JPH0581701U - 蛍光ｘ線分析試料の位置制御装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】 ガラスビード試料の中心位置を正確にマニピ
ュレータで吸着し、蛍光Ｘ線分析容器の中心位置に正確
に収納させる。 【構成】 搬送コンベア１上のマニピュレータ３上流側
に設けたガラスビード試料２の位置検出器４と、マニピ
ュレータ下流側搬送コンベア上にガラスビード試料２の
搬送方向と直交する方向の中心がマニピュレータ３の中
心に位置するよう配設した停止板５と、位置検出器４で
測定されたガラスビード試料２の搬送方向中心位置と基
準位置との偏差を求めてマニピュレータ制御部７に出力
するずれ検出部６とからなる。 【効果】 常に精度よく蛍光Ｘ線分析を実施できると共
に、蛍光Ｘ線分析の前処理の自動化、省力化を図ること
ができる。

Description

【考案の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】

この考案は、ガラスビード試料の蛍光Ｘ線分析を自動化するための試料の前処 理における位置制御装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】

最近、鉱石類、スラグ類、フラックス類、煉瓦等の粉状鉱物類および酸化物系 粉状試料を蛍光Ｘ線分析するための試料の調整法として、その粉状鉱物類などを 適当な融解剤（Ｎａ₂Ｂ₄Ｏ₇、Ｌｉ₂Ｂ₄Ｏ₇）と共に加熱溶融して均一な溶湯とし たのち、冷却固化させるというガラスビード法が多く採用されている。 この方法は、迅速性に優れている蛍光Ｘ線分析法を有効に活用するためのもの で、試料を微粉砕して加圧成形するブリケット法に比較し、共存元素による吸収 、励起効果、鉱物学的な偏析、試料の粒度および粒度分布、加圧条件などの影響 が解消あるいは軽減され、分析精度が大幅に改善できるためあらゆる分野で広く 用いられている。

【０００３】 通常蛍光Ｘ線分析は、標準試料群を用いて目的元素の回折角度位置でバックグ ラウンドと蛍光Ｘ線を含めたＸ線強度を一定時間測定し、その積分Ｘ線強度（以 下Ｘ線強度という）と標準値との関係から検量線を作成しておき、分析試料の目 的元素のＸ線強度を同じ条件で測定し、その検量線から分析値を求めるものであ る。 上記蛍光Ｘ線分析における前処理は、採取した試料を粉砕し、試料缶に所定量 を切出し、所定量のバインダーを加えたのち、ルツボに移して溶融炉に装入して 溶湯としたのち、試料に応じ予熱されたモールドにルツボから溶湯を流し込み、 これを冷却してモールドから剥離してガラスビード試料を得る。 このガラスビード試料は、Ｘ線分析容器に収納したのち、Ｘ線マスクと称する 蓋を装着し、蛍光Ｘ線分析に供するのである。

【０００４】 上記蛍光Ｘ線分析における前処理の自動化を実施する場合は、採取した試料を ガラスビード化し、ガラスビード試料をＸ線分析容器に自動収納することが必要 である。 この前処理のうち、採取した試料のガラスビード化の自動化は、汎用品がある ため、ガラスビード試料をＸ線分析容器に収納するかが、大きなポイントとなっ ている。例えば、ガラスビード試料をコンベアで搬送し、マニピュレータを用い てコンベア上のガラスビード試料を吸着したのち、Ｘ線分析容器ストックテーブ ルのＸ線分析容器上まで移動させ、Ｘ線分析容器の中心位置に正確に上面が平行 にセットしてガラスビード試料を解放し、しかるのち別のマニピュレータを用い て蓋を装着したのち、蛍光Ｘ線分析室にコンベアにより搬送することにより自動 化できる。

【０００５】

【考案が解決しようとする課題】

従来、ガラスビード試料のＸ線分析容器への収納は、人手作業で行なっていた ため、ガラスビード試料をＸ線分析容器の中心位置に正確に上面が平行にセット されていた。 しかし、コンベアで搬送されたガラスビード試料を、マニピュレータを用いて 吸着したのち、所定位置に置かれたＸ線分析容器上まで移動させ、Ｘ線分析容器 に収納する場合、コンベアで搬送されたガラスビード試料は、マニピュレータで の吸着位置における位置が一定せずにずれが発生し、ガラスビード試料の中心を 常に正確に吸着することは不可能である。 このため、Ｘ線分析容器に収納されたガラスビード試料は、Ｘ線分析容器の中 心に正確に収納できず、また上面を平行にセットできず、分析精度が悪化すると いう欠点がある。

