JPH0556355A - 光電変換装置 - Google Patents
光電変換装置Info
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- JPH0556355A JPH0556355A JP3217075A JP21707591A JPH0556355A JP H0556355 A JPH0556355 A JP H0556355A JP 3217075 A JP3217075 A JP 3217075A JP 21707591 A JP21707591 A JP 21707591A JP H0556355 A JPH0556355 A JP H0556355A
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- Japan
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- picture element
- area
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- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims abstract description 20
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 44
- 238000000034 method Methods 0.000 abstract description 8
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 10
- 230000000007 visual effect Effects 0.000 description 10
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 4
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 4
- 238000009825 accumulation Methods 0.000 description 2
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 2
- 239000013256 coordination polymer Substances 0.000 description 1
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 1
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- 210000001747 pupil Anatomy 0.000 description 1
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 1
Landscapes
- Automatic Focus Adjustment (AREA)
- Transforming Light Signals Into Electric Signals (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 エリアセンサーにおける不良画素からの信号
の影響を改善し正しいセンサー出力を得られる様にした
光電変換装置を提供する。 【構成】 不良画素からの信号が処理対象となっている
場合、不良画素の近傍画素からの信号を上記不良画素か
らの信号として処理する処理回路を設ける。
の影響を改善し正しいセンサー出力を得られる様にした
光電変換装置を提供する。 【構成】 不良画素からの信号が処理対象となっている
場合、不良画素の近傍画素からの信号を上記不良画素か
らの信号として処理する処理回路を設ける。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、光電変換装置及び該変
換装置を用いて撮影画面内の任意の複数領域で焦点検出
を行うことが可能な焦点検出装置に関するものである。
換装置を用いて撮影画面内の任意の複数領域で焦点検出
を行うことが可能な焦点検出装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】従来、カメラの自動焦点検出装置とし
て、撮影画面内の複数点の焦点検出が可能な装置が多数
提案されている。
て、撮影画面内の複数点の焦点検出が可能な装置が多数
提案されている。
【0003】かかる装置に用いられる従来の光電変換セ
ンサは、上記焦点検出点各々に対応した有限個のセンサ
列を同一基板上に配置したものである。具体的構成とし
ては、例えば特開昭63−11906号、特開昭63−
172209号、特開平1−271716号公報等に詳
しく記載されている。
ンサは、上記焦点検出点各々に対応した有限個のセンサ
列を同一基板上に配置したものである。具体的構成とし
ては、例えば特開昭63−11906号、特開昭63−
172209号、特開平1−271716号公報等に詳
しく記載されている。
【0004】その内の一つの従来例を図9の焦点検出光
学系を用いて簡単に説明する。フイールドレンズ40、
多孔視野マスク41、正レンズ2枚を並設した2次結像
レンズ42そしてセンサ列対が複数配列されたセンサチ
