JP3134518B2 - Inspection jig for printed wiring board - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【０００１】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は，プリント配線板の検査
治具，特に高密度配線回路の検査に対して優れた効果を
発揮するプローブ回りの構成，及び検査器との電気的接
続と取外しとを容易にする端子ボード周りの構造に関す
る。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a jig for inspecting a printed wiring board, particularly a configuration around a probe which exerts an excellent effect on inspection of a high-density wiring circuit, and electrical connection and disconnection with an inspector. And a structure around the terminal board to facilitate the above.

【０００２】[0002]

【従来技術】プリント配線板における配線回路を，電気
導通の有無により検査する方法，及びその装置として
は，種々のものが提案されている（例えば，特公平２−
４４０３５号公報，特開昭５６−１１００６０号公
報）。そして，従来用いられている，プリント配線板の
検査治具としては，図１３及び図１４に示すごとく，プ
リント配線板７の配線回路７５に対して，プローブ９の
触針９２を当接させることにより，電気導通の有無を検
査するものである。2. Description of the Related Art Various methods have been proposed for inspecting a wiring circuit on a printed wiring board based on the presence or absence of electrical continuity, and an apparatus therefor (for example, Japanese Patent Application Publication No. Hei.
44035, JP-A-56-11060). As a conventionally used jig for inspecting a printed wiring board, as shown in FIGS. 13 and 14, a stylus 92 of the probe 9 is brought into contact with a wiring circuit 75 of the printed wiring board 7. Is used to check for electrical continuity.

【０００３】該検査治具は，プローブの先端のガタツキ
を防止するためのガイド板８と，プローブ９を保持する
ためのピンボード８８と，両者を貫通させて装着したプ
ローブ９とよりなる。プローブ９は，図１４にも示すご
とく，パイプ状のソケット９１と触針９２とを有する。
ソケット９１は，ピンボード８８の貫通孔８８１内に挿
通固定されている。一方，触針９２はガイド板８のガイ
ド孔８１内に，進退可能に挿通されている。そして，触
針９２は，その上部にプランジャー９２０を有する。該
プランジャー９２０は，チューブ２５の内腔内に，スプ
リングバネ（図示略）を介して，進退可能に装着されて
いる。The inspection jig comprises a guide plate 8 for preventing rattling of the tip of the probe, a pin board 88 for holding the probe 9, and a probe 9 having both of them penetrated and mounted. The probe 9 has a pipe-shaped socket 91 and a stylus 92 as shown in FIG.
The socket 91 is inserted and fixed in the through hole 881 of the pin board 88. On the other hand, the stylus 92 is inserted into the guide hole 81 of the guide plate 8 so as to be able to advance and retreat. The stylus 92 has a plunger 920 on its upper part. The plunger 920 is mounted in the lumen of the tube 25 via a spring (not shown) so as to be able to advance and retreat.

【０００４】上記プローブ９の上端は，電気導通を検出
するための検査器にリードワイヤーを経由して電気的に
接続されている。この場合，プローブ上端とリードワイ
ヤーとの接続は，半田付によってなされることが多い。
なお，ガイド板８は，ソケット９１の下端を配置するた
めの凹部８２を有する。また，上記プローブ９は，被検
査体としてのプリント配線板７の配線回路７５に対応し
た位置に設けてある。また，ガイド板８とピンボード８
８とは一体的に固定してある。The upper end of the probe 9 is electrically connected to a tester for detecting electrical continuity via a lead wire. In this case, the connection between the upper end of the probe and the lead wire is often made by soldering.
The guide plate 8 has a concave portion 82 for arranging the lower end of the socket 91. The probe 9 is provided at a position corresponding to the wiring circuit 75 of the printed wiring board 7 as an object to be inspected. The guide plate 8 and the pin board 8
8 is integrally fixed.

【０００５】そして，配線回路の電気導通の検査に当た
っては，プリント配線板７の上下より，上記ガイド板８
及びピンボード８８を下降及び上昇させ，プローブ９の
触針９２を配線回路７５の触針用パッド（以下省略）に
当接させる。このとき，当該配線回路７５が断線又はシ
ョートを生じていない場合には，正常な電気導通が得ら
れる。これにより，各配線回路７５の良否が判定でき
る。When inspecting the electrical continuity of the wiring circuit, the guide plate 8 is placed from above and below the printed wiring board 7.
Then, the pin board 88 is lowered and raised to bring the stylus 92 of the probe 9 into contact with the stylus pad of the wiring circuit 75 (hereinafter, omitted). At this time, if the wiring circuit 75 has not been disconnected or short-circuited, normal electrical conduction can be obtained. Thus, the quality of each wiring circuit 75 can be determined.

【０００６】また，上記において触針９２の先端９２１
を配線回路７５に当接させた際には，触針９２はガイド
板８のガイド孔８１に沿ってソケット９１側へ後退し，
そのプランジャー９２０がソケット９１内に侵入する。
これは，触針９２の先端９２１を保護するためである。
なお，図１３において，符号８７，８８６はノックピン
８９１の挿入穴，８７１，８８５は，位置決めピン８９
２の挿入穴である。In the above, the tip 921 of the stylus 92
Is brought into contact with the wiring circuit 75, the stylus 92 retreats toward the socket 91 along the guide hole 81 of the guide plate 8, and
The plunger 920 enters the socket 91.
This is to protect the tip 921 of the stylus 92.
In FIG. 13, reference numerals 87 and 886 denote insertion holes for knock pins 891, and reference numerals 871 and 885 denote positioning pins 89.
2 is an insertion hole.

【０００７】[0007]

【解決しようとする課題】しかしながら，上記従来の検
査治具には，次の問題がある。即ち，近年は，プリント
配線板における配線回路の高密度化が進み，配線回路の
端部であるパッドのピッチがますます狭くなっている。
例えば，このピッチは，従来は０．６５ｍｍ程度であっ
たが，高密度配線回路においては０．３ｍｍと狭くなっ
ている。However, the above-described conventional inspection jig has the following problems. That is, in recent years, the density of wiring circuits in printed wiring boards has been increasing, and the pitch of pads at the ends of the wiring circuits has become increasingly narrower.
For example, this pitch is about 0.65 mm in the past, but is reduced to 0.3 mm in a high-density wiring circuit.

【０００８】そこで，これに対応するため，プローブ９
の配列ピッチを狭くする必要があるため，プローブ自体
の大きさ（直径）も小さくする必要がある。そして，現
在使用されているプローブ９においても，そのソケット
９１の外径は約１ミリであり，また触針９２の直径は
０．５ｍｍと細径である。To cope with this, the probe 9
Since it is necessary to reduce the arrangement pitch of the probe, the size (diameter) of the probe itself also needs to be reduced. In the probe 9 currently used, the outer diameter of the socket 91 is about 1 mm, and the diameter of the stylus 92 is as small as 0.5 mm.

【０００９】また，従来の検査治具においては，検査に
当たって，触針９２の先端９２１を直接に配線回路７５
に当接させている。また，その当接の際には，上記のご
とく，触針９２がガイド板８のガイド穴８１内をスライ
ドして後退する。そして，検査後は，触針９２は，ソケ
ット９１内に設けたスプリングバネによって，再び元の
位置へ突出させられる。そのため，触針９２は，検査の
度毎にガイド孔８１内を摺動することになる。In the conventional inspection jig, the tip 921 of the stylus 92 is directly connected to the wiring circuit 75 during the inspection.
Is in contact with At the time of the contact, as described above, the stylus 92 slides in the guide hole 81 of the guide plate 8 and retreats. After the inspection, the stylus 92 is again projected to the original position by a spring spring provided in the socket 91. Therefore, the stylus 92 slides in the guide hole 81 every time the inspection is performed.

