JPH0621843B2 - フア−フイ−ルドパタ−ン測定装置 - Google Patents
フア−フイ−ルドパタ−ン測定装置Info
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- JPH0621843B2 JPH0621843B2 JP8605486A JP8605486A JPH0621843B2 JP H0621843 B2 JPH0621843 B2 JP H0621843B2 JP 8605486 A JP8605486 A JP 8605486A JP 8605486 A JP8605486 A JP 8605486A JP H0621843 B2 JPH0621843 B2 JP H0621843B2
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- JP
- Japan
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- rail
- light
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- mount
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- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J1/00—Photometry, e.g. photographic exposure meter
- G01J1/42—Photometry, e.g. photographic exposure meter using electric radiation detectors
- G01J1/4257—Photometry, e.g. photographic exposure meter using electric radiation detectors applied to monitoring the characteristics of a beam, e.g. laser beam, headlamp beam
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- Physics & Mathematics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)
- Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 ［産業上の利用分野］ 本発明は、ＬＤ等の発光体のファーフィールドパターン
（以下ＦＦＰと呼ぶ）を測定するファーフィールドパタ
ーン測定装置に関し、特に測定を能率良く短時間で行う
ことができるファーフィールドパターン測定装置に関す
る。
（以下ＦＦＰと呼ぶ）を測定するファーフィールドパタ
ーン測定装置に関し、特に測定を能率良く短時間で行う
ことができるファーフィールドパターン測定装置に関す
る。
［従来の技術］ 従来のファーフィールドパターン測定装置の平面図を第
４図に示す。
４図に示す。
被測定のＬＤ１０は、マウント３０に１個差し込んで固
定される。
定される。
このマウント３０は、駆動機構３０ａによりＬＤ１０の
発光面位置を変えずにＬＤ１０を図に示す如く回動自在
である。
発光面位置を変えずにＬＤ１０を図に示す如く回動自在
である。
また、このＬＤの発光方向上の、所定距離離れた位置に
はＦＦＰ検出用の受光器（ＡＰＤ素子）３１が、回動ア
ーム３２に固定されている。回動アーム３２は、ＬＤ１
０の位置を中心に図示の如く回動自在である。 したが
って、ＬＤ１０のＦＦＰを測定するには、ＬＤ１０の発
光面に対して回動アーム３２を図示の如く移動させれば
受光器３１によりＬＤ１０のＸ座標のＦＦＰ測定を行
う。
はＦＦＰ検出用の受光器（ＡＰＤ素子）３１が、回動ア
ーム３２に固定されている。回動アーム３２は、ＬＤ１
０の位置を中心に図示の如く回動自在である。 したが
って、ＬＤ１０のＦＦＰを測定するには、ＬＤ１０の発
光面に対して回動アーム３２を図示の如く移動させれば
受光器３１によりＬＤ１０のＸ座標のＦＦＰ測定を行
う。
そしてＦＦＰには最小限ＬＤ１０に対してＸ，Ｙ座標の
データを用いて表わすことができるため、続いてＬＤ１
０のＹ座標のＦＦＰ測定を行うようになっている。
データを用いて表わすことができるため、続いてＬＤ１
０のＹ座標のＦＦＰ測定を行うようになっている。
このため、ＬＤ１０のマウント３０を駆動機構３０ａに
より図示の如く９０゜回動させ、同様に回動アーム３２
の移動により受光器３１は、ＬＤ１０のＹ座標のＦＦＰ
測定を行う。
より図示の如く９０゜回動させ、同様に回動アーム３２
の移動により受光器３１は、ＬＤ１０のＹ座標のＦＦＰ
測定を行う。
［発明が解決しようとする問題点］ しかしながら従来のファーフィールドパターン測定装置
は、マウント３０自体を回動させる必要があるから、こ
のマウント３０はＬＤ１０を１個のみしか保持できな
い。
は、マウント３０自体を回動させる必要があるから、こ
のマウント３０はＬＤ１０を１個のみしか保持できな
い。
つまり、１個のＬＤ１０のＦＦＰ測定を行うごとに別の
ＬＤ１０の交換作業を必要として作業時間を短縮するこ
とができず作業能率が向上できない欠点があった。
ＬＤ１０の交換作業を必要として作業時間を短縮するこ
とができず作業能率が向上できない欠点があった。
本発明は、上記欠点を解決するために成されたものであ
り、複数個のＬＤのＦＦＰ測定を短時間にて行うことが
でき、かつ各種測定を連続的に行うことができ、作業能
率を向上することができるファーフィールドパターン測
定装置を提供することを目的としている。
り、複数個のＬＤのＦＦＰ測定を短時間にて行うことが
でき、かつ各種測定を連続的に行うことができ、作業能
率を向上することができるファーフィールドパターン測
定装置を提供することを目的としている。
［問題点を解決するための手段］ 上記目的を達成するため、本発明のファーフィールドパ
ターン測定装置は、ＬＤ等の発光体（１０）のファーフ
ィールドパターンを自動的に測定するファーフィールド
パターン測定装置において、複数個の前記発光体（１
０）を所定ピッチ（ａ）で装着保持し、かつ固定基台
（３）より交換可能なＬＤマウント（２）と、 該ＬＤマウント（２）に装着された発光体（１０）を中
心として発光方向に所定距離隔てて円弧状に配置される
レール（４）と、 該レール（４）上を移動自在かつ、前記発光体（１０）
の発光を検出する受光器（５）と、 該受光器（５）をレール上で所定距離円弧状に移動させ
る駆動手段（６）と、 前記レール（４）を、発光体から鉛直な方向に延びる軸
線（ｂ）を中心として所定角度回動させる回動手段
（７）と、 該回動手段（７）、前記駆動手段（６）及び前記レール
（４）が取りつけられ、前記ＬＤマウント（２）上の複
数個の発光体（１０）のピッチ（ａ）に対応して移動す
る移動手段（８）とを具備することを特徴としている。
ターン測定装置は、ＬＤ等の発光体（１０）のファーフ
ィールドパターンを自動的に測定するファーフィールド
パターン測定装置において、複数個の前記発光体（１
０）を所定ピッチ（ａ）で装着保持し、かつ固定基台
（３）より交換可能なＬＤマウント（２）と、 該ＬＤマウント（２）に装着された発光体（１０）を中
心として発光方向に所定距離隔てて円弧状に配置される
レール（４）と、 該レール（４）上を移動自在かつ、前記発光体（１０）
の発光を検出する受光器（５）と、 該受光器（５）をレール上で所定距離円弧状に移動させ
る駆動手段（６）と、 前記レール（４）を、発光体から鉛直な方向に延びる軸
