JPH0618012B2 - 定電圧回路 - Google Patents

定電圧回路

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JPH0618012B2
JPH0618012B2 JP58010315A JP1031583A JPH0618012B2 JP H0618012 B2 JPH0618012 B2 JP H0618012B2 JP 58010315 A JP58010315 A JP 58010315A JP 1031583 A JP1031583 A JP 1031583A JP H0618012 B2 JPH0618012 B2 JP H0618012B2
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    • G05FSYSTEMS FOR REGULATING ELECTRIC OR MAGNETIC VARIABLES
    • G05F3/00Non-retroactive systems for regulating electric variables by using an uncontrolled element, or an uncontrolled combination of elements, such element or such combination having self-regulating properties
    • G05F3/02Regulating voltage or current
    • G05F3/08Regulating voltage or current wherein the variable is dc
    • G05F3/10Regulating voltage or current wherein the variable is dc using uncontrolled devices with non-linear characteristics
    • G05F3/16Regulating voltage or current wherein the variable is dc using uncontrolled devices with non-linear characteristics being semiconductor devices
    • G05F3/20Regulating voltage or current wherein the variable is dc using uncontrolled devices with non-linear characteristics being semiconductor devices using diode- transistor combinations
    • G05F3/24Regulating voltage or current wherein the variable is dc using uncontrolled devices with non-linear characteristics being semiconductor devices using diode- transistor combinations wherein the transistors are of the field-effect type only
    • G05F3/242Regulating voltage or current wherein the variable is dc using uncontrolled devices with non-linear characteristics being semiconductor devices using diode- transistor combinations wherein the transistors are of the field-effect type only with compensation for device parameters, e.g. channel width modulation, threshold voltage, processing, or external variations, e.g. temperature, loading, supply voltage
    • G05F3/245Regulating voltage or current wherein the variable is dc using uncontrolled devices with non-linear characteristics being semiconductor devices using diode- transistor combinations wherein the transistors are of the field-effect type only with compensation for device parameters, e.g. channel width modulation, threshold voltage, processing, or external variations, e.g. temperature, loading, supply voltage producing a voltage or current as a predetermined function of the temperature

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Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、基準電圧源を用いた定電圧回路に関する。
まず従来の定電圧回路から説明する。
従来の定電圧回路の例として、第1図や第2図の回路が
ある。第1図は定電圧回路として最も基本的な回路例で
ある。第1図において、1はオペアンプ、2はツエナー
ダイオード、3は抵抗であり、ツエナーダイオード2と
抵抗3を直列に接続した回路により基準電圧源4を構成
し、ツエナー電圧Vzを取り出し、オペアンプ1の非反
転入力端子に基準電圧として用いることにより、端子5
に取り出される定電圧回路電圧Vregを Vreg=Vz ………(201) と制御する回路方式である。
第2図は、MOS集積回路に基準電圧回路として基準電
圧源を設け、定電圧回路を構成した例である。第2図に
おいて、6はオペアンプ、7,8,11はPチヤネルM
OSFET、9はNチヤネルMOSFET、12は負荷
である。MOSFET7,8,9をそれぞれ直列に接続
し、MOSFET7と8の接続点をMOSFET7のゲ
ートに接続し、MOSFET8と9の接続点をMOSF
ET8と9のゲートに接続することによつて、基準電圧
回路10を構成している。ここで、PチヤネルMOSF
ET7,8、NチヤネルMOSFET9のβをそれぞれ
