JPH06209045A - Analog semiconductor integrated circuit device - Google Patents

Analog semiconductor integrated circuit device

Info

Publication number
JPH06209045A
JPH06209045A JP273693A JP273693A JPH06209045A JP H06209045 A JPH06209045 A JP H06209045A JP 273693 A JP273693 A JP 273693A JP 273693 A JP273693 A JP 273693A JP H06209045 A JPH06209045 A JP H06209045A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
analog
semiconductor integrated
integrated circuit
input
block
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP273693A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Toshimitsu Ichiyanagi
敏光 一柳
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Toshiba Corp filed Critical Toshiba Corp
Priority to JP273693A priority Critical patent/JPH06209045A/en
Publication of JPH06209045A publication Critical patent/JPH06209045A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Semiconductor Integrated Circuits (AREA)
  • Design And Manufacture Of Integrated Circuits (AREA)

Abstract

PURPOSE:To reduce the developing period of an analog semiconductor integrated circuit device by allowing the user of the device to program an analog function. CONSTITUTION:In this device (analog IC) 1, the wiring and connection between an input-output block 2 connected to external pins and analog function block 3 in which a basic circuit required for constituting the analog function of the device 1 is incorporated in advance is executed by the user of the device 1 in a matrix wiring area 4 in which wires are wired by using an antifuse system in accordance with a program prepared by the user.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】この発明は、使用者側でアナログ
機能をプログラムするアナログ半導体集積回路装置に関
する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an analog semiconductor integrated circuit device in which an analog function is programmed by a user.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来、アナログ半導体集積回路装置(以
下、アナログICとして記述する)を簡単に作成する方
法として、アナログアレイがある。これは、トランジス
タ層までを共通化し、配線のみを特定化して設計するこ
とで特定用途のアナログICを作成することができる。
この配線の特定化は、配線層のマスクを作成しなければ
ならないので半導体製造メーカによって製造されてい
る。また、トランジスタ個々の接続も半導体製造メーカ
によって設計されている。
2. Description of the Related Art Conventionally, an analog array has been known as a method for easily creating an analog semiconductor integrated circuit device (hereinafter referred to as an analog IC). This makes it possible to create an analog IC for a specific purpose by making the transistor layers common and designing only the wiring.
This wiring specification is manufactured by semiconductor manufacturers because a mask for the wiring layer must be created. Also, the connection of each transistor is designed by the semiconductor manufacturer.

【0003】アナログ回路の特徴は、増幅回路、発振回
路、復調回路など回路機能が多岐にわたっており、しか
も同じ増幅回路でも使用目的により、利得、出力レベ
ル、歪率、入出力インピーダンス、周波数特性などが異
なることである。アナログ回路では、デジタル回路と異
なり回路機能や定数が多岐に渡るため、最小機能単位を
分離することが困難ではあるが、アナログマスタスライ
スIC等が製品化されている。これらの開発期間は、1
0〜12週間である。(以上、「最新LSI用語事典」
オーム社による)
The analog circuit is characterized by a wide variety of circuit functions such as an amplification circuit, an oscillation circuit, a demodulation circuit, and even the same amplification circuit has gain, output level, distortion rate, input / output impedance, frequency characteristics, etc. depending on the purpose of use. It is different. Unlike analog circuits, analog circuits have a wide variety of circuit functions and constants, so it is difficult to separate the minimum functional units, but analog master slice ICs and the like have been commercialized. These development periods are 1
0 to 12 weeks. (For the above, "Latest LSI Term Encyclopedia")
By Ohmsha)

【0004】このように、アナログICにおいては、配
線層のマスク作成工程からアナログICの製造までを半
導体製造メーカによって行われるので、この間の製造工
程に多くの時間を必要としていた。また、トランジスタ
個々の接続から設計しなくてはならないので、半導体製
造メーカ側の負担も大きかった。
As described above, in the analog IC, since a semiconductor manufacturer manufactures a mask for the wiring layer and a process for manufacturing the analog IC, a lot of time is required for the manufacturing process during this period. Further, since it is necessary to design from the connection of each transistor, the burden on the semiconductor manufacturer side is large.