線（ｂ）を中心として所定角度回動させる回動手段
（７）と、 該回動手段（７）、前記駆動手段（６）及び前記レール
（４）が取りつけられ、前記ＬＤマウント（２）上の複
数個の発光体（１０）のピッチ（ａ）に対応して移動す
る移動手段（８）とを具備することを特徴としている。
［作用］ 次に以上の構成による作用を説明する。
まず、複数個のＬＤ１０（１０−１〜１０−ｎ）を、Ｌ
Ｄマウント２上に装着する。装着時ＬＤ１０の方向は、
ＬＤマウント２に設けられるＬＤ１０の端子受けにより
一方向に整列配置されるようになっている。そしてＬＤ
１０−１上部の受光器５は、駆動手段６により第２図
（ａ）の図中矢印方向に移動（例えば左右６０゜ずつ、
計１２０゜）してＬＤ１０−１のＸ方向のＦＦＰを測定
する。
Ｄマウント２上に装着する。装着時ＬＤ１０の方向は、
ＬＤマウント２に設けられるＬＤ１０の端子受けにより
一方向に整列配置されるようになっている。そしてＬＤ
１０−１上部の受光器５は、駆動手段６により第２図
（ａ）の図中矢印方向に移動（例えば左右６０゜ずつ、
計１２０゜）してＬＤ１０−１のＸ方向のＦＦＰを測定
する。
続いて回動手段７が動作してレール４自体を９０゜回動
させる。
させる。
この後同様に受光器５が移動してＬＤ１０−１のＹ方向
のＦＦＰを測定する。
のＦＦＰを測定する。
以上の動作にて、ＬＤ１０−１に対するＦＦＰ測定は終
了し、続いてＬＤ１０−２に対するＦＦＰ測定のために
レ−ル４が移動する。レール４は、移動手段８により、
ＬＤ１０−１〜１０−２の間隔分だけ移動する。そして
移動後は、同様にＬＤ１０−２のＸ，Ｙ方向のＦＦＰを
測定する。
了し、続いてＬＤ１０−２に対するＦＦＰ測定のために
レ−ル４が移動する。レール４は、移動手段８により、
ＬＤ１０−１〜１０−２の間隔分だけ移動する。そして
移動後は、同様にＬＤ１０−２のＸ，Ｙ方向のＦＦＰを
測定する。
このようにしてｎ個ＬＤ１０１〜１０−ｎまで順次ＦＦ
Ｐを測定することができるのでＬＤを交換することなく
多数個のＬＤ等のＦＦＰを連続して測定することができ
る。
Ｐを測定することができるのでＬＤを交換することなく
多数個のＬＤ等のＦＦＰを連続して測定することができ
る。
［実施例］ 以下図面に示した実施例に基づいて本発明を詳細に説明
する。
する。
第１図は、本発明のファーフィールドパターン測定装置
のクレーム対応図である。この図において、ＬＤマウン
ト２は固定基台３に対して交換自在な構成となってい
る。このＬＤマウント２には、発光体としてのＬＤ１０
を等間隔な所定ピッチａで一列に装着することができ
る。
のクレーム対応図である。この図において、ＬＤマウン
ト２は固定基台３に対して交換自在な構成となってい
る。このＬＤマウント２には、発光体としてのＬＤ１０
を等間隔な所定ピッチａで一列に装着することができ
る。
また、上部の固定基台３ａには円孤状のレール４が設け
られている。そしてこのレール４の中心Ｏは前記ＬＤ１
０となっている。この円孤状のレール４には、受光器５
が取りつけられている。この受光器５は、受光面５ａを
レール４の中心方向、つまりＬＤ１０方向に向い設けら
れたものである。この受光器５は駆動手段６によりレー
ル４上を円孤状に移動自在となっている。
られている。そしてこのレール４の中心Ｏは前記ＬＤ１
０となっている。この円孤状のレール４には、受光器５
が取りつけられている。この受光器５は、受光面５ａを
レール４の中心方向、つまりＬＤ１０方向に向い設けら
れたものである。この受光器５は駆動手段６によりレー
ル４上を円孤状に移動自在となっている。
そしてこのレール４は、回動手段７によりＬＤ１０から
鉛直な方向に延びる軸線ｂを中心として所定角度回動自
在である。つまり、ＬＤ１０の面に対して例えば９０゜
回動することによりＬＤ１０のＸ，Ｙ方向のＦＦＰを測
定することができるようになっている。
鉛直な方向に延びる軸線ｂを中心として所定角度回動自
在である。つまり、ＬＤ１０の面に対して例えば９０゜
回動することによりＬＤ１０のＸ，Ｙ方向のＦＦＰを測
定することができるようになっている。
この回動手段７は、移動手段８により移動自在である。
そして移動手段８は、ＬＤマウント２上のＬＤ１０のピ
ッチ間隔ａで移動でき、これにより複数個のＬＤ１０の
ＦＦＰを連続的に測定することができる。
そして移動手段８は、ＬＤマウント２上のＬＤ１０のピ
ッチ間隔ａで移動でき、これにより複数個のＬＤ１０の
ＦＦＰを連続的に測定することができる。
次に上記ファーフィールドパターン測定装置の実際の組
立てを詳細に説明する。そして第２図（ａ）に示すのは
ファーフィールドパターン測定装置の正面図、同図
（ｂ）は、同側面図である。
立てを詳細に説明する。そして第２図（ａ）に示すのは
ファーフィールドパターン測定装置の正面図、同図
（ｂ）は、同側面図である。
前記ＬＤマウント２上にはＬＤ１０がｎ個（１０−１〜
１０−ｎ）配設されている。
１０−ｎ）配設されている。
また、移動手段８は、一対のガイドレール８ａ，８ａ及
びボールねじ８ｂにより構成されており、ボールねじ８
ｂ一端は、パルスモータ８ｃに接続されている。
びボールねじ８ｂにより構成されており、ボールねじ８
ｂ一端は、パルスモータ８ｃに接続されている。
そしてボールねじ８ｂの移動部８ｄは、移動台９に固定
されている。移動台９中央には軸受け部４ａが設けられ
ており、この軸受け部４ａはレール４を水平方向に回動
自在に支持している。この軸受け部４ａに設けられるウ
ォームホイール４ｂにはウォームギヤ４ｃが歯合し、ウ
ォームギヤ４ｃは、移動台９に固定のパルスモータ９ｄ
に連結されている。したがって、レール４は、軸受け部
４ａを中心として回動自在であり、かつ回動角度は、図
示の位置及び９０゜回動した位置の２ケ所となってい
る。このレール４は筐体４ｈにより覆われており下方の
み開口している。またこの回動角度は、回動するレール
４側に設けられる一枚の遮光板４ｄ、及び移動台９の回
動方向の計２箇所に設けられるフォトインタラプタ４
ｅ，４ｅにより検出されている。
されている。移動台９中央には軸受け部４ａが設けられ
ており、この軸受け部４ａはレール４を水平方向に回動
自在に支持している。この軸受け部４ａに設けられるウ
ォームホイール４ｂにはウォームギヤ４ｃが歯合し、ウ
ォームギヤ４ｃは、移動台９に固定のパルスモータ９ｄ
に連結されている。したがって、レール４は、軸受け部
４ａを中心として回動自在であり、かつ回動角度は、図
示の位置及び９０゜回動した位置の２ケ所となってい
る。このレール４は筐体４ｈにより覆われており下方の
み開口している。またこの回動角度は、回動するレール
４側に設けられる一枚の遮光板４ｄ、及び移動台９の回
動方向の計２箇所に設けられるフォトインタラプタ４
ｅ，４ｅにより検出されている。
そして第３図（ａ），（ｂ）に示す如く、レール４に
は、受光器５がレール４を挟んで設けられている。つま
り受光器５は、レール４上面に設けられる溝４ｆに入り
込むコロ５ａ，５ａ及びレール４下面のコロ５ｂ，５ｂ
によりレール４上を移動自在となっている。そして受光
器５の下面５ｃには、２個の受光素子５ｄ，５ｅが設け
られている。この受光素子５ｄは短波長用（0.85μｍ）
ＬＤのＦＦＰの測定に用いられ、一方受光素子５ｅは長
波長用（１．３μｍ）ＬＤのＦＦＰ測定用に用いられ
る。
は、受光器５がレール４を挟んで設けられている。つま
り受光器５は、レール４上面に設けられる溝４ｆに入り
込むコロ５ａ，５ａ及びレール４下面のコロ５ｂ，５ｂ
によりレール４上を移動自在となっている。そして受光
器５の下面５ｃには、２個の受光素子５ｄ，５ｅが設け
られている。この受光素子５ｄは短波長用（0.85μｍ）
ＬＤのＦＦＰの測定に用いられ、一方受光素子５ｅは長
