JP3760908B2 - 狭指向性電磁界アンテナプローブおよびこれを用いた電磁界測定装置、電流分布探査装置または電気的配線診断装置 - Google Patents
狭指向性電磁界アンテナプローブおよびこれを用いた電磁界測定装置、電流分布探査装置または電気的配線診断装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP3760908B2 JP3760908B2 JP2002315229A JP2002315229A JP3760908B2 JP 3760908 B2 JP3760908 B2 JP 3760908B2 JP 2002315229 A JP2002315229 A JP 2002315229A JP 2002315229 A JP2002315229 A JP 2002315229A JP 3760908 B2 JP3760908 B2 JP 3760908B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- probe
- antenna probe
- narrow
- directivity
- main
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01Q—ANTENNAS, i.e. RADIO AERIALS
- H01Q9/00—Electrically-short antennas having dimensions not more than twice the operating wavelength and consisting of conductive active radiating elements
- H01Q9/04—Resonant antennas
- H01Q9/0407—Substantially flat resonant element parallel to ground plane, e.g. patch antenna
- H01Q9/0421—Substantially flat resonant element parallel to ground plane, e.g. patch antenna with a shorting wall or a shorting pin at one end of the element
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01Q—ANTENNAS, i.e. RADIO AERIALS
- H01Q9/00—Electrically-short antennas having dimensions not more than twice the operating wavelength and consisting of conductive active radiating elements
- H01Q9/04—Resonant antennas
- H01Q9/0407—Substantially flat resonant element parallel to ground plane, e.g. patch antenna
- H01Q9/045—Substantially flat resonant element parallel to ground plane, e.g. patch antenna with particular feeding means
Landscapes
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
- Measuring Magnetic Variables (AREA)
Description
【発明の属する技術分野】
本発明は、高周波動作する電子機器、情報処理端末、通信機器等や半導体、回路基板等の近傍電磁界を測定する、またはそれらに電磁界を照射するためのプローブおよびそれらの装置に関する。
【0002】
【従来の技術】
従来は、微小モノポールアンテナまたは微小ループアンテナをプローブとし、電磁界測定または電磁界を照射していたため、被測定対象とプローブの間隔である測定高さまたは照射高さと同等の位置分解能を得るのが限界であった。
【0003】
特開2001−255347には、従来の近傍電磁界測定用プローブが次のように開示されている。外来ノイズを遮蔽するために、単一指向性を有する近傍電磁界測定用アンテナを提供することを目的とし、該目的を達成するために、金属ホーンまたは誘電体を装加して指向性を単一指向性としたアンテナとする。これにより、指向性は金属ホーンの開口方向に単一となり、また外来ノイズはこの金属ホーンにより遮蔽されることから所望の電磁界のみを測定することが可能となる(特許文献1参照)。
【0004】
【特許文献1】
特開2001−255347号公報
【0005】
【発明が解決しようとする課題】
従来の微小モノポールアンテナまたは微小ループアンテナをプローブとしてもちいた場合、これらプローブの半知幅は約90゜であり、測定対象との平行成分を考えると半知幅は約45゜となり、プローブ高さと半知幅が同等の領域となることから、測定位置分解能は測定高さと同等となる。このため、プローブを被測定対象と非常に近接させ、プローブ高さを低くしなければ位置分解能の高分解能化は望めないと言う問題があった。
【0006】
また特開2001−255347に開示されたアンテナは、メイン素子に流れる電流方向とシールド部に流れる電流方向が直交関係にあるため,シールド部下面より上方から到来する電界からメイン素子をシールドする効果はあるが,シールド部下面より下方への放射電界成分を打ち消し,指向性を狭くすることができなかった。従って、メイン素子からプローブ下部への放射電界の指向性をθ以下に狭めることができないという問題があった。
【0007】
【課題を解決するための手段】
上記課題を解決するために、微小モノポールアンテナまたは微小ループアンテナを用いたプローブの指向性を狭くすることで、プローブ高さ以上の位置分解能を得ることが可能となる。そのために、微小モノポールアンテナまたは微小ループアンテナの指向性を狭くすることを目的とする。
【0008】
【発明の実施の形態】
以下に本発明の実施の形態を、図を用いて説明する。
【0009】
図2に示す従来型プローブ200は、シグナルライン103を引き出し、主プローブ101を形成し、グランド104に接続するループ形状をしている。この形状では1巻微小ループアンテナの特性として、図7に示すように、プローブがyz平面に存在する時、xy平面内磁界強度分布701は比較的なだらかな分布をしている。このため、この平面内磁界強度分布701のピークに対して半値となる領域、つまり測定時における位置分解能は、およそプローブの高さと同程度となる。そこで、この領域を狭く、位置分解能を向上させるために、図1に示すような構造のプローブを提案する。
【0010】
図1に示すプローブ例1は、シグナルライン103を引き出し、主プローブ101を形成し、同時に指向性調整素子102として主プローブと逆巻ループアンテナを形成し、各々のラインはグランド104に接続される。この時、主プローブ101の電流経路105と指向性調整素子102の電流経路106は逆方向になるため、同相電流を供給しても発生する電磁界は逆相となる。このため、主プローブの発生する電磁界を指向性調整素子102の発生する電磁界が打ち消すように働き、例えば主プローブ101の面積に対して指向性調整素子102の面積の合計が小さい時、図8に示すように平面内電磁界強度分布801は、従来のプローブによる電磁界強度分布701に対して狭くなり、狭指向性プローブが実現できていることがわかる。
【0011】
さらに、図3に示すプローブ例2では、指向性調整素子102を主プローブ101の軸方向およびそれと直交する方向に対称的に配置することで、主プローブ101の発生する電磁界強度分布を、プローブ例1で示した電磁界強度分布801よりも狭い電磁界強度分布901を実現し、狭指向性プローブとなっていることがわかる。
【0012】
このように、主プローブ101の周りに指向性調整素子102を配置した場合、主プローブ101のみの場合に比べて、電磁界強度分布を絞ることができ、狭指向性プローブとなる。この概念図を図4に示す。ここで、主プローブ101の周りに配置した指向性調整素子102は、主プローブとの給電電流位相差をπ〔rad〕ずらすことで、主プローブ101の発生する電磁界を指向性調整素子102によって打ち消し、指向性を狭くする事を可能としている。一方、図1または3に示した例の様に、給電電流が同相でも、主プローブ101の電流経路105と指向性調整素子102の電流経路106が逆方向であれば、同様の結果を得られる。また、主プローブ101の電流経路105と指向性調整素子102の電流経路106が同方向の場合、位相差は完全にπ〔rad〕である必要はなく、π±π/2〔rad〕の範囲で有れば良い。このことから、主プローブ101の電流経路105と指向性調整素子102の電流経路106が逆方向の場合は、給電電流の位相差は0±π/2〔rad〕の位相差まで許容出来る。
【0013】
これらの狭指向性プローブは、平面内での電磁界強度分布を絞ることを目的としているが、対称形であるため、観測平面とは逆方向、つまり図4プローブ構成図においては上方にも同様の電磁界分布が発生する。これに対し、図5に示すように、主プローブ101の上方に指向性を非対称とする調整素子501を配置することで、プローブの指向性を観測平面方向に絞ることが出来る。
【0014】
以上の説明では、全てループアンテナを用いた図を用いて磁界強度分布を絞るプローブを中心に説明を行ったが、図6に示すように、モノポールアンテナを用いて、主プローブ601の発生する電界強度分布を打ち消すように、指向性調整素子602を配置することで、電界強度分布についても同様に狭指向性プローブを実現できる。この場合も、図6に示すように電流経路方向が逆方向の場合は、給電電流の位相差は0±π/2〔rad〕の位相差まで、また指向性調整素子602の向きを反転させた場合、給電電流の位相差はπ±π/2〔rad〕の位相差まで許容できる。
【0015】
次に狭指向性プローブの構成形態について、異なる例を図10および11を用いて示す。この構成は、図10に示すように、シグナルライン103を引き出し、主プローブ101を形成し、グランド104に接続するループ形状のプローブにおいて、グランド104の配線を導体板とし、指向性調整導体板1001とする方法である。ここで、電流に対して無限導体平板が存在する場合、その平面と対称な位置に鏡像が構成されることは知られている。ここでは、この導体板のサイズを有限とすることで、鏡像を不完全な形で形成させ、図1に示す指向性調整素子102の代わりとする物である。ここで指向性調整導体板1001は、不完全ながらも鏡像を構成する必要から、主プローブ101よりも大きく、その軸方向に主プローブを投影した場合、指向性調整導体板1001上に全て投影出来ることが条件となる。ここで、図10に示す狭指向性プローブ例3(1000)では図1に示す狭指向性プローブ例1(100)と同様、平面内電磁界強度分布は図8に示す平面内電磁界強度分布801と同様になる。そこで、図11に示すように、この指向性調整導体板1001を接続し、四角筒形状を構成することで、図3に示す指向性調整素子102の代わりとなり、この狭指向性プローブ例4(1100)は図3に示す狭指向性プローブ例2(300)と同様、平面内電磁界強度分布は図9に示す平面内電磁界強度分布901と同様になる。このように、鏡像効果を利用して指向性調整素子102の役割を担わせることが可能であり、この場合の指向性調整導体板1001の形状は図10の平行平板、図11の四角筒以外にも、円筒など様々な形態が可能であり、指向性調整素子102の代わりとなるための条件は、主プローブを少なくとも2方向に投影出来る面積を有することである。
【0016】
以上の様な方法で、狭指向性プローブは構成できるが、主プローブ101の正面方向に最大感度を有する構成の場合は、指向性調整素子102または指向性調整導体板1001が主プローブに対して位置的に対称に配置され、各々の配置された指向性調整素子102または指向性調整導体板1001が同じ大きさの電磁界を発生する様に、位置対称の関係にあるもの同士が同じ大きさ同じ電流、またはこれらの積が等しいなどの条件が必要である。
【0017】
しかしこの場合、最大感度方向の線上に常に最大感度が存在するため、目標物までの間に障害物が存在する場合、こちらに電磁界を照射したり、また、波源が存在する場合は、所望の波源を観測出来ないなどの問題がある。そこで、図14に示すように、狭指向性プローブを複数配置し、その最大感度方向がある1点で交錯するように配置すると、プローブからの距離に対する層別平面内電磁界強度分布1401は、交錯する点で最大感度を有することから、ピンポイントでの電磁界照射または電磁波源の観測が可能となる。
【0018】
ここで図14では、各々の狭指向性プローブを最大感度を得たい所望の位置に向けているが、狭指向性プローブの最大感度方向をチルトさせることで、見た目上ある平面内に並んでいるが、最大感度方向は所望の1点を向く構成を実現できる。このためには、各狭指向性プローブの最大感度方向を向けたい方向に配置された指向性調整素子102または指向性調整導体板1001の大きさ、または電流、またはその両者を小さくすることで実現できる。さらに、指向性調整素子102または指向性調整導体板1001の大きさや電流が等しい場合でも、供給電流の位相をシフトさせることで、最大感度方向の向きを所望の方向にチルトさせることが可能となる。
【0019】
これにより、平面内に限らず、3次元的に所望の位置に最大感度を有するプローブ系を構成することが出来る。
【0020】
以上の様な狭指向性プローブ1203は、図12に示す電子機器等の電磁界分布を測定またはその結果から電流分布を探査する装置1200に利用可能であり、この装置は狭指向性プローブ1203を2/3/4次元ステージに取り付け、測定対象1202近傍を走査し、近傍磁界または/および電界の分布を測定する。ここで最初に粗く測定し、電界または磁界成分の強い箇所等を詳細に測定するために、最初は狭指向性プローブの指向性調整素子102を切り離して、普通のプローブとし、詳細測定の際に狭指向性プローブとするためのスイッチを含むアンテナ制御回路1205を有し、このアンテナ制御回路1205をコンピュータ1211等で制御する。またプローブ1203によって誘起した信号は、その強度によっては高周波増幅器1206を介し、測定器1210によって計測される。この時、この電磁界の位相成分も測定するために、被測定対象1202の基本クロックを検出するためのプローブ1207によって被測定対象1202の基本クロックを検出、この信号をコンピュータ1211等で制御された分周回路1208および逓倍回路1209を介して所望の周波数成分とし、これと同期検波することで、位相測定を可能とする。
【0021】
また、図13に示す電子機器等に電磁波を照射する電子機器等の試験装置1300にも利用可能である。この装置は、狭指向性プローブ1203を2/3/4次元ステージに取り付け、試験対象1202近傍を走査し、近傍から電磁波を照射する装置であり、狭指向性プローブ1203はシグナル発信器1301から電力供給を受け、試験対象1202の所望の位置に電磁波を照射する。ここで、上記電磁界分布を測定またはその結果から電流分布を探査する装置1200と同様、最初に粗く照射し、問題箇所の領域を特定した後、詳細に試験するため、狭指向性プローブの指向性調整素子102を切り離して、普通のプローブとし、詳細試験の際に狭指向性プローブとするために指向性調整素子102を接続するためのスイッチを含むアンテナ制御回路1205を有し、このアンテナ制御回路1205をコンピュータ1211等で制御する。ここで、被測定対象に電磁波を照射した場合の電子機器等測定対象1202の動作状態は、コンピュータ1211等で制御されたテスタまたは測定器1302で検査され、その結果をコンピュータ1211等に取込み、試験判定を行う装置である。
【0022】
【発明の効果】
電子機器等の発生する電界または/および磁界分布を測定、およびその結果から電子機器等の電流分布を探査する装置、または電子機器等に電界または/および磁界を照射し、これによる電子機器等の反応を見る試験装置等において、従来のプローブに比べ、指向性の狭いプローブを提供することで、非常に位置分解能の高い計測、試験装置を提供可能とする。
【図面の簡単な説明】
【図1】狭指向性プローブ例1を示す図である。
【図2】従来型プローブを示す図である。
【図3】狭指向性プローブ例2を示す図である。
【図4】狭指向性プローブ素子配列1を示す図である。
【図5】狭指向性プローブ素子配列2を示す図である。
【図6】電界型狭指向性プローブ例1を示す図である。
【図7】従来型プローブによる平面内電磁界強度分布を示す図である。
【図8】狭指向性プローブ例1による平面内電磁界強度分布を示す図である。
【図9】狭指向性プローブ例2による平面内電磁界強度分布を示す図である。
【図10】狭指向性プローブ例3を示す図である。
【図11】狭指向性プローブ例4を示す図である。
【図12】電磁界分布測定/電流分布探査装置を示す図である。
【図13】電磁界照射型検査装置を示す図である。
【図14】狭指向性プローブアレーによるピンポイント電磁界発生機例1を示す図である。
【図15】狭指向性プローブアレーによるピンポイント電磁界発生機例2を示す図である。
【符号の説明】
100…狭指向性プローブ例1、101…主プローブ(ループアンテナ)、102…指向性調整素子(ループアンテナ)、103…シグナルライン、104…グランド、105…主プローブ電流経路、106…指向性調整素子電流経路、200…従来型プローブ、300…狭指向性プローブ例2、400…狭指向性プローブ素子配列1、500…狭指向性プローブ素子配列2、501…非対称指向性調整素子、600…電界型狭指向性プローブ例1、601…主プローブ(モノポールアンテナ)、602…指向性調整素子(モノポールアンテナ)、701…従来型プローブによる平面内電磁界強度分布、801…狭指向性プローブ例1による平面内電磁界強度分布、901…狭指向性プローブ例2による平面内電磁界強度分布、1000…狭指向性プローブ例3、1001…指向性調整導体板、1002…主プローブ端−指向性調整導体板端距離d、1100…狭指向性プローブ例4、1101…プローブ側面の指向性調整導体板、1200…電磁界分布測定/電流分布探査装置、1201…2/3/4次元ステージ、1202…測定対象、1203…狭指向性プローブ、1204…台座、1205…アンテナ制御回路、1206…高周波増幅器、1207…基本クロック検出プローブ、1208…分周回路、1209…逓倍回路、1210…測定器(ベクトル電圧計)、1211…制御・演算用PC、1300…電磁界照射型検査装置、1301…シグナル発信器、1302…テスタまたは測定器、1400…狭指向性プローブアレーによるピンポイント電磁界発生機例1、1401…層別平面内電磁界強度分布、1500…狭指向性プローブアレーによるピンポイント電磁界発生機例2、1501…指向性チルト型狭指向性プローブ。
Claims (12)
- 電界または磁界を測定または照射するためのアンテナプローブにおいて、
電界または磁界を測定または照射する主たるアンテナプローブと、
その指向性を狭めるために主たるアンテナプローブの近傍に前記主たるアンテナプローブとは異なる面積を有する逆相励振したアンテナプローブを配置したことを特徴とする狭指向性アンテナプローブ。 - 請求項1記載のアンテナプローブにおいて、
逆相励振したアンテナプローブを主たるアンテナプローブの近傍に少なくとも2つ以上配置したことを特徴とする狭指向性アンテナプローブ。 - 請求項2記載のアンテナプローブにおいて、
逆相励振したアンテナプローブを主たるアンテナプローブの近傍に対称配列で配置したことを特徴とする狭指向性アンテナプローブ。 - 請求項1,2または3記載のアンテナプローブにおいて、
電界または磁界を測定または照射する主たるアンテナプローブの指向性を狭めるために配置したアンテナプローブへの供給電力を主プローブよりも小さくした、または受信電力を減衰させ主プローブの受信信号と合成する、またはアンテナのサイズを主たるアンテナプローブよりも小さくしたことを特徴とする狭指向性アンテナプローブ。 - 請求項1,2,3または4記載のアンテナプローブにおいて、
電界または磁界を測定または照射する主たるアンテナプローブの指向性を狭めるために配置したアンテナプローブの発生する電磁界を、主プローブの発生する電磁界に対して、п±п/2〔rad〕の位相差を有することを特徴とする狭指向性アンテナプローブ。 - 電界または磁界を測定または照射するためのアンテナプローブにおいて、
電界または磁界を測定または照射する主たるアンテナプローブと、その指向性を狭めるために主たるアンテナプローブの近傍に前記主たるアンテナプローブを覆うように接地電位導体平板を配置したことを特徴とする狭指向性アンテナプローブ。 - 請求項6記載のアンテナプローブにおいて、
接地電位導体平板を2枚以上配置したことを特徴とする狭指向性アンテナプローブ。 - 請求項7記載のアンテナプローブにおいて、
接地電位導体平板を主たるアンテナプローブの近傍に対称配列で配置したことを特徴とする狭指向性アンテナプローブ。 - 請求項1,2,3,4,5,6,7または8記載のプローブを複数用いて、空間の所望の領域にある波源からの電磁界を分離観測する、または空間の所望の領域で電磁界を合成し、単一の場合よりも強電磁界を発生させることを特徴とする狭指向性アンテナプローブ。
- 請求項1,2,3,4,5,6,7,8または9記載のプローブを用いて、電子機器等の近傍電界または磁界分布を測定することを特徴とする電磁界測定装置。
- 請求項1,2,3,4,5,6,7,8または9記載のプローブを用いて、電子機器等の近傍電界または磁界分布を測定し、その結果から電流分布を計算により算出することを特徴とする電流分布探査装置。
- 請求項1,2,3,4,5,6,7,8または9記載のプローブを用いて、電子機器等に電界または磁界を照射し、その電界または磁界により誘起された電圧または電流による電子機器等の端子に発生する信号を検出することにより、電子機器等の配線接続状態を検査することを特徴とする電気的配線診断装置。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2002315229A JP3760908B2 (ja) | 2002-10-30 | 2002-10-30 | 狭指向性電磁界アンテナプローブおよびこれを用いた電磁界測定装置、電流分布探査装置または電気的配線診断装置 |
US10/695,864 US7132997B2 (en) | 2002-10-30 | 2003-10-30 | Narrow-directivity electromagnetic-field antenna probe, and electromagnetic-field measurement apparatus, electric-current distribution search-for apparatus or electrical-wiring diagnosis apparatus using this antenna probe |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2002315229A JP3760908B2 (ja) | 2002-10-30 | 2002-10-30 | 狭指向性電磁界アンテナプローブおよびこれを用いた電磁界測定装置、電流分布探査装置または電気的配線診断装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2004150907A JP2004150907A (ja) | 2004-05-27 |
JP3760908B2 true JP3760908B2 (ja) | 2006-03-29 |
Family
ID=32459295
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2002315229A Expired - Fee Related JP3760908B2 (ja) | 2002-10-30 | 2002-10-30 | 狭指向性電磁界アンテナプローブおよびこれを用いた電磁界測定装置、電流分布探査装置または電気的配線診断装置 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US7132997B2 (ja) |
JP (1) | JP3760908B2 (ja) |
Families Citing this family (13)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP4635544B2 (ja) * | 2004-09-29 | 2011-02-23 | 株式会社日立製作所 | 電界分布測定方法及び電界分布測定装置 |
JP2006200955A (ja) * | 2005-01-19 | 2006-08-03 | Nec Engineering Ltd | 磁界分布測定装置 |
US20070075908A1 (en) * | 2005-09-30 | 2007-04-05 | Ganeshan Prem K | Electromagnetic measurement probe and method |
CA2522449A1 (en) * | 2005-10-06 | 2007-04-06 | Syscan International Inc. | Method and apparatus for focusing an rfid reader to avoid signal collisions of closely spaced rfid tags |
WO2008062514A1 (fr) * | 2006-11-21 | 2008-05-29 | Pioneer Corporation | Appareil de communication |
JP4963985B2 (ja) * | 2007-02-27 | 2012-06-27 | 日立オムロンターミナルソリューションズ株式会社 | 手動式非接触カードリーダ |
JP5249555B2 (ja) * | 2007-11-06 | 2013-07-31 | 株式会社ユニバーサルエンターテインメント | ゲーム装置 |
JP5574482B2 (ja) * | 2010-03-10 | 2014-08-20 | 森田テック 株式会社 | 磁気センサ及びemc試験用検出装置 |
US9157954B2 (en) * | 2011-06-03 | 2015-10-13 | Apple Inc. | Test system with temporary test structures |
US8870069B2 (en) | 2012-08-22 | 2014-10-28 | Symbol Technologies, Inc. | Co-located antenna arrangement |
JP5417651B1 (ja) * | 2013-01-08 | 2014-02-19 | オー・エイチ・ティー株式会社 | 回路パターン検査装置 |
EP3432420B1 (en) * | 2016-03-15 | 2022-10-26 | Nippon Telegraph and Telephone Corporation | Loop antenna array |
JP6202452B1 (ja) * | 2016-06-01 | 2017-09-27 | オー・エイチ・ティー株式会社 | 非接触型基板検査装置及びその検査方法 |
Family Cites Families (16)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4010475A (en) * | 1974-06-12 | 1977-03-01 | The Plessey Company Limited | Antenna array encased in dielectric to reduce size |
US4301457A (en) * | 1978-09-01 | 1981-11-17 | Bogner Richard D | Antenna employing curved parasitic end-fire directors |
US4763130A (en) * | 1987-05-11 | 1988-08-09 | General Instrument Corporation | Probe-fed slot antenna with coupling ring |