【0005】[0005]

【発明が解決しようとする課題】上記したように、アナ
ログICは、トランジスタ個々の接続設計、および配線
層のマスク作成工程からアナログICの製造まで半導体
製造メーカによらなければならず、そのため、使用者側
での開発期間が長くなってしまうという問題があった。
As described above, the analog IC must be designed by a semiconductor manufacturer from the connection design of each transistor and the mask making process of the wiring layer to the manufacture of the analog IC. There was a problem that the development period on the part of the workers would be long.

【0006】そこで、この発明は、使用者側でアナログ
機能をプログラムすることによって開発期間を短縮する
ことのできるアナログ半導体集積回路装置を提供するこ
とを目的とする。
Therefore, an object of the present invention is to provide an analog semiconductor integrated circuit device capable of shortening the development period by programming the analog function on the user side.

【0007】[0007]

【課題を解決するための手段】この発明のアナログ半導
体集積回路装置は、アナログ回路を構成するのに必要な
複数の基本回路が予め組込まれているアナログ機能ブロ
ックと、外部に接続される入出力ブロックと、上記アナ
ログ機能ブロックと上記入出力ブロックとをアンチヒュ
ーズ方式で接続するマトリクス配線領域とを有し、上記
アナログ機能ブロックと上記入出力ブロックとが、上記
マトリクス配線領域を用いてアンチヒューズ方式で所望
するアナログ回路として配線接続されるように構成され
ている。
SUMMARY OF THE INVENTION An analog semiconductor integrated circuit device according to the present invention includes an analog function block in which a plurality of basic circuits necessary for forming an analog circuit are incorporated in advance, and an input / output connected to the outside. A block and a matrix wiring region that connects the analog functional block and the input / output block by an anti-fuse method, and the analog functional block and the input / output block use the matrix wiring area to perform an anti-fuse method. The wiring is connected as a desired analog circuit.

【0008】[0008]

【作用】この発明は、アナログ機能ブロックと入出力ブ
ロックとを接続するマトリクス配線領域がアンチヒュー
ズ方式を用いて配線接続されるようにしたことにより、
使用者側においてアナログ回路の配線接続を実行可能と
するものである。
According to the present invention, the matrix wiring region for connecting the analog function block and the input / output block is connected by using the anti-fuse method.
This allows the wiring connection of the analog circuit to be executed on the user side.

【0009】[0009]

【実施例】以下、この発明の一実施例について図面を参
照して説明する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS An embodiment of the present invention will be described below with reference to the drawings.

【0010】図1は、この発明のアナログ半導体集積回
路装置(以下、アナログICと記述)としてのアナログ
ICチップの概略構成を示すものである。すなわち、ア
ナログIC1は、外部ピンに接続される入出力ブロック
2,…、アナログ機能を構成するのに必要な基本回路が
予め作り込まれているアナログ機能ブロック3,…、こ
れらの入出力ブロック2,…とアナログ機能ブロック
3,…をアンチヒューズ方式で接続するマトリクス配線
領域4とから構成されている。
FIG. 1 shows a schematic structure of an analog IC chip as an analog semiconductor integrated circuit device (hereinafter referred to as an analog IC) of the present invention. That is, the analog IC 1 includes an input / output block 2, ... Connected to an external pin, an analog function block 3, ... In which basic circuits required to configure an analog function are built in advance, and these input / output block 2 , And analog function blocks 3, ... By a matrix wiring region 4 which connects them by an anti-fuse method.

