報読み取り装置。 - 【請求項2】 半導体レーザからの光をビームスプリッ
タに入射させ、このビームスプリッタで分離される一方
の光束を対物レンズを経て記録媒体に照射し、他方の光
束を光検出器で受光するようにした光学式情報読み取り
装置において、前記ビームスプリッタは非平行な第1の
面および第2の面を有する平板からなり、前記第1の面
および第2の面を順次透過する光束を前記対物レンズを
経て前記記録媒体に照射し、前記第1の面で反射される
光と、該第1の面を透過して、前記第2の面および第1
の面との間の前記ビームスプリッタ内で多重反射して、
前記第1の面を透過する光束とを、前記光検出器で受光
するよう構成したことを特徴とする光学式情報読み取り
装置。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP02015993A JP3506723B2 (ja) | 1993-02-08 | 1993-02-08 | 光学式情報読み取り装置 |
US08/173,910 US5513121A (en) | 1993-01-11 | 1993-12-27 | Optical head |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP02015993A JP3506723B2 (ja) | 1993-02-08 | 1993-02-08 | 光学式情報読み取り装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH06236577A true JPH06236577A (ja) | 1994-08-23 |
JP3506723B2 JP3506723B2 (ja) | 2004-03-15 |
Family
ID=12019389
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP02015993A Expired - Fee Related JP3506723B2 (ja) | 1993-01-11 | 1993-02-08 | 光学式情報読み取り装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP3506723B2 (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2009078250A1 (ja) * | 2007-12-14 | 2009-06-25 | Konica Minolta Opto, Inc. | 光ピックアップ装置 |
US7948667B2 (en) | 2007-09-13 | 2011-05-24 | Seiko Epson Corporation | Optical scanning element and image display apparatus |
-
1993
- 1993-02-08 JP JP02015993A patent/JP3506723B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7948667B2 (en) | 2007-09-13 | 2011-05-24 | Seiko Epson Corporation | Optical scanning element and image display apparatus |
WO2009078250A1 (ja) * | 2007-12-14 | 2009-06-25 | Konica Minolta Opto, Inc. | 光ピックアップ装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP3506723B2 (ja) | 2004-03-15 |
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Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20020423 |
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Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20031217 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |