JPH0519197A - 半導体レーザアレーを用いた光学装置 - Google Patents
半導体レーザアレーを用いた光学装置Info
- Publication number
- JPH0519197A JPH0519197A JP3169975A JP16997591A JPH0519197A JP H0519197 A JPH0519197 A JP H0519197A JP 3169975 A JP3169975 A JP 3169975A JP 16997591 A JP16997591 A JP 16997591A JP H0519197 A JPH0519197 A JP H0519197A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- light
- optical system
- semiconductor laser
- light emitting
- laser array
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Mechanical Optical Scanning Systems (AREA)
- Facsimile Scanning Arrangements (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】接合面に平行な方向に光変調が独立に可能な複
数個の発光源が配列された半導体レーザアレーを用いた
光源部と、この光源部からの複数光束をコリメートする
コリメート光学系と、このコリメート光学系からの光束
を所定の方向に偏向する偏向器と、この偏向器からの偏
向光束を所定の感光媒体上に同時に結像走査する光学系
を有する光学装置において、装置を大型化することなく
半導体レーザアレーの各発光点の光強度を独立にモニタ
ーできる光学装置を提供すること。 【構成】半導体レーザアレー１の発光源とコリメート光
学系２の間に、前記発光源からの光束を前記コリメート
光学系の光軸と異なる方向へ分ける半透鏡１１と、この
半透鏡から分けられた光束を所定の間隔に結像する結像
光学系１２と、この結像光学系１２からの各結像光の光
強度を検出する検出器１４を有する。
数個の発光源が配列された半導体レーザアレーを用いた
光源部と、この光源部からの複数光束をコリメートする
コリメート光学系と、このコリメート光学系からの光束
を所定の方向に偏向する偏向器と、この偏向器からの偏
向光束を所定の感光媒体上に同時に結像走査する光学系
を有する光学装置において、装置を大型化することなく
半導体レーザアレーの各発光点の光強度を独立にモニタ
ーできる光学装置を提供すること。 【構成】半導体レーザアレー１の発光源とコリメート光
学系２の間に、前記発光源からの光束を前記コリメート
光学系の光軸と異なる方向へ分ける半透鏡１１と、この
半透鏡から分けられた光束を所定の間隔に結像する結像
光学系１２と、この結像光学系１２からの各結像光の光
強度を検出する検出器１４を有する。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、レーザプリンタ、デジ
タル複写機、レーザファクシミリ等の高速書込用光走査
装置に適用しうる半導体レーザアレーを用いた光学装置
に関する。
タル複写機、レーザファクシミリ等の高速書込用光走査
装置に適用しうる半導体レーザアレーを用いた光学装置
に関する。
【０００２】
【従来の技術】接合面に平行な方向に光変調が独立に可
能な複数個の発光源が配列された半導体レーザアレーを
用いた光源部と、この光源部からの複数光束をコリメー
トするコリメート光学系と、このコリメート光学系から
の光束を所定の方向に偏向する偏向器と、この偏向器か
らの偏向光束を所定の感光媒体上に同時に結像走査する
光学系を有する光学装置がある。
能な複数個の発光源が配列された半導体レーザアレーを
用いた光源部と、この光源部からの複数光束をコリメー
トするコリメート光学系と、このコリメート光学系から
の光束を所定の方向に偏向する偏向器と、この偏向器か
らの偏向光束を所定の感光媒体上に同時に結像走査する
光学系を有する光学装置がある。
【０００３】その一実施例を示した図９、図１０で、例
えば半導体レーザ１からの出射、発散ビームをコリメー
タレンズ２によりコリメートし、偏向器としての回転多
面鏡３の一面へ入射させる。回転多面鏡３からの反射、
偏光光は例えば、ｆθレンズ等のような光学系４により
被走査面５上に結像され走査される。この走査に際し、
半導体レーザアレー１に変調を与えることにより、被走
査面５上に所望の画像を得ることができる。
えば半導体レーザ１からの出射、発散ビームをコリメー
