JPH0611543A - 検査系列生成方法および検査系列生成装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】 高い故障検出率を得る順序回路の検査系列生
成方法を提供することを目的とする。 【構成】 ステップ１０４では、未検出故障に対する検
査系列生成処理の回数が、ステップ１０２で設定した未
検出故障に対する検査系列生成処理の最大回数を越えて
いるか否かを判断する。ステップ１０８では、ステップ
１１２で登録された目標故障の禁止Ｄフロンティア集合
中に存在する信号線を、目標故障を外部出力ピンに伝搬
させるタイムフレームにおいてＤフロンティアとして選
択しないように検査系列生成の故障伝搬処理を行なう。
検査系列生成の故障伝搬処理が失敗したときに、ステッ
プ１１２では、所定のタイムフレームで選択されたＤフ
ロンティアをその目標故障の禁止Ｄフロンティア集合に
登録する。これにより、動的に故障伝搬経路を変更し、
検査系列生成に成功する確率を上げ、高い故障検出率を
得る検査系列が生成できる。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、デジタル回路の故障検
査に用いる検査系列を生成する検査系列生成方法および
検査系列生成装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】近年、ディジタル回路はＬＳＩ化が大き
く進み、あらゆる分野で利用されるようになっている。
ＬＳＩは直接内部の信号を観測できないことから、ＬＳ
Ｉの大規模化につれて、検査段階における故障検査に関
する技術が重要になってきている。

【０００３】ディジタル回路の故障検査に関して、故障
を検出するための検査系列を予め自動的に生成する方法
が種々提案されている。一般に故障の有無は、被検査回
路の入力端子に適当な入力系列を加えて出力端子から得
られる結果と、予想される結果とを比べることによって
判定される。これに用いられる入力系列が検査系列であ
る。この検査系列は、予め仮定しておいた故障のそれぞ
れに対して、それを検査することができるように生成さ
れる。

【０００４】従来の検査系列生成方法は、ＰＲＥＮＴＩ
ＣＥ−ＨＡＬＬ，Ｅｎｇｌｅｗｏｏｄ Ｃｌｉｆｆ，Ｎ
ｅｗ Ｊｅｒｓｅｙ発行の「ＦＡＵＬＴ ＴＯＬＥＲＡＮ
Ｔ ＣＯＭＰＵＴＩＮＧ Ｔｈｅｏｒｙ ａｎｄ Ｔｅｃｈ
ｎｉｑｕｅｓ ＶｏｌｕｍｅＩ」のＣｈａｐｔｅｒ１の
１．４．２「Ｓｔｕｃｋ ａｔ Ｆａｕｌｔ Ｔｅｓｔｉ
ｎｇ」と、 １９９１年のヨーロピアン デザイン オ
ートメーション コンファレンスの資料［Ｔ．Ｎｉｅｒ
ｍａｎｎ ａｎｄ Ｊ．Ｈ．Ｐａｔｅｌ，”ＨＩＴＥＣ：
Ａ ＴＥＳＴ ＧＥＮＥＲＡＴＩＯＮ ＰＡＣＫＡＧＥ
ＦＯＲ ＳＥＱＵＥＮＴＩＡＬ ＣＩＲＣＵＩＴ
Ｓ，”１９９１］などの参考文献に記載されている。上
記の従来技術における検査系列生成方法について以下説
明する。

【０００５】検査系列生成の前提として、検査の対象と
なる故障は、被検査回路に基づいて仮定された故障であ
り、モデル化されたものである。具体的には、縮退故障
である。即ち、回路の信号線が論理０又は１に固定した
値となる故障であり、０縮退故障と１縮退故障とがあ
る。これらの縮退故障は、被検査回路となるＬＳＩのネ
ットリストに基づいて各信号線毎に予めリストアップさ
れて故障表に登録されている。この故障表の一例を図１
１に示す。同図において、「信号線」は被検査回路に存
在する各信号線を、「故障」は０縮退故障（s-a-0）か
１縮退故障（s-a-1）かを、「検出」は”１”で検出済
み、即ち当該故障に対する検査系列の生成に成功したこ
と、または、他の故障を検出する検査系列により当該故
障の検出が可能なことを、「処理」は”１”で処理済
み、即ち検査系列の生成処理の対象として選択されて生
成処理（処理が成功したか失敗したかは関係ない）が実
行されたことを、「冗長故障」は”１”でその故障が冗
長故障、即ち検出不能な故障であることをそれぞれ示
す。例えば、同図における信号線ａのs-a-0故障は、検
査系列の生成処理が実行され、その結果、冗長故障では
ないことがわかり、さらに検査系列の生成に成功したこ
とを示す。また信号線ｃのs-a-1故障は、検査系列の生
成処理が実行され、冗長故障ではないことがわかり、検
査系列の生成に失敗したことを示す。図１２は従来の順
序回路の検査系列生成方法を示す図である。

【０００６】同図においてステップ４０１は順序回路の
検査系列生成処理の開始を示す。ステップ４０２では、
故障表を参照して、冗長故障以外の検査系列が生成され
ていない故障（「検出」欄が０、以下、未検出故障と呼
ぶ。）、かつ、検査系列を生成する処理がまだ実行され
ていない故障（「処理」欄が０、以下、未処理故障と呼
ぶ。）が存在するか否かを判断し、存在すればステップ
４０３に進み、存在しなければステップ４０８に進む。

【０００７】ステップ４０３では、未検出でかつ未処理
の故障群の中から検査系列生成の対象となる故障（以
下、目標故障と呼ぶ。）を１つ選択する。このとき、こ
の目標故障に対応する故障表の「処理」欄を”１”にす
る。ステップ４０４では、順序回路の検査系列生成の前
段階として、まず、組合せ回路部分のみを対象として、
目標故障に対する検査入力生成を行うことにより、論理
的に検出不能な故障（以下、冗長故障）であるかどうか
を判断する。その結果、目標故障が冗長故障であった場
合、故障表の対応する「冗長故障」を”１”にして、ス
テップ４０２へ進む。このステップにより、検査系列生
成前に、検出不能な故障を予めふるい落とすことができ
る。

【０００８】ステップ４０５では、ステップ４０３で選
択した目標故障について、故障箇所から任意の外部出力
ピンまで目標故障の影響を伝搬する系列を生成する処理
（以下、故障伝搬処理）を行なう。故障伝搬処理に成功
すればステップ４０６に進み、失敗すればステップ４０
２へ進み次の目標故障の処理を行なう。ステップ４０６
では、回路の初期状態から故障伝搬処理が終了した時点
の回路の状態へ遷移させる系列を生成する処理（以下、
状態初期化処理）を行なう。その系列の生成に成功すれ
ばステップ４０７に進み、失敗すればステップ４０２へ
進み次の目標故障の処理を行なう。ここで、初期状態は
任意の状態としてかまわないが、一般的には、被検査回
路の全てのＦＦｓが、don't care または、unknowm
である状態とすれば、順序回路がどのような状態であっ
ても故障検査を実行可能な検査系列を得ることができ
る。実際上は、故障検査の実行時における１つ前の故障
検査が終了した時点における回路の状態とすれば、連続
して故障検査を実行する場合の検査時間を短縮できる。

【０００９】ステップ４０７では、ステップ４０３で選
択した目標故障の検査系列で故障シミュレーションを実
行し、任意の外部出力ピンで検出された故障について、
「検出」欄を”１”にする。これにより検出される故障
は目標故障１つとは限らない。なぜなら、目標故障のシ
ミュレーションに付随して、目標故障と同一経路上の故
障など、他の故障についてもシミュレーションすること
になるからである。

【００１０】ステップ４０８は順序回路の検査系列生成
処理の終了を示す。図１３は、上記ステップ４０５にお
ける故障伝搬処理を示すフローである。このフローは、
RTP（Reverse Time Processing）法に基づく故障伝搬処
理を示す。RTP法では、順序回路を組み合わせ回路部分
とフリップフロップ回路（以下、ＦＦ回路）部分とに論
理的に分けて、組み合わせ回路部分の時間的なくり返し
として展開された回路と取り扱う。展開された回路にお
いて、故障伝搬処理は、目標故障の最終的な伝搬先とな
るべき外部出力から故障箇所までの経路を発見的に遡っ
て設定し、その経路を故障信号が伝搬するための入力系
列を求める。その際、ある回路単位（以下、タイムフレ
ーム）毎に、目標故障の故障信号が伝搬するための入力
を求める、すなわち、その経路を活性化していく手法で
ある。

【００１１】具体的には、展開された順序回路におい
て、タイムフレーム毎に、以下のステップを実行する。
ステップ６０１は、故障伝搬処理の開始を示す。ステッ
プ６０２では、目標故障を含む経路が活性化されている
か否かを判断する。目標故障を含む経路が活性化されて
いれば、故障伝搬処理に成功したとしてステップ６０５
へ進み、活性化されていなければステップ６０３へ進
む。

【００１２】ステップ６０３では、対象となるタイムフ
レームにおいて、目標故障箇所、またはＦＦの出力（つ
まり、組み合わせ回路部分への入力）の中から１つＤフ
ロンティアを選択する。さらに、そのＤフロンティアに
故障信号を割り当て、任意の外部出力ピンまたは１つ前
に処理したタイムフレームで選択したＤフロンティアの
入力（以後目標ＰＰＯと呼ぶ）までのその故障信号を伝
搬させる（すなわち故障伝搬経路を活性化する）ため
に、外部入力ピンとＦＦの出力に状態値を割り当て、故
障伝搬に成功したならばステップ６０４へ進み、失敗し
たならば故障伝搬処理に失敗したとしてステップ６０５
へ進む。

