JPH0618596A - Printed wiring board inspecting jig - Google Patents

Abstract

PURPOSE:To obtain such a printed wiring board inspection jig that the tracers of its probes can be reduced in diameter and can be prevented from being damaged and the probes can be easily connected to an inspection device, and then, its probes and contact pins can be reutilized. CONSTITUTION:The title jig is composed of contact pins 3 mounted on a guide plate 8 in slidable states and probes 1 inserted into a pin board 88. Tracers 2 are mounted on the probes 1 in a state where the tracers 2 can flexibly advance and retreat. The tracers 2 are bought into contact with the head sections of the pins 3 and a terminal board 4 is provided above the pin board 88. In addition, jack terminals 41 connected to an inspection device 18 are arranged on the terminal board 4. A wiring circuit 71 is inspected for electrical continuity while the front ends of lead wires 15 connected to the probes 1 are inserted into the jack terminals 41 and front ends of the contact pins 3 are brought into contact with the circuit 71.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【０００１】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は，プリント配線板の検査
治具，特に高密度配線回路の検査に対して優れた効果を
発揮するプローブ回りの構成，及び検査器との電気的接
続と取外しとを容易にする端子ボード周りの構造に関す
る。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a jig for a printed wiring board, in particular, a structure around a probe that exhibits an excellent effect on the inspection of a high-density wiring circuit, and electrical connection and disconnection with an inspection device. The present invention relates to a structure around a terminal board that facilitates and.

【０００２】[0002]

【従来技術】プリント配線板における配線回路を，電気
導通の有無により検査する方法，及びその装置として
は，種々のものが提案されている（例えば，特公平２−
４４０３５号公報，特開昭５６−１１００６０号公
報）。そして，従来用いられている，プリント配線板の
検査治具としては，図１２及び図１３に示すごとく，プ
リント配線板７の配線回路７５に対して，プローブ９の
触針９２を当接させることにより，電気導通の有無を検
査するものである。2. Description of the Related Art As a method for inspecting a wiring circuit on a printed wiring board for the presence or absence of electrical continuity and its apparatus, various types have been proposed (for example, Japanese Patent Publication No.
No. 44035, JP-A-56-11060). As a conventionally used printed wiring board inspection jig, as shown in FIGS. 12 and 13, a stylus 92 of a probe 9 is brought into contact with a wiring circuit 75 of the printed wiring board 7. Is used to inspect for electrical continuity.

【０００３】該検査治具は，プローブの先端のガタツキ
を防止するためのガイド板８と，プローブ９を保持する
ためのピンボード８８と，両者を貫通させて装着したプ
ローブ９とよりなる。プローブ９は，図１３にも示すご
とく，パイプ状のソケット９１と触針９２とを有する。
ソケット９１は，ピンボード８８の貫通孔８８１内に挿
通固定されている。一方，触針９２はガイド板８のガイ
ド孔８１内に，進退可能に挿通されている。そして，触
針９２は，その上部にプランジャー９２０を有する。該
プランジャー９２０は，チューブ２５の内腔内に，スプ
リングバネ（図示略）を介して，進退可能に装着されて
いる。The inspection jig comprises a guide plate 8 for preventing rattling of the tip of the probe, a pin board 88 for holding the probe 9, and a probe 9 mounted through both of them. As shown in FIG. 13, the probe 9 has a pipe-shaped socket 91 and a stylus 92.
The socket 91 is inserted and fixed in the through hole 881 of the pin board 88. On the other hand, the stylus 92 is inserted into the guide hole 81 of the guide plate 8 so as to be movable back and forth. The stylus 92 has a plunger 920 on its upper part. The plunger 920 is mounted in the inner cavity of the tube 25 so as to be able to move forward and backward via a spring spring (not shown).

【０００４】上記プローブ９の上端は，電気導通を検出
するための検査器にリードワイヤーを経由して電気的に
接続されている。この場合，プローブ上端とリードワイ
ヤーとの接続は，半田付によってなされることが多い。
なお，ガイド板８は，ソケット９１の下端を配置するた
めの凹部８２を有する。また，上記プローブ９は，被検
査体としてのプリント配線板７の配線回路７５に対応し
た位置に設けてある。また，ガイド板８とピンボード８
８とは一体的に固定してある。The upper end of the probe 9 is electrically connected to an inspection device for detecting electrical continuity via a lead wire. In this case, the upper end of the probe and the lead wire are often connected by soldering.
The guide plate 8 has a recess 82 for disposing the lower end of the socket 91. Further, the probe 9 is provided at a position corresponding to the wiring circuit 75 of the printed wiring board 7 as the inspection object. In addition, the guide plate 8 and the pin board 8
8 is fixed integrally.

【０００５】そして，配線回路の電気導通の検査に当た
っては，プリント配線板７の上下より，上記ガイド板８
及びピンボード８８を下降及び上昇させ，プローブ９の
触針９２を配線回路７５の触針用パッド（以下省略）に
当接させる。このとき，当該配線回路７５が断線又はシ
ョートを生じていない場合には，正常な電気導通が得ら
れる。これにより，各配線回路７５の良否が判定でき
る。When inspecting the electrical continuity of the wiring circuit, the guide plate 8 is placed from above and below the printed wiring board 7.
Also, the pin board 88 is lowered and raised, and the stylus 92 of the probe 9 is brought into contact with the stylus pad (hereinafter omitted) of the wiring circuit 75. At this time, when the wiring circuit 75 is not broken or short-circuited, normal electrical conduction is obtained. As a result, the quality of each wiring circuit 75 can be determined.

【０００６】また，上記において触針９２の先端９２１
を配線回路７５に当接させた際には，触針９２はガイド
板８のガイド孔８１に沿ってソケット９１側へ後退し，
そのプランジャー９２０がソケット９１内に侵入する。
これは，触針９２の先端９２１を保護するためである。
なお，図１２において，符号８７，８８６はノックピン
８９１の挿入穴，８７１，８８５は，位置決めピン８９
２の挿入穴である。Further, in the above, the tip 921 of the stylus 92 is used.
When contacting the wiring circuit 75, the stylus 92 retracts toward the socket 91 side along the guide hole 81 of the guide plate 8,
The plunger 920 penetrates into the socket 91.
This is to protect the tip 921 of the stylus 92.
In FIG. 12, reference numerals 87 and 886 are insertion holes for knock pins 891, and 871 and 885 are positioning pins 89.
2 insertion holes.

