JPH0585766U - Package inspection device - Google Patents
Package inspection deviceInfo
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- JPH0585766U JPH0585766U JP5856891U JP5856891U JPH0585766U JP H0585766 U JPH0585766 U JP H0585766U JP 5856891 U JP5856891 U JP 5856891U JP 5856891 U JP5856891 U JP 5856891U JP H0585766 U JPH0585766 U JP H0585766U
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 パッケージが品質的に問題ありとなる綾落ち
と、問題なしとなるリボン重なりとを区別して検出する
ことができ、綾落ちの約半分が不鮮明な場合に対しても
適切な判断ができる検査装置を提供する。
【構成】 パッケージを回転可能に支持する支持装置３
と、該支持装置３により回転されるパッケージ端面１１
の直径方向を照射する光源８と、パッケージ端面１１の
綾落ち１６やリボン１７の反射光を読み取るＣＣＤライ
ンセンサ９と、パッケージ回転に伴うＣＣＤラインセン
サ９の位置情報を２値化する２値化回路２１と、この２
値化回路２１を経て認識される半放物線状曲線の高さと
幅の比を算出する算出回路２３と、この比の値と所定値
とを比較する比較回路２４とを備えて検査装置である。
(57) [Summary] [Purpose] It is possible to distinguish between the crossover that causes a package quality problem and the ribbon overlap that causes no problem. Also provides an inspection device that can make an appropriate judgment. [Structure] Support device 3 for rotatably supporting a package
And the package end surface 11 rotated by the supporting device 3.
Light source 8 for irradiating the diametrical direction, CCD line sensor 9 for reading the traverse 16 of package end face 11 and reflected light of ribbon 17, and binarization for binarizing position information of CCD line sensor 9 accompanying package rotation. Circuit 21 and this 2
The inspection apparatus is provided with a calculation circuit 23 for calculating the height-width ratio of the semi-parabolic curve recognized through the binarization circuit 21, and a comparison circuit 24 for comparing the value of this ratio with a predetermined value.
Description
【０００１】[0001]
本考案は、自動ワインダで生産されたコーン状パッケージ等のパッケージ端面 における綾落ちを検出するのに適した検査装置に関する。 The present invention relates to an inspection device suitable for detecting a twill drop on a package end face of a cone-shaped package or the like produced by an automatic winder.
【０００２】[0002]
自動ワインダで生産されたコーン状パッケージ等は出荷に先立ち、種々の検査 が行われる。その検査項目の一つにパッケージ端面の綾落ちの有無の検査がある 。綾落ちはパッケージ端面において糸が外側へ外れて巻かれているものであり、 トラバースの不正確やトラバースに伴うテンション変動が大きいときに生じやす い。コーン状パッケージの小径側端面に生じた綾落ちは実用上問題にならないが 、大径側端面に生じた綾落ちはパッケージ解舒の際の糸切れ要因の一つとなり、 綾落ちのパッケージは不良品となる。 Before shipment, cone-shaped packages produced by automatic winders undergo various inspections. One of the inspection items is an inspection for the presence or absence of twill on the end face of the package. Twill drop occurs when the yarn is wound outside the package at the end face of the package and is apt to occur when the traverse is inaccurate or the tension changes due to the traverse are large. The traverse on the small diameter side end face of the cone-shaped package is not a problem in practice, but the traverse on the large diameter side end face is one of the factors causing yarn breakage when unwinding the package, and the twill drop package is not It will be a good product.
