JPH06223081A - 公差配分装置および組立諸元作成システム - Google Patents

公差配分装置および組立諸元作成システム

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JPH06223081A
JPH06223081A JP11893A JP11893A JPH06223081A JP H06223081 A JPH06223081 A JP H06223081A JP 11893 A JP11893 A JP 11893A JP 11893 A JP11893 A JP 11893A JP H06223081 A JPH06223081 A JP H06223081A
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tolerance
variable
tolerances
assembly
total
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Application number
JP11893A
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Inventor
Richard W Johnson
ダブリュ.ジョンソン リチャード
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Texas Instruments Inc
Original Assignee
Texas Instruments Inc
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Publication date
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    • G05CONTROLLING; REGULATING
    • G05BCONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
    • G05B19/00Programme-control systems
    • G05B19/02Programme-control systems electric
    • G05B19/18Numerical control [NC], i.e. automatically operating machines, in particular machine tools, e.g. in a manufacturing environment, so as to execute positioning, movement or co-ordinated operations by means of programme data in numerical form
    • G05B19/4097Numerical control [NC], i.e. automatically operating machines, in particular machine tools, e.g. in a manufacturing environment, so as to execute positioning, movement or co-ordinated operations by means of programme data in numerical form characterised by using design data to control NC machines, e.g. CAD/CAM
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B65CONVEYING; PACKING; STORING; HANDLING THIN OR FILAMENTARY MATERIAL
    • B65GTRANSPORT OR STORAGE DEVICES, e.g. CONVEYORS FOR LOADING OR TIPPING, SHOP CONVEYOR SYSTEMS OR PNEUMATIC TUBE CONVEYORS
    • B65G2207/00Indexing codes relating to constructional details, configuration and additional features of a handling device, e.g. Conveyors
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    • GPHYSICS
    • G05CONTROLLING; REGULATING
    • G05BCONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
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    • G05B2219/30Nc systems
    • G05B2219/35Nc in input of data, input till input file format
    • G05B2219/35223Tolerance, consider tolerance in design, design for assembly
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 公差配分方法および装置を提供する。 【構成】 各々が組立諸元に関連する複数の可変公差間
に配分される総公差が指定される。関連する各組立諸元
について、可変公差の厳密度をこれ以上低下させると可
変公差を達成するコストを著しく低減できなくなる関連
する第1の公差点が定義される。関連する各組立諸元に
ついて、厳密度をこれ以上高めると可変公差を達成する
コストが実質的に増大し始める関連する第2の公差点が
定義される。関連する各組立諸元について、厳密度をこ
れ以上高めると実質的に達成できない関連する第3の公
差点が定義される。総公差が可変公差間で配分され、可
変公差が総公差に対する第1の所定関係を実質的に満
し、各可変公差がその関連公差点に対する第2の所定関
係を実質的に満すようにされる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は一般的に製造工程に関
し、特に公差配分方法および装置に関する。
【0002】
【従来の技術】機械部品の組立体により組立体の全長、
クリアランスギャップ、オーバラップおよび干渉が決
る。あらゆる機械設計において一つ以上のこれらの組立
現象が生じる。代表的な製造工程において、製造公差は
組立体に含まれる部品諸元(part feature
s)に配分される。物理的変動に関する所望の機能条件
を達成するには部品諸元を適切に配分することが重要で
ある。公差により部品諸元のサイズ、位置および形式の
変動限界が確立され、これらの限界は部品諸元の製造中
に維持しなければならない。
【0003】機械的製造公差の配分は、(1)旋削径、
加工長、鋳造ボス長、および射出成形スロット幅等の部
品諸元の種別、(2)部品諸元種別に対する製造工程能
力、(3)組立体幾何学形状および(4)組立体全体の
許容公差の関数である。製造可能性についてはより厳し
い公差で部品諸元を作り上げるためのコストの増大が考
慮される。したがって、部品諸元の公差配分工程は同時
に設計の機能性および製造可能性にも関連する。
【0004】代表的な公差配分方法は時間のかかる公差
分析反復工程を必要とし、機能的要求を満す公差を“目
標とする”のが普通である。この公差分析反復工程に
は、(1).技師の直観や経験に基いて組立体の部品諸
元に対する適切な公差を推定し、(2).公差分析モデ
ルを使用して組立体を分析し推定した公差により望まし
くない嵌合状態が生じるかどうかを決定することが含ま
れる。望ましくない嵌合状態が生じると、それを解消す
るために推定公差が反復調整され、適切な公差配分が達
成されるまで公差分析工程が繰り返される。
【0005】このような反復公差配分方法は広範な製造
工程にわたる特定技師の経験および訓練に頼る主観的な
方法である。したがって、反復公差配分方法により得ら
れる結果は技師によって著しく異なり、永年の経験を有
する技師であっても確実に適切な公差配分を行うことは
できない。さらに、反復公差配分方法は非常に時間のか
かる方法である。したがって開発期間が制限されると適
切な公差が得られず、望ましくない嵌合状態となって製
造中にコストのかかる変更が行われることになる。
【0006】また、組立体内の部品諸元に対して通常公
差モデルが選定される。利用可能な公差モデルには、
(1).最悪、(2).平方二乗和(“RSS”)、お
よび(3).修正RSS(“MRSS”)が含まれる。
統計的公差モデルは厳密度が低いため最悪公差モデルよ
りはコストが安く、それは統計的公差モデルでは組立体
の全ての部品諸元寸法が同時にその最大変動限界へ達す
ることがない確率が確認されるためである。統計的公差
モデルにより著しいコスト節減が可能となるにもかかわ
らず最悪公差は多くの重要でない部品へ配分され、それ
は前記統計的公差決定方法が反復方法であって時間がか
かりしかも確実でないためである。最悪公差がこのよう
な重要でない部品へ配分されると、公差が過剰に厳密な
ものとなるため製造コストが余分にふくらむことにな
る。
【0007】したがって、最悪,RSS,もしくはMR
SS公差モデル間の洗練され選定を容易にするために、
最悪および統計的公差を同時に非反復的に決定すること
が望ましい。また、推定された公差を反復調整して公差
分析工程を繰り返すことなく、関連する部品諸元に対す
る所望の機能適合および製造可能性を達成することも望
ましい。このような非反復方法は代表的に“公差配分”
と呼ばれる。公差配分ではより厳密な公差を達成するの
に必要な製造コストの増大を定量化するための製造可能
性(コスト対公差)データが使用される。
【0008】公差配分に対するニーズは従来から確認さ
れているが、従来の公差配分方法は一般的にメーカ、製
造工程および部品諸元の広範な範囲にわたって全範囲の
製造可能性データ曲線を必要とするため実用的ではなか