タレンズ２によりコリメートし、偏向器としての回転多
面鏡３の一面へ入射させる。回転多面鏡３からの反射、
偏光光は例えば、ｆθレンズ等のような光学系４により
被走査面５上に結像され走査される。この走査に際し、
半導体レーザアレー１に変調を与えることにより、被走
査面５上に所望の画像を得ることができる。
【０００４】かかる装置にアレー状の光源を用いること
により、高速処理をはじめとして、種々のメリットが生
ずる。ここでアレー状の光源とは、例えば図１１に示さ
れるように独立に駆動、変調しうる半導体レーザ１ａ，
１ｂ，１ｃが一列に並んだような構造をさすものとす
る。
により、高速処理をはじめとして、種々のメリットが生
ずる。ここでアレー状の光源とは、例えば図１１に示さ
れるように独立に駆動、変調しうる半導体レーザ１ａ，
１ｂ，１ｃが一列に並んだような構造をさすものとす
る。
【０００５】図１２に示すように、半導体レーザアレー
１が３つの半導体レーザ１ａ，１ｂ，，１ｃからの出射
ビームは、その端面に垂直な法線方向に最大強度分布を
なす如く発振する。コリメータレンズ２でコリメートし
た場合、光軸上にある半導体レーザ１ｂのビームのみ光
軸に平行に走り、光軸外にある半導体レーザ１ａ，１
ｂ，１ｃに対しては光軸と有限の角度θでコリメートさ
れる。
１が３つの半導体レーザ１ａ，１ｂ，，１ｃからの出射
ビームは、その端面に垂直な法線方向に最大強度分布を
なす如く発振する。コリメータレンズ２でコリメートし
た場合、光軸上にある半導体レーザ１ｂのビームのみ光
軸に平行に走り、光軸外にある半導体レーザ１ａ，１
ｂ，１ｃに対しては光軸と有限の角度θでコリメートさ
れる。
【０００６】かかるアレー状光源を用いた場合は、１個
のみの光源を用いた場合と比較して次の利点がある。 一．複数の走査線を同時に記録、表示できる為、高速で
ある。 二．その為、回転多面鏡やガルバノミラー等の速度は遅
くてもよい。 三．又、半導体レーザパワーは低くてよく、劣化に対し
て有利である。 以上の理由から、アレー状光源を用いることは非常に有
効である。
のみの光源を用いた場合と比較して次の利点がある。 一．複数の走査線を同時に記録、表示できる為、高速で
ある。 二．その為、回転多面鏡やガルバノミラー等の速度は遅
くてもよい。 三．又、半導体レーザパワーは低くてよく、劣化に対し
て有利である。 以上の理由から、アレー状光源を用いることは非常に有
効である。
【０００７】半導体レーザアレーの出力制御の為に、
光検出器が用いられる。従来の半導体レーザアレーは、
各発光点の光強度をモニターする為の光検出器ではな
く、半導体レーザアレーひとつに対し一つの光検出器
（以下、ＰＤと呼ぶ）を有する構造になっている。
光検出器が用いられる。従来の半導体レーザアレーは、
各発光点の光強度をモニターする為の光検出器ではな
く、半導体レーザアレーひとつに対し一つの光検出器
（以下、ＰＤと呼ぶ）を有する構造になっている。
【０００８】一般的に半導体レーザの発光点の光強度
は、発光方向と反対方向に出る光を受光することにより
モニターしているので、発光点が一つの場合はそこから
の光であることは間違いなくわかる。
は、発光方向と反対方向に出る光を受光することにより
モニターしているので、発光点が一つの場合はそこから
の光であることは間違いなくわかる。
【０００９】
【発明が解決しようとする課題】前記で述べた点に関
しては、半導体レーザアレーの各発光点の光強度を独立
にモニターできない為、中間調再現性を左右する１ドッ
ト多値制御のうちパワー制御（以下、ＰＭと呼ぶ）がで
きない。但し、パルス幅変調（以下、ＰＷＭと呼ぶ）は
可能であり、１ドットに対し８値までが可能であるとさ
れている。
しては、半導体レーザアレーの各発光点の光強度を独立
にモニターできない為、中間調再現性を左右する１ドッ
ト多値制御のうちパワー制御（以下、ＰＭと呼ぶ）がで
きない。但し、パルス幅変調（以下、ＰＷＭと呼ぶ）は
可能であり、１ドットに対し８値までが可能であるとさ
れている。
【００１０】前記で述べた点に関しては、市販の半導
体アレーは発光点が複数個なのに対し、一つのＰＤしか
有していないので、どの発光点からの光なのか分離でき
ず、各発光点の光強度制御ができなかった。なお、各発
光点より導波路でＰＤに導くものは考えられているが、
ＰＤの大きさは半導体レーザに比べて大きい為、小型化
が困難である。
体アレーは発光点が複数個なのに対し、一つのＰＤしか
有していないので、どの発光点からの光なのか分離でき
ず、各発光点の光強度制御ができなかった。なお、各発
光点より導波路でＰＤに導くものは考えられているが、
ＰＤの大きさは半導体レーザに比べて大きい為、小型化
が困難である。
【００１１】従って、本発明は、装置を大型化すること
