JPH0580129A - Signal output device - Google Patents

Abstract

PURPOSE:To manage tests by a single run of test execution in such a test mode as to become identical in the case the pencil of test output signal lines of a plurality of circuits of an integrated circuit remains normal, and to reduce the output terminals of the pencil of test output signal lines. CONSTITUTION:A pencil of test input signal lines is input from test input signal line pencil terminals 1a, 2a, 3a,... a to circuits 1, 2, 3,...n. The setting therein is such that the identical test output signal line pencil 1b, 2b, 3b,...nb is obtained as long as the circuits 1, 2, 3,...n operate normally. The test output signal line pencils 1b, 2b, 3b,...nn are fed to a signal line pencil identical judging circuit 20, which judges whether all are idential, and the result is given to a test output signal line pencil terminal 22. At least one system of the test output signal line pencils of the circuits 1, 2, 3,...n is led out to an external terminal 21 to serve for checking what the line pencil contains.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【０００１】[0001]

【産業上の利用分野】この発明は、集積回路の各回路の
信号を集積回路の外部端子に出力する構成に係わるもの
で、特に集積回路中の多数の信号を同時に少ない外部端
子数で検出するための信号出力装置に関する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a configuration for outputting signals of respective circuits of an integrated circuit to external terminals of the integrated circuit, and particularly for detecting a large number of signals in the integrated circuit simultaneously with a small number of external terminals. The present invention relates to a signal output device.

【０００２】[0002]

【従来の技術】集積回路を設計する際、各部の回路の動
作テストを行うテスト回路が必要となる。その際、回路
内部のテスト信号出力を同時に多数、少ない端子でテス
トできることが望まれる。2. Description of the Related Art When designing an integrated circuit, a test circuit for performing an operation test of each circuit is required. At that time, it is desired that a large number of test signal outputs inside the circuit can be tested simultaneously with a small number of terminals.

【０００３】図２は、従来用いられている集積回路１０
０中の回路動作テストを行なう場合の構成例である。テ
スト入力信号線束端子１ａ、２ａ、３ａ、…ｎａから、
回路１、２、３、…ｎにテストを行なうためのテスト入
力信号線束が入力される。ここで、回路１、２、３、…
ｎが正常に動作するならば、同一のテスト出力信号線束
１ｂ、２ｂ、３ｂ、…ｎｂが得られるように設定されて
いる。このテスト出力信号線束１ｂ、２ｂ、３ｂ、…ｎ
ｂは、信号線束選択回路１０に入力される。この信号線
束選択回路１０は、テスト出力信号線束を選択的に選び
テスト出力信号線束端子１１に出力する。FIG. 2 shows a conventionally used integrated circuit 10.
It is a configuration example in the case of performing a circuit operation test of 0. From the test input signal wire bundle terminals 1a, 2a, 3a, ...
A test input signal line bundle for performing a test is input to the circuits 1, 2, 3, ... N. Here, circuits 1, 2, 3, ...
It is set so that the same test output signal line bundles 1b, 2b, 3b, ..., Nb can be obtained if n operates normally. This test output signal wire bundle 1b, 2b, 3b, ... n
b is input to the signal line bundle selection circuit 10. The signal line bundle selection circuit 10 selectively selects a test output signal line bundle and outputs it to the test output signal line bundle terminal 11.

【０００４】従って、今、各回路１、２、３、…ｎが同
一の回路であり、テスト出力信号線束１ｂ、２ｂ、３
ｂ、…ｎｂが同一の内容となるようなテストの場合は、
信号線束選択回路１０をｎ回切り換えてそれぞれの回路
のテスト出力信号線束１ｂ、２ｂ、３ｂ、…ｎｂを見る
必要がある。つまりｎ回の同一テストを繰り返し行なう
ことになる。このようなテストでは時間がかかるため
に、一回で済ます事を考えると、ｎ倍本のテスト出力線
束端子が必要となる。Therefore, each circuit 1, 2, 3, ... N is now the same circuit, and the test output signal line bundles 1b, 2b, 3 are connected.
In the case of tests in which b, ... nb have the same content,
It is necessary to switch the signal line bundle selection circuit 10 n times to see the test output signal line bundles 1b, 2b, 3b, ... Nb of each circuit. That is, the same test is repeated n times. Since it takes time to perform such a test because it takes time, n times as many test output flux terminals are required.

