JPH0580129A - 信号出力装置 - Google Patents
信号出力装置Info
- Publication number
- JPH0580129A JPH0580129A JP3243241A JP24324191A JPH0580129A JP H0580129 A JPH0580129 A JP H0580129A JP 3243241 A JP3243241 A JP 3243241A JP 24324191 A JP24324191 A JP 24324191A JP H0580129 A JPH0580129 A JP H0580129A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- test
- signal line
- output signal
- pencil
- circuits
- Prior art date
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- Pending
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- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】集積回路の複数の回路のテスト出力信号線束が
正常な場合には同一になるようなテストモードでは、１
回の実行でテストを済ませることができ、かつテスト出
力信号線束の出力端子も低減する。 【構成】テスト入力信号線束端子１ａ、２ａ、３ａ、…
ｎａから回路１、２、３、…ｎにテスト入力信号線束が
入力される。回路１、２、３、…ｎが正常に動作すれば
同一のテスト出力信号線束１ｂ、２ｂ、３ｂ、…ｎｂが
得られるように設定されている。テスト出力信号線束１
ｂ、２ｂ、３ｂ、…ｎｂは信号線束一致判定回路２０に
入力され、すべて一致するか否かが判定されその結果が
テスト出力信号線束端子２２に出力される。回路１、
２、３、…ｎのテスト出力信号線束のうち少なくとも一
系統の信号線束は外部端子２１に導出され、テスト出力
信号線束の内容を確認できる。
正常な場合には同一になるようなテストモードでは、１
回の実行でテストを済ませることができ、かつテスト出
力信号線束の出力端子も低減する。 【構成】テスト入力信号線束端子１ａ、２ａ、３ａ、…
ｎａから回路１、２、３、…ｎにテスト入力信号線束が
入力される。回路１、２、３、…ｎが正常に動作すれば
同一のテスト出力信号線束１ｂ、２ｂ、３ｂ、…ｎｂが
得られるように設定されている。テスト出力信号線束１
ｂ、２ｂ、３ｂ、…ｎｂは信号線束一致判定回路２０に
入力され、すべて一致するか否かが判定されその結果が
テスト出力信号線束端子２２に出力される。回路１、
２、３、…ｎのテスト出力信号線束のうち少なくとも一
系統の信号線束は外部端子２１に導出され、テスト出力
信号線束の内容を確認できる。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】この発明は、集積回路の各回路の
信号を集積回路の外部端子に出力する構成に係わるもの
で、特に集積回路中の多数の信号を同時に少ない外部端
子数で検出するための信号出力装置に関する。
信号を集積回路の外部端子に出力する構成に係わるもの
で、特に集積回路中の多数の信号を同時に少ない外部端
子数で検出するための信号出力装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】集積回路を設計する際、各部の回路の動
作テストを行うテスト回路が必要となる。その際、回路
内部のテスト信号出力を同時に多数、少ない端子でテス
トできることが望まれる。
作テストを行うテスト回路が必要となる。その際、回路
内部のテスト信号出力を同時に多数、少ない端子でテス
トできることが望まれる。
【０００３】図２は、従来用いられている集積回路１０
０中の回路動作テストを行なう場合の構成例である。テ
スト入力信号線束端子１ａ、２ａ、３ａ、…ｎａから、
回路１、２、３、…ｎにテストを行なうためのテスト入
力信号線束が入力される。ここで、回路１、２、３、…
ｎが正常に動作するならば、同一のテスト出力信号線束
１ｂ、２ｂ、３ｂ、…ｎｂが得られるように設定されて
いる。このテスト出力信号線束１ｂ、２ｂ、３ｂ、…ｎ
ｂは、信号線束選択回路１０に入力される。この信号線
束選択回路１０は、テスト出力信号線束を選択的に選び
テスト出力信号線束端子１１に出力する。
０中の回路動作テストを行なう場合の構成例である。テ
スト入力信号線束端子１ａ、２ａ、３ａ、…ｎａから、
回路１、２、３、…ｎにテストを行なうためのテスト入
力信号線束が入力される。ここで、回路１、２、３、…
ｎが正常に動作するならば、同一のテスト出力信号線束
１ｂ、２ｂ、３ｂ、…ｎｂが得られるように設定されて
いる。このテスト出力信号線束１ｂ、２ｂ、３ｂ、…ｎ
ｂは、信号線束選択回路１０に入力される。この信号線
束選択回路１０は、テスト出力信号線束を選択的に選び
テスト出力信号線束端子１１に出力する。
【０００４】従って、今、各回路１、２、３、…ｎが同
