CN109490348A - Xrf探测器及用于xrf探测器的标样校准装置 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种XRF探测器及用于XRF探测器的标样校准装置。标样校准装置包括：第一驱动装置，用于连接并驱动探测器本体运动；支撑盘，支撑盘设有若干个用于固定连接标准样品的样品安装结构；连接于支撑盘的第二驱动装置，用于驱动支撑盘运动；信号连接第一驱动装置与第二驱动装置的控制器，用于控制第一驱动装置与第二驱动装置的启停，以通过第一驱动装置与第二驱动装置的驱动使选定的标准样品对准探测器本体的测试位。通过该标样校准装置的使用，标准样品可以均设置在支撑盘上，第一驱动装置与第二驱动装置的驱动即可使选定的标准样品运动到测试位，无需像现有技术中逐一人工放置标准样品于测试位，可以提高校准工作的效率。

Description

XRF探测器及用于XRF探测器的标样校准装置

技术领域

本发明涉及应用XRF技术的设备领域，特别涉及一种XRF探测器及用于XRF探测器的标样校准装置。

背景技术

目前XRF(X射线荧光光谱分析，X Ray Fluorescence)技术已经被成功应用到多个领域，如环境(土壤元素分析，燃烧灰元素分析)、食品(各种食物中元素分析，饲料中元素分析)、化学(涂料元素分析，石油元素分析)、金属非金属(各种矿石，贵金属组成物)、电子电气产品(电子电气零部件有害物质分析)等。

XRF技术基于物理学基础，利用灯丝产生的高能电子束激发靶材产生的X射线照射样品产生次级特征X射线，这些特征X射线的能量强度不同，其强度与元素为一一对应关系，且其强度与元素的浓度呈正相关，因此，通过XRF技术可以对样品进行定性和定量分析。

为了获得好的重复性和准确性，需要建立浓度和X射线强度的关系的标准曲线。目前，对于应用XRF技术检测样品元素的XRF探测器，一般是内置样品曲线数据库。

然而，随着时间的推移，XRF探测器中接收器等电子电气元件会发生老化，对仪器的稳定性及仪器的分辨能力都会产生漂移，致使以内置的标准曲线得到的测试结果与真实结果存在偏差，因而需要在XRF探测器使用一段时间后对标准曲线进行校准。

目前一种典型的校准方式为人工将样品逐一放在XRF探测器上进行校准工作，以生成校准曲线，校准工作耗费的时间较长、效率较低。

因此，如何提高校准效率，是本领域技术人员目前需要解决的技术问题。

发明内容

有鉴于此，本发明的目的是提供一种用于XRF探测器的标样校准装置，校准工作的效率较高。本发明的另一目的是提供一种包括上述标样校准装置的XRF探测器，其校准工作的效率较高。

为实现上述目的，本发明提供如下技术方案：

一种用于XRF探测器的标样校准装置，包括：

第一驱动装置，用于连接并驱动探测器本体运动；

支撑盘，所述支撑盘设有若干个用于固定连接标准样品的样品安装结构；

连接于所述支撑盘的第二驱动装置，用于驱动所述支撑盘运动；

信号连接所述第一驱动装置与所述第二驱动装置的控制器，用于控制所述第一驱动装置与所述第二驱动装置的启停，以通过所述第一驱动装置与所述第二驱动装置的驱动使选定的标准样品对准探测器本体的测试位。

优选地，还包括滑块，所述滑块滑动连接于直线导轨，所述滑块上设有用于固定连接探测器本体的探测器连接结构，所述第一驱动装置连接于所述滑块，以驱动所述滑块在所述直线导轨上滑动。

优选地，所述支撑盘与所述直线导轨平行设置，所述第二驱动装置为旋转驱动装置，所述支撑盘的旋转中心位置固定连接于所述第二驱动装置的输出轴，所述第二驱动装置的输出轴垂直于所述支撑盘，以通过所述第二驱动装置驱动所述支撑盘转动来调节标准样品与所述直线导轨的垂直距离。

优选地，所述支撑盘上设有用于检测所述样品安装结构的位置的样品位置传感器，所述样品位置传感器信号连接于所述控制器。

优选地，所有所述样品安装结构分为若干个安装结构组，每个所述安装结构组中的所有所述样品安装结构沿着以所述旋转中心位置为圆心的圆圈轨迹依次设置，各所述安装结构组对应的所述圆圈轨迹的半径不同，以使所有所述样品安装结构以所述旋转中心位置为中心呈蛛网状排布。