【００１３】ステップ６０４では、ステップ６０３で故
障伝搬経路を活性化するために外部入力ピンに割り当て
た状態値を検査系列として記憶し、Ｄフロンティアの入
力を新たに目標ＰＰＯとし、ステップ６０２へ進む。ス
テップ６０５では、故障伝搬処理の終了を示す。図１４
は、上記ステップ４０６における状態初期化処理を示す
図である。

【００１４】状態初期化処理は、実際の故障検査におけ
る状態遷移とは逆に、故障伝搬処理が終了した時点の回
路の状態（以下、故障励起状態）から初期状態に向かっ
て、状態遷移を生ずる状態値を割り当てて、初期状態に
至るまで状態遷移を遡っていき、その状態値に基づいて
入力系列を求める処理である。同図においてステップ５
０１は、順序回路の検査系列生成の状態初期化処理の開
始を示す。

【００１５】ステップ５０２では、回路の現在状態と初
期状態が一致しているか否かを判断し、現在状態と初期
状態が一致していれば状態初期化に成功したとしてステ
ップ５０５へ進み、一致していなければステップ５０３
へ進む。ステップ５０３では、現在の状態を正当化する
ために回路の外部入力ピンとフリップフロップの出力に
状態値を割り当てを行ない、現在の状態の正当化に成功
すればステップ５０４へ進み、失敗すれば状態初期化に
失敗したとしてステップ５０５へ進む。

【００１６】ステップ５０４では、ステップ５０３で現
在状態を正当化するために外部入力ピンに割り当てた状
態値を検査系列として記憶し、またフリップフロップの
出力に割り当てた状態値、すなわち現在状態を正当化し
た状態値を現在状態とし、ステップ５０２へ進む。ステ
ップ５０５は順序回路の検査系列生成の状態初期化処理
の終了を示す。以上のように構成された従来技術におけ
る順序回路の検査系列生成方法について、その動作を説
明する。

【００１７】まず、図１１に示した故障表において、未
検出かつ未処理の故障郡の中から、検査系列生成の対象
となる目標故障を１つ選択する（図１２のステップ４０
１〜４０３）。次に、選択された目標故障が冗長故障ま
たは検査入力生成に長時間かかる故障であるかもしれな
いので、そのチェックをするため、被検査回路の組み合
わせ回路部分を対象として検査入力生成を実行する。被
検査回路の説明図を図１５（ａ）に示す。その回路例を
図１５（ｂ）に示す。順序回路である被検査回路は、同
図に示すように組み合わせ回路部分とＦＦ部分とに論理
的に分けて考えられる。そうすると、組み合わせ回路部
分への入力は、本来の入力である外部入力ピン（以下、
ＰＩと略す。）とＦＦから出力される擬似的な入力（以
下、ＰＰＩ）とからなり、組み合わせ回路の出力は、本
来の出力である外部出力ピン（以下、ＰＯ）とＦＦへ入
力される擬似的な出力（以下、ＰＰＯ）とからなると見
られる。

【００１８】この組み合わせ回路部分の入力（ＰＩ及び
ＰＰＩ）と出力（ＰＯ及びＰＰＯ）に着目して、目標故
障の故障信号を出力のいずれかに伝搬するように適当な
各入力値を割り当てることによって、組み合わせ回路部
分に対する検査入力が生成される（ステップ４０４）。
その結果、検査入力生成に成功した場合はステップ４０
５へ進み、目標故障が冗長故障である場合、故障表の
「冗長故障」欄に”１”をセットし、ステップ４０２へ
進み、次の目標故障を選択することになる。検査入力生
成に成功すると、当該目標故障に対して検査系列を生成
するため、故障伝搬処理を行う（ステップ４０５）。こ
の故障伝搬の説明図を図１６に示す。

【００１９】同図において、７０１は最初に処理すべき
順序回路のタイムフレーム、７０２は２番目に処理すべ
き順序回路のタイムフレーム、７０３は３番目に処理す
るタイムフレームである。これらのタイムフレームは、
順序回路を組み合わせ回路部分とＦＦ部分とに分けて、
ＦＦの状態遷移に応じて時間展開した場合の、組み合わ
せ回路部分に相当する。（参考までに、図１５（ｂ）に
示した回路例の場合の、時間展開された結果を図１７に
示す。）図１６において、説明の便宜上３つのタイムフ
レームしか示さないが、実際のＬＳＩにおいては、通
常、かなり多くのタイムフレームを故障伝搬させる必要
がある。故障伝搬において注意すべき点は、実際の回路
の動作は７０３から７０１の順に動作するが、伝搬処理
においては、７０１から７０３へ向かって時間を遡って
タイムフレーム毎に行われるということである。７０４
は順序回路の外部出力ピンである。７０５はタイムフレ
ーム７０１における故障信号の伝搬経路、７０６はタイ
ムフレーム７０２における故障伝搬経路である。７０７
〜７０９はタイムフレーム７０１の処理で用いるフリッ
プフロップである。７１０〜７１２はタイムフレーム７
０２の処理で用いるフリップフロップである。７１３は
目標故障ａの故障箇所とする。図１６を用いて図１３の
故障伝搬処理のフローに沿って説明する。

【００２０】最初のタイムフレーム７０１において、目
標故障７１３を含む経路はまだ活性化できないので（図
１３のステップ６０２）、ＤフロンティアとしてのＦＦ
３（７０９）の出力を発見的に選択する。このＦＦ３
（７０９）に故障信号を割り当て、それを外部出力ピン
７０４に伝搬するために、故障伝搬経路７０５を活性化
する。つまり、ＦＦ３（７０９）から外部出力ピン７０
４に至る経路を活性化するよう、外部入力ピンとＦＦの
状態値を割り当てる（ステップ６０３）。割り当てに成
功した状態値を検査系列として記憶し、Ｄフロンティア
であるＦＦ３の入力を新たな目標ＰＰＯとして設定し、
ステップ６０２に戻る（ステップ６０４）。この時点で
目標故障を含む経路はまだ活性化されていないので、ス
テップ６０３に進む（ステップ６０２）。

【００２１】タイムフレーム７０２の処理にうつり、タ
イムフレーム７０１の処理でＤフロンティアとして選択
したＦＦ３（７０９）を目標ＰＰＯとし、発見的にＦＦ
２（７１１）をＤフロンティアとして選択し、ＦＦ２
（７１１）に故障信号を割り当て、それを目標ＰＰＯで
あるＦＦ３（７０９）に伝搬するために、故障伝搬経路
７０６を活性化し（ステップ６０３）、割り当てに成功
した状態値を検査系列として記憶し、ＦＦ２を新たな目
標ＰＰＯとして設定する（ステップ６０４）。

【００２２】タイムフレーム７０３の処理において、タ
イムフレーム７０２でＤフロンティアとして選択したＦ
Ｆ２（７１１）を目標ＰＰＯとするが、ここでは、いず
れのＤフロンティアを選択しても目標ＰＰＯであるＦＦ
２（７１１）に故障信号を伝搬することができなかった
とする（ステップ６０３）。そうすると故障７１３の故
障伝搬処理に失敗したので、故障伝搬処理を終わる（ス
テップ６０４）。

【００２３】故障伝搬処理に失敗すると図１２のステッ
プ４０２に進み（ステップ４０５）、次の新たな目標故
障を選択して、同様に処理を実行することになる（ステ
ップ４０２〜４０５）。上の動作例では、故障伝搬処理
に失敗した場合の例であるが、タイムフレーム７０３に
おけるステップ４０５にて、目標故障７１３に故障信号
を伝搬することに成功した場合は、次のようになる。

【００２４】この場合、各タイムフレームで外部入力ピ
ンに割り当てられた状態値が検査系列として生成されて
いる。ところが、各ＦＦの状態は、故障伝搬処理が終了
した時点での回路の状態（以下、故障励起状態）、上の
例ではタイムフレーム７０３において割り当てに成功し
た状態値になっているので、故障伝搬処理によって生成
された検査系列は、伝搬処理終了時の状態においてのみ
有効な検査系列である。そこで、所望の初期状態におい
て故障検査を実行しうるように、回路の状態を初期状態
から故障励起状態に変更するための系列を求める処理が
必要になる。この処理が状態初期化処理である。状態初
期化処理の動作を図１８に示す被検査回路の状態遷移の
一例を用いて説明する。

【００２５】同図において、８０１〜８０４は回路の状
態、特に状態８０１は故障伝搬処理が終了した時点での
回路の状態、すなわち故障励起状態、また状態８０４は
初期状態とする。８０５は状態８０２から状態８０１へ
遷移可能であることを示す枝、８０６は状態８０３から
状態８０２へ遷移可能であることを示す枝、８０７は状
態８０１から状態８０３へ遷移可能であることを示す
枝、８０８は状態８０４から状態８０３へ遷移可能であ
ることを示す枝である。

【００２６】故障伝搬処理終了時において、現在状態は
状態８０１（Ｓ１）であり、初期状態と一致しないので
（図１４のステップ５０２）、現在状態を正当化、すな
わち、現在状態に状態遷移させるように外部入力および
ＦＦの状態を割り当てる。ここでは、ＦＦに状態８０２
（Ｓ２）の状態を割り当てたところ正当化できたものと
する（ステップ５０３）。正当化した状態を新たに現在
状態（Ｓ２）とする（ステップ５０４）。

【００２７】同様にして、現在状態を正当化して、新た
に現在状態をＳ３とする（ステップ５０２〜５０４）。
さらに、同様に、現在状態Ｓ３を正当化することになる
が、図１８の場合、現在状態Ｓ３への状態遷移は、Ｓ１
から遷移する場合と、Ｓ４から遷移する場合の２通りが
有り得る。正当化した状態がＳ４であれば、状態初期化
に成功することになる。この場合、先の故障伝搬処理に
おいて得た入力系列と、状態初期化処理において選られ
た入力系列とを合わせて、故障検査系列を得られる。

【００２８】逆に、正当化した状態がＳ１であれば、再
度上記と同じ処理をくり返して失敗し、状態遷移のルー
プに陥ることになるので、初期状態を得ることができな
いことになる。状態初期化処理の後、得られた検査系列
を用いて、目標故障に対して故障シミュレーションを実
行し、外部出力ピンで検出されることを確認して、故障
表における対応する「検出」欄を”１”にし（図１２の
ステップ４０７）、ステップ４０２に進む。更に上記の
動作をくり返し、目標故障毎に検査系列生成処理が行わ
れていく。最後に、上記図１７の回路例の場合の検査系
列生成処理を説明する。目標故障は、×印の信号線であ
る。

【００２９】（伝搬処理の最初のタイムフレーム）目標
故障（×印）を含む経路の活性化が終了していない（図
１６のステップ６０２）ので、ＤフロンティアとしてＦ
Ｆ２の出力Ｙ２を選択したとする（ステップ６０３の前
半）。組み合わせ回路部分において、入力信号ｙ２から
外部出力ピンＺまでの経路を活性化する状態値を次のよ
うにして割り当てる。すなわち、外部出力ピンＺに故障
信号Ｄが出力されるためには、ＡＮＤゲートＧ２の２入
力（Ｉ、ｙ２）＝（１、Ｄ）でなければならない。この
とき、入力ｙ１はdon't careでよい。従って、状態値
（Ｉ、ｙ１、ｙ２）＝（１、Ｘ、Ｄ）が割り当てられる
（ステップ６０３の後半）。

【００３０】この状態値（１、Ｘ、Ｄ）を検査系列の一
部として記憶し、新たな目標ＰＰＯをＦＦ２の入力Ｙ２
とする（ステップ６０４）。 （伝搬処理の２番目のタイムフレーム）Ｄフロンティア
として目標故障（×印）を選択したとする（ステップ６
０２、６０３の前半）。

【００３１】組み合わせ回路部分において、目標故障か
ら目標ＰＰＯのＹ２までの経路を活性化する状態値を次
のようにして割り当てる。すなわち、Ｙ２に故障信号Ｄ
が出力されるためには、ＯＲゲートＧ３の入力（Ｇ１の
出力、ｙ１）＝（Ｄ、０）でなければならない。加え
て、ＡＮＤゲートＧ１の２入力（Ｉ、目標故障）＝
（１、Ｄ）でなければならない。従って、状態値（Ｉ、
ｙ１、ｙ２）＝（１、０、０）が割り当てられる（ステ
ップ６０３の後半）。

【００３２】この状態値（１、０、０）を検査系列の一
部として記憶し、新たな目標ＰＰＯをＦＦ１の入力Ｙ１
とする（ステップ６０４）が、目標故障を含む経路が活
性化された（ステップ６０２）ので、伝搬処理は終了す
る（ステップ６０５）。 （状態初期化処理）続いて、状態初期化処理を行う。仮
に、初期状態が（ＦＦ１、ＦＦ２）＝（０、０）であれ
ば、状態初期化処理は即終了する（図１４のステップ５
０２、５０５）。

【００３３】ここでは、初期状態を（ＦＦ１、ＦＦ２）
＝（Ｘ、Ｘ）つまり、don't careである場合を説明す
る。初期状態（Ｘ、Ｘ）と現在状態（０、０）とが一致
しないので（ステップ５０２）、現在状態を正当化する
状態値を割り当てる。すなわち、ＦＦ１（Ｙ１＝０）を
正当化するためには、ＡＮＤゲートＧ１の２入力（Ｉ、
ｙ２）＝（０、Ｘ）でよい。このとき、ｙ２はＸでよ
い。従って、Ｉ＝０を入力値として割り当てれば、状態
（０、０）を正当化できる（ステップ５０３）。

【００３４】この入力値Ｉ＝０を検査系列の一部として
記憶し、さらに正当化した状態（０、Ｘ）を現在状態と
し（ステップ５０４）、初期状態とは一致していないの
で（ステップ５０２）、現在状態を正当化する。すなわ
ち、ＦＦ１（Ｙ１＝０）を正当化するためには、ＡＮＤ
ゲートＧ１の２入力（Ｉ、ｙ１）＝（０、Ｘ）でよく、
ＦＦ２（Ｙ２＝Ｘ）を正当化するためには、ＯＲゲート
Ｇ３の２入力（Ｇ１の出力、ｙ１）＝（０、Ｘ）とすれ
ばよく。このとき、ｙ１はＸでよい。従って、Ｉ＝０を
入力値として割り当てれば、状態（０、Ｘ）を正当化で
きる（ステップ５０３）。

【００３５】この入力値Ｉ＝０を検査系列の一部として
記憶し、正当化した状態（Ｘ、Ｘ）を現在状態とするが
（ステップ５０４）、初期状態と一致知っているので
（ステップ５０２）、正当化処理を終了する（ステップ
５０５）。その結果、検査系列として、入力信号Ｉに入
力すべき系列として、｛００１１｝が得られる。

【００３６】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら上記の従
来技術における検査系列生成方法によれば、故障伝搬処
理、または状態初期化処理で失敗する場合が多く、検査
系列を生成できない場合が多いという問題があった。す
なわち、故障伝搬処理、又は状態初期化処理で失敗する
と、当該目標故障についての検査系列の生成をあきら
め、次の目標故障に進むなど、失敗した故障に対する手
当をどうするかが確立されていなかった。そのため、検
査系列生成の成功率つまり故障検出率の向上が図られて
いなかった。

【００３７】上記の問題点に鑑み本発明は、高い故障検
出率が得られる故障検査系列生成方法及び検査系列生成
装置を提供することを目的とする。

【００３８】

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、本発明の検査系列生成方法は、被検査回路である順
序回路をタイムフレームに展開して、順序回路中の仮定
された縮退故障について、タイムフレーム毎に当該故障
の故障信号の伝搬経路の活性化を試みる故障伝搬処理を
行い、当該故障を検査する系列を生成する検査系列生成
方法であって、１つのタイムフレームにおいて故障信号
が伝わるべき経路を選択し、その経路が活性化するよう
当該タイムフレームでの入力値を割り当て、この処理を
最終的な故障の伝搬先である出力ピンから故障箇所に至
るまでタイムフレームを遡って行う故障伝搬処理ステッ
プと、いずれかのタイムフレームにおいて、活性化の失
敗を検出した場合、最初のタイムフレームから当該失敗
したタイムフレームまでの各経路のうち少なくとも一部
の経路を禁止情報とする割当失敗検出ステップと、活性
化に失敗した場合に、禁止情報とされた経路を選択しな
いように、新たに、故障伝搬処理ステップを実行する再
故障伝搬処理ステップとからなることを特徴とする。

【００３９】ここで、前記禁止情報情報は、所定のタイ
ムフレームにおいて選択された、１つ前の時刻のタイム
フレームからの故障伝搬先となるべき信号線を表すＤフ
ロンティアであってもよい。前記所定のタイムフレーム
は、最初に故障伝搬経路を活性化するタイムフレームで
あってもよい。

【００４０】前記禁止情報は、所定のタイムフレームに
おける伝搬経路を表す、Ｄフロンティアと目標ＰＰＯと
の組であってもよい。前記禁止情報は、故障伝搬に失敗
したタイムフレームの１つ前に処理したタイムフレーム
における伝搬経路を表す、Ｄフロンティアと目標ＰＰＯ
との組であってもよい。ことを特徴とする請求項１記載
の検査系列生成方法。

【００４１】また、被検査回路である順序回路をタイム
フレームに展開して、順序回路中の仮定された縮退故障
について、タイムフレーム毎に当該故障の故障信号の伝
搬経路を活性化を試みる故障伝搬処理を行い、当該故障
を検査する系列を生成する検査系列生成方法であって、
目標故障の全部に一通り故障伝搬処理が行われた回数を
カウントする第１のステップと、前記カウント値が、所
定の回数を越えているか否かを判断し、越えている場合
は検査系列生成を終了する第２のステップとからなり、
前記第１のステップは、故障伝搬処理が未処理か未処理
と擬制された故障で、かつ、検査系列が未生成の目標故
障のなかから１つを選択する第１のサブステップと、選
択された目標故障に関して、目標故障を外部出力ピンに
伝搬させるタイムフレームにおいて、活性化すべき経路
の入力側を示すＤフロンティアが禁止Ｄフロンティアと
して登録されている場合にはその禁止Ｄフロンティア以
外から、Ｄフロンティアを選択して故障伝搬処理を行う
第２のサブステップと、第２のサブステップで故障伝搬
処理が成功したか失敗したかを判断する第３のサブステ
ップと、失敗と判断された場合に、前記目標故障の影響
を外部出力ピンに伝搬させるタイムフレームで選択され
たＤフロンティアを前記目標故障の禁止Ｄフロンティア
として登録する第４のサブステップと、第１から第４の
サブステップが全ての目標故障について実行されたと
き、故障伝搬処理に失敗した故障を、故障伝搬処理が未
処理として擬制し、前記カウント値をカウントする第５
のサブステップとからなっていてもよい。

【００４２】また、被検査回路である順序回路をタイム
フレームに展開して、順序回路中の仮定された縮退故障
について、タイムフレーム毎に当該故障の故障信号の伝
搬経路を活性化を試みる故障伝搬処理を行い、当該故障
を検査する系列を生成する検査系列生成方法であって、
ある目標故障に対して１つのタイムフレームに対して故
障伝搬処理を行う第１のステップと、第１のステップの
処理対象となっているタイムフレームの１つ前のタイム
フレームで選択された伝搬経路を、経路の出口側を示す
信号線（以後目標ＰＰＯ）と入口側を示すＤフロンティ
アとのペアとして記憶する第２のステップと、第１のス
テップでの故障伝搬処理が成功したか否かを判断し、成
功した場合は、次のタイムフレームについて第１のステ
ップを実行させ、失敗した場合は、第２のステップで記
憶した目標ＰＰＯとＤフロンティアとの組合せを禁止経
路として登録する第３のステップと、第１のステップで
の故障伝搬処理に失敗したときに、すでに生成された検
査系列のうち、失敗したタイムフレームから少なくとも
１つ前のタイムフレーム以降に生成した部分をクリアす
る第４のステップと、前記禁止経路として登録されたＤ
フロンティアと目標ＰＰＯの組合せを選択しないよう
に、クリアされた部分の対応するタイムフレームから第
１のステップを実行させる第５のステップとからなって
いてもよい。

【００４３】また、被検査回路である順序回路におい
て、初期状態からある縮退故障に対する故障伝搬処理の
終了時の状態まで状態を遷移させるため、順序回路の入
力ピンに時系列的に与えるべき入力信号を求める状態初
期かを行い、当該故障を検査する検査系列を生成する検
査系列を検査系列生成方法であって、順序回路におい
て、その時の状態を正当化するように順序回路の記憶素
子の状態と外部入力ピンに与える入力信号とを割り当
て、その処理を故障伝搬処理が終わったときにおける順
序回路の状態から順序回路の初期状態を得るべく実行す
る正当化ステップと、前記ステップにおいて割り当てた
順序回路の状態が、故障伝搬処理終了時の状態、または
既に一度割り当てられた状態と一致しているかどうかを
判定する一致検出ステップと、一致していると判定され
た場合に、一致した状態と外部入力ピンに与える信号と
の割り当てを取りやめて、その状態を避けて新たに正当
化ステップを実行する割り当て制御ステップとからなる
ことを特徴とする。

【００４４】ここで、前記割当制御ステップは、故障伝
搬処理が終了した時点の状態から新たに正当化ステップ
を実行するようにしてもよい。また、前記割当制御ステ
ップは、一致した状態のいつ前の状態から新たに正当化
ステップを実行するようにしてもよい。また、被検査回
路である順序回路において、初期状態からある縮退故障
に対する故障伝搬処理の終了時の状態まで状態を遷移さ
せるため、順序回路の入力ピンに時系列的に与えるべき
入力信号を求める状態初期化処理を行い、当該故障を検
査する系列を生成する検査系列を検査系列生成方法であ
って、現在の状態が初期状態と一致しているか否かを判
定する第１のステップと、現在の状態を正当化する状態
値を割り当てる第２のステップと、正当化した状態を状
態遷移の履歴として記憶する第３のステップと、第３の
ステップで新たに記憶した状態が既に状態遷移の履歴中
に存在するか否かを判断する第４のステップと、第４の
ステップで存在すると判断された場合、その状態を禁止
情報として登録し、状態遷移の履歴から削除して第２の
ステップに戻る第５のステップと、第４のステップで存
在しないと判断された場合、正当化した状態を現在状態
として、第１の状態に戻る第６のステップとからなるよ
うにしてもよい。

【００４５】また、本発明の検査系列生成装置は、被検
査回路である順序回路をタイムフレームに展開して、順
序回路中の仮定された縮退故障について、タイムフレー
ム毎に当該故障の故障信号の伝搬経路を活性化を試みる
故障伝搬処理を行い、当該故障を検査する系列を生成す
る検査系列生成装置であって、１つのタイムフレームに
おいて故障信号が伝わるべき経路を選択し、その経路が
活性化するよう当該タイムフレームでの入力値を割り当
て、この処理を最終的な故障の伝搬先である出力ピンか
ら故障箇所に至るまでタイムフレームを遡って行う故障
伝搬処理手段と、いずれかのタイムフレームにおいて、
活性化の失敗を検出した場合、最初のタイムフレームか
ら当該失敗したタイムフレームまでの各経路のうち少な
くとも一部の経路を禁止情報とする失敗検出手段と、前
記禁止情報を当該故障と対応させて記憶する禁止情報記
憶手段と、活性化に失敗した場合に、禁止情報とされた
経路を選択することを禁止して、新たに当該故障に対し
て故障伝搬処理手段を起動する禁止手段とを備えたこと
を特徴とする。

【００４６】ここで、前記禁止情報情報は、所定のタイ
ムフレームにおいて選択された、隣のタイムフレームか
らの故障伝搬先となるべき信号線を表すＤフロンティア
であってもよい。前記所定のタイムフレームは、最初の
タイムフレームであってもよい。前記禁止情報は、所定
のタイムフレームにおける伝搬経路を表すＤフロンティ
アと目標ＰＰＯとの組であってもよい。

【００４７】前記禁止情報は、故障伝搬に失敗したタイ
ムフレームの１つ前に処理したタイムフレームにおける
伝搬経路を表すＤフロンティアと目標ＰＰＯとの組であ
ってもよい。また、被検査回路である順序回路におい
て、初期状態からある縮退故障に対する故障伝搬処理の
終了時の状態まで状態を遷移させるため、順序回路の入
力ピンに時系列的に与えるべき入力信号を求める状態初
期化処理を行い、当該故障を検査する系列を生成する検
査系列を検査系列生成装置であって、順序回路におい
て、その時の状態を正当化するように順序回路の記憶素
子の状態と外部入力ピンに与える入力信号とを割り当
て、その処理を故障伝搬処理が終わったときにおける順
序回路の状態から順序回路の初期状態を得るべく実行す
る正当化手段と、前記手段において割り当てた順序回路
の状態が、故障伝搬処理終了時の状態、または既に一度
割り当てられた状態と一致しているかどうかを判定する
一致検出手段と、一致していると判定された場合に、一
致した状態と外部入力ピンに与える入力信号との割り当
てを取りやめて、その状態を避けて新たに正当化手段を
実行する割り当て制御手段とを備えることことを特徴と
する。

【００４８】ここで、前記割当制御手段は、故障伝搬処
理が終了した時点の状態から新たに正当化手段を実行し
てもよい。前記割当制御手段は、一致した状態の１つ前
の状態から新たに正当化手段を実行してもよい。

【００４９】

【作用】上記の構成により本発明の検査系列生成方法
（装置）は、故障伝搬処理ステップ（手段）で目標故障
の故障伝搬処理に失敗したとき、割当失敗検出ステップ
（手段）はその目標故障の影響を伝搬させる経路の少な
くとも一部を禁止情報とする。再故障伝搬処理ステップ
（禁止手段）は、その目標故障に対する禁止情報を経路
として選択しないようにして、新たに、同じ目標故障に
対する検査系列生成の故障伝搬処理を行う。

【００５０】また、状態初期化処理において、一致検出
ステップ（手段）は、正当化ステップ（手段）におい
て、状態遷移がループに陥ったかどうか（同じ状態が２
つあるか）を検出する。割当制御ステップ（手段）は、
ループを形成する原因となった状態を禁止状態として、
再度やり直す。

【００５１】

【実施例】

（実施例１）図１は、本発明の実施例における順序回路
の検査系列生成方法の全体の流れ図である。検査系列に
より検査される対象となる故障は、従来技術の項で説明
したのと同じであり、予め被検査回路となるＬＳＩのネ
ットリストに基づいて各信号線毎にリストアップされて
故障表に登録されている（図１１の故障表の例参照）。

【００５２】図１においてステップ１０１は、検査系列
生成方法の処理の開始を示す。ステップ１０２では、故
障表における未「検出」故障に対して実行すべき検査系
列生成処理の最大回数を設定する。この回数は、被検査
回路の複雑さや回路規模や、検査系列生成処理に許され
る時間などを考慮して決定されるべきものであるが、多
くの場合５回ぐらいが妥当である。

【００５３】ステップ１０３では、検査系列生成処理の
回数を０に初期化する。ステップ１０４では、検査系列
生成処理の回数が、ステップ１０２で設定した未検出故
障に対する検査系列生成処理の最大回数を越えていない
かどうかを判断し、最大回数を越えていなければステッ
プ１０５へ進み、越えていればステップ１１５へ進む。

【００５４】ステップ１０５では、故障表において、冗
長故障以外の未検出かつ未処理である故障が存在するか
否かを判断する。存在する場合、ステップ１０６へ進
み、存在しない場合、ステップ１１３へ進む。ステップ
１０６、１０７では、未検出かつ未処理である故障郡の
中から目標故障を１つ選択し、検査系列生成の前段階と
して、検出不能な故障かどうかを調べるため、組み合わ
せ回路部分についてのみ検査入力を生成する。これは従
来技術で述べた図１２におけるステップ４０３、４０４
と同じである。

【００５５】ステップ１０８では、選択された目標故障
に対して、故障伝搬処理を行う。ステップ１０９、１１
０では、状態初期化処理、故障シミュレーションを行
う。これは従来技術の説明で述べた図１２におけるステ
ップ４０６、４０７と同じである。ステップ１１１で
は、ステップ１０７で処理した検査系列生成の故障伝搬
処理が成功しているか否かを判断し、成功すればステッ
プ１０５へ、失敗すればステップ１１２へ進む。