一の回路であり、テスト出力信号線束１ｂ、２ｂ、３
ｂ、…ｎｂが同一の内容となるようなテストの場合は、
信号線束選択回路１０をｎ回切り換えてそれぞれの回路
のテスト出力信号線束１ｂ、２ｂ、３ｂ、…ｎｂを見る
必要がある。つまりｎ回の同一テストを繰り返し行なう
ことになる。このようなテストでは時間がかかるため
に、一回で済ます事を考えると、ｎ倍本のテスト出力線
束端子が必要となる。
一の回路であり、テスト出力信号線束１ｂ、２ｂ、３
ｂ、…ｎｂが同一の内容となるようなテストの場合は、
信号線束選択回路１０をｎ回切り換えてそれぞれの回路
のテスト出力信号線束１ｂ、２ｂ、３ｂ、…ｎｂを見る
必要がある。つまりｎ回の同一テストを繰り返し行なう
ことになる。このようなテストでは時間がかかるため
に、一回で済ます事を考えると、ｎ倍本のテスト出力線
束端子が必要となる。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】従来の集積回路の内部
において、ｎ個の回路のテストを行なうときに、各回路
の出力が同じテスト出力信号線束となるようにし、これ
らを監視するためには、ｎ回のテストを繰り返す必要が
あり時間がかかっている。また、同じ機能のｎ個の回路
に、同じテストパターンを通して、テスト出力信号線束
を監視する場合も、ｎ回繰り返しテストを必要とする。
において、ｎ個の回路のテストを行なうときに、各回路
の出力が同じテスト出力信号線束となるようにし、これ
らを監視するためには、ｎ回のテストを繰り返す必要が
あり時間がかかっている。また、同じ機能のｎ個の回路
に、同じテストパターンを通して、テスト出力信号線束
を監視する場合も、ｎ回繰り返しテストを必要とする。
【０００６】そこでこの発明は、集積回路の複数の回路
のテスト出力信号線束が正常な場合には同一になるよう
なテストモードでは、１回の実行でテストを済ませるこ
とができ、かつテスト出力信号線束の出力端子も低減す
ることができる信号出力装置を提供することを目的とす
る。
のテスト出力信号線束が正常な場合には同一になるよう
なテストモードでは、１回の実行でテストを済ませるこ
とができ、かつテスト出力信号線束の出力端子も低減す
ることができる信号出力装置を提供することを目的とす
る。
【０００７】
【課題を解決するための手段】この発明は、集積回路中
の各回路の出力信号を外部端子に接続する構成におい
て、前記集積回路中の各回路に前記集積回路の前記外部
端子から信号を供給する手段と、前記集積回路の各回路
の信号のうち少なくとも一系統の信号を前記集積回路の
第１の外部端子に出力する手段と、前記集積回路の各回
路の出力信号を比較し、各回路の出力信号の関係を示す
信号を前記集積回路の第２の外部端子に出力する手段と
を備える。
の各回路の出力信号を外部端子に接続する構成におい
て、前記集積回路中の各回路に前記集積回路の前記外部
端子から信号を供給する手段と、前記集積回路の各回路
の信号のうち少なくとも一系統の信号を前記集積回路の
第１の外部端子に出力する手段と、前記集積回路の各回
路の出力信号を比較し、各回路の出力信号の関係を示す
信号を前記集積回路の第２の外部端子に出力する手段と
を備える。
【０００８】
【作用】上記の手段により、各回路のテスト出力信号線
束が同一か否かは、前記第２の外部端子で監視すること
ができ、かつどのような内容のテスト出力信号線束が得
られているのかは第１の外部端子出力を監視することで
テストを実行することができる。
束が同一か否かは、前記第２の外部端子で監視すること
ができ、かつどのような内容のテスト出力信号線束が得
られているのかは第１の外部端子出力を監視することで
テストを実行することができる。
【０００９】
【実施例】以下、この発明の実施例を図面を参照して説
明する。
明する。
【００１０】図１はこの発明の一実施例である。１００
は集積回路であり、テスト入力信号線束端子１ａ、２
ａ、３ａ、…ｎａから、回路１、２、３、…ｎにテスト
を行なうためのテスト入力信号線束が入力される。ここ
で、回路１、２、３、…ｎが正常に動作するならば、同
一のテスト出力信号線束１ｂ、２ｂ、３ｂ、…ｎｂが得
られるように設定されている。このテスト出力信号線束
１ｂ、２ｂ、３ｂ、…ｎｂは、信号線束一致判定回路２
０に入力される。この信号線束一致判定回路２０は、テ
スト出力信号線束がすべて一致するか否かを判定してそ
の決かを外部端子２２に出力する。また、各回路１、
２、３、…ｎのテスト出力信号線束のうち少なくとも一
系統の信号線束は、集積回路の外部端子２１に導出され
る。
は集積回路であり、テスト入力信号線束端子１ａ、２
ａ、３ａ、…ｎａから、回路１、２、３、…ｎにテスト
を行なうためのテスト入力信号線束が入力される。ここ
で、回路１、２、３、…ｎが正常に動作するならば、同
一のテスト出力信号線束１ｂ、２ｂ、３ｂ、…ｎｂが得
られるように設定されている。このテスト出力信号線束
１ｂ、２ｂ、３ｂ、…ｎｂは、信号線束一致判定回路２
０に入力される。この信号線束一致判定回路２０は、テ
スト出力信号線束がすべて一致するか否かを判定してそ
の決かを外部端子２２に出力する。また、各回路１、
２、３、…ｎのテスト出力信号線束のうち少なくとも一