【0011】本発明に係るマトリクス配線領域4は、ア
ンチヒューズ方式で配線されていることを特徴とする。
アンチヒューズについて詳しくは「日経エレクトロニク
ス」No.556の182〜183頁に記載されている
が、信号線の結線を酸化膜の絶縁破壊によってショート
させるタイプの書込み1回限りのヒューズで、従来のダ
イオード破壊タイプに比較して、オン抵抗が小さい、微
小面積可能などの利点がある。
The matrix wiring region 4 according to the present invention is characterized by being wired by an anti-fuse method.
For more information on antifuses, see “Nikkei Electronics” No. Although it is described on pages 182 to 183 of 556, it is a write-once fuse of a type that short-circuits the connection of signal lines by dielectric breakdown of an oxide film, and has a smaller on-resistance than the conventional diode breakdown type. Which has the advantage that a small area is possible.

【0012】図2は、それぞれアナログ機能ブロック3
の例を示すものである。各アナログ機能ブロック3は、
基本動作をするように予め内部に配線された基本回路が
作り込んである。図2の(a)は電流設定用で、図2の
(b)は入力段用で、図2の(c)は出力段用である。
各アナログ機能ブロック3には、それぞれ、プラス電源
端子5a,5b,5c,5,…,マイナス電源端子6,
…、出力端子7,…、入力端子8,…、抵抗値切換端子
9a,9b,9c、および内部端子10が備えられてい
る。
FIG. 2 shows analog function blocks 3 respectively.
Is an example of. Each analog function block 3
A basic circuit is pre-wired in advance so as to perform a basic operation. 2A is for current setting, FIG. 2B is for input stage, and FIG. 2C is for output stage.
Each analog function block 3 has a positive power supply terminal 5a, 5b, 5c, 5, ..., A negative power supply terminal 6, respectively.
, Output terminal 7, input terminal 8, resistance value switching terminals 9a, 9b, 9c, and internal terminal 10.

【0013】また、各アナログ機能ブロック3の細部に
ついて回路変更をすることはできないが、図2の(a)
の電流設定用のアナログ機能ブロック3は、抵抗値切換
端子9,…をアンチヒューズ方式で直列、並列に組合わ
せて接続することにより抵抗値の調整をすることができ
る。これにより、電流値の設定において、例えば増幅器
の利得、帯域等を決定することができる。次に、上記の
ような構成において、図1と図2を参照して接続動作に
ついて説明する。
Although it is not possible to change the circuit for details of each analog function block 3, FIG.
In the analog function block 3 for current setting, the resistance value can be adjusted by connecting the resistance value switching terminals 9, ... In series and in parallel by the antifuse method. As a result, in setting the current value, for example, the gain, band, etc. of the amplifier can be determined. Next, the connection operation in the above configuration will be described with reference to FIGS.

【0014】例えば、図2の(a)、(b)、(c)に
示す各アナログ機能ブロック3が組込まれている図1に
示すような構成のアナログIC1が半導体製造メーカか
ら供給されているとする。
For example, a semiconductor manufacturer supplies an analog IC 1 having a structure as shown in FIG. 1 in which the analog function blocks 3 shown in FIGS. 2A, 2B and 2C are incorporated. And

【0015】使用者側は、図2の(a)、(b)、
(c)の各アナログ機能ブロック3を有するアナログI
C1をCADシステムを用い、回路図に基づいてアンチ
ヒューズデータを自動作成する。
On the user side, (a), (b) of FIG.
Analog I having each analog function block 3 in (c)
Antifuse data is automatically created for C1 using a CAD system based on the circuit diagram.

【0016】使用者側は、この作成されたアンチヒュー
ズデータに基づいて図示しないプログラム装置を用い、
アナログIC1の各アナログ機能ブロック3と入出力ブ
ロック2,…とマトリクス配線領域4とをアンチヒュー
ズ方式で配線接続する。
The user side uses a program device (not shown) based on the created antifuse data,
Each analog function block 3 of the analog IC 1, the input / output blocks 2, ... And the matrix wiring region 4 are connected by wiring in an anti-fuse manner.