【００１０】それ故，触針９２が摩耗し易い。また，こ
の摩耗を防止するためガイド孔８１の径を大きくする
と，触針９２との間のクリアランスが大きくなり，触針
９２の先端９２１がガタつき，検査不良を生ずることが
ある。また，触針９２は，ピンボード８８に固定された
ソケット９１内に挿入されている。そのため，ソケット
９１と触針９２とガイド孔８１の軸芯は同一にしなけれ
ばならない。それ故，上記ガイド孔８１は，細径の触針
９２を円滑にスライドさせるために，上記軸芯が一致す
るように寸法精度良く，穴明けを行う必要がある。Therefore, the stylus 92 is easily worn. In addition, if the diameter of the guide hole 81 is increased to prevent this wear, the clearance between the guide hole 81 and the stylus 92 is increased, and the tip 921 of the stylus 92 may rattle, resulting in an inspection failure. The stylus 92 is inserted into a socket 91 fixed to the pin board 88. Therefore, the axes of the socket 91, the stylus 92, and the guide hole 81 must be the same. Therefore, in order to smoothly slide the small-diameter stylus 92, the guide hole 81 needs to be drilled with high dimensional accuracy so that the axes match.

【００１１】また，触針９２は，ソケット９１内とガイ
ド孔８１内を，同軸線状にスライドすると共に，その先
端９２１が配線回路７５と直接に当接するため，上記軸
芯ズレと当接による損傷を受け易い。上記のごとく，従
来の検査治具においては，配線回路の高密度化に伴っ
て，特にプローブの触針９２の細径化と損傷，ガイド孔
８１の穴明精度等に問題がある。The stylus 92 slides coaxially in the socket 91 and the guide hole 81, and the tip 921 of the stylus 92 directly contacts the wiring circuit 75. Vulnerable to damage. As described above, in the conventional inspection jig, there is a problem with the increase in the density of the wiring circuit, particularly, in the reduction in diameter and damage of the probe stylus 92, the accuracy of drilling the guide hole 81, and the like.

【００１２】また，プローブの上端は，リードワイヤー
を経由して検査器に電気的に接続され，検査回路が電気
的に閉路される。そして，従来は，数１０〜数１０００
本という多大の数のプローブの上端とリードワイヤーと
は半田付により接続されており，リードワイヤーの他端
は検査器に接続されている。Further, the upper end of the probe is electrically connected to an inspection device via a lead wire, and the inspection circuit is electrically closed. Conventionally, several tens to several thousands
The upper ends of a large number of probes, such as books, and the lead wires are connected by soldering, and the other ends of the lead wires are connected to an inspection device.

【００１３】一方，プリント配線板が変わる毎にプロー
ブの配列パターンが変わるから，プローブ回りのいわゆ
る検出部はプリント配線板毎に交換する必要がある。そ
のため，この交換時には，プローブとリードワイヤーと
の間の多大の数の上記半田付けを外さなければならず，
その取外し作業は大きな工数を必要とする。また，新し
い検査回路に応じて再び多数のリードワイヤーとプロー
ブとの半田付けをしなければならない。On the other hand, since the arrangement pattern of the probes changes each time the printed wiring board changes, it is necessary to replace the so-called detection section around the probe for each printed wiring board. Therefore, at the time of this replacement, a large number of the above soldering between the probe and the lead wire must be removed,
The removal work requires large man-hours. Also, a large number of lead wires and probes must be soldered again according to the new inspection circuit.

【００１４】また，プローブは上記のごとく，細径部品
であるため，高価な精密加工部品である。そのため，被
検査体の配線回路が変わる毎に新しいプローブを使用す
ることはコスト高となる。そのため，プローブが再利用
可能なことも切望されている。本発明はかかる従来の問
題点に鑑み，プローブの触針の細径化と損傷防止に対応
でき，検査器との電気的接続と取外しも容易で，かつプ
ローブの再利用ができるプリント配線板の検査治具を提
供しようとするものである。Further, as described above, since the probe is a small-diameter part, it is an expensive precision machined part. Therefore, it is costly to use a new probe every time the wiring circuit of the device under test changes. Therefore, it is also desired that the probe can be reused. The present invention has been made in view of the above-mentioned conventional problems, and has been developed to reduce the diameter of a stylus of a probe and prevent damage, to facilitate electrical connection and removal with an inspection device, and to reuse a probe. It is intended to provide an inspection jig.

【００１５】[0015]

【課題の解決手段】本発明は，プリント配線板における
配線回路を電気導通の有無により検査する検査治具であ
って，該検査治具は，ガイド板と，ピンボードと，上記
配線回路に当接させるためのコンタクトピンと，該コン
タクトピンに当接させるための触針を内蔵したプローブ
とよりなり，かつ上記コンタクトピンは上記ガイド板に
進退可能に装着され，また上記触針はプローブに弾性的
に進退可能に内蔵されており，検査器に接続されたコネ
クタボードと上記プローブとの間には，端子ボードとリ
ードワイヤーとリード線とを有し，端子ボードはプロー
ブ端子と対向するピン穴を有し，リードワイヤーは，一
端に上記端子ボードのピン穴に装着した端子ピンを有す
ると共に他端には導体露出部を形成しており，リード線
は，一端がコネクタボードに接続されていると共に他端
にはリードワイヤーを着脱することができる中継コネク
タを有することを特徴とするプリント配線板の検査治具
にある。The present invention relates to an inspection jig for inspecting a wiring circuit on a printed wiring board based on the presence or absence of electrical continuity. The inspection jig is applicable to a guide plate, a pin board, and the wiring circuit. The probe comprises a contact pin for making contact with the probe and a probe having a built-in stylus for making contact with the contact pin, and the contact pin is mounted on the guide plate so as to be able to advance and retreat. The probe has a terminal board, a lead wire, and a lead wire between the connector board connected to the inspection instrument and the probe, and the terminal board has a pin hole facing the probe terminal. The lead wire has at one end a terminal pin mounted in the pin hole of the terminal board and at the other end a conductor exposed portion, and the lead wire has one end connected. The other end with being connected to the board in inspection jig of a printed wiring board and having a relay connector that can attach and detach the lead wires.

【００１６】本発明において最も注目すべき第１の点
は，上記従来例の前記プローブをいわば２組に分割し，
コンタクトピンとプローブとに構成したこと，該コンタ
クトピンを配線回路に当接させ，一方プローブの触針は
コンタクトピンに当接させるよう構成したことである。The first point which is most noticeable in the present invention is that the probe of the conventional example is divided into two sets,
The contact pin and the probe are configured such that the contact pin is brought into contact with the wiring circuit, while the stylus of the probe is brought into contact with the contact pin.