【０００３】 この綾落ちに関する検査装置の従来例を図４及び図５により説明する。図４（ ａ）は検査装置の上面図であり、図４（ｂ）は検査装置の側面図である。図４（ ａ）において、検査装置１は搬送コンベア２の途中に配設されている。パッケー ジＰはトレイ３に持ち上げられた状態で挿入され、トレイ３と共に検査装置１に 搬入される。検査装置１内は暗室１ａとなっており、搬送コンベア２に沿って、 ソレノイド等で開閉するストッパー４と、ソレノイド等で付勢される位置決めロ ーラ５と、駆動ローラ６と、案内ローラ７とが配設されている。所定位置となっ たトレイ３は駆動ローラ６により回転させられ、パッケージＰも回転する。すな わち、トレイ３や駆動ローラ６等がパッケージＰを回転可能に支持する支持装置 を構成している。A conventional example of the inspection device for this crossover will be described with reference to FIGS. 4 and 5. FIG. 4A is a top view of the inspection device, and FIG. 4B is a side view of the inspection device. In FIG. 4A, the inspection device 1 is arranged in the middle of the conveyor 2. The package P is inserted into the tray 3 in a state of being lifted, and is carried into the inspection device 1 together with the tray 3. A dark room 1a is provided in the inspection device 1, and along the conveyor 2, a stopper 4 that is opened and closed by a solenoid, a positioning roller 5 that is biased by a solenoid, a drive roller 6, and a guide roller 7 are provided. And are provided. The tray 3 in the predetermined position is rotated by the drive roller 6, and the package P also rotates. That is, the tray 3, the drive roller 6, and the like constitute a supporting device that rotatably supports the package P.
【０００４】 図４（ｂ）に示されるように、暗室１ａ内の下に、ハロゲンランプ等の光源８ と、ＣＣＤカメラ等のＣＣＤラインセンサ９の一対が配設されている。これらに より、特に問題となるパッケージＰの大径側端面１１の綾落ちの有無を検査する 。As shown in FIG. 4B, a pair of a light source 8 such as a halogen lamp and a CCD line sensor 9 such as a CCD camera are arranged below the dark room 1a. From these, the presence or absence of traversing of the large-diameter side end surface 11 of the package P, which is a particular problem, is inspected.
【０００５】 図４（ｂ）のＡ−Ａ断面図である図５により、この光源８とＣＣＤラインセン サ９による綾落ち検査の詳細を説明する。なお、１２は光源８による照射光をパ ッケージＰ直径方向の長方形とするためのスリット、３はトレイ、６は駆動ロー ラである。光源８とＣＣＤラインセンサ９は平面角度で約９０°の位置に設置さ れている。そして、光源８とスリット１２によりパッケージＰの大径側端面１１ に斜線で示される照射部分１５が形成され、綾落ち１６における反射光がＣＣＤ ラインセンサ９に入射する。この入射光の強弱で綾落ち１６の部分を特定する。 僅かの入射光の強弱も読み取るため、高い分解能のセンサが要求され、２０４８ ビットの固体撮像素子を直列配置したＣＣＤラインセンサ９が用いられる。また 、大径側端面１１には多数のリボン１７（トラバースの折り返し部分の糸が重な り円弧状に盛り上がった部分であり、パッケージ品質に大きな影響を与えないも の）も存在する。このリボン１７によっても、反射が発生する。しかし、図示の ように、綾落ち１６よりリボン１７は短く、反射部分の長さ即ちパッケージＰの 回転角度の大きさにより判別でき、反射部分の回転角度の大きいものがあれば、 綾落ちとして判断していた。The cross-section inspection by the light source 8 and the CCD line sensor 9 will be described in detail with reference to FIG. 5 which is a sectional view taken along line AA of FIG. In addition, 12 is a slit for making the irradiation light from the light source 8 a rectangle in the package P diameter direction, 3 is a tray, and 6 is a drive roller. The light source 8 and the CCD line sensor 9 are installed at a position where the plane angle is about 90 °. Then, the light source 8 and the slit 12 form an irradiation portion 15 indicated by diagonal lines on the large-diameter side end surface 11 of the package P, and the reflected light from the traverse 16 enters the CCD line sensor 9. The portion of the twill drop 16 is specified by the intensity of the incident light. Since even a small amount of incident light intensity is read, a sensor with high resolution is required, and a CCD line sensor 9 in which a 2048-bit solid-state image sensor is arranged in series is used. Further, a large number of ribbons 17 (the yarns at the folded back portion of the traverse are piled up in a circular arc shape and do not greatly affect the package quality) are also present on the large-diameter side end surface 11. The ribbon 17 also causes reflection. However, as shown in the figure, the ribbon 17 is shorter than the traverse 16 and can be discriminated by the length of the reflecting portion, that is, the size of the rotation angle of the package P. Was.
