JPH0566381A - 光沢検出装置 - Google Patents

光沢検出装置

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JPH0566381A
JPH0566381A JP25852691A JP25852691A JPH0566381A JP H0566381 A JPH0566381 A JP H0566381A JP 25852691 A JP25852691 A JP 25852691A JP 25852691 A JP25852691 A JP 25852691A JP H0566381 A JPH0566381 A JP H0566381A
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gloss
polarization
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JP25852691A
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Seiichi Fukuda
清一 福田
Tomohiro Yonezawa
友浩 米沢
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Olympus Optical Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】 [目的] 対象物表面の立体形状による反射角の変化に
応じた構成部品の厚さ及び取付け回転角の調整を必要と
することなく、物体の表面の光沢の程度を検出せんとす
るものである。[構成か 自然光照射光源1と、コリメ
ータレンズ2と、直線偏光状態の入射光4を形成する偏
光子3と、対象物5の表面からの反射光6の、直線ある
いは楕円偏光状態の特定の偏光方向成分を検出する検光
子8と、前記反射光の結像レンズ9による結像を検出す
るイメージセンサ10と、前記対象物5および偏光子3
又は検光子8間に挿入され前記入射光または反射光の偏
光を回転させる液晶デバイス7と、前記イメージセンサ
10の出力側に設けられた表示装置11及び光沢検出画
像処理装置12と、この光沢検出画像処理装置12及び
前記液晶デバイス7間に接続された液晶デバイス駆動回
路13とを設ける。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、物体表面の外観を検査
する装置に係わり、特に、金属光沢を呈する面などを有
する物体表面の光沢の程度を検出する光沢検査装置に関
するものである。
【0002】
【従来の技術】従来の金属光沢表面を有する物体表面の
外観を検出する装置としては特開昭61−31909号
公報に記載されている立体形状検出装置があり、この装
置は図9に示すように、対象物5上にスリット状の楕円
偏光を照射する偏光レーザ101、波長板102および
シリンドリカルレンズ104から成る楕円偏光光源と、
対象物5上に発生するスリット状の輝線105を上記照
射方向とは異なる方向において特定の偏光成分のみの、
対象物5の断面形状を検出する偏光板8および2次元画
像検出器10から成る画像検出器とから構成されてい
る。
【0003】この装置は、光切断法を用い、スリット光
を偏光レーザ101の取付け回転角γと波長板102の
厚さtまたは取り付け回転角αの調整により楕円偏光状
態とし、偏光板8の取付け回転角βとの調整によりスリ
ット輝線の特定の方向の偏光成分のみを検出することに
よって、金属光沢面からの反射光量を低く抑さえて安定
な光切断線の検出を行い得るようにしている。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】かかる従来の方法は、
対象物の表面が金属光沢面などの光沢面を含む場合にも
金属光沢面からの正反射成分を低く抑えて光沢の影響を
抑止し正確な立体形状を安定に検出することができる
が、対象物の表面の金属光沢面からの正反射成分の光量
を主に検出して光沢の程度を検出するためのものではな
い。さらに、入射光を楕円偏光状態とし、特定の方向の
偏光成分のみ検出することにより金属光沢面の正反射成
分の光量を低く抑えて乱反射成分を主に検出するため
に、波長板の厚さまたは取付け回転角と、偏光レーザの
取付け回転角と、偏光板の取付け回転角等とを調整する