ップ43から構成される。多孔視野マスク41は不図示
の撮影レンズの予定結像面近傍の位置に設けられ、各開
口41a、41b、41cはそれぞれ撮影画面中の焦点
検出すべき領域を決定している。2次結像レンズ42は
開口41aで制限された被写体像の一部をセンサ列対4
3a,43b上に再結像する。同様に開口41b、ある
いは41cで制限された被写体像は、それぞれセンサ列
対43c,43dあるいは43e,43f上に再結像さ
れる。各センサ列対の被写体像信号は電気信号として読
み出され、処理装置内で焦点検出演算が実行される。こ
のようにして各開口で決定された焦点検出視野内の被写
体に対する撮影レンズの焦点状態が検出される。3個の
開口が決定する焦点検出視野を撮影画面に当てはめる
と、例えば図10の撮影画面47の49L,49C,4
9Rの位置に相当する。
学系を用いて簡単に説明する。フイールドレンズ40、
多孔視野マスク41、正レンズ2枚を並設した2次結像
レンズ42そしてセンサ列対が複数配列されたセンサチ
ップ43から構成される。多孔視野マスク41は不図示
の撮影レンズの予定結像面近傍の位置に設けられ、各開
口41a、41b、41cはそれぞれ撮影画面中の焦点
検出すべき領域を決定している。2次結像レンズ42は
開口41aで制限された被写体像の一部をセンサ列対4
3a,43b上に再結像する。同様に開口41b、ある
いは41cで制限された被写体像は、それぞれセンサ列
対43c,43dあるいは43e,43f上に再結像さ
れる。各センサ列対の被写体像信号は電気信号として読
み出され、処理装置内で焦点検出演算が実行される。こ
のようにして各開口で決定された焦点検出視野内の被写
体に対する撮影レンズの焦点状態が検出される。3個の
開口が決定する焦点検出視野を撮影画面に当てはめる
と、例えば図10の撮影画面47の49L,49C,4
9Rの位置に相当する。
【0005】焦点検出視野が高々数個程度で、また視野
位置が固定の場合には、上記例のようにセンサチップ上
に各検出視野位置に対応してセンサ列を離散的に配し、
チップ上の各センサ列の間の領域にはセンサ駆動用の回
路を設ける構成をとることが一般的である。
位置が固定の場合には、上記例のようにセンサチップ上
に各検出視野位置に対応してセンサ列を離散的に配し、
チップ上の各センサ列の間の領域にはセンサ駆動用の回
路を設ける構成をとることが一般的である。
【0006】従来以上に焦点検出視野の数を増やしたい
場合や、視野位置を状況に応じて変更したい場合には、
縦横2次元的に光電変換素子を規則正しく配列させた、
いわゆるエリアセンサを用いることが望ましい。特に視
野位置を変更したい場合、視野マスクは前述したような
焦点検出視野に対応する開口を有する多孔視野マスクで
はなく、図8の視野マスク41に示したように、複数の
焦点検出視野総てを包含する大きな開口41Rを1つだ
け有するものを使用する。
場合や、視野位置を状況に応じて変更したい場合には、
縦横2次元的に光電変換素子を規則正しく配列させた、
いわゆるエリアセンサを用いることが望ましい。特に視
野位置を変更したい場合、視野マスクは前述したような
焦点検出視野に対応する開口を有する多孔視野マスクで
はなく、図8の視野マスク41に示したように、複数の
焦点検出視野総てを包含する大きな開口41Rを1つだ
け有するものを使用する。
【0007】図8の形態の焦点検出系の基本原理は前述
図9の従来形を踏襲しているので、同一構成部材には同
一の番号を付している。視野マスク41は不図示の撮影
レンズの予定結像面近傍の位置に設けられ、単一の広い
開口41Rの制限する領域が焦点検出可能な範囲とな
る。2次結像レンズ42の手前には絞り板44が置か
れ、絞り孔44P,44Q各々が各正レンズに入射する
光束を規制している。絞り板44の位置はフイールドレ
ンズ40のパワーにより撮影レンズの射出瞳の位置に略
々結像関係に置かれている。一対の正レンズ2枚からな
る2次結像レンズ42は開口41Rで決定された被写体
像をエリアセンサの対43Pと43Q上に再結像する2
つのエリアセンサ上の被写体像信号は電気情報として読
み出され、処理装置内で焦点検出演算が実行される。
図9の従来形を踏襲しているので、同一構成部材には同
一の番号を付している。視野マスク41は不図示の撮影
レンズの予定結像面近傍の位置に設けられ、単一の広い
開口41Rの制限する領域が焦点検出可能な範囲とな
る。2次結像レンズ42の手前には絞り板44が置か
れ、絞り孔44P,44Q各々が各正レンズに入射する
光束を規制している。絞り板44の位置はフイールドレ
ンズ40のパワーにより撮影レンズの射出瞳の位置に略
々結像関係に置かれている。一対の正レンズ2枚からな
る2次結像レンズ42は開口41Rで決定された被写体
像をエリアセンサの対43Pと43Q上に再結像する2
つのエリアセンサ上の被写体像信号は電気情報として読
み出され、処理装置内で焦点検出演算が実行される。
【0008】図8ではエリアセンサ43は2個の隔てら
れた受光領域43P,43Qを有するものとして表わさ
れているが、所定の制御性が得られるものならば、一続
きの受光領域であってももちろん良い。
れた受光領域43P,43Qを有するものとして表わさ
れているが、所定の制御性が得られるものならば、一続
きの受光領域であってももちろん良い。
【0009】ところで、一般に撮影画面内には主たる被