なく半導体レーザアレーの各発光点の光強度を独立にモ
ニターできる光学装置を提供することを目的とする。
なく半導体レーザアレーの各発光点の光強度を独立にモ
ニターできる光学装置を提供することを目的とする。
【００１２】
【課題を解決するための手段】前記目的を達成するため
に、本発明においては、（１）．半導体レーザアレーの
発光源とコリメート光学系の間に、前記発光源からの光
束を前記コリメート光学系の光軸と異なる方向へ分ける
半透鏡と、この半透鏡から分けられた光束を所定の間隔
に結像する結像光学系と、この結像光学系からの各結像
光の光強度を検出する検出器を設けた。
に、本発明においては、（１）．半導体レーザアレーの
発光源とコリメート光学系の間に、前記発光源からの光
束を前記コリメート光学系の光軸と異なる方向へ分ける
半透鏡と、この半透鏡から分けられた光束を所定の間隔
に結像する結像光学系と、この結像光学系からの各結像
光の光強度を検出する検出器を設けた。
【００１３】（２）．（１）において、半透鏡を半導体
レーザアレーのケースと一体化し、このケースに前記半
透鏡から分けられた光束を導く開口を設けることができ
る。
レーザアレーのケースと一体化し、このケースに前記半
透鏡から分けられた光束を導く開口を設けることができ
る。
【００１４】（３）．又、半導体レーザアレーの発光源
の発光部の反対側に所定の間隔に結像する結像光学系
と、この結像光学系からの各結像光の光強度を検出する
検出器を設けることもできる。
の発光部の反対側に所定の間隔に結像する結像光学系
と、この結像光学系からの各結像光の光強度を検出する
検出器を設けることもできる。
【００１５】（４）．半導体レーザアレーの発光源の発
光方向と略直交する方向に駆動端子を設けるとともに、
発光部側には透明カバーガラス、前記発光部と反対側に
は光透過が可能な部材及び出射光の光強度を検出する検
出器をそれぞれ設けこともできる。
光方向と略直交する方向に駆動端子を設けるとともに、
発光部側には透明カバーガラス、前記発光部と反対側に
は光透過が可能な部材及び出射光の光強度を検出する検
出器をそれぞれ設けこともできる。
【００１６】（５）．（４）において、光透過が可能な
部材及び出射光の光強度を検出する検出器をそれぞれ半
導体レーザアレーのケースに着脱自在とすることもでき
る。
部材及び出射光の光強度を検出する検出器をそれぞれ半
導体レーザアレーのケースに着脱自在とすることもでき
る。
【００１７】
【作用】半導体レーザアレーからの出力の一部は、結像
レンズにより半導体レーザアレーの各発光点に対応した
光束ごとに強度が検知される。
レンズにより半導体レーザアレーの各発光点に対応した
光束ごとに強度が検知される。
【００１８】
１．請求項１に対応する例（図１参照）
図２に示すように通常、半導体レーザアレー１は符号１
Ａで示すケースに収納されており、このケースの半導体
レーザ発光部側にカバーガラス１０が設けられている。
カバーガラス１０とコリメータレンズ２との間には半透
鏡１１を設け、この半透鏡により半導体レーザアレーか
ら光束をコリメートレンズ２の光軸と異なる方向へ分離
する。
Ａで示すケースに収納されており、このケースの半導体
レーザ発光部側にカバーガラス１０が設けられている。
カバーガラス１０とコリメータレンズ２との間には半透
鏡１１を設け、この半透鏡により半導体レーザアレーか
ら光束をコリメートレンズ２の光軸と異なる方向へ分離
する。
【００１９】その分離した光束は結像レンズ１２を経て
３つの光束１３ａ，１３ｂ，１３ｃに分けられ、それぞ
れが検出器１４を構成する光検知用素子（フォトディテ
クタ（ＰＤ））１４ａ，１４ｂ，１４ｃに各光束ごとに
結像される。各光束ごとに独立に検知を行う為、各光検
知用素子は所定の間隔に並んでいる。この検知による検
知信号をコントローラ１５に導き、半導体レーザアレー
１を構成する半導体レーザの各発光点の光強度を独立に
制御する。
３つの光束１３ａ，１３ｂ，１３ｃに分けられ、それぞ
れが検出器１４を構成する光検知用素子（フォトディテ
クタ（ＰＤ））１４ａ，１４ｂ，１４ｃに各光束ごとに
結像される。各光束ごとに独立に検知を行う為、各光検
知用素子は所定の間隔に並んでいる。この検知による検
知信号をコントローラ１５に導き、半導体レーザアレー
１を構成する半導体レーザの各発光点の光強度を独立に
制御する。
【００２０】ここで、半導体レーザアレー１の各発光点
の間隔をＬＨとし、光検知用素子の所定の間隔をＬＰと
すると、結像レンズ１２による結像倍率βは、 β＝ＬＰ／ＬＨ が成り立つ。又、結像レンズ１２の焦点距離をｆとし、
半導体レーザアレー１から検出器１４までの距離をＬＬ