【０００５】[0005]

【発明が解決しようとする課題】従来の集積回路の内部
において、ｎ個の回路のテストを行なうときに、各回路
の出力が同じテスト出力信号線束となるようにし、これ
らを監視するためには、ｎ回のテストを繰り返す必要が
あり時間がかかっている。また、同じ機能のｎ個の回路
に、同じテストパターンを通して、テスト出力信号線束
を監視する場合も、ｎ回繰り返しテストを必要とする。To test the n circuits in a conventional integrated circuit so that the outputs of the circuits have the same test output signal line bundle and to monitor them. , It takes time to repeat the test n times. Further, when the test output signal line bundle is monitored through the same test pattern through n circuits having the same function, the test needs to be repeated n times.

【０００６】そこでこの発明は、集積回路の複数の回路
のテスト出力信号線束が正常な場合には同一になるよう
なテストモードでは、１回の実行でテストを済ませるこ
とができ、かつテスト出力信号線束の出力端子も低減す
ることができる信号出力装置を提供することを目的とす
る。Therefore, according to the present invention, in the test mode in which the test output signal line bundles of a plurality of circuits of the integrated circuit are the same when the circuits are normal, the test can be completed by one execution, and the test output signal An object of the present invention is to provide a signal output device capable of reducing the number of output terminals of a wire bundle.

【０００７】[0007]

【課題を解決するための手段】この発明は、集積回路中
の各回路の出力信号を外部端子に接続する構成におい
て、前記集積回路中の各回路に前記集積回路の前記外部
端子から信号を供給する手段と、前記集積回路の各回路
の信号のうち少なくとも一系統の信号を前記集積回路の
第１の外部端子に出力する手段と、前記集積回路の各回
路の出力信号を比較し、各回路の出力信号の関係を示す
信号を前記集積回路の第２の外部端子に出力する手段と
を備える。According to the present invention, in a configuration in which an output signal of each circuit in an integrated circuit is connected to an external terminal, a signal is supplied to each circuit in the integrated circuit from the external terminal of the integrated circuit. Means for outputting at least one system signal of the signals of each circuit of the integrated circuit to the first external terminal of the integrated circuit, and an output signal of each circuit of the integrated circuit are compared, and each circuit Means for outputting to the second external terminal of the integrated circuit a signal indicating the relationship of the output signals of.

【０００８】[0008]

【作用】上記の手段により、各回路のテスト出力信号線
束が同一か否かは、前記第２の外部端子で監視すること
ができ、かつどのような内容のテスト出力信号線束が得
られているのかは第１の外部端子出力を監視することで
テストを実行することができる。With the above means, it is possible to monitor whether or not the test output signal line bundles of the respective circuits are the same by the second external terminal, and what kind of content the test output signal line bundles are obtained. Whether or not the test can be executed by monitoring the output of the first external terminal.

【０００９】[0009]

【実施例】以下、この発明の実施例を図面を参照して説
明する。Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings.

【００１０】図１はこの発明の一実施例である。１００
は集積回路であり、テスト入力信号線束端子１ａ、２
ａ、３ａ、…ｎａから、回路１、２、３、…ｎにテスト
を行なうためのテスト入力信号線束が入力される。ここ
で、回路１、２、３、…ｎが正常に動作するならば、同
一のテスト出力信号線束１ｂ、２ｂ、３ｂ、…ｎｂが得
られるように設定されている。このテスト出力信号線束
１ｂ、２ｂ、３ｂ、…ｎｂは、信号線束一致判定回路２
０に入力される。この信号線束一致判定回路２０は、テ
スト出力信号線束がすべて一致するか否かを判定してそ
の決かを外部端子２２に出力する。また、各回路１、
２、３、…ｎのテスト出力信号線束のうち少なくとも一
系統の信号線束は、集積回路の外部端子２１に導出され
る。FIG. 1 shows an embodiment of the present invention. 100
Is an integrated circuit, and the test input signal line bundle terminals 1a, 2
A test signal line bundle for performing a test is input to the circuits 1, 2, 3, ... N from a, 3a ,. Here, if the circuits 1, 2, 3, ... N operate normally, the same test output signal line bundles 1b, 2b, 3b ,. The test output signal line bundles 1b, 2b, 3b, ...
Input to 0. The signal line bundle matching determination circuit 20 determines whether or not all the test output signal line bundles match, and outputs the determination to the external terminal 22. In addition, each circuit 1,
At least one system signal line bundle among the test output signal line bundles 2, 3, ... N is led to the external terminal 21 of the integrated circuit.

