JPH061638B2 - Shift register - Google Patents

Shift register

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JPH061638B2
JPH061638B2 JP61271138A JP27113886A JPH061638B2 JP H061638 B2 JPH061638 B2 JP H061638B2 JP 61271138 A JP61271138 A JP 61271138A JP 27113886 A JP27113886 A JP 27113886A JP H061638 B2 JPH061638 B2 JP H061638B2
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JP
Japan
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inverter
stage
output
channel mos
shift register
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JP61271138A
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和弘 秋山
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NEC Corp
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Nippon Electric Co Ltd
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Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明はシフトレジスタに関し、特にレーシングを起こ
すことなく安定したシフト動作をさせることができ、か
つ素子数の少ないシフトレジスタに関する。
Description: TECHNICAL FIELD The present invention relates to a shift register, and more particularly to a shift register that can perform a stable shift operation without causing racing and has a small number of elements.

〔従来の技術〕[Conventional technology]

従来のスタティックシフトレジスタはDタイプフリップ
フロップ等の素子数の多いものを記憶素子として使用し
ていた。
In the conventional static shift register, one having a large number of elements such as a D-type flip-flop is used as a storage element.

〔発明が解決しようとする問題点〕[Problems to be solved by the invention]

上述した従来のシフトレジスタは、ディジタルは情報を
格納する記憶素子として、Dタイプフリップフロップ
(以下D−F/F)が使用されていることが多いが、こ
のD−F/Fそのものが素子数が多く、さらにセット,
リセット機能にもたせようとすると素子数が増大し、特
に集積回路上に構成する場合に面積が大きくなってしま
うという欠点があった。
In the conventional shift register described above, a D-type flip-flop (hereinafter referred to as DF / F) is often used as a digital storage element for storing information. However, this DF / F itself is the number of elements. There are many, more sets,
If the reset function is provided, the number of elements increases, and there is a drawback that the area becomes large especially when the structure is formed on an integrated circuit.

本発明の目的は、簡単な構成により上記欠点を除去し、
安定に動作するシフトレジスタを提供することにある。
The object of the present invention is to eliminate the above drawbacks with a simple structure,
It is to provide a shift register that operates stably.

〔問題点を解決するための手段〕[Means for solving problems]

本発明のシフトレジストの構成は、1ビット分の情報を
格納する第N段の記憶セルは、第1のイバータの入力と
第2のインバータの出力間および前記第1のインバータ
の出力と前記第2のインバータの入力間が第1の制御線
を共通に接続したゲート入力をもつ第1および第2の単
チャンネルMOSトランジスタを介してそれぞれ接続さ
れ、前記第N段と第N+1段の記憶セル間は前記第N段
の第2のインバータの入力と前記第N+1段に配置され
る記憶セルにおける第1のインバータの出力間および前
記N段の第2のインバータの出力と前記N+1段に配置
される記憶セルにおける第1のインバータの入力間が第
2の制御線を共通に接続したゲート入力をもつ第3およ
び第4の単チャンネルMOSトランジスタを介して接続
され、前記第2および第4の単チャンネルMOSトラン
ジスタは前記第1および第3の単チャンネルMOSトラ
ンジスタよりもオン抵抗が小さくかつ前記第3および第
4の単チャンネルMOSトランジスタ,前記N段の記憶
セルの第2のインバータ,前記第N+1段における記憶
セルの第1のインバータにより、シフト時に一時的に記
憶セルと同じ構成になることを特徴とする。
According to the configuration of the shift resist of the present invention, the memory cell at the Nth stage for storing 1-bit information is provided between the input of the first inverter and the output of the second inverter and between the output of the first inverter and the output of the first inverter. The inputs of the two inverters are connected via the first and second single-channel MOS transistors having gate inputs to which the first control line is commonly connected, and between the memory cells of the Nth and (N + 1) th stages. Is arranged between the input of the second inverter of the Nth stage and the output of the first inverter in the memory cell arranged in the N + 1th stage and between the output of the second inverter of the Nth stage and the N + 1th stage. The inputs of the first inverter in the memory cell are connected via third and fourth single-channel MOS transistors having gate inputs commonly connected to the second control line, and the second inverter is connected to the second inverter. And the fourth single-channel MOS transistor has a smaller on-resistance than the first and third single-channel MOS transistors, and the third and fourth single-channel MOS transistors and the second inverter of the N-stage memory cell. The first inverter of the memory cell in the (N + 1) th stage temporarily has the same configuration as the memory cell at the time of shifting.

〔実施例〕〔Example〕

次に、本発明について図面を参照して説明する。 Next, the present invention will be described with reference to the drawings.