【０００７】[0007]

【解決しようとする課題】しかしながら，上記従来の検
査治具には，次の問題がある。即ち，近年は，プリント
配線板における配線回路の高密度化が進み，配線回路の
端部であるパッドのピッチがますます狭くなっている。
例えば，このピッチは，従来は０．６５ｍｍ程度であっ
たが，高密度配線回路においては０．３ｍｍと狭くなっ
ている。[Problems to be Solved] However, the above-described conventional inspection jig has the following problems. That is, in recent years, the density of wiring circuits in printed wiring boards has increased, and the pitch of the pads at the ends of the wiring circuits has become narrower.
For example, this pitch was conventionally about 0.65 mm, but in a high-density wiring circuit it is as narrow as 0.3 mm.

【０００８】そこで，これに対応するため，プローブ９
の配列ピッチを狭くする必要があるため，プローブ自体
の大きさ（直径）も小さくする必要がある。そして，現
在使用されているプローブ９においても，そのソケット
９１の外径は約１ミリであり，また触針９２の直径は
０．５ｍｍと細径である。Therefore, in order to deal with this, the probe 9
Since it is necessary to reduce the array pitch of, the size (diameter) of the probe itself must be reduced. Also in the probe 9 currently used, the outer diameter of the socket 91 is about 1 mm, and the diameter of the probe 92 is as small as 0.5 mm.

【０００９】また，従来の検査治具においては，検査に
当たって，触針９２の先端９２１を直接に配線回路７５
に当接させている。また，その当接の際には，上記のご
とく，触針９２がガイド板８のガイド穴８１内をスライ
ドして後退する。そして，検査後は，触針９２は，ソケ
ット９１内に設けたスプリングバネによって，再び元の
位置へ突出させられる。そのため，触針９２は，検査の
度毎にガイド孔８１内を摺動することになる。In the conventional inspection jig, the tip 921 of the stylus 92 is directly connected to the wiring circuit 75 in the inspection.
Abutting against. Further, at the time of contact, the stylus 92 slides in the guide hole 81 of the guide plate 8 and retracts as described above. Then, after the inspection, the stylus 92 is made to project again to its original position by the spring spring provided in the socket 91. Therefore, the stylus 92 slides in the guide hole 81 at each inspection.

【００１０】それ故，触針９２が摩耗し易い。また，こ
の摩耗を防止するためガイド孔８１の径を大きくする
と，触針９２との間のクリアランスが大きくなり，触針
９２の先端９２１がガタつき，検査不良を生ずることが
ある。また，触針９２は，ピンボード８８に固定された
ソケット９１内に挿入されている。そのため，ソケット
９１と触針９２とガイド孔８１の軸芯は同一にしなけれ
ばならない。それ故，上記ガイド孔８１は，細径の触針
９２を円滑にスライドさせるために，上記軸芯が一致す
るように寸法精度良く，穴明けを行う必要がある。Therefore, the stylus 92 is easily worn. Further, if the diameter of the guide hole 81 is increased to prevent this wear, the clearance between the stylus 92 and the stylus 92 becomes large, and the tip 921 of the stylus 92 may rattle, resulting in defective inspection. Further, the stylus 92 is inserted into a socket 91 fixed to the pin board 88. Therefore, the socket 91, the stylus 92, and the guide hole 81 must have the same axis. Therefore, in order to smoothly slide the small-diameter stylus 92, the guide hole 81 needs to be drilled with high dimensional accuracy so that the shaft cores coincide with each other.

【００１１】また，触針９２は，ソケット９１内とガイ
ド孔８１内を，同軸線状にスライドすると共に，その先
端９２１が配線回路７５と直接に当接するため，上記軸
芯ズレと当接による損傷を受け易い。上記のごとく，従
来の検査治具においては，配線回路の高密度化に伴っ
て，特にプローブの触針９２の細径化と損傷，ガイド孔
８１の穴明精度等に問題がある。Further, the stylus 92 slides coaxially in the socket 91 and the guide hole 81, and the tip 921 of the stylus 92 directly contacts the wiring circuit 75. It is easily damaged. As described above, in the conventional inspection jig, as the wiring circuit becomes higher in density, there are problems particularly in the thinning and damage of the probe stylus 92 of the probe, the drilling accuracy of the guide hole 81, and the like.

【００１２】また，プローブの上端は，リードワイヤー
を経由して検査器に電気的に接続され，検査回路が電気
的に閉路される。そして，従来は，数１０〜数１００本
という多大の数のプローブの上端とリードワイヤーとは
半田付により接続されており，リードワイヤーの他端は
検査器に接続されている。Further, the upper end of the probe is electrically connected to the inspection device via the lead wire, and the inspection circuit is electrically closed. In the prior art, the upper end of a large number of probes of several tens to several hundreds and the lead wire are connected by soldering, and the other end of the lead wire is connected to the inspection device.

【００１３】一方，プリント配線板が変わる毎にプロー
ブの配列パターンが変わるから，プローブ回りのいわゆ
る検出部はプリント配線板毎に交換する必要がある。そ
のため，この交換時には，プローブとリードワイヤーと
の間の多大の数の上記半田付けを外さなければならず，
その取外し作業は大きな工数を必要とする。また，新し
い検査回路に応じて再び多数のリードワイヤーとプロー
ブとの半田付けをしなければならない。On the other hand, since the array pattern of the probes changes every time the printed wiring board changes, the so-called detection section around the probes needs to be replaced for each printed wiring board. Therefore, at the time of this replacement, a large number of solders between the probe and the lead wire must be removed,
The removal work requires a large number of man-hours. Also, many lead wires and probes must be soldered again according to the new inspection circuit.

【００１４】また，プローブは上記のごとく，細径部品
であるため，高価な精密加工部品である。そのため，被
検査体の配線回路が変わる毎に新しいプローブを使用す
ることはコスト高となる。そのため，プローブが再利用
可能なことも切望されている。本発明はかかる従来の問
題点に鑑み，プローブの触針の細径化と損傷防止に対応
でき，検査器との電気的接続と取外しも容易で，かつプ
ローブの再利用ができるプリント配線板の検査治具を提
供しようとするものである。Further, since the probe is a small diameter part as described above, it is an expensive precision machined part. Therefore, it is costly to use a new probe every time the wiring circuit of the device under test changes. Therefore, it is also desired that the probe can be reused. In view of the above-mentioned conventional problems, the present invention provides a printed wiring board that can cope with a reduction in the diameter of a probe stylus and prevent damage, is easy to electrically connect to and disconnect from an inspection device, and can reuse a probe. It is intended to provide an inspection jig.

【００１５】[0015]

【課題の解決手段】本発明は，プリント配線板における
配線回路を電気導通の有無により検査する検査治具であ
って，該検査治具は，ガイド板と，ピンボードと，上記
配線回路と当接させるためのコンタクトピンと，該コン
タクトピンに当接させるための触針を内蔵したプローブ
とよりなり，かつ上記コンタクトピンは上記ガイド板に
進退可能に装着され，また上記触針はプローブに弾性的
に進退可能に内蔵されており，またピンボードの外部に
は端子ボードを配設し，該端子ボードには，一端を検査
器に接続した複数のジャック型端子を配置し，一方上記
プローブには，リードワイヤーを接続し，上記ジャック
型端子には，上記リードワイヤーの先端を着脱可能に挿
入固定してなることを特徴とするプリント配線板の検査
治具にある。The present invention relates to an inspection jig for inspecting a wiring circuit in a printed wiring board according to the presence or absence of electrical continuity, the inspection jig including a guide plate, a pin board, and the wiring circuit. The probe includes a contact pin for making contact with the probe and a probe having a stylus for making contact with the contact pin. The contact pin is attached to the guide plate so as to be movable back and forth. The terminal board is arranged outside the pin board, and a plurality of jack type terminals whose one end is connected to the inspector are arranged on the terminal board. A lead wire is connected, and a tip of the lead wire is removably inserted into and fixed to the jack-type terminal, which is an inspection jig for a printed wiring board.

【００１６】本発明において最も注目すべき第１の点
は，上記従来例の前記プローブをいわば２組に分割し，
コンタクトピンとプローブとに構成したこと，該コンタ
クトピンを配線回路に当接させ，一方プローブの触針は
コンタクトピンに当接させるよう構成したことである。The first point that is most noticeable in the present invention is that the probe of the above-mentioned conventional example is divided into two sets, so to speak,
The contact pin and the probe are configured, and the contact pin is brought into contact with the wiring circuit while the stylus of the probe is brought into contact with the contact pin.

【００１７】即ち，プリント配線板と対面するガイド板
には進退可能にコンタクトピンを装着し，上記ガイド板
に面するピンボードにはプローブを固定する。そして，
該プローブには，弾性的に進退可能に触針を内蔵する。
このように，触針を内蔵させる手段としては，触針をチ
ューブ内に弾性的に保持し，これらをソケット内に装着
する手段がある（図４，５参照）。また，プローブ内
に，直接触針を挿入して弾性的に保持させる手段もあ
る。上記弾性的に保持する手段としては，スプリングバ
ネがある。That is, contact pins are attached to a guide plate facing the printed wiring board so as to be able to move forward and backward, and a probe is fixed to the pin board facing the guide plate. And
A stylus is incorporated in the probe so as to be elastically movable back and forth.
Thus, as a means for incorporating the stylus, there is a means for elastically holding the stylus in the tube and mounting these in the socket (see FIGS. 4 and 5). There is also a means for elastically holding the probe by inserting a direct contact needle into the probe. There is a spring spring as the elastically holding means.

【００１８】また，コンタクトピンはガイド板のガイド
孔に進退可能に装着する。コンタクトピンは，配線回路
に当接させる先端を有すると共に，その反対側に触針を
当接させる当接部を有する。該当接部は，コンタクトピ
ンの本体よりも大きな径を有する頭部を有することが好
ましい。また，該当接部には，触針の当接を確実にする
ために，曲面凹部を設けることが好ましい（図６参
照）。また，本発明の検査治具においては，ガイド板及
びピンボードに本発明に関する上記構成のコンタクトピ
ン及びプローブを設けると共に，プリント配線板の配線
回路が高密度でない部分を検査するために，上記従来例
と同様の比較的大径のプローブピンを併設することもで
きる。Further, the contact pin is mounted in the guide hole of the guide plate so as to be able to move back and forth. The contact pin has a tip that abuts on the wiring circuit, and an abutting portion that abuts the stylus on the opposite side. The abutting portion preferably has a head portion having a larger diameter than the main body of the contact pin. Further, it is preferable to provide a curved surface concave portion at the contact portion to ensure contact of the stylus (see FIG. 6). In addition, in the inspection jig of the present invention, the guide pin and the pin board are provided with the contact pins and the probe having the above-mentioned configuration according to the present invention, and the above-mentioned conventional method is used to inspect a portion where the wiring circuit of the printed wiring board is not high density. It is also possible to install a probe pin having a relatively large diameter similar to the example.

【００１９】また，本発明において他に注目すべきこと
は，プローブを検査器と電気的に接続する手段として，
ピンボードの外部に端子ボードを配設し，該端子ボード
には，一端を検査器に接続した複数のジャック型端子を
配置し，一方，プローブにはリードワイヤーを半田付け
等により接続し，該リードワイヤーの他端はジャック型
端子に着脱可能に挿入固定するようにしたことである。Another point to be noted in the present invention is that as means for electrically connecting the probe to the inspection device,
A terminal board is arranged outside the pin board, and a plurality of jack type terminals whose one end is connected to an inspection device are arranged on the terminal board, while a lead wire is connected to the probe by soldering or the like. The other end of the lead wire is detachably inserted and fixed to the jack type terminal.

【００２０】即ち，検査器と，プローブ回りのいわゆる
検出部との間に，端子ボードを設ける。該端子ボードの
一方は検査器と電気的接続し，他方はプローブと接続す
る。端子ボードとプローブの接続は，プローブの頂部に
接続したリードワイヤーをジャック型端子に挿入するこ
とにより行う。なお，リードワイヤーの端末部の被覆や
被膜は予め除去しておく。また，端子ボードのジャック
型端子は，プローブのリードワイヤーの接続が，その抜
き差しによって着脱容易な構造とする。That is, a terminal board is provided between the inspector and the so-called detecting section around the probe. One of the terminal boards is electrically connected to the inspector and the other is connected to the probe. The terminal board and probe are connected by inserting the lead wire connected to the top of the probe into the jack type terminal. The coating or coating on the end of the lead wire should be removed in advance. Also, the jack type terminal of the terminal board shall have a structure in which the lead wire of the probe can be easily attached and detached by inserting and removing it.