【0017】例えば、図2の(a)のアナログ機能ブロ
ック3においては、電流値を設定するために抵抗R1
2 、R3 を用いて抵抗値が設定される。抵抗R1 の接
続が選ばれた場合、信号線の結線が酸化膜の絶縁破壊に
よってショートされて、抵抗R1 のプラス電源端子5a
が図示しないプラス電源に接続され、抵抗R1 の抵抗値
切換端子9aが内部端子10に接続される。
For example, in the analog function block 3 of FIG. 2A, a resistor R 1 for setting a current value,
The resistance value is set using R 2 and R 3 . When the connection of the resistor R 1 is selected, the connection of the signal line is short-circuited due to the dielectric breakdown of the oxide film, and the positive power supply terminal 5a of the resistor R 1 is connected.
Is connected to a positive power source (not shown), and the resistance value switching terminal 9a of the resistor R 1 is connected to the internal terminal 10.

【0018】このように図2の(a)、(b)、(c)
の各アナログ機能ブロック3も相互に信号線の結線を酸
化膜の絶縁破壊によってショートして接続されることに
より、NPN入力、A級出力の増幅器を作成することが
できる。また、PNP入力、B級出力などの各アナログ
機能ブロック3を用意しておけば、より目的に適った回
路を作成することができる。
Thus, as shown in FIGS. 2 (a), 2 (b) and 2 (c).
The respective analog function blocks 3 are connected to each other by short-circuiting the connection of the signal lines due to the dielectric breakdown of the oxide film, thereby making it possible to form an amplifier of NPN input and class A output. If each analog function block 3 such as PNP input and class B output is prepared, a circuit more suitable for the purpose can be created.

【0019】以上説明したように上記実施例によれば、
半導体製造メーカに依存することなく使用者側で、アナ
ログ半導体集積回路装置のアナログ機能ブロックの配線
工程をプログラムして作成することができるので、設計
から製造までの開発期間の短縮化を図ることができる。
また、アナログ機能ブロック内の配線はできているの
で、使用者側の設計は、主にブロック間の接続ですみ、
簡単に作成することができる。
As described above, according to the above embodiment,
Since the user can program and create the wiring process of the analog function block of the analog semiconductor integrated circuit device without depending on the semiconductor manufacturer, the development period from design to manufacturing can be shortened. it can.
Also, since the wiring inside the analog function block is completed, the user's design is mainly the connection between blocks,
Can be easily created.

【0020】さらに、アンチヒューズ方式の1回書込み
であるので、大量に製造する前にシミュレーションして
動作を確認することができる。また、電流値も変えられ
るので、利得、帯域等を自由に設計できるとともに、必
要なポイントを外部に引出してコンデンサ等を接続し、
発振等を防ぐこともできる。
Further, since the anti-fuse method is one-time writing, the operation can be confirmed by performing simulation before mass production. Also, because the current value can be changed, you can freely design the gain, band, etc., and connect the capacitors etc. by pulling out the necessary points to the outside.
It is also possible to prevent oscillation and the like.

【0021】[0021]

【発明の効果】以上詳述したようにこの発明によれば、
使用者側でアナログ機能をプログラムすることによって
開発期間を短縮することのできるアナログ半導体集積回
路装置を提供することができる。
As described above in detail, according to the present invention,
It is possible to provide an analog semiconductor integrated circuit device capable of shortening the development period by programming the analog function on the user side.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】この発明の一実施例におけるアナログ半導体集
積回路装置の構成を概略的に示す図。
FIG. 1 is a diagram schematically showing a configuration of an analog semiconductor integrated circuit device according to an embodiment of the present invention.

