JPH0531602Y2 - - Google Patents

Description

【考案の詳細な説明】 〈産業上の利用分野〉 本考案は、光フアイバを用いたフアイバセンサ
装置に関する。

〈従来の技術〉 IC、トランス等の電子部品には機種、制作ロ
ツトなどを明らかにするための標印（通常、白
色）が電子部品のフレーム（通常、黒色又は白
色）に文字又は数字によつて付されている。そし
て、製造工程において、電子部品に標印したの
ち、その標印が確実に行われているか、否かを検
知するため、受光部と受光部とを有するフアイバ
センサ装置によつて標印のあるなしを判断してい
た。

〈考案が解決しようとする課題〉 このフアイバセンサ装置でのひとつの検知方法
としては、標印部分を検知したときの受光部出力
を予め実験によつて設定しておき、受光部出力が
設定値に達したときには、標印ありとする方法が
ある。しかし、この検知方法では、外部の明暗や
標印する下地の色の変化に対応してその都度設定
値を変更する必要があつた。

そこで、本考案の考案者は当初、２つのフアイ
バセンサ装置によつて標印部分と、標印以外の被
検査物の表面との反射率を別々に測定し、この差
を電圧差で検出することによつて標印の有無を検
知する実験を行つた。

しかしながら、フアイバセンサ装置が別々であ
る関係上、被検査物が電子部品のように小さいも
のであると、取付スペースが大きく必要となり、
測定・検知が不能となるばかりでなく、光の相互
干渉を生じるという問題が残つた。

しかし、単にフアイバセンサ装置を一まとめに
しただけでは、標印部分と、標印以外の被検査物
との表面を検知するフアイバセンサ装置同士で前
述したのと同様の光の相互干渉が顕著になり、や
はり検知不能を起こすということが判明した。

本考案は上記事情に鑑みて創案されたもので、
電子部品のような小さいサイズの被検査物であつ
ても、光の相互干渉を生ずることなく、確実に標
印の有無を検知することができるフアイバセンサ
装置を提供することを目的としている。

〈課題を解決するための手段〉 この考案に係るフアイバセンサ装置は、それぞ
れ発光部と発光部とを後端側に有し、先端側を被
検査物に近接して配置する一対のフアイバセンサ
と、少なくとも前記先端側で一対のフアイバセン
サの間に介在される遮光板と、各フアイバセンサ
の各発光部を交互に発光させるべく、発振器と一
方の発光部との間に設けられ、各発光部に入力さ
れる信号の位相を互いに180°異ならせる反転回路
と、各受光部から得られる出力をサンプルホール
ドするサンプルホールド回路と、前記遮光板を挟
む一対のフアイバセンサの受光部からの信号レベ
ルの差を電気的に出力する各サンプルホールド回
路に接続した差動増幅器とを有している。

〈実施例〉 以下、図面を参照して本考案に係る一実施例を
説明する。

第１図はこの考案に係るフアイバセンサ装置の
検知部の概略図である。

本実施例に係るフアイバセンサ装置は、第１の
フアイバセンサ１０と、第２のフアイバセンサ２
０とを有している。

第１のフアイバセンサ１０は、第１発光部３０
と、第１受光部５０と、光フアイバ１２，１３と
を有している。第１発光部３０と第１受光部５０
とは光フアイバ１２，１３の同一端部にそれぞれ
設置されている。すなわち、第１発光部３０は光
フアイバ１２の一端側に、第１受光部５０は光フ
アイバ１３の一端側にそれぞれ設置されているの
である。なお、以下では光フアイバ１２，１３の
先端部、すなわち第１発光部３０及び第１受光部
５０が設けられた側とは反対の側を第１検知部１
１とする。

第２のフアイバセンサ２０は、第１のフアイバ
センサ１０と同様に、第２発光部４０と、第２受
光部６０と、光フアイバ２２，２３とを有してい
る。第２発光部４０と第２受光部６０とは光フア
イバ２２，２３の同一端部にそれぞれ設置されて
いる。すなわち、第２発光部４０は光フアイバ２
２の一端側に、第２受光部６０は光フアイバ２３
の一端側にそれぞれ設置されているのである。な
お、以下では光フアイバ２２，２３の先端部、す
なわち第２発光部４０及び第２受光部６０が設け
られた側とは反対の側を第２検知部２１とする。