【００２１】[0021]

【作用及び効果】本発明の検査治具においては，ガイド
板にコンタクトピンを，ピンボードにプローブを設け，
コンタクトピンをプリント配線板の配線回路に当接さ
せ，プローブの触針はコンタクトピンに当接させるよう
構成している。即ち，本発明においては，ガイド孔内を
スライドして配線回路に当接する部分（コンタクトピ
ン）と，電気導通の検出端であるプローブとを２つに分
けた構成としている。 そのため，コンタクトピンの進
退と，プローブの触針の進退とは独立した状態にある。In the inspection jig of the present invention, contact pins are provided on the guide plate and probes are provided on the pin board.
The contact pin is brought into contact with the wiring circuit of the printed wiring board, and the stylus of the probe is brought into contact with the contact pin. That is, in the present invention, a portion (contact pin) that slides in the guide hole and comes into contact with the wiring circuit and a probe that is a detection end of electrical conduction are divided into two parts. Therefore, the contact pin advance / retreat and the probe stylus advance / retreat are independent.

【００２２】それ故，ピンボードに固定したプローブ
と，その内部に挿入した触針と，コンタクトピンが進退
するガイド板のガイド孔との３つの軸芯を，高精度で一
致させる必要がない。したがって，ガイド孔の軸芯の孔
明けは，プリント配線板の配線回路に一致させて穿設す
れば良く，従来のごとく高精度が要求されず，穿設容易
である。また，ガイド孔はコンタクトピンのみの円滑ス
ライドを可能とすれば良いので，細径のものを設けるこ
とができ，コンタクトピンのガタつきも小さくすること
ができる。また，コンタクトピンが摩耗した際には，容
易に，しかも安価に交換することができる。Therefore, it is not necessary to precisely match the three axes of the probe fixed to the pin board, the stylus inserted therein, and the guide hole of the guide plate through which the contact pin advances and retracts. Therefore, it is sufficient that the axial center of the guide hole is drilled in conformity with the wiring circuit of the printed wiring board, and high precision is not required as in the conventional case, and the drilling is easy. Further, since it is sufficient that only the contact pin can be smoothly slid in the guide hole, it is possible to provide the guide hole with a small diameter and reduce the rattling of the contact pin. Further, when the contact pin is worn, it can be replaced easily and at low cost.

【００２３】また，プローブは，直接に配線回路に当接
させないので，従来のごとく損傷を受けることがない。
また，コンタクトピンは，配線回路に直接当接しガイド
孔内をスライドするが，従来のプローブの触針のごと
く，ガイド孔とプローブのソケット内の両方を直線状に
進退することがないので，軸芯ズレ等により損傷を受け
ることがない。Since the probe is not directly brought into contact with the wiring circuit, it is not damaged as in the conventional case.
Moreover, the contact pin slides in the guide hole by directly contacting the wiring circuit, but unlike the conventional probe stylus, it does not move back and forth linearly in both the guide hole and the socket of the probe. It is not damaged by misalignment.

【００２４】また，上記のごとく，コンタクトピンとプ
ローブとに分割構成し，検査時における両者の進退に無
理を生じないようにしたので，両者を細径化することも
できる。そのため，高密度配線回路の検査も容易であ
る。また，プローブは，０．１〜０．３ｍｍという細い
内径のソケット内に，弾性的に，進退可能に装着した構
成である。そのため，高価な精密部品であるが，上記の
ごとく損傷がないため，検査治具もコスト安となる。Further, as described above, since the contact pin and the probe are separately configured to prevent the forward and backward movement of both of them during the inspection, it is possible to reduce the diameter of both. Therefore, it is easy to inspect high-density wiring circuits. Moreover, the probe is elastically mounted in a socket having a small inner diameter of 0.1 to 0.3 mm so as to be able to move forward and backward. Therefore, although it is an expensive precision part, it is not damaged as described above, so the cost of the inspection jig is also low.

【００２５】また，本発明の検査治具は，検査器とプロ
ーブ回りのいわゆる検出部との電気的接続が容易であ
る。即ち，本発明では，プローブに取付けられたリード
ワイヤーを，端子ボードに設けたジャック型端子に挿入
することにより，検査器と検出部が容易に電気的に接続
される。また，上記リードワイヤーをジャック型端子か
ら引抜くことにより，検査器から検出部を容易に切り離
すことができる。Further, in the inspection jig of the present invention, it is easy to electrically connect the inspection device and the so-called detection portion around the probe. That is, in the present invention, by inserting the lead wire attached to the probe into the jack type terminal provided on the terminal board, the inspector and the detector can be easily electrically connected. Further, by pulling out the lead wire from the jack type terminal, the detecting portion can be easily separated from the inspection device.

【００２６】そのため，検査対象のプリント配線板の変
更に伴う検出部の交換が極めて容易である。また，本発
明では，リードワイヤーはプローブの頂部に半田付け等
によって取付けられ，またリードワイヤーの他端は，被
膜などを除去して，ワイヤが露出した構造となってい
る。そのため，リードワイヤーはプローブをピンボード
から取外すとき，取外しの障害になることはない。それ
故，プローブは他端を開放したリードワイヤーを取付け
たままの状態で，ピンボード及びガイド板から容易に取
外しが可能である。Therefore, it is extremely easy to replace the detection unit when the printed wiring board to be inspected is changed. Further, in the present invention, the lead wire is attached to the top of the probe by soldering or the like, and the other end of the lead wire has a structure in which the wire is exposed by removing the coating film or the like. Therefore, the lead wire does not obstruct the removal of the probe from the pin board. Therefore, the probe can be easily removed from the pin board and the guide plate with the lead wire having the other end open.

【００２７】また，前記のようにコンタクトピンの取外
しも容易である。従って精密加工部品であり，高価なプ
ローブ及びコンタクトピンをピンボード及びガイド板よ
り取り外して，他の検出部に取付けて再利用することが
できる。したがって，本発明によれば，プローブの触針
の細径化と損傷防止に対応でき，また検査器との電気的
接続と取外しが容易で，かつプローブ及びコンタクトピ
ンの再利用ができる，プリント配線板の検査治具を提供
することができる。Further, as described above, the contact pin can be easily removed. Therefore, it is a precision-machined component, and the expensive probe and contact pin can be detached from the pin board and the guide plate and attached to another detection unit for reuse. Therefore, according to the present invention, it is possible to reduce the diameter of the stylus of the probe and prevent the damage, and to easily connect and disconnect the probe from the inspection device and reuse the probe and the contact pin. A plate inspection jig can be provided.