とすれば、 ＬＬ＝ｆ×（β＋１）2／β が成り立つ。その為、結像レンズ１２の焦点距離ｆが小
さい程、光学系のコンパクト化が図れる。本例により、
半導体レーザアレーの各発光点の光強度は独立にモニタ
ーされる。さらに、独立にモニターできる為、１ドット
多値制御であるＰＭができ、多階調再現ができ、画質を
向上させることができる。
の間隔をＬＨとし、光検知用素子の所定の間隔をＬＰと
すると、結像レンズ１２による結像倍率βは、 β＝ＬＰ／ＬＨ が成り立つ。又、結像レンズ１２の焦点距離をｆとし、
半導体レーザアレー１から検出器１４までの距離をＬＬ
とすれば、 ＬＬ＝ｆ×（β＋１）2／β が成り立つ。その為、結像レンズ１２の焦点距離ｆが小
さい程、光学系のコンパクト化が図れる。本例により、
半導体レーザアレーの各発光点の光強度は独立にモニタ
ーされる。さらに、独立にモニターできる為、１ドット
多値制御であるＰＭができ、多階調再現ができ、画質を
向上させることができる。
【００２１】２．請求項２に対応する例（図２参照）
図２に示すように、前記図１の例におけるカバーガラス
１０とコリメータレンズ２間にある半透鏡１１にカバー
ガラスを兼用させた。又、この半透鏡１１により分離さ
れた光束を結像レンズ０１２に導くと同時に結像レンズ
１２をケース１Ｂに組み込んだものである。結像レンズ
１２以降の構成、作用は前記例１で述べた内容に準ず
る。本例では、半透鏡１１と半導体レーザアレーのケー
ス１Ｂを一体化したことで、部品点数を減らしつつ、半
導体レーザアレーの各発光点の光強度を独立にモニター
することができる。
１０とコリメータレンズ２間にある半透鏡１１にカバー
ガラスを兼用させた。又、この半透鏡１１により分離さ
れた光束を結像レンズ０１２に導くと同時に結像レンズ
１２をケース１Ｂに組み込んだものである。結像レンズ
１２以降の構成、作用は前記例１で述べた内容に準ず
る。本例では、半透鏡１１と半導体レーザアレーのケー
ス１Ｂを一体化したことで、部品点数を減らしつつ、半
導体レーザアレーの各発光点の光強度を独立にモニター
することができる。
【００２２】３．請求項３に対応する例（図３参照）
通常、半導体レーザは、図１１に示すような形状をして
いるとき、発光方向と反対側にも光が出ており、通常こ
の光を用いて発光点の光強度を検出して、半導体レーザ
のレーザ出力を制御している。そこで、本例では、半導
体レーザアレー１の後方から出射する光束を用いて結像
レンズ１２により、光束１３ａ，１３ｂ，１３ｃとして
検出器１４に導くようにしている。本例では、前記例の
ごとく半透鏡を用いることなく半導体レーザアレーの各
発光点の光強度を独立にモニターすることができる。ま
た、受光部を発光部の反対側に配置する為、光源の光量
に損失がなく光源出力を小さくできる。
いるとき、発光方向と反対側にも光が出ており、通常こ
の光を用いて発光点の光強度を検出して、半導体レーザ
のレーザ出力を制御している。そこで、本例では、半導
体レーザアレー１の後方から出射する光束を用いて結像
レンズ１２により、光束１３ａ，１３ｂ，１３ｃとして
検出器１４に導くようにしている。本例では、前記例の
ごとく半透鏡を用いることなく半導体レーザアレーの各
発光点の光強度を独立にモニターすることができる。ま
た、受光部を発光部の反対側に配置する為、光源の光量
に損失がなく光源出力を小さくできる。
【００２３】４．請求項４に対応する例（図４）
通常、半導体レーザの駆動端子２０は、発光方向と反対
側に光検知用素子が配置されているのに対し、本例では
駆動端子２０を発光方向と略直交方向に配置することに
より、発光方向と反対側で半導体レーザアレー１の後方
から出射する光束を用いて結像レンズ１２により光束１
３ａ，１３ｂ，１３ｃとして検出器１４に導けるように
発光方向と反対側に透明部材によるカバーガラス１０を
設けている。なお、発光方向には、通常どおりカバーガ
ラス１０を設けている。結像レンズ１２以降の構成、作
用は前記例１で述べた内容と同様である。
側に光検知用素子が配置されているのに対し、本例では
駆動端子２０を発光方向と略直交方向に配置することに
より、発光方向と反対側で半導体レーザアレー１の後方
から出射する光束を用いて結像レンズ１２により光束１
３ａ，１３ｂ，１３ｃとして検出器１４に導けるように
発光方向と反対側に透明部材によるカバーガラス１０を
設けている。なお、発光方向には、通常どおりカバーガ
ラス１０を設けている。結像レンズ１２以降の構成、作
用は前記例１で述べた内容と同様である。
【００２４】本例により、半導体レーザアレーの各発光
点の光強度を独立にモニターしたり、又、従来のように
一つのＰＤで受光しモニターすることもできる。また、
光検知用光学系を用いないときに半導体レーザアレー１
の後方から出射する光束を用いて半導体レーザアレー１
自体の偏心調整（光軸出し）が容易となる。なお、発光
部の反対側に検出部を設けると、光路中の駆動端子等で
光が遮られたりレイアウトの負担がかかるが、発光方向
と略直交方向に駆動端子を設けることでレイアウトの自
由度を増すことができる。
点の光強度を独立にモニターしたり、又、従来のように
一つのＰＤで受光しモニターすることもできる。また、
光検知用光学系を用いないときに半導体レーザアレー１
の後方から出射する光束を用いて半導体レーザアレー１
自体の偏心調整（光軸出し）が容易となる。なお、発光
部の反対側に検出部を設けると、光路中の駆動端子等で
光が遮られたりレイアウトの負担がかかるが、発光方向
と略直交方向に駆動端子を設けることでレイアウトの自
由度を増すことができる。
【００２５】５．請求項５に対応する例（図５乃至８参
照） 半導体レーザアレーの各発光点の光強度を独立に制御し
たい場合と、各発光点より光出力の有無のみをモニター
したい場合がある。本例はこれらの場合に対応できるも
のである。前者の独立に制御したい場合は、図５に示す
ように透明部材によるカバーガラス１０を取付けた部材
１Ｇを発光方向と反対側で半導体レーザアレー１の後方
（図において左側）のケース１Ｅに設ける。後者の各発
光点より光出力の有無のみをモニターしたい場合は、図
６に示すように、受光部が一つの検出器１４を取付けた
部材１Ｆをケース１Ｅに接着するようにした。
照） 半導体レーザアレーの各発光点の光強度を独立に制御し
たい場合と、各発光点より光出力の有無のみをモニター
したい場合がある。本例はこれらの場合に対応できるも
のである。前者の独立に制御したい場合は、図５に示す
ように透明部材によるカバーガラス１０を取付けた部材
１Ｇを発光方向と反対側で半導体レーザアレー１の後方
（図において左側）のケース１Ｅに設ける。後者の各発
光点より光出力の有無のみをモニターしたい場合は、図
６に示すように、受光部が一つの検出器１４を取付けた
部材１Ｆをケース１Ｅに接着するようにした。
【００２６】本例の変形例として図７、図８に示す例が
ある。これは、発光方向と反対側で半導体レーザアレー
１の後方（図において左側）のケース１Ｅに開口を形成
しておき、外部より検出器１４（図７参照）あるいは、
カバーガラス１０（図８参照）を接着固定できるように
したものである。符号１８は接着部を示す。本例では、
前記例４の構造を有する半導体レーザアレーに対し、半
導体レーザアレーの偏心調整後に発光部の反対側にある
部材と光強度の検出を行う検出器とを置き換え可能とな
るので、組付け調整が容易になる。
ある。これは、発光方向と反対側で半導体レーザアレー
１の後方（図において左側）のケース１Ｅに開口を形成
しておき、外部より検出器１４（図７参照）あるいは、
カバーガラス１０（図８参照）を接着固定できるように
したものである。符号１８は接着部を示す。本例では、
前記例４の構造を有する半導体レーザアレーに対し、半
導体レーザアレーの偏心調整後に発光部の反対側にある
部材と光強度の検出を行う検出器とを置き換え可能とな
るので、組付け調整が容易になる。
【００２７】
【発明の効果】本発明によれば、装置を大型化すること
なく半導体レーザアレーの各発光点の光強度を独立にモ
ニターできる。
なく半導体レーザアレーの各発光点の光強度を独立にモ
ニターできる。
【図１】本発明の一実施例を説明した光学装置の構成図
である。
である。
【図２】本発明の一実施例を説明した光学装置の構成図
である。
である。
【図３】本発明の一実施例を説明した光学装置の構成図
である。
である。
【図４】本発明の一実施例を説明した光学装置の構成図
である。
である。
【図５】本発明の一実施例を説明した光学装置の構成図
である。
である。
【図６】本発明の一実施例を説明した光学装置の構成図
である。
である。
【図７】本発明の一実施例を説明した光学装置の構成図
である。
である。
【図８】本発明の一実施例を説明した光学装置の構成図
である。
である。
【図９】従来技術の説明図である。
【図１０】従来技術の説明図である。
【図１１】半導体レーザアレーの説明図である。
【図１２】半導体レーザアレーからの出射光束の説明図
である。
である。
１ 半導体レーザアレー
２ （コリメート光学系としての）コリメータレンズ
１２ （結像光学系としての）結像レンズ
１４ 検出器
Claims (5)
- 【請求項１】接合面に平行な方向に光変調が独立に可能
な複数個の発光源が配列された半導体レーザアレーを用
いた光源部と、この光源部からの複数光束をコリメート
するコリメート光学系と、このコリメート光学系からの
光束を所定の方向に偏向する偏向器と、この偏向器から
の偏向光束を所定の感光媒体上に同時に結像走査する光