波長用（１．３μｍ）ＬＤのＦＦＰ測定用に用いられ
る。
この受光器５は、前記駆動手段６の一部である紐６ａに
連結されている。そして紐６ａは、レール４上に等間隔
に設けられるガイドコロ４ｇ及びレール４外部のガイド
コロ６ｂを介して回転軸６ｃに巻回されている。回転軸
６ｃはレール４の筐体４ｈ上に設けられる駆動手段６と
してのパルスモータ６ｄにギヤ６ｅ，６ｆを介して連結
されている。また、パルスモータ６ｄの回転は、エンコ
ーダ板６ｇ及び検出器６ｈにより検出されている。
連結されている。そして紐６ａは、レール４上に等間隔
に設けられるガイドコロ４ｇ及びレール４外部のガイド
コロ６ｂを介して回転軸６ｃに巻回されている。回転軸
６ｃはレール４の筐体４ｈ上に設けられる駆動手段６と
してのパルスモータ６ｄにギヤ６ｅ，６ｆを介して連結
されている。また、パルスモータ６ｄの回転は、エンコ
ーダ板６ｇ及び検出器６ｈにより検出されている。
次に以上の構成による動作を説明する。まず、複数個の
ＬＤ１ｄ１０−１〜１０−ｎを、ＬＤマウント２上に装
着する。装着時、ＬＤ１０の方向は、ＬＤマウント２に
設けられるＬＤ１０の端子受けにより一方向に所定ピッ
チａで整列配置されるようになっている。そしてＬＤ１
０−１上部の受光器５は、駆動手段６により第２図
（ａ）の図中矢印方向に移動（左右６０゜ずつ、計１２
０゜）してＬＤ１０−１のＸ方向のＦＦＰを測定する。
続いて、回動手段７が動作してレール４自体を９０゜回
動させる。この後、同様に受光器５が移動してＬＤ１０
−１のＹ方向ＦＦＰを測定する。以上の動作にてＬＤ１
０−１に対するＦＦＰ測定は終了し、続いてＬＤ１０
−２に対するＦＦＰ測定のためにレール４が移動する。
レール４は、移動手段８により、ＬＤ１０−１〜１０
−２の間隔分だけ移動する。そして移動後は、同様にＬ
Ｄ１０−２のＸ，Ｙ方向のＦＦＰを測定する。
ＬＤ１ｄ１０−１〜１０−ｎを、ＬＤマウント２上に装
着する。装着時、ＬＤ１０の方向は、ＬＤマウント２に
設けられるＬＤ１０の端子受けにより一方向に所定ピッ
チａで整列配置されるようになっている。そしてＬＤ１
０−１上部の受光器５は、駆動手段６により第２図
（ａ）の図中矢印方向に移動（左右６０゜ずつ、計１２
０゜）してＬＤ１０−１のＸ方向のＦＦＰを測定する。
続いて、回動手段７が動作してレール４自体を９０゜回
動させる。この後、同様に受光器５が移動してＬＤ１０
−１のＹ方向ＦＦＰを測定する。以上の動作にてＬＤ１
０−１に対するＦＦＰ測定は終了し、続いてＬＤ１０
−２に対するＦＦＰ測定のためにレール４が移動する。
レール４は、移動手段８により、ＬＤ１０−１〜１０
−２の間隔分だけ移動する。そして移動後は、同様にＬ
Ｄ１０−２のＸ，Ｙ方向のＦＦＰを測定する。
このようにしてｎ個のＬＤ１０−１〜１０−ｎまで順
次、ＦＦＰを測定する。
次、ＦＦＰを測定する。
尚、上述の実施例における被測定のＬＤ１０の他、ＬＤ
マウント２上にＬＥＤ等を配設すれば、これらの測定を
行うこともできる。
マウント２上にＬＥＤ等を配設すれば、これらの測定を
行うこともできる。
［発明の効果］ 以上説明したように本発明によるファーフィールドパタ
ーン測定装置によれば、ＬＤ等のＦＦＰ測定を短時間に
て行うことができるとともに、ＬＤの交換作業を必要と
せずに多数個のＬＤを順次連続的に測定することがで
き、作業能率を向上させることができる。
ーン測定装置によれば、ＬＤ等のＦＦＰ測定を短時間に
て行うことができるとともに、ＬＤの交換作業を必要と
せずに多数個のＬＤを順次連続的に測定することがで
き、作業能率を向上させることができる。
第１図は、本発明によるファーフィールドパターン測定
装置を示すクレーム対応図、第２図（ａ），（ｂ）は、
同装置の実際の組立て図を示す正面及び側面図、第３図
（ａ），（ｂ）は、受光器及びレールを示す拡大側断面
図及び一部裁断拡大正面図、第４図は、従来のファーフ