βp0,βp1,βN1とし、またスレツシュホールド
電圧ヲそれぞれVTP,VTP,VTNとする。またM
OSFET7と8の接続点の電位をV,MOSFET
8と9の接続点の電位をVとし、また−VSSを0電
位の基準にとり、+VDDと−VSSの電位差をVDD
とすると、MOSFET7,8,9に流れる電流は等し
いから の関係式が成りたち、解くと 但し、 が得られる。
βp0<<βp1 βp0<<βN1 と設計すれば、(203)式は V≒VTP+VTN ………(204) となる。(204)式を見ると、Vには電源電圧V
DDの項がないので、基準電圧として使えることがわか
る。
以上によつて構成した基準電圧回路10の出力Vをオ
ペアンプ6の反転入力端子に入力し、また定電圧回路の
出力電圧をオペアンプ6の非反転入力端子に入力し、前
記基準電圧回路10の基準電圧と比較してPチヤネルM
OSFET11のゲート電位を制御し、等価抵抗を調整
することによつて定電圧回路出力端子13の電位V
regを Vreg≒VTP+VTN ………(205) に制御している。
以上、第1図,第2図の従来の定電圧回路例の動作を簡
単に説明したが、その得失を述べる前に負荷側の一例と
して、第3図の回路を説明する。
第3図の回路は、発振回路の一部を構成するCMOSイ
ンバータによる増幅回路である。第3図において、14
はPチヤネルMOSFET、15はNチヤネルMOSF
ET、16は増幅回路の負荷としてのコンデンサ、17
は直流バイアス調整用の帰還抵抗である。PチヤネルM
OSFET14とNチヤネルMOSFET15のゲート
は共通に接続され、またドレインも共通に接続されてい
る。MOSFET14と15のβをそれぞれβPC,β
NCとし、またスレツシュホールド電圧を、それぞれV
TP,VTNとする。電源電圧をVDDとし、コンデン
サ16の静電容量をCとし、入力信号を角周波数ωの正
弦波とすると、入力端子18から入つた信号が出力端子
19に出力される信号の振幅比で定義されるゲインG
は、入力振幅が小さいときは近似的に と表わされる。また第3図の回路が消費する電流Icは に比例する、もしくは強い相関がある。第3図の増幅回
路に要求される主な条件として、高いゲインGが得られ
ることと、消費電流Icが少ないことがあげられる。し
かしながら、(206)式と(207)式を見ればわか
るように、ゲインが増加すれば消費電流も増加し、消費
電流を減少させればゲインも低下してしまうという、相
反した要求であることががわかる。したがつて、必要最
小限のゲインを確保して、それに対応する消費電流しか
流さないという方法が考えられるが、その為に(20
6)式及び(207)式の中におけるVDDの値を(V
TP+VTN)の値に応じて制御する、つまりほぼ(V
TP+VTN)の値を出力する定電圧回路で動作させた
方が、第3図のより回路の負荷の場合には望ましいので
ある。
さて、第1図の定電圧回路はなるべく一定電圧に保つと
いう思想のもとの回路で、その条件を要求する負荷には
望ましい回路であり、また一般に広く用いられている。
ただし前述したように、第3図に示したような回路の負
荷にとつては、スレッシュホールド電圧の和(VTP
TN)が製造上の要因によってバラツキが生じた場合
には、それに応じて定電圧回路の出力電圧も変化した方
が好ましいので、第2図に示すような定電圧回路の方が
望ましいことがわかる。したがつて負荷に無関係に、い
つも一定電圧に保つことが必ずしも良いとか云えないこ
とがわかつた。また定電圧回路の出力電圧の温度特性に
ついて考えてみる。
第1図の回路において、ツエナーダイオード2のツエナ
ー電圧は、ある程度の温度特性を持つが、それを打ち消
す温度特性を持つ抵抗素子を抵抗3に用いれば、定電圧
回路の温度特性を殆ど消すことも出来る。しかし第3図
の増幅回路のゲインは(206)式で表わされるので、
ゲインと密接な関係にある発振回路としての発振停止電
圧VOSCはβやスレッシュホールド電圧が温度特性を持
つので、やはり温度特性を持つ。
第4図において、20は発振停止電圧の温度特性の例を
示すものであり、21は第1図の定電圧回路の出力電圧
の温度特性の例を示すものである。MOSFETのβは
温度上昇に対し低下し、スレッシュホールド電圧も低下
するが、スレッシュホールド電圧の温度特性の方が(2
06)式においては影響力が大きいので、発振停止電圧
は温度上昇とともに低下する。逆に低温時に発振停止電
圧は高くなる。一方、定電圧回路の出力電圧は殆ど温度
特性を持たないとすると、第4図の特性に示すように2
0と21はある温度で逆転する。この場合には、低温時
において発振が停止してしまうことを意味する。つまり
定電圧回路の出力電圧が温度特性を持たないことが、必
ずしも良いことばかりではないことがわかる。
第5図において、第2図に示す定電圧回路の出力電圧の
温度特性を示す。第2図の定電圧回路の出力電圧は(2
05)式で表わされるように、ほぼスレッシュホールド
電圧の和となつているので、やはりスレッシュホールド
電圧の和の関係する発振停止電圧の温度特性20と比較
的近い温度特性を持つが、発振停止電圧に関係するβの
温度特性に無関係な分だけ、第2図の定電圧回路の出力
電圧の温度特性22は、発振停止電圧の温度特性20と
異なつている。したがつて第5図の場合には、高温で発
振が停止してしまうことを意味している。第2図の定電
圧回路は、第3図の回路の負荷としての要求に比較的あ
わせて設計した回路であるが、温度特性の微妙な特性ま
で合わせることは、なかなか難しいことを示唆してい
る。
以上、従来の定電圧回路は、定電圧に保つという思想の
もとに構成された回路が主であるが、負荷側の特性が製
造上のバラツキを生じたり、温度特性を持つ場合には定
電圧を保ち続けることは、却つて悪い結果を招く。また
温度特性が結果的に入つているが、設計思想が不充分な
為、負荷側にとつて望ましい特性には必ずしもなつてい
ない回路が多かつた。また、従来の定電圧回路は、基準
電圧源の温度補償をするという補助的な素子や回路は用
いられていたが、原則的に1個の基準電圧源のみによつ
て構成されていたので、回路としての設計の自由度は制
限され、必ずしも満足な特性の回路が得られるとは限ら
なかつた。
本発明は、従来の「定電圧回路は定電圧に保つ」という
思想から脱却し、負荷側にとつて最も望ましい特性を、
定電圧回路に積極的に与える回路、及び回路の設計方式
を提供するものである。
本発明の本質は、異なる特性を持つた複数個の基準電圧
源の各特性を合成することにより、任意の特性を持つた
定電圧回路を得ることにある。
以下、本発明を実施例に基づき詳しく説明する。なお、
以下の説明において、前述した「負荷側にとつて最も望
ましい特性」の「特性」とは、何でも良い訳であるが、
わかり易さのため温度特性を例にあげて説明する。また
回路動作が本質的に同じであれば、どの様な回路でも良
いが、以下の説明ではMOS集積回路の例で説明する。
第6図は、本発明を説明するための定電圧回路の第1の