った。このような全範囲製造可能性データ曲線を得るこ
とは難しく、このような全範囲製造可能性データ曲線を
生成するのに必要な情報を編集するには大規模で費用の
かかる努力が必要である。
【0009】
【発明が解決しようとする課題】したがって、非反復性
の標準化された方法で公差が配分される、公差配分方法
および装置に対するニーズが生じている。さらに、機械
設計の機能性および製造可能性が同時に考慮され、かつ
最悪および統計的公差が同時に決定される公差配分方法
および装置を提供することが望ましい。最後に、容易に
得られる製造可能性データに基づき、公差配分後に機能
性を検証するための公差分析を必要としない公差配分方
法および装置に対するニーズも生じている。
【0010】
【課題を解決するための方法】公差配分方法および装置
において、各々が組立諸元に関連する複数の可変公差間
に配分される総公差が指定される。関連する各組立公差
に対して、可変公差の厳密度がこれ以上低下すると可変
公差を達成するためのコストを著しく低減することがで
きなくなる第1の関連公差点が定義される。関連する各
組立諸元に対して、厳密度をさらに高めると可変公差を
達成するコストが実質的に増大し始める第2の関連公差
点が定義される。関連する各組立諸元に対して、厳密度
をさらに高めることは実質的に達成できない第3の関連
公差点が定義される。可変公差が総公差に対する第1の
所定関係を実質的に満し、かつ各可変公差がその関連公
差点に対する第2の所定関連を実質的に満すように、総
公差が可変公差間に配分される。
【0011】公差が非反復式に配分されることが本発明
の技術的利点である。
【0012】公差が標準化された方法で配分されること
が本発明のもう一つの技術的利点である。
【0013】設計の機能性および製造可能性が同時に考
慮されることが本発明のもう一つの技術的利点である。
【0014】最悪および統計的公差が同時に決定される
ことが本発明のさらにもう一つの技術的利点である。
【0015】本発明のさらにもう一つの技術的利点によ
り、容易に入手できる製造可能性データに基いた公差配
分方法および装置が提供される。
【0016】本発明のもう一つの技術的利点として、公
差分析において公差が配分された後機能性を検証する必
要がない。
【0017】
【実施例】本発明の実施例およびその利点は図1〜図1
4を参照すれば良く理解することができ、さまざまな図
面の類似および対応部品には同じ番号が符されている。
【0018】組立体内の各機械的部品諸元に対して通常
適切な公差が決定される。部品諸元の適切な公差配分は
部分サイズ、部品材料、製造方法および関連コスト、熱
条件、組立体機能および組立体全体にわたり配分可能な
総公差に及ぼす影響、および部品諸元の組立体内の他の
公差との相互関係を含むいくつかの事柄を考慮して行わ
れる。
【0019】例えば、大きい部品諸元よりも小さい部品
諸元の方が容易に厳密な公差を達成することができる。
代表的に硬鋼の方が軟鋼よりも加工費が高い。同様に、
各製造方法の関連コストは異り、厳密な公差を要する部
品諸元の方が代表的に厳密度の低い部品諸元よりも高価
な方法で作り上げられる。特に製造後にサイズが伸縮す
る部品諸元には通常緩い公差が配分される。組立体全体
の許容可能な総公差は組立体がその設計目的に従って機
能するように適切に決定しなければならない。組立体に
は特性の異なるいくつかの部品諸元が含まれることがあ
るため、任意の部品諸元に適切な公差配分を行うには部
品諸元と組立体内の他の公差との相互関係を考慮しなけ
ればならない。
【0020】図1は公差を配分する、一般的に符号10
に示す、組立体例の断面図である。組立体10はねじ1
6a,16bによりパネル14に接続されるベース12
を含んでいる。ベース12は円筒チャンバーを有しその
内壁は摩耗ブッシング18で完全に被覆されている。ノ
ブ20がねじ22により円筒軸24に接続されており、
円筒軸はベース12の円筒チャンバー内で摩耗ブッシン
グ18に対して回転可能に搭載されている。摩耗ブッシ
ング25はベース12の円筒チャンバーの第1の外リッ
プを被覆し、ベース12とノブ20の肩部26間に間挿
されている。摩耗ワッシャ27がベース12の円筒チャ
ンバーの第2の外リップを被覆してベース12とスプリ
ング28間に間挿されている。摩耗ブッシング29は円
筒軸24の棚領域を被覆し円筒軸24とスプリング28
間に間挿されている。スプリング28は摩耗ワッシャ2
7および摩耗ブッシング29を付勢してノブ20の肩部
26が摩耗ブッシング25を付勢するようにする。
【0021】図1において、組立体10の機能設計には
ベース12とノブ20間の直接干渉を回避する組立間隙
30が含まれている。組立間隙30の幅は次の諸元寸法
により決定される。(1).ベース12の第1の旋削外
長32、(2).ベース12の第2の旋削外長34、
(3).摩耗ブッシング25の厚さ36、(4).ノブ
20の旋削内長38、および(5).ノブ20の旋削外
長40。組立間隙30の幅を集約的に決定する諸元寸法
を識別することは寸法ループの構成と呼ばれる。表Iに
組立間隙30の諸元寸法例、第1の旋削外長32、第2
の旋削外長34、厚さ36、旋削内長38、旋削外長4
0を示す。寸法および公差の単位は全てインチである。
【0022】
【表1】 機械的公差配分表 総公差− 0.300 固定公差− −0.001 可配分公差− =0.029 Cf =1.41 公差種別 諸元寸法 最悪公差 RSS 公差 MRSS 公差 固定: 厚 (36) 0.060 0.001 0.001 0.001 可配分:旋削外長 (32) −0.500 0.005 0.011 0.008 旋削外長 (34) 1.350 0.008 0.016 0.011 旋削内長 (38) 1.125 0.007 0.014 0.010 旋削内長 (40) −2.000 0.009 0.018 0.013 計 0.035 0.030 0.060 0.043 公称間隙(30)
【0023】表Iは組立間隙30の幅を適切に計算する
ために厚さ36、旋削外長34および旋削内長38の諸
元寸法から減じられるものとして旋削外長32および旋
削外長40の諸元寸法を示すことにより組立体10の寸
法ループ式を構成する工程を示すものである。組立体1
0等に対するこのような寸法ループを適切に構成した後
で、表1に示すようなさまざまな諸元寸法に公差が配分
される。
【0024】図1において、組立間隙30の幅は組立体
10に対する適切な機能設計条件であり、ベース12と
ノブ20間の直線干渉が回避される。この所望の機能設
計条件を達成するために、表1では組立間隙30におけ
る最悪公差0.762mm(0.030インチ)が確立
され、組立間隙30の最小幅は0.889−0.762
=0.127mm(0.035−0.030)=0.0
05インチ)となり、組立間隙30の最大幅は0.88
9+0.762=1.651mm(0.035+0.0
30=0.065インチ)となる。したがって、厚さ3
6、旋削外長32、旋削外長34、旋削内長38、およ
び旋削外長40の諸元寸法に対する最悪公差の総和は
0.762mm(0.030インチ)を越えてはなら
ず、それは最悪公差の総和により組立間隙30の最悪公
差が決定されるためである。適切な機能設計条件を達成
するために、図1および表1に示すような、寸法ループ
の可変諸元寸法に対して配分可能な総公差を配分する方
法をここに開示する。
【0025】実施例において、公差は全てトータルフォ
ーマットではなく等バイラテラルプラスマイナス(±)
フォーマットで表現される。例えば、トータルフォーマ
ットでは組立間隙30の寸法は0.127+1.524
−0mm(0.005+0.060−0インチ)(公称
サイズ=0.127mm(0.005インチ)、公差=
+1.524−0mm(+0.060−0インチ))と
して表現することができる。等バイラテラルプラスマイ
ナス(±)フォーマットでは、組立間隙30の同じ寸法
が0.035+0.030−0.030もしくは0.0
35±0.030として定義される。
【0026】時には、諸元寸法が固定公差を有すること
があり、例えば諸元寸法がサードパーティメーカにより
独立に確立される場合がそうである。表1には摩耗ブッ
シング25の厚さ36に対するこのような固定公差が示
されている。したがって、摩耗ブッシング25の厚さ3
6は1.524±0.254mm(0.060±0.0
01インチ)となる。実施例の方法では総最悪公差を調
整することによりこのような固定公差が考慮される。表
1にはこのような調整が示され、組立間隙30の0.7
62mm(0.030インチ)の総最悪公差は摩耗ブッ
シング25の固定公差により減分されて0.737mm
(0.029インチ)の許容総公差が計算される。次
に、0.737mm(0.029インチ)の許容総公差
が旋削外長32、旋削外長34、旋削内長38、および
旋削外長40の可変諸元寸法へ適切に配分される。
【0027】表1に示す配分では、旋削外長32に±
0.127mm(±0.005インチ)の最悪公差が配
分され、旋削外長34には±0.203mm(±0.0
08インチ)の最悪公差が配分され、旋削内長38には
±0.178mm(±0.007インチ)の最悪公差が
配分され、旋削外長40には±0.229mm(±0.
009インチ)の最悪公差が配分されている。これらの
最悪公差の総和を摩耗ブッシング25の厚さ36の固定
公差(±0.025mm(±0.001インチ))と一
緒にしたものは組立間隙30の最悪公差±0.762m
m(±0.030インチ)を越えることがない。
【0028】表1には平方二乗和(“RSS”)および
修正RSS(“MRSS”)統計的公差モデルに従った
統計的公差配分も示されている。RSSおよびMRSS
統計的公差モデルはガウス分布曲線を使用して公差の確
率分布を決定し、組立体の全部品諸元寸法が同時にその
最大変動限界へ達することがない確率を実現する。正規
ガウス分布曲線に従って決定される公差により部品諸元
を作り上げれば、このように作り上げられる部品諸元の
任意特定の組立体がその特定の最悪総公差を満す理論的
確率は99.73%となる。統計的公差モデルは少くと
もおよそ5つの製造部品諸元を含む組立体に対して最も
有用である。
【0029】RSS統計モデルは中心極限定理を使用
し、表1の個々の全ての諸元寸法公差の平方二乗和が組
立間隙30の特定の最悪公差±0.762mm(±0.