【００２８】[0028]

【実施例】【Example】

実施例１ 本発明の実施例にかかる，プリント配線板の検査治具に
つき，図１〜図１０を用いて説明する。なお，全体の構
成を，コンタクトピンをプリント配線板と当接させて，
プローブの他端に信号を伝える検出部と，プローブの上
端からリードワイヤーを経由して検査器に至る中継部と
に分けて説明する。Example 1 An inspection jig for a printed wiring board according to an example of the present invention will be described with reference to FIGS. In addition, the whole structure is as follows.
A description will be given separately for the detection unit that transmits a signal to the other end of the probe and the relay unit that reaches the inspection device from the upper end of the probe via the lead wire.

【００２９】本例の検査治具の検出部は，図１〜図３に
示すごとく，ガイド板８とピンボード８８と，配線回路
７１と当接させるためのコンタクトピン３と，該コンタ
クトピン３に当接させるための触針２を内蔵したプロー
ブ１とよりなる。また，上記コンタクトピン３は，上記
ガイド板８に進退可能に装着され，また上記触針２はプ
ローブ１のソケット１１内に弾性的に進退可能に内蔵さ
れている。なお，後述するごとく，プローブ１に接続し
たリードワイヤー１５は端子ボード４のジャック型端子
４１に着脱可能に挿入されている（図１０）。As shown in FIGS. 1 to 3, the detection portion of the inspection jig of this embodiment includes a guide plate 8, a pin board 88, a contact pin 3 for contacting the wiring circuit 71, and the contact pin 3. The probe 1 has a built-in stylus 2 for making contact with the probe 1. Further, the contact pin 3 is mounted on the guide plate 8 so as to be movable back and forth, and the stylus 2 is built in the socket 11 of the probe 1 so as to be elastically movable forward and backward. As will be described later, the lead wire 15 connected to the probe 1 is removably inserted into the jack type terminal 41 of the terminal board 4 (FIG. 10).

【００３０】上記配線回路７１は，プリント配線板７に
おいて高密度配置されたものである。上記ガイド板８と
ピンボード８８とは，従来と同様にノックピン８９１に
より，脱着可能に，一体的に結合されている。ガイド板
８は，図１〜３，図７，図８に示すごとく，コンタクト
ピン３を，進退可能に装着するための多数のガイド孔８
５と，開口溝８６を有する。また，ピンボード８８は，
図２，３に示すごとく，プローブ１のソケット１１を挿
通固定するための貫通孔８８２を有する。The wiring circuits 71 are arranged in high density on the printed wiring board 7. The guide plate 8 and the pin board 88 are detachably and integrally coupled by a knock pin 891 as in the conventional case. As shown in FIGS. 1 to 3, 7, and 8, the guide plate 8 has a large number of guide holes 8 for mounting the contact pins 3 so that the contact pins 3 can move forward and backward.
5 and an opening groove 86. In addition, the pin board 88,
As shown in FIGS. 2 and 3, there is a through hole 882 for inserting and fixing the socket 11 of the probe 1.

【００３１】上記コンタクトピン３は，図２，図３，図
６に示すごとく，配線回路７１に当接させるための先端
３１と，触針２を当接させるための当接部としての，頭
部３２を有する。また，該頭部３２は，曲面凹部３２１
を有する（図６）。また，プローブ１は，図２〜図５に
示すごとく，ソケット１１とその中へ進退可能に挿通し
た触針２とからなる。ソケット１１は，図４に示すごと
く，中空パイプであり，触針２の挿入側にフランジ１１
０を有する。また，プローブ１の上端１２にはリードワ
イヤー１５を半田付けにより接続している。As shown in FIGS. 2, 3 and 6, the contact pin 3 has a tip 31 for contacting the wiring circuit 71 and a head for contacting the stylus 2. It has a part 32. In addition, the head 32 has a curved concave portion 321.
(FIG. 6). As shown in FIGS. 2 to 5, the probe 1 is composed of a socket 11 and a stylus 2 which is inserted into the socket 11 so as to be movable back and forth. As shown in FIG. 4, the socket 11 is a hollow pipe and has a flange 11 on the insertion side of the stylus 2.
Has 0. A lead wire 15 is connected to the upper end 12 of the probe 1 by soldering.

【００３２】一方，触針２は，図４，図５に示すごと
く，チューブ２５内に進退可能に装着されている。即
ち，触針２は，図５に示すごとく，上部に触針２とほぼ
同径のガイド柱２２を有し，両者の間には細径の連結部
２１を有する。そして，チューブ２５の中に，まずスプ
リングバネ２３を入れ，次いで上記触針２を挿入した
後，上記触針の連結部２１の外側部分において，チュー
ブ２５のかしめを行い，かしめ部２５１を形成する。On the other hand, the stylus 2 is mounted in the tube 25 so as to be movable back and forth, as shown in FIGS. That is, as shown in FIG. 5, the stylus 2 has a guide column 22 having substantially the same diameter as that of the stylus 2, and a thin connecting portion 21 between the two. Then, the spring 25 is first put in the tube 25, and then the stylus 2 is inserted. Then, the tube 25 is caulked at the outer side of the connecting portion 21 of the stylus to form the caulked portion 251. .

【００３３】これにより，触針２は，チューブ２５内に
おいて，上記スプリングバネ２３により弾性的に，進退
可能に装着される。なお，符号２５２は，チューブ２５
の上端部に設けた，スプリングバネ２３の上端を当接さ
せるためのかしめ部である。そして，このように構成し
た触針２は，上記図４に示すごとく，ソケット１１の中
空部１１１内へ挿入する。このとき，触針２を保持した
チューブ２５の上端は，ソケット１１のかしめ部１１３
に当接する。更に，上記のごとく構成したプローブ１
は，図１〜図３に示すごとく，ピンボード８８の貫通孔
８８２内へ，挿入し，着脱可能に固定する。その他は，
前記従来例と同様である。As a result, the stylus 2 is elastically mounted in the tube 25 by the spring spring 23 so as to be movable back and forth. The reference numeral 252 indicates the tube 25.
Is a caulking portion provided at the upper end of the spring for contacting the upper end of the spring spring 23. Then, the stylus 2 thus configured is inserted into the hollow portion 111 of the socket 11 as shown in FIG. At this time, the upper end of the tube 25 holding the stylus 2 has the caulked portion 113 of the socket 11.
Abut. Further, the probe 1 configured as described above
1 to 3, is inserted into the through hole 882 of the pin board 88 and is detachably fixed. Others,
This is similar to the conventional example.