必要があり、特に対象物表面の立体形状が異なる場合、
それに応じて反射角が相違し偏光成分の方向も異なるた
め、立体形状に応じて容易でない先の調整をその都度行
わなう必要がある。従って、従来の手段では反射角が異
なる立体形状の対象物の表面には満足な機能を呈さな
い。
【0005】本発明の目的は、対象物表面の立体形状に
よる反射角の変化に応じた構成部品の厚さ及び取付け回
転角の調整を必要とすることなく、金属光沢を呈する面
などを有する物体表面の光沢の程度を検出し得、しか
も、光沢の影響の抑止を必要とする外観検査装置に利用
し得る光沢検出装置を提供せんとするものである。
【0006】
【課題を解決するための手段】本発明光沢検出装置は、
自然光照射光源と、コリメータレンズと、直線偏光状態
の入射光を形成する偏光子と、この直線偏光状態の入射
光を対象物に入射してその表面からの反射光の、直線偏
光状態あるいは楕円偏光状態の特定の偏光方向成分を検
出する検光子と、前記反射光の光路内に設けられた結像
レンズと、この結像レンズによる結像を検出するイメー
ジセンサと、前記対象物および偏光子または検光子間に
挿入され前記入射光または反射光の偏光を回転させる、
通常のディスプレイに用いられる液晶表示デバイス(L
CD)における一体構造の偏光子および検光子を取り除
いた構成の液晶デバイスと、前記イメージセンサの出力
側に設けられた表示装置および光沢検出画像処理装置
と、この光沢検出画像処理装置および前記液晶デバイス
間に接続された液晶デバイス駆動回路とを具備すること
を特徴とする。
【0007】前記目的を達成するための構成は、直線偏
光状態の入射光を形成する光源として、自然光を照射す
る光源1と、コリメータレンズ2と、偏光子3とを設
け、一方では対象物5の表面からの反射光の、直線偏光
状態あるいは楕円偏光状態の特定の偏光方向成分を検出
する検光子8を対象物5の反射光路に挿入し、この反射
光を入射光の照射方向と異なる方向において結像レンズ
9により結像させてこの結像を検出するイメージセンサ
10を前記反射光路に配置し、入射光または反射光の偏
光を回転させる、通常ディスプレイに用いられる液晶表
示デバイス(LCD)7における一体構造の偏光子およ
び検光子を取り除いた液晶デバイス7を前記対象物5と
偏光子3または検光子8との間に挿入する。検光子8と
イメージセンサ10あるいは液晶デバイス7とは対象物
5の表面からの正反射成分が確実に受光できる位置に配
置する。また液晶デバイス7にはこのデバイスを駆動す
るための液晶デバイス駆動回路13を接続し、さらに、
イメージセンサ10の出力側には表示装置11と光沢検
出画像処理装置12とを接続し、この光沢検出画像処理
装置12を液晶デバイス駆動回路13の入力側にも接続
する。
【0008】
【作用】前記光沢検出装置は、液晶デバイス7の駆動オ
ン/オフによりこれを通過する直線偏光状態あるいは楕
円偏光状態の反射光または入射光の偏光の保持と偏光の
90°回転とを行い、反射光の特定方向の偏光成分のみ
を通す検光子8とイメージセンサ10とによりこの特定
方向の偏光成分を検出することで、反射光の特定方向の
偏光成分とこの方向に対し直角方向の偏光成分とが主と
なる対象物の画像を検出し、この二つの検出画像を比較
し、両画像の光量を得ることにより、光沢の程度の検出
を行うと共に光沢の影響を低く抑えた画像を得ることが
できる。
【0009】
【実施例】
(第1実施例) (構成):図1は本発明による一実施例の構成を示す斜
視ブロック図、図2は図1の液晶デバイス7の詳細を示
す構造図および動作説明図で、(a)は無電界時の動
作、(b)は無電界時のデバイスを通過する偏光した光
の状態、(c)は電界印加時の動作、(d)は電界印加
時のデバイスを通過する偏光した光の状態をそれぞれ示
し、図3は図1の光沢検出画像処理装置12の詳細を示
すブロック回路図である。
【0010】図1において、直線偏光状態の入射光4を
形成する光源1とコリメータレンズ2と偏光子3とを設
ける。光源1としては面光源およびスポット光源並びに
スリット光源等を用いることができる。一方で対象物5
(表面実装部品など)の表面からの直線あるいはだ円偏
光状態の反射光6の偏光を回転させる液晶デバイス7
と、この偏光の回転が生じた反射光の特定の偏光方向成
分を検出する検光子8とを対象物5の反射光路内に挿入
し、この反射光6を入射光4の照射方向と異なる方向に