030インチ)に等しくされている。したがって、たと
え0.001+0.011+0.016+0.014+
0.018=0.060(1005保証最悪総RSS公
差)であっても、次のようになる。
【数1】 0.0012 (厚さ36の二乗RSS公差) +0.0112 (旋削外長32の二乗RSS公差) +0.0162 (旋削外長34の二乗RSS公差) +0.0142 (旋削内長38の二乗RSS公差) +0.0182 (旋削外長40の二乗RSS公差) =0.0302 (組立間隙30の99.73%確率最悪二乗RSS公差)
【0030】表1のRSS公差に従って組立体10の諸
元寸法が作り上げられると、組立体10が組立体間隙3
0の特定最悪公差±0.762mm(±0.030イン
チ)を満す理論的確率は99.73%となる。しかしな
がら、組立体10が組立間隙30の特定最悪公差を越え
る理論的確率が0.27%であり、組立体10の全部品
諸元寸法が同時にその最大変動限界を越える場合には
1.524mm(0.060インチ)(100%保証最
悪総RSS公差)まで超過する可能性がある。また、製
造ロット内の全部品により厳しい公差を課すのではなく
製造ロット内の変動幅が許容できない部品を単に廃棄す
ることによりコストを最少限に抑えられることもある。
【0031】MRSS統計モデルによれば、表1の個々
の全ての諸元寸法の平方二乗和に修正係数(Cf )を乗
じると組立間隙30の特定最悪公差±0.762mm
(±0.030インチ)に等しくなる。Cf は算出され
た実数であり、特定組立体に応じて代表的に1.4〜
1.7の値となる。表1では、Cf は1.41であり、
したがってたとえ0.001+0.008+0.011
+0.010+0.013=0.043(100%保証
最悪総MRSS公差)であっても、次のようになる。
【数2】 0.0012 (厚さ36の二乗RSS公差) +0.0082 (旋削外長32の二乗RSS公差) +0.0112 (旋削外長34の二乗RSS公差) +0.0102 (旋削内長38の二乗RSS公差) +0.0132 (旋削外長40の二乗RSS公差) =0.0212 (全MRSS公差の二乗RSS) ×1.412 (二乗Cf =0.0302 (組立間隙30の99.73%確率最悪二乗MRSS公差) 設定誤差や制御性の悪い工程では部品諸元のサイズ分布
の平均が実際の製造において特定公称寸法からずれる可
能性を考慮するために、MRSS公差は理論的RSS公
差よりも厳しい。
【0032】例えば、表1のRSS分析では、旋削内長
38の理論的諸元寸法は1.125±0.014であ
る。しかしながら、実際の製造においては、設定誤差に
より旋削内長38の諸元サイズ分布の平均は1.125
から1.121へずれることがある。算出された修正係
数(Cf )を使用することにより、MRSS統計モデル
は部品諸元サイズ分布における平均的ずれを考慮する。
【0033】表1に示すMRSS公差に従って組立体1
0の諸元寸法を作り上げれば、設定誤差により実際の製
造において部品諸元サイズ分布がずれる可能性を考慮し
ても、組立体10が組立間隙30の特定最悪公差±0.
762mm(±0.030インチ)を満す理論的確率は
99.73%となる。しかしながら、組立体10が組立
間隙30の特定最悪公差を越える理論的確率が0.27
%であり、組立体10の全部品諸元寸法が同時にその最
大変動限界へ達する場合には1.092mm(0.04
3インチ)(100%保証最悪総MRSS公差)に達す
る可能性がある。また、算出されたMRSS公差は最悪
公差よりも厳しいことがあり、通常このような状況では
MRSS公差の替りに最悪公差を使用しなければならな
い。
【0034】図2はMRSS統計モデルの修正係数(C
f )を計算するのに使用される公差モデル曲線のグラフ
である。各部品諸元の公差が任意他の部品諸元の公差に
等しい組立体の部品諸元に対する一組の公差が与えられ
ている場合の、このような全公差の最悪和(“W
S”)、このような全公差の平方二乗和(“RS
S”)、および中間範囲修正係数(Cf =1.5)を使
用したこのような全公差の修正平方二乗和(“MRS
S”)間の関係を図2に示す。全公差が等しいため、W
C=N×Tとなり、ここにNは組立体内の部品諸元数で
あり、Tは各部品諸元の公差である。
【0035】また、全公差が等しいため次式が成立す
る。
【0036】
【数3】
【0037】中間範囲Cf =1.5を使用すれば、定義
によりMRSS=1.5×RSSとなる。したがって、
1 が次のように定義され
【数4】(MRSS−RSS)=(1.5×RSS)−
RSS=0.5×RSS, かつ、b1 が(WC−RSS),と定義されると、次式
が成立する。
【0038】
【数5】
【0039】各部品諸元の公差が任意他の部品諸元の公
差とは異なることがある組立体内の部品諸元に対する一
組の公差が与えられている場合の、このような全公差に
対するWC,RSSおよびMRSS間の関係を図2に示
す。各部品諸元の公差は任意他の部品諸元の公差とは異
なることがあるため、RSS,MRSSおよびWC間の
関係は両グラフにおいて同じではない。したがって、次
式が成立する。
【0040】
【数6】
【0041】両グラフにおいて、RSS,MRSSおよ
びWC間の同じ関係を維持するために、a2 /b2 の比
に等しいa1 /b1 の比に基いて修正係数(Cf )が算
出される。したがって、a2 が(MRSS−RSS)と
して定義されかつb2 が(WC−RSS)として定義さ
れると、次式が成立する。
【0042】
【数7】
【0043】この関係を表1に示す。MRSS統計モデ
ルによれば、表1の個々の諸元寸法の全ての平方二乗和
に修正係数(Cf )を乗じたものは組立間隙30の特定
最悪公差±0.762mm(±0.030インチ)に等
しい。表1では、Cf は1.41である。したがって、
たとえ0.001+0.008+0.011+0.01
0+0.013=0.043(100%保証最悪総MR
SS公差)であっても、次のようになる。
【数8】 0.0012 (厚さ36の二乗RSS公差) +0.0082 (旋削外長32の二乗RSS公差) +0.0112 (旋削外長34の二乗RSS公差) +0.0102 (旋削内長38の二乗RSS公差) +0.0132 (旋削外長40の二乗RSS公差) =0.0212 (全MRSS公差の二乗RSS) ×1.412 (二乗Cf =0.0302 (組立間隙30の99.73%確率最悪二乗MRSS公差) したがって、WC=0.043,MRSS=0.03
0,RSS=0.021となる。これらの数値によりC
f を計算する前記関係が検証され、それは次式が成り立
つためである。
【0044】
【数9】
【0045】図3は実施例に従って製造コストを製造基
準に関連ずける製造可能性データのグラフである。全範
囲製造可能性データ曲線50はより厳しい公差を達成す
るのに鋼部品諸元の%製造コストがどれだけ増大するか
を示している。図3のX軸は多数目盛りとされている。
全範囲製造可能性データ曲線52は長さ対直径比を高く
するのに孔あけの%製造コストがどれだけ増大するかを
示している。データ曲線50,52等の全範囲製造可能
性データ曲線は得にくく、広範なメーカ、製造工程、お
よび部品諸元に対する全範囲製造可能性データ曲線を生
成するのに必要な情報を編集するには費用のかかる大規
模な努力が必要である。
【0046】実施例の方法は配分を行うために、データ
曲線50,52等の全範囲製造可能性データ曲線を必要
としない。実施例では、3つの製造可能性データ点を使
用して製造可能性モデルが確立される。これら3つの製
造可能性データ点は、(1).公差の厳密度がさらに低
下するのに応答して製造コストを著しく低減することが
できない減少復帰公差(“TDR”)、(2).公差厳
密度がさらに高まることに応答して製造コストが実質的
に増大し始める困難度閾値公差(“DTT”)、および
(3).従来の製造工程では公差厳密度をさらに高くし
て経済的に部品諸元を作り上げることが技術的に不可能
である絶対公差(“ABS”)として明確に定義されて
いる。
【0047】3つのデータ点だけを使用して部品諸元の
製造可能性を特徴ずけるため、関連技術について通常の
技能を有する人間が前記TDR,DTTおよびABSの
定義に従ってそれらの値を容易に得ることができる。さ
らに、3つのデータ点だけで部品諸元の製造可能性を特
徴ずけることにより、自動化ハードウェアシステムによ
り後記するように製造可能性データのコンピュータ化さ
れたデータベースを容易に維持することができる。
【0048】TDR,DTTおよびABSデータ点は図
3に示されており、従来の代表的方法で必要とされる全
範囲製造可能性曲線50を良く近似する2本の線分を形
成している。同様に図3においてTDD,DTT,AB
Sデータ点は実施例の方法を公差だけでなく他の製造基
準にどのように適用できるかを示している。やはり、図
3において、TDR,DTT,ABSデータ点は従来の
代表的方法で必要とされる全範囲製造可能性曲線52を
良く近似する2本の線分を形成する。
【0049】図4は3つの異なる部品諸元に対するTD
D,DTT,ABS製造可能性データ点のグラフであ
る。図4のX軸は対数目盛りとされている。実施例の方
法では容易に入手可能な製造可能性データを使用して組
立体内に含まれるさまざまな部品諸元に対して総組立公
差が配分される。図4の3つの部品諸元の各々がそれ自
体のコスト対公差作成可能性モデルを有している。これ