ATE250809T1 (de) * | 1993-05-27 | 2003-10-15 | Univ Griffith | Antennen für tragbare kommunikationsgeräte |
US5600243A (en) * | 1993-09-07 | 1997-02-04 | Conductus, Inc. | Magnetically shielded magnetic sensor with squid and ground plane |
US5523686A (en) * | 1994-08-30 | 1996-06-04 | International Business Machines Corporation | Probes for scanning SQUID magnetometers |
US5940048A (en) * | 1996-07-16 | 1999-08-17 | Metawave Communications Corporation | Conical omni-directional coverage multibeam antenna |
JP3583276B2 (ja) | 1997-03-13 | 2004-11-04 | 株式会社リコー | 近磁界プローブ及び近磁界プローブユニット及び近磁界プローブアレー及び磁界計測システム |
US6483304B1 (en) * | 1997-03-13 | 2002-11-19 | Ricoh Company, Ltd. | Magnetic field probe having a shielding and isolating layers to protect lead wires extending between a coil and pads |
EP0877443B1 (en) * | 1997-05-09 | 2008-01-02 | Nippon Telegraph And Telephone Corporation | Antenna and manufacturing method therefor |
US6452565B1 (en) * | 1999-10-29 | 2002-09-17 | Antenova Limited | Steerable-beam multiple-feed dielectric resonator antenna |
JP2001228227A (ja) | 2000-02-16 | 2001-08-24 | Hitachi Ltd | 磁界測定装置 |
US6741220B2 (en) * | 2000-03-10 | 2004-05-25 | Nippon Antena Kabushiki Kaisha | Cross dipole antenna and composite antenna |
US6369770B1 (en) * | 2001-01-31 | 2002-04-09 | Tantivy Communications, Inc. | Closely spaced antenna array |
JP2002280942A (ja) * | 2001-03-15 | 2002-09-27 | Nec Corp | 可変指向性アンテナを備えた情報端末装置 |
US7212499B2 (en) * | 2002-09-30 | 2007-05-01 | Ipr Licensing, Inc. | Method and apparatus for antenna steering for WLAN |
-
2002
- 2002-10-30 JP JP2002315229A patent/JP3760908B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
2003
- 2003-10-30 US US10/695,864 patent/US7132997B2/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US7132997B2 (en) | 2006-11-07 |
JP2004150907A (ja) | 2004-05-27 |
US20040135734A1 (en) | 2004-07-15 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP3760908B2 (ja) | 狭指向性電磁界アンテナプローブおよびこれを用いた電磁界測定装置、電流分布探査装置または電気的配線診断装置 | |
US7459917B2 (en) | Measuring method for electromagnetic field intensity and apparatus therefor, measuring method for electromagnetic field intensity distribution and apparatus therefor, measuring method for current and voltage distributions and apparatus therefor | |
Wang et al. | Improved-sensitivity resonant electric-field probes based on planar spiral stripline and rectangular plate structure | |
JP3394202B2 (ja) | 電磁界強度の測定方法及び装置並びに電流電圧分布の測定方法及び装置 | |
US8143903B2 (en) | Resonance scanning system and method for testing equipment for electromagnetic resonances | |
JPS63111846A (ja) | Nmr装置 | |