【００１７】即ち，プリント配線板と対面するガイド板
には進退可能にコンタクトピンを装着し，上記ガイド板
に面するピンボードにはプローブを固定する。そして，
該プローブには，弾性的に進退可能に触針を内蔵する。
このように，触針を内蔵させる手段としては，触針をチ
ューブ内に弾性的に保持し，これらをソケット内に装着
する手段がある（図４，５参照）。また，プローブ内
に，直接触針を挿入して弾性的に保持させる手段もあ
る。上記弾性的に保持する手段としては，スプリングバ
ネがある。That is, contact pins are attached to the guide plate facing the printed wiring board so as to be able to advance and retreat, and a probe is fixed to the pin board facing the guide plate. And
The probe has a built-in stylus that is elastically movable.
Thus, as a means for incorporating the stylus, there is a means for elastically holding the stylus in the tube and mounting them in the socket (see FIGS. 4 and 5). There is also a means for inserting a direct contact needle into the probe to elastically hold it. As a means for elastically holding, there is a spring.

【００１８】また，コンタクトピンはガイド板のガイド
孔に進退可能に装着する。コンタクトピンは，配線回路
に当接させる先端を有すると共に，その反対側に触針を
当接させる当接部を有する。該当接部は，コンタクトピ
ンの本体よりも大きな径を有する頭部を有することが好
ましい。また，該当接部には，触針の当接を確実にする
ために，曲面凹部を設けることが好ましい（図６参
照）。The contact pins are mounted in the guide holes of the guide plate so as to be able to advance and retreat. The contact pin has a tip for making contact with the wiring circuit, and has a contact part for making the stylus contact with the opposite side. Preferably, the contact portion has a head having a larger diameter than the body of the contact pin. Further, it is preferable to provide a curved concave portion in the corresponding contact portion in order to ensure the contact of the stylus (see FIG. 6).

【００１９】また，本発明の検査治具においては，ガイ
ド板及びピンボードに本発明に関する上記構成のコンタ
クトピン及びプローブを設けると共に，プリント配線板
の配線回路が高密度でない部分を検査するために，上記
従来例と同様の比較的大径のプローブピンを併設するこ
ともできる。In the inspection jig of the present invention, the guide plate and the pin board are provided with the contact pins and probes having the above-described configuration according to the present invention, and the inspection jig is used for inspecting a portion of the printed circuit board where the wiring circuit is not dense. In addition, a probe pin having a relatively large diameter similar to the above-described conventional example can be provided.

【００２０】また，本発明において他に注目すべきこと
は，プローブと検査器とを電気的に接続する手段とし
て，検査器に接続されたコネクタボードと上記プローブ
との間に，端子ボードとリードワイヤーとリード線とを
設けて接続するようにしたことであり，またリード線に
は中継コネクタを取付けたことである。Another thing to note in the present invention is that, as means for electrically connecting the probe and the inspection device, a terminal board and a lead are provided between the connector board connected to the inspection device and the probe. That is, a wire and a lead wire are provided and connected, and a relay connector is attached to the lead wire.

【００２１】即ち，ピンボードの外部には，ピンボード
に対して着脱可能な端子ボードを設けている。該端子ボ
ードのピン穴には端子ピンが装着されていて，端子ボー
ドをピンボードに装着したときプローブのプローブ端子
と端子ピンとが当接し，両者が接続されるように形成し
てある。また，リードワイヤーは，その一端が上記端子
ピンに接続されていると共に，他端には導体露出部を形
成している。That is, a terminal board which is detachable from the pin board is provided outside the pin board. A terminal pin is mounted in a pin hole of the terminal board, and when the terminal board is mounted on the pin board, the probe terminal of the probe and the terminal pin are in contact with each other and are connected to each other. The lead wire has one end connected to the terminal pin and the other end formed with a conductor exposed portion.

【００２２】一方，検査器の外部にはコネクタボードを
設けており，検査器の検出信号入力端子にはコネクタボ
ードが接続されている。またリード線は，その一端がコ
ネクタボードに接続されていると共に，他端には，中継
コネクタが取付けられている。上記中継コネクタは，リ
ードワイヤーの導体露出部を着脱することのできる構造
を有している。On the other hand, a connector board is provided outside the tester, and a connector board is connected to a detection signal input terminal of the tester. One end of the lead wire is connected to the connector board, and a relay connector is attached to the other end. The relay connector has a structure in which a conductor exposed portion of a lead wire can be attached and detached.

【００２３】また，中継コネクタには，リード線が接続
されているコネクタボードの端子ナンバー又は端子位置
等を識別するための表示を設けることが好ましい。上記
表示としては，色彩，文字，数字，記号，凹凸模様，更
には中継コネクタ自体の長さ，断面形状などの識別表示
マークがある。これにより，リードワイヤーとリード線
との接続作業が容易となり，また誤接続を防止できる。Preferably, the relay connector is provided with a display for identifying a terminal number or a terminal position of the connector board to which the lead wire is connected. The display includes identification marks such as colors, letters, numbers, symbols, uneven patterns, and the length and cross-sectional shape of the relay connector itself. As a result, the work of connecting the lead wires to each other is facilitated, and incorrect connection can be prevented.

【００２４】[0024]

【作用及び効果】本発明の検査治具においては，ガイド
板にコンタクトピンを，ピンボードにプローブを設け，
コンタクトピンをプリント配線板の配線回路に当接さ
せ，プローブの触針はコンタクトピンに当接させるよう
構成している。即ち，本発明においては，ガイド孔内を
スライドして配線回路に当接する部分（コンタクトピ
ン）と，電気導通の検出端であるプローブとを２つに分
けた構成としている。 そのため，コンタクトピンの進
退と，プローブの触針の進退とは独立した状態にある。In the inspection jig of the present invention, a contact pin is provided on a guide plate and a probe is provided on a pin board.
The contact pins are brought into contact with the wiring circuit of the printed wiring board, and the probe stylus is brought into contact with the contact pins. That is, in the present invention, a portion (contact pin) that slides in the guide hole and contacts the wiring circuit and a probe that is a detection terminal of electrical conduction are divided into two parts. Therefore, the advance and retreat of the contact pin and the advance and retreat of the stylus of the probe are independent of each other.

【００２５】それ故，ピンボードに固定したプローブ
と，その内部に挿入した触針と，コンタクトピンが進退
するガイド板のガイド孔との３つの軸芯を，高精度で一
致させる必要がない。したがって，ガイド孔の軸芯の孔
明けは，プリント配線板の配線回路に一致させて穿設す
れば良く，従来のごとく高精度が要求されず，穿設容易
である。また，ガイド孔はコンタクトピンのみの円滑ス
ライドを可能とすれば良いので，細径のものを設けるこ
とができ，コンタクトピンのガタつきも小さくすること
ができる。また，コンタクトピンが摩耗した際には，容
易に，しかも安価に交換することができる。Therefore, it is not necessary to align the three axes of the probe fixed to the pin board, the stylus inserted therein, and the guide hole of the guide plate on which the contact pins advance and retreat with high precision. Therefore, it is sufficient that the guide hole is bored in accordance with the wiring circuit of the printed wiring board, and high precision is not required as in the related art, and drilling is easy. In addition, since the guide hole only needs to allow the contact pin to slide smoothly, a small-diameter one can be provided, and rattling of the contact pin can be reduced. Further, when the contact pin is worn, it can be easily and inexpensively replaced.