実施例である。
第6図において、破線10で示す中の回路は、第2図に
おいて説明したPチヤネルMOSFET7,8とNチヤ
ネルMOSFET9によつてスレツシュホールド電圧の
和の電圧を出力する基準電圧回路10と同じ回路であ
る。したがつて第6図における第1の基準電圧回路10
は、基準電圧として(204)式に示す電圧がMOSF
ET8と7の接続点より得られる。破線27で示す中の
回路は、第2の基準電圧回路である。第2の基準電圧回
路27において、23,24はPチヤネルMOSFET
であり、25,26はNチヤネルMOSFETである。
PチヤネルMOSFET23及び24のソースは+V
DDに接続され、NチヤネルMOSFET25及び26
のソースは−VSSに接続されている。PチヤネルMO
SFET23のドレインとNチヤネルMOSFET25
のドレインは接続されている。PチヤネルMOSFET
24のドレインとNチヤネルMOSFET26のドレイ
ンは接続されている。PチヤネルMOSFET23のゲ
ートはPチヤネルMOSFET23のドレインに接続さ
れている。PチヤネルMOSFET24のゲートは−V
SSに接続されている。NチヤネルMOSFET25と
26のゲートは、共にNチヤネルMOSFET26のド
レインに接続されている。ここで、PチヤネルMOSF
ET23と24のβをβp2とし、スレツシユホールド
電圧をそれぞれVTPL,VTPHとする。Nチヤネル
MOSFET25と26のβを共にβN2としし、スレ
ツシユホールド電圧を共にVTNとする。また、−V
SSを0電位にとり、+VDDと−VSSの電位差をV
DDとし、MOSFET23と25の接続点の電位をV
とし、MOSFET24と26の接続点の電位をV
とする。このとき、MOSFET23,24,25,2
6がすべての飽和領域で動作したとすると、MOSFE
T23と25に流れる電流は等しいから の関係式が得られる。またMOSFET24と26に流
れる電流は等しいから の関係式が得られる。(208),(209)式を解く
ことにより V=VTPH−VTPL ………(210) となる。したがつて第2の基準電圧回路27は、MOS
FET23と25の接続点より(210)式で表わされ
る基準電圧が取り出される。28,29は非常にゲイン
の高いオペアンプである。30,31はPチヤネルMO
SFETであり、それぞれ抵抗値制御回路の役目をして
いる。32は負荷である。PチヤネルMOSFET30
と31は、並列に接続された回路となつて負荷32と直
列に接続され、電源間に接続されている。PチヤネルM
OSFET30と31の並列回路と負荷32の接続点が
定電圧回路の出力端子33となつている。オペアンプ2
8の反転入力端子には、第1の基準電圧回路10の出力
が接続され、オペアンプ29の反転入力端子には、第2
の基準電圧回路27の出力が接続されている。オペアン
プ28と29の非反転入力端子には、共に定電圧回路の
出力端子33が入力している。オペアンプ28の出力
は、PチヤネルMOSFET30のゲートに接続され、
オペアンプ29の出力は、PチヤネルMOSFET31
のゲートに接続されている。
さて、以上の回路構成において、第1の基準電圧回路1
0とオペアンプ28とゲート電位によつて等価抵抗が制
限されるPチヤネルMOSFET30からなる回路系列
は、原則的に定電圧回路の出力端子33の電位を(20
4)式で表わされるスレツシユホールド電圧の和の電圧
を保つように作用し、また第2の基準電圧回路27とオ
ペアンプ29とPチヤネルMOSFET31からなる回
路系列は、原則的に定電圧回路の出力端子33の電位を
(210)式で表わされるスレツシユホールド電圧の差
の電圧に保つように作用する。ところでスレツシユホー
ルド電圧は負の温度特性を持つ、つまり温度の上昇にと
もないスレツシユホールド電圧は低下する。したがつて
(204)式で表わされるようなスレツシユホールド電
圧の和の電圧を出力する第1の基準電圧回路10の出力
は、第7図における特性線23で示すような特性と
なる。また(210)式で表わされるようなスレツシユ
ホールド電圧の差の電圧を出力する第2の基準電圧回路
27の出力Vは、温度特性が打ち消されて第7図にお
ける特性線34で示すような特性となる。
第7図において、特性線23と特性線34はある温度で
交差し、低温においてはV>V,高温においてはV
>Vとなる。さて第6図の回路の動作を考える。ま
ずV>Vを満たす低温領域において、定電圧回路出
力端子33の電位Vregとの間に (i) Vreg<V<V の関係にあるときは、オペアンプ28と29は共に反転
入力端子の電位が非反転入力端子の電位より高く、かつ
オペアンプ28と29のゲインは非常に高いので、オペ
アンプ28,29の出力は共にほぼ−VSS(0電位)
に近くなり、PチヤネルMOSFET30,31の等価
抵抗は共に小さくなつて、定電圧回路出力端子33の電
位は高くなるように修正される。
(ii) Vreg=V<V の関係にあるときは、PチヤネルMOSFET31の等
価抵抗は、Vreg=Vを保つように変らないが、オ
ペアンプ28の反転入力端子の電Vは非反転入力端子
の電位Vregより高いので、オペアンプ28の出力は
ほぼ−VSSに近くなり、PチヤネルMOSFET30
の等価抵抗は小さくなり、定電圧回路出力端子33の電
位Vregを高くするように作用する。ここでPチヤネ
ルMOSFET31の等価抵抗はVreg=Vを保つ
値であり、PチヤネルMOSFET30の等価抵抗はV
reg>Vとするような値となるが、PチヤネルMO
SFET30と31は並列に接続されているので、Pチ
ヤネルMOSFET30が優先して作用し、定電圧回路
出力VregはVより高くなる。
(iii) V<Vreg<V の関係にあるときは、オペアンプ28では反転入力端子
の電位Vが非反転入力端子の電位Vregより高いの
で、オペアンプ28の出力は−VSSに近くなり、Pチ
ヤネルMOSFET30の等価抵抗は小さくなる。一
方、オペアンプ29では、反転入力端子の電位Vが非
反転入力端子の電位Vregより低いので、オペアンプ
29の出力は+VDDに近くなり、PチヤネルMOSF
ET31の等価抵抗は大きくなる。つまりPチヤネルM
OSFET30と31は逆の方向に作用するが、Pチヤ
ネルMOSFET30と31は並列回路になつているの
で、並列回路におけるONとOFFの優先関係と同様
に、等価抵抗が小さくなるPチヤネルMOSFET30
の作用が優先してVregは高い方向へ修正される。
(iv) V<Vreg=V の関係にあるときは、オペアンプ28では反転入力端子
の電位Vと非反転入力端子の電位Vregは等しいの
で、PチヤネルMOSFET30の等価抵抗はVreg
=Vを保つように作用する。またオペアンプ29で
は、反転入力端子の電位Vは非反転入力端子の電位V
regより小さいので、オペアンプ29の出力は+V
DDに近くなり、PチヤネルMOSFET31の等価抵
抗は非常に大きく、事実上OFFしてしまつている。し