両フアイバセンサ１０，２０を構成する光フア
イバ１２，１３，２２，２３の先端側、すなわち
第１検知部１１と第２検知部２１とは検知部２と
して一纏めにされている。さらに、検知部２で
は、第１検知部１１と第２検知部２１との間で互
いの光が干渉し合わないようにするため、第１検
知部１１と第２検知部２１との間、すなわち光フ
アイバ１２，１３と、光フアイバ２２，２３との
間に遮光板１を介設している。

このような構成にしているので、第１発光部２
３０からの光は光フアイバ１２を介して第１検知
部１１に到り、被検査物（図示省略）の表面で反
射されて光フアイバ１３に入射され、光フアイバ
１３を介して第１受光部５０に入射される。

同様に、第２発光部４０からの光は光フアイバ
２２を介して第２検知部２１に到り、被検査物の
表面で反射され、光フアイバ２３を介して第２受
光部６０に入射される。

第２図は本実施例に係るフアイバセンサ装置の
電気的構成を示すブロツク図である。

第１発光部３０、第２発光部４０は、LEDの
如く第１発光素子３１、第２発光素子４１と、両
発光素子３１，４１のスイツチングを行うトラン
ジスタ３２，４２等により構成される。

また、第１受光部５０、第２受光部６０は、ホ
トトランジスタの如き第１受光素子５１、第２受
光素子６１によりそれぞれ構成される。

第１受光部５０の第１受光素子５１には、ゲー
ト回路を備えた第１のサンプルホールド回路７０
が接続されている。また、第２受光部６０の第２
受光素子６１には、第１のサンプルホールド回路
７０と同様の第２のサンプルホールド回路８０が
接続されている。両サンプルホールド回路７０、
８０は後述する発振器９０からの出力によつてそ
の動作が制御されるように構成される。

発振器９０の出力はそのまま第１発光部３０、
第１のサンプルホールド回路７０に入力されると
ともに、反転回路１００を介して180°位相がずれ
た信号が第２発光部４０、第２のサンプルホール
ド回路８０に入力されるように構成されている。

差動増幅器１１０には、第１及び第２のサンプ
ルホールド回路７０，８０の出力が入力される。
また、この差動増幅器１１０の出力が入力される
レベル比較器１２０には、基準値を設定する設定
回路１３０も接続されている。

なお、第２図において１４１は標印部、１４２
は非標印部である。

次に、上述したように構成されたフアイバセン
サ装置の動作を第３図に示すタイムチヤートを参
照しつつ説明する。

今、標印部１４１を第１検知部１１が、非標印
部１４２を第２検知部２１が検知するものとす
る。

発振器９０から、第３図１に示す如きパルス信
号a₀が出力されると、第１発光部３０、第１のサ
ンプルホールド回路７０にそのままパルス信号a₀
が入力される。これと同時に、第２発光部４０と
第２のサンプルホールド回路８０とには、反転回
路１００で位相が180°反転された第３図５に示す
如く反転信号₀入力される。

パルス信号a₀及び反転信号₀のハイレベルに対
応してトランジスタ３２，４２が導通するから、
第１発光素子３１、第２発光素子４１は、それぞ
れ第３図２，６に示す光信号a₁，a₂を発する。そ
して、両光信号a₁，a₂は、それぞれ光フアイバ１
２，２２を介して第１検知部１１、第２検知部２
１に達し、標印部１４１、非標印部１４２に照射
される。各光信号a₁，a₂は、各部の反射率に応じ
て反射光a′₁，a′₂となり、当該反射光a′₁，a′₂は、
第１検知部１１、第２検知部２１を介して光フア
イバ１３，２３に入射される。

前記反射光a′₁，a′₂がそれぞれ第１受光部５０、
第２受光部６０に入射されると、第１発光素子５
１は第３図３に示す信号b₁を第１のサンプルホー
ルド回路７０に、第２発光素子６１は第３部７に
示す信号b₂を第２のサンプルホールド回路８０に
それぞれ出力する。この信号b₁，b₂は、前記反射
率に対応する電圧レベルを有する。

第１のサンプルホールド回路７０、第２のサン
プルホールド回路８０には、発振器９０からのパ
ルス信号a₀、反転信号₀がそれぞれ入力されてい
るから、両サンプルホールド回路７０，８０は、
前記両信号₀，a₀のタイミングに応じてサンプリ
ング及びホールデイングを行い、第３図４，８に
おいて示す信号C₁，C₂を出力する。なお、第３
図４，８において、Ｓはサンプリングを、Ｈはホ
ールデイングをそれぞれ示している。

前記信号C₁，C₂は、差動増幅器１１０にそれ
ぞれ入力され、第３図９に示す如く比較出力ｄが
差動増幅器１１０から出力されて、レベル比較器
１２０に入力される。一方、レベル比較器１２０
には、予め設定回路１３０からの基準値ｅ（第３
図９参照）が入力されており、このレベル比較器
１２０において、前記比較出力ｄが基準値ｅによ
つて検定される。そして、比較出力ｄが基準値ｅ
よりも電圧レベルが高いときは、ハイレベルの検
定出力ｆがレベル比較器１２０から出力され、所
定の標印が確認されることになる。

〈考案の効果〉 以上、説明したように本考案に係るフアイバセ
ンサ装置は、それぞれ発光部と受光部とを後端側
に有し、先端側を被検査物に近接して配置する一
対のフアイバセンサと、少なくとも前記先端側で
一対のフアイバセンサの間に介在される遮光板
と、各フアイバセンサの各発光部を交互に発光さ
せるべく、発振器と一方の発光部との間に設けら
れ、各発光部に入力される信号の位相を互いに
180°異ならせる反転回路と、各受光部から得られ
る出力をサンプルホールドするサンプルホールド
回路と、前記遮光板を挟む一対のフアイバセンサ
の受光部からの信号レベルの差を電気的に出力す
る各サンプルホールド回路に接続した差動増幅器
とを有している。

従つて、一対のフアイバセンサの間での光の干
渉が生じることなく、広い範囲の部分を検知でき
る。

また、発光部の発光に基づく受光部の信号をサ
ンプルホールド回路を介して差動増幅器に加える
ようにしているので、標印部と非標印部との反射
率の差を電圧レベルの差として把握することがで
きる。従つて、被検査物の表面状態の相違や標印
そのものの濃淡に応じて設定値をその都度変更す
る必要がないから、操作性に優れたものになると
ともに、検出の精度を大幅に改善することができ
る。

【図面の簡単な説明】

第１図はこの考案に係るフアイバセンサ装置の
検知部の概略図、第２図はこの考案に係るフアイ
バセンサ装置の電気的構成を示すブロツク図、第
３図はこの考案に係るフアイバセンサ装置の動作
説明のためのタイムチヤートである。 １……遮光板、２……検知部、１０……第１の
フアイバセンサ、１１……第１検知部、２０……
第２のフアイバセンサ、２１……第２検知部、３
０……第１発光部、４０……第２発光部、５０…
…第１受光部、６０……第２受光部、７０……第
１のサンプルホールド回路、８０……第２のサン
プルホールド回路、１１０……差動増幅器。

Claims (1)

【実用新案登録請求の範囲】
1. それぞれ発光部と受光部とを後端側に有し、先
   端側を被検査物に近接して配置する一対のフアイ
   バセンサと、少なくとも前記先端側で一対のフア
   イバセンサの間に介在される遮光板と、各フアイ
   バセンサの各発光部を交互に発光させるべく、発
   振器と一方の発光部との間に設けられ、各発光部
   に入力される信号の位相を互いに180°異ならせる
   反転回路と、各受光部から得られる出力をサンプ
   ルホールドするサンプルホールド回路と、前記遮
   光板を挟む一対のフアイバセンサの受光部からの
   信号レベルの差を電気的に出力する各サンプルホ
   ールド回路に接続した差動増幅器とを設けてなる
   ことを特徴とするフアイバセンサ装置。