【００５６】ステップ１１２では、目標故障の影響を任
意の外部出力ピンまで伝搬するタイムフレームで選択さ
れたＤフロンティアをその目標故障の禁止Ｄフロンティ
ア集合に登録する。禁止Ｄフロンティア集合の登録例を
図２に示す。同図において、「信号線」は対象となって
いる故障箇所を、「故障」は故障の種別を、「Ｄフロン
ティア」は、選択することが禁止されるＤフロンティア
を示す。同図のように、本実施例においては、禁止Ｄフ
ロンティアは、故障毎に登録される。

【００５７】ステップ１１３では、故障表において冗長
故障以外の未検出故障を未処理故障とする。すなわち、
「検出」欄が０であり、かつ「冗長故障」が１でない故
障の「処理」欄を０にする。これにより、検査系列生成
に失敗した故障が、ステップ１０６で再度選択されるこ
とになる。ステップ１１４では、未検出故障に対する検
査系列生成処理の回数を１つカウントアップする。

【００５８】ステップ１１５は、検査系列生成方法の処
理の終了を示す。図３は、図１のステップ１０８におけ
る故障伝搬処理のより詳細なフローを示す図である。同
図は、従来技術で説明した図１３の故障伝搬処理のフロ
ーに対して、ステップ１４０３〜１４０５のステップが
追加されている点のみ異なる。すなわち、ｋ番目のタイ
ムフレームにおいて、Ｄフロンティアを選択するとき
に、禁止Ｄフロンティア集合に登録されているものは選
択しないようになっている。これにより、２回目以降の
故障伝搬処理のｋ番目のタイムフレームで、以前失敗し
たＤフロンティア以外を選択することになる。

【００５９】同図において、ステップ１４０２では、目
標故障を含む経路が活性化されているか否かを判断す
る。活性化されていれば、故障伝搬処理に成功したとし
てステップ１４０９へ進み、活性化されていなければス
テップ１４０３へ進む。ステップ１４０３では、処理対
象となるタイムフレームがｋ番目のタイムフレームであ
るかを判断し、ｋ番目であれば、ステップ１４０４へ進
み、そうでなければ、ステップ１４０６に進む。ただ
し、本実施例ではｋ＝１とする。

【００６０】ステップ１４０４では、目標故障箇所、ま
たはＦＦの出力（つまり、組み合わせ回路部分の入力）
の中から１つＤフロンティアとして選択する。その際、
禁止Ｄフロンティア集合を参照して、当該故障に対する
禁止Ｄフロンティアとして登録されていないものを選択
する。ステップ１４０５では、選択されたＤフロンティ
アを一時的に記憶する。

【００６１】ステップ１４０６では、目標故障箇所、ま
たはＦＦの出力の中から１つＤフロンティアを選択す
る。この選択方法は従来技術（図１３のステップ６０３
の前半）と同様である。ステップ１４０７は、対象とな
るタイムフレームにおいて、選択されたＤフロンティア
に故障信号を割り当て、任意の外部出力ピンまたは１つ
前に処理したタイムフレームで選択したＤフロンティア
の入力（目標ＰＰＯ）までのその故障信号を伝搬させる
（すなわち故障伝搬経路を活性化する）ために、外部入
力ピンとＦＦの出力に状態値を割り当て、故障伝搬に成
功したならばステップ１４０８へ進み、失敗したならば
故障伝搬処理に失敗したとしてステップ１４０９へ進
む。この経路活性化は、従来技術（図１３のステップ６
０２の後半）と同様である。

【００６２】ステップ１４０８では、ステップ１４０７
で故障伝搬経路を活性化のために外部入力ピンに割り当
てた入力値を検査系列の一部として記憶し、Ｄフロンテ
ィアの入力を新たに目標ＰＰＯとし、ステップ１４０２
へ進む。ステップ１４０９では、故障伝搬処理の終了を
示す。以上のように構成された本発明の第１の実施例に
おける検査系列生成方法についてその動作を説明する。
この故障伝搬の動作例の説明図を図４に示す。

【００６３】図４において、従来技術の説明で用いた図
１６と同じ番号を用いたものは、図１６と同じである。
１００１は目標故障７１３の禁止Ｄフロンティア集合で
ある。１００２〜１００４は、それぞれ２回目の伝搬処
理におけるタイムフレーム７０１、７０２、７０３の故
障伝搬経路である。まず、伝搬処理を失敗した場合にく
り返し行うべき最大回数を、本実施例では、５回と設定
し（図１のステップ１０２）、回数を制御する変数であ
るｉを初期値０にする（ステップ１０３）。次に、変数
ｉが最大回数に達していないかを判断し、達していれば
ステップ１１２に進み、達していなければステップ１０
５に進む（ステップ１０４）。

【００６４】これに続くステップ１０５〜１０７は、従
来技術における図１２のステップ４０２〜４０４と同様
であるので、説明を省略する。ステップ１０７にて検査
入力生成に成功すると、当該目標故障に対して検査系列
を生成するため、故障伝搬処理を行う（ステップ１０
８）。一回目（ｉ＝０のとき）の故障伝搬処理におい
て、従来技術の項で図１６を用いて説明したのと同様
に、目標故障７１３に対する故障伝搬処理を行うとす
る。この伝搬処理自体の動作は、従来技術とほぼ同様で
あるので、異なる点のみ説明する。すなわち、最初のタ
イムフレームにおいては（ステップ１４０３）、Ｄフロ
ンティアの選択に際して、禁止Ｄフロンティアとして登
録されているもの以外を選択する。ただし、一回目の故
障伝搬処理では禁止Ｄフロンティアとして何も登録され
ていないので、結果的には、従来技術と同様ＦＦ３がＤ
フロンティアとして選択されることになる（図３のステ
ップ１４０４）。さらに、選択されたＤフロンティアを
一時的に記憶しておく（ステップ１４０５）。

【００６５】２番目、３番目のタイムフレームに進み、
従来技術と同様に３番目のタイムフレームにおいて、伝
搬経路の活性化に失敗したとする。さらに、故障伝搬処
理の成否が判断され（ステップ１１１）、故障伝搬処理
に失敗したときには、図３のステップ１４０５にて一時
的に記憶されたＤフロンティア７０９を、目標故障７１
３の禁止Ｄフロンティア集合１００１に登録する（ステ
ップ１１２）。

【００６６】この後、故障表における未処理故障のそれ
ぞれについて上記の処理が実行され（ステップ１０５か
ら１１１または１１２までのくり返し）、その際、故障
伝搬処理に失敗した故障については、ｋ番目（実施例で
はｋ＝１）のタイムフレームにおけるＤフロンティアが
その故障の禁止Ｄフロンティアとして登録される。各未
処理故障について、一通り検査系列生成処理を終える
と、未処理故障がないと判断され（ステップ１０５）、
故障表において「検出」欄が０であり、かつ「冗長故
障」が１でない故障の「処理」欄を０にする（ステップ
１１３）。これにより失敗した故障が再度選択されるよ
うになる。検査系列生成処理の繰り返し回数を示す変数
ｉを１つカウントアップし（ステップ１１４）、ステッ
プ１０５に進む。

【００６７】二回目（ｉ＝２のとき）の故障伝搬処理に
おいて、ｉ＝１のときに失敗した故障７１３は、目標故
障として再度選択され（ステップ１０６）、組み合わせ
回路の検査入力生成（ステップ１０７）の後次のように
故障伝搬処理が行われる。図４のタイムフレーム７０１
の処理において、最初のタイムフレームであるので（ス
テップ１４０３）、禁止Ｄフロンティア集合１００１を
参照して、その要素ＦＦ３（７０９）をＤフロンティア
として選択しないようにした結果、ＦＦ１（７０７）が
Ｄフロンティアとして発見的に選択され（ステップ１４
０４）、一時的に記憶され（ステップ１４０５）、外部
出力ピン７０４までの故障伝搬経路１００２を活性化し
（ステップ１４０７）、ＦＦ１（７０７）を目標ＰＰＯ
とする（ステップ１４０８）。

【００６８】２番目のタイムフレーム７０２において、
ＤフロンティアとしてＦＦ３（７１２）を選択し（ステ
ップ１４０３、１４０６）、故障の影響をＦＦ３（７１
２）から目標ＰＰＯであるＦＦ１（７０７）に伝搬させ
るために、故障伝搬経路１００３を活性化し（ステップ
１４０７）、ＦＦ３（７１２）を目標ＰＰＯとする（ス
テップ１４０８）。

【００６９】３番目のタイムフレーム７０３において、
Ｄフロンティアとして故障箇所７１３を選択し（ステッ
プ１４０３、１４０６）、故障の影響を故障箇所７１３
から目標ＰＰＯであるＦＦ３（７１２）に伝搬させるた
めに、故障伝搬経路１００４を活性化する（ステップ１
４０７）。ここで目標故障が活性化されたので（ステッ
プ１４０２）、伝搬処理に成功した状態初期化処理に進
む。

【００７０】この以降の状態初期化処理は、従来技術で
説明したのと同様であるので省略する。以上のように、
本実施例によれば、ある目標故障の検査系列生成を行っ
た結果、故障伝搬処理に失敗した場合、ｋ番目のタイム
フレーム（実施例では、ｋ＝１即ちその目標故障の影響
を外部出力ピンへ伝搬させるタイムフレーム）で選択し
たＤフロンティアを禁止Ｄフロンティア集合に登録し、
また再度失敗した目標故障の検査系列生成を行うように
することによって、再びその目標故障の検査系列生成を
行なう時に、目標故障の影響を外部出力ピンへ伝搬させ
るタイムフレームで、その目標故障の禁止Ｄフロンティ
アに属する信号線をＤフロンティアとして選択しないよ
うにし、故障伝搬経路を動的に変更することによって、
目標故障の検査系列生成が成功する確率が高くなるの
で、高い故障検出率を得ることのできる検査系列を生成
することができる。 （実施例２）図５は本発明の第２の実施例における順序
回路の検査系列生成方法の故障伝搬処理を示す図であ
る。検査系列生成方法の全体のフローは、従来技術の説
明で用いた図１２とほぼ同じであるが、図１２の故障伝
搬処理４０５の部分が図５のフローである点が異なる。
以下、故障伝搬処理の部分のみ説明する。