たがつてVreg=Vで安定する。
(v) V<V<Vreg の関係にあるときは、オペアンプ28と29は共に反転
入力端子の電位が非反転入力端子の電位より低いので、
オペアンプ28と29の出力は共にVDDに近くなり、
PチヤネルMOSFET30と31の等価抵抗は共に大
きくなつて、定電圧回路出力電位Vregは低くなるよ
うに修正される。
以上、(i)〜(v)までの場合を総合すると、V>V
場合には、Vreg=Vで安定する。つまり、高い方
の基準電圧で定電圧回路の出力は安定することがわか
る。したがつて第7図に見るように、高温でV>V
となると、この領域では定電圧回路の出力Vregは高
い方の基準電圧Vで安定しVreg=Vとなる。し
たがつて第6図の回路の場合、定電圧回路出力Vreg
は第1の基準電圧回路10の出力電圧Vと第2の基準
電圧回路27の出力電圧Vの高い方の電圧となるの
で、第8図に示す太い実線35の特性を持つことにな
る。第7図と第8図における特性線20は、前述した第
3図の回路を含む発振回路の発振停止電圧の温度特性を
示すものであり、温度係数は特性線23と34の温度係
数の中間の値を持つている。したがつて、特性線23を
持つ基準電圧源による定電圧回路で第3図の回路を動作
させた場合、高温で発振が停止し、また特性線34を持
つ基準電圧源による定電圧回路で第3図の回路を動作さ
せた場合、低温で発振が停止するので、特性線23もし
くは34のどちらかひとつを持つ基準電圧源の定電圧回
路では、どちらの場合でも第3図の回路の動作を温度の
広い領域にわたつて満足させられることは出来ないが、
特性線23と34を合成する第6図の定電圧回路は、第
8図の太い実線35の特性線を持つことになるので、低
温でも高温でも発振停止電圧の特性線20を常に上まわ
ることになり、第3図の回路の動作を温度の広い範囲で
満足する定電圧回路となることがわかる。なお、第8図
における破線は、第7図における特性線23及び34の
一部である。
第9図は、本発明を説明するための定電圧回路の第2の
実施例である。第6図は2個の基準電圧源を用い、2個
の抵抗値制御回路を並列に接続した場合であつたが、第
9図は更に拡張して3個の基準電圧源を用い、3個の抵
抗値制御回路を並列にした場合の回路である。第9図に
おいて、39は第1の基準電圧源、40は第2の基準電
圧源、41は第3の基準電圧源である。36,37,3
8はゲインの非常に高いオペアンプである。42,4
3,44はPチヤネルMOSFETであり、それぞれ抵
抗値制御回路の役目をする。45は負荷である。Pチヤ
ネルMOSFET42と43と44は、並列に接続され
た回路となつて負荷45と直列に接続され、電源間に接
続されている。PチヤネルMOSFET42,43,4
4の並列回路と負荷45の接続点が、定電圧回路の出力
端子46となつている。オペアンプ36の反転入力端子
には、第1の基準電圧源39の出力が接続され、オペア
ンプ37の反転入力端子には第2の基準電圧源40の出
力が接続され、オペアンプ38の反転入力端子には、第
3の基準電圧源41の出力が接続されている。オペアン
プ36,37,38の非反転入力端子には、共に定電圧
回路の出力端子46が入力している。オペアンプ36の
出力は、PチヤネルMOSFET42のゲートに接続さ
れ、オペアンプ37の出力はPチヤネルMOSFET4
3のゲートに接続され、オペアンプ38の出力はPチヤ
ネルMOSFET44のゲートに接続されている。
さて、以上の回路構成は、第6図の回路の原理を拡張し
ただけであり、並列回路においては、等価抵抗値の低い
方が優先して作用する原則は、3個の場合でも変らない
ので、第9図の定電圧回路の出力電圧Vregは、第
1,第2,第3の基準電圧源39,40,41の出力電
圧の中で最も高い電圧に制御される。したがつて第10
図において、特性線47を第1の基準電圧源39の出力
電圧特性、特性線48を第2の基準電圧源40の出力電
圧特性、特性線49を第3の基準電圧源41の出力電圧
特性とすると、第9図の定電圧回路の出力電圧Vreg
の特性は、第11図に示す太い実線50のように合成さ
れた特性となる。なお第11図における破線は、第10
図における特性線47,48,49の一部である。
以上、第6図においては、2個の基準電圧源の場合、第
9図においては3個の基準電圧源の場合について述べた
が、一般に基準電圧源がいくつの場合であつても、抵抗
値制御回路が並列に接続されていると、定電圧回路の出
力電圧は複数個の基準電圧源の最も高い値が合成された
特性となる。
第12図は、本発明を説明するための定電圧回路の第3
の実施例である。前述した第6図と第9図の回路におい
ては、基準電圧源も定電圧回路出力も−VDD(0電
位)を基準にしたものであるが、第12図においては基
準電圧源も定電圧回路出力も+VDDを基準にするもの
である。第12図において、54は+VDDを基準とす
る第1の基準電圧源、55も同様の第2の基準電圧源、
56も同様の第3の基準電圧源である。51,52,5
3は、非常にゲインの高いオペアンプである。57,5
8,59はNチヤネルMOSFETであり、それぞれ抵
抗値制御回路の役目をする。60は負荷である。Nチヤ
ネルMOSFET57と58と59は、並列に接続され
た回路となつて負荷60と直列に接続され、電源間に接
続されている。NチヤネルMOSFET57,58,5
9の並列回路と負荷60の接続点が、定電圧回路の出力
端子61となつている。オペアンプ51の反転入力端子
には、第1の基準電圧源54の出力が接続され、オペア
ンプ52の反転入力端子には第2の基準電圧源55の出
力が接続され、オペアンプ53の反転入力端子には第3
の基準電圧源56の出力が接続されている。オペアンプ
51,52,53の非反転入力端子には、ともに定電圧
回路の出力端子61が入力している。オペアンプ51の
出力は、NチヤネルMOSFET57のゲートに接続さ
れ、オペアンプ52の出力は、NチヤネルMOSFET
58のゲートに接続され、オペアンプ53の出力は、N
チヤネルMOSFET59のゲートに接続されている。
以上の回路は、第9図の回路を−VSS基準から+V
DD基準に入れ替えただけであるので、定電圧回路出力
端子61には+VDD側から第1,第2,第3の基準電
圧源の電位差の絶対値の最も大きい電圧が合成された特
性となつて出力される。なお第12図においては、基準
電圧源が3個の場合を示したが、このような+VDD
準の定電圧回路の場合でも、基準電圧源はいくつであつ
ても、同じ原理で構成できる。
第13図及び第14図に、第12図の回路の中に用いら
れた+VDDを基準とする基準電圧源の回路例を示す。
第13図は、第6図の回路の中に用いられた−VSS
基準にした基準電圧源10を+VDD基準に置き換えた
ものである。第13図において、62はPチヤネルMO
SFET、63,64はNチヤネルMOSFETであ
る。MOSFET62,63,64をそれぞれ直列に接
続し電源間に接続するとともに、MOSFET62と6