ら3つの製造可能性モデルはTDDi ,DTTi ,AB
i データ点(i=1,2もしくは3)を通る線分によ
り形成されるtw1,tw2,tw3により一般的に表示され
る。各部品諸元自体の製造可能性モデルに従って、組立
体内の部品諸元の任意の組合せに対して公差が配分さ
れ、各部品諸元の配分公差が任意他の部品諸元の配分公
差と同等に作成可能とされる。
【0050】例えば、図4において、第1の部品諸元
(Pi )のコスト対公差作成可能性モデルはTDD1
DTT1 およびABS1 により表示される。第2の部品
諸元(P2 )のコスト対公差作成可能性モデルはTDR
2 ,DTT2 およびABS2 により表示される。第3の
部品諸元(P3 )のコスト対公差作成可能性モデルはT
DR3 ,DTT3 およびABS3 により表示される。
【0051】固定公差が存在しなければ、P1 の最悪公
差(tw1)をDTT1 =±0.051mm(±0.00
2インチ)、P2 の最悪公差(tw2)をDTT2 =±
0.025mm(±0.001インチ)、P3 の最悪公
差(tw3)をDTT3 =±0.008mm(±0.00
03インチ)に設定することにより±0.084mm
(±0.0033インチ)の総最悪公差(Twc)が得ら
れる。したがって、各部品諸元自体の製造可能性モデル
に従って、各部品諸元の配分公差は任意他の部品諸元の
配分公差と同等に作成可能である。
【0052】第2の例において、固定公差が存在しない
場合、tw1=±0.1524mm(±0.0060イン
チ)、tw2=±0.3937mm(±0.0155イン
チ)、tw3=±0.0813mm(±0.0032イン
チ)に設定し、
【数10】 twi=DTTi +Pw (TDRi −DTTi ) となるようにすれば、Twc=±0.6274mm(±
0.0247インチ)が得られ、ここに、(i=1,2
もしくは3)、Pw は全twiに対する最悪公差比例係数
である。この第2の例では、Pw =0.5である。した
がって、各部品諸元自体の製造可能性モデルに従って、
各部品諸元の配分公差は任意他の部品諸元の配分公差と
同等に作成可能である。
【0053】固定公差が存在する場合には、次式が成立
する。
【0054】
【数11】 ここに、Nは可変公差数、nは固定公差(tfi)数であ
る。
【0055】実施例において、次式が成立する場合に
は、
【0056】
【数12】
【0057】Pw は次式で表わされる。
【0058】
【数13】
【0059】同様に、次式が成り立つ場合には、
【0060】
【数14】
【0061】Pw は次式で表わされ、
【0062】
【数15】 wi=ABSi +Pw (DTTi −ABSi )、とされ
て、ここにPw は全twiに対する最悪公差比例係数であ
る。したがって、各部品諸元自体の製造可能性モデルに
従って、各部品諸元の配分公差は任意他の部品諸元の配
分公差と同等に作成可能となる。
【0063】表2は数種の部品諸元に対するTDR,D
TT,ABSの代表的値を示す。表2は完全なものでは
なく、単に代表付値を示すに過ぎずそれはさまざまなメ
ーカによって変動する。
【0064】
【表2】
【0065】表2において、全ての公差はトータルフォ
ーマットではなく等バイラテラルプラスマイナス(±)
フォーマットで示されている。これらの公差は一般的な
製造慣行を表わしている。加工部品諸元サイズ公差は2
5.4mm(1.00インチ)のサイズおよびアルミニ
ウムの材料種別に基いている。部品諸元位置公差は任意
特定長に基づくものではなく、45.72cm(18.
00インチ)までのあらゆる距離に適用される。板金公
差はアルミニウムの材料種別および1.524mm
(0.060インチ)の厚さに基いている。壁厚および
フィレット半径部品諸元記述は25.4mm(1.00
インチ)ではなく4.775mm(0.188インチ)
のサイズに基いている。射出成形プラスチック部品諸元
公差はガラス充填材料種別に基いている。
【0066】図5〜図11は実施例に従って公差を配分
する方法のフロー図である。図5において、ステップ2
00aで組立体に含まれる部品諸元の種別が入力され、
ここにNはさまざまな部品諸元の数である。ステップ2
00bでは可変公差を有する各部品諸元の公称サイズが
入力される。ステツプ200cでは固定公差を有する各
部品諸元の公称サイズが入力され、ステップ200dで
は固定公差値(tfi)が入力される。ステップ200e
では図1の組立間隙30等の組立体の適切な機能寸法に
許容される総最悪公差(Twc)が入力される。
【0067】ステップ202ではステップ200aで指
定される各部品諸元に対してデータベース204からA
BSi ,DTTi ,TDRi の単位値が検索される。ス
テップ206ではステップ200bで指定される部品諸
元のさまざまな公称サイズを考慮してABSi ,DTT
i ,TDRi の単位値が校正され、25.4mm(1イ
ンチ)よりも大きい部品諸元に対しては増大され25.
4mm(1インチ)よりも小さい部品諸元に対しては低
減される。代表的に、加工部品諸元に対しては、ABS
i ,DTTi ,TDRi の各単位値に加工部品諸元のサ
イズ(インチ)の立方根が乗ぜられる。
【0068】ステップ208では部品諸元のさまざまな
公称サイズを考慮して校正した後で全てのABSi 値が
加算される。ステップ210では部品諸元のさまざまな
公称サイズを考慮して校正した後で全てのDTTi 値が
加算される。ステップ212では部品諸元のさまざまな
公称サイズを考慮して校正した後で全てのTDRi 値が
加算される。
【0069】ステップ202〜212と平行して、ステ
ップ214ではステップ200dで指定された全ての固
定公差(tfi)が加算され、ステップ216ではステッ
プ200eで指定された総最悪公差(Twc)から加算さ
れた固定公差(tfi)を減じて許容可能な総最悪公差
(Tawc )が決定される。Tawc は次に出力フィールド
218へ与えられる。
【0070】ステップ220では、(1).出力フィー
ルド218からのTawc 、(2).ステップ208から
の加算ABSi 値、(3).ステップ210からの加算
されたDTTi 値、および(4).ステップ212から
の加算されたTDRi 値が入力される。次に、ステップ
222a〜fにおいてそれぞれTawc と加算されたAB
i 値、加算されたDTTi 値および加算されたTDR
i 値との比較に基いて、6つの可能な条件のいずれがT
awc により満されるかが決定される。Tawc は最悪公差
モデルの元で6つの条件の中の一つを満すことができ、
なおかつ統計モデルの元で6つの条件の中の別の一つを
満すことができる。
【0071】最悪公差モデルの元では次式が成立し、
【0072】
【数16】 ここに、tw1は指定された部品諸元の個々の最悪公差値
である。このような最悪公差モデルに対して、ステップ
224aでTawc が加算されたTDRi 値以上であるか
どうかが決定される。イエスであれば条件1が満され、
ステップ226で各最悪公差値twiがその関連するTD
i に設定される。
【0073】最悪公差モデルの元で、ステップ228a
において次の関係が成立するかどうかが決定される。
【0074】
【数17】 成立すれば条件2が満され、ステップ230において次
式に従ってPw が算出される。
【0075】
【数18】 次に、ステップ232において最悪公差値twiが次のよ
うに算出される。
【数19】 twi=DTTi +Pw (TDRi −DTTi ).
【0076】同様に、ステップ234aにおいてTawc
がDTTi の加算値に等しいかどうかが決定される。等
しければ、条件3が満され、ステップ236において各
最悪公差値twiがその関連値DTTi に設定される。
【0077】ステップ238aにおいて、次の関係が成
立するかどうかが決定される。
【0078】
【数20】 成立すれば、条件4が満され、ステップ240において
次式に従ってPw が算出される。
【0079】
【数21】 次に、ステップ242において各最悪公差値twiが次の
ように算出される。
【数22】 twi=ABSi +Pw (DTTi −ABSi
【0080】ステップ244aにおいてTawc がABS
i の加算値に等しいかどうかが決定される。等しけれ
ば、条件5が満され、ステップ246において各最悪公
差値t wiがその関連値ABSi に設定される。
【0081】ステップ248aにおいてTawc がABS
i の加算値より小さいかどうかが決定される。小さけれ
ば、条件6が満され、ステップ250においてこのよう
な最悪公差は達成できないことを示すエラー状態が設定
される。
【0082】RSS公差モデルの元では次式が成立す
る。
【0083】
【数23】 ここに、trwi は特定部品諸元寸法の個々のRSS公差
値である。このようなRSS公差モデルに対して、ステ
ップ224bにおいて次の関係が成立するかどうかが決
定される。
【0084】
【数24】 成立すれば、条件1が成立し、ステップ226において
各RSS公差値trwi がその関連値TDRi に設定され
る。
【0085】RSS公差モデルの元で、ステップ228
bにおいて次の関係が成立するかどうかが決定される。
【0086】
【数25】 成立すれば、条件2が満され、ステップ252において
R が算出される。次に、ステップ254において各R
SS公差値が次のように設定される。
【数26】 trwi =DTTi +PR (TDRi −DTTi ).
