JPH0599970A - 電装品の検査装置 - Google Patents
電装品の検査装置Info
- Publication number
- JPH0599970A JPH0599970A JP3259515A JP25951591A JPH0599970A JP H0599970 A JPH0599970 A JP H0599970A JP 3259515 A JP3259515 A JP 3259515A JP 25951591 A JP25951591 A JP 25951591A JP H0599970 A JPH0599970 A JP H0599970A
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- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 電装品の検査に必要な検査パターンを人手で
作成する労力を省くとともに、作成した検査パターンを
検査パターン記憶部に入力する誤りをなくするようにす
る。 【構成】 検査に先立って、正常な電装品２からの応答
を取り込んで、自動的に検査に必要な検査パターンを作
成し、その作成した検査パターンを検査パターン記憶部
４に入力させるように構成する。
作成する労力を省くとともに、作成した検査パターンを
検査パターン記憶部に入力する誤りをなくするようにす
る。 【構成】 検査に先立って、正常な電装品２からの応答
を取り込んで、自動的に検査に必要な検査パターンを作
成し、その作成した検査パターンを検査パターン記憶部
４に入力させるように構成する。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、プリント配線基板や電
子部品装着ユニットのような電装品を検査して良否を判
別するための電装品の検査装置に関するものである。
子部品装着ユニットのような電装品を検査して良否を判
別するための電装品の検査装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】図２は、従来のこの種の検査装置の構成
を示すブロック構成図である。同図において、１は検査
装置、２は被検査品（電装品）、３は検査装置１より所
定のタイミングで所定のパターンの出力を送出する出力
部、４は検査装置１内に設けられて検査パターンのデー
タを記憶する検査パターン記憶部である。５は被検査品
２からの応答と検査パターンとを比較する判断部、６は
出力部３からのタイミングデータを受けて出力部３、検
査パターン記憶部４および判断部５などを制御する制御
部である。
を示すブロック構成図である。同図において、１は検査
装置、２は被検査品（電装品）、３は検査装置１より所
定のタイミングで所定のパターンの出力を送出する出力
部、４は検査装置１内に設けられて検査パターンのデー
タを記憶する検査パターン記憶部である。５は被検査品
２からの応答と検査パターンとを比較する判断部、６は
出力部３からのタイミングデータを受けて出力部３、検
査パターン記憶部４および判断部５などを制御する制御
部である。
【０００３】被検査品２の検査には、検査装置１と被検
査品２とを接続する。予め、検査者が出力部３からの所
定のタイミングの出力パターンに対する正常な電装品２
からの応答を予測もしくは測定し、その結果から必要な
検査パターンを作成して検査パターン記憶部４に記憶さ
せておく。この状態で、まず、検査装置１の出力部３か
ら検査に必要な所定のタイミングで、所定の出力パター
ンの信号を被検査品２に送出すると、被検査品２からの
応答が検査装置１に取り込まれ、これを判断部５が検査
パターン記憶部４に記憶されている検査パターンと比較
することにより、被検査品２の良否の判別などが行なわ
れる。
査品２とを接続する。予め、検査者が出力部３からの所
定のタイミングの出力パターンに対する正常な電装品２
からの応答を予測もしくは測定し、その結果から必要な
検査パターンを作成して検査パターン記憶部４に記憶さ
せておく。この状態で、まず、検査装置１の出力部３か
ら検査に必要な所定のタイミングで、所定の出力パター
ンの信号を被検査品２に送出すると、被検査品２からの
応答が検査装置１に取り込まれ、これを判断部５が検査
パターン記憶部４に記憶されている検査パターンと比較
することにより、被検査品２の良否の判別などが行なわ
れる。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】しかし、上記従来構成
によれば、予め検査者が所定のタイミングデータに対す
る正常な被検査品の応答を予測もしくは測定し、その結
果に基づいて検査に必要な検査パターンを作成しなけれ
ばならず、これに多くの労力を要することになる。ま
