JPH0526930A - 電磁界分布測定装置及び電磁波源解析システム及び電磁界解析システム - Google Patents
電磁界分布測定装置及び電磁波源解析システム及び電磁界解析システムInfo
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- JPH0526930A JPH0526930A JP20656391A JP20656391A JPH0526930A JP H0526930 A JPH0526930 A JP H0526930A JP 20656391 A JP20656391 A JP 20656391A JP 20656391 A JP20656391 A JP 20656391A JP H0526930 A JPH0526930 A JP H0526930A
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- electromagnetic
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 不要電磁波放射抑制対策に寄与する波源分布
を求める電磁波源解析システム、及び周囲の電磁環境に
影響されることなく放射電磁界を求めるための電磁界解
析システム、及び前記二つのシステムの構成上不可欠で
ある電磁界分布を測定する測定装置を提供する。 【構成】 電磁界分布測定装置１は、互いに１８０°向
き合わせて配置され、二つの校正された電磁界測定プロ
ーブ３，３と、電磁界測定プローブ３を支持する電磁界
プローブ支持部４と、電磁界測定プローブ３を上下する
ためのガイドとなるポール５と、電磁界測定プローブ３
を電子機器本体を中心として１８０°回転させる回転テ
ーブル６と、電子機器本体を載せる被測定物固定用テー
ブル７と、基底部８とで構成される。回転テーブル６は
回転するが、被測定物固定用テーブル７は、高さの調整
のみが可能であり、回転しない。
を求める電磁波源解析システム、及び周囲の電磁環境に
影響されることなく放射電磁界を求めるための電磁界解
析システム、及び前記二つのシステムの構成上不可欠で
ある電磁界分布を測定する測定装置を提供する。 【構成】 電磁界分布測定装置１は、互いに１８０°向
き合わせて配置され、二つの校正された電磁界測定プロ
ーブ３，３と、電磁界測定プローブ３を支持する電磁界
プローブ支持部４と、電磁界測定プローブ３を上下する
ためのガイドとなるポール５と、電磁界測定プローブ３
を電子機器本体を中心として１８０°回転させる回転テ
ーブル６と、電子機器本体を載せる被測定物固定用テー
ブル７と、基底部８とで構成される。回転テーブル６は
回転するが、被測定物固定用テーブル７は、高さの調整
のみが可能であり、回転しない。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は電磁波源本体から放射さ
れる電磁波の電磁界分布測定装置、及び電磁波源解析シ
ステム、及び電磁界分析解析システムに関する。
れる電磁波の電磁界分布測定装置、及び電磁波源解析シ
ステム、及び電磁界分析解析システムに関する。
【０００２】
【従来の技術】コンピュータ，電子医療機器などの電子
機器は、その動作時に不要な電磁波を放射し、しばしば
無線通信などへ電磁干渉を引き起こす。これに対し、多
くの国では電子機器から放射する不要電磁波に規制を設
け、上記の電磁干渉の低減を図っている。
機器は、その動作時に不要な電磁波を放射し、しばしば
無線通信などへ電磁干渉を引き起こす。これに対し、多
くの国では電子機器から放射する不要電磁波に規制を設
け、上記の電磁干渉の低減を図っている。
【０００３】我が国でも情報処理装置等電波障害自主規
制協議会（ＶＣＣＩ）により不要電磁波の放射レベルに
規制値が設けられており、本規制を満足しない電子機器
は、実質的に国内で販売できない（例えば前記協議会発
行ＶＣＣＩだより、Ｎｏ１参照）。不要電磁波放射を抑
制するためには、電子機器本体における放射源を特定
し、電波吸収材や電磁遮へい体などを用いて放射抑制対
策が施される。
制協議会（ＶＣＣＩ）により不要電磁波の放射レベルに
規制値が設けられており、本規制を満足しない電子機器
は、実質的に国内で販売できない（例えば前記協議会発
行ＶＣＣＩだより、Ｎｏ１参照）。不要電磁波放射を抑
制するためには、電子機器本体における放射源を特定
し、電波吸収材や電磁遮へい体などを用いて放射抑制対
策が施される。
【０００４】従来、本体上の電磁波放射源の特定には、
図７のブロック図に示すような電磁波源に直接隣接して
電磁放射監視プローブを平面上に配列した装置３１によ
り本体の電磁波源の強度を直接測定する方法（特願昭６
２−２３７３６３号参照）、図８に示すような本体近傍
の２次元平面上で電界もしくは磁界プローブを走査する
２次元電磁界プローブ走査装置３２にて、平面上の電磁
界分布を測定し、電磁界強度マップを作製して本体表面
上の電磁波源を特定する方法（例えば、“１９形ラック
のシールド対策”、電子情報通信学会，電子機器のＥＭ
Ｃとその対策ワークショップ（第２会資料），Ｐ６１）
などが用いられてきた。
図７のブロック図に示すような電磁波源に直接隣接して
電磁放射監視プローブを平面上に配列した装置３１によ
り本体の電磁波源の強度を直接測定する方法（特願昭６
２−２３７３６３号参照）、図８に示すような本体近傍
の２次元平面上で電界もしくは磁界プローブを走査する
２次元電磁界プローブ走査装置３２にて、平面上の電磁
界分布を測定し、電磁界強度マップを作製して本体表面
上の電磁波源を特定する方法（例えば、“１９形ラック
のシールド対策”、電子情報通信学会，電子機器のＥＭ
Ｃとその対策ワークショップ（第２会資料），Ｐ６１）
などが用いられてきた。
【０００５】また、不要電磁波の測定方法に関しては約
５０〜５００ｍ2の導体面上で放射源本体から３ｍまた
は１０ｍ離れた点における電界強度を測定する方法が規
定されている（例えば前記ＶＣＣＩだより、Ｎｏ１参
照）。
５０〜５００ｍ2の導体面上で放射源本体から３ｍまた
は１０ｍ離れた点における電界強度を測定する方法が規
定されている（例えば前記ＶＣＣＩだより、Ｎｏ１参
照）。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】ところが、上記の電磁
波源の測定法によるときには、被測定対象が平面に限ら
れること、近傍界測定であるため、電磁界強度の強く測
定された部分が必ずしも放射源とは結びつかず、不要電
磁波放射抑制対策の観点からは十分でないことなどの欠
点があった。
波源の測定法によるときには、被測定対象が平面に限ら
れること、近傍界測定であるため、電磁界強度の強く測
定された部分が必ずしも放射源とは結びつかず、不要電
磁波放射抑制対策の観点からは十分でないことなどの欠
点があった。
【０００７】また、前記不要電磁波測定法は、測定場所
として面積の広い敷地を必要とすること、本体以外から
の電磁波の影響を最小限にするため放送波や他の電磁雑
音が少ない地域、もしくは電波暗室内で行わなければな
らず、測定コストが極めて高くなり、放射抑制対策効果
の実験的評価としてふさわしくない。
として面積の広い敷地を必要とすること、本体以外から
の電磁波の影響を最小限にするため放送波や他の電磁雑
音が少ない地域、もしくは電波暗室内で行わなければな
らず、測定コストが極めて高くなり、放射抑制対策効果
の実験的評価としてふさわしくない。
【０００８】本発明の目的は、こうした従来技術の問題
点を解決し、不要電磁波放射抑制対策に寄与する波源分
布を求めるための電磁波源解析システム、及び周囲の電
磁環境に影響されることなく放射電磁界を求めるための
電磁界解析システム、さらに前記二つのシステムの構成
上不可欠である電磁界分布を測定するための測定装置を
提供することにある。
点を解決し、不要電磁波放射抑制対策に寄与する波源分
布を求めるための電磁波源解析システム、及び周囲の電
磁環境に影響されることなく放射電磁界を求めるための
電磁界解析システム、さらに前記二つのシステムの構成
上不可欠である電磁界分布を測定するための測定装置を
提供することにある。
【０００９】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、本発明による電磁界分布測定装置においては、電磁
波源本体からの電磁放射に対し、電界及び磁界を測定す
る電磁界測定プローブと、前記本体を固定する機構と、
前記プローブを前記本体周囲の空間において走査する機
構とを有するものである。
め、本発明による電磁界分布測定装置においては、電磁
波源本体からの電磁放射に対し、電界及び磁界を測定す
る電磁界測定プローブと、前記本体を固定する機構と、
前記プローブを前記本体周囲の空間において走査する機
構とを有するものである。
【００１０】また、前記電磁界測定プローブは、測定点
において、該電磁界測定プローブの電磁界を感受する部
分を中心として本体に対する向きを可変とする機能を有
するものである。
において、該電磁界測定プローブの電磁界を感受する部
分を中心として本体に対する向きを可変とする機能を有
するものである。
【００１１】また、電磁界測定プローブは、その移動及
び向きの転換を装置外部に設けられた制御機器から発す
る命令信号により行うものである。
び向きの転換を装置外部に設けられた制御機器から発す
る命令信号により行うものである。
【００１２】本発明の電磁波源解析システムにおいて
は、本体からの電磁放射に対し、該本体の放射電磁界の
影響が及ぶ領域に仮定した曲面もしくは平面上の電磁界
を測定し、電界と磁界の強度信号と位相信号を出力する
測定手段と、前記電界と磁界の強度信号と位相信号をデ
ジタル変換して数値データを出力するデジタル変換手段
と、前記数値データから前記本体表面及び内部の波源分
布を求めるための逆問題解析機能を有するコンピュータ
とで構成されるものである。
は、本体からの電磁放射に対し、該本体の放射電磁界の
影響が及ぶ領域に仮定した曲面もしくは平面上の電磁界
を測定し、電界と磁界の強度信号と位相信号を出力する
測定手段と、前記電界と磁界の強度信号と位相信号をデ
ジタル変換して数値データを出力するデジタル変換手段
と、前記数値データから前記本体表面及び内部の波源分
布を求めるための逆問題解析機能を有するコンピュータ
とで構成されるものである。
【００１３】また、本発明の電磁界解析システムにおい
ては、本体からの電磁放射に対し、該本体を取り囲む閉
曲面上のすべての電磁界を測定し、電界と磁界の強度信
号と位相信号を出力する測定手段と、前記電界と磁界の
強度信号と位相信号をデジタル変換して数値データを出
力するデジタル変換手段と、前記数値データから前記本
体の放射する電磁波の任意の点における電磁界を求める
面積積分機能を有するコンピュータとで構成されるもの
である。
ては、本体からの電磁放射に対し、該本体を取り囲む閉
曲面上のすべての電磁界を測定し、電界と磁界の強度信
号と位相信号を出力する測定手段と、前記電界と磁界の
強度信号と位相信号をデジタル変換して数値データを出
力するデジタル変換手段と、前記数値データから前記本
体の放射する電磁波の任意の点における電磁界を求める
面積積分機能を有するコンピュータとで構成されるもの
である。
【００１４】
【作用】電磁波源本体を取り囲む曲面上の電磁界を測定
し、得られた電磁界分布を解析して不要電波放射抑制に
影響を与える波源分布を求める。また、電磁波源本体を
含む閉曲面上の電磁界分布を測定し、この電磁界分布か
ら任意の点における電磁界を求める。
し、得られた電磁界分布を解析して不要電波放射抑制に
影響を与える波源分布を求める。また、電磁波源本体を
含む閉曲面上の電磁界分布を測定し、この電磁界分布か
ら任意の点における電磁界を求める。
【００１５】
【実施例】以下に本発明の実施例を図面を参照しながら
具体的に説明する。
具体的に説明する。
【００１６】図１は、本発明の第１の実施例による電磁
界分布測定装置１と、電磁波放射源本体２の斜視図であ
る。電磁界分布測定装置１は、互いに１８０°向き合わ
せて配置された二つの校正された電磁界測定プローブ３
と、電磁界測定プローブ３を支持する電磁界プローブ支
持部４、電磁界測定プローブ３を上下するためのガイド
となるポール５、電磁界測定プローブ３を電磁波放射源
本体２を通る軸を中心として１８０°回転させるための
回転テーブル６、電磁波放射源本体２を載せるための被
測定物固定用テーブル７、及び基底部８で構成される。
回転テーブル６は回転するが、被測定物固定用テーブル
７は高さの調整のみが可能であり回転しない。本装置１
を構成する部品，材料は、電磁界分布を乱すことがない
ようできるだけプラスチック，木などの非金属とする。
界分布測定装置１と、電磁波放射源本体２の斜視図であ
る。電磁界分布測定装置１は、互いに１８０°向き合わ
せて配置された二つの校正された電磁界測定プローブ３
と、電磁界測定プローブ３を支持する電磁界プローブ支
持部４、電磁界測定プローブ３を上下するためのガイド
となるポール５、電磁界測定プローブ３を電磁波放射源
本体２を通る軸を中心として１８０°回転させるための
回転テーブル６、電磁波放射源本体２を載せるための被
測定物固定用テーブル７、及び基底部８で構成される。
回転テーブル６は回転するが、被測定物固定用テーブル
７は高さの調整のみが可能であり回転しない。本装置１
を構成する部品，材料は、電磁界分布を乱すことがない
ようできるだけプラスチック，木などの非金属とする。
【００１７】電磁界測定プローブ３は、電界測定時には
電界プローブ、磁界測定時には磁界ループを用いる。電
磁界プローブ支持部４は、ポール５に垂直に、かつ回転
の中心方向にスライドするため、電磁界測定プローブ３
の回転半径は可変である。
電界プローブ、磁界測定時には磁界ループを用いる。電
磁界プローブ支持部４は、ポール５に垂直に、かつ回転
の中心方向にスライドするため、電磁界測定プローブ３
の回転半径は可変である。
【００１８】電磁界測定プローブ３として一方向のみの
電界成分もしくは磁界成分を測定するプローブを使用
し、かつ直交する３方向の電界成分または磁界成分を測
定する必要がある場合を考慮して、電磁界プローブ支持
部４には、電磁界測定プローブ３の電磁界感受部を中心
として電磁界測定プローブの向きを直交する３方向で変
えられる機構を設けた。
電界成分もしくは磁界成分を測定するプローブを使用
し、かつ直交する３方向の電界成分または磁界成分を測
定する必要がある場合を考慮して、電磁界プローブ支持
部４には、電磁界測定プローブ３の電磁界感受部を中心
として電磁界測定プローブの向きを直交する３方向で変
えられる機構を設けた。
【００１９】本測定装置１は、電磁界測定プローブ３を
一定の半径で回転，上下，半径の方向に独立に移動でき
るため、電磁波放射源本体２を取り囲む円筒型閉曲面上
の電磁界分布を測定することができる。電磁界測定プロ
ーブ３は、校正されているため、プローブ位置における
電界、もしくは磁界の絶対値が測定できる。位相の測定
に対しては、電子機器本体の近傍に固定した別の電磁界
プローブ９を設けてこれを位相基準とする。電磁界測定
プローブ３と、測定された電磁界の信号を受信する受信
機（図示略）とは高周波ケーブル１０を通して接続され
る。受信機にはネットワークアナライザ，ベクトルアナ
ライザなどの振幅と位相の測定が可能な装置を用いる。
一定の半径で回転，上下，半径の方向に独立に移動でき
るため、電磁波放射源本体２を取り囲む円筒型閉曲面上
の電磁界分布を測定することができる。電磁界測定プロ
ーブ３は、校正されているため、プローブ位置における
電界、もしくは磁界の絶対値が測定できる。位相の測定
に対しては、電子機器本体の近傍に固定した別の電磁界
プローブ９を設けてこれを位相基準とする。電磁界測定
プローブ３と、測定された電磁界の信号を受信する受信
機（図示略）とは高周波ケーブル１０を通して接続され
る。受信機にはネットワークアナライザ，ベクトルアナ
ライザなどの振幅と位相の測定が可能な装置を用いる。
【００２０】本実施例では測定の効率化のため可動する
電磁界測定プローブ３は二つとしたが、一つの電磁界測
定プローブ３を３６０°回転させるようにしてもよく、
また３つ以上を用いてもよい。電磁界測定プローブ３に
電気−光変換機能を内蔵し、高周波ケーブル１０に代え
て光ケーブルを使用すれば、電磁界の乱れを防ぐことが
できる。
電磁界測定プローブ３は二つとしたが、一つの電磁界測
定プローブ３を３６０°回転させるようにしてもよく、
また３つ以上を用いてもよい。電磁界測定プローブ３に
電気−光変換機能を内蔵し、高周波ケーブル１０に代え
て光ケーブルを使用すれば、電磁界の乱れを防ぐことが
できる。
【００２１】電磁波放射源本体２の固定方法は、テーブ
ル７の代わりに被測定放射源を釣り下げるような構造と
してもよい。電磁界測定プローブ３を走査する面すなわ
ち測定面は、円筒面に限らず球や楕円球など他の曲面
や、平面を組み合わせたものとしてもよい。
ル７の代わりに被測定放射源を釣り下げるような構造と
してもよい。電磁界測定プローブ３を走査する面すなわ
ち測定面は、円筒面に限らず球や楕円球など他の曲面
や、平面を組み合わせたものとしてもよい。
【００２２】図２は、本発明の電磁波源解析システム１
１を示すブロック図である。本システム１１は、電磁波
源本体１２の放射電磁界の影響が及ぶ領域に仮定した曲
面もしくは平面上の電界と磁界それぞれの強度と位相の
分布とを測定する電磁界分布測定装置１３と、測定され
た電界と磁界それぞれの強度と位相とのデータをデジタ
ル数値データに変換するデジタル変換器１４と、変換さ
れた電界と磁界の強度と位相とのデジタル数値データか