系統の信号線束は、集積回路の外部端子２１に導出され
る。
【００１１】上記の構成であると、各回路１、２、３、
…ｎのテスト出力信号線束１ｂ、２ｂ、３ｂ、…ｎｂが
同一か否かは、外部端子２２で監視することができ、か
つどのような内容のテスト出力信号線束が得られている
のかは外部端子２２を監視することでテストを実行する
ことができる。
…ｎのテスト出力信号線束１ｂ、２ｂ、３ｂ、…ｎｂが
同一か否かは、外部端子２２で監視することができ、か
つどのような内容のテスト出力信号線束が得られている
のかは外部端子２２を監視することでテストを実行する
ことができる。
【００１２】さらに、各回路１、２、３、…ｎへ入力す
るテスト入力信号線束のパターンが同一でよい場合は、
テスト入力信号線束端子１ａ、２ａ、３ａ、…ｎａを１
つのまとめることもできる。また、各回路１、２、３、
…ｎのテスト出力信号線束１ｂ、２ｂ、３ｂ、…ｎｂは
必ずしもテスト結果が同一になるものである必要はな
く、判定回路２０へ入力する前に、適当な論理回路によ
り同一内容にデコードされてもよい。ただし、回路が正
常動作した場合である。
るテスト入力信号線束のパターンが同一でよい場合は、
テスト入力信号線束端子１ａ、２ａ、３ａ、…ｎａを１
つのまとめることもできる。また、各回路１、２、３、
…ｎのテスト出力信号線束１ｂ、２ｂ、３ｂ、…ｎｂは
必ずしもテスト結果が同一になるものである必要はな
く、判定回路２０へ入力する前に、適当な論理回路によ
り同一内容にデコードされてもよい。ただし、回路が正
常動作した場合である。
【００１３】
【発明の効果】以上説明したようにこの発明によれば、
集積回路の複数の回路のテスト出力信号線束が正常な場
合には同一になるようなテストモードでは、１回の実行
でテストを済ませることができ、かつテスト出力信号線
束の出力端子も低減することができる。
集積回路の複数の回路のテスト出力信号線束が正常な場
合には同一になるようなテストモードでは、１回の実行
でテストを済ませることができ、かつテスト出力信号線
束の出力端子も低減することができる。
【図１】この発明の一実施例を示す構成説明図。
【図２】従来の集積回路内部テストに使用される信号出
力装置を示す図。
力装置を示す図。
１、２、３、…、ｎ…回路、１ａ、２ａ、３ａ、…、ｎ
ａ…テスト入力信号線束端子、１ｂ、２ｂ、３ｂ、…、
ｎｂ…テスト出力信号線束。２０…信号線束一致判定回
路、２１、２２…外部端子。
ａ…テスト入力信号線束端子、１ｂ、２ｂ、３ｂ、…、
ｎｂ…テスト出力信号線束。２０…信号線束一致判定回
路、２１、２２…外部端子。
Claims (1)
- 【請求項１】集積回路中の各回路の出力信号を外部端子
に接続する構成において、 前記集積回路中の各回路に前記集積回路の前記外部端子
から信号を供給する手段と、 前記集積回路の各回路の信号のうち少なくとも一系統の
信号を前記集積回路の第１の外部端子に出力する手段
と、 前記集積回路の各回路の出力信号を比較し、各回路の出
力信号の関係を示す信号を前記集積回路の第２の外部端
子に出力する手段とを有したことを特徴とする信号出力
装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3243241A JPH0580129A (ja) | 1991-09-24 | 1991-09-24 | 信号出力装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3243241A JPH0580129A (ja) | 1991-09-24 | 1991-09-24 | 信号出力装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0580129A true JPH0580129A (ja) | 1993-04-02 |
Family
ID=17100944
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3243241A Pending JPH0580129A (ja) | 1991-09-24 | 1991-09-24 | 信号出力装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0580129A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006153705A (ja) * | 2004-11-30 | 2006-06-15 | Yamaha Corp | 集積回路における回路ブロック試験方法 |
-
1991
- 1991-09-24 JP JP3243241A patent/JPH0580129A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006153705A (ja) * | 2004-11-30 | 2006-06-15 | Yamaha Corp | 集積回路における回路ブロック試験方法 |
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