【００２６】また，プローブは，直接に配線回路に当接
させないので，従来のごとく損傷を受けることがない。
また，コンタクトピンは，配線回路に直接当接しガイド
孔内をスライドするが，従来のプローブの触針のごと
く，ガイド孔とプローブのソケット内の両方を直線状に
進退することがないので，軸芯ズレ等により損傷を受け
ることがない。Further, since the probe is not directly brought into contact with the wiring circuit, the probe is not damaged as in the prior art.
In addition, the contact pin directly contacts the wiring circuit and slides in the guide hole. However, unlike the conventional probe stylus, the contact pin does not move linearly in both the guide hole and the probe socket. No damage due to misalignment.

【００２７】また，上記のごとく，コンタクトピンとプ
ローブとに分割構成し，検査時における両者の進退に無
理を生じないようにしたので，両者を細径化することも
できる。そのため，高密度配線回路の検査も容易であ
る。また，プローブは，０．１〜０．３ｍｍという細い
内径のソケット内に，弾性的に，進退可能に装着した構
成である。そのため，高価な精密部品であるが，上記の
ごとく損傷がないため，検査治具もコスト安となる。Further, as described above, since the contact pins and the probes are divided so as not to cause excessive movement of the two during the inspection, the diameters of both can be reduced. Therefore, inspection of a high-density wiring circuit is also easy. In addition, the probe is elastically and removably mounted in a socket having a small inner diameter of 0.1 to 0.3 mm. Therefore, it is an expensive precision component, but since there is no damage as described above, the cost of the inspection jig is also reduced.

【００２８】また，本発明の検査治具は，検査器とプロ
ーブ回りのいわゆる検出部との電気的接続が容易であ
る。即ち，前記のように，リードワイヤーに取付けた端
子ピンがプローブ端子に接続されており，リード線はコ
ネクタボードを経由して検査器に接続されている。従っ
てリード線を接続した中継コネクタに，リードワイヤー
の導体露出部を着脱することにより，検査器とプローブ
とが容易に，接続又は遮断される。Further, the inspection jig of the present invention facilitates electrical connection between the inspection device and a so-called detection section around the probe. That is, as described above, the terminal pins attached to the lead wires are connected to the probe terminals, and the lead wires are connected to the inspection device via the connector board. Therefore, by attaching and detaching the conductor exposed portion of the lead wire to and from the relay connector to which the lead wire is connected, the inspection device and the probe can be easily connected or disconnected.

【００２９】また，中継コネクタとリードワイヤーの接
続は，コネクタによる接続であるから，半田付による着
脱に比べて接続作業が極めて容易である。そのため，検
査対象のプリント配線板の変更に伴う検出部の交換が極
めて容易である。また，本発明では，プローブと端子ピ
ンとは圧接して接続され，プローブにはワイヤー等が取
付けられていない。即ち，端子ボードをピンボードから
取外すことにより，プローブの上部は開放され障碍物が
ない。従って，プローブをピンボードから取外すことは
容易である。Further, since the connection between the relay connector and the lead wire is made by the connector, the connection work is extremely easy as compared with the attachment and detachment by soldering. Therefore, it is extremely easy to replace the detection unit when the printed wiring board to be inspected is changed. Further, in the present invention, the probe and the terminal pin are connected by pressure contact, and no wire or the like is attached to the probe. That is, by removing the terminal board from the pin board, the upper part of the probe is opened and there is no obstacle. Therefore, it is easy to remove the probe from the pin board.

【００３０】また，前記のようにコンタクトピンの取外
しも容易である。従って精密加工部品であり，高価なプ
ローブ及びコンタクトピンをピンボード及びガイド板よ
り取り外して，他の検出部に取付けて再利用することが
容易である。したがって，本発明によれば，プローブの
触針の細径化と損傷防止に対応でき，また検査器との電
気的接続と取外しが容易で，かつプローブ及びコンタク
トピンの再利用ができる，プリント配線板の検査治具を
提供することができる。Further, as described above, the contact pins can be easily removed. Therefore, it is a precision machined component, and it is easy to remove expensive probes and contact pins from the pin board and the guide plate, attach them to other detection units, and reuse them. Therefore, according to the present invention, it is possible to reduce the diameter of the stylus of the probe and to prevent the damage, and it is possible to easily connect and disconnect the probe with the inspection device, and to reuse the probe and the contact pin. A plate inspection jig can be provided.

【００３１】[0031]

【実施例】【Example】

実施例１ 本発明の実施例にかかる，プリント配線板の検査治具に
つき，図１〜図１０を用いて説明する。なお，全体の構
成を，コンタクトピン３をプリント配線板７と当接させ
て，プローブ１の上端に信号を伝える検出部と，プロー
ブ１の上端からリードワイヤー１５，中継コネクタ５，
リード線１６，コネクタボード１９を経由して検査器１
８に至る中継部とに分けて説明する。Embodiment 1 An inspection jig for a printed wiring board according to an embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS. The overall configuration is as follows: a detection unit for transmitting a signal to the upper end of the probe 1 by contacting the contact pins 3 with the printed wiring board 7; a lead wire 15 from the upper end of the probe 1;
Inspection device 1 via lead wire 16 and connector board 19
8 will be described separately.

【００３２】本例の検査治具の検出部は，図１〜図３に
示すごとく，ガイド板８とピンボード８８と，配線回路
７１と当接させるためのコンタクトピン３と，該コンタ
クトピン３に当接させるための触針２を内蔵したプロー
ブ１とよりなる。また，上記コンタクトピン３は，上記
ガイド板８に進退可能に装着され，また上記触針２はプ
ローブ１のソケット１１内に弾性的に進退可能に内蔵さ
れている。As shown in FIGS. 1 to 3, the detecting portion of the inspection jig of this embodiment includes a guide plate 8, a pin board 88, a contact pin 3 for making contact with a wiring circuit 71, and a contact pin 3. And a probe 1 having a built-in stylus 2 for making contact with the probe 1. The contact pins 3 are mounted on the guide plate 8 so as to be able to advance and retreat, and the stylus 2 is built in the socket 11 of the probe 1 so as to be elastically advanceable and retractable.

【００３３】上記配線回路７１は，プリント配線板７に
おいて高密度配置されたものである。上記ガイド板８と
ピンボード８８とは，従来と同様にノックピン８９１に
より，脱着可能に，一体的に結合されている。ガイド板
８は，図１〜３，図７，図８に示すごとく，コンタクト
ピン３を，進退可能に装着するための多数のガイド孔８
５と，開口溝８６を有する。また，ピンボード８８は，
図２，３に示すごとく，プローブ１のソケット１１を挿
通固定するための貫通孔８８２を有する。The wiring circuits 71 are arranged at high density on the printed wiring board 7. The guide plate 8 and the pin board 88 are detachably connected to each other by a knock pin 891 as in the conventional art. As shown in FIGS. 1 to 3, 7 and 8, the guide plate 8 has a large number of guide holes 8 for mounting the contact pins 3 so as to be able to advance and retreat.
5 and an opening groove 86. Also, the pin board 88
As shown in FIGS. 2 and 3, the probe 1 has a through hole 882 for inserting and fixing the socket 11 of the probe 1.

【００３４】上記コンタクトピン３は，図２，図３，図
６に示すごとく，配線回路７１に当接させるための先端
３１と，触針２を当接させるための当接部としての，頭
部３２を有する。また，該頭部３２は，曲面凹部３２１
を有する（図６）。また，プローブ１は，図２〜図５に
示すごとく，ソケット１１とその中へ進退可能に挿通し
た触針２とからなる。ソケット１１は，図４に示すごと
く，中空パイプであり，触針２の挿入側にフランジ１１
０を有する。また，プローブ１の上端１２は，端子ボー
ド４に装着された端子ピン４２と１対１に対向している
（図１）。As shown in FIGS. 2, 3 and 6, the contact pin 3 has a tip 31 for contacting the wiring circuit 71 and a head as a contact portion for contacting the stylus 2. It has a part 32. Also, the head 32 has a curved concave portion 321.
(FIG. 6). As shown in FIGS. 2 to 5, the probe 1 includes a socket 11 and a stylus 2 inserted into the socket 11 so as to be able to advance and retreat. The socket 11 is a hollow pipe as shown in FIG.
Has zero. The upper end 12 of the probe 1 faces the terminal pins 42 mounted on the terminal board 4 in one-to-one correspondence (FIG. 1).

【００３５】一方，触針２は，図４，図５に示すごと
く，チューブ２５内に進退可能に装着されている。即
ち，触針２は，図５に示すごとく，上部に触針２とほぼ
同径のガイド柱２２を有し，両者の間には細径の連結部
２１を有する。そして，チューブ２５の中に，まずスプ
リングバネ２３を入れ，次いで上記触針２を挿入した
後，上記触針の連結部２１の外側部分において，チュー
ブ２５のかしめを行い，かしめ部２５１を形成する。On the other hand, the stylus 2 is mounted in the tube 25 so as to be able to advance and retreat as shown in FIGS. That is, as shown in FIG. 5, the stylus 2 has a guide column 22 having substantially the same diameter as that of the stylus 2 at the upper portion, and a connecting portion 21 having a small diameter therebetween. Then, first, the spring 23 is inserted into the tube 25, and then the stylus 2 is inserted. Then, the tube 25 is swaged at the outer portion of the connecting portion 21 of the stylus to form the swaged portion 251. .

【００３６】これにより，触針２は，チューブ２５内に
おいて，上記スプリングバネ２３により弾性的に，進退
可能に装着される。なお，符号２５２は，チューブ２５
の上端部に設けた，スプリングバネ２３の上端を当接さ
せるためのかしめ部である。そして，このように構成し
た触針２は，上記図４に示すごとく，ソケット１１の中
空部１１１内へ挿入する。このとき，触針２を保持した
チューブ２５の上端は，ソケット１１のかしめ部１１３
に当接する。更に，上記のごとく構成したプローブ１
は，図１〜図３に示すごとく，ピンボード８８の貫通孔
８８２内へ，挿入し，着脱可能に固定する。その他は，
前記従来例と同様である。Thus, the stylus 2 is elastically mounted in the tube 25 by the spring spring 23 so as to be able to advance and retreat. The reference numeral 252 indicates the tube 25.
And a caulking portion provided at the upper end portion for contacting the upper end of the spring 23. Then, the stylus 2 thus configured is inserted into the hollow portion 111 of the socket 11 as shown in FIG. At this time, the upper end of the tube 25 holding the stylus 2 is
Abut. Further, the probe 1 constructed as described above
Is inserted into the through-hole 882 of the pin board 88 as shown in FIGS. Others
This is the same as the conventional example.

【００３７】次に，検出部の作用効果につき説明する。
即ち，プリント配線板７における配線回路７１の良否を
電気導通により検査するに当たっては，図１〜図３に示
すごとく，各配線回路７１に対してガイド板８及びピン
ボード８８を，上下方向より接近させ，ガイド板８をプ
リント配線板７に対面させる。Next, the operation and effect of the detection unit will be described.
That is, in order to inspect the quality of the wiring circuit 71 on the printed wiring board 7 by electrical continuity, as shown in FIGS. 1 to 3, the guide plate 8 and the pin board 88 are moved closer to each wiring circuit 71 in the vertical direction. Then, the guide plate 8 faces the printed wiring board 7.

【００３８】このとき，両者の当接前においては，コン
タクトピン３は，図２に示すごとく，ガイド板８よりも
突出した状態にある。また，コンタクトピン３の頭部３
２には，プローブ１の触針２の先端２１が当接してい
る。そして，ガイド板８がプリント配線板７に当接し，
コンタクトピン３の先端３１が配線回路７１に当接する
ときには，コンタクトピン３はガイド孔８５内をスライ
ド上昇する。そして，図３に示すごとく，コンタクトピ
ンの先端３１はガイド板８の下面とほぼ同じ位置に来
る。At this time, before the contact between the two, the contact pins 3 are in a state of protruding from the guide plate 8 as shown in FIG. Also, the head 3 of the contact pin 3
The tip 21 of the stylus 2 of the probe 1 is in contact with 2. Then, the guide plate 8 comes into contact with the printed wiring board 7,
When the tip 31 of the contact pin 3 comes into contact with the wiring circuit 71, the contact pin 3 slides up in the guide hole 85. Then, as shown in FIG. 3, the tip 31 of the contact pin comes to the same position as the lower surface of the guide plate 8.

【００３９】そこで，コンタクトピン３の頭部３２は，
触針２をプローブ１の方向に押圧する。そのため，触針
２は，上記スプリングバネ２３（図５）の付勢力に抗し
て，チューブ２５内に侵入する。このように，コンタク
トピン３の先端３１が，配線回路７１と当接した後，上
記リードワイヤー１５を介して，プローブ１，触針２，
コンタクトピン３に電流を通じ，配線回路７１の良否を
従来と同様に判断する（図１）。Therefore, the head 32 of the contact pin 3 is
The stylus 2 is pressed in the direction of the probe 1. Therefore, the stylus 2 enters the tube 25 against the urging force of the spring 23 (FIG. 5). As described above, after the tip 31 of the contact pin 3 comes into contact with the wiring circuit 71, the probe 1, the stylus 2,
By passing a current through the contact pin 3, the quality of the wiring circuit 71 is determined in the same manner as in the prior art (FIG. 1).

【００４０】また，検査終了後は，ガイド板８等をプリ
ント配線板７より遠ざける。そのため，コンタクトピン
３は，触針２のスプリングバネ２３の付勢力により，図
２に示すごとく突出する。上記のごとく，本例の検査治
具においては，コンタクトピン３をガイド板８に進退可
能に装着し，またプローブ１はピンボード８８に固定す
ると共に該プローブ１内に進退可能に触針２を装着して
いる。After the inspection, the guide plate 8 and the like are moved away from the printed wiring board 7. Therefore, the contact pin 3 protrudes as shown in FIG. 2 by the urging force of the spring 23 of the stylus 2. As described above, in the inspection jig of this embodiment, the contact pins 3 are mounted on the guide plate 8 so as to be able to advance and retreat, and the probe 1 is fixed to the pin board 88 and the stylus 2 is able to advance and retreat into the probe 1. I am wearing it.

【００４１】そのため，コンタクトピン３の進退と，触
針の進退とは独立した状態にある。それ故，従来のごと
く，ピンボード８８に固定したプローブ１と，その内部
に挿入した触針２と，該触針が進退するガイド板のガイ
ド孔８５との３つの軸芯を高精度で一致させる必要がな
い。即ち，本例においては，コンタクトピン３の軸芯と
触針２の軸芯とに位置ずれが生じていても，両者が当接
しておれば支障がない（図２，３）。Therefore, the contact pins 3 are independent of the advance and retreat of the stylus. Therefore, as in the prior art, the three axes of the probe 1 fixed to the pin board 88, the stylus 2 inserted therein, and the guide hole 85 of the guide plate on which the stylus advances and retreats with high precision. You don't have to. That is, in this example, even if the axis of the contact pin 3 and the axis of the stylus 2 are misaligned, there is no problem as long as they are in contact (FIGS. 2 and 3).

【００４２】また，そのため，ガイド孔８５はプリント
配線板の配線回路に一致させて穿設すれば良い。したが
って，ガイド孔８５及びピンボード８８の孔の軸芯に関
する穴明け精度は高精度が要求されず，穿設容易であ
る。また，ガイド孔８５は，コンタクトピン３のみの円
滑スライドを可能とすれば良いので，細径のものを設け
ることができ，ガタつきもない。For this purpose, the guide hole 85 may be formed in accordance with the wiring circuit of the printed wiring board. Therefore, high precision is not required for the drilling accuracy with respect to the axis of the guide hole 85 and the hole of the pin board 88, and the drilling is easy. Further, since the guide hole 85 only needs to allow the contact pin 3 to slide smoothly, a small-diameter guide hole can be provided without rattling.

【００４３】また，プローブ１は，その触針２を直接に
配線回路７１に当接させないので，従来のごとく，損傷
を受けることがない。また，コンタクトピン３は配線回
路７１に直接当接し，ガイド孔８５内をスライドする
が，従来のプローブの触針のごとく，ガイド孔８５内と
プローブのソケット内の両方を直線状に進退することが
ない。そのため，両者間の軸芯ずれ等による損傷を受け
ることもない。Further, since the probe 1 does not directly contact the stylus 2 with the wiring circuit 71, there is no damage as in the prior art. In addition, the contact pin 3 directly contacts the wiring circuit 71 and slides in the guide hole 85. However, as in the case of a conventional probe stylus, the contact pin 3 moves linearly in both the guide hole 85 and the probe socket. There is no. Therefore, there is no damage due to misalignment between the two.

【００４４】更に，コンタクトピン３とプローブ１とに
分割構成し，検査時における両者の進退に無理を生じな
いようにしたので，両者をそれぞれ細径化することがで
きる。本例においては，上記コンタクトピン３の直径は
０．２７ｍｍ，プローブ１のソケットの外径は０．４５
ｍｍ，内径は０．２７ｍｍ，触針２の外径は０．１５ｍ
ｍである。また，本例のコンタクトピン３においては，
その頭部３２に曲面凹部３２１を設けたので，該頭部３
２に触針２の先端２０を確実に当接させておくことがで
きる。Further, since the contact pin 3 and the probe 1 are divided so as not to cause excessive movement of the two during the inspection, both diameters can be reduced. In this example, the diameter of the contact pin 3 is 0.27 mm, and the outer diameter of the socket of the probe 1 is 0.45.
mm, inner diameter is 0.27 mm, outer diameter of stylus 2 is 0.15 m
m. In the contact pin 3 of this example,
Since a curved concave portion 321 is provided in the head 32, the head 3
The tip 20 of the stylus 2 can be reliably brought into contact with the stylus 2.

【００４５】次に，本実施例の中継部（プローブの上端
からリードワイヤー，中継コネクタ５，リード線１６，
コネクタボード１９を経由して検査器に至る部分）を図
１，図９及び図１０を用いて説明する。Next, the relay portion (lead wire from the upper end of the probe, relay connector 5, lead wire 16,
The portion from the connector board 19 to the inspection device will be described with reference to FIGS. 1, 9, and 10. FIG.

【００４６】本例の中継部は，図１に示すように，検査
器１８に接続されたコネクタボード１９とプローブ１と
の間に設けた，端子ボード４，リードワイヤー１５，中
継コネクタ５，リード線１６を有する。リードワイヤー
１５は，一端に端子ボード４に装着した端子ピン４２を
有すると共に，他端には図９に示すように導体露出部１
５０を形成している。この導体露出部１５０は，リード
ワイヤー１５の絶縁被覆を除去することにより形成した
ものである。リード線１６は，一端がコネクタボード１
９に接続されていると共に，他端にはリードワイヤー１
５を着脱することができる中継コネクタ５を有してい
る。As shown in FIG. 1, the relay section of this embodiment includes a terminal board 4, a lead wire 15, a relay connector 5, and a lead provided between a connector board 19 connected to an inspection device 18 and the probe 1. It has a line 16. The lead wire 15 has a terminal pin 42 attached to the terminal board 4 at one end and a conductor exposed portion 1 at the other end as shown in FIG.
50 are formed. The conductor exposed portion 150 is formed by removing the insulating coating of the lead wire 15. One end of the lead wire 16 is the connector board 1
9 and the other end is a lead wire 1
5 has a relay connector 5 to which the connector 5 can be attached and detached.

【００４７】端子ボード４は，図１に示すようにプロー
ブ端子１２と１対１の対向関係にあるピン穴４１を有し
ている。該ピン穴４１は，上部にリードワイヤー１５を
引き出すための細孔４１２を有する。また，端子ピン４
２をその中に収容したとき，端子ピン４２がピン穴の下
端４１１より一部頭出する奥行き深さになっている。The terminal board 4 has a pin hole 41 which is in a one-to-one facing relationship with the probe terminal 12 as shown in FIG. The pin hole 41 has a fine hole 412 at the upper part for drawing out the lead wire 15. In addition, terminal pin 4
When the terminal pin 2 is accommodated therein, the terminal pin 42 has such a depth that the terminal pin 42 partially protrudes from the lower end 411 of the pin hole.

【００４８】一方，リード線１６は，図９に示すよう
に，検査器１８に接続されたコネクタボード１９の端子
１９１に一端が接続されている。リード線１６の他端に
は，中継コネクタ５が取付けてある。中継コネクタ５
は，図１０に示すように，絶縁被覆５５と本体５０と，
本体５０に嵌入された剛体リング５３とで構成されてい
る。中継コネクタ５の本体５０の筒状の端末５１にはリ
ード線１６の線端１６１が接続されている。On the other hand, as shown in FIG. 9, one end of the lead wire 16 is connected to a terminal 191 of a connector board 19 connected to the tester 18. The relay connector 5 is attached to the other end of the lead wire 16. Relay connector 5
As shown in FIG. 10, the insulating coating 55, the main body 50,
And a rigid ring 53 fitted into the main body 50. The wire end 161 of the lead wire 16 is connected to the cylindrical terminal 51 of the main body 50 of the relay connector 5.

【００４９】中継コネクタ５の本体５０の他方には，リ
ードワイヤー１５を挿入するための，上下２枚に分岐し
た開口部５２を形成している。上記本体５０内におい
て，上記剛体リング５３と端末５１との間には，上記導
体露出部１５０を挟着するためのくびれ部５４が形成さ
れている。なお，本体５０には，弾力性を有するバネ鋼
材を使用し，絶縁被覆５５にはゴム材を使用している。The other end of the main body 50 of the relay connector 5 is formed with an opening 52 branched into two upper and lower sheets for inserting the lead wire 15. In the main body 50, between the rigid ring 53 and the terminal 51, a constricted portion 54 for sandwiching the conductor exposed portion 150 is formed. The main body 50 is made of a spring steel material having elasticity, and the insulating coating 55 is made of a rubber material.

