JPH05158572A - クロック／電圧マージン試験方式 - Google Patents
クロック／電圧マージン試験方式Info
- Publication number
- JPH05158572A JPH05158572A JP3347665A JP34766591A JPH05158572A JP H05158572 A JPH05158572 A JP H05158572A JP 3347665 A JP3347665 A JP 3347665A JP 34766591 A JP34766591 A JP 34766591A JP H05158572 A JPH05158572 A JP H05158572A
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- JP
- Japan
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- voltage
- clock
- test
- decoder
- clock frequency
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 クロック／電圧マージン試験を自動的にかつ
連続的に行い、試験工程の大幅な削減をする。 【構成】 テストプログラムをディスク装置９に格納し
ておく。試験パターンと試験開始時のクロック／電圧の
初期値を診断装置１内のＲＡＭ１ａ内に記憶させる。Ｒ
ＡＭ１ａの出力には試験パターンを解読する第１デコー
ダ４と試験開始時のクロック／電圧の初期値を解読する
第２デコーダ５が接続されている。第１デコーダ４と第
２デコーダ５により、クロック初期値設定値６ａとクロ
ック変動部６ｂと電圧初期値設定部７ａと電圧変動部７
ｂが選択される。また、診断装置１に試験中の異常停止
を監視するシステムダウンチェック部１ｂを有し、診断
装置１が異常停止時のクロック／電圧の値と時刻と試験
項目を限界点トレース回路８に格納指示をする。
連続的に行い、試験工程の大幅な削減をする。 【構成】 テストプログラムをディスク装置９に格納し
ておく。試験パターンと試験開始時のクロック／電圧の
初期値を診断装置１内のＲＡＭ１ａ内に記憶させる。Ｒ
ＡＭ１ａの出力には試験パターンを解読する第１デコー
ダ４と試験開始時のクロック／電圧の初期値を解読する
第２デコーダ５が接続されている。第１デコーダ４と第
２デコーダ５により、クロック初期値設定値６ａとクロ
ック変動部６ｂと電圧初期値設定部７ａと電圧変動部７
ｂが選択される。また、診断装置１に試験中の異常停止
を監視するシステムダウンチェック部１ｂを有し、診断
装置１が異常停止時のクロック／電圧の値と時刻と試験
項目を限界点トレース回路８に格納指示をする。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明はクロック／電圧マージン
試験に関し、特に情報処理装置において使用されるクロ
ック周波数または電圧のどちらかを固定し他方を変動し
て自動的に連続したマージン試験を可能とするクロック
／電圧マージン試験方式に関するものである。
試験に関し、特に情報処理装置において使用されるクロ
ック周波数または電圧のどちらかを固定し他方を変動し
て自動的に連続したマージン試験を可能とするクロック
／電圧マージン試験方式に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】従来のクロック／電圧マージン試験にお
いては、まず試験を行う前に情報処理装置の外部にクロ
ック周波数および電圧を変動させるための外部装置を用
意し、実際に使用されるクロック発生源および電源装置
を切り離してこれを情報処理装置に接続する。次にこの
接続後、人手により情報処理装置を立ち上げてテストプ
ログラムを起動させた状態にして、接続した外部装置で
クロック周波数または電圧のどちらかを一定の値にセッ
トし、他方を手動で変動させていく。
いては、まず試験を行う前に情報処理装置の外部にクロ
ック周波数および電圧を変動させるための外部装置を用
意し、実際に使用されるクロック発生源および電源装置
を切り離してこれを情報処理装置に接続する。次にこの
接続後、人手により情報処理装置を立ち上げてテストプ
ログラムを起動させた状態にして、接続した外部装置で
クロック周波数または電圧のどちらかを一定の値にセッ
トし、他方を手動で変動させていく。
【０００３】そして変動中にある限界点に達すると情報
処理装置が異常停止するので、この時のクロック周波数
と電圧の値を記録する。他にも異なるクロック／電圧の
限界点を多数採取するには、その都度情報処理装置の異
常停止後に再立ち上げを実施し、テストプログラムを起
動させた後に前述した操作を繰り返し行っていた。また
クロック周波数／電圧の限界点を多数採取した後に、こ
のデータを人手によりグラフにプロットしていくことに
より、クロック／電圧マージン特性グラフを作成して情
報処理装置のクロック／電圧に対する余裕度を把握して
いた。
処理装置が異常停止するので、この時のクロック周波数