【０００６】 この考案の目的は、前記コンベアで搬送されたガラスビード試料の中心位置を 正確にマニピュレータで吸着し、蛍光Ｘ線分析容器中心位置に正確に、上面が平 行に収納できる蛍光Ｘ線分析試料の位置制御装置を提供することにある。

【０００７】

【課題を解決するための手段】

本考案者らは、上記目的を達成すべく鋭意検討を重ねた。その結果、コンベア で搬送されたガラスビード試料をマニピュレータで吸着する前に、ガラスビード 試料の位置を検出して基準位置からのずれを求め、該ずれ量に基いてマニピュレ ータの停止基準位置を補正することによって、ガラスビード試料中心をマニピュ レータで吸着できるとの結論に至り、この考案に到達した。

【０００８】 すなわちこの考案は、蛍光Ｘ線分析に供するガラスビード試料を搬送する搬送 コンベアと、該搬送コンベアを直角に横切り、Ｘ線分析容器ストックテーブル間 を移動自在のマニピュレータと、搬送されたガラスビード試料を吸着してＸ線分 析容器に収納させるマニピュレータ制御部とからなる蛍光Ｘ線分析試料前処理装 置において、搬送コンベアのマニピュレータ上流側上部に設けたガラスビード試 料の位置検出器と、マニピュレータ下流側搬送コンベア上にガラスビード試料の 搬送方向と直交する方向の中心がマニピュレータの中心に位置するよう配設した 停止板と、位置検出器で測定されたガラスビード試料の搬送方向中心位置と基準 位置との偏差を求めてマニピュレータ制御部に出力するずれ検出部とからなる。

【０００９】

【作用】

この考案においては、蛍光Ｘ線分析前処理装置の搬送コンベアのマニピュレー タ上流側上部にガラスビード試料の位置検出器を設け、マニピュレータ下流側搬 送コンベア上にガラスビード試料の搬送方向と直交する方向の中心がマニピュレ ータの中心に位置するよう停止板を配設し、位置検出器で検出されたガラスビー ド試料の搬送方向中心位置と基準位置との偏差を求めてマニピュレータ制御部に 出力するずれ検出部を設けたから、マニピュレータによるガラスビード試料の吸 着に先立ち、位置検出器により検出された搬送中のガラスビード試料の搬送方向 中心位置と基準位置との偏差（ずれ量）がずれ検出部からマニピュレータ制御部 に出力される。マニピュレータ制御部は、入力されるずれ量に基いてマニピュレ ータのガラスビード試料の吸着位置を補正し、ガラスビード試料を吸着するから 、常に正確にガラスビード試料の中心を吸着することができる。

【００１０】 したがって、マニピュレータで吸着したガラスビード試料は、Ｘ線分析容器ス トックテーブルのＸ線分析容器の中心に正確に、しかも上面平行に収納すること ができる。 この考案におけるガラスビード試料の中心位置を検出する位置検出器としては 、搬送中のガラスビード試料の中心位置を検出できるものであればよく、特に限 定されないが、例えばレーザー距離計、超音波距離計、ＣＣＤカメラ等を使用す ることができる。

【００１１】

【実施例】

以下にこの考案の詳細を実施の一例を示す図１ないし図６に基いて説明する。 図１はこの考案の要部概略説明図、図２はこの考案の要部平面図、図３は搬送コ ンベア上のガラスビード試料の位置検出の状態を示すもので、（ａ）図は先端部 、（ｂ）図は搬送方向中心部、（ｃ）図は後端部、図４は距離計の出力例を示す グラフ、図５はずれ量の有無の状態を示す模式図で、（ａ）図はずれ無し、（ｂ ）図はずれ発生時、図６はずれ量検出式の原理説明図である。 図１、図２において、１はガラスビード試料の搬送コンベア、２は搬送コンベ ア１上のガラスビード試料、３はガラスビード試料２を吸着して図示しないＸ線 分析容器ストックテーブルへ搬送し、Ｘ線分析容器内中心にガラスビード試料２ を収納するマニピュレータ、４はマニピュレータ３の上流に設けたガラスビード 試料２の位置を検出するレーザ距離計、５はマニピュレータ３の下流側の搬送コ ンベア１上にガラスビード試料２の搬送方向の中心がマニピュレータ３の移動方 向中心に位置するよう配設した停止板、６はレーザ距離計４から入力される位置 情報に基き、搬送中のガラスビード試料２の搬送方向と直交する方向の基準位置 とのずれ量を演算し、マニピュレータ制御部７に出力するずれ検出器である。マ ニピュレータ制御部７は、ずれ検出器６から入力されるずれ量に基いてマニピュ レータ３の停止位置を補正し、ガラスビード試料２の中心位置にマニピュレータ ３を停止させ、ガラスビード試料２を吸着したのち、マニピュレータ３をＸ線分 析容器ストックテーブルへ移動させ、Ｘ線分析容器内中心にガラスビード試料２ を収納させるよう構成されている。