ィールドパターン測定装置を示す平面図である。 ２……ＬＤマウント、３……固定基台、３ａ……上部固
定基台、４……レール、５……受光器、６……駆動手
段、７……回動手段、８……移動手段、１０……ＬＤ。
装置を示すクレーム対応図、第２図（ａ），（ｂ）は、
同装置の実際の組立て図を示す正面及び側面図、第３図
（ａ），（ｂ）は、受光器及びレールを示す拡大側断面
図及び一部裁断拡大正面図、第４図は、従来のファーフ
ィールドパターン測定装置を示す平面図である。 ２……ＬＤマウント、３……固定基台、３ａ……上部固
定基台、４……レール、５……受光器、６……駆動手
段、７……回動手段、８……移動手段、１０……ＬＤ。
Claims (1)
- 【請求項１】ＬＤ等の発光体（１０）のファーフィール
ドパターンを自動的に測定するファーフィールドパター
ン測定装置において； 複数個の前記発光体（１０）を所定ピッチ（ａ）で装着
保持し、かつ固定基台（３）より交換可能なＬＤマウン
ト（２）と； 該ＬＤマウント（２）に装着された発光体（１０）を中
心として発光方向に所定距離隔てて円弧状に配置される
レール（４）と； 該レール（４）上を移動自在かつ、前記発光体（１０）
の発光を検出する受光器（５）と； 該受光器（５）をレール上で所定距離円弧状に移動させ
る駆動手段（６）と； 前記レール（４）を、発光体から鉛直な方向に延びる軸
線（ｂ）を中心として所定角度回動させる回動手段
（７）と； 該回動手段（７）、前記駆動手段（６）及び前記レール
（４）が取りつけられ、前記ＬＤマウント（２）上の複
数個の発光体（１０）のピッチ（ａ）に対応して移動す
る移動手段（８）と； を具備することを特徴とするファーフィールドパターン
測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8605486A JPH0621843B2 (ja) | 1986-04-16 | 1986-04-16 | フア−フイ−ルドパタ−ン測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8605486A JPH0621843B2 (ja) | 1986-04-16 | 1986-04-16 | フア−フイ−ルドパタ−ン測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS62242833A JPS62242833A (ja) | 1987-10-23 |
| JPH0621843B2 true JPH0621843B2 (ja) | 1994-03-23 |
Family
ID=13875969
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP8605486A Expired - Lifetime JPH0621843B2 (ja) | 1986-04-16 | 1986-04-16 | フア−フイ−ルドパタ−ン測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0621843B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP3316501B2 (ja) * | 2000-03-28 | 2002-08-19 | 科学技術振興事業団 | センサヘッド、これを具備した輝度分布測定装置及び表示むら検査評価装置 |
-
1986
- 1986-04-16 JP JP8605486A patent/JPH0621843B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS62242833A (ja) | 1987-10-23 |
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