【００５０】上記本体５０は開口部５２を，押圧して狭
めれば，剛体リング５３を支点にして，くびれ部５４が
拡大する構造になっている（図１０のＢ）。また，開口
部５２を元に戻せば，バネ鋼材の復元力により，図１０
（Ｃ）に示すように，くびれ部５４が復元する。また，
上記くびれ部５４のギャップｇは，常時はリードワイヤ
ー１５の導体露出部１５０の径Ｄより小さいが，開口部
５２を狭めてくびれを拡大したときは，導体露出部１５
０の径Ｄより大きく拡大するようになっている。The main body 50 has a structure in which, when the opening 52 is pressed and narrowed, the constricted portion 54 expands around the rigid ring 53 as a fulcrum (FIG. 10B). Also, if the opening 52 is returned to its original position, the restoring force of the spring steel material will
As shown in (C), the constricted portion 54 is restored. Also,
The gap g of the constricted portion 54 is always smaller than the diameter D of the conductor exposed portion 150 of the lead wire 15, but when the opening 52 is narrowed and the constriction is enlarged, the conductor exposed portion 15 is reduced.
It is designed to be larger than the diameter D of 0.

【００５１】中継コネクタ５の絶縁被覆５５は，図９に
示すように，前記識別表示としての，帯状のカラーリン
グ５５１が付されている。上記カラーリング５５１は，
当該中継コネクタ５を取付けたリード線１６の接続先で
ある，コネクタボード１９の端子１９１の位置に対応し
て，その色彩とリングの本数を変化させてある。本例で
は，図９に示すように，コネクタボード１９の最上段の
端子１９１１に対するものは，すべて１本のカラーリン
グが付されている。カラーリングの本数と，色彩によっ
て，コネクタボード１９上の端子位置を識別できるよう
になっている。As shown in FIG. 9, the insulating coating 55 of the relay connector 5 is provided with a band-shaped color ring 551 as the identification display. The coloring 551 is
The color and the number of rings are changed according to the position of the terminal 191 of the connector board 19 to which the lead wire 16 to which the relay connector 5 is attached is connected. In this example, as shown in FIG. 9, all the terminals for the terminal 1911 at the uppermost stage of the connector board 19 are provided with one color ring. The terminal positions on the connector board 19 can be identified by the number of colors and the colors.

【００５２】次に，本例の中継部の作用効果について述
べる。本例では，リード線１６の中継コネクタ５に，リ
ードワイヤー１５を簡単に着脱することができる。即
ち，この着脱に際しては，図１０Ｂに示すように，中継
コネクタ５の開口部５２を押圧する。これにより，５３
を支点として中継コネクタ５のくびれ部５４が拡大し，
リードワイヤー１５が挿通可能となる（図１０Ｂ）。Next, the operation and effect of the relay section of this embodiment will be described. In this example, the lead wire 15 can be easily attached to and detached from the relay connector 5 of the lead wire 16. That is, at the time of this attachment / detachment, as shown in FIG. 10B, the opening 52 of the relay connector 5 is pressed. As a result, 53
With the fulcrum as a fulcrum, the constricted portion 54 of the relay connector 5 expands,
The lead wire 15 can be inserted (FIG. 10B).

【００５３】そこで，開口部５２により本体５０内部の
くびれ部５４の奥方までリードワイヤー１５の導体露出
部１５０を挿入する。次いで，開口部５２の押圧を解除
する。これにより，開口部５２が元に復元され，くびれ
部５４のくびれが再び復元して，リードワイヤー１５が
挟持される（図１０Ｃ）。リードワイヤー１５を中継コ
ネクタ５から取外す場合は，逆の操作（図１０のＣから
Ｂへの操作）を行なう。Then, the conductor exposed portion 150 of the lead wire 15 is inserted into the main body 50 through the opening 52 to the depth of the constricted portion 54. Next, the pressing of the opening 52 is released. As a result, the opening 52 is restored to its original state, the constriction of the constricted portion 54 is restored again, and the lead wire 15 is clamped (FIG. 10C). When detaching the lead wire 15 from the relay connector 5, the reverse operation (operation from C to B in FIG. 10) is performed.

【００５４】また，中継コネクタ５の絶縁被覆５５に
は，前記のようにカラーリング５５１を付して，リード
線１６とリードワイヤー１５の接続対応関係を識別し易
くしている。従って，リードワイヤー１５の接続作業が
一段と効率化され，また誤接続が防止できる。また，プ
ローブ１とリードワイヤー１５との接続は，端子ボード
４をピンボード８８に圧接すれば，プローブ端子１２が
端子ピン４２に当接して，電気的に接続される（図１参
照）。The insulating cover 55 of the relay connector 5 is provided with the color ring 551 as described above so that the connection relation between the lead wire 16 and the lead wire 15 can be easily identified. Therefore, the work of connecting the lead wires 15 is made more efficient, and incorrect connection can be prevented. The probe 1 is connected to the lead wire 15 by pressing the terminal board 4 against the pin board 88 so that the probe terminal 12 contacts the terminal pin 42 and is electrically connected (see FIG. 1).

【００５５】上記のように，本例によれば，検査器１８
と検出部との接続と切り離しが極めて容易である。それ
故，検査対象のプリント配線板７の変更に伴う検出部の
交換が極めて容易である。また，本例では，図１に示す
ように，プローブ端子１２には，リードワイヤー１５が
半田付けされていない。従って，プローブ１をピンボー
ド８８から取外すことが容易である。また，コンタクト
ピン３はピンボート８８を取外せば，ガイド板８から取
外しが容易である。従って，プローブ１及びコンタクト
ピン３をピンーボード８８及びガイド板８から取外し
て，他のプリント配線板用の検出部に再利用することも
容易である。As described above, according to the present embodiment, the inspection device 18
It is extremely easy to connect and disconnect the sensor and the detector. Therefore, it is extremely easy to replace the detection unit when the printed wiring board 7 to be inspected is changed. Further, in this example, as shown in FIG. 1, the lead wire 15 is not soldered to the probe terminal 12. Therefore, it is easy to remove the probe 1 from the pin board 88. The contact pins 3 can be easily removed from the guide plate 8 if the pin boat 88 is removed. Therefore, the probe 1 and the contact pins 3 can be easily removed from the pin-board 88 and the guide plate 8 and reused for another printed wiring board detection unit.

【００５６】このように，本実施例によれば，高密度配
線回路に対しても，プローブ触針の細径化と損傷防止に
対応でき，かつガイド孔の穿設が容易であり，かつ検査
器との電気的接続と取外しが容易な，更にプローブ及び
コンタクトピンの再利用が可能なプリント配線板の検査
治具が提供できる。As described above, according to the present embodiment, even for a high-density wiring circuit, the probe stylus can be reduced in diameter and prevented from being damaged, and a guide hole can be easily formed. An inspection jig for a printed wiring board, which can be easily connected to and detached from a device, and which can reuse probes and contact pins, can be provided.

【００５７】実施例２ 本例は，実施例１において中継コネクタ５の，絶縁被覆
５５の識別表示の方法を変更したものである。実施例１
では，図９に示すように，色彩を施した帯状のカラーリ
ング５５１を用いたが，本例では，図１１に示すよう
に，色分けした筒状の３色帯の組合せからなる筒状識別
コード５５２を設けている。これにより，当該リード線
１６が接続されている。コネクタボード１９の端子１９
１の位置を容易に識別できる。その他は実施例１と同様
である。Embodiment 2 This embodiment is a modification of the first embodiment in which the method of identifying and indicating the insulating coating 55 of the relay connector 5 is changed. Example 1
In FIG. 9, a colored band-shaped coloring ring 551 is used as shown in FIG. 9, but in this example, as shown in FIG. 11, a cylindrical identification code composed of a combination of color-coded cylindrical three-color bands is used. 552 are provided. As a result, the lead wire 16 is connected. Terminal 19 of connector board 19
1 can be easily identified. Others are the same as the first embodiment.