Ochoukov et al. | A new B-dot probe-based diagnostic for amplitude, polarization, and wavenumber measurements of ion cyclotron range-of frequency fields on ASDEX Upgrade | |
JP3583276B2 (ja) | 近磁界プローブ及び近磁界プローブユニット及び近磁界プローブアレー及び磁界計測システム | |
Jomaa et al. | Near-field measurement system with 3D magnetic-field probe design for dosimetric applications | |
JP5930850B2 (ja) | 電磁ノイズ検出装置 | |
Kantor et al. | Measurement of electric-field intensities using scanning near-field microwave microscopy | |
Sivaraman et al. | Three dimensional scanning system for near-field measurements | |
Jomaa et al. | Development of a 3D scanning system for magnetic near-field characterization | |
US6653629B2 (en) | Specimen inspection instrument | |
JP2002090435A (ja) | マイクロ波ブリッジ中継器を用いた電子常磁性共鳴撮像装置 | |
Lange et al. | Investigation of the surface equivalence principle on a metal surface for a near-field to far-field transformation by the NFS3000 | |
JP2008082945A (ja) | 近傍電磁界分布測定装置 | |
WO2020103031A1 (en) | Probe, array probe, detector, and method | |
JP2004069372A (ja) | 遠方電磁界強度の算出方法及び装置、遠方電磁界強度の算出プログラム、及び、そのプログラムを記録した記録媒体 | |
JP3817469B2 (ja) | 電流分布測定装置 | |
JP2000009775A (ja) | 電流測定装置および電流発生源特定方法 | |
Chen et al. | Simultaneous electromagnetic measurement using a parallel modulated probe array | |
JPH1176194A (ja) | 磁気共鳴イメージング用rfプローブ | |
Ding et al. | EMI source positioning by phase inversion and near-field scanning | |
Loh et al. | A method to minimize emission measurement uncertainty of electrically large EUTs in GTEM cells and FARs above 1 GHz |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20040311 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20050727 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20050830 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20051031 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20051220 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20060102 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090120 Year of fee payment: 3 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100120 Year of fee payment: 4 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100120 Year of fee payment: 4 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110120 Year of fee payment: 5 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110120 Year of fee payment: 5 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120120 Year of fee payment: 6 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130120 Year of fee payment: 7 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |