JPH05274174A - 疑似障害発生方法及び装置 - Google Patents
疑似障害発生方法及び装置Info
- Publication number
- JPH05274174A JPH05274174A JP4068049A JP6804992A JPH05274174A JP H05274174 A JPH05274174 A JP H05274174A JP 4068049 A JP4068049 A JP 4068049A JP 6804992 A JP6804992 A JP 6804992A JP H05274174 A JPH05274174 A JP H05274174A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- pseudo
- fault
- drive
- pseudo fault
- signal
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Monitoring And Testing Of Exchanges (AREA)
- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
- Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】電子回路装置及び情報処理装置等の論理回路で
構成された装置の論理素子間の配線上に信号レベルの疑
似障害を発生させる疑似障害発生方法及び装置に於い
て、高速回路の動作を保証し、更に装置を改造すること
なく任意の信号線に疑似障害を発生することが出来る疑
似障害発生方法及び装置を提供する。 【構成】電子回路装置の出力線１０に疑似固定障害を発
生させる疑似障害発生方法に於いて、疑似固定障害を発
生させる出力線１０に外部から電流を適宜設定するドラ
イブ時間Ｔｄの間ドライブし、次に適宜設定するクーリ
ング時間Ｔｃの間ドライブを中止する周期を一定周期繰
り返すことを特徴とする。
構成された装置の論理素子間の配線上に信号レベルの疑
似障害を発生させる疑似障害発生方法及び装置に於い
て、高速回路の動作を保証し、更に装置を改造すること
なく任意の信号線に疑似障害を発生することが出来る疑
似障害発生方法及び装置を提供する。 【構成】電子回路装置の出力線１０に疑似固定障害を発
生させる疑似障害発生方法に於いて、疑似固定障害を発
生させる出力線１０に外部から電流を適宜設定するドラ
イブ時間Ｔｄの間ドライブし、次に適宜設定するクーリ
ング時間Ｔｃの間ドライブを中止する周期を一定周期繰
り返すことを特徴とする。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、電子回路装置及び情報
処理装置等の論理回路で構成された装置に於いて、論理
素子間の配線上に信号レベルの疑似障害を発生させる疑
似障害発生方法及びその実施に直接使用する装置に関す
る。
処理装置等の論理回路で構成された装置に於いて、論理
素子間の配線上に信号レベルの疑似障害を発生させる疑
似障害発生方法及びその実施に直接使用する装置に関す
る。
【０００２】
【従来の技術】電子回路装置や情報処理装置に疑似障害
を発生させることは、例えばシステムの障害処理機能の
機能正常作動確認時や、各装置の診断プログラムの機能
正常実行確認時等に行われるものである。即ち、正常状
態の電子回路装置や情報処理装置に信号レベルの障害
（例えば信号の電圧レベルを“０”／“１”何れかの状
態に固定する）を疑似的に発生させ、システムが正常な
障害処理を行えるか、亦、障害位置を診断プログラムに
より検出出来るか等を確認するものである。
を発生させることは、例えばシステムの障害処理機能の
機能正常作動確認時や、各装置の診断プログラムの機能
正常実行確認時等に行われるものである。即ち、正常状
態の電子回路装置や情報処理装置に信号レベルの障害
（例えば信号の電圧レベルを“０”／“１”何れかの状
態に固定する）を疑似的に発生させ、システムが正常な
障害処理を行えるか、亦、障害位置を診断プログラムに
より検出出来るか等を確認するものである。
【０００３】この種、従来の疑似障害発生方法を図５
（１）（２）及び図６（１）（２）の回路構成図に付き
説明する。図中、ａはバックボード、ｂは延長パッケー
ジ、ｃは回路パッケージ、ｃ′は改造回路パッケージ、
ｄはコネクタピン、ｅ，ｆ，ｇ，ｈ，ｉ，ｊはディップ
スイッチ、ｋ，ｌは配線、ｍ，ｎ，ｏは電子部品であ
る。
（１）（２）及び図６（１）（２）の回路構成図に付き
説明する。図中、ａはバックボード、ｂは延長パッケー