写体とその背景が同時に並存しているので、焦点検出の
対象となる画面領域は何らかの形で限定されなくてはな
らない。
写体とその背景が同時に並存しているので、焦点検出の
対象となる画面領域は何らかの形で限定されなくてはな
らない。
【0010】図9に示した従来例では視野マスク41の
各開口が光学的な領域限定の役目を果たしている。ま
た、それ故に2次結像レンズの予定結像面上には、各開
口に対応した形状のセンサ列だけを配すれば良いのであ
る。
各開口が光学的な領域限定の役目を果たしている。ま
た、それ故に2次結像レンズの予定結像面上には、各開
口に対応した形状のセンサ列だけを配すれば良いのであ
る。
【0011】エリアセンサを用いた図8のような形態で
は、光学的に領域を限定する手段を持たないため、電気
的な手段を構じなければならない。具体的には、例え
ば、エリアセンサの受光領域の一部分の被写体像情報を
選択的に読み出したり、あるいは広い範囲で読み出した
被写体像情報のなかの特定の領域の情報を選択的に演算
処理することによって、撮影画面の局所領域に於ける焦
点状態の検出が行われる。
は、光学的に領域を限定する手段を持たないため、電気
的な手段を構じなければならない。具体的には、例え
ば、エリアセンサの受光領域の一部分の被写体像情報を
選択的に読み出したり、あるいは広い範囲で読み出した
被写体像情報のなかの特定の領域の情報を選択的に演算
処理することによって、撮影画面の局所領域に於ける焦
点状態の検出が行われる。
【0012】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、焦点検
出用センサとしてエリアセンサを用いると次のような問
題が生じる。
出用センサとしてエリアセンサを用いると次のような問
題が生じる。
【0013】即ち、エリアセンサチップはチップ面上に
光電変換素子がラインセンサに較べ多数配置されてお
り、画素数の絶対量が多い分、画素不良が発生し易い。
エリアセンサを使用する上で1つの不良画素も許されな
いとなると歩留りが極めて悪くなり、ひいては製品のコ
ストアップにもつながるため実現的ではなく、ある程度
の画素不良は許容しつつ使用しなければならない。しか
し、正に焦点検出処理を行う領域内に不良画素が存在し
ていると、当然のことながらその領域に対する処理結果
には誤差が混入し、正確な焦点検出動作が保証出来なく
なってしまう。
光電変換素子がラインセンサに較べ多数配置されてお
り、画素数の絶対量が多い分、画素不良が発生し易い。
エリアセンサを使用する上で1つの不良画素も許されな
いとなると歩留りが極めて悪くなり、ひいては製品のコ
ストアップにもつながるため実現的ではなく、ある程度
の画素不良は許容しつつ使用しなければならない。しか
し、正に焦点検出処理を行う領域内に不良画素が存在し
ていると、当然のことながらその領域に対する処理結果
には誤差が混入し、正確な焦点検出動作が保証出来なく
なってしまう。
【0014】
【課題を解決するための手段】本発明は前述の問題点の
解消を目的としており、エリアセンサーの一部に不良画
素が存在している場合にその画素の信号は用いずに、代
りに近傍の正常な画素の信号を代用することによって、
エリアセンサの歩留りを下げることなく、精度の高い画
素信号を取り出すことの出来る充電変換装置を提供しよ
うとするものである。
解消を目的としており、エリアセンサーの一部に不良画
素が存在している場合にその画素の信号は用いずに、代
りに近傍の正常な画素の信号を代用することによって、
エリアセンサの歩留りを下げることなく、精度の高い画
素信号を取り出すことの出来る充電変換装置を提供しよ
うとするものである。
【0015】
【実施例】以下本発明に係る光電変換装置についての説
明を焦点検出に採用した場合を例として説明する。
明を焦点検出に採用した場合を例として説明する。
【0016】図1は本発明に係る充電変換装置を焦点検
出装置に用いた場合の一実施例を示すブロック図であ
る。
出装置に用いた場合の一実施例を示すブロック図であ
る。
【0017】図において、43はエリアセンサで該エリ
アセンサ43にはインターフェイス回路60が接続さ
れ、後述する領域指定や蓄積制御が行われる。インター
フェイス回路60は処理装置であるマイクロコンピュー
タ61に接続される。マイクロコンピュータ61はCP
U(中央処理部)、ROM,RAM,EEPROM(電
気的消去可能プログラマブルROM)を有し、ROMに
格納されているプログラムに従って焦点検出処理を実行
してゆく。
アセンサ43にはインターフェイス回路60が接続さ
れ、後述する領域指定や蓄積制御が行われる。インター
フェイス回路60は処理装置であるマイクロコンピュー
タ61に接続される。マイクロコンピュータ61はCP
U(中央処理部)、ROM,RAM,EEPROM(電
気的消去可能プログラマブルROM)を有し、ROMに
格納されているプログラムに従って焦点検出処理を実行
してゆく。
【0018】EEPROMには焦点検出領域の位置情報
やエリアセンサの不良画素の位置情報が、調整工程等に
よってあらかじめ格納されている。
やエリアセンサの不良画素の位置情報が、調整工程等に
よってあらかじめ格納されている。
【0019】ROMに格納されている焦点検出処理のプ
ログラムの概略フローを図2に示す。
ログラムの概略フローを図2に示す。
【0020】マイクロコンピュータ61が焦点検出処理