ら放射源の内部と表面との電流分布もしくは電荷分布を
求める逆問題計算機能を有するコンピュータ１５と、求
められた波源分布を視覚的に表示する表示装置１６によ
り構成される。
１を示すブロック図である。本システム１１は、電磁波
源本体１２の放射電磁界の影響が及ぶ領域に仮定した曲
面もしくは平面上の電界と磁界それぞれの強度と位相の
分布とを測定する電磁界分布測定装置１３と、測定され
た電界と磁界それぞれの強度と位相とのデータをデジタ
ル数値データに変換するデジタル変換器１４と、変換さ
れた電界と磁界の強度と位相とのデジタル数値データか
ら放射源の内部と表面との電流分布もしくは電荷分布を
求める逆問題計算機能を有するコンピュータ１５と、求
められた波源分布を視覚的に表示する表示装置１６によ
り構成される。
【００２３】例えば、図３に示すような、空間中に置か
れた電磁放射源１７による任意の点Ｐにおける電磁界
は、Ｍａｘｗｅｌｌ方程式の積分形を用いて、
れた電磁放射源１７による任意の点Ｐにおける電磁界
は、Ｍａｘｗｅｌｌ方程式の積分形を用いて、
【００２４】
【式１】
【００２５】Ｊ，ρは、それぞれ波源本体３１における
電流密度と電荷密度，ωは角周波数，μは透磁率，εは
誘電率，ｊ＝√（−１），∇はベクトル演算子，φは、
グリーン関数（φ＝ｅｘｐ（−ｊω／ｃ）／ｒ：ｒは波
源と点Ｐとの距離，ｃは光速）である（例えばＳＴＲＡ
ＴＴＯＮ著，“Ｅｌｅｃｔｒｏ−Ｍａｇｎｅｔｉｃ Ｔ
ｈｅｏｒｙ”，ＭｃＣＧＲＡＷ−ＨＩＬＬ ＢＯＯＫ
刊，ｐ４６６参照）。
電流密度と電荷密度，ωは角周波数，μは透磁率，εは
誘電率，ｊ＝√（−１），∇はベクトル演算子，φは、
グリーン関数（φ＝ｅｘｐ（−ｊω／ｃ）／ｒ：ｒは波
源と点Ｐとの距離，ｃは光速）である（例えばＳＴＲＡ
ＴＴＯＮ著，“Ｅｌｅｃｔｒｏ−Ｍａｇｎｅｔｉｃ Ｔ
ｈｅｏｒｙ”，ＭｃＣＧＲＡＷ−ＨＩＬＬ ＢＯＯＫ
刊，ｐ４６６参照）。
【００２６】したがって、測定によりＥ（ｐ），Ｈ
（ｐ）を把握すれば、逆問題解析手法により波源である
本体３１上の電流密度分布，電荷密度分布を求めること
ができる。Ｅ（ｐ），Ｈ（ｐ）の測定範囲は、本体１７
からの放射電磁波エネルギーの大部分を網羅するような
領域に設定する。
（ｐ）を把握すれば、逆問題解析手法により波源である
本体３１上の電流密度分布，電荷密度分布を求めること
ができる。Ｅ（ｐ），Ｈ（ｐ）の測定範囲は、本体１７
からの放射電磁波エネルギーの大部分を網羅するような
領域に設定する。
【００２７】電磁波放射源を取り囲む閉曲面で電磁界分
布を測定すれば、波源１７の放射するすべての電磁エネ
ルギーを捕捉できるため、信頼性の高い電磁波源分布を
求めることができる。
布を測定すれば、波源１７の放射するすべての電磁エネ
ルギーを捕捉できるため、信頼性の高い電磁波源分布を
求めることができる。
【００２８】電磁界分布測定装置１３には、第１の実施
例で示した電磁界分布測定装置１や他の曲面または平面
上の電磁界分布を測定できる装置を用いる。コンピュー
タ１５には、電磁界分布測定装置１３の制御とデジタル
変換器１４の機能を含めることにより本システム全自動
化が可能である。
例で示した電磁界分布測定装置１や他の曲面または平面
上の電磁界分布を測定できる装置を用いる。コンピュー
タ１５には、電磁界分布測定装置１３の制御とデジタル
変換器１４の機能を含めることにより本システム全自動
化が可能である。
【００２９】図４は、本発明による電磁波源解析システ
ムにより求められた箱型の金属製電磁放射源本体１８の
電流密度１９の解析結果である。放射源表面の電荷は等
価的に電流密度に置換えて示した。この電流密度１９の
分布は、放射電磁界の測定結果より求められたものであ
るため放射に寄与する成分のみが示されている。電波吸
収材，電磁遮へい体などを使用して電流密度１９を抑制
することで不要電磁波抑制対策が効率的に行える。
ムにより求められた箱型の金属製電磁放射源本体１８の
電流密度１９の解析結果である。放射源表面の電荷は等
価的に電流密度に置換えて示した。この電流密度１９の
分布は、放射電磁界の測定結果より求められたものであ
るため放射に寄与する成分のみが示されている。電波吸
収材，電磁遮へい体などを使用して電流密度１９を抑制
することで不要電磁波抑制対策が効率的に行える。
【００３０】図５は、本発明の電磁界解析システム２１
を示すブロック図である。本システム２１は、電磁波源
本体２２を囲む閉曲面上すべての電界と磁界の強度と位
相との分布を測定する電磁界分布測定装置２３と、測定
された電界と磁界それぞれの強度と位相とのデータをデ
ジタル数値データに変換するデジタル変換器２４と、変
換された電界と磁界の強度と位相とのデジタル数値デー
タから閉曲面の外部の任意の点における電磁界を計算す
る面積積分機能を有するコンピュータ２５と、求められ
た波源分布を視覚的に表示する表示装置２６により構成
される。
を示すブロック図である。本システム２１は、電磁波源
本体２２を囲む閉曲面上すべての電界と磁界の強度と位
相との分布を測定する電磁界分布測定装置２３と、測定
された電界と磁界それぞれの強度と位相とのデータをデ
ジタル数値データに変換するデジタル変換器２４と、変
換された電界と磁界の強度と位相とのデジタル数値デー
タから閉曲面の外部の任意の点における電磁界を計算す
る面積積分機能を有するコンピュータ２５と、求められ
た波源分布を視覚的に表示する表示装置２６により構成
される。
【００３１】図６に示すように、空間上に二つの波源２
７，２８があり、波源２７を取り囲むように閉曲面２９
を仮定すると、閉曲面２９の外側の任意の点Ｐにおける
電界Ｅ（ｐ）及び磁界Ｈ（ｐ）はＭａｘｗｅｌｌ方程式
の積分形の変形により閉曲面２９上の電界Ｅｓ，Ｈｓを
用いて、
７，２８があり、波源２７を取り囲むように閉曲面２９
を仮定すると、閉曲面２９の外側の任意の点Ｐにおける
電界Ｅ（ｐ）及び磁界Ｈ（ｐ）はＭａｘｗｅｌｌ方程式
の積分形の変形により閉曲面２９上の電界Ｅｓ，Ｈｓを
用いて、
【００３２】
【式２】
【００３３】閉曲面２９上の面積積分，ωは角周波数，
μは透磁率，εは誘電率，ｊ＝√（−１），∇はベクト
ル演算子，ｎは閉曲面２９の内向きにとった単位法線ベ
クトル，φはグリーン関数（φ＝ｅｘｐ（−ｊω／ｃ）
／ｒ：ｒは閉曲面２９上の任意点と点Ｐとの距離，ｃは
光速）である。
μは透磁率，εは誘電率，ｊ＝√（−１），∇はベクト
ル演算子，ｎは閉曲面２９の内向きにとった単位法線ベ
クトル，φはグリーン関数（φ＝ｅｘｐ（−ｊω／ｃ）
／ｒ：ｒは閉曲面２９上の任意点と点Ｐとの距離，ｃは
光速）である。
【００３４】波源２７，２８と閉曲面２９との位置関係
が図６に示したような場合には、（３）式，（４）式に
おいて、閉曲面２９上の面積積分を実行する際に閉曲面
２９の外部にある波源２８からの放射電磁界の影響が取
り除かれ、Ｐ点における電界Ｅ（ｐ），磁界Ｈ（ｐ）は
波源２７からの放射によるものだけとなる。
が図６に示したような場合には、（３）式，（４）式に
おいて、閉曲面２９上の面積積分を実行する際に閉曲面
２９の外部にある波源２８からの放射電磁界の影響が取
り除かれ、Ｐ点における電界Ｅ（ｐ），磁界Ｈ（ｐ）は
波源２７からの放射によるものだけとなる。
【００３５】したがって、波源２７を囲む閉曲面２９上
の電磁界の分布を測定することにより（３）式，（４）
式の計算を実行してＰ点における電界Ｅ（ｐ），磁界Ｈ
（ｐ）を求めることができる。閉曲面２９上に外部波源
２８からの放射電磁界の影響が著しく小さい部分が存在
する場合には、この部分の電磁界測定を行わなくても、
すなわち完全な閉曲面で電磁界を測定しなくても信頼性
の高い放射電磁界が求められる。
の電磁界の分布を測定することにより（３）式，（４）
式の計算を実行してＰ点における電界Ｅ（ｐ），磁界Ｈ
（ｐ）を求めることができる。閉曲面２９上に外部波源
２８からの放射電磁界の影響が著しく小さい部分が存在
する場合には、この部分の電磁界測定を行わなくても、
すなわち完全な閉曲面で電磁界を測定しなくても信頼性
の高い放射電磁界が求められる。
【００３６】電磁界分布測定装置２３には、第１の実施
例で示した電磁界分布測定装置１や他の閉曲面上の電磁
界分布を測定できる装置を用いる。コンピュータ２５に
は、電磁界分布測定装置２３の制御とデジタル変換器２
４の機能をもたせることにより本システム全自動化が可
能である。
例で示した電磁界分布測定装置１や他の閉曲面上の電磁
界分布を測定できる装置を用いる。コンピュータ２５に
は、電磁界分布測定装置２３の制御とデジタル変換器２
４の機能をもたせることにより本システム全自動化が可
能である。
【００３７】
【発明の効果】以上説明したように本発明の電磁波源解
析システムによれば、不要電磁波放射抑制に影響を与え
る波源分布を求めることができるため、効率的に不要電
磁波抑制対策を行える効果を有する。
析システムによれば、不要電磁波放射抑制に影響を与え
る波源分布を求めることができるため、効率的に不要電
磁波抑制対策を行える効果を有する。
【００３８】また本発明の電磁界解析システムによれ
ば、放射源を囲む閉曲面の電磁界分布の測定により閉曲
面外部の波源の影響を除去できるため、周囲の電磁環境
に影響されず必要とする電磁波放射源からの電磁界を把
握できる効果を有する。
ば、放射源を囲む閉曲面の電磁界分布の測定により閉曲
面外部の波源の影響を除去できるため、周囲の電磁環境
に影響されず必要とする電磁波放射源からの電磁界を把
握できる効果を有する。
【００３９】また、本発明の電磁界分布測定装置は上記
の二つのシステムを構成する電磁界分布測定装置手段に
共通して適用できる効果を有する。
の二つのシステムを構成する電磁界分布測定装置手段に
共通して適用できる効果を有する。
【図１】本発明による電磁界分布測定装置の実施例を示
す斜視図である。
す斜視図である。
【図２】本発明による電磁波源解析システムの構成を示
すブロック図である。
すブロック図である。
【図３】本発明の電磁波源解析システムの解析原理を示
す図である。
す図である。
【図４】本発明の電磁波源解析システムによって得られ
た波源上の電流分布を示す図である。
た波源上の電流分布を示す図である。
【図５】本発明による電磁界解析システムの構成を示す
ブロック図である。
ブロック図である。
【図６】本発明による電磁界解析システムの解析原理を
示す図である。
示す図である。
【図７】従来技術による電磁界分布測定装置のブロック
図である。
図である。
【図８】従来技術による２次元電磁界分布測定装置の斜
視図である。
視図である。
１ 電磁界分布測定装置
２ 電磁波放射源本体
３ 電磁界測定プローブ
４ 電磁界プローブ支持部
５ ポール
６ 回転テーブル
７ 被測定物固定用テーブル
８ 基底部
９ 位相基準測定用固定電磁界プローブ
１０ 高周波ケーブル
１１ 電磁波源解析システム
１２ 電磁波源本体
１３ 電磁界分布測定装置
１４ アナログ−デジタル変換器
１５ 逆問題計算機能を有するコンピュータ
１６ 視覚化表示装置
１７ 波源
１８ 金属製の箱型電磁放射源
１９ 電流密度
２１ 電磁界解析システム
２２ 電磁波源本体
２３ 閉曲面上電磁界分布測定装置
２４ アナログ−デジタル変換器
２５ 面積積分計算機能を有するコンピュータ
２６ 視覚化表示装置
２７ 閉曲面内部の波源
２８ 閉曲面外部の波源
２９ 閉曲面
Claims (5)
- 【請求項１】 電磁波源本体からの電磁放射に対し、電
界及び磁界を測定する電磁界測定プローブと、前記本体
を固定する機構と、前記プローブを前記本体周囲の空間
において走査する機構とを有する電磁界分布測定装置。 - 【請求項２】 前記電磁界測定プローブは、測定点にお
いて、該電磁界測定プローブの電磁界を感受する部分を
中心として本体に対する向きを可変とする機能を有する
請求項１に記載の電磁界分布測定装置。 - 【請求項３】 電磁界測定プローブは、その移動及び向
きの転換を装置外部に設けられた制御機器から発する命
令信号により行うものである請求項１または請求項２に
記載の電磁界分布測定装置。 - 【請求項４】 本体からの電磁放射に対し、該本体の放
射電磁界の影響が及ぶ領域に仮定した曲面もしくは平面
上の電磁界を測定し、電界と磁界の強度信号と位相信号
を出力する測定手段と、前記電界と磁界の強度信号と位
相信号をデジタル変換して数値データを出力するデジタ
ル変換手段と、前記数値データから前記本体表面及び内
部の波源分布を求めるための逆問題解析機能を有するコ
ンピュータとで構成されることを特徴とする電磁波源解
析システム。 - 【請求項５】 本体からの電磁放射に対し、該本体を取
り囲む閉曲面上のすべての電磁界を測定し、電界と磁界
の強度信号と位相信号を出力する測定手段と、前記電界
と磁界の強度信号と位相信号をデジタル変換して数値デ
ータを出力するデジタル変換手段と、前記数値データか
ら前記本体の放射する電磁波の任意の点における電磁界
を求める面積積分機能を有するコンピュータとで構成さ
れることを特徴とする電磁界解析システム。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3206563A JP2956718B2 (ja) | 1991-07-23 | 1991-07-23 | 電磁界分布測定装置及び電磁波源解析システム及び電磁界解析システム |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3206563A JP2956718B2 (ja) | 1991-07-23 | 1991-07-23 | 電磁界分布測定装置及び電磁波源解析システム及び電磁界解析システム |