【００１１】上記の構成であると、各回路１、２、３、
…ｎのテスト出力信号線束１ｂ、２ｂ、３ｂ、…ｎｂが
同一か否かは、外部端子２２で監視することができ、か
つどのような内容のテスト出力信号線束が得られている
のかは外部端子２２を監視することでテストを実行する
ことができる。With the above configuration, each circuit 1, 2, 3,
Whether or not the test output signal wire bundles 1b, 2b, 3b, ... Nb of n are the same can be monitored by the external terminal 22, and what kind of content the test output signal wire bundle is obtained is external. The test can be performed by monitoring the terminal 22.

【００１２】さらに、各回路１、２、３、…ｎへ入力す
るテスト入力信号線束のパターンが同一でよい場合は、
テスト入力信号線束端子１ａ、２ａ、３ａ、…ｎａを１
つのまとめることもできる。また、各回路１、２、３、
…ｎのテスト出力信号線束１ｂ、２ｂ、３ｂ、…ｎｂは
必ずしもテスト結果が同一になるものである必要はな
く、判定回路２０へ入力する前に、適当な論理回路によ
り同一内容にデコードされてもよい。ただし、回路が正
常動作した場合である。Further, when the patterns of the test input signal line bundles input to the respective circuits 1, 2, 3, ...
Test input signal wire bundle terminals 1a, 2a, 3a, ...
You can put them together. In addition, each circuit 1, 2, 3,
The test output signal line bundles 1b, 2b, 3b, ... Nb of n do not necessarily have the same test result, and are decoded into the same content by an appropriate logic circuit before being input to the determination circuit 20. Good. However, this is the case when the circuit operates normally.

【００１３】[0013]

【発明の効果】以上説明したようにこの発明によれば、
集積回路の複数の回路のテスト出力信号線束が正常な場
合には同一になるようなテストモードでは、１回の実行
でテストを済ませることができ、かつテスト出力信号線
束の出力端子も低減することができる。As described above, according to the present invention,
In a test mode in which the test output signal bundles of multiple circuits of the integrated circuit are the same when normal, the test can be completed by one execution and the output terminals of the test output signal bundles can be reduced. You can

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図１】この発明の一実施例を示す構成説明図。FIG. 1 is a structural explanatory view showing an embodiment of the present invention.

【図２】従来の集積回路内部テストに使用される信号出
力装置を示す図。FIG. 2 is a diagram showing a signal output device used in a conventional integrated circuit internal test.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

１、２、３、…、ｎ…回路、１ａ、２ａ、３ａ、…、ｎ
ａ…テスト入力信号線束端子、１ｂ、２ｂ、３ｂ、…、
ｎｂ…テスト出力信号線束。２０…信号線束一致判定回
路、２１、２２…外部端子。1, 2, 3, ..., N ... Circuits, 1a, 2a, 3a ,.
a ... Test input signal wire bundle terminals 1b, 2b, 3b, ...
nb ... Test output signal line bundle. 20 ... Signal line bundle coincidence determination circuit, 21, 22 ... External terminals.

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項１】集積回路中の各回路の出力信号を外部端子
に接続する構成において、 前記集積回路中の各回路に前記集積回路の前記外部端子
から信号を供給する手段と、 前記集積回路の各回路の信号のうち少なくとも一系統の
信号を前記集積回路の第１の外部端子に出力する手段
と、 前記集積回路の各回路の出力信号を比較し、各回路の出
力信号の関係を示す信号を前記集積回路の第２の外部端
子に出力する手段とを有したことを特徴とする信号出力
装置。1. In a structure in which an output signal of each circuit in the integrated circuit is connected to an external terminal, means for supplying a signal to each circuit in the integrated circuit from the external terminal of the integrated circuit, Means for outputting at least one system signal of the signals of each circuit to the first external terminal of the integrated circuit and output signals of each circuit of the integrated circuit are compared, and signals showing a relationship between the output signals of each circuit And a means for outputting to the second external terminal of the integrated circuit.