JPH05164691A - 籾中の籾殻含有率測定方法 - Google Patents
籾中の籾殻含有率測定方法Info
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- JPH05164691A JPH05164691A JP35385191A JP35385191A JPH05164691A JP H05164691 A JPH05164691 A JP H05164691A JP 35385191 A JP35385191 A JP 35385191A JP 35385191 A JP35385191 A JP 35385191A JP H05164691 A JPH05164691 A JP H05164691A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】籾サンプル中の籾殻含有率を迅速に測定するよ
うにし、もってその測定データを乾燥条件、籾すり条
件、選別条件に活用すること。 【構成】まず、粉砕した籾サンプルに近赤外線を照射し
て近赤外線スペクトルを測定する。次に、この測定スペ
クトルを、あらかじめ測定してある同一サンプルの玄米
および籾殻の２つの既知の近赤外線スペクトルと比較
し、その比較結果に基づいて籾サンプル中の籾殻含有率
を求める。そして、籾、玄米、および籾殻の近赤外線ス
ペクトルの比較値は、各スペクトルの所定波長における
吸光度とする。また、籾、玄米、および籾殻の近赤外線
スペクトルの比較量は、所定波長域におけるスペクトル
間のシフト量である。
うにし、もってその測定データを乾燥条件、籾すり条
件、選別条件に活用すること。 【構成】まず、粉砕した籾サンプルに近赤外線を照射し
て近赤外線スペクトルを測定する。次に、この測定スペ
クトルを、あらかじめ測定してある同一サンプルの玄米
および籾殻の２つの既知の近赤外線スペクトルと比較
し、その比較結果に基づいて籾サンプル中の籾殻含有率
を求める。そして、籾、玄米、および籾殻の近赤外線ス
ペクトルの比較値は、各スペクトルの所定波長における
吸光度とする。また、籾、玄米、および籾殻の近赤外線
スペクトルの比較量は、所定波長域におけるスペクトル
間のシフト量である。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、籾サンプル中に含まれ
る籾殻含有率（籾殻の混合割合）を測定する方法に関す
るものである。
る籾殻含有率（籾殻の混合割合）を測定する方法に関す
るものである。
【０００２】
【従来の技術】従来、籾に含まれる籾殻含有率を算出す
ることは、一般に手間がかかり行われていなかった。
ることは、一般に手間がかかり行われていなかった。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】そのため、従来は、籾
の登熟度を迅速に知ることができず、その解決が望まれ
ていた。特に、穀物乾燥調製施設においては、入荷時に
生籾の登熟度を迅速に知り、その測定レベルに応じて生
籾を混合または分離し、登熟度に応じた適正な条件の下
で乾燥、籾すり、選別を行なおうとする要望があるが、
その要望に応えることができなかった。
の登熟度を迅速に知ることができず、その解決が望まれ
ていた。特に、穀物乾燥調製施設においては、入荷時に
生籾の登熟度を迅速に知り、その測定レベルに応じて生
籾を混合または分離し、登熟度に応じた適正な条件の下
で乾燥、籾すり、選別を行なおうとする要望があるが、
その要望に応えることができなかった。
【０００４】そこで、本発明は、籾サンプル中の籾殻含
有率を迅速に測定するようにし、もってその測定データ
を乾燥条件、籾すり条件、選別条件に活用することを目
的とする。
有率を迅速に測定するようにし、もってその測定データ
を乾燥条件、籾すり条件、選別条件に活用することを目