【０００６】[0006]
しかしながら、従来の技術で説明した反射光の回転角度の大きなものを綾落ち と判断する検査装置においては、図２に示されるように、リボン１７がたまたま 連続的に重なったリボン重なり１７ａも綾落ちと判断する場合があるという問題 点を有していた。さらに、図５のように、光源８とＣＣＤラインセンサ９とが平 面角度で約９０°に位置に設置すると、パッケージが反時計方向に回転し、光源 ８と平行な綾落ち１６′になると反射光が生じない。さらにパッケージが反時計 方向に回転すると、反対側に反射し、逆に薄い影を検出する。そのため、綾落ち １６の約半分が鮮明であるが、残り半分が不鮮明になる。すなわち、光源８とＣ ＣＤラインセンサ９の設置角度の程度によって、綾落ち１６の長さを短く判断す る場合があるという問題点もあった。 However, as shown in FIG. 2, in the inspection device which judges that a large rotation angle of reflected light is a traverse as described in the prior art, as shown in FIG. There was a problem that it might be judged. Further, as shown in FIG. 5, when the light source 8 and the CCD line sensor 9 are installed at a position of a plane angle of about 90 °, the package rotates in the counterclockwise direction and becomes a traverse 16 'parallel to the light source 8. There is no reflected light. When the package rotates further in the counterclockwise direction, it reflects on the opposite side and detects a faint shadow. Therefore, about half of the twill drop 16 is clear, but the other half is unclear. That is, there is also a problem that the length of the twill drop 16 may be determined to be short depending on the installation angle between the light source 8 and the CCD line sensor 9.
【０００７】 本考案は、従来の技術の有するこのような問題点に鑑みてなされたものであり 、その目的とするところは、パッケージが品質的に問題ありとなる綾落ちと、問 題なしとなるリボン重なりとを区別して検出することができ、綾落ちの約半分が 不鮮明な場合に対しても適切な判断ができる検査装置を提供しようとするもので ある。The present invention has been made in view of the above problems of the prior art. The purpose of the present invention is to prevent the package from having a qualitative problem and to have no problem. The present invention intends to provide an inspection apparatus capable of distinguishing between different ribbon overlaps and detecting, and capable of making an appropriate judgment even in the case where about half of the twill drop is unclear.
【０００８】[0008]
上記目的を達成するために、本考案の検査装置は、パッケージを回転可能に支 持する支持装置と、該支持装置により回転されるパッケージ端面の直径方向を照 射する光源と、パッケージ端面の綾落ちやリボンの反射光を読み取るＣＣＤライ ンセンサと、パッケージ回転に伴うＣＣＤラインセンサの位置情報を２値化する ２値化回路と、この２値化回路を経て認識される半放物線状曲線の高さと幅の比 を算出する算出回路と、この比の値と所定値とを比較する比較回路とを備えてな るものである。 In order to achieve the above object, the inspection device of the present invention comprises a support device that rotatably supports a package, a light source that illuminates a package end face diametrically rotated by the support device, and a package end face traverse. A CCD line sensor that reads falling light and reflected light from the ribbon, a binarization circuit that binarizes the position information of the CCD line sensor as the package rotates, and the height of the semi-parabolic curve recognized through this binarization circuit. And a width, and a comparison circuit for comparing the value of this ratio with a predetermined value.
【０００９】[0009]
綾落ちの位置情報もリボン重なりの位置情報も２値化すると放物線状曲線とな るが、直線的な綾落ちは深い放物線状曲線となるが、リボン重なりは浅い放物線 状曲線となるという差に着目し、更に少なくとも半分の放物線状曲線が鮮明であ ることに着目し、半放物線状曲線の高さと幅の比により綾落ちとリボン重なりと を区別する。 Binarizing both the position information of the twill drop and the position information of the ribbon overlap results in a parabolic curve, but the linear twill results in a deep parabolic curve, but the ribbon overlap results in a shallow parabolic curve. Focusing on the fact that at least half of the parabolic curve is clear, the cross-over and ribbon overlap are distinguished by the ratio of the height and width of the semi-parabolic curve.