た、作成した検査パターンを検査者が検査パターン記憶
部４に入力する手間もあり、その時、入力誤りを招くお
それもある。
によれば、予め検査者が所定のタイミングデータに対す
る正常な被検査品の応答を予測もしくは測定し、その結
果に基づいて検査に必要な検査パターンを作成しなけれ
ばならず、これに多くの労力を要することになる。ま
た、作成した検査パターンを検査者が検査パターン記憶
部４に入力する手間もあり、その時、入力誤りを招くお
それもある。
【０００５】本発明は上記のような問題点を解消するた
めになされたもので、検査を実施するに先立って検査パ
ターンを作成したり、入力するための労力が省けるとと
もに、入力誤りもなくすることができる電装品の検査装
置を提供することを目的とする。
めになされたもので、検査を実施するに先立って検査パ
ターンを作成したり、入力するための労力が省けるとと
もに、入力誤りもなくすることができる電装品の検査装
置を提供することを目的とする。
【０００６】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
本発明は、出力部から検査に必要な出力パターンを所定
のタイミングで被検査品に送出し、被検査品からの応答
と検査パターン記憶部に記憶されている検査パターンと
を判断部で比較させて被検査品の検査を行なう電装品の
検査装置において、検査に先立って正常な電装品からの
応答を検査パターンとして自動的に検査パターン記憶部
に入力する入力手段を設けた構成としたものである。
本発明は、出力部から検査に必要な出力パターンを所定
のタイミングで被検査品に送出し、被検査品からの応答
と検査パターン記憶部に記憶されている検査パターンと
を判断部で比較させて被検査品の検査を行なう電装品の
検査装置において、検査に先立って正常な電装品からの
応答を検査パターンとして自動的に検査パターン記憶部
に入力する入力手段を設けた構成としたものである。
【０００７】
【作用】上記構成において、検査装置が正常な電装品か
らの応答を検査パターンにする学習機能をもつことにな
り、したがって、検査に先立って出力部から所定の出力
パターンを正常な電装品に送出すれば、必要な検査パタ
ーンが検査パターン記憶部に自動的に記憶されるもの
で、検査パターンの作成の手間が省け、入力ミスの発生
もなくなる。
らの応答を検査パターンにする学習機能をもつことにな
り、したがって、検査に先立って出力部から所定の出力
パターンを正常な電装品に送出すれば、必要な検査パタ
ーンが検査パターン記憶部に自動的に記憶されるもの
で、検査パターンの作成の手間が省け、入力ミスの発生
もなくなる。
【０００８】
【実施例】以下、本発明の実施例を図面にもとづいて説
明する。図１は、本発明の一実施例による電装品の検査
装置を示すブロック構成図であり、図２で示す従来例と
同一部所には、同一符号を付して説明を省略する。
明する。図１は、本発明の一実施例による電装品の検査
装置を示すブロック構成図であり、図２で示す従来例と
同一部所には、同一符号を付して説明を省略する。
【０００９】図１において、被検査品２と検査パターン
記憶部４との間には、検査に先立って正常な電装品２か
らの応答を取り込んで、自動的に必要な検査パターンと
して検査パターン記憶部４に切換可能に入力させて学習
させる入力手段として切換部７が設けられている。８は
上記検査パターン記憶部４と判断部５との間に設けられ
て正常な電装品２からの応答が検査パターン記憶部４に
入力される際に開放される切換部である。
記憶部４との間には、検査に先立って正常な電装品２か
らの応答を取り込んで、自動的に必要な検査パターンと
して検査パターン記憶部４に切換可能に入力させて学習
させる入力手段として切換部７が設けられている。８は
上記検査パターン記憶部４と判断部５との間に設けられ
て正常な電装品２からの応答が検査パターン記憶部４に
入力される際に開放される切換部である。
【００１０】以下、上記構成における作用について説明
する。はじめに、検査に先立って、切換部７を検査パタ
ーン記憶部４の側にセットし、他方の切換部８を開放側
にセットする。まず、出力部３から検査に必要な出力パ
ターンの信号を正常な電装品２に送出させれば、この正
常な電装品２からの応答が切換部７を介して取り込ま
れ、必要な検査パターンが自動作成されて検査パターン
記憶部４に入力される。すなわち、上記正常な電装品２
からの応答が検査に必要な検査パターンとして検査パタ
ーン記憶部４に入力されてこれを学習することになる。
この場合、検査に先立っての検査パターンの作成および
その入力の自動化が達成されて労力の軽減化が図れると
ともに、入力誤りのおそれもなくなる。
する。はじめに、検査に先立って、切換部７を検査パタ
ーン記憶部４の側にセットし、他方の切換部８を開放側
にセットする。まず、出力部３から検査に必要な出力パ
ターンの信号を正常な電装品２に送出させれば、この正
常な電装品２からの応答が切換部７を介して取り込ま
れ、必要な検査パターンが自動作成されて検査パターン
記憶部４に入力される。すなわち、上記正常な電装品２
からの応答が検査に必要な検査パターンとして検査パタ
ーン記憶部４に入力されてこれを学習することになる。
この場合、検査に先立っての検査パターンの作成および
その入力の自動化が達成されて労力の軽減化が図れると
ともに、入力誤りのおそれもなくなる。
【００１１】この後、切換部７を判断部５側にセットす
る一方、他方の切換部８も判断部５側にセットして被検
査品２の検査を行なう。すなわち、出力部３から検査に
必要な出力パターンの信号を所定のタイミングで被検査
品２に送出し、被検査品２からの応答を、先に検査パタ
ーン記憶部４に記憶されている検査パターンとして比較
することで、上記被検査品２の良否などの検査が行なわ
れる。
る一方、他方の切換部８も判断部５側にセットして被検
査品２の検査を行なう。すなわち、出力部３から検査に
必要な出力パターンの信号を所定のタイミングで被検査
品２に送出し、被検査品２からの応答を、先に検査パタ
ーン記憶部４に記憶されている検査パターンとして比較
することで、上記被検査品２の良否などの検査が行なわ
れる。
【００１２】
【発明の効果】以上のように本発明によれば、検査に先
立って正常な電装品からの応答を取り込んで、自動的に
検査パターン記憶部に検査に必要な検査パターンとして
入力させるようにしたので、検査に要する労力が軽減さ
れるとともに、入力誤りの発生するおそれも解消され
る。
立って正常な電装品からの応答を取り込んで、自動的に
検査パターン記憶部に検査に必要な検査パターンとして
入力させるようにしたので、検査に要する労力が軽減さ
れるとともに、入力誤りの発生するおそれも解消され
る。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の一実施例による電装品の検査装置を示
すブロック構成図である。
すブロック構成図である。
【図２】従来の電装品の検査装置を示すブロック構成図
である。
である。
２ 電装品（被検査品） ３ 出力部 ４ 検査パターン記憶部 ５ 判断部
Claims (1)
- 【請求項１】 出力部から検査に必要な出力パターンを
所定のタイミングで被検査品に送出し、被検査品からの
応答と検査パターン記憶部に記憶されている検査パター
ンとを判断部で比較させて被検査品の検査を行なう電装
品の検査装置において、検査に先立って正常な電装品か
らの応答を検査パターンとして自動的に検査パターン記
憶部に入力する入力手段を設けたことを特徴とする電装
品の検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3259515A JPH0599970A (ja) | 1991-10-08 | 1991-10-08 | 電装品の検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3259515A JPH0599970A (ja) | 1991-10-08 | 1991-10-08 | 電装品の検査装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0599970A true JPH0599970A (ja) | 1993-04-23 |
Family
ID=17335178
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3259515A Pending JPH0599970A (ja) | 1991-10-08 | 1991-10-08 | 電装品の検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0599970A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP6017006B1 (ja) * | 2015-11-05 | 2016-10-26 | 三菱電機株式会社 | 情報出力システム、及び、接続判定方法 |
-
1991
- 1991-10-08 JP JP3259515A patent/JPH0599970A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP6017006B1 (ja) * | 2015-11-05 | 2016-10-26 | 三菱電機株式会社 | 情報出力システム、及び、接続判定方法 |
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