学系を有する光学装置において、 半導体レーザアレーの発光源とコリメート光学系の間
に、前記発光源からの光束を前記コリメート光学系の光
軸と異なる方向へ分ける半透鏡と、この半透鏡から分け
られた光束を所定の間隔に結像する結像光学系と、この
結像光学系からの各結像光の光強度を検出する検出器を
有することを特徴とする半導体レーザアレーを用いた光
学装置。 - 【請求項２】請求項１において、半透鏡を半導体レーザ
アレーのケースと一体化し、このケースに前記半透鏡か
ら分けられた光束を導く開口を設けたことを特徴とする
半導体レーザアレーを用いた光学装置。 - 【請求項３】接合面に平行な方向に光変調が独立に可能
な複数個の発光源が配列された半導体レーザアレーを用
いた光源部と、この光源部からの複数光束をコリメート
するコリメート光学系と、このコリメート光学系からの
光束を所定の方向に偏向する偏向器と、この偏向器から
の偏向光束を所定の感光媒体上に同時に結像走査する光
学系を有する光学装置において、 半導体レーザアレーの発光源の発光部の反対側に所定の
間隔に結像する結像光学系と、この結像光学系からの各
結像光の光強度を検出する検出器を有することを特徴と
する半導体レーザアレーを用いた光学装置。 - 【請求項４】接合面に平行な方向に光変調が独立に可能
な複数個の発光源が配列された半導体レーザアレーを用
いた光源部と、この光源部からの複数光束をコリメート
するコリメート光学系と、このコリメート光学系からの
光束を所定の方向に偏向する偏向器と、この偏向器から
の偏向光束を所定の感光媒体上に同時に結像走査する光
学系を有する光学装置において、 半導体レーザアレーの発光源の発光方向と略直交する方
向に駆動端子を設けるとともに、発光部側には透明カバ
ーガラス、前記発光部と反対側には光透過が可能な部材
及び出射光の光強度を検出する検出器をそれぞれ設けた
ことを特徴とする半導体レーザアレーを用いた光学装
置。 - 【請求項５】請求項４において、光透過が可能な部材及
び出射光の光強度を検出する検出器をそれぞれ半導体レ
ーザアレーのケースに着脱自在としたことを特徴とする
半導体レーザアレーを用いた光学装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3169975A JPH0519197A (ja) | 1991-07-10 | 1991-07-10 | 半導体レーザアレーを用いた光学装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3169975A JPH0519197A (ja) | 1991-07-10 | 1991-07-10 | 半導体レーザアレーを用いた光学装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0519197A true JPH0519197A (ja) | 1993-01-29 |
Family
ID=15896278
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3169975A Pending JPH0519197A (ja) | 1991-07-10 | 1991-07-10 | 半導体レーザアレーを用いた光学装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0519197A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2005208642A (ja) * | 2004-01-21 | 2005-08-04 | Xerox Corp | ビームからビームへの並列均一性補正 |
| US20110199454A1 (en) * | 2010-02-18 | 2011-08-18 | Ichii Daisuke | Light source device, optical scanning device, and image forming apparatus |
| US11381057B2 (en) | 2019-10-18 | 2022-07-05 | Nichia Corporation | Light source device |
-
1991
- 1991-07-10 JP JP3169975A patent/JPH0519197A/ja active Pending
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2005208642A (ja) * | 2004-01-21 | 2005-08-04 | Xerox Corp | ビームからビームへの並列均一性補正 |
| JP4578250B2 (ja) * | 2004-01-21 | 2010-11-10 | ゼロックス コーポレイション | ビームからビームへの並列均一性補正 |
| US20110199454A1 (en) * | 2010-02-18 | 2011-08-18 | Ichii Daisuke | Light source device, optical scanning device, and image forming apparatus |
| JP2011170055A (ja) * | 2010-02-18 | 2011-09-01 | Ricoh Co Ltd | 光源装置、光走査装置及び画像形成装置 |
| US8755716B2 (en) | 2010-02-18 | 2014-06-17 | Ricoh Company, Limited | Light source device, optical scanning device, and image forming apparatus |
| US11381057B2 (en) | 2019-10-18 | 2022-07-05 | Nichia Corporation | Light source device |
| US11705691B2 (en) | 2019-10-18 | 2023-07-18 | Nichia Corporation | Light source device |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JPH0631980A (ja) | 半導体レーザアレイ記録装置 | |
| US4424442A (en) | Scanning method using a plurality of beams and apparatus therefor | |
| JP2580933B2 (ja) | ジッター量測定手段を有した光走査装置 | |
| KR20000048172A (ko) | 광-주사 광학 시스템 및 이를 포함한 이미지-형성 장치 | |
| JP2676518B2 (ja) | 走査光学装置 | |
| US6288818B1 (en) | Optical scanning apparatus | |
| US6717756B2 (en) | Multibeam multi-wavelength internal drum recording apparatus | |
| JPH0256518A (ja) | 画像走査記録装置 | |
| US20010004292A1 (en) | Multi-beam scanning optical system and image forming apparatus using the same | |
| US5963242A (en) | Image recording apparatus with an array light source | |
| JP3315610B2 (ja) | 走査光学装置 | |
| US5574491A (en) | Apparatus spot position control in an output device employing a linear array of light sources | |
| JPH0519197A (ja) | 半導体レーザアレーを用いた光学装置 | |
| JPH06106775A (ja) | レーザ記録装置 | |
| JP4327991B2 (ja) | 光導波路アレイを用いた光学装置 | |
| EP0781663B1 (en) | Color xerographic printer with multiple linear arrays of surface emitting lasers with dissimilar wavelengths | |
| JP3783586B2 (ja) | 露光装置 | |
| JP2002250882A (ja) | マルチビーム走査装置 | |
| JP3299018B2 (ja) | 光プリンタ用光源装置 | |
| JPS5878117A (ja) | マルチビ−ム記録装置 | |
| JP3379514B2 (ja) | 画像記録装置 | |
| JP3991184B2 (ja) | 走査光学装置 | |
| JPH0532824Y2 (ja) | ||
| JPH10206771A (ja) | ラスタ出力スキャナ | |
| JP3526375B2 (ja) | 光スポット間隔検出方法・走査線ピッチ設定方法・光スポット間隔検出装置・走査線ピッチ設定装置およびマルチビーム走査装置 |