【００１０】[0010]
以下、本考案の実施例を図面を参照しつつ説明する。図１は本考案の検査装置 の要部を示す図である。なお、図５と異なる部分は信号の処理に係る部分であり 、その他の部分は同じ符号を付してその説明を省略する。 Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings. FIG. 1 is a view showing a main part of an inspection device of the present invention. It should be noted that parts different from those in FIG. 5 are parts related to signal processing, and other parts are denoted by the same reference numerals and the description thereof will be omitted.
【００１１】 図１において、ＣＣＤラインセンサ９によりパッケージ直径方向の位置が検出 され、駆動モータ６の回転数により円周角度方向の位置が決定される。これらの 位置情報は、信号処理回路２０で処理され、２値化回路２１で平面的な位置情報 となる。この２値化回路２２を経て認識される放物線状曲線は算出回路２３で演 算処理され放物線状曲線の高さＸと幅Ｙの比であるＸ／Ｙが算出される。そして 、比較回路２４で放物線状曲線のＸ／Ｙと所定値βが比較され、Ｘ／Ｙ＞βであ れば綾落ちと判断し、表示手段２５で品質的に異常があると表示される。なお、 ２６は所定値βの記憶手段である。In FIG. 1, the CCD line sensor 9 detects the position in the package diameter direction, and the rotation angle of the drive motor 6 determines the position in the circumferential angle direction. The positional information is processed by the signal processing circuit 20 and becomes planar positional information by the binarizing circuit 21. The parabolic curve recognized through the binarization circuit 22 is arithmetically processed by the calculation circuit 23 to calculate X / Y, which is the ratio of the height X to the width Y of the parabolic curve. Then, the comparison circuit 24 compares X / Y of the parabolic curve with a predetermined value β, and if X / Y> β, it is judged that the crossover has occurred, and the display means 25 displays that there is an abnormality in quality. . In addition, 26 is a storage means for the predetermined value β.
【００１２】 つぎに、上述した検査装置の作動を図２及び図３により詳しく説明する。図２ おいて、１６が綾落ちであり直線状となっている。１７ａはリボン重なりであり 、円弧状に連なっている。パッケージＰの直径方向をボビンＢ側をゼロとするｘ 軸とし、パッケージＰの回転角度をｙ軸とする。図３において、綾落ちの始点は （ｘ1,ｙ1)であり、終点は（ｘ2,ｙ2)であり、中点は（ｘ3,ｙ3)である。中点で 最もボビンＢに近くなるので、その軌跡は典型的な放物線状曲線１８となる。し かし、光源とＣＣＤラインセンサとが平面角度で約９０°の位置に設置されると 、始点（ｘ1,ｙ1)から中点（ｘ3,ｙ3)までは綾落ちの反射光が鮮明となるが、中 点（ｘ3,ｙ3)から終点（ｘ2,ｙ2)までは逆に薄い影となって不鮮明である。その 結果、図３の放物線状曲線１８の半分が鮮明で、残り半分が不鮮明となって検出 が困難な場合がある。しかし、鮮明な部分の半放物線状曲線１８の高さＸと幅Ｙ は始点（ｘ1,ｙ1)から中点（ｘ3,ｙ3)から算出可能である。そして、典型的な放 物線状曲線であれば、Ｘ／Ｙの比はある程度の値となる。一方、図２のリボン重 なり１７ａは円弧状の連なりであり、ｘ値の変動が其ほどでもない。図３のよう な押しつぶされた放物線状曲線１９となって、高さＸと幅Ｙの比Ｘ／Ｙは小さい ものとなる。したがって、少なくとも半放物線状曲線の高さＸと幅Ｙの比Ｘ／Ｙ を比較することにより、綾落ちとリボン重なりを判別できる。そこで、経験的な 所定値βを設定し、比Ｘ／Ｙが所定値βより大きいものを綾落ちと判断し、リボ ン重なりと区別するものである。Next, the operation of the above-described inspection device will be described in detail with reference to FIGS. 2 and 3. In FIG. 2, 16 is a twill drop and has a linear shape. Reference numeral 17a is a ribbon overlap, which is continuous in an arc shape. The diametrical direction of the package P is the x-axis with the bobbin B side being zero, and the rotation angle of the package P is the y-axis. In FIG. 3, the starting point of twill drop is (x 1, y 1 ), the end point is (x 2, y 2 ), and the midpoint is (x 3, y 3 ). Since it is closest to the bobbin B at the midpoint, its locus becomes a typical parabolic curve 18. However, when the light