第1図は本発明の一実施令の双方向シフトレジスタの部
分回路図、第2図(a),(b)は第1図のシフト動作
時のタイミングチャートである。
FIG. 1 is a partial circuit diagram of a bidirectional shift register according to an embodiment of the present invention, and FIGS. 2 (a) and 2 (b) are timing charts during the shift operation of FIG.

第1図において1〜4は記憶素子を構成するCMOSイ
ンバータ、5〜7,5′〜7′はNチャネルエンハンス
メントMOSトランジスタ(以下Nチャンネルトランジ
スタと略す。ただし、5〜7は5′〜7′よりオン抵抗
が小さいNチャンネルトランジスタである。)、8はA
NDゲート、9はNANDゲート、10はインバータ、
11はシフト制御端子、12〜13はクロック入力端
子、14,15はそれぞれ第N段目,第N+1段目の記
憶素子である。
In FIG. 1, 1 to 4 are CMOS inverters constituting a memory element, 5 to 7 and 5'to 7'are N channel enhancement MOS transistors (hereinafter abbreviated as N channel transistors. However, 5 to 7 are 5'to 7 '. 8 is A.
ND gate, 9 is a NAND gate, 10 is an inverter,
Reference numeral 11 is a shift control terminal, 12 to 13 are clock input terminals, and 14 and 15 are storage elements in the Nth and (N + 1) th stages, respectively.

シフト動作させる時には、端子11にハイレベル電圧を
加え、端子12,13には第2図(a)に示すクロック
パルスのφ,φをそれぞれ与えておく。これにより
ゲート8,9には、それぞれ第2図(b)に示すように
クロックパルスφ,φが出力される。
When the shift operation is performed, a high level voltage is applied to the terminal 11 and the clock pulses φ 1 and φ 2 shown in FIG. 2A are applied to the terminals 12 and 13, respectively. As a result, clock pulses φ 1 and φ 2 are output to the gates 8 and 9, respectively, as shown in FIG.

第2図(b)において区間IではNチャンネルトランジ
スタ5〜7および5′〜7′がすべてオフするため、N
段およびN+1段目の記憶素子14および15に貯えら
れているデータはCMOSインバータ1〜4のゲート容
量に一時的に保存されたままの状態になる。区間IIでは
Nチャンネルトランジスタ6と6′のみがオンするた
め、CMOSインバータ2,3は電気的に接続される
が、Nチャンネルトランジスタ6のオン抵抗が6′のも
のより小さいため、CMOSインバータ2のゲート容量
に貯えられていたデータの方が先にCMOSインバータ
3に伝わり、そのデータが再びCMOSインバータ2に
フィードバックされるため、CMOSインバータ2のも
のデータを確実にCMOSインバータ3に転送すること
ができる。
In section I in FIG. 2B, all of the N-channel transistors 5 to 7 and 5'to 7'are turned off.
The data stored in the memory elements 14 and 15 of the first and N + 1th stages are temporarily stored in the gate capacitances of the CMOS inverters 1 to 4. In the section II, only the N-channel transistors 6 and 6'are turned on, so that the CMOS inverters 2 and 3 are electrically connected. However, since the on-resistance of the N-channel transistor 6 is smaller than that of 6 ', the CMOS inverter 2 has Since the data stored in the gate capacitance is transmitted to the CMOS inverter 3 first and the data is fed back to the CMOS inverter 2, the data of the CMOS inverter 2 can be reliably transferred to the CMOS inverter 3. .

区間IIIでは区間Iと同様にすべてのNチャンネルトラ
ンジスタ5〜7および5′〜7′がオフされるので、第
N段目のデータはCMOSインバータ3のゲート容量に
保存されたままになっている。区間IVではNチャンネル
トランジスタ5,5′,7,7′がオンするのでCMO
Sインバータ1,2および3,4が電気的に接続される
が第N+1段目の記憶素子15に着目してみると、7の
オン抵抗が7′のものより小さいため、CMOSインバ
ータ3で保存されていたデータの方が先にCMOSイン
バータ4に伝わり、再びCMOSインバータ3フィード
バックされるのでCMOSインバータ3の持つデータを
確実に転送することができ、結果的には、第N段目の記
憶素子14に格納されていたデータが第N+1段目の記
憶素子15にシフトされたことになる。
In the section III, as in the section I, all the N-channel transistors 5 to 7 and 5'to 7'are turned off, so that the data of the Nth stage is still stored in the gate capacitance of the CMOS inverter 3. . In section IV, the N-channel transistors 5, 5 ', 7, 7'are turned on, so CMO
The S inverters 1, 2 and 3, 4 are electrically connected, but focusing on the memory element 15 of the (N + 1) th stage, since the on resistance of 7 is smaller than that of 7 ', it is stored in the CMOS inverter 3. The stored data is transmitted to the CMOS inverter 4 first and is fed back to the CMOS inverter 3 again, so that the data possessed by the CMOS inverter 3 can be reliably transferred, and as a result, the memory element of the Nth stage This means that the data stored in 14 is shifted to the memory element 15 in the (N + 1) th stage.