を開始すると、ステップ(01)を経て、ステップ(0
2)のセンサ蓄積を実行し、次のステップ(03)にて
センサに蓄積された被写体像信号の読み出しを行う。
を開始すると、ステップ(01)を経て、ステップ(0
2)のセンサ蓄積を実行し、次のステップ(03)にて
センサに蓄積された被写体像信号の読み出しを行う。
【0021】像信号の読み出しが完了すると、次のステ
ップ(04)へ移行する。
ップ(04)へ移行する。
【0022】ステップ(04)では焦点検出すべき領域
の決定を行う。
の決定を行う。
【0023】撮影画面上での焦点検出すべき領域が決ま
れば、EEPROMに格納されている情報に基づいてセ
ンサチップ上での選択領域を算出する。そして、その領
域の被写体像信号を実際に焦点検出処理に適した形に変
換する。
れば、EEPROMに格納されている情報に基づいてセ
ンサチップ上での選択領域を算出する。そして、その領
域の被写体像信号を実際に焦点検出処理に適した形に変
換する。
【0024】ここのプロセスについてもう少し詳しく説
明する。
明する。
【0025】図3の画面210上で、焦点検出すべき領
域が仮に領域210Cに決定されたとする。ここでの領
域の選定は、画面中央領域優先や前回の選択結果優先と
いったルールがよく使われるが、領域の選定に関しては
本発明と直接関係がないので詳しい説明は省略する。
域が仮に領域210Cに決定されたとする。ここでの領
域の選定は、画面中央領域優先や前回の選択結果優先と
いったルールがよく使われるが、領域の選定に関しては
本発明と直接関係がないので詳しい説明は省略する。
【0026】さて、撮影画面上で焦点検出すべき領域が
210Cに決まると、EEPROMに格納されている情
報から、センサチップ上での対応領域が図4の(230
a,230b)であることが算出される。EEPROM
には、画面各位置について細かい位置情報を格納しても
良いし、あるいは画面上で代表的な何点かの焦点検出領
域の位置と形状をあらかじめ想定し、それに対応するチ
ップ上での領域の位置と形状を記憶しておいても良い。
210Cに決まると、EEPROMに格納されている情
報から、センサチップ上での対応領域が図4の(230
a,230b)であることが算出される。EEPROM
には、画面各位置について細かい位置情報を格納しても
良いし、あるいは画面上で代表的な何点かの焦点検出領
域の位置と形状をあらかじめ想定し、それに対応するチ
ップ上での領域の位置と形状を記憶しておいても良い。
【0027】ステップ(04)にてセンサチップ上での
焦点検出領域の形状が算出されると、次のステップ(0
5)ではそれに基づいて被写体像信号の加工処理が行わ
れる。図5を用いてこの加工処理について説明する。
焦点検出領域の形状が算出されると、次のステップ(0
5)ではそれに基づいて被写体像信号の加工処理が行わ
れる。図5を用いてこの加工処理について説明する。
【0028】撮影画面上で長方形の被写体領域は、セン
サチップの一部50上では、実線領域52のようにな
る。図5は図4の片側のセンサ受光領域を表している
が、もう一方の受光領域も同様である。
サチップの一部50上では、実線領域52のようにな
る。図5は図4の片側のセンサ受光領域を表している
が、もう一方の受光領域も同様である。
【0029】さて、実際に焦点検出処理を行う場合、実
施形の位相差検出タイプでは1次元方向の位相差を検出
するものであるから、2次元の方向を有する領域の被写
体情報を1次元の情報に変換する必要がある。そのため
には、図5に示すが如く、マイクココンピュータ内部で
RAMに格納されている被写体像信号を用いて、垂直方
向の画素単位毎に、領域内の水平方向の像信号を加算し
て1次元の像信号53を作ればよい。焦点検出処理演算
は1次元信号53に対して行われる。
施形の位相差検出タイプでは1次元方向の位相差を検出
するものであるから、2次元の方向を有する領域の被写
体情報を1次元の情報に変換する必要がある。そのため
には、図5に示すが如く、マイクココンピュータ内部で
RAMに格納されている被写体像信号を用いて、垂直方
向の画素単位毎に、領域内の水平方向の像信号を加算し
て1次元の像信号53を作ればよい。焦点検出処理演算
は1次元信号53に対して行われる。
【0030】さて、ここでセンサ上での焦点検出処理の
対象領域52の内部に不良画素54が存在していたとす
る。このとき各垂直方向の並びの映像信号の様子を示し
たのが、図6である。
対象領域52の内部に不良画素54が存在していたとす
る。このとき各垂直方向の並びの映像信号の様子を示し
たのが、図6である。
【0031】図中521〜525がそれぞれ各垂直方向
の並びに読み出した映像信号を表わしている。信号52
2の右から4つめの画素が不良画素54に対応し、この
画素の信号は図のように低下している。信号521〜5
25をそのまま水平方向毎に加算した信号が信号531
のようになる。531の右から4つめの信号は不良画素
の影響で信号が低下している。この信号531に基づい
て焦点検出処理を行うとその処理結果に少なからず誤差
が生じてしまうのは明らかである。
の並びに読み出した映像信号を表わしている。信号52
2の右から4つめの画素が不良画素54に対応し、この
画素の信号は図のように低下している。信号521〜5
25をそのまま水平方向毎に加算した信号が信号531
のようになる。531の右から4つめの信号は不良画素
の影響で信号が低下している。この信号531に基づい
て焦点検出処理を行うとその処理結果に少なからず誤差
が生じてしまうのは明らかである。
【0032】そこで、あらかじめ工程の検査過程等で不
良画素の位置がわかっていれば、前述図1の61のマイ
クロコンピュータ内のEEPROMにその位置情報を記
憶させておく。そして、映像信号の加算処理を行う際
に、その情報を用いて、不良画素位置に対応する映像信
号は例えば隣接した他の正常な画素の信号と置き換え
る。これを図7で説明すると、信号522′の右から4
つ目の画素の信号は信号523の右から4つ目の画素信
号をもって置き換えたものであり、これらの信号52
1,522′,523〜525を水平画素毎に加算した
信号が531′である。この場合531′は図6の信号
531に比べ実際に近い信号となり、この信号531′
を用いて焦点検出処理を行えば、誤差は極めて小さく押
えることができる。
良画素の位置がわかっていれば、前述図1の61のマイ
クロコンピュータ内のEEPROMにその位置情報を記
憶させておく。そして、映像信号の加算処理を行う際
に、その情報を用いて、不良画素位置に対応する映像信
号は例えば隣接した他の正常な画素の信号と置き換え
る。これを図7で説明すると、信号522′の右から4
つ目の画素の信号は信号523の右から4つ目の画素信
号をもって置き換えたものであり、これらの信号52
1,522′,523〜525を水平画素毎に加算した
信号が531′である。この場合531′は図6の信号
531に比べ実際に近い信号となり、この信号531′
を用いて焦点検出処理を行えば、誤差は極めて小さく押
えることができる。
【0033】エリアセンサ上に不良画素が存在しない場
合、あるいは存在したとしても焦点検出処理の対象領域
が図5で破線で示した領域51のように領域内には不良
画素が存在しない場合には、前置した置き換え処理は必
要としないことは言うまでもない。
合、あるいは存在したとしても焦点検出処理の対象領域
が図5で破線で示した領域51のように領域内には不良
画素が存在しない場合には、前置した置き換え処理は必
要としないことは言うまでもない。
【0034】図2に戻って、次のステップ(06)で
は、先のステップ(05)で作られた1次元の像信号か
ら、公知の焦点検出演算を使って、目的とする撮影画面
領域の焦点状態を検出する。
は、先のステップ(05)で作られた1次元の像信号か
ら、公知の焦点検出演算を使って、目的とする撮影画面
領域の焦点状態を検出する。
【0035】尚、上記実施例では本発明の光電変換装置
を焦点検出用に用いたことを例示して説明しているが、
本発明は焦点検出用以外の測定装置にも用いられること
はもちろんである。
を焦点検出用に用いたことを例示して説明しているが、
本発明は焦点検出用以外の測定装置にも用いられること
はもちろんである。
【0036】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によればエ
リアセンサに不良な画素が存在していたとしても、その
画素の信号に代って近傍の正常な画素の信号を代用する
ことによって、エリアセンサチップの歩留りを下げるこ
となく、精度良い光電変換信号処理が可能となる。
リアセンサに不良な画素が存在していたとしても、その
画素の信号に代って近傍の正常な画素の信号を代用する
ことによって、エリアセンサチップの歩留りを下げるこ
となく、精度良い光電変換信号処理が可能となる。
【図1】本発明に係る光電変換装置の一実施例を示すブ
ロック図である。
ロック図である。
【図2】図1の装置を用いて焦点検出処理を行なわせる
際の一例を示すプログラムフロー図である。
際の一例を示すプログラムフロー図である。
【図3】測定対象領域を示す説明図である。
【図4】図3の対象領域に対応するセンサー領域を示す
説明図である。
説明図である。
【図5】センサーの画素出力処理を説明する説明図であ
る。
る。
【図6】センサーの出力を示す説明図である。
【図7】図6とともにセンサーの出力を示す説明図であ
る。
る。
【図8】本発明に係る光電変換装置を焦点検出装置に採
用する場合の光学系を示す構成図である。
用する場合の光学系を示す構成図である。
【図9】従来の光電変換装置における光学系を示す構成
図である。
図である。
【図10】図9に示した光電変換装置における測定対象
領域を示す説明図である。
領域を示す説明図である。
43 センサチップ 61 マイクロコンピューター
Claims (3)
- 【請求項1】 光電変換画素部が2次元的に配設された
エリアセンサーと、該センサーの所定範囲からの信号を
取り出し処理を行なう処理回路を有する充電変換装置に
おいて、 前記センサーにおける画素のうち不良画素からの信号を
他の画素からの信号に置き換えて処理を行なうことを特
徴とする光電変換装置 - 【請求項2】 前記センサーにおける画素のうち不良画
素からの信号を該画素に近接する画素からの信号に置き
換えて処理を行なう請求項1に記載の光電変換装置。 - 【請求項3】 前記処理回路は取り出された信号に基づ
いて焦点状態の検出を行なう焦点検出処理回路である請
求項1に記載の光電変換装置。
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP3217075A JPH0556355A (ja) | 1991-08-28 | 1991-08-28 | 光電変換装置 |