3の接続点をMOSFET62と63のゲートに接続
し、MOSFET63と64の接続点をMOSFET6
4のゲートに接続している。PチヤネルMOSFET6
2,NチヤネルMOSFET63,64のβをそれぞれ
βp4,βN4,βN5とし、スレツシユホールド電圧
をそれぞれVTP,VTN,VTNとする。また、MO
SFET62と63の接続点の電位をV、MOSFE
T63と64の接続点の電位をVとし、また−VSS
を0電位、+VDDと−VSSの電位差をVDDとする
と、MOSFET62,63,64に流れる電流は等し
いから が成り立ち、これらを解くと 但し となる。したがってβN5<<βp4βN5//βN4と設
計すれば(212)式は V≒VDD−VTP−VTN………(213) となる。(213)式を見れば、第13図の回路は端子
65より+VDD基準としてスレツシユホールド電圧の
和の電圧を取り出す基準電圧回路となつていることがわ
かる。
また第14図は、第6図の回路の中に用いられた−V
SSを基準にした基準電圧源27を+VDD基準に置き
換えたものである。第14図において、66,67はP
チヤネルMOSFET、68,69はNチヤネルMOS
FETである。PチヤネルMOSFET66及び67の
ソースは+VDDに接続され、NチヤネルMOSFET
68及び69のソースは−VSSに接続されている。P
チヤネルMOSFET66のドレインとNチヤネルMO
SFET68のドレインは接続されている。Pチヤネル
MOSFET67のドレインとNチヤネルMOSFET
69のドレインは接続されている。NチヤネルMOSF
ET69のゲートは、NチヤネルMOSFET69のド
レインに接続されている。NチヤネルMOSFET68
のゲートは+VDDに接続されている。PチヤネルMO
SFET66と67のゲートは、共にPチヤネルMOS
FET66のドレインに続続されている。またNチヤネ
ルMOSFET68と69のβを共にβN6,スレツシ
ユホールド電圧をそれぞれVTNH,VTNLとする。
PチヤネルMOSFET66と67のβを共にβp6
スレツシユホールド電圧を共にVTPとする。また−V
SSを0電位にとり、+VDDと−VDDとし、MOS
FET66と68の接続点の電位をV、MOSFET
67と69の接続点の電位をVとする。このときMO
SFET66と68に流れる電流は等しいから が成り立つ。またMOSFET67と69に流れる電流
は等しいから の関係式が得られ、(214),(215)式を解くこ
とにより V=VDD−(VTNH−VTNL) ……(2
16) となる。(216)式を見ると、第14図の回路は端子
70より+VDD基準としてスレツシユホールド電圧の
差の電圧を取り出す基準電圧回路となつていることがわ
かる。
第15図は、本発明を説明するための定電圧回路の第4
の実施例である。第6図や第9図の回路においては、抵
抗値制御回路は互いに並列に接続されていたが、第15
図の回路は、抵抗値制御回路を直列に接続したものであ
る。第15図において、73は第1の基準電圧源、74
は第2の基準電圧源である。71,72は、ゲインの非
常に高いオペアンプである。75,76はPチヤネルM
OSFETであり、それぞれ抵抗値制御回路としての役
目をしている。77は負荷である。PチヤネルMOSF
ET75と76は直列に接続された回路となつて、更に
負荷77と直列に接続され、電源間に接続されている。
PチヤネルMOSFET75と76の直列回路と負荷7
7の接続点が、定電圧回路の出力端子78となつてい
る。オペアンプ71の反転入力端子には、第1の基準電
圧源73の出力が接続され、オペアンプ72の反転入力
端子には第2の基準電圧源74の出力が接続されてい
る。オペアンプ71と72の非反転入力端子には、共に
定電圧回路の出力端子78が入力している。オペアンプ
71の出力は、PチヤネルMOSFET75のゲートに
接続され、オペアンプ72の出力はPチヤネルMOSF
ET76のゲートに接続されている。また、−VSS
0電位の基準とし、第1の基準電圧源73の出力電圧を
とし、第2の基準電圧源74の出力電圧をV
し、VとVは、第16図におけるそれぞれ特性線8
0と特性線79の温度特性を持つとする。
以上の回路において、低温時においては、第16図に見
られる通り、V<Vであつて、端子78の電圧V
regとの関係において (a) Vreg<V<V の関係にあるときは、オペアンプ71と72の反転入力
端子の電位は、共に非反転入力端子より高くなり、かつ
オペアンプ71と72のゲインは非常に高いので、オペ
アンプ71と72の出力はほぼ−VSSに近い値とな
り、PチヤネルMOSFET75と76の等価抵抗値は
小さくなつて、定電圧回路出力端子78の電位Vreg
は高くなるように修正される。
(b) Vreg=V<V の関係にあるときは、オペアンプ71の反転入力端子と
非反転入力端子の電位は等しいので、PチヤネルMOS
FET75はVreg=Vを保つ値で安定する。また
オペアンプ72の反転入力端子の電位は非反転入力端子
の電位より高いので、オペアンプ72の出力は−VSS
に飽和して、PチヤネルMOSFET76は最も低い等
価抵抗値で飽和し安定する。したがつてVreg=V
で安定する。
(c) V<Vreg<V の関係にあるときは、オペアンプ71の反転入力端子の
電位は非反転入力端子の電位より低いので、オペアンプ
71の出力はほぼ+VDDに近い値となり、Pチヤネル
MOSFET75の等価抵抗値は非常に大きくなつて定
電圧回路出力端子78の電位Vregを低くする方向に
作用する。オペアンプ72の反転入力端子の電位は、非
反転入力端子の電位より高いので、オペアンプ72の出
力はほぼ−VSSに近い値となり、PチヤネルMOSF
ET76の等価抵抗値は最小限の値にまでなる。したが
つてPチヤネルMOSFET75はOFFする方向へ、
PチヤネルMOSFET76はONし、等価抵抗値が下
がるが、MOSFET75と76は直列の接続の関係に
あるので、OFFの方の働きが優先し、定電圧回路出力
端子78の電位Vregは低くなるように修正される。
(d) V<Vreg=V の関係にあるとき、オペアンプ71の反転入力端子の電
位は非反転入力端子の電位より低いので、オペアンプ7
1の出力はほぼ+VDDに近い値となり、PチヤネルM
OSFET75の等価抵抗値は非常に大きくなつて、定
電圧回路出力Vregを下げる方向に作用する。またオ
ペアンプ72の反転入力端子の電位と非反転入力端子の
電位は等しいので、PチヤネルMOSFET76の等価
抵抗値はVreg=Vを保つような値をとるが、MO
SFET75と76は直列の接続の関係にあるので、O
FFの方の作用が優先し、定電圧回路出力端子78の電
位Vregは低くなるように修正される。
(e) V<V<Vreg の関係にあるときは、オペアンプ71と72は共に、反
転入力端子の電位が非反転入力端子の電位より低いの
で、オペアンプ71と72の出力はともに+VDDに近