【図2】アナログ機能ブロックの接続例を説明するため
の図。
FIG. 2 is a diagram for explaining a connection example of analog function blocks.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1…アナログ半導体集積回路装置(アナログIC) 2…入出力ブロック 3…アナログ機能ブロック 4…マトリクス配線領域 1 ... Analog semiconductor integrated circuit device (analog IC) 2 ... Input / output block 3 ... Analog function block 4 ... Matrix wiring area

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 アナログ回路を構成するのに必要な複数
の基本回路が予め組込まれているアナログ機能ブロック
と、外部に接続される入出力ブロックと、上記アナログ
機能ブロックと上記入出力ブロックとをアンチヒューズ
方式で接続するマトリクス配線領域とを有し、上記アナ
ログ機能ブロックと上記入出力ブロックとが、上記マト
リクス配線領域を用いてアンチヒューズ方式で所望する
アナログ回路として配線接続されることを特徴とするア
ナログ半導体集積回路装置。
1. An analog function block in which a plurality of basic circuits required to form an analog circuit are previously incorporated, an input / output block connected to the outside, the analog function block and the input / output block. A matrix wiring region connected by an antifuse method, wherein the analog functional block and the input / output block are wired and connected as a desired analog circuit by the antifuse method using the matrix wiring region. Analog semiconductor integrated circuit device.
JP273693A 1993-01-11 1993-01-11 Analog semiconductor integrated circuit device Pending JPH06209045A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP273693A JPH06209045A (en) 1993-01-11 1993-01-11 Analog semiconductor integrated circuit device

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP273693A JPH06209045A (en) 1993-01-11 1993-01-11 Analog semiconductor integrated circuit device

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH06209045A true JPH06209045A (en) 1994-07-26

Family

ID=11537622

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP273693A Pending JPH06209045A (en) 1993-01-11 1993-01-11 Analog semiconductor integrated circuit device

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH06209045A (en)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2005101442A1 (en) * 2004-04-19 2005-10-27 Baolab Microsystems S.L. Integrated circuit with analog connection matrix
ES2246693A1 (en) * 2003-11-18 2006-02-16 Baolab Microsystems S.L. Integrated circuit e.g. integrated monolithic circuit for printed circuit, has miniaturized relay with conductive element that opens/closes electric circuit based on movement of conductive element in left direction or right direction

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
ES2246693A1 (en) * 2003-11-18 2006-02-16 Baolab Microsystems S.L. Integrated circuit e.g. integrated monolithic circuit for printed circuit, has miniaturized relay with conductive element that opens/closes electric circuit based on movement of conductive element in left direction or right direction
WO2005101442A1 (en) * 2004-04-19 2005-10-27 Baolab Microsystems S.L. Integrated circuit with analog connection matrix

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPS61222148A (en) Manufacture of one-chip microcomputer
JPH06209045A (en) Analog semiconductor integrated circuit device
JPS6173359A (en) Semiconductor device
JPH06224300A (en) Designing method for semiconductor integrated circuit and semiconductor integrated circuit for evaluation
JPH0120538B2 (en)
JP3335682B2 (en) Method for manufacturing semiconductor device
US20020124228A1 (en) Method of and system for manufacturing a semiconductor device
JPS63283150A (en) Integrated circuit
JPH058576B2 (en)
JP3003151B2 (en) Design method of semiconductor integrated circuit
JPH0414243A (en) Semiconductor integrated circuit device and its manufacture
JPH0512362A (en) Method for inputting electric network to circuit simulator
JPH0786415A (en) Automatic arrangement wiring method
JPH0237102B2 (en)
JPH0691181B2 (en) Method for manufacturing one-chip microcomputer having oscillator circuit
JP2002299448A (en) Library cell and method of designing semiconductor integrated circuit
JPH02309657A (en) Lsi mask pattern
JPH0372655A (en) Semiconductor integrated circuit device
JPH0991318A (en) Automatic layout method for semiconductor integrated circuit
JPH06242191A (en) Semiconductor integrated circuit
JPH05114718A (en) Programmable analog master
JPS6038851A (en) Regulating method of thick-film hybrid integrated circuit
JPH04306871A (en) Semiconductor integrated circuit device
JPH0758598B2 (en) Program circuit
JPH02237065A (en) Manufacture of semiconductor integrated circuit device