おいて結像レンズ9により結像させ、この結像を検出す
るイメージセンサ10を反射光路内に配置する。これら
液晶デバイス7、検光子8およびイメージセンサ10は
対象物5の表面からの正反射成分が確実に受光できる位
置に配置させるようにする。
【0011】液晶デバイス7は図2(a)に示すような
通常ディスプレイに用いられる液晶表示デバイス(LC
D)における一体構造の偏光子および検光子を取り除い
た構成とし、液晶のねじれ角すなわち偏光の回転が90
°の電界効果型のTN形等の液晶を用いることができ
る。
【0012】即ち、図2(a)に示すように、本例で用
いる液晶デバイス7は2枚の透明基板21を設け、その
の内側に透明電極22をそれぞれ接着し、これら透明電
極22にそれぞれ液晶分子配向層23を被着し、これら
液晶分子配向層23の両端にシール材26を設けて空所
を設け、この空所内に液晶分子25を含有する液晶を充
てんして形成した液晶層24を設けて構成し、電極22
間に交流電源29を接続して電界を印加し得るようにす
る。
【0013】また、イメージセンサ10としては撮像管
または固体2次元撮像素子を用いたTVカメラ及びポジ
ションセンサ等の2次元センサのほか、リニアセンサま
たはポイントセンサを用いた1次元センサを使用するこ
とができる。
【0014】また、液晶デバイス7にはこのデバイスを
駆動するための液晶デバイス駆動回路13を接続する。
さらに、イメージセンサ10の出力側にはTVモニタ等
の表示装置11と光沢検出画像処理装置12とを接続
し、この光沢検出画像処理装置12は液晶デバイス駆動
回路13の入力側にも接続する。
【0015】前記光沢検出画像処理装置12は、図3に
示すように、この光沢検出画像処理装置12全体を制御
し各部と接続されている制御部31と、前記液晶デバイ
ス7に駆動信号を出力する液晶駆動信号発生回路32
と、前記イメージセンサ10からの出力信号を入力し画
像データを出力する画像入力回路33と、この画像デー
タを入力し格納する画像メモリ34と、この画像データ
を入力し平滑化する平滑化回路35と、平滑化された画
像データを入力する画像Aバッファメモリ36及び画像
Bバッファメモリ37と、この二つのメモリ36および
37に格納されている画像A及びBデータを入力しその
結果を出力する画像A・B間減算回路38と、この結果
を入力し抽出した光沢部を出力し比較参照データメモリ
40が接続されている光沢部抽出回路39と、この光沢
部データを入力し光沢の判定を行い判定基準データメモ
リ42が接続されている光沢判定回路41とから構成す
る。
【0016】(作用):図4は本発明光沢検出装置に用
いる光沢検出画像処理装置12の本実施例の動作のフロ
ーチャート図である。 図1に示すように光源からの照射光をコリメータレンズ
2で平行光とし、さらに偏光子3により直線偏光状態に
された入射光4を金属光沢面を呈する面を有する対象物
5の表面(表面実装部品の電極部またはリード、半田フ
ィレット、ランドの面など)に照射すると、前記特開昭
61−31909号公報にも開示されているように、対
象物5の表面の光沢の程度を示す反射光6の正反射成分
は、直線偏光状態あるいは楕円偏光状態となる。直線偏
光状態においては偏光方向成分とこれに直角方向の成分
とでは光量に差が生じ、楕円偏光状態においては楕円偏
光の長軸に平行の偏光成分の光量とこの長軸と直角方向
の楕円偏光の短軸に平行の偏光成分の光量とに差が生じ
ている。また、乱反射成分の各方向の偏光成分の強度ま
たは光量差は正反射成分のそれより小さい。従って、直
線あるいは楕円偏光状態の反射光6の特定方向の偏光成
分の光量とこの方向に直角方向の偏光成分の光量との差
を検出できれば、正反射成分の光量すなわち光沢の程度
を検出することができる。
【0017】液晶デバイス7は図2(a)および図2
(c)に示すように入射光側の液晶分子配向層23のラ
ビング方向と出射光側の液晶分子配向層23のラビング
方向が直交している場合液晶層43のねじれ角は90°
となり、図2(b)に示すように無電界の場合偏光した
入射光27はその偏波面を90°回転させる、すなわ
ち、偏光の90°回転が起こり、また、図2dに示すよ
うに電界印加すなわち液晶を駆動させた場合偏光に対し
て何も作用せず偏光状態を保持したまま光は通過する。
即ち、液晶デバイス7の駆動のオン/オフによりこれを
通過する直線偏光状態あるいは楕円偏光状態の反射光6
