JPH0815388A - 検査系列生成方法及び検査系列生成装置 - Google Patents
検査系列生成方法及び検査系列生成装置Info
- Publication number
- JPH0815388A JPH0815388A JP6144837A JP14483794A JPH0815388A JP H0815388 A JPH0815388 A JP H0815388A JP 6144837 A JP6144837 A JP 6144837A JP 14483794 A JP14483794 A JP 14483794A JP H0815388 A JPH0815388 A JP H0815388A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- fault
- test
- failure
- target
- sequence generation
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 高速に短い検査系列を得る組合せ回路の検査
系列方法を提供する。 【構成】 論理検証のためにLSI設計者が作成した入
力系列で論理シミュレーションを実行し、被検査回路の
回路状態の履歴を記憶する処理102と、102で実行
した論理シミュレーション結果、すなわち入力系列と被
検査回路の回路状態の履歴の関係から状態遷移グラフを
生成する処理103と、状態遷移グラフ中に現在時刻の
タイムフレームの状態が存在するか否かを判断する処理
109と、状態遷移グラフの初期状態から現在時刻のタ
イムフレームの回路状態までの経路を求めて、その経路
中の入力系列の和を状態初期化系列として生成する処理
110とを備えた検査系列生成方法である。
系列方法を提供する。 【構成】 論理検証のためにLSI設計者が作成した入
力系列で論理シミュレーションを実行し、被検査回路の
回路状態の履歴を記憶する処理102と、102で実行
した論理シミュレーション結果、すなわち入力系列と被
検査回路の回路状態の履歴の関係から状態遷移グラフを
生成する処理103と、状態遷移グラフ中に現在時刻の
タイムフレームの状態が存在するか否かを判断する処理
109と、状態遷移グラフの初期状態から現在時刻のタ
イムフレームの回路状態までの経路を求めて、その経路
中の入力系列の和を状態初期化系列として生成する処理
110とを備えた検査系列生成方法である。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、デジタル回路の検査系
列生成方法に関するものである。
列生成方法に関するものである。
【0002】
【従来の技術】従来の検査系列生成方法は、プレンティ
スホール、イングルウッド クリフ、ニュー ジャージ
(PRENTICE−HALL,Englewood
Cliff,New Jersey)発行の「フォール
ト トレラント コンピューティング セオリ アンド
テクニックス ボリューム I(FAULT TOL
ERANT COMPUTING Theory and
TechniquesVolume I)」のChap
ter1の1.4.2「スタック アット フォールト
テスティング(Stuck at Fault Tes
ting)」と、1990年のデザイン オートメーシ
ョン コンファレンスの資料[T.John Gira
ldi,Michael L. Bushnell,”
EST:The New Frontier in A
utomatic Test−Pattern Gen
eration,”1990]およびこれらの参考文献
に記載されている。
スホール、イングルウッド クリフ、ニュー ジャージ
(PRENTICE−HALL,Englewood
Cliff,New Jersey)発行の「フォール
ト トレラント コンピューティング セオリ アンド
テクニックス ボリューム I(FAULT TOL
ERANT COMPUTING Theory and
TechniquesVolume I)」のChap
ter1の1.4.2「スタック アット フォールト
テスティング(Stuck at Fault Tes
ting)」と、1990年のデザイン オートメーシ
ョン コンファレンスの資料[T.John Gira
ldi,Michael L. Bushnell,”
EST:The New Frontier in A
utomatic Test−Pattern Gen
eration,”1990]およびこれらの参考文献
に記載されている。
【0003】また従来の検査系列パターンを圧縮する方
法は1993年のデザイン オートメーション コンフ
ァレンスの資料[Cost−ffective Gen
eration of Minimal Test S
ets for Stuck−at Faults i
n Combinational Logic Cir
cuits,1993]及びこれらの参考文献、特願平
5−331820号に記載されている。
法は1993年のデザイン オートメーション コンフ
ァレンスの資料[Cost−ffective Gen
eration of Minimal Test S
ets for Stuck−at Faults i
n Combinational Logic Cir
cuits,1993]及びこれらの参考文献、特願平
5−331820号に記載されている。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら前記のよ
うな検査系列生成方法では、以下の様な問題点を有して
きた。
うな検査系列生成方法では、以下の様な問題点を有して
きた。
【0005】(1)組合せ回路の検査パターン圧縮に関
して、故障シミュレーションを実行せずに検査パターン
の圧縮を行っているため検査系列生成する故障の数が増
加し、処理時間が遅くなり、また圧縮した検査パターン
数が多くなる。
して、故障シミュレーションを実行せずに検査パターン
の圧縮を行っているため検査系列生成する故障の数が増
加し、処理時間が遅くなり、また圧縮した検査パターン
数が多くなる。
【0006】(2)ある組合せ回路の目標故障を検出す
るために論理値を設定した外部入力ピン以外の外部入力
ピンに乱数で論理0または1を設定して故障シミュレー
ションを実行するため、目標故障が再収れんしない分岐
の枝か茎であった場合に目標故障と同時に容易に検出可
能な同じ分岐の他の枝の故障が検出できなくなり、検査
系列生成する故障数が多くなり、また検査系列長が長く
なる。
るために論理値を設定した外部入力ピン以外の外部入力
ピンに乱数で論理0または1を設定して故障シミュレー
ションを実行するため、目標故障が再収れんしない分岐
の枝か茎であった場合に目標故障と同時に容易に検出可
能な同じ分岐の他の枝の故障が検出できなくなり、検査
系列生成する故障数が多くなり、また検査系列長が長く
なる。
【0007】(3)組合せ回路の目標故障の選択をラン
ダムに行っているため、検査系列長が長くなる。
ダムに行っているため、検査系列長が長くなる。
【0008】本発明は係る点に鑑みてなされたものであ
り、組合せ回路の検査系列生成において目標故障の検査
入力生成で外部ピンが論理ドントケアである箇所に、乱
数で0または1を割り当てずにドントケアのまま故障シ
ミュレーションを実行し、検出可能な故障を検査系列生
成の対象から外し、また再収れんしない分岐が存在する
かを調べ、存在した場合に分岐の枝、茎の同じ種類の全
故障を目標故障とし検査系列生成を行ない、また組合せ
回路において、故障の被覆関係を解析し、被覆されてい
る故障を被覆している故障よりも優先的に目標故障とし
て選択することによって、高速で検査系列長が短い検査
系列生成方法および検査系列生成装置を提供することを
目的とする。
り、組合せ回路の検査系列生成において目標故障の検査
入力生成で外部ピンが論理ドントケアである箇所に、乱
数で0または1を割り当てずにドントケアのまま故障シ
ミュレーションを実行し、検出可能な故障を検査系列生
成の対象から外し、また再収れんしない分岐が存在する
かを調べ、存在した場合に分岐の枝、茎の同じ種類の全
故障を目標故障とし検査系列生成を行ない、また組合せ
回路において、故障の被覆関係を解析し、被覆されてい
る故障を被覆している故障よりも優先的に目標故障とし
て選択することによって、高速で検査系列長が短い検査
系列生成方法および検査系列生成装置を提供することを
目的とする。
【0009】
【課題を解決するための手段】本発明の検査系列生成方
法はこれらの問題点を解決するために、以下の手段
(1)〜(3)を用いる。
法はこれらの問題点を解決するために、以下の手段
(1)〜(3)を用いる。
【0010】(1)被検査回路である組合せ回路中の仮
定された縮退故障について、当該故障を検査する入力パ
ターンを生成する検査系列生成方法であって、被検査回
路の故障表を参照し、未検出でかつ検査系列生成処理が
未処理でかつ第3の処理で検査系列生成処理を行わない
ようにしていない故障の中から任意に1つ目標故障を選
択する第1の処理と前記第1の処理で選択した目標故障
の影響を前記被検査回路の任意の外部出力ピンに伝搬す
るための検査入力パターンを生成し、前記目標故障の伝
搬に関係しない外部入力ピンの論理値をドントケアのま
まにしておく第2の処理と、前記第2の処理で生成した
ドントケアを含んだ前記目標故障を検査する検査入力パ
ターンで故障シミュレーションを実行し、前記被検査回
路の任意の外部出力ピンで検出可能な任意の故障を前記
第2の処理である検査系列生成処理を行なわないように
前記故障表を変更する第3の処理とを備えたものであ
る。
定された縮退故障について、当該故障を検査する入力パ
ターンを生成する検査系列生成方法であって、被検査回
路の故障表を参照し、未検出でかつ検査系列生成処理が
未処理でかつ第3の処理で検査系列生成処理を行わない
ようにしていない故障の中から任意に1つ目標故障を選
択する第1の処理と前記第1の処理で選択した目標故障
の影響を前記被検査回路の任意の外部出力ピンに伝搬す
るための検査入力パターンを生成し、前記目標故障の伝
搬に関係しない外部入力ピンの論理値をドントケアのま
まにしておく第2の処理と、前記第2の処理で生成した
ドントケアを含んだ前記目標故障を検査する検査入力パ
ターンで故障シミュレーションを実行し、前記被検査回
路の任意の外部出力ピンで検出可能な任意の故障を前記
第2の処理である検査系列生成処理を行なわないように
前記故障表を変更する第3の処理とを備えたものであ
る。
【0011】(2)被検査回路である組合せ回路中の仮
定された縮退故障について、当該故障を検査する入力パ
ターンを生成する検査系列生成方法であって、被検査回
路の分岐部分が再収れんするか否かを解析する第1の処
理と被検査回路の故障表を参照し、未検出でかつ検査系
列生成処理が未処理でかつ第3の処理で検査系列生成処
理を行わないようにしていない故障の中から、任意に1
つ目標故障を選択し、選択した目標故障が前記第1の処
理で解析した再収れんしない分岐部分の枝または茎の箇
所であれば、前記分岐の全ての枝と茎の未検出故障の中
から前記目標故障と同じ種類の縮退故障でかつ第4の処
理で検査系列生成処理を行わないようにしていない故障
を付属的な目標故障とする第2の処理と前記第2の処理
で選択した目標故障の影響を前記被検査回路の任意の外
部出力ピンに伝搬するための検査入力パターンを生成
し、前記付属的な目標故障が存在した場合に、前記付属
的な目標故障の影響を前記被検査回路の任意の外部出力
ピンに伝搬するための検査入力パターンを生成し、前記
目標故障及び前記付属的な目標故障の伝搬に関係しない
外部入力ピンの論理値をドントケアのままにしておく第
3の処理と、前記第3の処理で生成したドントケアを含
んだ前記目標故障を検査する検査入力パターンで故障シ
ミュレーションを実行し、前記被検査回路の任意の外部
出力ピンで検出可能な任意の故障を前記第3の処理であ
る検査系列生成処理を行なわないように前記故障表を変
更する第4の処理とを備えたものである。
定された縮退故障について、当該故障を検査する入力パ
ターンを生成する検査系列生成方法であって、被検査回
路の分岐部分が再収れんするか否かを解析する第1の処
理と被検査回路の故障表を参照し、未検出でかつ検査系
列生成処理が未処理でかつ第3の処理で検査系列生成処
理を行わないようにしていない故障の中から、任意に1
つ目標故障を選択し、選択した目標故障が前記第1の処
理で解析した再収れんしない分岐部分の枝または茎の箇
所であれば、前記分岐の全ての枝と茎の未検出故障の中
から前記目標故障と同じ種類の縮退故障でかつ第4の処
理で検査系列生成処理を行わないようにしていない故障
を付属的な目標故障とする第2の処理と前記第2の処理
で選択した目標故障の影響を前記被検査回路の任意の外
部出力ピンに伝搬するための検査入力パターンを生成
し、前記付属的な目標故障が存在した場合に、前記付属
的な目標故障の影響を前記被検査回路の任意の外部出力
ピンに伝搬するための検査入力パターンを生成し、前記
目標故障及び前記付属的な目標故障の伝搬に関係しない
外部入力ピンの論理値をドントケアのままにしておく第
3の処理と、前記第3の処理で生成したドントケアを含
んだ前記目標故障を検査する検査入力パターンで故障シ
ミュレーションを実行し、前記被検査回路の任意の外部
出力ピンで検出可能な任意の故障を前記第3の処理であ
る検査系列生成処理を行なわないように前記故障表を変
更する第4の処理とを備えたものである。
【0012】(3)被検査回路である組合せ回路中の仮
定された縮退故障について、当該故障を検査する入力パ
ターン系列を生成する検査系列生成方法であって、被検
査回路中の全縮退故障について被覆関係を解析する第1
の処理と被検査回路の故障表を参照し、未検出でかつ検
査系列生成処理が未処理でかつ第4の処理で検査系列生
成処理を行わないようにしていない故障の中から前記第
1の処理で解析した被覆されている故障を被覆している
故障よりも必ず優先的に目標故障として選択するという
規則に従って1つ目標故障を選択する第2の処理と前記
第2の処理で選択した目標故障の影響を前記被検査回路
の任意の外部出力ピンに伝搬するための検査入力パター
ンを生成し、前記目標故障の伝搬に関係しない外部入力
ピンの論理値をドントケアのままにしておく第3の処理
と、前記第3の処理で生成したドントケアを含んだ前記
目標故障を検査する検査入力パターンで故障シミュレー
ションを実行し、前記被検査回路の任意の外部出力ピン
で検出可能な任意の故障を前記第3の処理である検査系
列生成処理を行なわないように前記故障表を変更する第
4の処理とを備えたものである。
定された縮退故障について、当該故障を検査する入力パ
ターン系列を生成する検査系列生成方法であって、被検
査回路中の全縮退故障について被覆関係を解析する第1
の処理と被検査回路の故障表を参照し、未検出でかつ検
査系列生成処理が未処理でかつ第4の処理で検査系列生
成処理を行わないようにしていない故障の中から前記第
1の処理で解析した被覆されている故障を被覆している
故障よりも必ず優先的に目標故障として選択するという
規則に従って1つ目標故障を選択する第2の処理と前記
第2の処理で選択した目標故障の影響を前記被検査回路
の任意の外部出力ピンに伝搬するための検査入力パター
ンを生成し、前記目標故障の伝搬に関係しない外部入力
ピンの論理値をドントケアのままにしておく第3の処理
と、前記第3の処理で生成したドントケアを含んだ前記
目標故障を検査する検査入力パターンで故障シミュレー
ションを実行し、前記被検査回路の任意の外部出力ピン
で検出可能な任意の故障を前記第3の処理である検査系
列生成処理を行なわないように前記故障表を変更する第
4の処理とを備えたものである。
【0013】また本発明の検査系列生成装置はこれらの
問題点を解決するために、以下の手段(4)〜(6)を
用いる。
問題点を解決するために、以下の手段(4)〜(6)を
用いる。
【0014】(4)被検査回路である組合せ回路中の仮
定された縮退故障について、当該故障を検査する入力パ
ターンを生成する検査系列生成装置であって、被検査回
路の故障表を参照し、未検出でかつ検査系列生成処理が
未処理でかつ第3の手段で検査系列生成手段を行わない
ようにしていない故障の中から任意に1つ目標故障を選
択する第1の手段と前記第1の手段で選択した目標故障
の影響を前記被検査回路の任意の外部出力ピンに伝搬す
るための検査入力パターンを生成し、前記目標故障の伝
搬に関係しない外部入力ピンの論理値をドントケアのま
まにしておく第2の手段と、前記第2の手段で生成した
ドントケアを含んだ前記目標故障を検査する検査入力パ
ターンで故障シミュレーションを実行し、前記被検査回
路の任意の外部出力ピンで検出可能な任意の故障を前記
第2の手段である検査系列生成処理を行なわないように
前記故障表を変更する第3の手段とを備えたものであ
る。
定された縮退故障について、当該故障を検査する入力パ
ターンを生成する検査系列生成装置であって、被検査回
路の故障表を参照し、未検出でかつ検査系列生成処理が
未処理でかつ第3の手段で検査系列生成手段を行わない
ようにしていない故障の中から任意に1つ目標故障を選
択する第1の手段と前記第1の手段で選択した目標故障
の影響を前記被検査回路の任意の外部出力ピンに伝搬す
るための検査入力パターンを生成し、前記目標故障の伝
搬に関係しない外部入力ピンの論理値をドントケアのま
まにしておく第2の手段と、前記第2の手段で生成した
ドントケアを含んだ前記目標故障を検査する検査入力パ
ターンで故障シミュレーションを実行し、前記被検査回
路の任意の外部出力ピンで検出可能な任意の故障を前記
第2の手段である検査系列生成処理を行なわないように
前記故障表を変更する第3の手段とを備えたものであ
る。
【0015】(5)被検査回路である組合せ回路中の仮
定された縮退故障について、当該故障を検査する入力パ
ターンを生成する検査系列生成装置であって、被検査回
路の分岐部分が再収れんするか否かを解析する第1の手
段と被検査回路の故障表を参照し、未検出でかつ検査系
列生成処理が未処理でかつ第3の手段で検査系列生成処
理を行わないようにしていない故障の中から、任意に1
つ目標故障を選択し、選択した目標故障が前記第1の手
段で解析した再収れんしない分岐部分の枝または茎の箇
所であれば、前記分岐の全ての枝と茎の未検出故障の中
から前記目標故障と同じ種類の縮退故障でかつ第4の手
段で検査系列生成処理を行わないようにしていない故障
を付属的な目標故障とする第2の手段と前記第2の手段
で選択した目標故障の影響を前記被検査回路の任意の外
部出力ピンに伝搬するための検査入力パターンを生成
し、前記付属的な目標故障が存在した場合に、前記付属
的な目標故障の影響を前記被検査回路の任意の外部出力
ピンに伝搬するための検査入力パターンを生成し、前記
目標故障及び前記付属的な目標故障の伝搬に関係しない
外部入力ピンの論理値をドントケアのままにしておく第
3の手段と、前記第3の手段で生成したドントケアを含
んだ前記目標故障を検査する検査入力パターンで故障シ
ミュレーションを実行し、前記被検査回路の任意の外部
出力ピンで検出可能な任意の故障を前記第3の手段であ
る検査系列生成処理を行なわないように前記故障表を変
更する第4の手段とを備えた検査系列生成装置。
定された縮退故障について、当該故障を検査する入力パ
ターンを生成する検査系列生成装置であって、被検査回
路の分岐部分が再収れんするか否かを解析する第1の手
段と被検査回路の故障表を参照し、未検出でかつ検査系
列生成処理が未処理でかつ第3の手段で検査系列生成処
理を行わないようにしていない故障の中から、任意に1
つ目標故障を選択し、選択した目標故障が前記第1の手
段で解析した再収れんしない分岐部分の枝または茎の箇
所であれば、前記分岐の全ての枝と茎の未検出故障の中
から前記目標故障と同じ種類の縮退故障でかつ第4の手
段で検査系列生成処理を行わないようにしていない故障
を付属的な目標故障とする第2の手段と前記第2の手段
で選択した目標故障の影響を前記被検査回路の任意の外
部出力ピンに伝搬するための検査入力パターンを生成
し、前記付属的な目標故障が存在した場合に、前記付属
的な目標故障の影響を前記被検査回路の任意の外部出力
ピンに伝搬するための検査入力パターンを生成し、前記
目標故障及び前記付属的な目標故障の伝搬に関係しない
外部入力ピンの論理値をドントケアのままにしておく第
3の手段と、前記第3の手段で生成したドントケアを含
んだ前記目標故障を検査する検査入力パターンで故障シ
ミュレーションを実行し、前記被検査回路の任意の外部
出力ピンで検出可能な任意の故障を前記第3の手段であ
る検査系列生成処理を行なわないように前記故障表を変
更する第4の手段とを備えた検査系列生成装置。
【0016】(6)被検査回路である組合せ回路中の仮
定された縮退故障について、当該故障を検査する入力パ
ターン系列を生成する検査系列生成装置であって、被検
査回路中の全縮退故障について被覆関係を解析する第1
の手段と被検査回路の故障表を参照し、未検出でかつ検
査系列生成処理が未処理でかつ第4の手段で検査系列生
成手段を行わないようにしていない故障の中から前記第
1の手段で解析した被覆されている故障を被覆している
故障よりも必ず優先的に目標故障として選択するという
規則に従って1つ目標故障を選択する第2の手段と前記
第2の手段で選択した目標故障の影響を前記被検査回路
の任意の外部出力ピンに伝搬するための検査入力パター
ンを生成し、前記目標故障の伝搬に関係しない外部入力
ピンの論理値をドントケアのままにしておく第3の手段
と、前記第3の手段で生成したドントケアを含んだ前記
目標故障を検査する検査入力パターンで故障シミュレー
ションを実行し、前記被検査回路の任意の外部出力ピン
で検出可能な任意の故障を前記第3の手段である検査系
列生成処理を行なわないように前記故障表を変更する第
4の手段とを備えたものである。
定された縮退故障について、当該故障を検査する入力パ
ターン系列を生成する検査系列生成装置であって、被検
査回路中の全縮退故障について被覆関係を解析する第1
の手段と被検査回路の故障表を参照し、未検出でかつ検
査系列生成処理が未処理でかつ第4の手段で検査系列生
成手段を行わないようにしていない故障の中から前記第
1の手段で解析した被覆されている故障を被覆している
故障よりも必ず優先的に目標故障として選択するという
規則に従って1つ目標故障を選択する第2の手段と前記
第2の手段で選択した目標故障の影響を前記被検査回路
の任意の外部出力ピンに伝搬するための検査入力パター
ンを生成し、前記目標故障の伝搬に関係しない外部入力
ピンの論理値をドントケアのままにしておく第3の手段
と、前記第3の手段で生成したドントケアを含んだ前記
目標故障を検査する検査入力パターンで故障シミュレー
ションを実行し、前記被検査回路の任意の外部出力ピン
で検出可能な任意の故障を前記第3の手段である検査系
列生成処理を行なわないように前記故障表を変更する第
4の手段とを備えたものである。
【0017】
【作用】本発明の手段(1)、(4)によれば、組合せ
回路の検査系列生成において目標故障の検査入力生成で
外部ピンが論理ドントケアである箇所に、乱数で0また
は1を割り当てずにドントケアのまま故障シミュレーシ
ョンを実行し、検出可能な故障を以後の検査系列生成の
対象から外すことで、目標故障を絞り込むことができ、
いいかえれば検査系列生成する故障数が減少し、高速に
短い検査系列を生成することとなる。
回路の検査系列生成において目標故障の検査入力生成で
外部ピンが論理ドントケアである箇所に、乱数で0また
は1を割り当てずにドントケアのまま故障シミュレーシ
ョンを実行し、検出可能な故障を以後の検査系列生成の
対象から外すことで、目標故障を絞り込むことができ、
いいかえれば検査系列生成する故障数が減少し、高速に
短い検査系列を生成することとなる。
【0018】また本発明の手段(2)、(5)によれ