source and the CCD line sensor are installed at a position of about 90 ° in plane, the reflected light that falls from the starting point (x 1, y 1 ) to the middle point (x 3, y 3 ) Is clear, but from the midpoint (x 3, y 3 ) to the end point (x 2, y 2 ), on the contrary, a thin shadow is unclear. As a result, half of the parabolic curve 18 in FIG. 3 is clear and the other half is unclear, which may make detection difficult. However, the height X and the width Y of the semi-parabolic curve 18 in the clear portion can be calculated from the starting point (x 1, y 1 ) to the midpoint (x 3, y 3 ). Then, in the case of a typical parabolic curve, the X / Y ratio has a certain value. On the other hand, the ribbon overlap 17a in FIG. 2 is an arcuate connection, and the x value does not change so much. The crushed parabolic curve 19 as shown in FIG. 3 is obtained, and the ratio X / Y of the height X and the width Y is small. Therefore, by comparing the ratio X / Y of the height X and the width Y of at least the semi-parabolic curve, it is possible to discriminate the traverse and the ribbon overlap. Therefore, an empirical predetermined value β is set, and when the ratio X / Y is larger than the predetermined value β, it is judged as the crossover, and it is distinguished from the ribbon overlap.
【００１３】 また、図３において、一つのリボンが小さな半放物線状曲線１９′として検出 される場合があり、この比Ｘ／Ｙがたまたま大きいと綾落ちと認識する恐れがあ るパッケージについては、高さＸ又は幅Ｙが所定値γより大きいという条件を加 重的に付け加えると、一層確実に綾落ちが検出できる。Further, in FIG. 3, one ribbon may be detected as a small semi-parabolic curve 19 ′, and if the ratio X / Y happens to be large, there is a risk that it will be recognized as a twill drop. If the condition that the height X or the width Y is larger than the predetermined value γ is added in a weighted manner, the traverse can be detected more reliably.
【００１４】[0014]
本考案の検査装置は、パッケージ回転に伴うＣＣＤラインセンサの位置情報を ２値化する２値化回路と、この２値化回路を経て認識される半放物線状曲線の高 さと幅の比を算出する算出回路と、この比の値と所定値とを比較する比較回路と を備えてなるものであり、直線的な綾落ちは深い放物線状曲線となり、リボン重 なりは浅い放物線状曲線になるという差に着目し、更に少なくとも半分の放物線 状曲線が鮮明であることに着目し、放物線状曲線の高さと幅の比により綾落ちと リボン重なりとを区別するので、パッケージが品質的に問題となる綾落ちと、問 題とならないリボンとを区別して検出することができる。 The inspection apparatus of the present invention calculates a binarization circuit for binarizing the position information of the CCD line sensor accompanying the rotation of the package and the ratio of the height to the width of the semi-parabolic curve recognized through this binarization circuit. And a comparison circuit that compares the value of this ratio with a predetermined value.The linear traverse is a deep parabolic curve, and the ribbon overlap is a shallow parabolic curve. Paying attention to the difference, and further focusing on the fact that at least half of the parabolic curve is clear, and the ratio of the height to the width of the parabolic curve distinguishes between the cross-over and the ribbon overlap, the packaging becomes a quality problem. It is possible to distinguish between twill and ribbon that does not cause a problem.