の偏光の保持と偏光の90°回転を行い、反射光6の特
定方向の偏光成分のみを透す検光子8とイメージセンサ
10によりこれを検出することで、反射光6の特定方向
の偏光成分とこの方向と直角方向の偏光成分が主となる
対象物5の画像を検出する。検出された画像は光沢検出
画像処理装置12により図4に示す動作フローに基づい
て処理され、対象物5表面の光沢の程度を検出する。
【0018】制御部31はまず液晶デバイス7の駆動オ
ン指令を液晶駆動信号発生回路32に送り、液晶駆動信
号発生回路32により液晶駆動信号を液晶デバイス駆動
回路13に出力して液晶デバイス7をオン状態とする。
このとき反射光6の偏光保持状態の画像をイメージセン
サ10で検出し、画像入力回路33を介して画像メモリ
34に取込む。かくして取込んだ画像は平滑化回路35
に供給し、ここで乱反射成分などの影響による雑音を除
去するため平滑化し、その後画像Aバッファメモリ36
に格納する(以下この格納された画像を画像Aと称す
る)。次に液晶デバイス7をオフ状態とし、この時の反
射光6の偏光が90°回転状態にある平滑化された画像
(以下画像Bと称する)を同様に画像Bバッファメモリ
37に格納する。
【0019】画像A・B間減算回路38は画像Aと画像
Bとのヒストグラム等により濃度値の大きい画素数を得
てその多少を比較し、画像Aの画素数が画像Bの画素数
よりも多い場合には対応する画素毎に画像Bの濃度値を
減算し、逆に画像Bの画素数が画像Aの画素数よりも多
い場合には画像Bの画素数から画像Aの画素数を減算し
光沢部抽出回路39にこの画像間減算結果の画像を出力
する。ここで、画像Aおよび画像Bの濃度値の大きい画
素数の多少の比較によって画像Aおよび画像Bの光量差
を得ているので、画像Aの画素数と画像Bの画素数とが
ほぼ等しい場合光沢が無いものと判定する。光沢部抽出
回路39はこの減算結果の画像を例えば2値化のように
比較参照データメモリ40内のデータと比較して光沢部
抽出画像を得る。光沢判定回路41は例えばパターンマ
ッチング法のように判定基準データメモリ42内のデー
タとこの光沢部抽出画像データとをマッチングし光沢の
程度を判定し検出する。
【0020】なお、上述した例では入射光を直線偏光と
し反射光に直線偏光状態あるいは楕円偏光状態を得て光
沢の程度の検出を実施したが、反射光が直線偏光となる
ように入射光を楕円偏光としても上述した所と同様の結
果を得ることができる。
【0021】(第2実施例)次に、本発明光沢検出装置
の第2実施例を図5により説明する。本実施例は第1実
施例と以下の点のみが異なるものとし、その他の点は上
記実施例と同様であるのでその詳細な説明は省略する。 (構成):図5は第2実施例に用いる図1の液晶デバイ
ス7の詳細を示す構造図及び動作説明図で(a)は無電
界時の動作、(b)は無電界印加時のデバイスを通過す
る偏光した光の状態、(c)は各セル51および52に
対する電界印加時の動作、(d)は各セル51および5
2に対する電界印加時のデバイスを通過する偏光した光
の状態、(e)は両セル51および52に対する電界印
加時の動作、(f)は両セル51および52に対する電
界印加時のデバイスを通過する偏光した光の状態であ
る。
【0022】液晶デバイス7は、図5(a)に示すよう
に、通常のディスプレイに用いられる液晶表示デバイス
(LCD)における一体構造の偏光子および検光子を取
り除いた構成とし、液晶のねじれ角すなわち偏光の回転
が90°のπ/2セル51と偏光の回転が240°の4
π/3セル52とを組合わせたものであり、π/2セル
51としては電界効果型のTN形等の液晶を用い、4π
/3セル52としては電界効果型のSTN方式等の液晶
を用いることができる。これら液晶セルの構成の詳細な
説明は第1実施例で説明したものと同様であるため省略
する。
【0023】(作用):図6は本実施例における光沢検
出装置に用いる光沢検出画像処理装置12の動作のフロ
ーチャート図である。
【0024】対象物5の表面からの反射光6の偏光方向
と検光子8が検出する偏光方向とのなす角度が45°の
場合、反射光6の検光子8による検出方向の偏光成分と
この方向と直角方向の偏光成分との光量差は検出されな
い。本実施例の液晶デバイス7は図5に示すようにπ/
2セル51は入射光側の液晶分子配向層23Aのラビン
グ方向と出射光側の液晶分子配向層23Aのラビング方