【0087】同様に、ステップ234bにおいて次式が
成立するかどうかが決定される。
【0088】
【数27】 成立すれば、条件3が満され、ステップ236において
各RSS公差値trwi がその関連するDTTi に設定さ
れる。
【0089】ステップ238bにおいて次の関係が成立
するかどうかが決定される。
【0090】
【数28】 成立すれば、条件4が満され、ステップ256において
R が算出される。次に、ステップ258において各R
SS公差値twiが次のように設定される。
【数29】 trwi =ABSi +PR (DTTi −ABSi
【0091】ステップ244bにおいて次式が成立する
かどうかが決定される。
【0092】
【数30】
【0093】成立すれば、条件5が満され、ステップ2
46において各RSS公差値がその関連するABSi
設定される。
【0094】ステップ248bにおいて次の関係が成立
するかどうかが決定される。
【0095】
【数31】
【0096】成立すれば、条件6が満され、ステップ2
50において最悪公差を達成できないことを示すエラー
状態が設定される。
【0097】MRSS公差モデルの元では、次式が成立
する。
【0098】
【数32】 ここに、tmwi は特定部品諸元寸法の個々のMRSS公
差値である。このようなMRSS公差モデルに対して、
ステップ224cにおいて次の関係が成立するかどうか
が決定される。
【0099】
【数33】 成立すれば、条件1が満され、ステップ226において
各MRSS公差値tmwiがその関連TDRi に設定され
る。
【0100】MRSS公差モデルの元で、ステップ22
8cにおいて次の関係が成立するかどうかが決定され
る。
【0101】
【数34】 成立すれば、条件2が満され、ステップ264において
mwが算出される。次に、ステップ266において各M
RSS公差値tmwi が次のように設定される。
【数35】 tmwi =DTTi +Pmw(TDRi −DTTi
【0102】同様に、ステップ234cにおいて次式が
成立するかどうかが決定される。
【0103】
【数36】 成立すれば、条件3が満され、ステップ236において
各MRSS公差値tmwiがその関連DTTi に設定され
る。
【0104】ステップ238cにおいて次の関係が成立
するかどうかが決定される。
【0105】
【数37】 成立すれば、条件4が満され、ステップ268において
mwが算出される。次に、ステップ270において各M
RSS公差値tmwi が次のように設定される。
【数38】 tmwi =ABSi +Pmw(DTTi −ABSi
【0106】ステップ244cにおいて次式が成立する
かどうかが決定される。
【0107】
【数39】 成立すれば、条件5が満され、ステップ246において
各MRSS公差値がその関連ABSi に設定される。
【0108】ステップ248cにおいて次の関係が成立
するかどうかが決定される。
【0109】
【数40】
【0110】成立すれば、条件6が満され、ステップ2
50においてこのような最悪公差は達成不能であること
を示すエラー状態が設定される。
【0111】最後に、図5のステップ276において、
図1の組立間隙30等の組立体の適切な諸元寸法の公称
サイズがステップ200bおよび200cで指定される
公称サイズに基いて算出される。この値は公称サイズ出
力フィールド278へ与えられる。
【0112】ステップ252(条件2)および256
(条件4)において、表1に関して前記した次式を認識
することによりRSS公差モデルに対するPR が算出さ
れ、
【0113】
【数41】 ここに、Twcはステップ200eで指定される最悪総公
差であり、tfiはステップ200dで指定される固定公
差である。したがって、次式が成立し、
【0114】
【数42】
【0115】したがって、ステップ252(条件2)に
おいて、PR
【数43】 へ代入することにより解くことができる。
【0116】ステップ256(条件4)において、PR
【数44】 へ代入して解くことができる。
【0117】このようにtrwi を代入した後で、唯一未
知の変数はPR であり、それは二次方程式の解を使用し
て算出することができる。
【0118】
【数45】
【0119】ステップ252(条件2)において次式が
成立する。
【0120】
【数46】
【0121】ステップ256(条件4)において、次式
が成立する。
【0122】
【数47】
【0123】このようにしてPR を解いた後で、ステッ
プ254(条件2)およびステップ258(条件4)に
関して前記したように全てのtrwi を算出することがで
きる。算出されたtrwi がその関連TDRi よりも大き
ければ、trwi はその関連TDRi に設定しなければな
らない。
【0124】ステップ264(条件2)および268
(条件4)において、表1に関して前記したように次式
を認識することによりMRSS公差モデルに対するPmw
が算出され、
【0125】
【数48】 ここに、Twcはステップ200eで指定された総最悪公
差であり、tfiはステップ200dで指定された固定公
差である。したがって、次式が成立する。
【0126】
【数49】
【0127】したがって、ステップ264(条件2)に
おいて、
【数50】 へ代入することによりPmwを解くことができる。
【0128】ステップ268(条件4)において、
【数51】 へ代入することにより、Pmwを解くことができる。
【0129】このようにtmwi を代入した後で、二次方
程式の解を使用してPmwを算出することができる。
【0130】
【数52】
【0131】ステップ264(条件2)において、次式
が成立する。
【0132】
【数53】
【0133】ステップ268(条件4)において、次式
が成立する。
【0134】
【数54】 しかしながら、RSS公差モデルに対して前記した状況
とは異り、MRSS公差モデルでは
【外1】 は最初は未知の値であり、それは次の関係が成立し、
【0135】
【数55】 ここで、次の関係が成立するためである。
【0136】
【数56】
【0137】
【数57】
【0138】それでも、
【外2】 およびPmwは2つの反復の収束工程により容易に解くこ
とができる。したがって、実施例では最初の反復により
RSS公差モデルを使用して全てのtrwi を算出するこ
とによりCf の初期推定を行う。このようにして、ステ
ップ264(条件2)において、ステップ252につい
て前記したように全てのtrwi が算出される。ステップ
268(条件4)において、ステップ256について前
記したように全てのtrwi が算出される。
【0139】全てのtrwi を算出した後で、次の関係を
設定することによりTmrの初期推定が行われ、
【0140】
【数58】 また、次の関係を設定することによりTrss の初期推定
が行われる。
【0141】
【数59】 その後、次のステップが行われる。
【0142】ステップ1mrおよびTrss の推定値を
使用してCf の推定値が算出される。
【0143】ステップ2wc=Trss ×Cf であるた
め、ステップ1で算出したCf の推定値により(図5の
ステップ200eで指定された)Twcを除すことにより
rs s の推定値が算出される。
【0144】ステップ3 次式が成立するため、
【0145】
【数60】 ステップ2からのTrss の推定値を使用して次式に従っ
【外3】 が推定される。
【0146】
【数61】
【0147】ステップ4 図7のステップ264におい
て、ステップ3からの
【外4】 の指定値を使用して条件2が満されることが確認され
る。また、図9のステップ268において、ステップ3
からの
【外5】 の推定値を使用して条件4が満されることが確認され
る。
【0148】ステップ5 ステップ3からの
【外6】 の推定値を二次方程式へ代入してPmwを算出する。
【0149】ステップ6 図7のステップ264(条件
2)において、ステップ5からのP mwを使用して次の計
算が行われる。
【0150】
【数62】 また、図9のステップ268(条件4)において、ステ
ップ5からのPmwを使用して次の計算が行われる。
【0151】
【数63】
【0152】次に、第2の反復により次式に従いかつス
テップ6で計算したtmwi に基いてTmrおよびTrss
新しい推定値を算出することによりCf の推定が行われ
る。
【0153】
【数64】
【0154】
【数65】
【0155】実施例では、次にPmwの最終値を算出する
ためにステップ1〜5が一度繰り返される。
【0156】図12に一般的に符号300で実施例に従
った製造システムの略ブロック図を示す。中央処理装置
(“CPU”)302はキーボード304からのユーザ
コマンドおよびハードディスクドライブ等のデータ記憶
装置306からのデータを受信する。CPU302は図
5〜図11に関して前記した方法に従い、データ記憶装
置306に記憶されたデータに基き、かつユーザ指定コ
マンドおよびキーボード304からのデータ入力に基い
て最悪公差、RSS公差、およびMRSS公差を計算す
る。次に、CPU302はコマンドおよびデータをグラ
フィックディスプレイユニット308へ出力して組立体
のグラフィックディスプレイ出力を生成し組立体内の部
品諸元の計算された公差を表示する。また、CPU30
2はコマンドおよびデータをプロッター310へ出力し
て組立体のハードコピー図を描きかつ組立体内の部品諸
元の計算された公差を表示する。さらに、CPUはコマ
ンドおよびデータをプリンタ312へ出力して組立体内
の部品諸元の計算された公差のハードコピーリストをプ
リントする。CPU302、キーボード304、データ