ジ、ｃは回路パッケージ、ｃ′は改造回路パッケージ、
ｄはコネクタピン、ｅ，ｆ，ｇ，ｈ，ｉ，ｊはディップ
スイッチ、ｋ，ｌは配線、ｍ，ｎ，ｏは電子部品であ
る。
【０００４】図５に示す様、複数の回路パッケージｃを
収容する図示しないユニット構成の情報処理装置に疑似
的な障害状態信号（“０”，“１”レベル固定状態）を
発生させるため、ユニットのバックボードａと回路パッ
ケージｃ間に、当該回路パッケージｃのコネクタピンｄ
対応にディップスイッチｅ，ｆ，ｇを搭載した延長パッ
ケージｂを接続し、当該ディップスイッチｅ，ｆ，ｇを
オン・オフすることにより前記回路パッケージｃ上のコ
ネクタピンｄの信号線と前記バックボードａ上の信号線
間の接続を接地，開放し、各信号線上に信号値“０”，
“１”固定の疑似障害を発生させている。
収容する図示しないユニット構成の情報処理装置に疑似
的な障害状態信号（“０”，“１”レベル固定状態）を
発生させるため、ユニットのバックボードａと回路パッ
ケージｃ間に、当該回路パッケージｃのコネクタピンｄ
対応にディップスイッチｅ，ｆ，ｇを搭載した延長パッ
ケージｂを接続し、当該ディップスイッチｅ，ｆ，ｇを
オン・オフすることにより前記回路パッケージｃ上のコ
ネクタピンｄの信号線と前記バックボードａ上の信号線
間の接続を接地，開放し、各信号線上に信号値“０”，
“１”固定の疑似障害を発生させている。
【０００５】ここで、例えば前記ディップスイッチｅを
オフ、ディップスイッチｆをオフ、ディップスイッチｇ
をオフとすれば、信号線の電圧は“１”固定となり、こ
の状態で前記ディップスイッチｇをオンとすれば、前記
信号線の電圧は“０”固定となる。
オフ、ディップスイッチｆをオフ、ディップスイッチｇ
をオフとすれば、信号線の電圧は“１”固定となり、こ
の状態で前記ディップスイッチｇをオンとすれば、前記
信号線の電圧は“０”固定となる。
【０００６】亦、図６に示す様、回路パッケージｃ上の
任意の信号線に、“０”，“１”固定の疑似障害を発生
させる装置として、正常な回路パッケージｃ上で疑似障
害を発生させたい箇所を予め抽出しておき、その信号線
をカットして、ディップスイッチｈ，ｉ，ｊの配置出来
る箇所まで配線ｌを延ばした改造回路パッケージｃ′を
作成するなどして対処してきた。
任意の信号線に、“０”，“１”固定の疑似障害を発生
させる装置として、正常な回路パッケージｃ上で疑似障
害を発生させたい箇所を予め抽出しておき、その信号線
をカットして、ディップスイッチｈ，ｉ，ｊの配置出来
る箇所まで配線ｌを延ばした改造回路パッケージｃ′を
作成するなどして対処してきた。
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、当該従
来の疑似障害発生方法に於いては、図５に示す配線ｋや
図６に示す配線ｌの様に回路パッケージｃ，ｃ′に搭載
された論理素子（論理ゲート）間の配線にディップスイ
ッチｅ，ｆ，ｇ，ｈ，ｉ，ｊ等の疑似障害発生機構の接
続による配線長の増加があり、これらの配線長の増加に
伴う信号伝搬遅延の増加により、高速回路に於いては装
置の正常動作を保証出来ない欠点があった。
来の疑似障害発生方法に於いては、図５に示す配線ｋや
図６に示す配線ｌの様に回路パッケージｃ，ｃ′に搭載
された論理素子（論理ゲート）間の配線にディップスイ
ッチｅ，ｆ，ｇ，ｈ，ｉ，ｊ等の疑似障害発生機構の接
続による配線長の増加があり、これらの配線長の増加に
伴う信号伝搬遅延の増加により、高速回路に於いては装
置の正常動作を保証出来ない欠点があった。
【０００８】即ち、一般に電子回路パッケージｃの信号
線の動作クロックは信号の伝搬遅延時間によって決定さ
れ、当該信号伝搬遅延時間は信号のドライブ素子の駆動
能力と信号配線長や論理素子の負荷数等によって決定さ
れる。よって、配線長が増加すると、信号伝搬遅延時間
の増加によって、特に高速な動作クロックを必要とする
高速回路では、正常な動作クロックの伝搬が不可能にな
り、回路の正常動作が保証出来なくなる欠点があった。
線の動作クロックは信号の伝搬遅延時間によって決定さ
れ、当該信号伝搬遅延時間は信号のドライブ素子の駆動
能力と信号配線長や論理素子の負荷数等によって決定さ
れる。よって、配線長が増加すると、信号伝搬遅延時間
の増加によって、特に高速な動作クロックを必要とする
高速回路では、正常な動作クロックの伝搬が不可能にな
り、回路の正常動作が保証出来なくなる欠点があった。
【０００９】亦、疑似障害発生位置が、図５では回路パ
ッケージｃのコネクタピンｄに対応した信号線のみに、
更に図６に於いては、ディップスイッチｈ，ｉ，ｊを改
造接続した信号線のみに固定され、装置製造後に任意の
信号線に疑似障害を発生させることが出来ない欠点があ
った。ここに於いて、本発明は前記従来の課題に鑑み、
装置外部から回路パッケージ上の信号を直接ドライブす
ることにより疑似障害を発生させることを基本原理と
し、高速回路の動作を保証し、更に装置を改造すること
なく任意の信号線に疑似障害を発生することが出来る疑
似障害発生方法及び装置を提供せんとするものである。
ッケージｃのコネクタピンｄに対応した信号線のみに、
更に図６に於いては、ディップスイッチｈ，ｉ，ｊを改
造接続した信号線のみに固定され、装置製造後に任意の
信号線に疑似障害を発生させることが出来ない欠点があ
った。ここに於いて、本発明は前記従来の課題に鑑み、
装置外部から回路パッケージ上の信号を直接ドライブす
ることにより疑似障害を発生させることを基本原理と
し、高速回路の動作を保証し、更に装置を改造すること
なく任意の信号線に疑似障害を発生することが出来る疑
似障害発生方法及び装置を提供せんとするものである。
【００１０】
【課題を解決するための手段】前記課題の解決は、本発
明が次に列挙する新規な特徴的構成手法及び手段を採用
することにより達成される。即ち、本発明方法の特徴
は、電子回路装置の信号線に疑似固定障害を発生させる
疑似障害発生方法に於いて、疑似固定障害を発生させる
信号線に外部から電流を適宜設定するドライブ時間の間
ドライブし、次に適宜設定するクーリング時間の間前記
ドライブを中止する周期を一定周期繰り返してなる疑似
障害発生方法である。
明が次に列挙する新規な特徴的構成手法及び手段を採用
することにより達成される。即ち、本発明方法の特徴
は、電子回路装置の信号線に疑似固定障害を発生させる
疑似障害発生方法に於いて、疑似固定障害を発生させる
信号線に外部から電流を適宜設定するドライブ時間の間
ドライブし、次に適宜設定するクーリング時間の間前記
ドライブを中止する周期を一定周期繰り返してなる疑似
障害発生方法である。
【００１１】本発明装置の第１の特徴は、電子回路装置
の信号線に疑似固定障害を発生させる疑似障害発生装置
に於いて、疑似固定障害を発生させる信号線に、適宜設
定するドライブ時間の間ドライブし、次に適宜設定する
クーリング時間の間前記ドライブを中止する周期を一定
周期繰り返す周期電流をドライブするプローブを設けて
なる疑似障害発生装置である。
の信号線に疑似固定障害を発生させる疑似障害発生装置
に於いて、疑似固定障害を発生させる信号線に、適宜設
定するドライブ時間の間ドライブし、次に適宜設定する
クーリング時間の間前記ドライブを中止する周期を一定
周期繰り返す周期電流をドライブするプローブを設けて
なる疑似障害発生装置である。
【００１２】本発明装置の第２の特徴は、前記第１の特
徴に於けるプローブが、マイクロスイッチ部と、信号線
のドライブ信号と同期して当該マイクロスイッチ部を制
御する制御信号を生成し、当該制御信号により疑似障害
発生時のみ前記マイクロスイッチ部をオン状態として前
記信号線をドライブする手段とを、具備してなる疑似障
害発生装置である。
徴に於けるプローブが、マイクロスイッチ部と、信号線
のドライブ信号と同期して当該マイクロスイッチ部を制
御する制御信号を生成し、当該制御信号により疑似障害
発生時のみ前記マイクロスイッチ部をオン状態として前
記信号線をドライブする手段とを、具備してなる疑似障
害発生装置である。
【００１３】
【作用】本発明は、前記の様な手法および手段を講じた
ので、外部から電流を流したり引いたりすることによっ
て対象装置の出力電圧を“０”又は“１”に一定するド
ライブ機能により、高速回路パッケージに於いて疑似障
害を発生させることが可能となる。亦、従来の低速な回
路パッケージに於いても、既存の回路パッケージを改良
することなく任意の信号線位置に疑似障害を発生するこ
とが可能となる。
ので、外部から電流を流したり引いたりすることによっ
て対象装置の出力電圧を“０”又は“１”に一定するド
ライブ機能により、高速回路パッケージに於いて疑似障
害を発生させることが可能となる。亦、従来の低速な回
路パッケージに於いても、既存の回路パッケージを改良
することなく任意の信号線位置に疑似障害を発生するこ
とが可能となる。
【００１４】
（方法例）本発明の実施例の方法例を図面につき詳説す
る。図１は本方法例のオーバードライブ方式による疑似
障害発生方法を実行する概略回路構成図、図２は本方法
例のオーバードライブ方式による疑似障害発生方法に於
けるドライブ電圧，マイクロスイッチのオンオフ制御の
リレーオン電圧及びそれらの制御によって作成される出
力電圧の“０”縮退の信号図である。
る。図１は本方法例のオーバードライブ方式による疑似
障害発生方法を実行する概略回路構成図、図２は本方法
例のオーバードライブ方式による疑似障害発生方法に於
けるドライブ電圧，マイクロスイッチのオンオフ制御の
リレーオン電圧及びそれらの制御によって作成される出
力電圧の“０”縮退の信号図である。
【００１５】図中、αは疑似障害発生装置、１はドライ
ブ回路部、２はマイクロスイッチ部、３はプローブ、
３′は触針、４はドライブ線、５はパネル部、６は制御
部、７は通信インタフェイス部、８はON/OFF制御部、９
は制御線、βは交換装置、１０は出力線、１１，１２は
電子部品、γは外部プロセッサ、δは疑似障害発生ポイ
ントである。尚、従来例と同一部材には同一符号を付し
た。
ブ回路部、２はマイクロスイッチ部、３はプローブ、
３′は触針、４はドライブ線、５はパネル部、６は制御
部、７は通信インタフェイス部、８はON/OFF制御部、９
は制御線、βは交換装置、１０は出力線、１１，１２は
電子部品、γは外部プロセッサ、δは疑似障害発生ポイ
ントである。尚、従来例と同一部材には同一符号を付し
た。
【００１６】本発明の疑似障害発生方法は、外部から電
流を流したり引いたりすることによって対象装置の出力
電圧を“０”又は“１”に固定するドライブ機能によ
り、交換装置等に疑似障害を発生する方式である。この
方式は、外部からドライブする疑似障害発生装置αの障
害発生位置に触針３′により接触するマイクロスイッチ
部２群及びプローブ３によって実現される。
流を流したり引いたりすることによって対象装置の出力
電圧を“０”又は“１”に固定するドライブ機能によ
り、交換装置等に疑似障害を発生する方式である。この
方式は、外部からドライブする疑似障害発生装置αの障
害発生位置に触針３′により接触するマイクロスイッチ
部２群及びプローブ３によって実現される。
【００１７】外部からのドライブによる対象回路の発熱
等の防止，信頼性の確保のため、ドライブ線４に流すド
ライブ電圧Ｖｄは、図２に示す様ドライブ時間Ｔｄとク
ーリング時間Ｔｃを持たせることによって解決すると共
に、固定障害に近い状態を作るために、前記ドライブ時
間Ｔｄ及びクーリング時間Ｔｃを一定期間繰り返すこと
によって対処する。
等の防止，信頼性の確保のため、ドライブ線４に流すド
ライブ電圧Ｖｄは、図２に示す様ドライブ時間Ｔｄとク
ーリング時間Ｔｃを持たせることによって解決すると共
に、固定障害に近い状態を作るために、前記ドライブ時
間Ｔｄ及びクーリング時間Ｔｃを一定期間繰り返すこと
によって対処する。
【００１８】亦、使用しているデバイスのTTL ，CMOS，
ECL 種類に対応したドライブ電圧Ｖｄを変更する必要が
ある。以上の機能を満足するため、疑似障害発生装置α
としては、前記ドライブ電圧Ｖｄの制御機能とドライブ
時間Ｔｄとクーリング時間Ｔｃ及びその継続時間を制御
する機能を有している。以上の条件に基づいてドライブ
することによって、交換装置β側の出力線１０の位置で
は、図２中Ｖｏに示す様な波形が得られ、“０”或いは
“１”縮退の状態が作成される。
ECL 種類に対応したドライブ電圧Ｖｄを変更する必要が
ある。以上の機能を満足するため、疑似障害発生装置α
としては、前記ドライブ電圧Ｖｄの制御機能とドライブ
時間Ｔｄとクーリング時間Ｔｃ及びその継続時間を制御
する機能を有している。以上の条件に基づいてドライブ
することによって、交換装置β側の出力線１０の位置で
は、図２中Ｖｏに示す様な波形が得られ、“０”或いは
“１”縮退の状態が作成される。
【００１９】ドライブ電流Ｖｄを流すために予め接続し
ているプローブ３の配線負荷を低減するため、図１に示
す様、疑似障害発生ポイントδ近くのプローブ３上にリ
レーマイクロスイッチ部２を設けた。これによりドライ
ブしていない期間は前記リレーマイクロスイッチ部２を
オフ状態にし、交換装置β側からみると各プローブ３が
接続された位置に数cmの分岐長が追加された程度にしか
見えない様に工夫している。
ているプローブ３の配線負荷を低減するため、図１に示
す様、疑似障害発生ポイントδ近くのプローブ３上にリ
レーマイクロスイッチ部２を設けた。これによりドライ
ブしていない期間は前記リレーマイクロスイッチ部２を
オフ状態にし、交換装置β側からみると各プローブ３が
接続された位置に数cmの分岐長が追加された程度にしか
見えない様に工夫している。
【００２０】この機能を実現するため、選択されたプロ
ーブ３に対応したマイクロスイッチ部２を前もってオン
状態にする制御電流を自動的に発生するON/OFF制御部８
を疑似障害発生装置αに内蔵している。以上の解決策に
より、従来方式では対処出来なかった数十ＭＨｚ程度の
高速な交換装置β等に付いても、疑似障害を発生させた
い箇所にプローブ３を当てるだけで“０”，“１”縮退
の障害状態を実現出来る。
ーブ３に対応したマイクロスイッチ部２を前もってオン
状態にする制御電流を自動的に発生するON/OFF制御部８
を疑似障害発生装置αに内蔵している。以上の解決策に
より、従来方式では対処出来なかった数十ＭＨｚ程度の
高速な交換装置β等に付いても、疑似障害を発生させた
い箇所にプローブ３を当てるだけで“０”，“１”縮退
の障害状態を実現出来る。
【００２１】（装置例）本発明の装置例を図１および図
３乃至図４につき詳説する。図３は本装置例のマイクロ
スイッチ部の拡大回路構成概念図、図４は同・多数のプ
ローブを一台の疑似障害発生装置から接続した状態を示
す装置概念図である。図中、２ａはコイル、２ｂはリレ
ー、３ａ，３ｂ，３ｃ，３ｄ，３ｅはプローブ３の個々
の番号、ｃ１，ｃ２，ｃ３，ｃ４，ｃ５は回路パッケー
ジｃの個々の符号、Ｇはアースである。尚、前記方法例
と同一部材には同一符号を付した。
３乃至図４につき詳説する。図３は本装置例のマイクロ
スイッチ部の拡大回路構成概念図、図４は同・多数のプ
ローブを一台の疑似障害発生装置から接続した状態を示
す装置概念図である。図中、２ａはコイル、２ｂはリレ
ー、３ａ，３ｂ，３ｃ，３ｄ，３ｅはプローブ３の個々
の番号、ｃ１，ｃ２，ｃ３，ｃ４，ｃ５は回路パッケー
ジｃの個々の符号、Ｇはアースである。尚、前記方法例
と同一部材には同一符号を付した。
【００２２】前記方法例の図１に示す様、本装置例の疑
似障害発生装置αは、ドライブ信号Ｓ１を生成するドラ
イブ回路部１，ドライブするドライブ線４のオンオフの
制御信号Ｓ２を生成するON/OFF制御部８，制御指令信号
Ｓ３を発しそれらを制御する制御部６，疑似障害発生条
件を図示しない全面パネルから人手Ｐにより設定するパ
ネル部５及び外部のプロセッサγにより疑似障害発生条
件や疑似障害発生トリガ信号Ｓ４，Ｓ５を設定するため
の通信インタフェイス部７から構成される。
似障害発生装置αは、ドライブ信号Ｓ１を生成するドラ
イブ回路部１，ドライブするドライブ線４のオンオフの
制御信号Ｓ２を生成するON/OFF制御部８，制御指令信号
Ｓ３を発しそれらを制御する制御部６，疑似障害発生条
件を図示しない全面パネルから人手Ｐにより設定するパ
ネル部５及び外部のプロセッサγにより疑似障害発生条
件や疑似障害発生トリガ信号Ｓ４，Ｓ５を設定するため
の通信インタフェイス部７から構成される。
【００２３】本装置例に係る疑似障害発生装置αはこの
様な具体的実施態様であって、次にその動作を説明す
る。疑似障害を発生させたい電子回路パッケージICたる
電子部品１１のピンやバックボードのピンにプローブ３
の触針３′を接続する。
様な具体的実施態様であって、次にその動作を説明す
る。疑似障害を発生させたい電子回路パッケージICたる
電子部品１１のピンやバックボードのピンにプローブ３
の触針３′を接続する。
【００２４】そして、図２に示す様なタイミングでドラ
イブ線４にドライブ電圧Ｖｄのドライブ信号Ｓ１や制御
線９にリレーオン電圧Ｖｒの制御信号Ｓ２を印加するこ
とによって、疑似障害発生ポイントδに装置出力Ｖｏの
様な“０”縮退の状態を作成出来、疑似障害を発生する
ことが出来る。尚、当該疑似障害発生装置αに備わるマ
イクロスイッチ部２の構成は図３に示す様、コイル２
ａ，リレー２ｂよりなる。
イブ線４にドライブ電圧Ｖｄのドライブ信号Ｓ１や制御
線９にリレーオン電圧Ｖｒの制御信号Ｓ２を印加するこ
とによって、疑似障害発生ポイントδに装置出力Ｖｏの
様な“０”縮退の状態を作成出来、疑似障害を発生する
ことが出来る。尚、当該疑似障害発生装置αに備わるマ
イクロスイッチ部２の構成は図３に示す様、コイル２
ａ，リレー２ｂよりなる。
【００２５】次に、疑似障害発生条件の設定方法に付き
説明する。疑似障害発生条件の指定方法としては、図１
に示すパネル部５から人手Ｐで条件を指定する方法と、
外部プロセッサγから通信インタフェイス部７を介して
指定する方法の２通りがある。
説明する。疑似障害発生条件の指定方法としては、図１
に示すパネル部５から人手Ｐで条件を指定する方法と、
外部プロセッサγから通信インタフェイス部７を介して
指定する方法の２通りがある。
【００２６】疑似障害発生条件としては、図２に示すド
ライブ電圧Ｖｄ，ドライブ時間Ｔｄ，クーリング時間Ｔ
ｃ及び疑似障害状態をどの程度継続するかの条件とし
て、ドライブ時間Ｔｄの合計時間により指定する。亦、
操作性の向上を考慮して、ドライブ対象となるデバイス
TTL ，ECL ，CMOS種類に対応した疑似障害発生条件を自
動的に設定する機能も具有する。
ライブ電圧Ｖｄ，ドライブ時間Ｔｄ，クーリング時間Ｔ
ｃ及び疑似障害状態をどの程度継続するかの条件とし
て、ドライブ時間Ｔｄの合計時間により指定する。亦、
操作性の向上を考慮して、ドライブ対象となるデバイス
TTL ，ECL ，CMOS種類に対応した疑似障害発生条件を自
動的に設定する機能も具有する。
【００２７】次に、疑似障害発生手順の自動化に付いて
説明する。疑似障害発生条件や疑似障害発生の開始信号
を通信インタフェイス部７から貰うことにより、外部プ
ロセッサγのプログラムによって順次疑似障害を発生さ
せることが出来る。
説明する。疑似障害発生条件や疑似障害発生の開始信号
を通信インタフェイス部７から貰うことにより、外部プ
ロセッサγのプログラムによって順次疑似障害を発生さ
せることが出来る。
【００２８】この場合、図４に示す様、疑似障害を発生
させる回路パッケージｃ１，ｃ２，ｃ３，ｃ４，ｃ５
は、疑似障害を発生させるマイクロスイッチ部２付のプ
ローブ３の個々の番号３ａ，３ｂ，３ｃ，３ｄ，３ｅに
て指定する。亦、これらの機能を応用することで、終夜
の無人での疑似障害発生実験にも適用可能である。
させる回路パッケージｃ１，ｃ２，ｃ３，ｃ４，ｃ５
は、疑似障害を発生させるマイクロスイッチ部２付のプ
ローブ３の個々の番号３ａ，３ｂ，３ｃ，３ｄ，３ｅに
て指定する。亦、これらの機能を応用することで、終夜
の無人での疑似障害発生実験にも適用可能である。
【００２９】
【発明の効果】かくして、本発明によれば、疑似障害を
発生させるために専用の疑似障害発生用延長パッケージ
や改造回路パッケージを製造することなく、外部からド
ライブするためのプローブを接続するだけで交換装置や
電子回路装置の任意の信号線位置（具体的にはIC，LSI
等電子部品のピン対応）に疑似障害を容易に発生するこ
とが出来るので、従来方法と比して経済的な疑似障害発
生方法を構築出来る。亦、従来方法では実現出来なかっ
た高速回路上での疑似障害発生に付いても、マイクロス
イッチ部を具備したプローブを介して、オーバードライ
ブすることにより疑似障害を発生出来る等、優れた実用
性，有用性を具有する。
発生させるために専用の疑似障害発生用延長パッケージ
や改造回路パッケージを製造することなく、外部からド
ライブするためのプローブを接続するだけで交換装置や
電子回路装置の任意の信号線位置（具体的にはIC，LSI
等電子部品のピン対応）に疑似障害を容易に発生するこ
とが出来るので、従来方法と比して経済的な疑似障害発
生方法を構築出来る。亦、従来方法では実現出来なかっ
た高速回路上での疑似障害発生に付いても、マイクロス
イッチ部を具備したプローブを介して、オーバードライ
ブすることにより疑似障害を発生出来る等、優れた実用
性，有用性を具有する。
【図１】本発明の実施例に於ける方法例のオーバードラ
イブ方式による疑似障害発生方法を実行する概略回路構
成図である。
イブ方式による疑似障害発生方法を実行する概略回路構
成図である。
【図２】同上による疑似障害発生方法に於ける（ａ）ド
ライブ電圧，（ｂ）マイクロスイッチのオンオフ制御の
リレーオン電圧及び（ｃ）それらの制御によって作成さ
れる出力電圧の“０”縮退のそれぞれ信号図である。
ライブ電圧，（ｂ）マイクロスイッチのオンオフ制御の
リレーオン電圧及び（ｃ）それらの制御によって作成さ
れる出力電圧の“０”縮退のそれぞれ信号図である。
【図３】本発明の実施例に於ける装置例のマイクロスイ
ッチ部の拡大回路構成概念図である。
ッチ部の拡大回路構成概念図である。
【図４】同上、多数のプローブを一台の疑似障害発生装
置から接続した状態を示す装置概念図である。
置から接続した状態を示す装置概念図である。
【図５】（１）は従来の疑似障害発生方法に供する回路
の構成図、（２）は（１）中Ｖのディップスイッチのシ
ンボル結線拡大図である。
の構成図、（２）は（１）中Ｖのディップスイッチのシ
ンボル結線拡大図である。
【図６】（１）は同上の他の例を示す回路構成図、
（２）は（１）中ＶＩのディップスイッチのシンボル結
線拡大図である。
（２）は（１）中ＶＩのディップスイッチのシンボル結
線拡大図である。
ａ…バックボード ｂ…延長パッケージ ｃ，ｃ′，ｃ１，ｃ２，ｃ３，ｃ４，ｃ５…回路パッケ
ージ ｄ…コネクタピン ｅ，ｆ，ｇ，ｈ，ｉ，ｊ…ディップスイッチ ｋ，ｌ…配線 ｍ，ｎ，ｏ…電子部品 α…疑似障害発生装置 １…ドライブ回路部 ２…マイクロスイッチ部 ２ａ…コイル ２ｂ…リレー ３，３ａ，３ｂ，３ｃ，３ｄ，３ｅ…プローブ ３′…触針 ４…ドライブ線 ５…パネル部 ６…制御部 ７…通信インタフェイス部 ８…ON/OFF制御部 ９…制御線 β…交換装置 １０…出力線 １１，１２…電子部品 γ…外部プロセッサ δ…疑似障害発生ポイント Ｐ…人手 Ｔｄ…ドライブ時間 Ｔｃ…クーリング時間 Ｖｄ…ドライブ電圧 Ｖｒ…リレーオン電圧 Ｖｏ…装置出力 Ｓ１…ドライブ信号 Ｓ２…制御信号 Ｓ３…制御指令信号 Ｓ４，Ｓ５…擬似障害発生トリガ信号
ージ ｄ…コネクタピン ｅ，ｆ，ｇ，ｈ，ｉ，ｊ…ディップスイッチ ｋ，ｌ…配線 ｍ，ｎ，ｏ…電子部品 α…疑似障害発生装置 １…ドライブ回路部 ２…マイクロスイッチ部 ２ａ…コイル ２ｂ…リレー ３，３ａ，３ｂ，３ｃ，３ｄ，３ｅ…プローブ ３′…触針 ４…ドライブ線 ５…パネル部 ６…制御部 ７…通信インタフェイス部 ８…ON/OFF制御部 ９…制御線 β…交換装置 １０…出力線 １１，１２…電子部品 γ…外部プロセッサ δ…疑似障害発生ポイント Ｐ…人手 Ｔｄ…ドライブ時間 Ｔｃ…クーリング時間 Ｖｄ…ドライブ電圧 Ｖｒ…リレーオン電圧 Ｖｏ…装置出力 Ｓ１…ドライブ信号 Ｓ２…制御信号 Ｓ３…制御指令信号 Ｓ４，Ｓ５…擬似障害発生トリガ信号
Claims (3)
- 【請求項１】電子回路装置の信号線に疑似固定障害を発
生させる疑似障害発生方法に於いて、疑似固定障害を発
生させる信号線に外部から電流を適宜設定するドライブ
時間の間ドライブし、次に適宜設定するクーリング時間
の間前記ドライブを中止する周期を一定周期繰り返すこ
とを特徴とする疑似障害発生方法 - 【請求項２】電子回路装置の信号線に疑似固定障害を発
生させる疑似障害発生装置に於いて、疑似固定障害を発
生させる信号線に、適宜設定するドライブ時間の間ドラ
イブし、次に適宜設定するクーリング時間の間前記ドラ
イブを中止する周期を一定周期繰り返す周期電流をドラ
イブするプローブを設けたことを特徴とする疑似障害発
生装置 - 【請求項３】プローブは、マイクロスイッチ部と、信号
線のドライブ信号と同期して当該マイクロスイッチ部を
制御する制御信号を生成し、当該制御信号により疑似障
害発生時のみ前記マイクロスイッチ部をオン状態として
前記信号線をドライブする手段とを、具備したことを特
徴とする請求項２記載の疑似障害発生装置
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4068049A JPH05274174A (ja) | 1992-03-26 | 1992-03-26 | 疑似障害発生方法及び装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4068049A JPH05274174A (ja) | 1992-03-26 | 1992-03-26 | 疑似障害発生方法及び装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05274174A true JPH05274174A (ja) | 1993-10-22 |
Family
ID=13362546
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4068049A Pending JPH05274174A (ja) | 1992-03-26 | 1992-03-26 | 疑似障害発生方法及び装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH05274174A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007086023A (ja) * | 2005-09-26 | 2007-04-05 | Fujitsu Ltd | プリント板ビアの基準点検出装置、検出方法、および検出プログラム |
| JP2009204439A (ja) * | 2008-02-28 | 2009-09-10 | Fujitsu Ltd | クランプ試験装置およびクランプ試験方法 |
| JP4763807B2 (ja) * | 2006-02-22 | 2011-08-31 | ローベルト ボッシュ ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツング | 制御装置の故障状態をシミュレートするための方法および回路構成 |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS61170677A (ja) * | 1985-01-25 | 1986-08-01 | Nec Corp | 論理回路試験装置 |
-
1992
- 1992-03-26 JP JP4068049A patent/JPH05274174A/ja active Pending
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS61170677A (ja) * | 1985-01-25 | 1986-08-01 | Nec Corp | 論理回路試験装置 |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007086023A (ja) * | 2005-09-26 | 2007-04-05 | Fujitsu Ltd | プリント板ビアの基準点検出装置、検出方法、および検出プログラム |
| JP4548291B2 (ja) * | 2005-09-26 | 2010-09-22 | 富士通株式会社 | プリント板ビアの基準点検出装置、検出方法、および検出プログラム |
| JP4763807B2 (ja) * | 2006-02-22 | 2011-08-31 | ローベルト ボッシュ ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツング | 制御装置の故障状態をシミュレートするための方法および回路構成 |
| JP2009204439A (ja) * | 2008-02-28 | 2009-09-10 | Fujitsu Ltd | クランプ試験装置およびクランプ試験方法 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP3447086B2 (ja) | 能動マトリックスデバイス用電子式駆動回路 | |
| US4196386A (en) | Method and portable apparatus for testing digital printed circuit boards | |
| KR20010111043A (ko) | 반도체 집적회로 시험용 테스트 패턴 생성방법 및 그 장치 | |
| JPS6211735B2 (ja) | ||
| EP0280848B1 (en) | On-chip on-line ac and dc clock tree error detection system | |
| JPH07146341A (ja) | 順序論理回路を組み合わせ論理回路に変換することにより試験を行う方法及び装置 | |
| JPH05274174A (ja) | 疑似障害発生方法及び装置 | |
| US5550844A (en) | Printed circuit board fault injection circuit | |
| JP3670067B2 (ja) | 集積回路装置 | |
| JP3137030B2 (ja) | 半導体装置 | |
| JP2005039385A (ja) | 車両用制御装置 | |
| JP4304964B2 (ja) | 半導体回路装置及び半導体回路装置の検査装置 | |
| JP3328160B2 (ja) | 論理集積回路のテスト装置 | |
| JP3542027B2 (ja) | バーンインストレス回路を備えた半導体装置および半導体装置へのバーンインストレス印加方法 | |
| JP2851969B2 (ja) | 半導体集積回路を搭載したテープキャリアパッケージとその検査方法 | |
| JPS62262165A (ja) | 情報処理装置 | |
| JP2005283207A (ja) | 半導体集積回路装置 | |
| JP2648001B2 (ja) | 半導体集積回路 | |
| JP2893666B2 (ja) | ドライブ式擬似故障発生装置 | |
| JPH06338944A (ja) | 高速回路用擬似故障発生方法及び装置 | |
| JP3116832B2 (ja) | Ｌｓｉ検査方式 | |
| JPS63313241A (ja) | 回路基板試験プログラム起動方法 | |
| JPH06337281A (ja) | 断続擬似故障発生方法およびスイッチ式擬似故障発生装置 | |
| KR100186636B1 (ko) | 반도체 본딩용 와이어 공급 제어 장치 | |
| JPH0991166A (ja) | １チップマイクロコンピュータ及びこれを用いた開発支援装置 |