向とが直交しているので液晶層24Aのねじれ角は90
°となり、図5(a)および図5(b)に示すように無
電界の場合偏光した入射光27はその偏波面を90°回
転し、即ち、偏光の90°回転がおこり、図5(c)お
よび図5(d)に示すように電界印加すなわちこのセル
51を駆動させた場合偏光に対して何も作用せず偏光状
態を保持したまま光は通過する。
【0025】また、4π/3セル52は入射光側の液晶
分子配向層23Bのラビング方向と出射光側の液晶分子
配向層23Bのラビング方向が240°を成しているの
で液晶層24Bのねじれ角は240°となり、図5
(a)および図5(b)に示すように無電界の場合偏光
した入射光はその偏波面を240°回転させる、すなわ
ち、偏光の240°回転が起こり、図5(c)および図
5(d)に示すように電界印加すなわちこのセル52を
駆動させた場合偏光に対して何も作用せず偏光状態を保
持したまま光は通過する。
【0026】液晶デバイス7の各セル51、52の駆動
のオン/オフによりこれを通過する楕円偏光状態の反射
光6の偏光の保持と偏光の90°回転及び240°回転
とを行い、反射光6の特定方向の偏光成分のみを通す検
光子8とイメージセンサ10とによりこれを検出するこ
とにより、図6に示す動作フローに従って、まず、反射
光6の特定方向の偏光成分とこの方向と直角方向の偏光
成分が対象物5の検出画像により光沢の程度の検出結果
が無光沢の場合の検出、次いで、反射光6の特定方向の
偏光成分とこの方向と240°方向の偏光成分が主とな
る対象物5の検出画像により光沢の程度の検出を行う。
【0027】(効果):前記作用により対象物5の表面
からの反射光6の偏光方向と検光子8が検出する偏光方
向の成す角度が45°の場合、対象物5表面の光沢の程
度が検出できる。
【0028】(第3実施例)次に、本発明光沢検出装置
の第3実施例を図7により説明する。本実施例は第1実
施例と以下の点で異なるがその他の点は第1実施例と同
様であるため、その詳細な説明は省略する。 (構成):図7は本発明による第3実施例の構成を示す
斜視図である。 図7に示すように、本例では、自然光を照射する光源1
と、コリメータレンズ2と、偏光子3とから成る直線偏
光状態または楕円偏光状態の入射光4を形成する光源
と、対象物5(表面実装部品など)との間に、直線偏光
状態または楕円偏光状態の入射光4の偏光を回転させる
液晶デバイス7を挿入する構成とする。検光子8とイメ
ージセンサ10とは対象物5の表面からの正反射成分が
確実に受光できる位置に配置する。 (作用):本実施例の作用は第1実施例につき説明した
所と同様なのでその詳細な説明は省略する。 (効果):本実施例の構成の装置を、一般に使用される
光沢検出機能の無い外観検査装置として用いる場合、液
晶デバイスの動作を行わずに、液晶デバイスの作用の影
響を受けずに使用することができる。
【0029】(第4実施例)次に、本発明光沢検出装置
の第4実施例を図8により説明する。本実施例は前記実
施例と以下の点で異なるものとし、その他は省略する。 (構成):本実施例の構成自体は他の実施例として同じ
なのでその説明は省略する (作用):図8は本実施例による光沢検出画像処理装置
12のフローチャート図である。
【0030】図8に示す動作フローに従って、直線偏光
状態あるいは楕円偏光状態の反射光6の特定方向の偏光
成分の光量と、この方向と直角方向の偏光成分の光量と
の差を比較し、光量の小さい方の偏光成分が主となる画
像を得ることにより、光沢の影響を低く抑えた画像を得
ることができる。
【0031】(効果):本発明の装置を光沢の影響を抑
えることが必要な外観検査装置に利用することができ
る。
【0032】
【発明の効果】上述したように本発明によれば対象物の
表面の立体形状による反射角の変化に応じた構成部品の
厚さ及び取付け回転角等の調整を必要としないで、金属
光沢を呈する面などを有する物体の表面の光沢の程度を
検出でき、しかも、光沢の影響を抑えることが必要な外
観検査装置に利用できる光沢検出装置を提供することが
できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明光沢検出装置の一実施例の構成を示す斜
視ブロック図である。
【図2】(a)は図1の液晶デバイスの構成の詳細を示
し無電界時の動作を示す構成説明図であり、(b)は図
1の液晶デバイスの無電界時のデバイスを通過する偏光