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| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0526930A true JPH0526930A (ja) | 1993-02-05 |
| JP2956718B2 JP2956718B2 (ja) | 1999-10-04 |
Family
ID=16525468
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| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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| JP3206563A Expired - Fee Related JP2956718B2 (ja) | 1991-07-23 | 1991-07-23 | 電磁界分布測定装置及び電磁波源解析システム及び電磁界解析システム |
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|---|---|
| JP (1) | JP2956718B2 (ja) |
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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| US6326783B1 (en) | 1998-03-31 | 2001-12-04 | Advantest Corporation | Method of measuring axially symmetric electromagnetic fields |
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| DE19917661B4 (de) * | 1998-04-17 | 2007-02-15 | Advantest Corp. | Verfahren und Vorrichtung zur Messung elektromagnetischer Wellen |
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| CN106053965A (zh) * | 2016-07-08 | 2016-10-26 | 北京航空航天大学 | 一种通过改变辐射源类型研究电磁场探头微扰动性的方法 |
| CN108761221A (zh) * | 2018-08-02 | 2018-11-06 | 长虹美菱股份有限公司 | 一种用于测量空间电场强度的测试***及方法 |
| CN113009242A (zh) * | 2021-02-25 | 2021-06-22 | 西安理工大学 | 一种阵列式磁通门表面电势分布及衰减的测量装置及方法 |
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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| FR2965931B1 (fr) * | 2010-10-08 | 2013-05-03 | Satimo Ind | Procede et dispositif de test electronique d'un objet |
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| JPH0281479U (ja) * | 1988-12-12 | 1990-06-22 |
-
1991
- 1991-07-23 JP JP3206563A patent/JP2956718B2/ja not_active Expired - Fee Related
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