【００７１】図５においてステップ３０１は本発明に係
る故障伝搬処理の開始を示す。ステップ３０２では、目
標故障が活性化されているか否かを判断し、目標故障が
活性化されていればステップ３０８へ進み、活性化され
ていなければステップ３０３へ進む。ステップ３０３で
はＤフロンティアとして、目標故障またはフリップフロ
ップの出力の何れか一つを選択し、任意の外部出力ピン
または、１つ前のタイムフレームでＤフロンティアとし
て選択したフリップフロップの入力（目標ＰＰＯ）に故
障信号を伝搬させる検査入力を生成する。この処理に失
敗すれば、ステップ３０６へ進み、成功すればステップ
３０４へ進む。ただし、禁止組合せ集合に属するＤフロ
ンティアと目標ＰＰＯの組合せを選択しない。

【００７２】ステップ３０４では、目標ＰＰＯとＤフロ
ンティアのペアを一時的に記憶する。ステップ３０５で
は、ステップ３０３で選択したＤフロンティアがフリッ
プフロップならば、その入力を目標ＰＰＯとする。ステ
ップ３０６では、ステップ３０４で記憶したＤフロンテ
ィアと目標ＰＰＯの組合せを禁止組合せ集合に追加す
る。禁止組み合わせ集合の例を図６に示す。同図におい
て、「信号線」は対象となっている故障箇所を、「故
障」は故障の種別を、「Ｄフロンティア」と「目標ＰＰ
Ｏ」の組みは、禁止される経路を示す。

【００７３】ステップ３０７では、途中まで生成した検
査系列をすべてクリアし、ステップ３０２に進む。ステ
ップ３０８は、禁止組合せ集合をクリアし、故障伝搬処
理を終了する。以上のように構成された本発明の第３の
実施例における順序回路の検査系列生成方法の故障伝搬
処理の動作を説明する。

【００７４】図７は上記故障伝搬処理の動作を説明する
ために用いる図である。同図において従来技術の説明で
用いた図１６の同じものは、同じ付号を用いている。１
２０１は図６に示した禁止組合せ集合である。１２０２
はタイムフレーム７０２の故障伝搬経路、１２０３はタ
イムフレーム７０３の故障伝搬経路である。目標故障７
１３の検査系列生成において、従来技術の説明の項で図
１６を用いて説明したように、タイムフレーム７０３の
故障伝搬に失敗したため、検査系列生成に失敗したもの
とする（図５のステップ３０３）。ここで図７に示すよ
うに、故障伝搬処理に失敗したときに、失敗したタイム
フレーム７０３の１つ前のタイムフレーム７０２のＤフ
ロンティアであるＦＦ２（７１１）の出力と、目標ＰＰ
ＯであるＦＦ３（７０９）の入力との組合せを禁止組合
せ集合１２０１に登録する（ステップ３０６）。

【００７５】次に目標故障７１３に対して生成した系列
を全てクリアして再度故障伝搬処理をするために最初の
タイムフレーム７０１に戻って（ステップ３０７）、タ
イムフレーム７０１でＤフロンティア７０９を選択し、
目標故障ｂ（７１３）の影響を外部出力ピンに伝搬する
ために、故障伝搬経路７０５を活性化し（ステップ３０
２、３０３）、故障伝搬経路７０５を表す、Ｄフロンテ
ィア７０９と外部出力ピンＰＯとの組み合わせを一時的
に記憶し（ステップ３０４）、Ｄフロンティアの入力を
次の目標ＰＰＯとする（ステップ３０５）。

【００７６】タイムフレーム７０２で、禁止組合せ集合
１２０１の要素（Ｄフロンティア７１１、目標ＰＰＯ７
０９）を参照して、いま目標ＰＰＯが７０９なので、Ｆ
Ｆ２（７１１）をＤフロンティアとして選択しないよう
にした結果、ＦＦ１（７１０）がＤフロンティアとして
選択され、目標ＰＰＯであるＦＦ３（７０９）までの故
障伝搬経路１２０２を活性化する（ステップ３０２〜３
０５）。

【００７７】次にタイムフレーム７０３の処理を行な
い、Ｄフロンティアとして故障箇所７１３を選択し、故
障の影響を７１３から目標ＰＰＯであるＦＦ１（７１
０）に伝搬させるために、故障伝搬経路１２０３を活性
化する（ステップ３０２〜３０５）。ここで目標故障が
活性化されたので、故障伝搬処理に成功して、状態初期
化処理に進む（ステップ３０２）。

【００７８】なお、上記ステップ３０７では、それまで
生成してきた検査系列を全てクリアし、伝搬処理を最初
のタイムフレームから再度実行させるようにしている
が、これに限らず、失敗したタイムフレームの１つ前に
処理したタイムフレームの経路を禁止しているので、失
敗したタイムフレームの１つ前に処理したタイムフレー
ムの処理から再度実行するようにしてもよい。

【００７９】以上のように、本実施例によれば、ある目
標故障の検査系列生成を行った結果、故障伝搬処理に失
敗した場合、失敗したタイムフレームの１つ前のタイム
フレームのＤフロンティアと目標ＰＰＯの組合せを禁止
組合せ集合に登録し、生成してきた系列の全部又は一部
をクリアし、また再度故障伝搬処理を行うようにするこ
とによって、あるタイムフレームの処理で、禁止組合せ
集合に属する組合せを選択しないようにし、故障伝搬経
路を動的に変更することによって、目標故障の検査系列
生成が成功する確率が高くなるので、高い故障検出率を
得ることのできる検査系列を生成することができる。 （実施例３）図８は本発明の第３の実施例における順序
回路の検査系列生成方法の状態初期化処理を示す図であ
る。検査系列生成方法の全体のフローは、従来技術で示
した図１２とほぼ同じであるが、状態初期化処理の部分
のみが異なる。以下、状態初期化処理の部分のみを説明
する。

【００８０】図８において、ステップ２０１は、本発明
に係る状態初期化処理の開始を示す。ステップ２０２で
は、回路の現在状態と初期状態が一致しているか否かを
判断し、現在状態と初期状態が一致していればステップ
２０８へ進み、一致していなければステップ２０３へ進
む。

【００８１】ステップ２０３では、ステップ２０６で登
録した禁止状態集合に属する状態にならないように、外
部入力ピンとフリップフロップに値を割り当てることに
より、現在状態の正当化を行なう。ステップ２０４で
は、状態遷移の履歴にステップ２０３で正当化した状態
を状態遷移の履歴に追加する。状態遷移の履歴は、例え
ば図９に示す履歴表のようになっている。同図に示すよ
うに、それぞれの状態は、状態を識別する状態名と、そ
の状態を構成する各ＦＦの状態値とで表すことができ
る。

【００８２】ステップ２０５では、状態遷移の履歴中に
ステップ２０３で正当化した状態が２つ存在するか否か
を判断し、２つ存在する場合はステップ２０６へ進み、
存在しない場合はステップ２０７へ進む。ステップ２０
６では、状態遷移の履歴からステップ２０３で正当化し
た状態を削除し、その状態を禁止状態集合に登録する。
状態遷移の履歴中に２つの同じ状態が存在する場合は、
状態遷移のループを形成している場合だから、後で正当
化した状態を禁止状態とすることによって、状態初期化
処理がループに陥ることを避けることができる。

【００８３】ステップ２０７では、ステップ２０３で正
当化した状態を新たに現在状態とする。ステップ２０８
では、禁止状態集合を削除する。ステップ２０９は、本
発明に係る状態初期化処理の終了を示す。以上のように
構成された本発明の第３の実施例における順序回路の検
査系列生成方法の状態初期化処理の動作を説明する。

【００８４】図１０は本発明の第２の実施例における順
序回路の検査系列生成の状態初期化処理の動作を説明す
るために用いる図である。同図において、図１０(a)の
１１０１は図１８で示した状態遷移を持つ被検査回路の
状態初期化処理中に、同一状態が２つ存在している時の
状態遷移の履歴を表す。図５(b)の１１０２は１１０１
から２つ存在している同一状態のうち、後で割り当てら
れたの状態を削除したときの状態遷移の履歴を表す。

【００８５】図５(c)の１１０３は図１８で示した状態
遷移を持つ被検査回路の状態初期化処理が成功して終了
したときの状態遷移の履歴を表す。従来技術におけるの
状態初期化処理の動作を説明した図１８において、初期
状態８０４から故障励起状態８０１まで遷移する系列を
次のようにして生成する。

【００８６】まず故障励起状態８０１を状態遷移の履歴
に登録する（ステップ２０１）。次に故障励起状態８０
１を正当化した結果、状態８０２を得て（ステップ２０
３）、状態遷移の履歴に登録する（ステップ２０４）。
状態８０２は初期状態でなく、かつ状態遷移の履歴に同
一状態が２つ存在しないので（ステップ２０５）、正当
化した状態を現在状態とし（ステップ２０７）、状態８
０２を正当化する（ステップ２０２、２０３）。同様
に、状態８０３、状態８０１を正当化し、状態遷移の履
歴に登録する。

【００８７】この時の状態遷移の履歴１１０１中に状態
８０１が２つ存在しているので（ステップ２０５、図１
０（ａ））、状態遷移の履歴１１０１から状態８０１を
削除し、さらに状態８０１を禁止状態集合に登録する
（ステップ２０６、図１０（ｂ））。再び状態８０３を
禁止状態８０１にならないように正当化した結果（ステ
ップ２０３）、状態８０４を得て、状態遷移の履歴に登
録する（ステップ２０４、図５（ｃ））。ここで、状態
遷移の履歴１１０３には同一状態が２つ存在しない（ス
テップ２０５）。また状態８０４は初期状態に等しいの
で（ステップ２０２）状態初期化に成功し、処理を終了
する。以上のように、本実施例によれば、ある目標故障
の検査系列生成の状態初期化処理を行う時に状態遷移の
履歴を記憶するようにし、状態遷移の履歴中に同一状態
が２つ以上存在した場合に、その状態を状態遷移の履歴
から削除し、禁止状態として登録して、再び禁止状態に
ならないように状態初期化処理を実行することにより、
状態初期化に成功する確率が上がり、検査系列生成に成
功することができるので、高い故障検出率を得ることの
できる検査系列を生成できる。

【００８８】

【発明の効果】以上説明してきたように、本発明の検査
系列生成方法（装置）によれば、目標故障の故障伝搬処
理に失敗したとき、その目標故障の影響を伝搬させる経
路の少なくとも一部を禁止情報として記憶する。新た
に、その目標故障に対する禁止情報を経路として選択し
ないようにして、同じ目標故障に対する検査系列生成の
故障伝搬処理を行う。これにより、故障伝搬処理に成功
する確率、ひいては故障検出率を向上させるという効果
がある。

【００８９】また、状態初期化処理において、状態遷移
がループに陥ったかどうか（同じ状態が２つあるか）を
検出し、ループを形成の原因となった状態を禁止状態と
して、再度やり直す。これにより、状態初期化に成功す
る確率、ひいては故障検出率を向上させるという効果が
ある。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の第１の実施例における順序回路の検査
系列生成方法の流れ図である。

【図２】本発明の第１の実施例における禁止Ｄフロンテ
ィア集合を示す表である。

【図３】本発明の第１の実施例における検査系列生成方
法の故障伝搬処理部分の流れ図である。

【図４】本発明の第１の実施例における検査系列生成方
法の故障伝搬処理部分の動作説明図である。

【図５】本発明の第２の実施例における順序回路の検査
系列生成方法の故障伝搬処理部分の流れ図である。

【図６】本発明の第２の実施例における禁止組み合わせ
集合を示す図である。

【図７】本発明の第２の実施例における検査系列生成方
法の故障伝搬処理部分の動作説明図である。

【図８】本発明の第３の実施例における順序回路の検査
系列生成方法の状態初期化部分の流れ図である。

【図９】本発明の第３の実施例における状態遷移の履歴
を示す図である。

【図１０】本発明の第３の実施例における順序回路の検
査系列生成方法の状態初期化部分の動作説明図である。

【図１１】被検査回路の一例における故障表。

【図１２】従来の順序回路の検査系列生成方法の流れ図
である。

【図１３】従来のRTP（Reverse Time Processing）法に
基づく順序回路の検査系列生成方法の故障伝搬部分の流
れ図である。

【図１４】従来の順序回路の検査系列生成方法の状態初
期化部分の流れ図である。

【図１５】（ａ）順序回路における組み合わせ回路部分
とフリップフロップ部分の説明図 （ｂ）（ａ）における簡単な回路例。

【図１６】従来の順序回路の検査系列生成方法の故障伝
搬部分の動作説明図である。

【図１７】図１５（ｂ）の回路例における検査系列生成
例。

【図１８】状態初期化処理における状態遷移の一例の説
明図。

【符号の説明】

１０２ 故障表における未「検出」故障に対して実行す
べき検査系列生成処理の最大回数を設定する処理。 １０３ 検査系列生成処理の回数を０に初期化する処
理。 １０４ 検査系列生成処理の回数が、最大回数を越えて
いないかどうかを判断する処理。 １０５ 故障表において、未検出かつ未処理である故障
が存在するか否かを判断する処理。 １０６、１０７ 未検出かつ未処理である故障郡の中か
ら目標故障を１つ選択し、検査系列生成の前段階とし
て、検出不能な故障かどうかを調べるため、組み合わせ
回路部分についてのみ検査入力を生成する処理。 １０８ 選択された目標故障に対して、故障伝搬処理を
行う処理。 １０９、１１０ 状態初期化処理、故障シミュレーショ
ンを行う処理。 １１１ ステップ１０７で処理した検査系列生成の故障
伝搬処理が成功しているか否かを判断する処理。 １１２ 目標故障の影響を任意の外部出力ピンまで伝搬
するタイムフレームで選択されたＤフロンティアをその
目標故障の禁止Ｄフロンティア集合に登録する処理。 １１３ 故障表において冗長故障以外の未検出故障を未
処理故障とする処理。 １１４ 未検出故障に対する検査系列生成処理の回数を
１つカウントアップする処理。 １１５ 検査系列生成方法の処理の終了を示す処理。 １４０２ 目標故障を含む経路が活性化されているか否
かを判断する処理。 １４０３ 処理対象となるタイムフレームがｋ番目のタ
イムフレームであるかを判断する処理。 １４０４ 禁止Ｄフロンティア以外で、目標故障箇所、
またはＦＦの出力（つまり、組み合わせ回路部分の入
力）の中から１つＤフロンティアとして選択する処理。 １４０５ 選択されたＤフロンティアを一時的に記憶す
る処理。 １４０６ 目標故障箇所、またはＦＦの出力の中から１
つＤフロンティアを選択する処理。 １４０７ 対象となるタイムフレームにおいて、故障伝
搬経路を活性化する処理。 １４０８ 故障伝搬経路を活性化のために外部入力ピン
に割り当てた状態値を検査系列の一部として記憶し、Ｄ
フロンティアの入力を新たに目標ＰＰＯとする処理。 １４０９ 故障伝搬処理の終了を示す処理。 ２０３ 禁止状態集合に属する状態にならないように、
外部入力ピンとフリップフロップに値を割り当てること
により、現在状態の正当化を行なう処理 ２０４ 状態遷移の履歴に現在状態を正当化した状態を
追加する処理 ２０５ 状態遷移の履歴中に現在状態を正当化した状態
が２つ存在するか否かを判断する処理 ２０６ 状態遷移の履歴中に同じ状態が２つ存在した時
に、その状態を削除し、禁止状態集合に登録する処理 ２０８ 禁止状態集合を削除する処理 ３０２ 目標故障が活性化されているか否かを判断する
処理。 ３０３ Ｄフロンティアとして、目標故障またはフリッ
プフロップの出力の何れか一つを選択し、任意の外部出
力ピンまたは、１つ前のタイムフレームでＤフロンティ
アとして選択したフリップフロップの入力（目標ＰＰ
Ｏ）に故障信号を伝搬させる検査入力を生成する処理。
ただし、禁止組合せ集合に属するＤフロンティアと目標
ＰＰＯの組合せを選択しない処理。 ３０４ 目標ＰＰＯとＤフロンティアのペアを一時的に
記憶する処理。 ３０５ その出力側がＤフロンティアであるフリップフ
ロップの入力側を目標ＰＰＯとする処理。 ３０６ 記憶したＤフロンティアと目標ＰＰＯの組合せ
を禁止組合せ集合に追加する処理。 ３０７ 途中まで生成した検査系列をすべてクリアする
処理。 ３０８ 禁止組合せ集合をクリアし、故障伝搬処理を終
了する処理。