【００３４】次に，検出部の作用効果につき説明する。
即ち，プリント配線板７における配線回路７１の良否を
電気導通により検査するに当たっては，図１〜図３に示
すごとく，各配線回路７１に対してガイド板８及びピン
ボード８８を，上下方向より接近させ，ガイド板８をプ
リント配線板７に対面させる。Next, the function and effect of the detector will be described.
That is, when inspecting the quality of the wiring circuit 71 on the printed wiring board 7 by electrical conduction, as shown in FIGS. 1 to 3, the guide plate 8 and the pin board 88 are approached to each wiring circuit 71 from above and below. Then, the guide plate 8 faces the printed wiring board 7.

【００３５】このとき，両者の当接前においては，コン
タクトピン３は，図２に示すごとく，ガイド板８よりも
突出した状態にある。また，コンタクトピン３の頭部３
２には，プローブ１の触針２の先端２１が当接してい
る。そして，ガイド板８がプリント配線板７に当接し，
コンタクトピン３の先端３１が配線回路７１に当接する
ときには，コンタクトピン３はガイド孔８５内をスライ
ド上昇する。そして，図３に示すごとく，コンタクトピ
ンの先端３１はガイド板８の下面とほぼ同じ位置に来
る。At this time, before the contact between the two, the contact pin 3 is in a state of protruding from the guide plate 8 as shown in FIG. Also, the head 3 of the contact pin 3
The tip 21 of the stylus 2 of the probe 1 is in contact with 2. Then, the guide plate 8 contacts the printed wiring board 7,
When the tip 31 of the contact pin 3 comes into contact with the wiring circuit 71, the contact pin 3 slides up in the guide hole 85. Then, as shown in FIG. 3, the tip 31 of the contact pin is located at substantially the same position as the lower surface of the guide plate 8.

【００３６】そこで，コンタクトピン３の頭部３２は，
触針２をプローブ１の方向に押圧する。そのため，触針
２は，上記スプリングバネ２３（図５）の付勢力に抗し
て，チューブ２５内に侵入する。このように，コンタク
トピン３の先端３１が，配線回路７１と当接した後，上
記リードワイヤー１５を介して，プローブ１，触針２，
コンタクトピン３に電流を通じ，配線回路７１の良否を
従来と同様に判断する（図１）。Therefore, the head 32 of the contact pin 3 is
The stylus 2 is pressed toward the probe 1. Therefore, the stylus 2 enters the tube 25 against the biasing force of the spring spring 23 (FIG. 5). Thus, after the tip 31 of the contact pin 3 comes into contact with the wiring circuit 71, the probe 1, the stylus 2, and the stylus 2, via the lead wire 15.
A current is passed through the contact pin 3 to judge the quality of the wiring circuit 71 as in the conventional case (FIG. 1).

【００３７】また，検査終了後は，ガイド板８等をプリ
ント配線板７より遠ざける。そのため，コンタクトピン
３は，触針２のスプリングバネ２３の付勢力により，図
２に示すごとく突出する。上記のごとく，本例の検査治
具においては，コンタクトピン３をガイド板８に進退可
能に装着し，またプローブ１はピンボード８８に固定す
ると共に該プローブ１内に進退可能に触針２を装着して
いる。After the inspection, the guide plate 8 and the like are moved away from the printed wiring board 7. Therefore, the contact pin 3 projects as shown in FIG. 2 by the biasing force of the spring spring 23 of the stylus 2. As described above, in the inspection jig of this example, the contact pin 3 is mounted on the guide plate 8 so as to be movable back and forth, and the probe 1 is fixed to the pin board 88 and the stylus 2 is movable so as to move back and forth inside the probe 1. I am wearing it.

【００３８】そのため，コンタクトピン３の進退と，触
針の進退とは独立した状態にある。それ故，従来のごと
く，ピンボード８８に固定したプローブ１と，その内部
に挿入した触針２と，該触針が進退するガイド板のガイ
ド孔８５との３つの軸芯を高精度で一致させる必要がな
い。即ち，本例においては，コンタクトピン３の軸芯と
触針２の軸芯とに位置ずれが生じていても，両者が当接
しておれば支障がない（図２，３）。Therefore, the movement of the contact pin 3 and the movement of the stylus are independent of each other. Therefore, as in the prior art, the three axes of the probe 1 fixed to the pin board 88, the stylus 2 inserted therein, and the guide hole 85 of the guide plate through which the stylus advances and retracts are matched with high accuracy. You don't have to let me. That is, in this example, even if the axial center of the contact pin 3 and the axial center of the stylus 2 are misaligned, there is no problem as long as they are in contact with each other (FIGS. 2 and 3).

【００３９】また，そのため，ガイド孔８５はプリント
配線板の配線回路に一致させて穿設すれば良い。したが
って，ガイド孔８５及びピンボード８８の孔の軸芯に関
する穴明け精度は高精度が要求されず，穿設容易であ
る。また，ガイド孔８５は，コンタクトピン３のみの円
滑スライドを可能とすれば良いので，細径のものを設け
ることができ，ガタつきもない。Therefore, the guide hole 85 may be formed so as to match the wiring circuit of the printed wiring board. Therefore, high precision is not required for the drilling accuracy with respect to the shaft center of the guide hole 85 and the hole of the pin board 88, and the drilling is easy. Further, since the guide hole 85 only needs to be able to smoothly slide the contact pin 3, it can be provided with a small diameter and is free from rattling.