优选地，所有所述样品位置传感器依次设于一个以所述旋转中心位置为圆心的圆圈轨迹上；周向上每个位置的所述样品安装结构均对应设有所述样品位置传感器。

优选地，所述直线导轨上设有用于对探测器本体在所述直线导轨的延伸方向上的位置进行定位的探测器位置传感器，所述探测器位置传感器信号连接于所述控制器；所述样品安装结构与所述旋转中心位置的径向距离为安装距离，每个所述安装距离下的所述样品安装结构均对应设有所述探测器位置传感器。

优选地，所述支撑盘上还设有零位传感器，所述零位传感器信号连接于所述控制器，所述控制器能够根据所述零位传感器的检测确定所述支撑盘是否旋转一周。

优选地，两个所述直线导轨平行设于所述支撑盘的两侧，其中一个所述直线导轨上的所述滑块用于固定连接探测器本体的一端，另一个所述直线导轨上的所述滑块用于固定连接探测器本体的另一端。

一种XRF探测器，包括探测器本体和测试室，还包括如上述任一项所述的标样校准装置，所述标样校准装置设于所述测试室中，所述测试室上设有测试窗口，以使所述探测器本体通过所述测试窗口对待测产品进行测试。

本发明提供的用于XRF探测器的标样校准装置，包括：第一驱动装置，用于连接并驱动探测器本体运动；支撑盘，支撑盘设有若干个用于固定连接标准样品的样品安装结构；连接于支撑盘的第二驱动装置，用于驱动支撑盘运动；信号连接第一驱动装置与第二驱动装置的控制器，用于控制第一驱动装置与第二驱动装置的启停，以通过第一驱动装置与第二驱动装置的驱动使选定的标准样品对准探测器本体的测试位。

通过该标样校准装置的使用，标准样品可以均设置在支撑盘上，第一驱动装置与第二驱动装置的驱动即可使选定的标准样品运动到测试位，无需像现有技术中逐一人工放置标准样品于测试位，能够极大提高校准工作的效率，尤其是在XRF探测器由于使用时长的增加后，需要测试的频率也会增加，运用该标样校准装置提高工作效率的结果也更加明显。

本发明提供的包括上述标样校准装置的XRF探测器，其校准工作的效率较高。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据提供的附图获得其他的附图。

图1为本发明所提供标样校准装置在待机模式下的俯视图(隐藏控制器)；

图2为本发明所提供标样校准装置在校准模式下的俯视图(隐藏第一驱动装置和控制器)；

图3为本发明所提供标样校准装置在测试模式下的俯视图(隐藏第一驱动装置和控制器)；

图4为本发明所提供标样校准装置的后视图(隐藏第一驱动装置、控制器和探测器本体)；

图5为本发明所提供标样校准装置的侧视图；

图6为本发明所提供标样校准装置中支撑盘的俯视图。

图1至图6中：

1-第一直线导轨，2-第一滑块，3-第一探测器位置传感器，4-第二探测器位置传感器，5-第三探测器位置传感器，6-第四探测器位置传感器，7-第五探测器位置传感器，8-支撑盘，9-旋转中心位置，10-标准样品，11-测试室挡板，12-测试窗口，13-第二滑块，14-第二直线导轨，15-探测器本体，16-第二驱动装置，17-样品位置传感器，18-零位传感器，19-第一驱动装置，20-控制器，21-样品安装结构。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

本发明的核心是提供一种用于XRF探测器的标样校准装置，校准工作的效率较高。本发明的另一核心是提供一种包括上述标样校准装置的XRF探测器，其校准工作的效率较高。

本发明所提供用于XRF探测器的标样校准装置的一种具体实施例中，请参考图1至图6，包括第一驱动装置19、支撑盘8、第二驱动装置16和控制器20。第一驱动装置19用于连接并驱动探测器本体15运动。支撑盘8上设有若干个用于固定连接标准样品10的样品安装结构21，样品安装结构21用于固定连接标准样品，通过探测器本体对标准样品的测试生成校准曲线，以校准同种标准样品对应的标准曲线。第二驱动装置16连接于支撑盘8，第二驱动装置16用于驱动支撑盘8运动。控制器20信号连接第一驱动装置19与第二驱动装置16，控制器20用于控制第一驱动装置19与第二驱动装置16的启停，以通过第一驱动装置19与第二驱动装置16的驱动使选定的标准样品10运动至对准探测器本体15的测试位。