ば、組合せ回路の再収れんしない分岐が存在するかを解
析し、存在した場合に目標故障として再収れんしない分
岐の枝、茎の故障が選択されたとき、その目標故障と同
じ種類でかつ同じ分岐に存在する未検出な分岐の枝と茎
の故障を付属的な目標故障とし、目標故障の検査入力生
成が完了した後、その回路状態で付属的な目標故障の検
査入力生成を行うことで、検査系列生成を行なう故障数
が減少し、高速に短い検査系列を生成することとなる。
ば、組合せ回路の再収れんしない分岐が存在するかを解
析し、存在した場合に目標故障として再収れんしない分
岐の枝、茎の故障が選択されたとき、その目標故障と同
じ種類でかつ同じ分岐に存在する未検出な分岐の枝と茎
の故障を付属的な目標故障とし、目標故障の検査入力生
成が完了した後、その回路状態で付属的な目標故障の検
査入力生成を行うことで、検査系列生成を行なう故障数
が減少し、高速に短い検査系列を生成することとなる。
【0019】また本発明の手段(3)、(6)によれ
ば、組合せ回路の故障の被覆関係を解析し、被覆されて
いる故障を被覆している故障よりも優先的に目標故障と
して選択することによって、検査系列生成を行なう故障
数が減少し、高速に短い検査系列を生成することとな
る。
ば、組合せ回路の故障の被覆関係を解析し、被覆されて
いる故障を被覆している故障よりも優先的に目標故障と
して選択することによって、検査系列生成を行なう故障
数が減少し、高速に短い検査系列を生成することとな
る。
【0020】
【実施例】初めに検査系列生成の前提として、検査の対
象となる故障は被検査回路に基づいていて仮定された故
障であり、モデル化されたものである。具体的には、縮
退故障である。即ち、回路の信号線が論理0または1に
固定した値となる故障であり、0縮退故障と1縮退故障
とがある。これらの縮退故障は、被検査回路となるLS
Iのネットリストに基づいて各信号線毎に予めリストア
ップされて故障表に登録されている。この故障表の例を
(表1)に示す。
象となる故障は被検査回路に基づいていて仮定された故
障であり、モデル化されたものである。具体的には、縮
退故障である。即ち、回路の信号線が論理0または1に
固定した値となる故障であり、0縮退故障と1縮退故障
とがある。これらの縮退故障は、被検査回路となるLS
Iのネットリストに基づいて各信号線毎に予めリストア
ップされて故障表に登録されている。この故障表の例を
(表1)に示す。
【0021】
【表1】
【0022】(表1)において、「信号線」は被検査回
路に存在する各信号線を、「故障」は0縮退故障(s-a-
0)か1縮退故障(s-a-1)かを、「検出」は”1”で検
出済みを、「処理」は”1”で処理済み、すなわち検査
系列生成処理の対象として選択されて生成処理が実行さ
れたことを、「冗長故障」は”1”でその故障が冗長故
障であることをそれぞれ示す。例えば、同表における信
号線aのs-a-0故障は、検査系列処理が実行され、その
結果冗長故障でないことが解り、外部出力ピンで検出さ
れていることを示す。また信号線cのs-a-0故障は検査
系列生成処理が実行され、冗長故障でないことがわか
り、検査系列生成に失敗したことを示す。
路に存在する各信号線を、「故障」は0縮退故障(s-a-
0)か1縮退故障(s-a-1)かを、「検出」は”1”で検
出済みを、「処理」は”1”で処理済み、すなわち検査
系列生成処理の対象として選択されて生成処理が実行さ
れたことを、「冗長故障」は”1”でその故障が冗長故
障であることをそれぞれ示す。例えば、同表における信
号線aのs-a-0故障は、検査系列処理が実行され、その
結果冗長故障でないことが解り、外部出力ピンで検出さ
れていることを示す。また信号線cのs-a-0故障は検査
系列生成処理が実行され、冗長故障でないことがわか
り、検査系列生成に失敗したことを示す。
【0023】(実施例1)図1は本発明に係る請求項1
の実施例を示すために用いる組合せ回路の検査系列生成
方法の流れ図である。
の実施例を示すために用いる組合せ回路の検査系列生成
方法の流れ図である。
【0024】ステップ101は組合せ回路の検査系列生
成処理の開始を示す。ステップ110は検査系列生成処
理の終了を示す。
成処理の開始を示す。ステップ110は検査系列生成処
理の終了を示す。
【0025】まずステップ102で未検出故障でかつま
だ検査系列生成が未処理でかつ検査系列生成の対象から
はずれていない故障が存在するか否かを判断し、未検出
故障でかつまだ検査系列生成が未処理でかつ検査系列生
成の対象からはずれていない故障が存在すればステップ
103に進み、存在しなければステップ109に進む。
だ検査系列生成が未処理でかつ検査系列生成の対象から
はずれていない故障が存在するか否かを判断し、未検出
故障でかつまだ検査系列生成が未処理でかつ検査系列生
成の対象からはずれていない故障が存在すればステップ
103に進み、存在しなければステップ109に進む。
【0026】次にステップ103で未検出故障でかつま
だ検査系列生成が未処理でかつ検査系列生成の対象から
はずれていない故障群の中から目標故障としてランダム
に1つ故障を選択する。
だ検査系列生成が未処理でかつ検査系列生成の対象から
はずれていない故障群の中から目標故障としてランダム
に1つ故障を選択する。
【0027】ステップ104でステップ103で選択し
た目標故障の影響を任意の外部出力ピンに伝搬するため
に必要最小限の外部入力ピンの値を決定し、検査入力生
成を行なう。ここで、外部入力ピンの値がドントケアの
ものは、乱数で論理値0または1を割り当てないで、ド
ントケアのままにしておく。検査入力生成に成功した場
合はステップ105へ進み、失敗するか、目標故障が冗
長故障と判断された場合はステップ102に進み次の故
障を処理する。
た目標故障の影響を任意の外部出力ピンに伝搬するため
に必要最小限の外部入力ピンの値を決定し、検査入力生
成を行なう。ここで、外部入力ピンの値がドントケアの
ものは、乱数で論理値0または1を割り当てないで、ド
ントケアのままにしておく。検査入力生成に成功した場
合はステップ105へ進み、失敗するか、目標故障が冗
長故障と判断された場合はステップ102に進み次の故
障を処理する。
【0028】ステップ105でステップ104で生成し
たドントケアを含んだ検査入力パターンで故障シミュレ
ーションを実行し、検出できた故障を検査系列生成の対
象からはずす。
たドントケアを含んだ検査入力パターンで故障シミュレ
ーションを実行し、検出できた故障を検査系列生成の対
象からはずす。
【0029】ステップ106で104で生成したドント
ケアを含んだ検査入力パターンを圧縮バッファ中の1つ
の検査入力パターンと圧縮できるか否かを調べ、圧縮可
能であれば圧縮して、圧縮の対象となった圧縮バッファ
中の検査入力パターンを圧縮した後の検査入力パターン
に置き換える。また104で生成した検査入力パターン
が圧縮バッファ中の全検査入力パターンと圧縮不可能で
あれば圧縮バッファに104で生成した検査入力パター
ンを追加する。
ケアを含んだ検査入力パターンを圧縮バッファ中の1つ
の検査入力パターンと圧縮できるか否かを調べ、圧縮可
能であれば圧縮して、圧縮の対象となった圧縮バッファ
中の検査入力パターンを圧縮した後の検査入力パターン
に置き換える。また104で生成した検査入力パターン
が圧縮バッファ中の全検査入力パターンと圧縮不可能で
あれば圧縮バッファに104で生成した検査入力パター
ンを追加する。
【0030】次にステップ107で、圧縮バッファ中の
検査入力パターン数が圧縮バッファのサイズを越えてい
るか否かを判断し、越えていればステップ108に進
み、越えていなければステップ102へ進み次の故障の
処理を行なう。
検査入力パターン数が圧縮バッファのサイズを越えてい
るか否かを判断し、越えていればステップ108に進
み、越えていなければステップ102へ進み次の故障の
処理を行なう。
【0031】ステップ108で、ステップ107で圧縮
バッファ中の検査入力パターン数が圧縮バッファのサイ
ズを越えた場合に、圧縮バッファから溢れた検査入力パ
ターンに対して外部入力ピンの値がドントケアであるも
のに乱数で論理値0または1に設定して故障シミュレー
ションを実行し、検出された故障を未検出故障群から削
除する。
バッファ中の検査入力パターン数が圧縮バッファのサイ
ズを越えた場合に、圧縮バッファから溢れた検査入力パ
ターンに対して外部入力ピンの値がドントケアであるも
のに乱数で論理値0または1に設定して故障シミュレー
ションを実行し、検出された故障を未検出故障群から削
除する。
【0032】ステップ109で、ステップ102で目標
故障として選択する故障がないと判断された場合、圧縮
バッファ中に存在する全検査入力パターンに対して外部
入力ピンの値がドントケアであるものに乱数で論理値0
または1に設定して故障シミュレーションを実行し、検
出された故障を未検出故障群から削除する。
故障として選択する故障がないと判断された場合、圧縮
バッファ中に存在する全検査入力パターンに対して外部
入力ピンの値がドントケアであるものに乱数で論理値0
または1に設定して故障シミュレーションを実行し、検
出された故障を未検出故障群から削除する。
【0033】図7は本発明に係る請求項4の実施例を示
すために用いる組合せ回路の検査系列生成装置の構成図
である。
すために用いる組合せ回路の検査系列生成装置の構成図
である。
【0034】700は組合せ回路の検査系列生成装置全
体を示す。700aは読み込み部分、700bは記憶部
分、700cは処理(演算)部分である。701は回路
接続情報ファイル、702は故障を定義したファイルで
ある。703は、ファイル701を入力として読み込み
処理を行なう部分である。704は、ファイル702を
入力として読み込み処理を行なう部分である。705は
回路の接続情報を記憶している部分である。706は
(表1)に示すような故障の管理テーブルを記憶してい
る部分である。707は被検査回路中の全故障対して生
成した検査系列などを記憶している部分である。715
は検査入力パターンを圧縮して記憶している部分であ
る。
体を示す。700aは読み込み部分、700bは記憶部
分、700cは処理(演算)部分である。701は回路
接続情報ファイル、702は故障を定義したファイルで
ある。703は、ファイル701を入力として読み込み
処理を行なう部分である。704は、ファイル702を
入力として読み込み処理を行なう部分である。705は
回路の接続情報を記憶している部分である。706は
(表1)に示すような故障の管理テーブルを記憶してい
る部分である。707は被検査回路中の全故障対して生
成した検査系列などを記憶している部分である。715
は検査入力パターンを圧縮して記憶している部分であ
る。
【0035】708は目標故障選択部であり、故障管理
テーブル706を入力とし、未検出故障でかつまだ検査
系列生成が未処理でかつ検査系列生成の対象からはずれ
ていない故障群の中から目標故障としてランダムに1つ
故障を選択する。未検出故障でかつまだ検査系列生成が
未処理でかつ検査系列生成の対象からはずれていない故
障が存在しなく、かつ715に検査入力パターンが存在
しなければ、検査系列生成全体の処理を終了させる機能
をもつ。
テーブル706を入力とし、未検出故障でかつまだ検査
系列生成が未処理でかつ検査系列生成の対象からはずれ
ていない故障群の中から目標故障としてランダムに1つ
故障を選択する。未検出故障でかつまだ検査系列生成が
未処理でかつ検査系列生成の対象からはずれていない故
障が存在しなく、かつ715に検査入力パターンが存在
しなければ、検査系列生成全体の処理を終了させる機能
をもつ。
【0036】709は検査入力生成部であり、708で
選択した目標故障の影響を任意の外部出力ピンに伝搬す
るために必要最小限の外部入力ピンの値を決定し、検査
入力生成を行ない、外部入力ピンの値がドントケアのも
のは、乱数で論理値0または1を割り当てないで、ドン
トケアのままにしておく機能を持つ。また目標故障が冗
長であると判定する機能を持つ。