【００１２】 レーザ距離計４による搬送コンベア１上でのガラスビード試料２の位置検出は 、図３および図４に示すとおり、レーザ距離計４の高さ位置からガラスビード試 料２の上面までの距離を測定し、ずれ検出器６に出力する。ずれ検出器６は、レ ーザ距離計４から入力されるレーザ距離計４の高さ位置からガラスビード試料２ の上面までの距離と搬送コンベア１の速度に基いてレーザ距離計４によるガラス ビード試料２の測定長さを演算し、この演算した測定長さとガラスビード試料２ の半径、レーザ距離計４設置位置の基準位置からのずれ長さに基いて、搬送方向 と直交する方向のガラスビード試料２の基準位置とのずれ量を演算する。 演算は、図６に示すとおり、レーザ距離計４設置位置の基準位置からのずれ長 さ：Ｋ、ガラスビード試料２の半径：Ｒ、ガラスビード試料２の測定長さの１／ ２：ｘ、ずれ量：Ｌとすれば、 Ｒ²＝（Ｋ−Ｌ）²＋ｘ² であるから、次式により演算することができる。 Ｌ＝Ｋ−√（Ｒ²−ｘ²）

【００１３】 ガラスビード試料２の搬送方向Ｘと直交する方向Ｙのずれは、レーザ距離計４ 設置位置を、図５に示すとおり、基準位置（正常時のガラスビード試料２の中心 位置）からずらしているため、正常時より短いとＹ＋方向へ、正常時より長いと Ｙ−方向へずれていることとなる。 また、ガラスビード試料２の搬送方向Ｘについては、マニピュレータ３の中心 に停止するよう停止板５を設けたから、機械的にガラスビード試料２の搬送方向 Ｘの中心をマニピュレータ３の中心に停止させることができる。 したがって、ずれ検出器６により演算されたずれ量Ｌをマニピュレータ制御部 ７に出力することにより、常に正確にマニピュレータ３をガラスビード試料２の 中心に位置させ、ガラスビード試料２の中心を吸着することができる。このため 、Ｘ線分析容器の中心に正確にガラスビード試料２を収納でき、常に精度よく蛍 光Ｘ線分析を実施できる。

【００１４】

【考案の効果】

以上述べたとおり、この考案によれば、蛍光Ｘ線分析に供するガラスビード試 料を、Ｘ線分析容器の中心に正確に収納させることができ、常に精度よく蛍光Ｘ 線分析を実施できると共に、蛍光Ｘ線分析の前処理の自動化を達成することがで き、省力化を図ることができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】この考案の要部概略説明図である。

【図２】この考案の要部平面図である。

【図３】搬送コンベア上のガラスビード試料の位置検出
の状態を示すもので、（ａ）図は先端部、（ｂ）図は搬
送方向中心部、（ｃ）図は後端部の位置検出の状態図で
ある。

【図４】レーザ距離計の出力例を示すグラフである。

【図５】ずれ量の有無の状態を示す模式図で、（ａ）図
はずれ無し、（ｂ）図はずれ発生時の模式図である。

【図６】ずれ量検出式の原理説明図である。

【符号の説明】

１ 搬送コンベア ２ ガラスビード試料 ３ マニピュレータ ４ レーザ距離計 ５ 停止板 ６ ずれ検出器 ７ マニピュレータ制御部

Claims (1)

【実用新案登録請求の範囲】
1. 【請求項１】 蛍光Ｘ線分析に供するガラスビード試料
   を搬送する搬送コンベアと、該搬送コンベアを直角に横
   切り、Ｘ線分析容器ストックテーブル間を移動自在のマ
   ニピュレータと、搬送されたガラスビード試料を吸着し
   てＸ線分析容器に収納させるマニピュレータ制御部とか
   らなる蛍光Ｘ線分析試料前処理装置において、搬送コン
   ベアのマニピュレータ上流側上部に設けたガラスビード
   試料の位置検出器と、マニピュレータ下流側搬送コンベ
   ア上にガラスビード試料の搬送方向と直交する方向の中
   心がマニピュレータの中心に位置するよう配設した停止
   板と、位置検出器で測定されたガラスビード試料の搬送
   方向中心位置と基準位置との偏差を求めてマニピュレー
   タ制御部に出力するずれ検出部とからなる蛍光Ｘ線分析
   試料の位置制御装置。