的とする。
【０００５】
【課題を解決するための手段】かかる目的を達成するた
めに、本発明は、以下のように構成した。すなわち、本
発明は、粉砕した籾サンプルに近赤外線を照射して近赤
外線スペクトルを測定し、この測定スペクトルを、あら
かじめ測定して求めた同一サンプルの玄米および籾殻の
２つの既知の近赤外線スペクトルと比較し、その比較結
果に基づき籾サンプル中の籾殻含有率を求めるそして、
本発明では、上記の籾、玄米、および籾殻の近赤外線ス
ペクトルの比較値を、各スペクトルの所定波長における
吸光度とする。さらに本発明では、上記の籾、玄米、お
よび籾殻の近赤外線スペクトルの比較量を、所定波長域
におけるスペクトル間のシフト量（ずれの量）とする。
めに、本発明は、以下のように構成した。すなわち、本
発明は、粉砕した籾サンプルに近赤外線を照射して近赤
外線スペクトルを測定し、この測定スペクトルを、あら
かじめ測定して求めた同一サンプルの玄米および籾殻の
２つの既知の近赤外線スペクトルと比較し、その比較結
果に基づき籾サンプル中の籾殻含有率を求めるそして、
本発明では、上記の籾、玄米、および籾殻の近赤外線ス
ペクトルの比較値を、各スペクトルの所定波長における
吸光度とする。さらに本発明では、上記の籾、玄米、お
よび籾殻の近赤外線スペクトルの比較量を、所定波長域
におけるスペクトル間のシフト量（ずれの量）とする。
【０００６】
【作用】本発明は、粉砕した籾サンプルに近赤外線を照
射して近赤外線スペクトルを測定する。籾サンプルは玄
米と籾殻の混合物のため、上記の測定スペクトルは、あ
らかじめ測定してある同一サンプルの玄米および籾殻の
２つの既知の近赤外線スペクトルの中間的な性質があ
り、かつ籾殻含有率に応じて一定の変化をする。
射して近赤外線スペクトルを測定する。籾サンプルは玄
米と籾殻の混合物のため、上記の測定スペクトルは、あ
らかじめ測定してある同一サンプルの玄米および籾殻の
２つの既知の近赤外線スペクトルの中間的な性質があ
り、かつ籾殻含有率に応じて一定の変化をする。
【０００７】そこで、本発明ではこの点に着目し、その
測定スペクトルを、あらかじめ測定して求めた同一サン
プルの玄米および籾殻の２つの既知の近赤外線スペクト
ルと比較し、その比較結果に基づいて籾サンプル中の籾
殻含有率を求める。
測定スペクトルを、あらかじめ測定して求めた同一サン
プルの玄米および籾殻の２つの既知の近赤外線スペクト
ルと比較し、その比較結果に基づいて籾サンプル中の籾
殻含有率を求める。
【０００８】
【実施例】次に、本発明の実施例について説明する。
【０００９】この実施例では、まず籾サンプルを所定量
用意し、その籾サンプルを粉状に粉砕する。次に、その
粉砕した籾サンプルに波長を連続的に変化させて近赤外
線を照射し、その籾サンプルの透過光または反射光を検
出し、その検出により透過光スペクトルまたは反射光ス
ペクトルを求める。そして、その求めた原スペクトルか
ら２次微分スペクトルを求める。これらの測定処理は、
公知の波長走査型の近赤外線分光分析計を使用し、その
使用波長は例えば１１００ｎｍ〜２５００ｎｍの領域と
する。
用意し、その籾サンプルを粉状に粉砕する。次に、その
粉砕した籾サンプルに波長を連続的に変化させて近赤外
線を照射し、その籾サンプルの透過光または反射光を検
出し、その検出により透過光スペクトルまたは反射光ス
ペクトルを求める。そして、その求めた原スペクトルか
ら２次微分スペクトルを求める。これらの測定処理は、
公知の波長走査型の近赤外線分光分析計を使用し、その
使用波長は例えば１１００ｎｍ〜２５００ｎｍの領域と
する。
【００１０】一方、これらの測定処理に先立って、上記
と同一の籾サンプルについて、あらかじめ籾すりして籾
殻と玄米とに分離したのち別個に粉状に粉砕する。そし
て、これら籾殻と玄米の各サンプルについて上記と同様
な測定処理を行い、近赤外線スペクトルとその２次微分
スペクトルをそれぞれ求めておく。
と同一の籾サンプルについて、あらかじめ籾すりして籾
殻と玄米とに分離したのち別個に粉状に粉砕する。そし
て、これら籾殻と玄米の各サンプルについて上記と同様
な測定処理を行い、近赤外線スペクトルとその２次微分
スペクトルをそれぞれ求めておく。
【００１１】籾は玄米と籾殻の混合物であるので、測定
した籾サンプルの吸光度スペクトルは、既知の籾殻の吸
光度スペクトルと、既知の玄米の吸光度スペクトルとの
中間的な性質を有し、籾殻含有率に応じて一定の変化を
する。従って、図１で示すように、籾サンプルの２次微
分スペクトルは、あらかじめ求めてある籾殻サンプルの
２次微分スペクトルと、あらかじめ求めてある玄米サン
プルの２次微分スペクトルとの中間的な性質があり、籾
殻含有率に応じて一定の変化をする。そこで、この点に
着目し、籾殻含有率（籾殻の混合比率）を以下のように
して求める。
した籾サンプルの吸光度スペクトルは、既知の籾殻の吸
光度スペクトルと、既知の玄米の吸光度スペクトルとの
中間的な性質を有し、籾殻含有率に応じて一定の変化を
する。従って、図１で示すように、籾サンプルの２次微
分スペクトルは、あらかじめ求めてある籾殻サンプルの
２次微分スペクトルと、あらかじめ求めてある玄米サン
プルの２次微分スペクトルとの中間的な性質があり、籾
殻含有率に応じて一定の変化をする。そこで、この点に
着目し、籾殻含有率（籾殻の混合比率）を以下のように
して求める。
【００１２】まず、図２で示すように、籾の測定スペク
トルは、籾殻含有率に応じて既知の籾殻のスペクトルと
既知の玄米のスペクトルとの間を上下する性質がある。
そこで、この性質を活用し、例えば次の（１）式により
籾殻含有率αを求める。
トルは、籾殻含有率に応じて既知の籾殻のスペクトルと
既知の玄米のスペクトルとの間を上下する性質がある。
そこで、この性質を活用し、例えば次の（１）式により
籾殻含有率αを求める。
【００１３】 α＝Ｋ０＋Ｋ１（ＯＤ１−ＯＤ２）β （１） ここで、（１）式中のＯＤ１は１６９０ｎｍ近傍の籾ス
ペクトルの吸光度（主として２次微分値）、ＯＤ２は１
７５０ｎｍ近傍の籾スペクトルの吸光度（主として２次
微分値）である。そして、Ｋ０，Ｋ１，βはそれぞれ定
数である。
ペクトルの吸光度（主として２次微分値）、ＯＤ２は１
７５０ｎｍ近傍の籾スペクトルの吸光度（主として２次
微分値）である。そして、Ｋ０，Ｋ１，βはそれぞれ定
数である。
【００１４】（１）式において、波長が１６９０ｎｍ近
傍を選択したのは、図２で示すように２次微分値が籾、
玄米、籾殻について共通する点のためである。また、波
長が１７５０ｎｍ近傍を選択したのは、２次微分値が
籾、玄米、籾殻について区別でき、かつ温度変化や水分
変化に影響されないためである。
傍を選択したのは、図２で示すように２次微分値が籾、
玄米、籾殻について共通する点のためである。また、波
長が１７５０ｎｍ近傍を選択したのは、２次微分値が
籾、玄米、籾殻について区別でき、かつ温度変化や水分
変化に影響されないためである。
【００１５】次に、図３で示すように、籾の測定スペク
トルは、籾殻含有率に応じて既知の籾殻のスペクトルと
既知の玄米のスペクトルとの間で波長がシフトする（ず
れる）性質がある。そこで、この波長がシフトする性質
を活用し、例えば以下の（２），（３）または（４）式
により籾殻含有率αを求める。
トルは、籾殻含有率に応じて既知の籾殻のスペクトルと
既知の玄米のスペクトルとの間で波長がシフトする（ず
れる）性質がある。そこで、この波長がシフトする性質
を活用し、例えば以下の（２），（３）または（４）式
により籾殻含有率αを求める。
【００１６】まず、波長が２２６０ｎｍ〜２２９０ｎｍ
領域での極値を活用する場合には、次の（２）式により
籾殻含有率αを算出する。
領域での極値を活用する場合には、次の（２）式により
籾殻含有率αを算出する。
【００１７】 α＝（λＧ１−λＭ１）／（λＧ１−λＫ１） （２） ここで、（２）式において、λＫ１は上記の領域での籾
殻スペクトルの極小値の波長、λＧ１は玄米スペクトル
の極小値の波長、λＭ１は籾スペクトルの極小値の波長
である。
殻スペクトルの極小値の波長、λＧ１は玄米スペクトル
の極小値の波長、λＭ１は籾スペクトルの極小値の波長
である。
【００１８】次に、波長が２３００ｎｍ〜２３３０ｎｍ
域での極値を活用する場合には、次の（３）式により籾
殻含有率αを算出する。
域での極値を活用する場合には、次の（３）式により籾
殻含有率αを算出する。
【００１９】 α＝（λＭ２−λＧ２）／（λＫ２−λＧ２） （３） ここで、（２）式において、λＫ２は上記の領域での籾
殻スペクトルの極小値の波長、λＧ２は玄米スペクトル
の極小値の波長、λＭ２は籾スペクトルの極小値の波長
である。
殻スペクトルの極小値の波長、λＧ２は玄米スペクトル
の極小値の波長、λＭ２は籾スペクトルの極小値の波長
である。
【００２０】さらに、（２）式および（３）を活用し、
両方の極値間の波長差により籾殻含有率α求めるには、
次の（４）式で求める。
両方の極値間の波長差により籾殻含有率α求めるには、
次の（４）式で求める。
【００２１】 α＝（△λＭ−△λＧ）／（△λＫ−△λＧ） ＝（λＭ２−λＭ１）−（λＧ２−λＧ１）／（λＫ２−λＫ１）−（λＧ ２−λＧ１） （４） 次に、図３に基づいて（２），（３），（４）式により
籾殻含有率αを具体的に算出すると、以下に示すように
なる。
籾殻含有率αを具体的に算出すると、以下に示すように
なる。
【００２２】 α＝（λＧ１−λＭ１）／（λＧ１−λＫ１） ＝（２２７８．１−２２７６．４）／（２２７８．１−２２６８．５） ＝１．７／９．６ ＝０．１８ α＝（λＭ２−λＧ２）／（λＫ２−λＧ２） ＝（２３１６−２３１４．２）／（２３２３．６−２３１４．２） ＝１．８／９．４ ＝０．１９ α＝（△λＭ−△λＧ）／（△λＫ−△λＧ） ＝（２３１６−２２７６．４）−（２３１４．２−２２７８．１）／ （２３２３．６−２２６８．５）−（２３１４．２−２２７８．１） ＝３．５／１９＝０．１８ 以上のように本発明実施例によれば、籾殻含有率を迅速
に測定できるので、この実施例を穀物乾燥調製施設に適
用すれば、入荷時に生籾の登熟度を迅速に測定できる。
従って、その測定レベルに応じて荷受けの生籾を混合ま
たは分離し、その後に適正な乾燥条件、籾すり条件、選
別条件の下で乾燥、籾すり、選別の各処理が行える。
に測定できるので、この実施例を穀物乾燥調製施設に適
用すれば、入荷時に生籾の登熟度を迅速に測定できる。
従って、その測定レベルに応じて荷受けの生籾を混合ま
たは分離し、その後に適正な乾燥条件、籾すり条件、選
別条件の下で乾燥、籾すり、選別の各処理が行える。
【００２３】例えば、登熟度が悪いと判断されると、早
刈りまたは粒形のばらつきが大きいものと推定され、
（１）熱風温度を標準以下に下げたゆるやかな乾燥を実
施する（２）粒形のばらつきを伴い高脱ぷ率では、損傷
を多くする虞があるため、標準以下の脱ぷ率とする
（３）粒形選別についても粒のばらつきを勘案して目合
いを選択する、等の判断を比較的早い時期に知ることが
でき有利である。
刈りまたは粒形のばらつきが大きいものと推定され、
（１）熱風温度を標準以下に下げたゆるやかな乾燥を実
施する（２）粒形のばらつきを伴い高脱ぷ率では、損傷
を多くする虞があるため、標準以下の脱ぷ率とする
（３）粒形選別についても粒のばらつきを勘案して目合
いを選択する、等の判断を比較的早い時期に知ることが
でき有利である。
【００２４】
【発明の効果】以上説明したように本発明は、粉砕した
籾サンプルに近赤外線を照射して近赤外線スペクトルを
測定し、この測定スペクトルを、あらかじめ測定して求
めた同一サンプルの玄米および籾殻の２つの既知の近赤
外線スペクトルと比較し、その比較結果に基づき籾サン
プル中の籾殻含有率を求めるようにしたので、籾サンプ
ル中の籾殻含有率を迅速に測定でき、もってその測定デ
ータを乾燥条件、籾すり条件、選別条件に活用できる。
籾サンプルに近赤外線を照射して近赤外線スペクトルを
測定し、この測定スペクトルを、あらかじめ測定して求
めた同一サンプルの玄米および籾殻の２つの既知の近赤
外線スペクトルと比較し、その比較結果に基づき籾サン
プル中の籾殻含有率を求めるようにしたので、籾サンプ
ル中の籾殻含有率を迅速に測定でき、もってその測定デ
ータを乾燥条件、籾すり条件、選別条件に活用できる。
【図１】籾、玄米、および籾殻の２次微分スペクトルの
一例を示す図である。
一例を示す図である。
【図２】図１を部分的に拡大した図である。
【図３】図１を部分的に拡大した図である。
Claims (3)
- 【請求項１】粉砕した籾サンプルに近赤外線を照射して
近赤外線スペクトルを測定し、この測定スペクトルを、
あらかじめ測定して求めた同一サンプルの玄米および籾
殻の２つの既知の近赤外線スペクトルと比較し、その比
較結果に基づき籾サンプル中の籾殻含有率を求める籾中
の籾殻含有率測定方法。 - 【請求項２】前記籾、玄米、および籾殻の近赤外線スペ
クトルの比較が、各スペクトルの所定波長における吸光
度である第１項記載の籾中の籾殻含有率測定方法。 - 【請求項３】前記籾、玄米、および籾殻の近赤外線スペ
クトルの比較が、所定波長域におけるスペクトル間のシ
フト量である第１項記載の籾中の籾殻含有率測定方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP35385191A JPH05164691A (ja) | 1991-12-18 | 1991-12-18 | 籾中の籾殻含有率測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP35385191A JPH05164691A (ja) | 1991-12-18 | 1991-12-18 | 籾中の籾殻含有率測定方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05164691A true JPH05164691A (ja) | 1993-06-29 |
Family
ID=18433654
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP35385191A Pending JPH05164691A (ja) | 1991-12-18 | 1991-12-18 | 籾中の籾殻含有率測定方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH05164691A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2010049233A (ja) * | 2008-07-22 | 2010-03-04 | Canon Inc | 測定装置および画像形成装置 |
-
1991
- 1991-12-18 JP JP35385191A patent/JPH05164691A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2010049233A (ja) * | 2008-07-22 | 2010-03-04 | Canon Inc | 測定装置および画像形成装置 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20010911 |
|
| A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20040611 |