くなり、PチヤネルMOSFET75と76の等価抵抗
値は非常に大きくなつて、定電圧回路出力電圧Vreg
は低くなるように修正される。
以上、(a)〜(e)までの場合を総合すると、V<V
場合にはVreg=Vで安定する。つまり、抵抗値制
御回路が直列に接続された場合には、低い方の基準電圧
で定電圧回路の出力は安定することがわかる。したがつ
て第16図に示すように、高温において逆にV<V
となつた場合は、低い方の基準電圧Vで安定し、V
reg=Vとなる。したがつて第15図の回路の場
合、定電圧回路の出力Vregは、第1の基準電圧回路
73の出力電圧Vと第2の基準電圧回路74の出力電
圧Vの低い方の電圧となるので、第17図に示す太い
実線81の特性を持つことになる。なお第17図におけ
る破線は、第16図における特性線79と80の一部で
ある。
第18図は、本発明を説明するための定電圧回路の第5
の実施例である。第15図は、2個の基準電圧源を用
い、2個の抵抗値制御回路を直列に接続した場合であつ
たが、第18図は、更に拡張して3個の基準電圧源を用
い、3個の抵抗値制御回路を直列にした場合の回路であ
る。第18図において、85は第1の基準電圧源、86
は第2の基準電圧源、87は第1の基準電圧源である。
82,83,84は、ゲインの非常に高いオペアンプで
ある。88,89,90はPチヤネルMOSFETであ
り、それぞれ抵抗値制御回路の役目をする。91は負荷
である。PチヤネルMOSFET88と89と90は、
直列に接続された回路となつて負荷91に直列に接続さ
れ、電源間に接続されている。PチヤネルMOSFET
88と89と90の直列回路と負荷91の接続点が、定
電圧回路の出力端子92となつている。オペアンプ82
の反転入力端子には、第1の基準電圧源85の出力が接
続され、オペアンプ83の反転入力端子には、第2の基
準電圧源86の出力が接続され、オペアンプ84の反転
入力端子には、第3の基準電圧源87の出力が接続され
ている。オペアンプ82,83,84の非反転入力端子
には、共に定電圧回路出力端子92が入力している。オ
ペアンプ82の出力は、PチヤネルMOSFET88の
ゲートに接続され、オペアンプ83の出力はPチヤネル
MOSFET89のゲートに接続され、オペアンプ84
の出力はPチヤネルMOSFET90のゲートに接続さ
れている。
さて、以上の回路構成は、第15図の回路の原理を拡張
しただけであり、直列回路においては、等価抵抗値の高
い方が優先して作用する原理は、3個の場合でも変らな
いので、第18図の定電圧回路の出力電圧Vregは、
第1,第2,第3の基準電圧源85,86,87の出力
電圧の最も低い電圧に制御される。したがつて第19図
において特性線93を第1の基準電圧源85の出力電圧
特性、特性線94を第2の基準電圧源86の出力電圧特
性、特性線95を第3の基準電圧源87の出力電圧特性
とすると、第18図の定電圧回路の出力電圧Vreg
第20図に示す太い実線96のように合成された特性と
なる。なお、第20図における破線は、第19図におけ
る特性線93,94,95の一部である。
以上、第15図においては2個の基準電源の場合、第1
8図においては3個の基準電圧源の場合について述べた
が、一般に基準電圧源がいくつの場合であつても、抵抗
値制御回路を直列に接続すると、定電圧回路の出力電圧
は複数個の基準電圧源の最も低い値が合成された特性と
なる。
第21図は、本発明を説明するための定電圧回路の第6
の実施例である。前述した第15図と第18図の回路に
おいては、基準電圧源も定電圧回路出力も−VSS(0
電位)を基準にしたものであるが、第21図において
は、基準電圧源も定電圧回路も+VDDを基準にするも
のである。第21図において、100は+VDDを基準
とする第1の基準電圧源、101も同様の第2の基準電
圧源、102も同様の第3の基準電圧源である。97,
98,99は、ゲインの非常に高いオペアンプである。
103,104,105はNチヤネルMOSFETであ
り、それぞれ抵抗値制御回路の役目をしている。106
は負荷である。NチヤネルMOSFET103と104
と105は、直列に接続された回路となつて負荷106
と直列に接続され、電源間に接続されている。Nチヤネ
ルMOSFET103,104,105の直列回路と負
荷106の接続点が定電圧回路の出力端子107となつ
ている。オペアンプ97の反転入力端子には、第1の基
準電圧源100の出力が接続され、オペアンプ98の反
転入力端子には第2の基準電圧源101の出力が接続さ
れ、オペアンプ99の反転入力端子には第3の基準電圧
源102の出力が接続されている。オペアンプ97,9
8,99の非反転入力端子には、共に定電圧回路の出力
端子107が入力している。オペアンプ97の出力は、
NチヤネルMOSFET103のゲートに接続され、オ
ペアンプ98の出力はNチヤネルMOSFET104の
ゲートに接続され、オペアンプ99の出力はNチヤネル
MOSFET105のゲートに接続されている。
以上の回路は、第18図の回路を−VSS基準に変換し
ただけであるので、定電圧回路出力端子107には+V
DD側から、第1,第2,第3の基準電圧源の電圧差の
絶対値の最も小さい電圧が合成された特性となつて出力
される。なお、第21図においては基準電圧源が3個の
場合を示したが、このような+VDD基準の定電圧回路
の場合でも、基準電圧源はいくつの場合であつても、同
じ原理で構成できることは云うまでもない。
第22図は、本発明の回路の第1の実施例である。3個
の基準電圧源を用いた場合であつて、抵抗値制御回路を
すべて並列に接続したのが、第9図の回路であり、すべ
て直列に接続したのが、第18図の回路であつたが、第
22図は、2個の抵抗値制御回路を直列に接続した回路
を、残りの1個の抵抗値制御回路と並列に接続した回路
である。第22図において、39は第1の基準電圧源、
40は第2の基準電圧源、41は第3の基準電圧源であ
る。108,109,110は、ゲインの非常に高いオ
ペアンプである。111,112,113は、Pチヤネ
ルMOSFETであり、それぞれ抵抗値制御回路の役目
をしている。114は負荷である。PチヤネルMOSF
ET111と112は、直列に接続された回路となつて
PチヤネルMOSFET113と並列に接続されてい
る。前記PチヤネルMOSFET111,112,11
3によつて構成された回路と負荷114は直列に接続さ
れ、電源間に接続されている。PチヤネルMOSFET
111,112,113によつて構成された回路と負荷
114の接続点が、定電圧回路の出力端子115となつ
ている。オペアンプ108の反転入力端子には、第1の
基準電圧源39の出力が接続され、オペアンプ109の
反転入力端子には第2の基準電圧源40の出力が接続さ
れ、オペアンプ110の反転入力端子には第3の基準電
圧源41の出力が接続されている。オペアンプ108,
109,110の非反転入力端子には、共に定電圧回路
出力端子115が入力している。オペアンプ108の出