US07/936,010 US5428420A (en) | 1991-08-28 | 1992-08-27 | Focus detecting apparatus having photoelectric area sensors |
US08/411,287 US5784655A (en) | 1991-08-28 | 1995-03-27 | Focus detecting apparatus having photoelectric area sensors |
US08/516,412 US5615399A (en) | 1991-08-28 | 1995-08-17 | Focus detecting apparatus having photoelectric area sensors |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP3217075A JPH0556355A (ja) | 1991-08-28 | 1991-08-28 | 光電変換装置 |
Publications (1)
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JPH0556355A true JPH0556355A (ja) | 1993-03-05 |
Family
ID=16698443
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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JP3217075A Pending JPH0556355A (ja) | 1991-08-28 | 1991-08-28 | 光電変換装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
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JP (1) | JPH0556355A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2009163229A (ja) * | 2007-12-10 | 2009-07-23 | Canon Inc | 撮像装置及びその制御方法 |
JP2010091848A (ja) * | 2008-10-09 | 2010-04-22 | Nikon Corp | 焦点検出装置および撮像装置 |
WO2010067693A1 (en) * | 2008-12-10 | 2010-06-17 | Canon Kabushiki Kaisha | Focus detection apparatus and method for controlling the same |
-
1991
- 1991-08-28 JP JP3217075A patent/JPH0556355A/ja active Pending
Cited By (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2009163229A (ja) * | 2007-12-10 | 2009-07-23 | Canon Inc | 撮像装置及びその制御方法 |
US8441545B2 (en) | 2007-12-10 | 2013-05-14 | Canon Kabushiki Kaisha | Image capturing apparatus and control method therefor having pixel signals for focus detection and pixel signals for image recording |
US8890968B2 (en) | 2007-12-10 | 2014-11-18 | Canon Kabushiki Kaisha | Image capturing apparatus and control method therefor with defect correction information used both for defective pixel and detection pixel identification |
JP2010091848A (ja) * | 2008-10-09 | 2010-04-22 | Nikon Corp | 焦点検出装置および撮像装置 |
WO2010067693A1 (en) * | 2008-12-10 | 2010-06-17 | Canon Kabushiki Kaisha | Focus detection apparatus and method for controlling the same |
CN102246079A (zh) * | 2008-12-10 | 2011-11-16 | 佳能株式会社 | 焦点检测设备及其控制方法 |
US8531560B2 (en) | 2008-12-10 | 2013-09-10 | Canon Kabushiki Kaisha | Focus detection apparatus and method for controlling the same |
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