JPH05324947A - カード内bist方式 - Google Patents
カード内bist方式Info
- Publication number
- JPH05324947A JPH05324947A JP4148031A JP14803192A JPH05324947A JP H05324947 A JPH05324947 A JP H05324947A JP 4148031 A JP4148031 A JP 4148031A JP 14803192 A JP14803192 A JP 14803192A JP H05324947 A JPH05324947 A JP H05324947A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- circuit
- card
- tested
- pattern
- diagnostic
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Abstract
(57)【要約】
【目的】 カード内、診断回路の共通化を図る。
【構成】 試験パターン発生部2によりグレーコードと
クロックを診断パターン信号として被試験回路1へ供給
し、CRC演算部3によりこの被試験回路1より出力さ
れたパターンをCRC演算し良否の判定を行い、コント
ロール部4によりパターン数,グレーコードのシーケン
スを制御する。
クロックを診断パターン信号として被試験回路1へ供給
し、CRC演算部3によりこの被試験回路1より出力さ
れたパターンをCRC演算し良否の判定を行い、コント
ロール部4によりパターン数,グレーコードのシーケン
スを制御する。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は論理回路で構成されたカ
ードに係り、特にカード内BIST(Built In
Self Test)方式に関するものである。
ードに係り、特にカード内BIST(Built In
Self Test)方式に関するものである。
【0002】
【従来の技術】今般、カードを構成する論理回路におい
ては、デバイス技術の進歩により、ほとんどのカードに
高集積化したLSIが搭載されている。そして、LSI
の高集積化とともに、LSI単体での試験容易化用にス
キャンパス,バウンダリィースキャン等を内部に持って
いるLSIが増えている。従来、カードの診断方式にお
いては、カードの持っている機能に基づいて、カード特
有に診断回路を設け、カードの良否を判定していた。
ては、デバイス技術の進歩により、ほとんどのカードに
高集積化したLSIが搭載されている。そして、LSI
の高集積化とともに、LSI単体での試験容易化用にス
キャンパス,バウンダリィースキャン等を内部に持って
いるLSIが増えている。従来、カードの診断方式にお
いては、カードの持っている機能に基づいて、カード特
有に診断回路を設け、カードの良否を判定していた。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】上述したように、論理
回路で構成されたほとんどの回路には、LSIが搭載さ
れており、なお、かつ、LSIには、試験容易化回路を
有しているにもかかわらずカードに搭載された場合、そ
の回路が有効に使用されていなかった。また、カードの
診断回路では、カードを機能的に良否を判定しているた
め、カード毎に診断回路を設計する必要があるという課
題があった。
回路で構成されたほとんどの回路には、LSIが搭載さ
れており、なお、かつ、LSIには、試験容易化回路を
有しているにもかかわらずカードに搭載された場合、そ
の回路が有効に使用されていなかった。また、カードの
診断回路では、カードを機能的に良否を判定しているた
め、カード毎に診断回路を設計する必要があるという課
題があった。
【0004】
【課題を解決するための手段】本発明のカード内BIS
T方式は、論理回路で構成されたカードにおいて、グレ
ーコードとクロックを診断パターン信号として被試験回
路へ供給する試験パターン発生部と、上記被試験回路よ
り出力されたパターンをチェックするCRC演算部と、
上記試験パターン発生部と上記CRC演算部を制御する
コントロール部を備え、上記カード自身の良否を判定す
るようにしたものである。
T方式は、論理回路で構成されたカードにおいて、グレ
ーコードとクロックを診断パターン信号として被試験回
路へ供給する試験パターン発生部と、上記被試験回路よ
り出力されたパターンをチェックするCRC演算部と、
上記試験パターン発生部と上記CRC演算部を制御する
コントロール部を備え、上記カード自身の良否を判定す
るようにしたものである。
【0005】
【作用】本発明においては、論理回路で構成されたカー
ド自身の良否を判定する。
ド自身の良否を判定する。
【0006】
【実施例】図1は本発明の一実施例を示すブロック図
で、本発明をLSI内部にスキャン・パスを持ったLS
Iを搭載したカードに適用した場合を示すものである。
この図1において、1は被試験回路(LSI)、2はグ
レーコードとクロックを診断パターン信号として被試験
回路へ供給する試験パターン発生部、3は被試験回路1
より出力されたパターンをチェックするCRC(Cyc
lic Redundancy Cheak)演算部、
4は試験パターン発生部2とCRC演算部3を制御する
コントロール部、5はプログラム格納部(ROM)であ
る。図2は図1における被試験回路1へ供給する試験パ
ターン例を示す説明図で、6は基本CLKの波形を示
し、7は基本クロック×2倍の試験パターンの波形、8
は基本クロック×4倍の試験パターンの波形、9は基本
クロック×n倍の試験パターンの波形を示す。
で、本発明をLSI内部にスキャン・パスを持ったLS
Iを搭載したカードに適用した場合を示すものである。
この図1において、1は被試験回路(LSI)、2はグ
レーコードとクロックを診断パターン信号として被試験
回路へ供給する試験パターン発生部、3は被試験回路1
より出力されたパターンをチェックするCRC(Cyc
lic Redundancy Cheak)演算部、
4は試験パターン発生部2とCRC演算部3を制御する
コントロール部、5はプログラム格納部(ROM)であ
る。図2は図1における被試験回路1へ供給する試験パ
ターン例を示す説明図で、6は基本CLKの波形を示
し、7は基本クロック×2倍の試験パターンの波形、8
は基本クロック×4倍の試験パターンの波形、9は基本
クロック×n倍の試験パターンの波形を示す。
【0007】つぎに図1に示す実施例の動作を図2を参
照して説明する。まず、被試験回路1を診断する場合、
コントロール部4のSMC信号により被試験回路1を診
断モードに切り換える。つぎに、このコントロール部4
のRST信号により被試験回路1の全てのフリップ・フ
ロップ(F/F)を初期設定する。そして、試験パター
ン発生部2より被試験回路1のCLK端子に基本CLK
6が,被試験回路1のSIN端子には、試験パターン
7,8,9が予めROM5でプログラムされたシーケン
スにしたがって、被試験回路1の診断パターンとして入
力される。被試験回路1の出力パターンは、SOT端子
より出力されてCRC演算部3に送られる。このCRC
演算部3では、被試験回路1より出力されたパターンを
CRCデータに圧縮しコントロール部4へ診断結果とし
て出力する。このコントロール部4では、被試験回路1
が正常時データを予めROM5に用意し、CRC演算部
3より送られてきた診断結果と比較することで被試験回
路1の良否を判定することができる。
照して説明する。まず、被試験回路1を診断する場合、
コントロール部4のSMC信号により被試験回路1を診
断モードに切り換える。つぎに、このコントロール部4
のRST信号により被試験回路1の全てのフリップ・フ
ロップ(F/F)を初期設定する。そして、試験パター
ン発生部2より被試験回路1のCLK端子に基本CLK
6が,被試験回路1のSIN端子には、試験パターン
7,8,9が予めROM5でプログラムされたシーケン
スにしたがって、被試験回路1の診断パターンとして入
力される。被試験回路1の出力パターンは、SOT端子
より出力されてCRC演算部3に送られる。このCRC
演算部3では、被試験回路1より出力されたパターンを
CRCデータに圧縮しコントロール部4へ診断結果とし
て出力する。このコントロール部4では、被試験回路1
が正常時データを予めROM5に用意し、CRC演算部
3より送られてきた診断結果と比較することで被試験回
路1の良否を判定することができる。
【0008】
【発明の効果】以上説明したように本発明は、カード自
身の良否を判定するようにしたので、カードの診断方式
において、カード特有の診断回路を設計することなく、
汎用回路(共通回路)で診断ができるという効果を有す
る。
身の良否を判定するようにしたので、カードの診断方式
において、カード特有の診断回路を設計することなく、
汎用回路(共通回路)で診断ができるという効果を有す
る。
【図1】本発明の一実施例を示すブロック図である。
【図2】図1における被試験回路へ供給する試験パター
ン例を示す説明図である。
ン例を示す説明図である。
1 被試験回路 2 試験パターン発生部 3 CRC演算部 4 コントロール部 5 プログラム格納部(ROM)
Claims (1)
- 【請求項1】 論理回路で構成されたカードにおいて、
グレーコードとクロックを診断パターン信号として被試
験回路へ供給する試験パターン発生部と、前記被試験回
路より出力されたパターンをチェックするCRC演算部
と、前記試験パターン発生部と前記CRC演算部を制御
するコントロール部を備え、前記カード自身の良否を判
定するようにしたことを特徴とするカード内BIST方
式。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP4148031A JPH05324947A (ja) | 1992-05-15 | 1992-05-15 | カード内bist方式 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP4148031A JPH05324947A (ja) | 1992-05-15 | 1992-05-15 | カード内bist方式 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH05324947A true JPH05324947A (ja) | 1993-12-10 |
Family
ID=15443573
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP4148031A Pending JPH05324947A (ja) | 1992-05-15 | 1992-05-15 | カード内bist方式 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH05324947A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100791838B1 (ko) * | 2006-10-18 | 2008-01-07 | 삼성전자주식회사 | 스마트 카드 및 스마트 카드의 테스트 방법 |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH03139747A (ja) * | 1989-10-26 | 1991-06-13 | Hitachi Ltd | 制御記憶装置のチェック方式 |
JPH03144382A (ja) * | 1989-10-31 | 1991-06-19 | Toshiba Corp | スキャンテスト方式 |
-
1992
- 1992-05-15 JP JP4148031A patent/JPH05324947A/ja active Pending
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH03139747A (ja) * | 1989-10-26 | 1991-06-13 | Hitachi Ltd | 制御記憶装置のチェック方式 |
JPH03144382A (ja) * | 1989-10-31 | 1991-06-19 | Toshiba Corp | スキャンテスト方式 |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100791838B1 (ko) * | 2006-10-18 | 2008-01-07 | 삼성전자주식회사 | 스마트 카드 및 스마트 카드의 테스트 방법 |
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