力は、PチヤネルMOSFET111のゲートに接続さ
れ、オペアンプ109の出力はPチヤネルMOSFET
112のゲートに接続され、オペアンプ110の出力は
PチヤネルMOSFET113のゲートに接続されてい
る。
さて、以上の回路において、第22図の第1,第2,第
3の基準電圧源が、第9図における第1,第2,第3の
基準電圧源の特性にそれぞれ等しいものとし、第1,第
2,第3の基準電圧源の特性が、第10図における特性
線47,48,49にそれぞれ対応するとすれば、いま
までの説明により抵抗値制御回路が並列の場合には高い
方の基準電圧、直列の場合には低い方の基準電圧が支配
的になるので、第22図の出力電圧の特性は、第23図
の太い実線116の特性のようになる。なお第23図に
おいて、破線は第10図における特性線47,48,4
9の一部を示している。
第24図は、本発明の回路の第2の実施例である。第2
4図は、回路としては第22図と同じ構成であるが、第
22図において、第10図における特性線47の特性を
持つ第1の基準電圧源39は、直列構成となつている抵
抗値制御回路111を制御する基準として、また特性線
49の特性を持つ第3の基準電圧源41は、並列構成と
なつている抵抗値制御回路113を制御する基準として
作用していたが、第24図においては、特性線47の特
性を持つ第1の基準電圧源39は、並列構成となつてい
る抵抗値制御回路120を制御する基準として、また特
性線49の特性を持つ第3の基準電圧源41は、直列構
成となつている抵抗値制御回路122を制御する基準と
して作用するように構成されている。つまり、第22図
と第24図の回路は本質的に同じであるが、例として用
いている基準電圧源を第22図と第24図で入れ替えた
ものである。第24図において、基準電圧源39,4
0,41は、それぞれ第10図における特性線47,4
8,49の出力特性を持つとすると、抵抗値制御回路が
並列の場合には高い方の基準電圧が、直列の場合には低
い方の基準電圧が支配するという原理により、第24図
の定電圧回路出力は第25図の太い実線125の特性と
なる。なお第25図において、破線は第10図における
特性線47,48,49の一部を示すものである。
第26図は、本発明の回路の第3の実施例である。3個
の基準電圧源を用いた場合であつて、抵抗値制御回路を
直列や並列や、またそれを組み合わせた場合の例を第9
図,第18図,第22図で示したが、第26図は、2個
の抵抗値制御回路を並列に接続した回路を、残りの1個
の抵抗値制御回路と直列に接続した場合の回路である。
第26図において、39は第1の基準電圧源、40は第
2の基準電圧源、41は第3の基準電圧源である。12
6,127,128は、ゲインの非常に高いオペアンプ
である。129,130,131はPチヤネルMOSF
ETであり、それぞれ抵抗値制御回路の役目をしてい
る。132は負荷である。PチヤネルMOSFET12
9と131は、並列に接続された回路となつてPチヤネ
ルMOSFET130と直列に接続されている。前記P
チヤネルMOSFET129と131によつて構成され
た回路と負荷132は直列に接続され、電源間に接続さ
れている。PチヤネルMOSFET129と130と1
31によつて構成された回路と、負荷132の接続点が
定電圧回路の出力端子133となつている。オペアンプ
126の反転入力端子には第1の基準電圧源39の出力
が接続され、オペアンプ127の反転入力端子には第2
の基準電圧源40の出力が接続され、オペアンプ128
の反転入力端子には第3の基準電圧源41の出力が接続
されている。オペアンプ126,127,128の非反
転入力端子には、共に定電圧回路出力端子133が入力
している。オペアンプ126の出力は、PチヤネルMO
SFET129のゲートに接続され、オペアンプ127
の出力は、PチヤネルMOSFET130のゲートに接
続され、オペアンプ128の出力はPチヤネルMOSF
ET131のゲートに接続されている。
さて以上の回路において、第26図における第1,第
2,第3の基準電圧源の特性が、第10図における特性
線47,48,49にそれぞれ対応するとすれば、抵抗
値制御回路が並列の場合には高い方の基準電圧源が支配
し、直列の場合には低い方の基準電圧が支配するという
原理により、第26図の定電圧回路出力は第27図の太
い実線134の特性となる。なお第27図において、破
線は第10図における特性線47,48,49の一部を
示すものである。
さて、第9図,第22図,第24図,第26図の回路に
おいては、第10図に示す3つの特性線をそれぞれ持つ
3個の基準電圧源を同じように用いながら、それによつ
てそれぞれ制御される抵抗値制御回路の直並列の組み合
わせを変えることにより、第11図,第23図,第25
図,第27図に示すように、定電圧回路出力特性を様々
に変えられることがわかる。したがつて一般に、1個の
基準電圧源によつて目的の特性を定電圧回路を得られな
いときには、目的の特性の一部もしくは近い特性をそれ
ぞれ持つ異なつた複数個の基準電圧源を用い、それぞれ
によつて制御される抵抗値制御回路の直並列を様々に組
み合わせることによつて、自在に特性を合成し、目的の
特性を持つ定電圧回路を得ることができる。
さて、以上の回路においては、基準電圧源の出力電圧と
定電圧回路の出力電圧が等しい場合の回路について述べ
て来たが、第28図は、基準電圧源の出力電圧と定電圧
回路の出力電圧が、必ずしも等しくない場合の回路であ
る。第28図の回路において、135,137はPチヤ
ネルMOSFETであり、、136,138はNチヤネ
ルMOSFETであり、MOSFET135,136,
137,138によつて基準電圧回路139が構成され
ている。140は、ゲインの非常に高いオペアンプであ
る。141はPチヤネルMOSFETであり、抵抗値制
御回路の役目をしている。142は負荷である。Pチヤ
ネルMOSFET135とNチヤネルMOSFET13
6は直列に接続され、電源間に接続されている。Pチヤ
ネルMOSFET135とNチヤネルMOSFET13
6のゲートは、共にPチヤネルMOSFET135とN
チヤネルMOSFET136の接続点に接続されてい
る。PチヤネルMOSFET141とPチヤネルMOS
FET137とNチヤネルMOSFET138は直列に
接続され、電源間に接続されている。MOSFET13
7と138のゲートは、共にMOSFET137と13
8の接続点に接続されている。オペアンプ140の反転
入力端子は、MOSFET135と136の接続点に接
続され、非反転入力端子はMOSFET137と138
の接続点に接続されている。オペアンプ140の出力
は、PチヤネルMOSFET141のゲートに接続され
ている。PチヤネルMOSFET141と137の接続
点が定電圧回路出力端子143となり、定電圧回路出力
端子143と−VSSの間に負荷142が接続されてい
る。ここでMOSFET135,136,137,13
8のβをそれぞれβP10,βN10,βP11,β
N11とし、スレツシユホールド電圧をそれぞれ
TP,VTN,VTP,VTNとする。MOSFET
135と136の接続点の電位をV10とし、MOSF
ET137と138の接続点の電位をV11とする。ま
た−VSSを0電位とし、+VDDと−VSSの電位差
をVDDとし、定電圧回路出力端子143の電位をV
regとする。このときMOSFET135と136に
流れる電流は等しいから の関係があり、解くと 但し となる。ここでβP10<<βN10と設計すれば(21
8)式は V10≒VTN………(219) となる。またMOSFET137と138に流れる電流
は等しいから の関係があり、解くと となる。さてオペアンプ140のゲインは非常に高いの
で、安定点においては V10=V11 ………(222) となる。したがつて(219),(221),(22
2)式により Vreg=VTP+VTN ………(223) となる。したがつて、第28図の回路においては、基準
電圧源139において出力された電圧V10,V11
電圧は、共にほぼVTNであるのに対し、定電圧回路出
力は(VTP+VTN)と異なつており、このような回
路もあることがわかる。
さて第29図において第1の基準電圧源139とオペア
ンプ140と抵抗値制御回路としてのPチヤネルMOS
FET141は、第28図で説明した基準電圧源の出力
電圧と定電圧回路出力が必ずしも同じでない回路であ
る。また、第2の基準電圧源144とオペアンプ145
と抵抗値制御回路としてのPチヤネルMOSFET14
6は、第2図で説明し、第6図,第9図等であらわれた
基準電圧源の電圧と等しい定電圧回路出力を出す回路で
ある。なお第29図において、147は負荷であり、1
48は定電圧回路出力端子である。さて第2の基準電圧
源の出力電圧をV12とすると、抵抗値制御回路141
と146は並列に接続されているので、(VTP+V
TN)とV12の値の大きい方が単独もしくは合成され
て出力されることになる。つまり、複数個の基準電圧源
の特性の合成は、必ずしも基準電圧源の出力電圧と定電
圧回路出力電圧の等しい回路ばかりではなく、等しくな
い回路どうしの場合でも、また等しい回路と等しくない
回路の場合でも、特性の合成は出来るのである。
以上説明したように、本発明によれば、電源と定電圧出
力端子との間に複数のFETを接続し、これら複数のF
ETを対応する基準電圧源の温度特性に合わせて任意の
組み合わせで直列および並列に接続することにより、定
電圧出力端子から任意の温度特性をもつ定電圧を出力す
ることができるという効果がある。
特に本発明によれば、FETの接続を並列または直列の
いずれかに選択することにより、異なる温度特性をもつ
複数の基準電圧源の中から、高い方の基準電圧または低
い方の基準電圧を任意に選択して、所望の温度特性をも
つ定電圧を発生させることができる。
【図面の簡単な説明】
第1図,第2図は、従来の定電圧回路例を示す回路図、
第3図は負荷の一例を示す回路図、第4図,第5図は、
定電圧回路出力電圧と発振停止電圧の温度特性を示す
図、第6図は本発明を説明する定電圧回路の第1の実施
例を示す回路図、第7図は、第6図の回路で用いた基準
電圧源の温度特性と、第3図の回路の発振停止電圧の温
度特性を示す図、第8図は、第6図の定電圧回路の出力
電圧の温度特性と、第3図の回路の発振停止電圧の温度
特性を示す図、第9図は本発明を説明する定電圧回路の
第2の実施例を示す回路図、第10図は、第9図の回路
で用いた基準電圧源の温度特性を示す図、第11図は、
第9図の定電圧回路の出力電圧の温度特性を示す図、第
12図は本発明を説明する定電圧回路の第3の実施例を
示す回路図、第13図,第14図は、+VDDを基準と
した基準電圧源の例を示す回路図、第15図は本発明を
説明する定電圧回路の第4の実施例を示す回路図、第1
6図は第15図の回路で用いた基準電圧源の温度特性を
示す図、第17図は第15図の定電圧回路の出力電圧の
温度特性を示す図、第18図は本発明を説明する定電圧
回路の第5の実施例を示す回路図、第19図は第18図
の回路で用いた基準電圧源の温度特性を示す図、第20
図は第18図の定電圧回路の出力電圧の温度特性を示す
図、第21図は本発明を説明する定電圧回路の第6の実
施例を示す回路図、第22図は本発明の第1実施例を示
す回路図、第23図は第22図の定電圧回路の出力電圧
の温度特性を示す図、第24図は本発明の第2実施例を
示す図、第25図は第24図の定電圧回路の出力電圧の
温度特性を示す図、第26図は本発明の第3実施例を示
す回路図、第27図は第26図の定電圧回路の出力電圧
の温度特性を示す図、第28図は従来の定電圧回路の第
3例を示す回路図、第29図は本発明の第4の実施例を
示す回路図である。 1,6,28,29,36,37,38,51,52,
53,71,72,82,83,84,97,98,9
9,108,109,110,117,118,11
9,126,127,128,140,145……オペ
アンプ 2……ツエナーダイオード 3,17……抵 抗 4,10,27,39,40,41,54,55,5
6,73,74,85,86,87,100,101,
102,139,144……基準電圧源 5,13,18,19,33,46,61,65,7
0,78,92,107,115,124,133,1
43,148……端 子 7,8,14,23,24,62,66,67,13
5,137……PチヤネルMOSFET 9,15,25,26,63,64,68,69,13
6,138……NチヤネルMOSFET 11,30,31,42,43,44,75,76,8
8,89,90,111,112,113,120,1
21,122,129,130,131,141,14
6……抵抗値制御回路としてのPチヤネルMOSFET 57,58,59,103,104,105……抵抗値
制御回路としてのNチヤネルMOSFET 12,32,45,60,77,91,106,11
4,123,132,142,147……負 荷 16……コンデンサ

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】温度特性の異なる少なくとも3個の基準電
    圧源と、 対応する基準電圧源の出力する基準電圧が第1の入力端
    子に入力され、定電圧出力端子の出力電圧又はこの出力
    電圧と所定の関係にある電圧が第2の入力端子に入力さ
    れる複数のオペアンプと、 電源と定電圧出力端子との間に接続され、対応するオペ
    アンプの出力電圧により抵抗値が制御される複数のFE
    Tと、 を含み、 前記複数のFETは、 対応する基準電圧源の温度特性に合わせて、任意の組み
    合わせで直列及び並列接続され、前記定電圧出力端子か
    ら任意の温度特性を持つ定電圧を出力させることを特徴
    とする定電圧回路。
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