選択した目標故障の影響を任意の外部出力ピンに伝搬す
るために必要最小限の外部入力ピンの値を決定し、検査
入力生成を行ない、外部入力ピンの値がドントケアのも
のは、乱数で論理値0または1を割り当てないで、ドン
トケアのままにしておく機能を持つ。また目標故障が冗
長であると判定する機能を持つ。
【0037】710は目標故障絞り込み部であり、70
9で生成したドントケアを含んだ検査入力パターンで故
障シミュレーションを実行し、検出できた故障を検査系
列生成の対象からはずすように706を更新する機能を
持つ。
9で生成したドントケアを含んだ検査入力パターンで故
障シミュレーションを実行し、検出できた故障を検査系
列生成の対象からはずすように706を更新する機能を
持つ。
【0038】711は検査入力パターン圧縮部であり、
709で生成したドントケアを含んだ検査入力パターン
を715の1つの検査入力パターンと圧縮できるか否か
を調べ、圧縮可能であれば圧縮して、圧縮の対象となっ
た圧縮バッファ中の検査入力パターンを圧縮した後の検
査入力パターンに置き換える機能を持つ。。また709
で生成した検査入力パターンが715中の全検査入力パ
ターンと圧縮不可能であれば715に709で生成した
検査入力パターンを追加する機能を持つ。
709で生成したドントケアを含んだ検査入力パターン
を715の1つの検査入力パターンと圧縮できるか否か
を調べ、圧縮可能であれば圧縮して、圧縮の対象となっ
た圧縮バッファ中の検査入力パターンを圧縮した後の検
査入力パターンに置き換える機能を持つ。。また709
で生成した検査入力パターンが715中の全検査入力パ
ターンと圧縮不可能であれば715に709で生成した
検査入力パターンを追加する機能を持つ。
【0039】712は故障シミュレーション部であり、
715からの検査入力パターンに対して外部入力ピンの
値がドントケアであるものに乱数で論理値0または1に
設定して故障シミュレーションを実行し、検出された故
障に対して706を更新する機能を持つ。
715からの検査入力パターンに対して外部入力ピンの
値がドントケアであるものに乱数で論理値0または1に
設定して故障シミュレーションを実行し、検出された故
障に対して706を更新する機能を持つ。
【0040】ファイル713は全故障に対する検査系列
を示すテストパターンファイルである。
を示すテストパターンファイルである。
【0041】ファイル714は故障検出率や冗長故障な
どを示すレポートファイルである。図4は本発明に係る
請求項1及び請求項4の組合せ回路の検査系列生成の動
作を説明するために用いる図である。図4(a)は目標
故障を選択する時点での故障表を示した図である。図4
(a)の意味は表1と同様である。
どを示すレポートファイルである。図4は本発明に係る
請求項1及び請求項4の組合せ回路の検査系列生成の動
作を説明するために用いる図である。図4(a)は目標
故障を選択する時点での故障表を示した図である。図4
(a)の意味は表1と同様である。
【0042】図4(b)は目標故障bの検査系列生成を
示した図である。図4(b)において、401は故障b
の影響の外部出力ピンへの伝搬に全く関係しない外部入
力ピン群である。402は故障bの影響を外部出力ピン
へ伝搬するのに設定すべき必要最小限の外部入力ピン群
である。403は故障bの影響を観測できる外部出力ピ
ンである。
示した図である。図4(b)において、401は故障b
の影響の外部出力ピンへの伝搬に全く関係しない外部入
力ピン群である。402は故障bの影響を外部出力ピン
へ伝搬するのに設定すべき必要最小限の外部入力ピン群
である。403は故障bの影響を観測できる外部出力ピ
ンである。
【0043】図4(c)は故障bを検出するために生成
した検査入力パターンでの故障シミュレーションの実行
を示した図である。図4(c)において、404は故障
eの影響を観測できる外部出力ピンである。
した検査入力パターンでの故障シミュレーションの実行
を示した図である。図4(c)において、404は故障
eの影響を観測できる外部出力ピンである。
【0044】図4(d)は故障bの検査入力パターンで
目標故障の絞り込みを行って、故障表を更新を示した図
である。図4(d)の「対象」は検査系列生成の対象に
なるか否かを意味し、「1」は対象とならない、「0」
は対象となることを示す。
目標故障の絞り込みを行って、故障表を更新を示した図
である。図4(d)の「対象」は検査系列生成の対象に
なるか否かを意味し、「1」は対象とならない、「0」
は対象となることを示す。
【0045】まずステップ103で、図4(a)の故障
表を参照して、未検出かつ未処理かつ検査系列生成の対
象である故障であるb,e,g,hの中からbを目標故
障として選択する。次に、ステップ104で、図4
(b)に示すように、目標故障bの検査入力生成を行な
い、402の外部入力ピンに論理値0または1を設定す
ると、その結果故障bの影響は外部出力ピン403に伝
搬する。ここで、ドントケアである外部入力ピン401
には乱数を用いて値0または1に設定せず、ドントケア
のままにしておく。次にステップ105で、図4(c)
に示すように故障bの検査入力パターンで故障シミュレ
ーションを実行した結果、外部出力ピン403で故障
b,gが、外部出力ピン404で故障eが検出できる。
この検出結果を基に故障表を更新すると、図4(d)に
示すよう故障b,e,gが検査系列生成の対象からはず
れ、検査系列生成を実行する故障の数が少なくなる。
表を参照して、未検出かつ未処理かつ検査系列生成の対
象である故障であるb,e,g,hの中からbを目標故
障として選択する。次に、ステップ104で、図4
(b)に示すように、目標故障bの検査入力生成を行な
い、402の外部入力ピンに論理値0または1を設定す
ると、その結果故障bの影響は外部出力ピン403に伝
搬する。ここで、ドントケアである外部入力ピン401
には乱数を用いて値0または1に設定せず、ドントケア
のままにしておく。次にステップ105で、図4(c)
に示すように故障bの検査入力パターンで故障シミュレ
ーションを実行した結果、外部出力ピン403で故障
b,gが、外部出力ピン404で故障eが検出できる。
この検出結果を基に故障表を更新すると、図4(d)に
示すよう故障b,e,gが検査系列生成の対象からはず
れ、検査系列生成を実行する故障の数が少なくなる。
【0046】以上のように、本実施例によれば、ドント
ケアを含んだ検査入力パターンで故障シミュレーション
を実行し、目標故障の選択範囲を狭めることで検査系列
生成処理を行なう故障数を削減でき、圧縮バッファ中の
検査入力パターン数が削減できる可能性があるので高速
に短い検査系列を生成できる。
ケアを含んだ検査入力パターンで故障シミュレーション
を実行し、目標故障の選択範囲を狭めることで検査系列
生成処理を行なう故障数を削減でき、圧縮バッファ中の
検査入力パターン数が削減できる可能性があるので高速
に短い検査系列を生成できる。
【0047】(実施例2)図2は本発明に係る請求項2
の実施例を示すために用いる組合せ回路の検査系列生成
方法の流れ図である。
の実施例を示すために用いる組合せ回路の検査系列生成
方法の流れ図である。
【0048】ステップ201は組合せ回路の検査系列生
成処理の開始を示す。ステップ211は検査系列生成処
理の終了を示す。
成処理の開始を示す。ステップ211は検査系列生成処
理の終了を示す。
【0049】まずステップ202で回路の中の各分岐が
再収れんしているか否かを解析し、再収れんしていない
分岐の枝、茎の同種類の故障を1つのグループとし、目
標故障を選択するときに、まとめて目標故障とするよう
に故障表を更新する。。
再収れんしているか否かを解析し、再収れんしていない
分岐の枝、茎の同種類の故障を1つのグループとし、目
標故障を選択するときに、まとめて目標故障とするよう
に故障表を更新する。。
【0050】次にステップ203で未検出故障でかつま
だ検査系列生成が未処理でかつ検査系列生成の対象から
はずれていない故障が存在するか否かを判断し、未検出
故障でかつまだ検査系列生成が未処理でかつ検査系列生
成の対象からはずれていない故障が存在すればステップ
204に進み、存在しなければステップ210に進む。
だ検査系列生成が未処理でかつ検査系列生成の対象から
はずれていない故障が存在するか否かを判断し、未検出
故障でかつまだ検査系列生成が未処理でかつ検査系列生
成の対象からはずれていない故障が存在すればステップ
204に進み、存在しなければステップ210に進む。
【0051】次にステップ204で未検出故障でかつま
だ検査系列生成が未処理でかつ検査系列生成の対象から
はずれていない故障群の中から目標故障としてランダム
に1つ故障を選択する。もし、選択した目標故障が再収
れんしない分岐の茎か枝の故障であれば、その分岐の茎
及び枝の目標故障と同種類の故障を付属的な目標故障と
する。
だ検査系列生成が未処理でかつ検査系列生成の対象から
はずれていない故障群の中から目標故障としてランダム
に1つ故障を選択する。もし、選択した目標故障が再収
れんしない分岐の茎か枝の故障であれば、その分岐の茎
及び枝の目標故障と同種類の故障を付属的な目標故障と
する。
【0052】ステップ205でステップ103で選択し
た目標故障の影響を任意の外部出力ピンに伝搬するため
に必要最小限の外部入力ピンの値を決定し、検査入力生
成を行なう。また付属的な目標故障が存在すれば、その
付属的な目標故障の影響を任意の外部出力ピンに伝搬す
るために必要最小限の外部入力ピンの値を決定し、検査
入力生成を行なう。ここで、外部入力ピンの値がドント
ケアのものは、乱数で論理値0または1を割り当てない
で、ドントケアのままにしておく。検査入力生成に成功
した場合はステップ206へ進み、失敗するか、目標故
障が冗長故障と判断された場合はステップ203に進み
次の故障を処理する。
た目標故障の影響を任意の外部出力ピンに伝搬するため
に必要最小限の外部入力ピンの値を決定し、検査入力生
成を行なう。また付属的な目標故障が存在すれば、その
付属的な目標故障の影響を任意の外部出力ピンに伝搬す
るために必要最小限の外部入力ピンの値を決定し、検査
入力生成を行なう。ここで、外部入力ピンの値がドント
ケアのものは、乱数で論理値0または1を割り当てない
で、ドントケアのままにしておく。検査入力生成に成功
した場合はステップ206へ進み、失敗するか、目標故
障が冗長故障と判断された場合はステップ203に進み
次の故障を処理する。
【0053】ステップ206でステップ205で生成し
たドントケアを含んだ検査入力パターンで故障シミュレ
ーションを実行し、検出できた故障を検査系列生成の対
象からはずす。
たドントケアを含んだ検査入力パターンで故障シミュレ
ーションを実行し、検出できた故障を検査系列生成の対
象からはずす。
【0054】ステップ207で205で生成したドント
ケアを含んだ検査入力パターンを圧縮バッファ中の1つ
の検査入力パターンと圧縮できるか否かを調べ、圧縮可
能であれば圧縮して、圧縮の対象となった圧縮バッファ
中の検査入力パターンを圧縮した後の検査入力パターン
に置き換える。また205で生成した検査入力パターン
が圧縮バッファ中の全検査入力パターンと圧縮不可能で
あれば圧縮バッファに205で生成した検査入力パター
ンを追加する。
ケアを含んだ検査入力パターンを圧縮バッファ中の1つ
の検査入力パターンと圧縮できるか否かを調べ、圧縮可
能であれば圧縮して、圧縮の対象となった圧縮バッファ
中の検査入力パターンを圧縮した後の検査入力パターン
に置き換える。また205で生成した検査入力パターン
が圧縮バッファ中の全検査入力パターンと圧縮不可能で
あれば圧縮バッファに205で生成した検査入力パター
ンを追加する。
【0055】次にステップ208で、圧縮バッファ中の
検査入力パターン数が圧縮バッファのサイズを越えてい
るか否かを判断し、越えていればステップ209に進
み、越えていなければステップ203へ進み次の故障の
処理を行なう。