【００４０】また，プローブ１は，その触針２を直接に
配線回路７１に当接させないので，従来のごとく，損傷
を受けることがない。また，コンタクトピン３は配線回
路７１に直接当接し，ガイド孔８５内をスライドする
が，従来のプローブの触針のごとく，ガイド孔８５内と
プローブのソケット内の両方を直線状に進退することが
ない。そのため，両者間の軸芯ずれ等による損傷を受け
ることもない。Further, since the probe 1 does not directly contact the stylus 2 with the wiring circuit 71, it is not damaged as in the conventional case. Further, the contact pin 3 directly abuts on the wiring circuit 71 and slides in the guide hole 85. However, like the stylus of a conventional probe, the contact pin 3 must be linearly advanced and retracted both in the guide hole 85 and in the probe socket. There is no. Therefore, there is no damage due to misalignment of the shaft center between the two.

【００４１】更に，コンタクトピン３とプローブ１とに
分割構成し，検査時における両者の進退に無理を生じな
いようにしたので，両者をそれぞれ細径化することがで
きる。本例においては，上記コンタクトピン３の直径は
０．２７ｍｍ，プローブ１のソケットの外径は０．４５
ｍｍ，内径は０．２７ｍｍ，触針２の外径は０．１５ｍ
ｍである。また，本例のコンタクトピン３においては，
その頭部３２に曲面凹部３２１を設けたので，該頭部３
２に触針２の先端２０を確実に当接させておくことがで
きる。Further, since the contact pin 3 and the probe 1 are separately configured so as not to cause an unreasonable increase / decrease in the both during the inspection, both of them can be thinned. In this example, the diameter of the contact pin 3 is 0.27 mm, and the outer diameter of the socket of the probe 1 is 0.45 mm.
mm, inner diameter is 0.27 mm, outer diameter of stylus 2 is 0.15 m
m. In addition, in the contact pin 3 of this example,
Since the curved portion 321 is provided on the head 32, the head 3
The tip 20 of the stylus 2 can be reliably brought into contact with the needle 2.

【００４２】次に，本実施例の中継部（プローブの上端
から，リードワイヤーを経由して検査器に至る部分）を
図１，図９，図１０を用いて説明する。本例の中継部に
おいては，図１に示すように，ピンボード８８の外部
に，端子ボード４を配設し，該端子ボード４には，一端
を検査器１８に接続した複数のジャック型端子４１を配
置する。一方，上記プローブ１には，上端１２にリード
ワイヤー１５を接続する。ジャック型端子４１には，上
記リードワイヤー１５の先端１５２を着脱可能に挿入固
定する。Next, the relay portion (the portion from the upper end of the probe to the inspection device via the lead wire) of this embodiment will be described with reference to FIGS. 1, 9 and 10. In the relay section of this example, as shown in FIG. 1, a terminal board 4 is provided outside the pin board 88, and the terminal board 4 has a plurality of jack-type terminals whose one end is connected to the inspector 18. 41 is arranged. On the other hand, a lead wire 15 is connected to the upper end 12 of the probe 1. The tip 152 of the lead wire 15 is detachably inserted and fixed to the jack type terminal 41.

【００４３】ジャック型端子４１と検査器１８との接続
は，リード線１６によってなされる（図１，図１０）。
一方，プローブ１の上端１２には，リードワイヤー１５
の一端１５１が半田付けによって接続される（図１，図
４）。該リードワイヤー１５の先端は，図１０に示すよ
うに，被覆，被膜などの絶縁物を除去して導体露出部１
５２を形成する。該導体露出部１５２は，ジャック型端
子４１の開口部４１１に挿入する。これにより，プロー
ブ１とジャック型端子４１との間が電気的に接続され，
更にリード線１６を経由して検査器１８に接続される。The connection between the jack type terminal 41 and the inspection device 18 is made by the lead wire 16 (FIGS. 1 and 10).
On the other hand, on the upper end 12 of the probe 1, a lead wire 15
One end 151 is connected by soldering (FIGS. 1 and 4). At the tip of the lead wire 15, as shown in FIG. 10, the conductor exposed portion 1 is obtained by removing the insulating material such as coating and film.
52 is formed. The conductor exposed portion 152 is inserted into the opening 411 of the jack type terminal 41. As a result, the probe 1 and the jack-type terminal 41 are electrically connected,
Further, it is connected to the inspection device 18 via the lead wire 16.

【００４４】また，ジャック型端子４１は，図９，図１
０に示すようにリードワイヤーを挿入し易い円形の開口
部４１１を有し，挿入されたリードワイヤー１５をくび
れ部４１２のスプリングアクションにより弾性的に把持
する。また，該ジャック型端子４１のリードワイヤーの
把持力は，人力で容易にリードワイヤーを引抜くことが
できる程度の引張り荷重に選定する。次に，本例の中継
部の作用効果ついて述べる。本例では上記リードワイヤ
ー１５の導体露出部１５２を，上記ジャック型端子４１
に挿入することにより，検査器１８とプローブ１とが容
易に電気的に接続される。また，上記リードワイヤー１
５の導体露出部１５２を，上記ジャック型端子４１から
引抜くことにより，検出部を検査器１８から容易に切り
離すことができる。従って検査器１８と検査部との接触
と取外しが極めて容易であり，検査対象のプリント配線
板７の変更に伴う検出部の交換が極めて容易である。Further, the jack type terminal 41 is shown in FIGS.
As shown in 0, it has a circular opening 411 into which the lead wire is easily inserted, and the inserted lead wire 15 is elastically gripped by the spring action of the constricted portion 412. Further, the gripping force of the lead wire of the jack-type terminal 41 is selected to be a pulling load such that the lead wire can be easily pulled out manually. Next, the function and effect of the relay section of this example will be described. In this example, the conductor exposed portion 152 of the lead wire 15 is connected to the jack type terminal 41.
The probe 18 and the inspection device 18 are easily electrically connected by inserting the probe 1 into the probe 1. Also, the lead wire 1
By pulling out the conductor exposed portion 152 of No. 5 from the jack type terminal 41, the detection portion can be easily separated from the inspection device 18. Therefore, it is extremely easy to contact and remove the inspector 18 and the inspection unit, and it is very easy to replace the detection unit when the printed wiring board 7 to be inspected is changed.

【００４５】また本例では，リードワイヤー１５の先端
に導体露出部１５２を形成するだけでよく，格別の部品
等を取付ける必要がない。従って，リードワイヤー１５
をプローブ１に取付けたまま，プローブ１をピンボード
８８から取外すことが容易である。従ってプローブ１及
びコンタクトピン３を取外して，他のプリント配線板用
の検出部に再利用することができる。Further, in this example, the conductor exposed portion 152 is only required to be formed at the tip of the lead wire 15, and it is not necessary to attach a special component or the like. Therefore, the lead wire 15
It is easy to remove the probe 1 from the pin board 88 with the probe attached to the probe 1. Therefore, the probe 1 and the contact pin 3 can be removed and reused as a detection unit for another printed wiring board.