端子11にロウレベル電圧を加えると、ゲート8の出力
はロウレベルに、またゲート9の出力はハイレベルにな
るため、Nチャンネルトランジスタ5,7はオンたまま
になるためシフト動作は行なわず、それぞれの記憶素子
はデータを保持した状態を安定に保っている。
When a low level voltage is applied to the terminal 11, the output of the gate 8 becomes low level and the output of the gate 9 becomes high level, so that the N-channel transistors 5 and 7 remain on and the shift operation is not performed. The memory element maintains a stable state of holding data.

〔発明の効果〕〔The invention's effect〕

以上説明したように本発明は2つのインバータを単チャ
ンネルMOSトランジスタを介して接続されて記憶素子
を構成し、さらに記憶素子間を別の単チャンネルMOS
トランジスタを介して接続させることにより、レーシン
グのない安定したシフト動作を行なわすことができ、か
つ素子数の少ないシフトレジスタを構成することができ
る。
As described above, according to the present invention, two inverters are connected via a single-channel MOS transistor to form a storage element, and another single-channel MOS is provided between the storage elements.
By connecting via a transistor, a stable shift operation without racing can be performed, and a shift register having a small number of elements can be configured.

またセット,リセット機能の追加にも若干のトランジス
タの追加により実現できる。
Also, the addition of a set / reset function can be realized by adding a few transistors.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

第1図は本発明の一実施例の双方向シフトレジスタの部
分回路図、第2図(a),(b)は第1図のシフト動作
時のタイミングチャートである。 1〜4…CMOSインバータ、5〜7,5′〜7′…チ
ャンネルエンハンスメントMOSトランジスタ、8…A
NDゲート、9…NANDゲート、10…インバータ、
11…シフト制御端子、12〜13…クロック入力端
子、14…第N段目の記憶素子、15…第N+1段目の
記憶素子。
FIG. 1 is a partial circuit diagram of a bidirectional shift register according to an embodiment of the present invention, and FIGS. 2 (a) and 2 (b) are timing charts during the shift operation of FIG. 1 to 4 ... CMOS inverter, 5 to 7, 5'to 7 '... Channel enhancement MOS transistor, 8 ... A
ND gate, 9 ... NAND gate, 10 ... Inverter,
11 ... Shift control terminal, 12 to 13 ... Clock input terminal, 14 ... Nth stage storage element, 15 ... N + 1th stage storage element.

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】1ビット分の情報を格納する第N段の記憶
セルは、第1のイバータの入力と第2のインバータの出
力間および前記第1のインバータの出力と前記第2のイ
ンバータの入力間が第1の制御線を共通に接続したゲー
ト入力をもつ第1および第2の単チャンネルMOSトラ
ンジスタを介してそれぞれ接続され、前記第N段と第N
+1段の記憶セル間は前記第N段の第2のインバータの
入力と前記第N+1段に配置される記憶セルにおける第
1のインバータの出力間および前記N段の第2のインバ
ータの出力と前記N+1段に配置される記憶セルにおけ
る第1のインバータの入力間が第2の制御線を共通に接
続したゲート入力をもつ第3および第4の単チャンネル
MOSトランジスタを介して接続され、前記第2および
第4の単チャンネルMOSトランジスタは前記第1およ
び第3の単チャンネルMOSトランジスタよりもオン抵
抗が小さく、かつ、前記第3および第4の単チャンネル
MOSトランジスタ,前記N段の記憶セルの第2のイン
バータ,前記第N+1段における記憶セルの第1のイン
バータにより、シフト時に一時的に記憶セルと同じ構成
になることを特徴とするシフトレジスタ。
1. An Nth stage memory cell for storing 1-bit information is provided between an input of a first inverter and an output of a second inverter, and between an output of the first inverter and an output of the second inverter. The inputs are connected to each other via first and second single-channel MOS transistors having gate inputs to which the first control line is commonly connected, and the Nth stage and the Nth stage are connected.
Between the memory cells of the + 1th stage, between the input of the second inverter of the Nth stage and the output of the first inverter of the memory cells arranged in the (N + 1) th stage and between the output of the second inverter of the Nth stage and The inputs of the first inverter in the memory cells arranged in N + 1 stages are connected via the third and fourth single-channel MOS transistors having gate inputs to which the second control line is commonly connected, and the second And the fourth single-channel MOS transistor has a smaller on-resistance than the first and third single-channel MOS transistors, and the third and fourth single-channel MOS transistors and the second of the N-stage memory cells. And the first inverter of the memory cell in the (N + 1) th stage temporarily have the same configuration as the memory cell at the time of shifting. Shift register.
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