Claims (19)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 被検査回路である順序回路をタイムフレ
   ームに展開して、順序回路中の仮定された縮退故障につ
   いて、タイムフレーム毎に当該故障の故障信号の伝搬経
   路の活性化を試みる故障伝搬処理を行い、当該故障を検
   査する系列を生成する検査系列生成方法であって、 １つのタイムフレームにおいて故障信号が伝わるべき経
   路を選択し、その経路が活性化するよう当該タイムフレ
   ームでの入力値を割り当て、 この処理を最終的な故障の伝搬先である出力ピンから故
   障箇所に至るまでタイムフレームを遡って行う故障伝搬
   処理ステップと、 いずれかのタイムフレームにおいて、活性化の失敗を検
   出した場合、最初のタイムフレームから当該失敗したタ
   イムフレームまでの各経路のうち少なくとも一部の経路
   を禁止情報とする割当失敗検出ステップと、 活性化に失敗した場合に、禁止情報とされた経路を選択
   しないように、新たに、故障伝搬処理ステップを実行す
   る再故障伝搬処理ステップとからなることを特徴とする
   検査系列生成方法。
2. 【請求項２】 前記禁止情報情報は、所定のタイムフレ
   ームにおいて選択された、１つ前の時刻のタイムフレー
   ムからの故障伝搬先となるべき信号線を表すＤフロンテ
   ィアであることを特徴とする請求項１記載の検査系列生
   成方法。
3. 【請求項３】 前記所定のタイムフレームは、最初に故
   障伝搬経路を活性化するタイムフレームであることを特
   徴とする請求項２記載の検査系列生成方法。
4. 【請求項４】 前記禁止情報は、所定のタイムフレーム
   における伝搬経路を表す、Ｄフロンティアと目標ＰＰＯ
   との組であることを特徴とする請求項１記載の検査系列
   生成方法。
5. 【請求項５】 前記禁止情報は、故障伝搬に失敗したタ
   イムフレームの１つ前に処理したタイムフレームにおけ
   る伝搬経路を表す、Ｄフロンティアと目標ＰＰＯとの組
   であることを特徴とする請求項１記載の検査系列生成方
   法。
6. 【請求項６】 被検査回路である順序回路をタイムフレ
   ームに展開して、順序回路中の仮定された縮退故障につ
   いて、タイムフレーム毎に当該故障の故障信号の伝搬経
   路の活性化を試みる故障伝搬処理を行い、当該故障を検
   査する系列を生成する検査系列生成方法であって、 目標故障の全部に一通り故障伝搬処理が行われた回数を
   カウントする第１のステップと、 前記カウント値が、所定の回数を越えているか否かを判
   断し、越えている場合は検査系列生成を終了する第２の
   ステップとからなり、 前記第１のステップは、 故障伝搬処理が未処理か未処理と擬制された故障で、か
   つ、検査系列が未生成の目標故障のなかから１つを選択
   する第１のサブステップと、 選択された目標故障に関して、目標故障を外部出力ピン
   に伝搬させるタイムフレームにおいて、活性化すべき経
   路の入力側を示すＤフロンティアが禁止Ｄフロンティア
   として登録されている場合にはその禁止Ｄフロンティア
   以外から、Ｄフロンティアを選択して故障伝搬処理を行
   う第２のサブステップと、 第２のサブステップで故障伝搬処理が成功したか失敗し
   たかを判断する第３のサブステップと、 失敗と判断された場合に、前記目標故障の影響を外部出
   力ピンに伝搬させるタイムフレームで選択されたＤフロ
   ンティアを前記目標故障の禁止Ｄフロンティアとして登
   録する第４のサブステップと、 第１から第４のサブステップが全ての目標故障について
   実行されたとき、故障伝搬処理に失敗した故障を、故障
   伝搬処理が未処理として擬制し、前記カウント値をカウ
   ントする第５のサブステップとからなることを特徴とす
   る検査系列生成方法。
7. 【請求項７】 被検査回路である順序回路をタイムフレ
   ームに展開して、順序回路中の仮定された縮退故障につ
   いて、タイムフレーム毎に当該故障の故障信号の伝搬経
   路を活性化を試みる故障伝搬処理を行い、当該故障を検
   査する系列を生成する検査系列生成方法であって、 ある目標故障に対して１つのタイムフレームに対して故
   障伝搬処理を行う第１のステップと、 第１のステップの処理対象となっているタイムフレーム
   の１つ前のタイムフレームで選択された伝搬経路を、経
   路の出口側を示す信号線（以後目標ＰＰＯ）と入口側を
   示すＤフロンティアとのペアとして記憶する第２のステ
   ップと、 第１のステップでの故障伝搬処理が成功したか否かを判
   断し、成功した場合は、次のタイムフレームについて第
   １のステップを実行させ、失敗した場合は、第２のステ
   ップで記憶した目標ＰＰＯとＤフロンティアとの組合せ
   を禁止経路として登録する第３のステップと、 第１のステップでの故障伝搬処理に失敗したときに、既
   に生成された検査系列のうち、失敗したタイムフレーム
   から少なくとも１つ前のタイムフレーム以降に生成した
   部分をクリアする第４のステップと、 前記禁止経路として登録されたＤフロンティアと目標Ｐ
   ＰＯの組合せを選択しないように、クリアされた部分の
   対応するタイムフレームから第１のステップを実行させ
   る第５のステップとからなることを特徴とする検査系列
   生成方法。
8. 【請求項８】 被検査回路である順序回路において、初
   期状態からある縮退故障に対する故障伝搬処理の終了時
   の状態まで状態を遷移させるため、順序回路の入力ピン
   に時系列的に与えるべき入力信号を求める状態初期化処
   理を行い、当該故障を検査する系列を生成する検査系列
   を検査系列生成方法であって、 順序回路において、その時の状態を正当化するように順
   序回路の記憶素子の状態と外部入力ピンに与える入力信
   号とを割り当て、 その処理を故障伝搬処理が終わったときにおける順序回
   路の状態から順序回路の初期状態を得るべく実行する正
   当化ステップと、 前記ステップにおいて割り当てた順序回路の状態が、故
   障伝搬処理終了時の状態、または既に一度割り当てられ
   た状態と一致しているかどうかを判定する一致検出ステ
   ップと、 一致していると判定された場合に、一致した状態と外部
   入力ピンに与える入力信号との割り当てを取りやめて、
   その状態を避けて新たに正当化ステップを実行する割り
   当て制御ステップとからなることを特徴とする検査系列
   生成方法。
9. 【請求項９】 前記割当制御ステップは、故障伝搬処理
   が終了した時点の状態から新たに正当化ステップを実行
   することを特徴とする請求項８記載の検査系列生成方
   法。
10. 【請求項１０】 前記割当制御ステップは、一致した状
    態の１つ前の状態から新たに正当化ステップを実行する
    ことを特徴とする請求項８記載の検査系列生成方法。
11. 【請求項１１】 被検査回路である順序回路において、
    初期状態からある縮退故障に対する故障伝搬処理の終了
    時の状態まで状態を遷移させるため、順序回路の入力ピ
    ンに時系列的に与えるべき入力信号を求める状態初期化
    処理を行い、当該故障を検査する系列を生成する検査系
    列を検査系列生成方法であって、 現在の状態が初期状態と一致しているか否かを判定し、
    一致していれば終了する第１のステップと、 一致していない場合に、現在の状態を正当化する状態値
    と外部入力ピンに与える入力信号とを割り当てる第２の
    ステップと、 正当化した状態を状態遷移の履歴として記憶する第３の
    ステップと、 第３のステップで新たに記憶した状態が既に状態遷移の
    履歴中に存在するか否かを判断する第４のステップと、 第４のステップで存在すると判断された場合、その状態
    を禁止情報として登録し、状態遷移の履歴から削除して
    第２のステップに戻る第５のステップと、 第４のステップで存在しないと判断された場合、正当化
    した状態を現在状態として、第１の状態に戻る第６のス
    テップとからなることを特徴とする検査系列生成方法。
12. 【請求項１２】 被検査回路である順序回路をタイムフ
    レームに展開して、順序回路中の仮定された縮退故障に
    ついて、タイムフレーム毎に当該故障の故障信号の伝搬
    経路を活性化を試みる故障伝搬処理を行い、当該故障を
    検査する系列を生成する検査系列生成装置であって、 １つのタイムフレームにおいて故障信号が伝わるべき経
    路を選択し、その経路が活性化するよう当該タイムフレ
    ームでの入力値を割り当て、 この処理を最終的な故障の伝搬先である出力ピンから故
    障箇所に至るまでタイムフレームを遡って行う故障伝搬
    処理手段と、 いずれかのタイムフレームにおいて、活性化の失敗を検
    出した場合、最初のタイムフレームから当該失敗したタ
    イムフレームまでの各経路のうち少なくとも一部の経路
    を禁止情報とする失敗検出手段と、 前記禁止情報を当該故障と対応させて記憶する禁止情報
    記憶手段と、 活性化に失敗した場合に、禁止情報とされた経路を選択
    することを禁止して、新たに当該故障に対して故障伝搬
    処理手段を起動する禁止手段とを備えたことを特徴とす
    る検査系列生成装置。
13. 【請求項１３】 前記禁止情報情報は、所定のタイムフ
    レームにおいて選択された、隣のタイムフレームからの
    故障伝搬先となるべき信号線を表すＤフロンティアであ
    ることを特徴とする請求項１２記載の検査系列生成装
    置。
14. 【請求項１４】 前記所定のタイムフレームは、最初の
    タイムフレームであることを特徴とする請求項１３記載
    の検査系列生成装置。
15. 【請求項１５】 前記禁止情報は、所定のタイムフレー
    ムにおける伝搬経路を表すＤフロンティアと目標ＰＰＯ
    との組であることを特徴とする請求項１２記載の検査系
    列生成装置。
16. 【請求項１６】 前記禁止情報は、故障伝搬に失敗した
    タイムフレームの１つ前に処理したタイムフレームにお
    ける伝搬経路を表すＤフロンティアと目標ＰＰＯとの組
    であることを特徴とする請求項１２記載の検査系列生成
    装置。
17. 【請求項１７】 被検査回路である順序回路において、
    初期状態からある縮退故障に対する故障伝搬処理の終了
    時の状態まで状態を遷移させるため、順序回路の入力ピ
    ンに時系列的に与えるべき入力信号を求める状態初期化
    処理を行い、当該故障を検査する系列を生成する検査系
    列を検査系列生成装置であって、 順序回路において、その時の状態を正当化するように順
    序回路の記憶素子の状態と外部入力ピンに与える入力信
    号とを割り当て、 その処理を故障伝搬処理が終わったときにおける順序回
    路の状態から順序回路の初期状態を得るべく実行する正
    当化手段と、 前記手段において割り当てた順序回路の状態が、故障伝
    搬処理終了時の状態、または既に一度割り当てられた状
    態と一致しているかどうかを判定する一致検出手段と、 一致していると判定された場合に、一致した状態と外部
    入力ピンに与える入力信号との割り当てを取りやめて、
    その状態を避けて新たに正当化手段を実行する割り当て
    制御手段とを備えたことを特徴とする検査系列生成装
    置。
18. 【請求項１８】 前記割当制御手段は、故障伝搬処理が
    終了した時点の状態から新たに正当化手段を実行するこ
    とを特徴とする請求項１７記載の検査系列生成装置。
19. 【請求項１９】 前記割当制御手段は、一致した状態の
    １つ前の状態から新たに正当化手段を実行することを特
    徴とする請求項１７記載の検査系列生成装置。