【図１】図１は本考案の検査装置の要部を示す図であ
る。FIG. 1 is a diagram showing a main part of an inspection apparatus of the present invention.
【図２】図２はパッケージ端面の綾落ちとリボン重なり
の状態図である。FIG. 2 is a diagram showing a state in which a package end face is traversed and a ribbon is overlapped.
【図３】図３は綾落ちとリボン重なりの放物線状曲線の
グラフ図である。FIG. 3 is a graph of a parabolic curve of crossover and ribbon overlap.
【図４】図４は検査装置の全体図である。FIG. 4 is an overall view of the inspection device.
【図５】図５は従来の検査装置の要部を示す図である。FIG. 5 is a diagram showing a main part of a conventional inspection apparatus.
３ トレイ（回転可能な支持装置） ６ 駆動ローラ ８ 光源 ９ ＣＣＤラインセンサ １８ 半放物線状曲線 ２３ 算出回路 ２４ 比較回路 3 Tray (rotatable support device) 6 Drive roller 8 Light source 9 CCD line sensor 18 Semi-parabolic curve 23 Calculation circuit 24 Comparison circuit
─────────────────────────────────────────────────────
─────────────────────────────────────────────────── ───
【手続補正書】[Procedure amendment]
【提出日】平成４年７月１３日[Submission date] July 13, 1992
【手続補正１】[Procedure Amendment 1]
【補正対象書類名】明細書[Document name to be amended] Statement
【補正対象項目名】請求項１[Name of item to be corrected] Claim 1
【補正方法】変更[Correction method] Change
【補正内容】[Correction content]
Claims (1)
置と、該支持装置により回転されるパッケージ端面の直
径方向を照射する光源と、パッケージ端面の綾落ちやリ
ボンの反射光を読み取るＣＣＤラインセンサと、パッケ
ージ回転に伴うＣＣＤラインセンサの位置情報を２値化
する２値化回路と、この２値化回路を経て認識される半
放物線状曲線の高さと幅の比を算出する算出回路と、こ
の比の値と所定値とを比較する比較回路とを備えてなる
パッケージ検査装置。1. A support device for rotatably supporting a package, a light source for irradiating a package end face in a diameter direction rotated by the support device, and a CCD line sensor for reading the package end face's traverse and the reflected light of a ribbon. , A binarization circuit for binarizing the position information of the CCD line sensor due to the package rotation, and a calculation circuit for calculating the height-width ratio of the semi-parabolic curve recognized through the binarization circuit, A package inspection device comprising a comparison circuit for comparing a ratio value with a predetermined value.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1991058568U JPH0750371Y2 (en) | 1991-06-28 | 1991-06-28 | Package inspection device |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1991058568U JPH0750371Y2 (en) | 1991-06-28 | 1991-06-28 | Package inspection device |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0585766U true JPH0585766U (en) | 1993-11-19 |
| JPH0750371Y2 JPH0750371Y2 (en) | 1995-11-15 |
Family
ID=13088051
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1991058568U Expired - Lifetime JPH0750371Y2 (en) | 1991-06-28 | 1991-06-28 | Package inspection device |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0750371Y2 (en) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2015044602A (en) * | 2013-08-27 | 2015-03-12 | 株式会社フジシールインターナショナル | Method to detect seam in label continuous body, and label continuous body |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5430943A (en) * | 1977-08-09 | 1979-03-07 | Mitsubishi Rayon Co | Appearance inspecting apparatus of sliver winding |
| JPS5920592A (en) * | 1982-07-08 | 1984-02-02 | ロ−ベルト・ボツシユ・ゲゼルシヤフト・ミツト・ベシユレンクテル・ハフツング | Pump |
-
1991
- 1991-06-28 JP JP1991058568U patent/JPH0750371Y2/en not_active Expired - Lifetime
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Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0750371Y2 (en) | 1995-11-15 |
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|---|---|---|---|
| EXPY | Cancellation because of completion of term |