検査入力パターン数が圧縮バッファのサイズを越えてい
るか否かを判断し、越えていればステップ209に進
み、越えていなければステップ203へ進み次の故障の
処理を行なう。
【0056】ステップ209で、ステップ208で圧縮
バッファ中の検査入力パターン数が圧縮バッファのサイ
ズを越えた場合に、圧縮バッファから溢れた検査入力パ
ターンに対して外部入力ピンの値がドントケアであるも
のに乱数で論理値0または1に設定して故障シミュレー
ションを実行し、検出された故障を未検出故障群から削
除する。
バッファ中の検査入力パターン数が圧縮バッファのサイ
ズを越えた場合に、圧縮バッファから溢れた検査入力パ
ターンに対して外部入力ピンの値がドントケアであるも
のに乱数で論理値0または1に設定して故障シミュレー
ションを実行し、検出された故障を未検出故障群から削
除する。
【0057】ステップ210で、ステップ203で目標
故障として選択する故障がないと判断された場合、圧縮
バッファ中に存在する全検査入力パターンに対して外部
入力ピンの値がドントケアであるものに乱数で論理値0
または1に設定して故障シミュレーションを実行し、検
出された故障を未検出故障群から削除する。
故障として選択する故障がないと判断された場合、圧縮
バッファ中に存在する全検査入力パターンに対して外部
入力ピンの値がドントケアであるものに乱数で論理値0
または1に設定して故障シミュレーションを実行し、検
出された故障を未検出故障群から削除する。
【0058】図8は本発明に係る請求項5の実施例を示
すために用いる組合せ回路の検査系列生成装置の構成図
である。
すために用いる組合せ回路の検査系列生成装置の構成図
である。
【0059】800は組合せ回路の検査系列生成装置全
体を示す。800aは読み込み部分、800bは記憶部
分、800cは処理(演算)部分である。801は回路
接続情報ファイル、802は故障を定義したファイルで
ある。803は、ファイル801を入力として読み込み
処理を行なう部分である。804は、ファイル802を
入力として読み込み処理を行なう部分である。805は
回路の接続情報を記憶している部分である。806は
(表1)に示すような故障の管理テーブルを記憶してい
る部分である。807は被検査回路中の全故障対して生
成した検査系列などを記憶している部分である。816
は検査入力パターンを圧縮して記憶している部分であ
る。
体を示す。800aは読み込み部分、800bは記憶部
分、800cは処理(演算)部分である。801は回路
接続情報ファイル、802は故障を定義したファイルで
ある。803は、ファイル801を入力として読み込み
処理を行なう部分である。804は、ファイル802を
入力として読み込み処理を行なう部分である。805は
回路の接続情報を記憶している部分である。806は
(表1)に示すような故障の管理テーブルを記憶してい
る部分である。807は被検査回路中の全故障対して生
成した検査系列などを記憶している部分である。816
は検査入力パターンを圧縮して記憶している部分であ
る。
【0060】808は分岐解析部であり、回路テーブル
805を入力とし、再収れんしていない分岐を見つけ出
し、同じ分岐の枝と茎の同種類の故障を1つのグループ
みなした目標故障として選択するように806を更新す
る機能を持つ。
805を入力とし、再収れんしていない分岐を見つけ出
し、同じ分岐の枝と茎の同種類の故障を1つのグループ
みなした目標故障として選択するように806を更新す
る機能を持つ。
【0061】809は目標故障選択部であり、故障管理
テーブル806を入力とし、未検出故障でかつまだ検査
系列生成が未処理でかつ検査系列生成の対象からはずれ
ていない故障群の中から目標故障としてランダムに1つ
故障を選択する。もし、選択した目標故障が再収れんし
ない分岐の茎か枝の故障であれば、その分岐の茎及び枝
の、目標故障と同種類の故障を付属的な目標故障とする
機能を持つ。未検出故障でかつまだ検査系列生成が未処
理でかつ検査系列生成の対象からはずれていない故障が
存在しなく、かつ816に検査入力パターンが存在しな
ければ、検査系列生成全体の処理を終了させる機能をも
つ。
テーブル806を入力とし、未検出故障でかつまだ検査
系列生成が未処理でかつ検査系列生成の対象からはずれ
ていない故障群の中から目標故障としてランダムに1つ
故障を選択する。もし、選択した目標故障が再収れんし
ない分岐の茎か枝の故障であれば、その分岐の茎及び枝
の、目標故障と同種類の故障を付属的な目標故障とする
機能を持つ。未検出故障でかつまだ検査系列生成が未処
理でかつ検査系列生成の対象からはずれていない故障が
存在しなく、かつ816に検査入力パターンが存在しな
ければ、検査系列生成全体の処理を終了させる機能をも
つ。
【0062】810は検査入力生成部であり、809で
選択した目標故障の影響を任意の外部出力ピンに伝搬す
るために必要最小限の外部入力ピンの値を決定し、検査
入力生成を行なう機能を持つ。また付属的な目標故障が
存在すれば、その付属的な目標故障の影響を任意の外部
出力ピンに伝搬するために必要最小限の外部入力ピンの
値を決定し、検査入力生成を行なう機能を持つ。ここ
で、外部入力ピンの値がドントケアのものは、乱数で論
理値0または1を割り当てないで、ドントケアのままに
しておく機能を持つ。また目標故障が冗長故障と判定す
る機能を持つ。
選択した目標故障の影響を任意の外部出力ピンに伝搬す
るために必要最小限の外部入力ピンの値を決定し、検査
入力生成を行なう機能を持つ。また付属的な目標故障が
存在すれば、その付属的な目標故障の影響を任意の外部
出力ピンに伝搬するために必要最小限の外部入力ピンの
値を決定し、検査入力生成を行なう機能を持つ。ここ
で、外部入力ピンの値がドントケアのものは、乱数で論
理値0または1を割り当てないで、ドントケアのままに
しておく機能を持つ。また目標故障が冗長故障と判定す
る機能を持つ。
【0063】811は目標故障絞り込み部であり、81
0で生成したドントケアを含んだ検査入力パターンで故
障シミュレーションを実行し、検出できた故障を検査系
列生成の対象からはずすように806を更新する機能を
持つ。
0で生成したドントケアを含んだ検査入力パターンで故
障シミュレーションを実行し、検出できた故障を検査系
列生成の対象からはずすように806を更新する機能を
持つ。
【0064】812は検査入力パターン圧縮部であり、
810で生成したドントケアを含んだ検査入力パターン
を816中の1つの検査入力パターンと圧縮できるか否
かを調べ、圧縮可能であれば圧縮して、圧縮の対象とな
った圧縮バッファ中の検査入力パターンを圧縮した後の
検査入力パターンに置き換える機能を持つ。。また81
0で生成した検査入力パターンが816中の全検査入力
パターンと圧縮不可能であれば816に810で生成し
た検査入力パターンを追加する機能を持つ。
810で生成したドントケアを含んだ検査入力パターン
を816中の1つの検査入力パターンと圧縮できるか否
かを調べ、圧縮可能であれば圧縮して、圧縮の対象とな
った圧縮バッファ中の検査入力パターンを圧縮した後の
検査入力パターンに置き換える機能を持つ。。また81
0で生成した検査入力パターンが816中の全検査入力
パターンと圧縮不可能であれば816に810で生成し
た検査入力パターンを追加する機能を持つ。
【0065】813は故障シミュレーション部であり、
816からの検査入力パターンに対して外部入力ピンの
値がドントケアであるものに乱数で論理値0または1に
設定して故障シミュレーションを実行し、検出された故
障に対して806を更新する機能を持つ。
816からの検査入力パターンに対して外部入力ピンの
値がドントケアであるものに乱数で論理値0または1に
設定して故障シミュレーションを実行し、検出された故
障に対して806を更新する機能を持つ。
【0066】ファイル814は全故障に対する検査系列
を示すテストパターンファイルである。
を示すテストパターンファイルである。
【0067】ファイル815は故障検出率や冗長故障な
どを示すレポートファイルである。図5は本発明に係る
請求項2及び請求項5の組合せ回路の検査系列生成の動
作を説明するために用いる図である。図5(a)は被検
査回路の各分岐の構造を示した図である。図5(a)に
おいて、501は被検査回路(組合せ回路)であり、5
02は再収れんをしない分岐であり、503は再収れん
している分岐である。図5(b)は目標故障を選択する
時点での故障表を示した図である。図5(b)の「付
属」は目標故障の付属的な目標故障を示し、故障名が記
述されている。「なし」が記述されている場合は、付属
的な目標故障がないことを示す。
どを示すレポートファイルである。図5は本発明に係る
請求項2及び請求項5の組合せ回路の検査系列生成の動
作を説明するために用いる図である。図5(a)は被検
査回路の各分岐の構造を示した図である。図5(a)に
おいて、501は被検査回路(組合せ回路)であり、5
02は再収れんをしない分岐であり、503は再収れん
している分岐である。図5(b)は目標故障を選択する
時点での故障表を示した図である。図5(b)の「付
属」は目標故障の付属的な目標故障を示し、故障名が記
述されている。「なし」が記述されている場合は、付属
的な目標故障がないことを示す。
【0068】図5(c)は目標故障aの検査系列生成を
示した図である。図5(c)において、508は故障a
の影響を外部出力ピンへ伝搬するのに設定すべき必要最
小限の外部入力ピン群である。509は故障cの影響を
外部出力ピンへ伝搬するのに設定すべき必要最小限の外
部入力ピン群である。510は故障a,b,cの影響の
外部出力ピンへの伝搬に全く関係しない外部入力ピン群
である。504は故障aの影響を観測できる外部出力ピ
ンである。505は故障cの影響を観測できる外部出力
ピンである。506は故障aの伝搬経路、507は故障
cの伝搬経路である。
示した図である。図5(c)において、508は故障a
の影響を外部出力ピンへ伝搬するのに設定すべき必要最
小限の外部入力ピン群である。509は故障cの影響を
外部出力ピンへ伝搬するのに設定すべき必要最小限の外
部入力ピン群である。510は故障a,b,cの影響の
外部出力ピンへの伝搬に全く関係しない外部入力ピン群
である。504は故障aの影響を観測できる外部出力ピ
ンである。505は故障cの影響を観測できる外部出力
ピンである。506は故障aの伝搬経路、507は故障
cの伝搬経路である。
【0069】まずステップ202で、図5(a)に示す
ように回路501中の分岐502、503が再収れんし
ているか否かを解析し、その結果分岐502は再収れん
しない、分岐503は再収れんすることがわかる。その
解析結果を図5(b)に反映させる。ここで分岐502
の茎の故障がa、2つの枝の故障をそれぞれ故障b,c
とする。故障a,b,cの種類は同じである。図5
(b)から目標故障として故障aを選択すると故障b,
cが付属的な目標故障となることがわかる。また目標故
障として故障bを選択すると故障a,cが付属的な目標
故障となることがわかる。また目標故障として故障cを
選択すると故障a,bが付属的な目標故障となることが
わかる。次に204ステップで、図5(b)の故障表を
参照して未検出かつ未処理かつ検査系列生成の対象であ
る故障であるa,b,c,d,e,fの中からaを目標
故障として選択する。次に、ステップ205で、図5
(c)に示すように、目標故障aの検査入力生成を行な
い、508の外部入力ピンに論理値0または1を設定す
ると、その結果故障aの影響は故障伝搬経路506を通
って外部出力ピン504に伝搬する。このとき、付属的
な目標故障である故障bも検出できることがわかる。つ
ぎに、そのままの回路状態で付属的な目標故障cの検査
入力生成を行ない、509の外部入力ピンに論理値0ま
たは1を設定すると、その結果故障cの影響は故障伝搬
経路507を通って外部出力ピン505に伝搬する。こ
こで、ドントケアである外部入力ピン510には乱数を
用いて値0または1に設定せず、ドントケアのままにし