した光の状態を示す動作説明図であり、(c)は図1の
液晶デバイスの構成の詳細を示し電界印加時の動作を示
す構成説明図であり、(d)は図1の液晶デバイスの電
界印加時のデバイスを通過する偏光した光の状態を示す
動作説明図である。
【図3】図1の光沢検出画像処理装置の構成の詳細を示
すブロック回路図である。
【図4】本発明光沢検出装置に用いる光沢検出画像処理
装置の動作のフローチャート図である。
【図5】(a)は第2実施例における図1の液晶デバイ
スの各セルの構成の詳細を示し無電界時の動作を示す構
成説明図であり、(b)は第2実施例における図1の液
晶デバイスの無電界時のデバイスを通過する偏光した光
の状態を示す動作説明図であり、(c)は第2実施例に
おける図1の液晶デバイスの各セルの構成の詳細を示し
電界印加時の動作を示す構成説明図であり、(d)は第
2実施例における図1の液晶デバイスの各セルに対する
電界印加時のデバイスを通過する偏光した光の状態を示
す動作説明図であり、(e)は第2実施例における図1
の液晶デバイスの両セルの構成の詳細を示し電界印加時
の動作を示す構成説明図であり、(f)は第2実施例に
おける図1の液晶デバイスの両セルに対する電界印加時
のデバイスを通過する偏光した光の状態を示す動作説明
図である。
【図6】本発明による第2実施例における光沢検出装置
に用いる光沢検出画像処理装置の動作のフローチャート
図である。
【図7】本発明光沢検出装置の第3実施例の構成を示す
斜視図である。
【図8】本発明光沢検出装置の第4実施例による光沢検
出画像処理装置のフローチャート図である。
【図9】従来の光沢検出装置の構成を示す斜視図であ
る。
【符号の説明】
1 光源 2 コリメータレンズ 3 偏光子 4 入射光 5 対象物 6 反射光 7 液晶デバイス 8 検光子 9 結像レンズ 10 イメージセンサ 11 表示装置 12 構成検出画像処理装置 13 液晶デバイス駆動回路 21 透明基板 22 電極 23 液晶分子配向層 24 液晶層 25 液晶分子 26 シール材 27 偏光された通過光 28 偏波面 29 電界印加部 31 制御部 32 液晶駆動信号発生回路 33 画像入力回路 34 画像メモリ 35 平滑化回路 26 画像Aバッファメモリ 37 画像Bバッファメモリ 38 画像A・B間減算回路 39 光沢部抽出回路 40 比較参照データメモリ 41 光沢判定回路 42 判定基準データメモリ 51 π/2セル 52 4π/3セル 102 波長板 103 レンズ 104 シリンドリカルレンズ 105 スリット輝線 106 光切断線抽出 107 欠陥検出 108 基材面 109 テーブル 110 ボールねじ 111 モータ
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.5 識別記号 庁内整理番号 FI 技術表示箇所 G06F 15/62 380 9287−5L H01L 21/66 J 7013−4M H04N 7/18 B 8626−5C

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 自然光照射光源と、コリメータレンズ
    と、直線偏光状態の入射光を形成する偏光子と、この直
    線偏光状態の入射光を対象物に入射してその表面からの
    反射光の、直線偏光状態あるいは楕円偏光状態の特定の
    偏光方向成分を検出する検光子と、前記反射光の光路内
    に設けられた結像レンズと、この結像レンズによる結像
    を検出するイメージセンサと、前記対象物および偏光子
    または検光子間に挿入され前記入射光または反射光の偏
    光を回転させる、通常のディスプレイに用いられる液晶
    表示デバイス(LCD)における一体構造の偏光子およ
    び検光子を取り除いた構成の液晶デバイスと、前記イメ
    ージセンサの出力側に設けられた表示装置および光沢検
    出画像処理装置と、この光沢検出画像処理装置および前
    記液晶表示デバイス間に接続された液晶デバイス駆動回
    路とを具備することを特徴とする光沢検出装置。
JP25852691A 1991-09-09 1991-09-09 光沢検出装置 Withdrawn JPH0566381A (ja)

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