JPH0518030U - 半導体ベアーチツプ等の部品搭載面の構造 - Google Patents
半導体ベアーチツプ等の部品搭載面の構造Info
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 半導体ベアーチップ等の部品と搭載面,固着
樹脂間の膨張係数の違いにより接着された半導体ベアー
チップ等の部品に生じる応力を分散させ、半導体ベアー
チップ等の部品の破損あるいは電気的特性の劣化を防止
できる半導体ベアーチップ等の部品搭載面の構造を得る
ことを目的とする。 【構成】 膨張係数の違いにより半導体ベアーチップ等
の部品に生じる応力がコーナー部に集中しないように、
半導体ベアーチップ等の部品との固着面を半導体ベアー
チップ等の部品のコーナー部を避けた形状にしたことで
ある。
樹脂間の膨張係数の違いにより接着された半導体ベアー
チップ等の部品に生じる応力を分散させ、半導体ベアー
チップ等の部品の破損あるいは電気的特性の劣化を防止
できる半導体ベアーチップ等の部品搭載面の構造を得る
ことを目的とする。 【構成】 膨張係数の違いにより半導体ベアーチップ等
の部品に生じる応力がコーナー部に集中しないように、
半導体ベアーチップ等の部品との固着面を半導体ベアー
チップ等の部品のコーナー部を避けた形状にしたことで
ある。
Description
【0001】
この考案は半導体ベアーチップ等の部品搭載面の構造に関する。
【0002】
図6は従来の半導体ベアーチップ等の部品の搭載面に半導体ベアーチップが接 着された状態を示す斜視図である。 この図において、51はセラミックあるいはガラスエポキシ等の基板である。 この基板51上面には配線パターンがプリントされている。 52は半導体ベアーチップ(半導体を立方体形状に切り出した電子チップ部品 )であり、53は半導体ベアーチップのP−N接合部を示している。 この半導体ベアーチップ52は、前記基板51上に導電性あるいは非導電性の 固着樹脂54により接着されている。この固着樹脂は瞬時に硬化し十分な接着強 度が生ずるものではなく、基板上に固着樹脂を滴下した後、その上から半導体ベ アーチップを固着位置に配置し、この状態で固着樹脂を加熱して硬化させ十分な 接着強度を得るものである。
【0003】
従来の半導体ベアーチップ等の部品の搭載面は、上記のように平面状であった ので半導体ベアーチップの底面全体が接着されることになる。そして、固着樹脂 と基板および半導体ベアーチップの線膨張係数がそれぞれ異なることから、外部 環境の熱的な変化が生ずると、半導体ベアーチップのコーナー部に応力が集中し 、半導体ベアーチップが破損したり電気的特性の劣化が生ずる問題点がある。
【0004】 この請求項1,2,4の考案は、上記のような課題を解決するためになされた もので、半導体ベアーチップ等の部品と搭載面および固着樹脂間の膨張係数の違 いにより搭載面に接着された半導体ベアーチップ等の部品に生じる応力を分散さ せ、半導体ベアーチップ等の部品の破損あるいは電気的特性の劣化を防止できる 半導体ベアーチップ等の部品搭載面の構造を得ることを目的する。
【0005】 この請求項3の考案は、半導体ベアーチップ等の部品と搭載面および固着樹脂 間の膨張係数の違いにより搭載面に接着された半導体ベアーチップ等の部品に生 じる応力を分散させ、半導体ベアーチップ等の部品の破損あるいは電気的特性の 劣化を防止できるようにすることに加えて、半導体ベアーチップ等の部品が固着 樹脂により十分に接着されているか否かを目視により容易に確認することの出来 る、半導体ベアーチップ等の部品搭載面の構造を得ることを目的とする。
【0006】
この請求項1の考案に係る半導体ベアーチップ等の部品搭載面の構造は、膨張 係数の違いにより半導体ベアーチップ等の部品に生じる応力がコーナー部に集中 しないように、固着面の形状を接着される半導体ベアーチップ等の部品のコーナ ー部を避けた形状にしたものである。
【0007】 この請求項2の考案に係る半導体ベアーチップ等の部品搭載面の構造は、半導 体ベアーチップ等の部品のコーナー部が接着されないように、半導体ベアーチッ プ等の部品のコーナー部を避けた形状の上面を有する突部を設け、該突部の上面 に半導体ベアーチップ等の部品を接着するようにしたものである。
【0008】 この請求項3の考案に係る半導体ベアーチップ等の部品搭載面の構造は、請求 項2の考案の突部の上面が、該上面に接着される半導体ベアーチップ等の部品の 固着面より大きく構成され、該固着面からはみ出すようにしたものである。
【0009】 この請求項4の考案に係る半導体ベアーチップ等の部品搭載面の構造は、接着 される半導体ベアーチップ等の部品のコーナー部に対応する位置に凹部を設けた ものである。
【0010】
【作用】 この請求項1の考案における半導体ベアーチップ等の部品搭載面の構造は、半 導体ベアーチップ等の部品との固着面を、接着される半導体ベアーチップ等の部 品のコーナー部を避けた形状にし、接着される半導体ベアーチップ等の部品に生 ずる応力が分散するようにして、接着された半導体ベアーチップ等の部品の破損 および電気的特性の劣化を防止する。
【0011】 この請求項2の考案における半導体ベアーチップ等の部品搭載面の構造は、半 導体ベアーチップ等の部品のコーナー部が接着されないように半導体ベアーチッ プ等の部品のコーナー部を避けて突部上面に接着されるようにして、接着された 半導体ベアーチップ等の部品に生ずる応力が分散するようにし、半導体ベアーチ ップ等の部品の破損および電気的特性の劣化を防止する。
【0012】 この請求項3の考案における半導体ベアーチップ等の部品搭載面の構造は、搭 載面に形成された突部の上面が、半導体ベアーチップ等の部品との固着面より大 きく、該固着面からはみ出すようにし、接着された半導体ベアーチップ等の部品 に生ずる応力を分散させ、半導体ベアーチップ等の部品の破損および電気的特性 の劣化を防止すると共に、固着面に固着樹脂が十分ゆきわたっているか否かを目 視により容易に確認できるようにする。
【0013】 この請求項4の考案における半導体ベアーチップ等の部品搭載面の構造は、半 導体ベアーチップ等の部品のコーナー部に対応する搭載面の位置に設けられた凹 部により、半導体ベアーチップ等の部品のコーナー部が接着されないようにし、 接着された半導体ベアーチップ等の部品に生ずる応力を分散させ、半導体ベアー チップ等の部品の破損および電気的特性の劣化を防止する。
【0014】
以下、この考案の第1実施例を図について説明する。 図1において、1は基板、2は基板1に形成された円柱状の突部である。そし て、上面3に半導体ベアーチップ4の矩形状の底面4aが固着樹脂により接着さ れる(半導体ベアーチップ4が上面3に接着された場合の半導体ベアーチップの 底面4aを破線で示す)。この場合、円形の上面3は半導体ベアーチップ4の矩 形状の底面4a内におさまっていて、半導体ベアーチップ4の底面4aから外に はみ出ることはない。 半導体ベアーチップ4のそれぞれのコーナー部は接着されることなく基板1か ら浮いた状態にある。 従って、この実施例では、半導体ベアーチップ4と基板1および固着樹脂の線 膨張係数がそれぞれ異なることにより、熱的な経時変化による応力が半導体ベア ーチップ4に生じても、この応力は半導体ベアーチップ4のコーナー部に集中す ることはなく分散される。
【0015】 次に、この考案の第2実施例を図について説明する。 図2において、図1と同一箇所または相当部分には同一の番号を付し説明を省 略する。 5は四角柱状に形成された突部である。そして、矩形状の上面6に半導体ベア ーチップ4の底面4aが固着樹脂により接着される。この場合、矩形状の上面6 は半導体ベアーチップ4の底面4a内におさまっていて、半導体ベアーチップ4 の底面4aから外にはみ出ることはない。 この実施例では、半導体ベアーチップ4の底面4aと突部5の上面6とは、半 導体ベアーチップ4の矩形状の底面4aの各辺のほぼ中央に上面6の四隅が内接 するような位置関係になっている。 この結果、半導体ベアーチップ4のそれぞれのコーナー部は接着されることな く基板1から浮いた状態にある。 従って、半導体ベアーチップ4と基板1および固着樹脂の線膨張係数がそれぞ れ異なることから、熱的な経時変化による応力が半導体ベアーチップ4に生じて も、この応力は半導体ベアーチップ4のコーナー部に集中することはなく分散さ れる。
【0016】 次に、この考案の第3実施例を図について説明する。 図3において、図1と同一箇所または相当部分には同一の番号を付し説明を省 略する。7は基板1に形成された円柱状の突部である。この突部7の円形の上面 8に半導体ベアーチップ4の底面4aが固着樹脂により接着される。この場合、 上面8は半導体ベアーチップ4の底面4aから多少はみだしており、半導体ベア ーチップ4のそれぞれのコーナー部は上面8に固着されることなく基板1から浮 いた状態にある。 従って、この実施例では、半導体ベアーチップ4と基板1および固着樹脂の線 膨張係数がそれぞれ異なることから、熱的な経時変化による応力が半導体ベアー チップ4に生じても、この応力は半導体ベアーチップ4のコーナー部に集中する ことはなく分散される。 さらに、半導体ベアーチップ4と上面8との固着面に固着樹脂が十分ゆきわた っている場合には、この固着面から固着樹脂がはみ出してくるので、固着樹脂が 固着面に十分ゆきわたっているか否かを、このはみ出した固着樹脂を基に目視に より容易に確認することが出来る。
【0017】 次に、この考案の第4実施例を図について説明する。 図4において、図1と同一箇所または相当部分には同一の番号を付し説明を省 略する。 9a,9b,9c,9dは基板1に形成された円形の凹部である。そして、こ の円形の凹部9a,9b,9c,9dは、接着される半導体ベアーチップ4のそ れぞれのコーナー部に対応する位置に形成されている。10は半導体ベアーチッ プ4を接着する前に基板1に滴下あるいは塗り付けられた固着樹脂である。 この実施例では、半導体ベアーチップ4の底面4aが図に示す位置で基板1に 接着される。従って、基板1に接着された半導体ベアーチップ4の四隅は円形の 凹部9a,9b,9c,9dにより基板1に接着されることがないので、半導体 ベアーチップ4と基板1および固着樹脂の線膨張係数がそれぞれ異なることから 、熱的な経時変化による応力が半導体ベアーチップ4に生じても、この応力は半 導体ベアーチップ4のコーナー部に集中することはなく分散される。
【0018】 次に、この考案の第5実施例を図について説明する。 図5において、図1と同一箇所または相当部分には同一の番号を付し説明を省 略する。 11はリング状に形成された凹部であり、半導体ベアーチップ4が接着される 位置を取囲むように形成されている。また、リング状に形成された凹部11の内 側には円板状の凸部12が形成される。13は円板状の凸部12の上面である。 この実施例では、半導体ベアーチップ4の底面4aが図に示す位置で基板1に 接着される。従って、基板1に接着された半導体ベアーチップ4の四隅はリング 状に形成された凹部11により基板1に接着されることがないので、半導体ベア ーチップ4と基板1および固着樹脂の線膨張係数がそれぞれ異なることから、熱 的な経時変化による応力が半導体ベアーチップ4に生じても、この応力は半導体 ベアーチップ4のコーナー部に集中することはなく分散される。 なお、円板状の凸部12の上面13は半導体ベアーチップ4の底面4aからは み出してはいないが、接着面に固着樹脂が十分ゆきわたっているか否かを目視に より容易に確認出来るようにするために、円板状の凸部12上面13を半導体ベア ーチップ4の底面4aからはみ出すように構成してもよい。
【0019】
以上のように、この請求項1,2,4の考案によれば、半導体ベアーチップ等 のコーナー部が接着されないので、熱的な経時変化により接着された半導体ベア ーチップ等の部品に応力が生じても、この応力は半導体ベアーチップ等の部品の コーナー部に集中することはなく分散され、接着された半導体ベアーチップ等の 部品の破損あるいは電気的特性の劣化を防止できる効果がある。
【0020】 この請求項3の考案によれば、半導体ベアーチップ等の部品のコーナー部が接 着されないので、熱的な経時変化により半導体ベアーチップ等の部品に応力が生 じても、この応力は半導体ベアーチップ等の部品のコーナー部に集中することは なく分散され、接着された半導体ベアーチップ等の部品の破損あるいは電気的特 性の劣化を防止できると共に、固着面に固着樹脂が十分ゆきわたっているか否か を目視により容易に確認出来るので、接着された半導体ベアーチップ等の部品の 接着不良を容易に確認することが出来る。
【図1】この考案の第1実施例による半導体ベアーチッ
プ等の部品搭載面の構造を示す斜視図である。
プ等の部品搭載面の構造を示す斜視図である。
【図2】この考案の第2実施例による半導体ベアーチッ
プ等の部品搭載面の構造を示す斜視図である。
プ等の部品搭載面の構造を示す斜視図である。
【図3】この考案の第3実施例による半導体ベアーチッ
プ等の部品搭載面の構造を示す斜視図である。
プ等の部品搭載面の構造を示す斜視図である。
【図4】この考案の第4実施例による半導体ベアーチッ
プ等の部品搭載面の構造を示す斜視図である。
プ等の部品搭載面の構造を示す斜視図である。
【図5】この考案の第5実施例による半導体ベアーチッ
プ等の部品搭載面の構造を示す斜視図である。
プ等の部品搭載面の構造を示す斜視図である。
【図6】従来の半導体ベアーチップの搭載面に半導体ベ
アーチップ等の部品が接着された状態を示す斜視図であ
る。
アーチップ等の部品が接着された状態を示す斜視図であ
る。
1 基板 2 突部 3 上面 5 突部 6 上面 7 突部 8 上面 9a 円形の凹部 9b 円形の凹部 9c 円形の凹部 9d 円形の凹部 11 リング状に形成された凹部 12 円板状の凸部 13 上面
Claims (4)
- 【請求項1】 膨張係数の違いにより半導体ベアーチッ
プ等の部品に生じる応力がコーナー部に集中しないよう
に、半導体ベアーチップ等の部品との固着面を半導体ベ
アーチップ等の部品のコーナー部を避けた形状にしたこ
とを特徴とする半導体ベアーチップ等の部品搭載面の構
造。 - 【請求項2】 半導体ベアーチップ等の部品のコーナー
部が接着されないように半導体ベアーチップ等の部品の
コーナー部を避けた形状の上面を有する突部を設け、該
突部の上面に半導体ベアーチップ等の部品を接着するこ
とを特徴とする請求項1記載の半導体ベアーチップ等の
部品搭載面の構造。 - 【請求項3】 突部の上面が、該上面に接着される半導
体ベアーチップ等の部品の固着面より大きく構成され、
該固着面からはみ出している部分を有していることを特
徴とする請求項2記載の半導体ベアーチップ等の部品搭
載面の構造。 - 【請求項4】 接着される半導体ベアーチップ等の部品
のコーナー部に対応する位置に凹部を設けたことを特徴
とする請求項1記載の半導体ベアーチップ等の部品搭載
面の構造。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP072170U JPH0518030U (ja) | 1991-08-15 | 1991-08-15 | 半導体ベアーチツプ等の部品搭載面の構造 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP072170U JPH0518030U (ja) | 1991-08-15 | 1991-08-15 | 半導体ベアーチツプ等の部品搭載面の構造 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0518030U true JPH0518030U (ja) | 1993-03-05 |
Family
ID=13481494
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP072170U Pending JPH0518030U (ja) | 1991-08-15 | 1991-08-15 | 半導体ベアーチツプ等の部品搭載面の構造 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0518030U (ja) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
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-
1991
- 1991-08-15 JP JP072170U patent/JPH0518030U/ja active Pending
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