其中，控制器20可以与探测器本体15中的控制***信号连接，或者直接整合于探测器本体15中的控制***中，当然，控制器20与探测器本体15中的控制***还可以各自独立进行控制。控制器20对于第一驱动装置19和第二驱动装置16的控制，具体可以由工作人员在线操作，或者由控制器20内预制的程序进行控制。

在校准工作中，所有需要测试的标准样品10可以均固定在支撑盘8上，探测器本体15连接于第一驱动装置19上。标准样品10可能有一个或者至少两个，在支撑盘8上放置的标准样品10可能是不同种类的。

在标准样品10有至少两个的情况下，标准样品10可以逐一作为选定的标准样品10进行校准。具体地，先选定支撑盘8上的一个标准样品10作为选定标准样品，第一驱动装置19驱动探测器本体15运动，第二驱动装置16驱动支撑盘8运动，直至选定标准样品运动至探测器本体15的测试位，然后开始测试校准工作。在该选定标准样品的测试校准工作完成后，选定支撑盘8上的另一个标准样品10重复以上操作，直至完成所有标准样品10的测试校准工作。在测试校准工作中，测试数据会由XRF探测器的控制***处理后生成最佳校准曲线。

通过该标样校准装置的使用，标准样品10可以均设置在支撑盘8上，第一驱动装置19与第二驱动装置16的驱动即可使选定的标准样品10运动到测试位，无需像现有技术中逐一人工放置标准样品10于测试位，能够极大提高校准工作的效率，尤其是在XRF探测器随着使用时长的增加后，需要测试的频率也会增加，运用该标样校准装置提高工作效率的结果也更加明显。

在上述实施例的基础上，该标样校准装置还可以包括滑块，滑块滑动连接在直线导轨上，滑块上设置有探测器连接结构，探测器连接结构用于固定连接探测器本体15。可选地，探测器连接结构可以为卡接结构、夹具或者其他连接件。第一驱动装置19连接于滑块，以驱动滑块在直线导轨上滑动。也就是说，探测器本体15上的测试位是沿着直线导轨延伸的直线方向移动的，进而便于确定标准样品10的运动路径。

可选地，第一驱动装置19可以为电机、气缸或者其他驱动器。

在上述实施例的基础上，支撑盘8与直线导轨可以平行设置，第二驱动装置16为旋转驱动装置，支撑盘8的旋转中心位置9固定连接于第二驱动装置16的输出轴，第二驱动装置16的输出轴垂直于支撑盘8，以通过第二驱动装置16驱动支撑盘8转动来调节标准样品10与直线导轨的垂直距离。优选地，支撑盘8为圆盘，旋转中心位置9为该支撑盘8的圆心。

由于滑块在直线导轨上是沿着直线导轨延伸的直线方向滑动的，固定在滑块上的探测器本体15的测试位与直线导轨之间的垂直距离是不变的。其中，对于探测器本体15，通常设置发射器和接收器的区域为测试位。在选定标准样品10后，第二驱动装置16驱动支撑盘8转动以调节选定的标准样品10与直线导轨之间的垂直距离至与测试位和直线导轨两者之间的垂直距离相等，同时，调节滑块在直线导轨上的位置，使测试位在直线导轨的延伸方向上与选定的标准样品10的位置相同。

具体可以参考图1，在该图中，测试位的中心位于与直线导轨平行的线A上。在测试校准选定的选定标准样品10’时，第二驱动装置16驱动支撑盘8顺时针旋转使选定标准样品10’的中心落于线A上，选定标准样品10’的中心会落于线A上的B点，第一驱动装置19驱动探测器本体15向右运动至测试位位于B点，从而使选定标准样品10’对准探测器本体15的测试位，可以进行校准工作。

采用支撑盘8的旋转配合滑块的直线滑动，可以方便地实现支撑盘8上不同位置的标准样品10的位置调整，同时有利于节约标样校准装置的占用空间。

在上述实施例的基础上，支撑盘8上可以设置用于检测样品安装结构21的位置的样品位置传感器17，样品位置传感器17信号连接于控制器20。

可选地，样品位置传感器17可以为反光板式光电传感器，反光板式光电传感器包括反光板式光电传感器本体和遮光板。每个样品安装结构21处可以对应设置一个反光板式光电传感器本体，相应地，在与直线导轨至测试位的垂直距离相同距离的位置可以设置遮光板，反光板式光电传感器本体可以与对应的遮光板配合作为开关。当反光板式光电传感器本体运动至对应的遮光板位置时，控制器20控制第二驱动装置16停止运行以使支撑盘8停止运动，测试位上落有标准样品10。其中，遮光板相对于直线导轨位置固定。另外，与旋转中心位置9距离相同的样品安装结构21可以对应与同一个遮光板。又或者，上述样品位置传感器17可以由反光板式光电传感器替换为霍尔传感器，反光板式光电传感器本体替换为霍尔传感器本体，相应地，遮光板替换为磁铁，同样能够检测样品安装结构21的位置，进而使控制器20根据霍尔传感器的信号控制第二驱动装置16停止运行。当然，样品位置传感器17还可以进行其他设置。

可选地，样品位置传感器17可以设置在支撑盘8的第一侧面上，样品安装结构21设置在支撑盘8上与第一侧面相对的第二侧面上。另外，样品安装结构21与探测器本体15可以分别设置在支撑盘8的两侧，而支撑盘8具体可以选用X光能够透射的材料制作，或者在支撑盘8上贯穿设有透光孔，以使探测器本体15的X光能够透过透光孔照射到标准样品10上。

在上述实施例的基础上，所有样品安装结构21可以被分为若干个安装结构组，每个安装结构组中的所有样品安装结构21沿着以旋转中心位置9为圆心的圆圈轨迹依次设置，各安装结构组对应的圆圈轨迹的半径不同，如图2所示，所有样品安装结构21以旋转中心位置9为中心呈蛛网状排布。其中，安装结构组可以设置一个、两个或者多于两个。

本实施例中，由于同一安装结构组中的样品安装结构21与旋转中心位置9的距离是相同的，支撑盘8转动一圈，探测器本体的位置可以不变，可以对一个安装结构组上的标准样品10依次进行测试，便于操作。

在上述实施例的基础上，所有所述样品位置传感器17可以依次设于一个以所述旋转中心位置9为圆心的圆圈轨迹上，周向上每个位置的样品安装结构21均对应设有样品位置传感器17。其中，以旋转中心位置为起点沿径向做射线，在同一射线上的样品安装结构21的周向位置相同。周向位置相同的样品安装结构21可以由同一个样品位置传感器17进行定位，可以减少样品位置传感器17的设置数量，以节约制作成本。

在上述实施例的基础上，直线导轨上可以设置用于探测器本体15在直线导轨的延伸方向上的位置进行定位的探测器位置传感器，探测器位置传感器信号连接于控制器20。样品安装结构21与旋转中心位置9的径向距离为安装距离，每个安装距离下的样品安装结构21分别对应设有探测器位置传感器。

其中，安装距离与探测器位置传感器的对应指的是，以旋转中心位置9起向直线导轨做垂线S，直线导轨上，与该垂线S相距每个安装距离下均对应设有探测器位置传感器。具体可以参考图2，第一个安装结构组D中的样品安装结构21与旋转中心位置9的距离为F，相应地，与此第一安装结构组D相对应的第一探测器位置传感器3与垂线S的垂直距离同样为F；第二个安装结构组C中的样品安装结构21与旋转中心位置9的距离为G，相应地，与此第二安装结构组C相对应的第二探测器位置传感器4与垂线S的垂直距离同样为G。

其中，探测器位置传感器具体可以为反光板式光电传感器，反光板式光电传感器包括反光板式光电传感器本体和遮光板，反光板式光电传感器本体设置在直线导轨上，相应地，滑块上可以设置遮光板，通过遮光板与反光板式光电传感器本体的配合向控制器20传递信号，使控制器20生成控制指令以控制第一驱动装置19停止运行，从而对探测器本体15沿直线导轨的延伸方向进行定位。当然，探测器位置传感器还可以为霍尔传感器或者其他传感装置。

其中，探测器位置传感器的数量可以根据实际需要设置，具体可以为一个、两个或者至少两个。探测器位置传感器的数量优选不少于安装结构组的数量。如图2所示的实施例中，设置的安装结构组为两个，设置的探测器位置传感器依次为第一探测器位置传感器3、第二探测器位置传感器4、第三探测器位置传感器5。

采用探测器位置传感器为控制器20提供开关信号以控制第一驱动装置19的运行，控制精度较高。

在上述任一实施例的基础上，支撑盘8上还可以设置零位传感器18，该零位传感器18信号连接控制器20。控制器20能够根据零位传感器18的检测确定支撑盘8是否旋转一周。

具体地，零位传感器18可以为霍尔传感器，包括霍尔传感器本体与零位磁铁。在支撑盘8转动初始，霍尔传感器本体与零位磁铁正对，在霍尔传感器本体再一次与零位磁铁相对时，则支撑盘8转动了一周，控制器20在接收到霍尔传感器的信号后可以进一步控制第一驱动装置19启动，以进行下一个安装结构组上的标准样品10的测试。当然，零位传感器18还可以为光电传感器、光纤传感器等。

在上述任一实施例的基础上，两个直线导轨平行设于支撑盘8的两侧，如图1所示，分别为第一直线导轨和第二直线导轨。其中一个直线导轨上的滑块用于固定连接探测器本体15的一端，另一个直线导轨上的滑块用于固定连接探测器本体15的另一端，从而可以提高探测器本体15滑动的平稳性。

本发明所提供标样校准装置的一种具体使用过程如下：

如图1所示，空闲模式下，所有部件处于等待状态；

如图2所示，进入校准流程后，控制器20控制支撑盘8旋转，利用样品位置传感器17来确定支撑盘8旋转选定标准样品到校准开始位置，控制器20控制探测器本体15及第一滑块2、第二滑块13移动到第一探测器位置传感器3位置。探测器本体15开始测试校准工作。

在测试校准开始后，控制器20利用第一探测器位置传感器3、第二探测器位置传感器4、样品位置传感器17、零位传感器18等依次校准测试完支撑盘上所有的标准样品10的校准，测试数据由探测器本体15的控制***处理后生成最佳校准曲线。

测试校准结束后，控制器20控制探测器本体15、第一滑块2、第二滑块13回到中心待机位，控制器20利用第二驱动装置16、零位传感器18、样品位置传感器17等让支撑盘8回到零位进入待机模式。

本实施例中的标样校准装置，第一直线导轨1、第一滑块2、第二直线导轨14、第二滑块13、探测器位置传感器、第一驱动装置19组成直线导轨定位***，支撑盘8、第二驱动装置16、样品位置传感器17、零位传感器18组成标样校准定位***。采用移动式校准测试，通过直线导轨定位***和标样校准定位***组合，测试开始后可依次连续测试完所有的校准样品，实现用较小的空间、较少的电气部件实现多个样品校准测试，最后生成最佳的样品校准曲线用以确保仪器设备测试样品时的准确性，可靠性。

除了上述标样校准装置，本发明还提供了一种XRF探测器，包括探测器本体15、标样校准装置和测试室，其中，标样校准装置具体可以为以上任一实施例中提供的标样校准装置，有益效果可以对应参考以上各实施例。其中，标样校准装置设于测试室中，测试室上设有测试窗口12，以使探测器本体15通过测试窗口12对待测产品进行测试。标样校准装置直接设置在XRF探测器中作为XRF探测器的一部分，校准操作进行方便，可以及时获取设备元件灵敏度下降等的各项参数，有利于确保实际使用过程中测量结果的准确性与可靠性。该XRF探测器的其他各部分的结构请参考现有技术，本文不再赘述。

具体地，如图2所示，测试窗口12与支撑盘8可以沿着直线导轨的延伸方向依次设置，测试窗口12与支撑盘8可以设置在两个直线导轨之间。测试窗口12具体可以设置在测试室上的测试室挡板11上。滑块沿着直线导轨的延伸方向滑动，可以测试支撑盘8上的标准样品10以进行校准，或者透过测试窗口12对待测产品进行测试。另外，直线导轨上还可以设置与测试窗口12的位置相对的探测器位置传感器，如图2所示的第四探测器位置传感器6和第五探测器位置传感器7，以在探测器本体15运动至测试窗口12处时向控制器20发送信号，使控制器20产生控制指令使第一驱动装置19停止运动，探测器本体15上的测试位停止在测试窗口12进行测试。