【００４６】このように，本実施例によれば，高密度配
線回路に対しても，プローブ触針の細径化と損傷防止に
対応でき，かつガイド孔の穿設が容易であり，かつ検査
器との電気的接続と取外しが容易な，更にプローブ及び
コンタクトピンの再利用が可能なプリント配線板の検査
治具が提供できる。As described above, according to this embodiment, even for a high-density wiring circuit, the probe stylus can be made thinner and damage can be prevented, and the guide hole can be easily drilled. Provided is a jig for inspecting a printed wiring board, in which the probe and the contact pin can be reused easily and electrically connected to and detached from the device.

【００４７】実施例２ 本例は，実施例１においてジャック型端子４１の構造を
変えたものである。本例では図１１に示すように，ジャ
ック型端子４１は，円筒状ではなく，溝形の開口部４１
１を有する。また，その内部にスプリングアクションを
有するくびれ部４１２を有し，リードワイヤー１５を弾
力的に把持する。その他は，実施例１と同様であり，同
様の効果を得ることができる。Example 2 In this example, the structure of the jack type terminal 41 in Example 1 is changed. In this example, as shown in FIG. 11, the jack-type terminal 41 has a groove-shaped opening 41 instead of a cylindrical shape.
Has 1. Further, it has a constricted portion 412 having a spring action therein, and elastically grips the lead wire 15. Others are similar to those of the first embodiment, and similar effects can be obtained.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図１】実施例１における，検査治具の全体説明図。FIG. 1 is an overall explanatory view of an inspection jig according to a first embodiment.

【図２】実施例１における，検査前の状態の，コンタク
トピン及びプリント配線板周りの断面図。FIG. 2 is a cross-sectional view around contact pins and a printed wiring board in a state before inspection according to the first embodiment.

【図３】実施例１における，検査時点のコンタクトピン
及びプリント配線板周りの断面図。FIG. 3 is a cross-sectional view around contact pins and a printed wiring board at the time of inspection in the first embodiment.

【図４】実施例１のプローブにおける，ソケット及び触
針の展開正面図。FIG. 4 is a developed front view of a socket and a stylus in the probe of the first embodiment.

【図５】実施例１における，プローブの先端部分の断面
図。FIG. 5 is a cross-sectional view of the tip portion of the probe in the first embodiment.

【図６】実施例１における，コンタクトピンの正面図。FIG. 6 is a front view of the contact pin according to the first embodiment.

【図７】実施例１における，ガイド板の平面図。FIG. 7 is a plan view of the guide plate according to the first embodiment.

【図８】図７のＡ−Ａ線矢視断面図。8 is a sectional view taken along the line AA of FIG.

【図９】実施例１における，端子ボードの斜視図。FIG. 9 is a perspective view of the terminal board according to the first embodiment.

【図１０】実施例１における，リードワイヤーとジャッ
ク型端子の接続部拡大図。FIG. 10 is an enlarged view of the connecting portion between the lead wire and the jack type terminal in the first embodiment.

【図１１】実施例２における，リードワイヤーとジャッ
ク型端子の接続部拡大図。FIG. 11 is an enlarged view of the connecting portion between the lead wire and the jack type terminal in the second embodiment.

【図１２】従来例における，検査治具の全体説明図。FIG. 12 is an overall explanatory view of an inspection jig in a conventional example.

【図１３】従来例における検査治具のプローブ周りの説
明図。FIG. 13 is an explanatory view around the probe of the inspection jig in the conventional example.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

１．．．プローブ， １１．．．ソケット， １５．．．リードワイヤー， １５２．．．導体露出部， １６．．．リード線， １８．．．検査器， ２．．．触針， ２５．．．チューブ， ３．．．コンタクトピン， ３１．．．先端， ４．．．端子ボード， ４１．．．ジャック型端子， ７．．．プリント配線板， ７１．．．高密度ピッチの配線回路， ７５．．．通常配線ピッチの配線回路， ８．．．ガイド板， ８５．．．ガイド孔， ８８．．．ピンボード， 1. ． ． Probe, 11. ． ． Socket, 15. ． ． Lead wire, 152. ． ． Exposed conductor part, 16. ． ． Lead wire, 18. ． ． Inspector, 2. ． ． Stylus, 25. ． ． Tube, 3. ． ． Contact pin, 31. ． ． Tip, 4. ． ． Terminal board, 41. ． ． Jack type terminal, 7. ． ． Printed wiring board, 71. ． ． High-density pitch wiring circuit, 75. ． ． 7. Wiring circuit with normal wiring pitch, 8. ． ． Guide plate, 85. ． ． Guide hole, 88. ． ． Pin board,

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項１】 プリント配線板における配線回路を電気
導通の有無により検査する検査治具であって，該検査治
具は，ガイド板と，ピンボードと，上記配線回路と当接
させるためのコンタクトピンと，該コンタクトピンに当
接させるための触針を内蔵したプローブとよりなり，か
つ上記コンタクトピンは上記ガイド板に進退可能に装着
され，また上記触針はプローブに弾性的に進退可能に内
蔵されており，またピンボードの外部には端子ボードを
配設し，該端子ボードには，一端を検査器に接続した複
数のジャック型端子を配置し，一方上記プローブには，
リードワイヤーを接続し，上記ジャック型端子には，上
記リードワイヤーの先端を着脱可能に挿入固定してなる
ことを特徴とするプリント配線板の検査治具。1. An inspection jig for inspecting a wiring circuit on a printed wiring board by the presence or absence of electrical continuity, the inspection jig including a guide plate, a pin board, and a contact for contacting the wiring circuit. The probe includes a pin and a probe having a stylus for contacting the contact pin, and the contact pin is attached to the guide plate so as to be able to move forward and backward. In addition, a terminal board is arranged outside the pin board, and a plurality of jack type terminals whose one end is connected to an inspector are arranged on the terminal board, while the probe is
An inspection jig for a printed wiring board, characterized in that a lead wire is connected and the tip of the lead wire is detachably inserted and fixed to the jack type terminal.