記憶装置306、およびグラフィックディスプレイユニ
ット308がコンピュータ支援設計(“CAD”)シス
テムを形成する。
【0157】CPU302はさらにコマンドおよびデー
タをプロセスコントローラインターフェイス314へ出
力する。CPU302からプロセスコントローラインタ
ーフェイス314へ送られるデータには組立体内の部品
諸元の包括的記述、部品諸元間の相互関係、部品諸元の
公称サイズ、および部品諸元の計算された公差が含まれ
る。プロセスコントローラインターフェイス314がC
PU302からのコマンドおよびデータをプロセスコン
トローラ316が認識可能なフォーマットへ変換する。
プロセスコントローラ316はCPU302からプロセ
スコントローラインターフェイス314へ送られるコマ
ンドおよびデータに従って部品1〜nを製造する1台以
上の機械を適切に選定する。例えば、機械1−nにはタ
レット旋盤、普通旋盤、NigataもしくはMats
ura等の横フライス盤、もしくはジグ中ぐり盤等の立
てフライス盤を含むことができる。
【0158】1台以上の機械1〜nを選定する際、プロ
セスコントローラ316は部品諸元の計算された公差を
考慮して、選定される機械が計算された公差に従った部
品諸元で技術的に製造できることを保証する。2台以上
の機械1〜nが計算された公差に従ったある部品諸元で
技術的に製造できる場合には、好ましくはプロセスコン
トローラ316は最もコスト効率の高いものを選定す
る。
【0159】図12のシステム300はまたプロセスコ
ントローラインターフェイス314およびプロセスコン
トローラ316無しで使用することもできる。グラフィ
ックディスプレイユニット308からのグラフィックデ
ィスプレイ出力、プロッター310からのハードコピー
図、およびプリンタ312からのハードコピーリストを
機械工場で使用してプロセッサコントローラ316の自
動化機能を実現することができる。部品諸元の製造にお
いて、機械工場は最初に部品諸元製造工程を選定する。
次に、機械工場は計算された公差に従って選定工程を実
施する機械を選定する。その次に、機械工場は選定機械
を監視して部品諸元が指定された公差に従って選定機械
により適切に作り上げられることを保証する。機械工場
は頻繁に統計的工程管理を使用して部品諸元を作り上げ
る。多くの機械が一つの自動フィードバックル−ループ
を使用して、人間の監視を最少限に抑えて自己制御式に
部品諸元を適切に作り上げる。
【0160】図13の一般的に符号350に実施例によ
る製造方式のグラフィックディスプレイ出力の例を示
す。グラフィックディスプレイ出力350は図6のCP
U302、キーボード304、データ記憶装置306、
およびグラフィックディスプレイユニット308により
形成されるCADシステムのグラフィックディスプレイ
システム308により生成される。グラフィックディス
プレイ出力350はさまざまな部品諸元の公称サイズお
よび計算された公差と共に組立体のさまざまな部品の抱
括的可視像を与える。実施例の方法により計算されるさ
まざまな部品諸元の配分公差と共にさまざまな部品の抱
括的可視像を表示することにより、ユーザは設計要素を
容易に修正して同時にさまざまな組合せの機能性および
製造可能性を検討することができる。
【0161】図14に一般的に符号400で実施例の方
法により実現されるソフトウェアモジュール402,4
04,406,408,410と破線円412で示す市
販のCADシステム間のインターフェイスを示す。実施
例において、ソフトウェアモジュール402,404,
406,408はデータ記憶装置、グラフィックディス
プレイ、およびユーザコマンド/データ入力に関するC
ADシステム412の基本的ケーパビリティを利用して
CADシステム412へインターフェイスされる。CA
Dシステム412へインターフェイスすることにより、
公差定義モジュール402は部品データベース414お
よびモデルファイル416から物理的記述、サイズ、関
連、および部品諸元種別に関するデータを入力する。公
差配分モジュール406をユーザコマンドモジュール4
18へインターフェイスすることにより、ユーザはCA
Dシステム412のコマンドメニューを使用して実施例
の公差配分手順を開始することができる。グラフィック
ディスプレイモジュール420はCADシステム412
のグラフィックディスプレイユニットを制御して組立体
のグラフィックディスプレイ出力を生成する。配分結果
モジュール410をグラフィックディスプレイモジュー
ル420へインターフェイスすることにより、図13に
関して前記したように配分結果モジュール410は組立
体内の部品諸元の計算された公差を出力してグラフィッ
クディスプレイに表示する。
【0162】ユーザ定義モジュール404にはユーザか
らコマンドおよびデータが入力され、図1および表1に
関して前記したようにユーザは組立体の寸法ループおよ
び式を定義することができる。公差定義モジュール40
2には、(1).ユーザ定義モジュール404からのユ
ーザ指定寸法ループおよび式と、(2).部品諸元の物
理的記述、サイズ、関連および種別に関する部品データ
ベース412およびモジュールファイル416からのデ
ータが入力される。このようなデータに基いて、公差定
義モジュール402は図5のステップ200a〜eに従
って適切な部品諸元に関するデータを公差配分モジュー
ル406へ出力する。
【0163】図5〜図11に関して前記したように、公
差配分モジュール406は公差定義モジュール402さ
らにはABS/DTT/TDRデータベース408から
のデータに基いて公差配分手順を実行する。計算された
公差は公差配分モジュール406により公差結果モジュ
ール410へ出力される。計算される公差には公称組立
公差、最悪公差、RSS公差、およびMRSS公差が含
まれる。
【0164】実施例では、CADシステム142はPro
/ENGINEER CADシステムである。したがっ
て、Pro/ENGINEERおよびその関連製品はMA
02154、(617)894−7111、ウォルサ
ム、テクノロジードライブ128、パラメトリックテク
ノロジー社から市販されているものとして、ここに完全
に参照のために組み入れられている。Pro/ENGIN
EERシステムには実施例の方法のようなユーザ定義ア
プリケーションを付加することによりCADシステムの
基本的機能を拡張する手段となるデベロッパーのツール
キットも含まれている。
【0165】基本形式において、Pro/ENGINEE
Rは機械設計に対する寸法駆動、部品諸元ベース、ソリ
ッドモデリングシステムである。Pro/ENGINEE
Rは機械組立体および部品諸元モデルの対話型設計変更
を支援する。組立体を特徴ずける一般的部品諸元および
関係を定義することによりパラメトリックソリッドモデ
ルが生成される。次に、任意の寸法もしくは関係を変更
することによりモデルを容易に変更することができ、P
ro/ENGINEERにより変更はモデル全体へ伝播さ
れる。
【0166】Pro/ENGINEERは二倍精度、完全
境界表現ソリッドモデルである。これにより、部品およ
び組立体の質量特性の精密な計算および組立体内の部品
諸元間の干渉チェックが行われる。モデルの各寸法に対
して公差が支援され最大もしくは最小の材料条件でモデ
ルを再生するのに使用することができる。
【0167】部品諸元ベース、パラメトリック構造技術
により、Pro/ENGINEERは設計の趣旨を捕捉し
て後の設計変更を容易にすることができる。Pro/EN
GINEERにより突起、溝、孔、チャンバ、およびフ
ィレット等の一組の一般的な工学部品諸元が提供され
る。また、Pro/ENGINEERによりオプションと
してユーザ定義部品諸元ライブラリーも生成される。こ
れらのユーザ定義部品諸元により全ユーザに対して一組
の一貫性のある部品諸元が提供される。標準部品諸元を
再生成する必要がなくなるため、これによりユーザの生
産性を向上することができ、また設計管理も向上し設計
標準が強化される。したがって、実施例の方法は有利に
ro/ENGINEERシステムとインターフェイスさ
れ、ユーザに対する共通インターフェイスが提供され
る。
【0168】長さ対直径の比率を高くするのに孔あけ加
工の%コストがどれだけ増大するかを示す図3から判る
ように、実施例の方法は製造公差と類似した可変関係で
任意の設計フィールドに適用できる。このような一つの
領域は電子回路設計である。類似性があるのは、
(1).機械的組立間隙の変動に及ぼす部品諸元公差の
影響、(2).電子回路の出力に及ぼす電子部品の性能
公差の影響である。電子回路の公差分析を行うCADシ
ステムは数種市販されているが、電子部品性能公差の適
切な配分は反復方法によって行われる。実施例の方法を
応用すればこのような電子部品性能公差の配分が著しく
簡単化され向上される。
【0169】本発明およびその利点について詳細に説明
を行ってきたが、特許請求の範囲に明記された本発明の
精神および範囲を逸脱することなくさまざまな変更、置
換および修正が可能である。
【0170】実施例の特徴 実施例のさまざまな重要な特徴について要約する。
【0171】コンピュータ支援設計システムが開示さ
れ、それは複数の組立諸元をモデル化するモデル化回路
と、各々が一つの組立諸元に関連する複数の可変公差間
で配分される総公差を指定する指定回路と、関連する各
組立諸元に対して可変公差の厳密度をこれ以上低下させ
ると可変公差を達成するコストを著しく低減することが
できなくなる第1の関連する公差点を定義する第1の定
義回路と、関連する各組立諸元に対して厳密度をさらに