ておく。
ように回路501中の分岐502、503が再収れんし
ているか否かを解析し、その結果分岐502は再収れん
しない、分岐503は再収れんすることがわかる。その
解析結果を図5(b)に反映させる。ここで分岐502
の茎の故障がa、2つの枝の故障をそれぞれ故障b,c
とする。故障a,b,cの種類は同じである。図5
(b)から目標故障として故障aを選択すると故障b,
cが付属的な目標故障となることがわかる。また目標故
障として故障bを選択すると故障a,cが付属的な目標
故障となることがわかる。また目標故障として故障cを
選択すると故障a,bが付属的な目標故障となることが
わかる。次に204ステップで、図5(b)の故障表を
参照して未検出かつ未処理かつ検査系列生成の対象であ
る故障であるa,b,c,d,e,fの中からaを目標
故障として選択する。次に、ステップ205で、図5
(c)に示すように、目標故障aの検査入力生成を行な
い、508の外部入力ピンに論理値0または1を設定す
ると、その結果故障aの影響は故障伝搬経路506を通
って外部出力ピン504に伝搬する。このとき、付属的
な目標故障である故障bも検出できることがわかる。つ
ぎに、そのままの回路状態で付属的な目標故障cの検査
入力生成を行ない、509の外部入力ピンに論理値0ま
たは1を設定すると、その結果故障cの影響は故障伝搬
経路507を通って外部出力ピン505に伝搬する。こ
こで、ドントケアである外部入力ピン510には乱数を
用いて値0または1に設定せず、ドントケアのままにし
ておく。
【0070】以上のように、本実施例によれば、回路中
の再収れんしない分岐を見つけ出し、同じ分岐の茎、枝
の同種類の故障を1つのグループとして、目標故障にし
て同時に複数個の故障の検査系列生成を実行することに
より、検査系列生成処理の実行回数が削減でき、圧縮バ
ッファ中の検査入力パターン数が削減できる可能性があ
るので高速に短い検査系列を生成できる。
の再収れんしない分岐を見つけ出し、同じ分岐の茎、枝
の同種類の故障を1つのグループとして、目標故障にし
て同時に複数個の故障の検査系列生成を実行することに
より、検査系列生成処理の実行回数が削減でき、圧縮バ
ッファ中の検査入力パターン数が削減できる可能性があ
るので高速に短い検査系列を生成できる。
【0071】(実施例3)図3は本発明に係る請求項3
の実施例を示すために用いる組合せ回路の検査系列生成
方法の流れ図である。
の実施例を示すために用いる組合せ回路の検査系列生成
方法の流れ図である。
【0072】ステップ301は組合せ回路の検査系列生
成処理の開始を示す。ステップ311は検査系列生成処
理の終了を示す。
成処理の開始を示す。ステップ311は検査系列生成処
理の終了を示す。
【0073】まずステップ302で故障の被覆関係を解
析し、故障表に反映させる。次にステップ303で未検
出故障でかつまだ検査系列生成が未処理でかつ検査系列
生成の対象からはずれていない故障が存在するか否かを
判断し、未検出故障でかつまだ検査系列生成が未処理で
かつ検査系列生成の対象からはずれていない故障が存在
すればステップ304に進み、存在しなければステップ
310に進む。
析し、故障表に反映させる。次にステップ303で未検
出故障でかつまだ検査系列生成が未処理でかつ検査系列
生成の対象からはずれていない故障が存在するか否かを
判断し、未検出故障でかつまだ検査系列生成が未処理で
かつ検査系列生成の対象からはずれていない故障が存在
すればステップ304に進み、存在しなければステップ
310に進む。
【0074】次にステップ304で未検出故障でかつま
だ検査系列生成が未処理でかつ検査系列生成の対象から
はずれていない故障群の中から目標故障として、被覆さ
れている故障を被覆している故障よりも優先的に選択す
るという規則に従って1つ故障を選択する。
だ検査系列生成が未処理でかつ検査系列生成の対象から
はずれていない故障群の中から目標故障として、被覆さ
れている故障を被覆している故障よりも優先的に選択す
るという規則に従って1つ故障を選択する。
【0075】ステップ305でステップ304で選択し
た目標故障の影響を任意の外部出力ピンに伝搬するため
に必要最小限の外部入力ピンの値を決定し、検査入力生
成を行なう。ここで、外部入力ピンの値がドントケアの
ものは、乱数で論理値0または1を割り当てないで、ド
ントケアのままにしておく。検査入力生成に成功した場
合はステップ306へ進み、失敗するか、目標故障が冗
長故障と判断された場合はステップ303に進み次の故
障を処理する。
た目標故障の影響を任意の外部出力ピンに伝搬するため
に必要最小限の外部入力ピンの値を決定し、検査入力生
成を行なう。ここで、外部入力ピンの値がドントケアの
ものは、乱数で論理値0または1を割り当てないで、ド
ントケアのままにしておく。検査入力生成に成功した場
合はステップ306へ進み、失敗するか、目標故障が冗
長故障と判断された場合はステップ303に進み次の故
障を処理する。
【0076】ステップ306でステップ305で生成し
たドントケアを含んだ検査入力パターンで故障シミュレ
ーションを実行し、検出できた故障を検査系列生成の対
象からはずす。
たドントケアを含んだ検査入力パターンで故障シミュレ
ーションを実行し、検出できた故障を検査系列生成の対
象からはずす。
【0077】ステップ307で305で生成したドント
ケアを含んだ検査入力パターンを圧縮バッファ中の1つ
の検査入力パターンと圧縮できるか否かを調べ、圧縮可
能であれば圧縮して、圧縮の対象となった圧縮バッファ
中の検査入力パターンを圧縮した後の検査入力パターン
に置き換える。また305で生成した検査入力パターン
が圧縮バッファ中の全検査入力パターンと圧縮不可能で
あれば圧縮バッファに305で生成した検査入力パター
ンを追加する。
ケアを含んだ検査入力パターンを圧縮バッファ中の1つ
の検査入力パターンと圧縮できるか否かを調べ、圧縮可
能であれば圧縮して、圧縮の対象となった圧縮バッファ
中の検査入力パターンを圧縮した後の検査入力パターン
に置き換える。また305で生成した検査入力パターン
が圧縮バッファ中の全検査入力パターンと圧縮不可能で
あれば圧縮バッファに305で生成した検査入力パター
ンを追加する。
【0078】次にステップ308で、圧縮バッファ中の
検査入力パターン数が圧縮バッファのサイズを越えてい
るか否かを判断し、越えていればステップ309に進
み、越えていなければステップ303へ進み次の故障の
処理を行なう。
検査入力パターン数が圧縮バッファのサイズを越えてい
るか否かを判断し、越えていればステップ309に進
み、越えていなければステップ303へ進み次の故障の
処理を行なう。
【0079】ステップ309で、ステップ308で圧縮
バッファ中の検査入力パターン数が圧縮バッファのサイ
ズを越えた場合に、圧縮バッファから溢れた検査入力パ
ターンに対して外部入力ピンの値がドントケアであるも
のに乱数で論理値0または1に設定して故障シミュレー
ションを実行し、検出された故障を未検出故障群から削
除する。
バッファ中の検査入力パターン数が圧縮バッファのサイ
ズを越えた場合に、圧縮バッファから溢れた検査入力パ
ターンに対して外部入力ピンの値がドントケアであるも
のに乱数で論理値0または1に設定して故障シミュレー
ションを実行し、検出された故障を未検出故障群から削
除する。
【0080】ステップ310で、ステップ303で目標
故障として選択する故障がないと判断された場合、圧縮
バッファ中に存在する全検査入力パターンに対して外部
入力ピンの値がドントケアであるものに乱数で論理値0
または1に設定して故障シミュレーションを実行し、検
出された故障を未検出故障群から削除する。
故障として選択する故障がないと判断された場合、圧縮
バッファ中に存在する全検査入力パターンに対して外部
入力ピンの値がドントケアであるものに乱数で論理値0
または1に設定して故障シミュレーションを実行し、検
出された故障を未検出故障群から削除する。
【0081】図9は本発明に係る請求項6の実施例を示
すために用いる組合せ回路の検査系列生成装置の構成図
である。
すために用いる組合せ回路の検査系列生成装置の構成図
である。
【0082】900は組合せ回路の検査系列生成装置全
体を示す。900aは読み込み部分、900bは記憶部
分、900cは処理(演算)部分である。901は回路
接続情報ファイル、902は故障を定義したファイルで
ある。903は、ファイル901を入力として読み込み
処理を行なう部分である。904は、ファイル902を
入力として読み込み処理を行なう部分である。905は
回路の接続情報を記憶している部分である。906は
(表1)に示すような故障の管理テーブルを記憶してい
る部分である。907は被検査回路中の全故障対して生
成した検査系列などを記憶している部分である。916
は検査入力パターンを圧縮して記憶している部分であ
る。
体を示す。900aは読み込み部分、900bは記憶部
分、900cは処理(演算)部分である。901は回路
接続情報ファイル、902は故障を定義したファイルで
ある。903は、ファイル901を入力として読み込み
処理を行なう部分である。904は、ファイル902を
入力として読み込み処理を行なう部分である。905は
回路の接続情報を記憶している部分である。906は
(表1)に示すような故障の管理テーブルを記憶してい
る部分である。907は被検査回路中の全故障対して生
成した検査系列などを記憶している部分である。916
は検査入力パターンを圧縮して記憶している部分であ
る。
【0083】908は故障被覆解析部であり、回路テー
ブル905を入力とし、故障の被覆関係を解析し、故障
テーブル906に反映させる機能を持つ。
ブル905を入力とし、故障の被覆関係を解析し、故障
テーブル906に反映させる機能を持つ。
【0084】909は目標故障選択部であり、故障管理
テーブル906を入力とし、未検出故障でかつまだ検査
系列生成が未処理でかつ検査系列生成の対象からはずれ
ていない故障群の中から目標故障として、被覆されてい
る故障を被覆している故障よりも優先的に選択するとい
う規則に従って1つ故障を選択する機能を持つ。
テーブル906を入力とし、未検出故障でかつまだ検査
系列生成が未処理でかつ検査系列生成の対象からはずれ
ていない故障群の中から目標故障として、被覆されてい
る故障を被覆している故障よりも優先的に選択するとい
う規則に従って1つ故障を選択する機能を持つ。
【0085】また未検出故障でかつまだ検査系列生成が
未処理でかつ検査系列生成の対象からはずれていない故
障が存在しなく、かつ916に検査入力パターンが存在
しなければ、検査系列生成全体の処理を終了させる機能
をもつ。
未処理でかつ検査系列生成の対象からはずれていない故
障が存在しなく、かつ916に検査入力パターンが存在
しなければ、検査系列生成全体の処理を終了させる機能
をもつ。
【0086】910は検査入力生成部であり、909で
選択した目標故障の影響を任意の外部出力ピンに伝搬す
るために必要最小限の外部入力ピンの値を決定し、検査
入力生成を行ない、外部入力ピンの値がドントケアのも
のは、乱数で論理値0または1を割り当てないで、ドン
トケアのままにしておく機能を持つ。また目標故障が冗
長であると判定する機能を持つ。
選択した目標故障の影響を任意の外部出力ピンに伝搬す
るために必要最小限の外部入力ピンの値を決定し、検査
入力生成を行ない、外部入力ピンの値がドントケアのも
のは、乱数で論理値0または1を割り当てないで、ドン
トケアのままにしておく機能を持つ。また目標故障が冗
長であると判定する機能を持つ。
【0087】911は目標故障絞り込み部であり、91
0で生成したドントケアを含んだ検査入力パターンで故
障シミュレーションを実行し、検出できた故障を検査系
列生成の対象からはずすように906を更新する機能を
持つ。
0で生成したドントケアを含んだ検査入力パターンで故
障シミュレーションを実行し、検出できた故障を検査系
列生成の対象からはずすように906を更新する機能を
持つ。
【0088】912は検査入力パターン圧縮部であり、
910で生成したドントケアを含んだ検査入力パターン
を916の1つの検査入力パターンと圧縮できるか否か
を調べ、圧縮可能であれば圧縮して、圧縮の対象となっ
た圧縮バッファ中の検査入力パターンを圧縮した後の検
査入力パターンに置き換える機能を持つ。。また910
で生成した検査入力パターンが916中の全検査入力パ
ターンと圧縮不可能であれば916に910で生成した
検査入力パターンを追加する機能を持つ。
910で生成したドントケアを含んだ検査入力パターン
を916の1つの検査入力パターンと圧縮できるか否か
を調べ、圧縮可能であれば圧縮して、圧縮の対象となっ
た圧縮バッファ中の検査入力パターンを圧縮した後の検
査入力パターンに置き換える機能を持つ。。また910
で生成した検査入力パターンが916中の全検査入力パ
ターンと圧縮不可能であれば916に910で生成した
検査入力パターンを追加する機能を持つ。
【0089】913は故障シミュレーション部であり、
916からの検査入力パターンに対して外部入力ピンの
値がドントケアであるものに乱数で論理値0または1に
設定して故障シミュレーションを実行し、検出された故
障に対して906を更新する機能を持つ。
916からの検査入力パターンに対して外部入力ピンの
値がドントケアであるものに乱数で論理値0または1に
設定して故障シミュレーションを実行し、検出された故
障に対して906を更新する機能を持つ。
【0090】ファイル914は全故障に対する検査系列
を示すテストパターンファイルである。
を示すテストパターンファイルである。
【0091】ファイル915は故障検出率や冗長故障な
どを示すレポートファイルである。図6は本発明に係る
請求項3及び請求項6の組合せ回路の検査系列生成の動
作を説明するために用いる図である。図6(a)は回路
中の故障の被覆関係の解析を示す図である。図6(a)
において、601はANDゲートであり、602はAN
Dゲートの出力信号線であり、607、605はAND
ゲートの入力信号線である。603は602の1縮退故
障、604は605の1縮退故障、606は607の1
縮退故障である。図6(b)は目標故障を選択する時点
での故障表を示した図である。図6(b)の「被覆」は
被覆関係を示し、「する」は被覆する故障を表し、「さ
れる」は被覆される故障を表す。図6(c)は目標故障
604の検査系列生成を示した図である。
どを示すレポートファイルである。図6は本発明に係る
請求項3及び請求項6の組合せ回路の検査系列生成の動
作を説明するために用いる図である。図6(a)は回路
中の故障の被覆関係の解析を示す図である。図6(a)
において、601はANDゲートであり、602はAN
Dゲートの出力信号線であり、607、605はAND
ゲートの入力信号線である。603は602の1縮退故
障、604は605の1縮退故障、606は607の1
縮退故障である。図6(b)は目標故障を選択する時点
での故障表を示した図である。図6(b)の「被覆」は
被覆関係を示し、「する」は被覆する故障を表し、「さ
れる」は被覆される故障を表す。図6(c)は目標故障
604の検査系列生成を示した図である。
【0092】まずステップ302で図6(a)のように
故障603は故障604と606を被覆するという関係
を計算し、図6(b)に示す故障表に反映させる。次に
ステップ303、304で、図6(b)の故障表を参照
して、未検出かつ未処理かつ検査系列生成の対象である
故障である603、604、606の中から被覆される
故障を優先させて604を目標故障として選択する。次
に、ステップ305で、図6(c)に示すように、目標
故障604の検査入力生成を行なう。ここでANDゲー
トの部分に注目すると、604を検出するためには信号
線607に論理値1を、信号線605に論理値0を必ず
割り当てなければならない。この検査入力パターンで故
障603も検出できることがわかる。
故障603は故障604と606を被覆するという関係
を計算し、図6(b)に示す故障表に反映させる。次に
ステップ303、304で、図6(b)の故障表を参照
して、未検出かつ未処理かつ検査系列生成の対象である
故障である603、604、606の中から被覆される
故障を優先させて604を目標故障として選択する。次
に、ステップ305で、図6(c)に示すように、目標
故障604の検査入力生成を行なう。ここでANDゲー
トの部分に注目すると、604を検出するためには信号
線607に論理値1を、信号線605に論理値0を必ず
割り当てなければならない。この検査入力パターンで故
障603も検出できることがわかる。
【0093】以上のように、本実施例によれば、故障の
被覆関係を解析して、被覆される故障を被覆する故障よ
りも優先的に選択することによって、被覆される故障の
検査入力パターンで被覆する故障を検出することができ
るので、すなわち検査系列生成処理を行なう故障数を削
減でき、圧縮バッファ中の検査入力パターン数が削減で
きる可能性があるので高速に短い検査系列を生成でき
る。
被覆関係を解析して、被覆される故障を被覆する故障よ
りも優先的に選択することによって、被覆される故障の
検査入力パターンで被覆する故障を検出することができ
るので、すなわち検査系列生成処理を行なう故障数を削
減でき、圧縮バッファ中の検査入力パターン数が削減で
きる可能性があるので高速に短い検査系列を生成でき
る。
【0094】
【発明の効果】以上述べてきたように、本発明に係る検
査系列方法は、従来の組合せ回路の検査系列生成方法が
有していた、(1)組合せ回路の検査パターン圧縮に関
して、故障シミュレーションを実行せずに検査パターン
の圧縮を行っているため検査系列生成する故障の数が増
加し、処理時間が遅くなり、また圧縮した検査パターン
数が多くなる、(2)ある組合せ回路の目標故障を検出
するために論理値を設定した外部入力ピン以外の外部入
力ピンに乱数で論理0または1を設定して故障シミュレ
ーションを実行するため、目標故障が再収れんしない分
岐の枝か茎であった場合に目標故障と同時に容易に検出
可能な同じ分岐の他の枝の故障が検出できなくなり、検
査系列生成する故障数が多くなり、また検査系列長が長
くなる、(3)組合せ回路の目標故障の選択をランダム
に行っているため、検査系列長が長くなる、という課題
を解決したものであり、高速に短い検査系列を生成する
ことができる。
査系列方法は、従来の組合せ回路の検査系列生成方法が
有していた、(1)組合せ回路の検査パターン圧縮に関
して、故障シミュレーションを実行せずに検査パターン
の圧縮を行っているため検査系列生成する故障の数が増
加し、処理時間が遅くなり、また圧縮した検査パターン
数が多くなる、(2)ある組合せ回路の目標故障を検出
するために論理値を設定した外部入力ピン以外の外部入
力ピンに乱数で論理0または1を設定して故障シミュレ
ーションを実行するため、目標故障が再収れんしない分
岐の枝か茎であった場合に目標故障と同時に容易に検出
可能な同じ分岐の他の枝の故障が検出できなくなり、検
査系列生成する故障数が多くなり、また検査系列長が長
くなる、(3)組合せ回路の目標故障の選択をランダム
に行っているため、検査系列長が長くなる、という課題
を解決したものであり、高速に短い検査系列を生成する
ことができる。
【図1】本発明の実施例1における順序回路の検査系列
生成方法の流れ図
生成方法の流れ図
【図2】本発明の実施例2における順序回路の検査系列
生成方法の流れ図
生成方法の流れ図
【図3】本発明の実施例3における順序回路の検査系列
生成方法の流れ図
生成方法の流れ図
【図4】本発明の実施例1における順序回路の検査系列
生成の動作説明図
生成の動作説明図
【図5】本発明の実施例2における順序回路の検査系列
生成の動作説明図
生成の動作説明図
【図6】本発明の実施例3における順序回路の検査系列
生成の動作説明図
生成の動作説明図
【図7】本発明の実施例1における順序回路の検査系列
生成装置の構成図
生成装置の構成図
【図8】本発明の実施例2における順序回路の検査系列
生成装置の構成図
生成装置の構成図
【図9】本発明の実施例3における順序回路の検査系列
生成装置の構成図
生成装置の構成図
102 未検出故障でかつまだ検査系列生成が未処理で
かつ検査系列生成の対象からはずれていない故障が存在
するか否かを判断する処理 103 未検出故障でかつまだ検査系列生成が未処理で
かつ検査系列生成の対象からはずれていない故障群の中
から目標故障としてランダムに1つ故障を選択する処理 104 103で選択した目標故障の影響を任意の外部
出力ピンに伝搬するために必要最小限の外部入力ピンの
値を決定し、検査入力生成を行なう処理。ここで、外部
入力ピンの値がドントケアのものは、乱数で論理値0ま
たは1を割り当てないで、ドントケアのままにしてお
く。 105 104で生成したドントケアを含んだ検査入力
パターンで故障シミュレーションを実行し、検出できた
故障を検査系列生成の対象からはずす処理
かつ検査系列生成の対象からはずれていない故障が存在
するか否かを判断する処理 103 未検出故障でかつまだ検査系列生成が未処理で
かつ検査系列生成の対象からはずれていない故障群の中
から目標故障としてランダムに1つ故障を選択する処理 104 103で選択した目標故障の影響を任意の外部
出力ピンに伝搬するために必要最小限の外部入力ピンの
値を決定し、検査入力生成を行なう処理。ここで、外部
入力ピンの値がドントケアのものは、乱数で論理値0ま
たは1を割り当てないで、ドントケアのままにしてお
く。 105 104で生成したドントケアを含んだ検査入力
パターンで故障シミュレーションを実行し、検出できた
故障を検査系列生成の対象からはずす処理
Claims (6)
- 【請求項1】被検査回路である組合せ回路中の仮定され
た縮退故障について、当該故障を検査する入力パターン
を生成する検査系列生成方法であって、 被検査回路の故障表を参照し、未検出でかつ検査系列生
成処理が未処理でかつ第3の処理で検査系列生成処理を
行わないようにしていない故障の中から任意に1つ目標
故障を選択する第1の処理と、 前記第1の処理で選択した目標故障の影響を前記被検査
回路の任意の外部出力ピンに伝搬するための検査入力パ
ターンを生成し、前記目標故障の伝搬に関係しない外部
入力ピンの論理値をドントケアのままにしておく第2の
処理と、 前記第2の処理で生成したドントケアを含んだ前記目標
故障を検査する検査入力パターンで故障シミュレーショ
ンを実行し、前記被検査回路の任意の外部出力ピンで検
出可能な任意の故障を前記第2の処理である検査系列生
成処理を行なわないように前記故障表を変更する第3の
処理とを備えた検査系列生成方法。 - 【請求項2】被検査回路である組合せ回路中の仮定され
た縮退故障について、当該故障を検査する入力パターン
を生成する検査系列生成方法であって、 被検査回路の分岐部分が再収れんするか否かを解析する
第1の処理と、 被検査回路の故障表を参照し、未検出でかつ検査系列生
成処理が未処理でかつ第3の処理で検査系列生成処理を
行わないようにしていない故障の中から、任意に1つ目
標故障を選択し、選択した目標故障が前記第1の処理で
解析した再収れんしない分岐部分の枝または茎の箇所で
あれば、前記分岐の全ての枝と茎の未検出故障の中から
前記目標故障と同じ種類の縮退故障でかつ第4の処理で
検査系列生成処理を行わないようにしていない故障を付
属的な目標故障とする第2の処理と、 前記第2の処理で選択した目標故障の影響を前記被検査
回路の任意の外部出力ピンに伝搬するための検査入力パ
ターンを生成し、前記付属的な目標故障が存在した場合
に、前記付属的な目標故障の影響を前記被検査回路の任
意の外部出力ピンに伝搬するための検査入力パターンを
生成し、前記目標故障及び前記付属的な目標故障の伝搬
に関係しない外部入力ピンの論理値をドントケアのまま
にしておく第3の処理と、 前記第3の処理で生成したドントケアを含んだ前記目標
故障を検査する検査入力パターンで故障シミュレーショ
ンを実行し、前記被検査回路の任意の外部出力ピンで検
出可能な任意の故障を前記第3の処理である検査系列生
成処理を行なわないように前記故障表を変更する第4の
処理とを備えた検査系列生成方法。 - 【請求項3】被検査回路である組合せ回路中の仮定され
た縮退故障について、当該故障を検査する入力パターン
系列を生成する検査系列生成方法であって、 被検査回路中の全縮退故障について被覆関係を解析する
第1の処理と、 被検査回路の故障表を参照し、未検出でかつ検査系列生
成処理が未処理でかつ第4の処理で検査系列生成処理を
行わないようにしていない故障の中から前記第1の処理
で解析した被覆されている故障を被覆している故障より
も必ず優先的に目標故障として選択するという規則に従
って1つ目標故障を選択する第2の処理と、 前記第2の処理で選択した目標故障の影響を前記被検査
回路の任意の外部出力ピンに伝搬するための検査入力パ
ターンを生成し、前記目標故障の伝搬に関係しない外部
入力ピンの論理値をドントケアのままにしておく第3の
処理と、 前記第3の処理で生成したドントケアを含んだ前記目標
故障を検査する検査入力パターンで故障シミュレーショ
ンを実行し、前記被検査回路の任意の外部出力ピンで検
出可能な任意の故障を前記第3の処理である検査系列生
成処理を行なわないように前記故障表を変更する第4の
処理とを備えた検査系列生成方法。 - 【請求項4】被検査回路である組合せ回路中の仮定され
た縮退故障について、当該故障を検査する入力パターン
を生成する検査系列生成装置であって、 被検査回路の故障表を参照し、未検出でかつ検査系列生
成処理が未処理でかつ第3の手段で検査系列生成手段を
行わないようにしていない故障の中から任意に1つ目標
故障を選択する第1の手段と、 前記第1の手段で選択した目標故障の影響を前記被検査
回路の任意の外部出力ピンに伝搬するための検査入力パ
ターンを生成し、前記目標故障の伝搬に関係しない外部
入力ピンの論理値をドントケアのままにしておく第2の
手段と、 前記第2の手段で生成したドントケアを含んだ前記目標
故障を検査する検査入力パターンで故障シミュレーショ
ンを実行し、前記被検査回路の任意の外部出力ピンで検
出可能な任意の故障を前記第2の手段である検査系列生
成処理を行なわないように前記故障表を変更する第3の
手段とを備えた検査系列生成装置。 - 【請求項5】被検査回路である組合せ回路中の仮定され
た縮退故障について、当該故障を検査する入力パターン
を生成する検査系列生成装置であって、 被検査回路の分岐部分が再収れんするか否かを解析する
第1の手段と、 被検査回路の故障表を参照し、未検出でかつ検査系列生
成処理が未処理でかつ第3の手段で検査系列生成処理を
行わないようにしていない故障の中から、任意に1つ目
標故障を選択し、選択した目標故障が前記第1の手段で
解析した再収れんしない分岐部分の枝または茎の箇所で
あれば、前記分岐の全ての枝と茎の未検出故障の中から
前記目標故障と同じ種類の縮退故障でかつ第4の手段で
検査系列生成処理を行わないようにしていない故障を付
属的な目標故障とする第2の手段と、 前記第2の手段で選択した目標故障の影響を前記被検査
回路の任意の外部出力ピンに伝搬するための検査入力パ
ターンを生成し、前記付属的な目標故障が存在した場合
に、前記付属的な目標故障の影響を前記被検査回路の任
意の外部出力ピンに伝搬するための検査入力パターンを
生成し、前記目標故障及び前記付属的な目標故障の伝搬
に関係しない外部入力ピンの論理値をドントケアのまま
にしておく第3の手段と、 前記第3の手段で生成したドントケアを含んだ前記目標
故障を検査する検査入力パターンで故障シミュレーショ
ンを実行し、前記被検査回路の任意の外部出力ピンで検
出可能な任意の故障を前記第3の手段である検査系列生
成処理を行なわないように前記故障表を変更する第4の
手段とを備えた検査系列生成装置。 - 【請求項6】被検査回路である組合せ回路中の仮定され
た縮退故障について、当該故障を検査する入力パターン
系列を生成する検査系列生成装置であって、 被検査回路中の全縮退故障について被覆関係を解析する
第1の手段と、 被検査回路の故障表を参照し、未検出でかつ検査系列生
成処理が未処理でかつ第4の手段で検査系列生成手段を
行わないようにしていない故障の中から前記第1の手段
で解析した被覆されている故障を被覆している故障より
も必ず優先的に目標故障として選択するという規則に従
って1つ目標故障を選択する第2の手段と、 前記第2の手段で選択した目標故障の影響を前記被検査
回路の任意の外部出力ピンに伝搬するための検査入力パ
ターンを生成し、前記目標故障の伝搬に関係しない外部
入力ピンの論理値をドントケアのままにしておく第3の
手段と、 前記第3の手段で生成したドントケアを含んだ前記目標
故障を検査する検査入力パターンで故障シミュレーショ
ンを実行し、前記被検査回路の任意の外部出力ピンで検
出可能な任意の故障を前記第3の手段である検査系列生
成処理を行なわないように前記故障表を変更する第4の
手段とを備えた検査系列生成装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP6144837A JPH0815388A (ja) | 1994-06-27 | 1994-06-27 | 検査系列生成方法及び検査系列生成装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP6144837A JPH0815388A (ja) | 1994-06-27 | 1994-06-27 | 検査系列生成方法及び検査系列生成装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0815388A true JPH0815388A (ja) | 1996-01-19 |
Family
ID=15371593
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP6144837A Pending JPH0815388A (ja) | 1994-06-27 | 1994-06-27 | 検査系列生成方法及び検査系列生成装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0815388A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6651206B2 (en) * | 1997-04-25 | 2003-11-18 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Method of design for testability, test sequence generation method and semiconductor integrated circuit |
US6751767B1 (en) | 1999-09-29 | 2004-06-15 | Nec Electronics Corporation | Test pattern compression method, apparatus, system and storage medium |
-
1994
- 1994-06-27 JP JP6144837A patent/JPH0815388A/ja active Pending
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6651206B2 (en) * | 1997-04-25 | 2003-11-18 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Method of design for testability, test sequence generation method and semiconductor integrated circuit |
US6751767B1 (en) | 1999-09-29 | 2004-06-15 | Nec Electronics Corporation | Test pattern compression method, apparatus, system and storage medium |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
Hora et al. | An effective diagnosis method to support yield improvement | |
US10509072B2 (en) | Test application time reduction using capture-per-cycle test points | |
Wang et al. | On the decline of testing efficiency as fault coverage approaches 100% | |
CN114398848B (zh) | 一种测试向量生成方法、装置及存储介质 | |
US5566187A (en) | Method for identifying untestable faults in logic circuits | |
US7395478B2 (en) | Method of generating test patterns to efficiently screen inline resistance delay defects in complex asics | |
JPH0815388A (ja) | 検査系列生成方法及び検査系列生成装置 | |
Mahlstedt et al. | CURRENT: a test generation system for I/sub DDQ/testing | |
JPH03129438A (ja) | 検査入力生成方法および検査容易化設計方法 | |
JP3045111B2 (ja) | Lsi不良自動解析装置及びその解析方法並びにその方法をコンピュータに実行させるためのプログラムを記憶した記憶媒体 | |
US11092645B2 (en) | Chain testing and diagnosis using two-dimensional scan architecture | |
JP2000250946A (ja) | Lsi回路のテスト容易化設計方法および装置ならびにテスト容易化設計処理プログラムを記録したコンピュータ読取り可能な記録媒体 | |
JPH05119122A (ja) | スキヤン回路のテストパターン生成方法 | |
JP2715989B2 (ja) | Iddqを用いたCMOS論理回路の故障箇所の絞り込み方法 | |
JP3147855B2 (ja) | 実装基板の不良検査方法 | |
JP2000155156A (ja) | 半導体集積回路の故障診断装置 | |
JPH0611543A (ja) | 検査系列生成方法および検査系列生成装置 | |
JPH11174126A (ja) | 論理回路の組込み自己検査パターン発生装置およびパタ ーン選定方法 | |
JP3253775B2 (ja) | 検査系列生成方法 | |
Shimino | An efficient logical fault diagnosis for combinational circuits using stuck-at fault simulation | |
JP2005140710A (ja) | テストパターン生成方法 | |
JPH06194416A (ja) | 順序回路を含む論理回路の診断システムおよび診断方法 | |
JPH0926981A (ja) | 回路の故障シミュレーション方法および故障シミュレーション装置 | |
JP2004085333A (ja) | 半導体集積回路の故障診断プログラム | |
JPH0259967A (ja) | テスト容易化回路設計方法 |