【００５８】また，上記識別表示の方法は，図１２に示
すように，軸方向に延びた帯状の縞模様５５３とするこ
ともできる。また記号やマークを併用すれば一層識別力
が向上する。In addition, as shown in FIG. 12, the identification display method may be a striped pattern 553 extending in the axial direction. If symbols and marks are used together, the discriminating power is further improved.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図１】実施例１における，検査治具の全体説明図。FIG. 1 is an overall explanatory view of an inspection jig in a first embodiment.

【図２】実施例１における，検査前の状態の，コンタク
トピン及びプリント配線板周りの断面図。FIG. 2 is a cross-sectional view around a contact pin and a printed wiring board in a state before inspection according to the first embodiment.

【図３】実施例１における，検査時点のコンタクトピン
及びプリント配線板周りの断面図。FIG. 3 is a cross-sectional view around a contact pin and a printed wiring board at the time of inspection in the first embodiment.

【図４】実施例１のプローブにおける，ソケット及び触
針の展開正面図。FIG. 4 is a developed front view of a socket and a stylus in the probe according to the first embodiment.

【図５】実施例１における，プローブの先端部分の断面
図。FIG. 5 is a cross-sectional view of a tip portion of the probe according to the first embodiment.

【図６】実施例１における，コンタクトピンの正面図。FIG. 6 is a front view of a contact pin according to the first embodiment.

【図７】実施例１における，ガイド板の平面図。FIG. 7 is a plan view of a guide plate in the first embodiment.

【図８】図７のＡ−Ａ線矢視断面図。FIG. 8 is a sectional view taken along line AA of FIG. 7;

【図９】実施例１における，リード線及び中継コネクタ
まわりの接続関係を示す説明図。FIG. 9 is an explanatory diagram showing a connection relationship around a lead wire and a relay connector in the first embodiment.

【図１０】実施例１における，中継コネクタ及びその作
用を示す断面説明図。FIG. 10 is an explanatory sectional view showing the relay connector and its operation in the first embodiment.

【図１１】実施例２における，中継コネクタの斜視図。FIG. 11 is a perspective view of a relay connector according to the second embodiment.

【図１２】実施例２における，他の中継コネクタの斜視
図。FIG. 12 is a perspective view of another relay connector according to the second embodiment.

【図１３】従来例における，検査治具の全体説明図。FIG. 13 is an overall explanatory view of an inspection jig in a conventional example.

【図１４】従来例における検査治具のプローブ周りの説
明図。FIG. 14 is an explanatory diagram around a probe of an inspection jig in a conventional example.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

１．．．プローブ， １１．．．ソケット， １５．．．リードワイヤー， １５０．．．導体露出部， １６．．．リード線， １８．．．検査器， １９．．．コネクタボード， ２．．．触針， ２５．．．チューブ， ３．．．コンタクトピン， ３１．．．先端， ４．．．端子ボード， ４１．．．ピン穴， ４２．．．端子ピン， ５．．．中継コネクタ， ７．．．プリント配線板， ７１．．．高密度ピッチの配線回路， ８．．．ガイド板， ８５．．．ガイド孔， ８８．．．ピンボード， 1. . . Probe, 11. . . Socket, 15. . . Lead wire, 150. . . Exposed conductor, 16. . . Lead wire, 18. . . Inspection device, 19. . . Connector board, 2. . . Stylus, 25. . . Tube, 3. . . Contact pin, 31. . . Tip, 4. . . Terminal board, 41. . . Pin holes, 42. . . Terminal pins, 5. . . 6. relay connector, . . Printed wiring board, 71. . . 7. high-density pitch wiring circuit; . . Guide plate, 85. . . Guide hole, 88. . . Pin board,

フロントページの続き (56)参考文献 特開 昭63−300978（ＪＰ，Ａ) 特開 昭57−200865（ＪＰ，Ａ) 特開 平２−130483（ＪＰ，Ａ) 実開 昭60−92176（ＪＰ，Ｕ) 実開 昭61−119777（ＪＰ，Ｕ) 実開 昭60−135677（ＪＰ，Ｕ) 実開 昭60−17458（ＪＰ，Ｕ) (58)調査した分野(Int.Cl.⁷，ＤＢ名) G01R 1/06 - 1/073 G01R 31/00 G01R 31/02 G01R 31/28 H05K 3/00 Continuation of the front page (56) References JP-A-63-300978 (JP, A) JP-A-57-200865 (JP, A) JP-A-2-130483 (JP, A) JP-A-60-92176 (JP, A) , U) Fully open Showa 61-119777 (JP, U) Fully open Showa 60-135677 (JP, U) Fully open Showa 60-17458 (JP, U) (58) Fields studied (Int. Cl. ⁷ , DB) G01R 1/06-1/073 G01R 31/00 G01R 31/02 G01R 31/28 H05K 3/00

Claims (2)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項１】 プリント配線板における配線回路を電気
導通の有無により検査する検査治具であって，該検査治
具は，ガイド板と，ピンボードと，上記配線回路に当接
させるためのコンタクトピンと，該コンタクトピンに当
接させるための触針を内蔵したプローブとよりなり，か
つ上記コンタクトピンは上記ガイド板に進退可能に装着
され，また上記触針はプローブに弾性的に進退可能に内
蔵されており，検査器に接続されたコネクタボードと上
記プローブとの間には，端子ボードとリードワイヤーと
リード線とを有し，端子ボードはプローブ端子と対向す
るピン穴を有し，リードワイヤーは，一端に上記端子ボ
ードのピン穴に装着した端子ピンを有すると共に他端に
は導体露出部を形成しており，リード線は，一端がコネ
クタボードに接続されていると共に他端にはリードワイ
ヤーを着脱することができる中継コネクタを有すること
を特徴とするプリント配線板の検査治具。An inspection jig for inspecting a wiring circuit on a printed wiring board based on the presence or absence of electrical continuity, the inspection jig comprising a guide plate, a pin board, and a contact for making contact with the wiring circuit. A probe having a built-in pin and a stylus for contacting the contact pin, wherein the contact pin is mounted on the guide plate so as to be able to advance and retreat, and the stylus is built into the probe so as to be elastically advanceable and retractable. The probe has a terminal board, a lead wire, and a lead wire between the connector board connected to the inspection instrument and the probe. The terminal board has a pin hole facing the probe terminal. Has a terminal pin mounted in the pin hole of the terminal board at one end and an exposed conductor at the other end, and one end of the lead wire is connected to the connector board. An inspection jig for a printed wiring board, further comprising a relay connector to which a lead wire can be attached and detached at the other end. 【請求項２】 請求項１において，中継コネクタは，上
記コネクタボードにおけるコネクタ端子の位置を識別す
るための表示を有することを特徴とするプリント配線板
の検査治具。2. The printed wiring board inspection jig according to claim 1, wherein the relay connector has a display for identifying a position of the connector terminal on the connector board.