高くすると可変公差を達成するコストが実質的に増大し
始める第2の関連する公差点を定義する第2の定義回路
と、関連する各組立諸元に対して厳密度をさらに高める
ことは実質的に達成できない第3の関連する公差点を定
義する第3の定義回路と、指定回路および複数の定義回
路に接続されて総公差を可変公差間に配分し可変公差が
総公差に対する第1の所定関係を実室的に満し各可変公
差がその関連公差点に対する第2の所定関係を実質的に
満すようにする配分回路と、モデル化回路および配分回
路に接続されて少くとも一つの可変公差とその関連する
組立公差を表示するディスプレイ回路を含んでいる。
【0172】公差配分方法が開示され、それは各々が組
立諸元に関連する複数の可変公差間で配分される総公差
を各関連組立諸元に対して指定し、可変公差の厳密度を
これ以上低下させると可変公差を達成するコストを著し
く低減することができなくなる第1の関連する公差点を
関連する各組立諸元に対して定義し、厳密度をこれ以上
高めると可変公差を達成するコストが実質的に増大し始
める第2の関連する公差点を関連する各組立諸元に対し
て定義し、厳密度をさらに高めることは実質的に達成で
きない第3の関連する公差点を定義し、総公差を関連す
る可変公差間で配分して可変公差が総公差に対する第1
の所定関係を実質的に満しかつ各可変公差がその関連す
る公差点に対する第2の所定関係を実質的に満すように
することを含んでいる。本方法はさらに配分回路により
配分される少くとも一つの可変公差に応答して少くとも
一つの関連する組立諸元を作り上げるステップを有する
こともできる。このような方法はさらに配分回路により
配分される少くとも一つの可変公差に応答して少くとも
一つの制御信号を出力するステップを含むこともでき、
各制御信号は複数台の製造装置の中の1台を選定し、各
選定製造装置を使用して制御回路からの制御信号に応答
して関連する組立諸元の少くとも一つが作り上げられ
る。
【0173】部品製造における公差配分方法は複数の部
品諸元の各々に対して総配分公差を検索し、データベー
スから各部品諸元に対して関連する絶対公差(ABS)
値、関連する困難度閾値公差(DTT)、および関連す
る減少復帰公差(TDR)値を検索し、各部品諸元に対
してそのサイズに応答してその関連するABS,DTT
およびTDR値を調整し、最悪(WC)公差値tw を定
義し、総公差に応答して全部品諸元に対するtw 値の和
を決定し、全部品諸元に対し関連するDTT値を加算
し、全部品諸元に対し関連するABS値を加算し、全部
品諸元に対し関連するTDR値を加算し、関連するDT
T値の和、関連するABS値の和、関連するTDR値の
和、およびtw 値の決定された和の互いに相対的な大き
さを決定し、各部品諸元に対してtw 値の和がTDR値
の和以上であれば、tw 値をその関連するTDR値へ設
定し、各部品諸元に対してtw 値の和がTDR値の和よ
りも小さくDTT値の和よりも大きければ、tw 値をそ
の関連するDTTおよびTDR値および総公差の関数と
して配分し、各部品諸元に対してtw 値の和がDTT値
の和に等しければ、tw 値をその関連するDTT値に設
定し、各部品諸元に対してtw 値の和がDTT値の和よ
りも小さくABS値の和よりも大きければ、t w 値をそ
の関連するDTTおよびABS値および総公差の関数と
して配分し、各部品諸元に対してtw 値の和がABS値
に等しい場合にはtw 値をその関連するABS値に設定
し、tw 値の和がABS値の和よりも小さければエラー
信号を発生するステップからなっている。
【0174】部品の製造において公差を配分する方法が
開示され、それは複数の部品諸元の各々に対して配分さ
れる総公差を検索し、データベースから各部品諸元に対
する絶対公差(ABS)値、関連する困難度閾値公差
(DTT)および関連する減少復帰公差(TDR)値を
検索し、各部品諸元に対してそのサイズに応答してその
関連するABS,DTTおよびTDR値を調整し、平方
二乗和(RSS)公差値trwを決定し、二乗された総公
差に応答して全ての部品諸元に対するtrw値の二乗和を
決定し、全ての部品諸元に対して関連するDTT値の二
乗を加算し、全ての部品諸元に対して関連するABS値
の二乗を加算し、全ての部品諸元に対して関連するTD
R値の二乗を加算し、関連するDTT二乗和、関連する
ABS二乗和、関連するTDR二乗和および決定された
rw二乗和の互いの相対的大きさを決定し、全ての部品
諸元に対してtrwの二乗和がTDR二乗和以上であれば
rw値をその関連するTDR値へ設定し、各部品諸元に
ついてtrwの二乗和がTDR二乗和よりも小さくDTT
二乗和よりも大きければtrwをその関連するDTTおよ
びTDR値および総二乗公差の関数として配分し、各部
品諸元についてtrw二乗和がDTT二乗和に等しければ
rw値をその関連するDTT値に設定し、trw二乗和が
DTT二乗和よりも小さくABS二乗和よりも大きけれ
ば各部品諸元についてtrw値をその関連するDTTおよ
びABS値および総二乗公差の関数として配分し、trw
二乗和がABS二乗和に等しければ各部品諸元について
rw値をその関連するABS値に設定し、trw二乗和が
ABS二乗和よりも小さければエラー信号を発生するこ
とを含んでいる。さらに、trw値を配分する各ステップ
は決定されたtrw値の二乗和に応答して二次方程式の解
を使用してtrw値を配分するステップを有することがで
きる。
【0175】部品の製造における公差配分方法が開示さ
れ、それは複数の部品諸元の各々について配分される総
公差を検索し、各部品諸元についてデータベースから関
連する絶対公差(ABS)値、関連する困難度閾値公差
(DTT)値、および関連する減少復帰公差(TDR)
値を検索し、各部品諸元についてそのサイズに応答して
その関連するABS,DTTおよびTDR値を調整し、
修正平方二乗和(MRSS)公差値tmwを定義し、総二
乗公差に応答して全ての部品諸元についてtmw値の二乗
和を推定し、全ての部品諸元について関連するDTT値
の二乗を加算し、全ての部品諸元について関連するAB
S値の二乗を加算し、全ての部品諸元について関連する
TDR値の二乗を加算し、関連するDTT二乗和、関連
するABS二乗和、関連するTDR二乗和、および推定
されたtmw二乗和の互いの相対値を決定し、tmw二乗和
がTDR二乗和以上であれば各部品諸元についてtmw
をその関連するTDR値に設定し、tmw二乗和がTDR
二乗和よりも小さくDTT二乗和よりも大きければ各部
品諸元についてtmw値をその関連するDTTおよびTD
R値および総二乗公差の関数として配分し、tmw二乗和
がDTT二乗和に等しければ各部品諸元についてtmw
をその関連するDTT値に設定し、tmw二乗和がDTT
二乗和よりも小さくABS二乗和よりも大きければ各部
品諸元についてtmw値をその関連DTTおよびABS値
および総二乗和の関数として配分し、tmw二乗和がAB
S二乗和に等しければ各部品諸元についてtmw値をその
関連するABS値に設定し、tmw二乗和がABS二乗和
よりも小さければエラー信号を発生するステップからな
っている。さらに、tmw値を配分するステップはtmw
の推定された二乗和に応答する二次方程式の解を使用し
てtmw値を配分するステップを有することができる。さ
らに、推定ステップは各部品諸元について平方二乗和
(RSS)公差値trwを定義し、総二乗公差に応答して
全ての部品諸元についてtrw値の二乗和を決定し、デー
タベースからの検索値および総公差に応答してtrw値を
配分し、trw値に応答して修正係数を推定し、総二乗公
差および二乗修正係数に応答して全ての部品諸元につい
てtmw値の二乗和を推定し、推定されたtmw値の二乗和
に応答する二次方程式の解を使用して各tmw値を配分す
るステップを有することができる。また、このような方
法は配分されたtmw値に応答して修正係数を推定し、総
二乗公差および二乗修正係数に応答して全ての部品諸元
についてtmw値の二乗和を推定し、推定されたtmw値の
二乗和に応答する二次方程式の解を使用して各tmw値を
配分するステップを有することができる。
【0176】以上の説明に関して更に以下の項を開示す
る。 1. 公差配分装置において、該装置は各々が組立諸元
に関連する複数の可変公差間に配分される総公差を指定
する指定回路と、前記関連する各組立諸元について前記
可変公差の厳密度をこれ以上低下させると前記可変公差
を達成するコストを著しく低減することができなくなる
関連する第1の公差点を定義する第1の定義回路と、前
記関連する各組立諸元について前記厳密度をこれ以上高
めると前記可変公差を達成するコストが実質的に増大し
始める関連する第2の公差点を定義する第2の定義回路
と、前記関連する各組立諸元について前記厳密度をこれ
以上高めることは実際的に達成できない関連する第3の
公差点を定義する第3の定義回路と、前記指定回路およ
び前記複数の定義回路に接続されて前記総公差を前記可
変公差間で配分し前記可変公差が前記総公差に対する第
1の所定関係を実質的に満し前記各可変公差がその関連
する公差点に対する第2の所定の関係を実質的に満すよ
うにする配分回路、により構成される公差配分装置。
【0177】2.第1項記載の装置において、前記関連
する第1の公差点の各々が関連する減少復帰公差を形成
する公差配分装置。
【0178】3.第1項記載の装置において、前記関連
する第2の公差点の各々が関連する困難度閾値公差を形
成する公差配分装置。
【0179】4.第1項記載の装置において、前記関連
する第3の公差点の各々が関連する絶対公差を形成する
公差配分装置。