本说明书中各个实施例采用递进的方式描述，每个实施例重点说明的都是与其他实施例的不同之处，各个实施例之间相同相似部分互相参见即可。

以上对本发明所提供的XRF探测器及标样校准装置进行了详细介绍。本文中应用了具体个例对本发明的原理及实施方式进行了阐述，以上实施例的说明只是用于帮助理解本发明的方法及其核心思想。应当指出，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明原理的前提下，还可以对本发明进行若干改进和修饰，这些改进和修饰也落入本发明权利要求的保护范围内。

Claims (10)

1.一种用于XRF探测器的标样校准装置，其特征在于，包括：

第一驱动装置(19)，用于连接并驱动探测器本体(15)运动；

支撑盘(8)，所述支撑盘(8)设有若干个用于固定连接标准样品(10)的样品安装结构(21)；

连接于所述支撑盘(8)的第二驱动装置(16)，用于驱动所述支撑盘(8)运动；

信号连接所述第一驱动装置(19)与所述第二驱动装置(16)的控制器(20)，用于控制所述第一驱动装置(19)与所述第二驱动装置(16)的启停，以通过所述第一驱动装置(19)与所述第二驱动装置(16)的驱动使选定的标准样品(10)对准探测器本体(15)的测试位。

2.根据权利要求1所述的标样校准装置，其特征在于，还包括滑块，所述滑块滑动连接于直线导轨，所述滑块上设有用于固定连接探测器本体(15)的探测器连接结构，所述第一驱动装置(19)连接于所述滑块，以驱动所述滑块在所述直线导轨上滑动。

3.根据权利要求2所述的标样校准装置，其特征在于，所述支撑盘(8)与所述直线导轨平行设置，所述第二驱动装置(16)为旋转驱动装置，所述支撑盘(8)的旋转中心位置(9)固定连接于所述第二驱动装置(16)的输出轴，所述第二驱动装置(16)的输出轴垂直于所述支撑盘(8)，以通过所述第二驱动装置(16)驱动所述支撑盘(8)转动来调节标准样品(10)与所述直线导轨的垂直距离。

4.根据权利要求3所述的标样校准装置，其特征在于，所述支撑盘(8)上设有用于检测所述样品安装结构(21)的位置的样品位置传感器(17)，所述样品位置传感器(17)信号连接于所述控制器(20)。

5.根据权利要求4所述的标样校准装置，其特征在于，所有所述样品安装结构(21)分为若干个安装结构组，每个所述安装结构组中的所有所述样品安装结构(21)沿着以所述旋转中心位置(9)为圆心的圆圈轨迹依次设置，各所述安装结构组对应的所述圆圈轨迹的半径不同，以使所有所述样品安装结构(21)以所述旋转中心位置(9)为中心呈蛛网状排布。

6.根据权利要求5所述的标样校准装置，其特征在于，所有所述样品位置传感器(17)依次设于一个以所述旋转中心位置(9)为圆心的圆圈轨迹上；周向上每个位置的所述样品安装结构(21)均对应设有所述样品位置传感器(17)。

7.根据权利要求5所述的标样校准装置，其特征在于，所述直线导轨上设有用于对探测器本体(15)在所述直线导轨的延伸方向上的位置进行定位的探测器位置传感器，所述探测器位置传感器信号连接于所述控制器(20)；所述样品安装结构(21)与所述旋转中心位置(9)的径向距离为安装距离，每个所述安装距离下的所述样品安装结构(21)均对应设有所述探测器位置传感器。

8.根据权利要求3至7任一项所述的标样校准装置，其特征在于，所述支撑盘(8)上还设有零位传感器(18)，所述零位传感器(18)信号连接于所述控制器(20)，所述控制器(20)能够根据所述零位传感器(18)的检测确定所述支撑盘(8)是否旋转一周。

9.根据权利要求3至7任一项所述的标样校准装置，其特征在于，两个所述直线导轨平行设于所述支撑盘(8)的两侧，其中一个所述直线导轨上的所述滑块用于固定连接探测器本体(15)的一端，另一个所述直线导轨上的所述滑块用于固定连接探测器本体(15)的另一端。

10.一种XRF探测器，包括探测器本体(15)和测试室，其特征在于，还包括权利要求1至9任一项所述的标样校准装置，所述标样校准装置设于所述测试室中，所述测试室上设有测试窗口(12)，以使所述探测器本体(15)通过所述测试窗口(12)对待测产品进行测试。