【0180】5.第1項記載の装置において、前記第1
の所定関係は最悪公差関係であり、前記総公差が前記可
変公差の和にほぼ等しい公差配分装置。
【0181】6.第1項記載の装置において、前記第1
の所定関係はRSS公差関係であり、前記総二乗公差が
前記可変公差の二乗和にほぼ等しい公差配分装置。
【0182】7.第1項記載の装置において、前記第1
の所定関係はMRSS公差関係であり、前記総二乗公差
は前記可変公差の二乗和を乗じた修正係数の二乗にほぼ
等しくされる公差配分装置。
【0183】8.第7項記載の装置において、前記総公
差には総固定公差が含まれ、前記総公差はさらに少くと
も一つの固定公差間で配分され、前記総二乗公差は前記
可変公差の前記二乗和と前記各固定公差の二乗和との計
に前記修正係数を乗じたものにほぼ等しくされる公差配
分装置。
【0184】9.第1項記載の装置において、前記第2
の所定関係は線型比例定数関係であり、前記各可変公差
とその関連公差点との差は前記各可変公差について比例
的に同じであるようにされる公差配分装置。
【0185】10.組立諸元作成システムにおいて、該
システムは各々が組立諸元に関連する複数の可変公差間
で配分される総公差を指定する指定回路と、前記関連す
る各組立諸元について前記可変公差の厳密度をこれ以上
低下させる前記可変公差を達成するコストを著しく低減
することができなくなる関連する第1の公差点を定義す
る第1の定義回路と、前記関連する各組立諸元について
前記厳密度をこれ以上高めると前記可変公差を達成する
コストが実質的に増大し始める関連する第2の公差点を
定義する第2の定義回路と、前記関連する各組立諸元に
ついて前記厳密度をさらに高めることは実質的に達成で
きない関連する第3の公差点を定義する第3の定義回路
と、前記指定回路および複数の前記定義回路に接続され
て前記総公差を前記可変公差間で配分し前記可変公差が
前記総公差に対する第1の所定関係を実質的に満しかつ
前記各可変公差がその関連する公差点に対する第2の所
定関係を実質的に満すようにする配分回路、により構成
される組立諸元作成システム。
【0186】11.第10項記載のシステムにおいて、
さらに前記配分回路により配分される前記可変公差の少
くとも一つに応答して前記関連する組立諸元の少くとも
一つを作り上げる製造工程からなる組立諸元作成システ
ム。
【0187】12.第10項記載のシステムにおいて、
さらに前記配分回路に接続されそこから配分される前記
可変公差の少くとも一つに応答して少くとも一つの制御
信号を出力する制御回路と、各々が前記制御回路に接続
されそこからの前記制御信号による選定に応答して前記
関連する組立諸元の少くとも一つを作り上げるように作
動する複数台の製造装置、からなる組立諸元作成システ
ム。
【0188】13.公差配分方法および装置が提供され
る。各々が組立諸元に関連する複数の可変公差間に配分
される総公差が指定(218)される。関連する各組立
諸元について、可変公差の厳密度をこれ以上低下させる
と可変公差を達成するコストを著しく低減できなくなる
関連する第1の公差点が定義される。関連する各組立諸
元について、厳密度をこれ以上高めると可変公差を達成
するコストが実質的に増大し始める関連する第2の公差
点が定義される。関連する各組立諸元について、厳密度
をこれ以上高めることは実質的に達成できない関連する
第3の公差点が定義される。総公差が可変公差間で配分
され(例、232、254、266)、可変公差が総公
差に対する第1の所定関係を実質的に満し、各可変公差
がその関連公差点に対する第2の所定関係を実質的に満
すようにされる。
【図面の簡単な説明】
【図1】公差が配分される組立体例の断面図。
【図2】公差モデル曲線のグラフ。
【図3】実施例に従った、製造コストと製造基準を関連
ずける製造可能性データのグラフ。
【図4】実施例に従った、製造コストと公差値を関連ず
ける製造可能性データのグラフ。
【図5】実施例に従った、公差配分方法のフロー図。
【図6】実施例に従った、公差配分方法のフロー図。
【図7】実施例に従った、公差配分方法のフロー図。
【図8】実施例に従った、公差配分方法のフロー図。
【図9】実施例に従った、公差配分方法のフロー図。
【図10】実施例に従った、公差配分方法のフロー図。
【図11】実施例に従った、公差配分方法のフロー図。
【図12】実施例に従った、製造システムの略ブロック
図。
【図13】実施例に従った、製造システムのグラフィッ
クディスプレイ出力例。
【図14】実施例の方法を実現するソフトウェアモジュ
ールと市販のコンピュータ支援設計システム間のインタ
ーフェイスを示すデータフロー図。
【符号の説明】
10 組立体 12 ベース 14 パネル 16a ねじ 16b ねじ 18 ブッシング 20 ノブ 22 ねじ 24 軸 25 ノブ 26 肩部 27 ワッシャー 28 スプリング 29 ブッシング 30 組立間隙 32 旋削外長 34 旋削外長 36 厚 38 旋削内長 40 旋削外長
─────────────────────────────────────────────────────
【手続補正書】
【提出日】平成6年1月13日
【手続補正1】
【補正対象書類名】図面
【補正対象項目名】図2
【補正方法】変更
【補正内容】
【図2】
【手続補正2】
【補正対象書類名】図面
【補正対象項目名】図3
【補正方法】変更
【補正内容】
【図3】
【手続補正3】
【補正対象書類名】図面
【補正対象項目名】図4
【補正方法】変更
【補正内容】
【図4】
【手続補正4】
【補正対象書類名】図面
【補正対象項目名】図5
【補正方法】変更
【補正内容】
【図5】
【手続補正5】
【補正対象書類名】図面
【補正対象項目名】図6
【補正方法】変更
【補正内容】
【図6】
【手続補正6】
【補正対象書類名】図面
【補正対象項目名】図7
【補正方法】変更
【補正内容】
【図7】
【手続補正7】
【補正対象書類名】図面
【補正対象項目名】図8
【補正方法】変更
【補正内容】
【図8】
【手続補正8】
【補正対象書類名】図面
【補正対象項目名】図9
【補正方法】変更
【補正内容】
【図9】
【手続補正9】
【補正対象書類名】図面
【補正対象項目名】図10
【補正方法】変更
【補正内容】
【図10】
【手続補正10】
【補正対象書類名】図面
【補正対象項目名】図11
【補正方法】変更
【補正内容】
【図11】
【手続補正11】
【補正対象書類名】図面
【補正対象項目名】図12
【補正方法】変更
【補正内容】
【図12】
【手続補正12】
【補正対象書類名】図面
【補正対象項目名】図14
【補正方法】変更
【補正内容】
【図14】

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 公差配分装置において、該装置は各々が
    組立諸元に関連する複数の可変公差間に配分される総公
    差を指定する指定回路と、前記関連する各組立諸元につ
    いて前記可変公差の厳密度をこれ以上低下させると前記
    可変公差を達成するコストを著しく低減することができ
    なくなる関連する第1の公差点を定義する第1の定義回
    路と、前記関連する各組立諸元について前記厳密度をこ
    れ以上高めると前記可変公差を達成するコストが実質的
    に増大し始める関連する第2の公差点を定義する第2の
    定義回路と、前記関連する各組立諸元について前記厳密
    度をこれ以上高めることは実際的に達成できない関連す
    る第3の公差点を定義する第3の定義回路と、前記指定
    回路および前記複数の定義回路に接続されて前記総公差
    を前記可変公差間で配分し前記可変公差が前記総公差に
    対する第1の所定関係を実質的に満し前記各可変公差が
    その関連する公差点に対する第2の所定関係を実質的に
    満すようにする配分回路、により構成される公差配分装
    置。
  2. 【請求項2】 組立諸元作成システムにおいて、該シス
    テムは各々が組立諸元に関連する複数の可変公差間で配
    分される総公差を指定する指定回路と、前記関連する各
    組立諸元について前記可変公差の厳密度をこれ以上低下
    させると前記可変公差を達成するコストを著しく低減す
    ることができなる関連する第1の公差点を定義する第1
    の定義回路と、前記関連する各組立諸元について前記厳
    密度をこれ以上高めると前記可変公差を達成するコスト
    が実質的に増大し始める関連する第2の公差点を定義す
    る第2の定義回路と、前記関連する各組立諸元について
    前記厳密度をさらに高めることは実質的に達成できない
    関連する第3の公差点を定義する第3の定義回路と、前
    記指定回路および複数の前記定義回路に接続されて前記
    総公差を前記可変公差間で配分し前記可変公差が前記総
    公差に対する第1の所定関係を実質的に満しかつ前記各
    可変公差がその関連する公差点に対する第2の所定関係
    を実質的に満すようにする配分回路、により構成される
    組立諸元作成システム。
JP11893A 1991-12-30 1993-01-04 公差配分装置および組立諸元作成システム Pending JPH06223081A (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US81455191A 1991-12-30 1991-12-30
US814551 1991-12-30

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