と電圧の値を記録する。他にも異なるクロック／電圧の
限界点を多数採取するには、その都度情報処理装置の異
常停止後に再立ち上げを実施し、テストプログラムを起
動させた後に前述した操作を繰り返し行っていた。また
クロック周波数／電圧の限界点を多数採取した後に、こ
のデータを人手によりグラフにプロットしていくことに
より、クロック／電圧マージン特性グラフを作成して情
報処理装置のクロック／電圧に対する余裕度を把握して
いた。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】しかしこのような従来
のクロック／電圧マージン試験方式では、実際に使用さ
れているクロック発生源と電源装置を切り離しており、
クロック周波数と電圧を変動させるための外部装置を接
続する必要があるという欠点があった。また、この情報
処理装置におけるクロックと電圧の相関関係の限界点を
多数採取する場合には、採取しようとするたびに情報処
理装置の立ち上げとテストプログラムの起動とクロック
または電圧のどちらかの固定と変動を手動で行う必要が
ある。さらに、試験中に採取したデータをその都度記録
し、これを基にクロック／電圧マージン特性グラフを作
成する必要があるという欠点があった。
のクロック／電圧マージン試験方式では、実際に使用さ
れているクロック発生源と電源装置を切り離しており、
クロック周波数と電圧を変動させるための外部装置を接
続する必要があるという欠点があった。また、この情報
処理装置におけるクロックと電圧の相関関係の限界点を
多数採取する場合には、採取しようとするたびに情報処
理装置の立ち上げとテストプログラムの起動とクロック
または電圧のどちらかの固定と変動を手動で行う必要が
ある。さらに、試験中に採取したデータをその都度記録
し、これを基にクロック／電圧マージン特性グラフを作
成する必要があるという欠点があった。
【０００５】本発明は以上の点に鑑みてなされたもの
で、その目的は、上記のような従来の欠点を解消して試
験に費やす工数を大幅に低減することにある。
で、その目的は、上記のような従来の欠点を解消して試
験に費やす工数を大幅に低減することにある。
【０００６】
【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
め、本発明によるクロック／電圧マージン試験方式は、
クロックまたは電圧のどちらかを固定し他方を変動して
マージン試験を行う試験パターンおよびこの試験パター
ン毎に固定設定される側の試験開始時のクロック周波数
または電圧の初期値の組合せデータを測定者が生成した
ものを、連続的なマージン試験パターンとして格納して
おくＲＡＭと、このＲＡＭ内の試験パターンデータの出
力を解読する第１デコーダと、前記ＲＡＭ内の試験開始
時の初期値データの出力を解読する第２デコーダと、こ
れら第１デコーダ，第２デコーダの出力により試験開始
時のクロック周波数をセットするためのクロック初期値
設定部および前記第１デコーダの出力によりクロック周
波数を変動するクロック変動部を有するクロック設定回
路と、前記第１デコーダと第２デコーダの出力により試
験開始時の電圧をセットするための電圧初期値設定部お
よび前記第１デコーダの出力により電圧を変動する電圧
変動部を有する電圧設定回路により構成される。
め、本発明によるクロック／電圧マージン試験方式は、
クロックまたは電圧のどちらかを固定し他方を変動して
マージン試験を行う試験パターンおよびこの試験パター
ン毎に固定設定される側の試験開始時のクロック周波数
または電圧の初期値の組合せデータを測定者が生成した
ものを、連続的なマージン試験パターンとして格納して
おくＲＡＭと、このＲＡＭ内の試験パターンデータの出
力を解読する第１デコーダと、前記ＲＡＭ内の試験開始
時の初期値データの出力を解読する第２デコーダと、こ
れら第１デコーダ，第２デコーダの出力により試験開始
時のクロック周波数をセットするためのクロック初期値
設定部および前記第１デコーダの出力によりクロック周
波数を変動するクロック変動部を有するクロック設定回
路と、前記第１デコーダと第２デコーダの出力により試
験開始時の電圧をセットするための電圧初期値設定部お
よび前記第１デコーダの出力により電圧を変動する電圧
変動部を有する電圧設定回路により構成される。
【０００７】また、本発明の別の発明によるクロック／
電圧マージン試験方式は、上記のものにおいて、クロッ
ク周波数または電圧を変動させたときに情報処理装置が
異常停止するときの状態監視をするシステムダウンチェ
ック部を診断装置内に備え、さらに常時クロック周波数
と電圧を採取しており情報処理装置が異常停止する時に
前記システムダウンチェック部の指示により停止し、そ
の時のクロック周波数と電圧の値と時刻と試験パターン
項目の情報を保持しておく限界点トレース回路を備えて
いる。
電圧マージン試験方式は、上記のものにおいて、クロッ
ク周波数または電圧を変動させたときに情報処理装置が
異常停止するときの状態監視をするシステムダウンチェ
ック部を診断装置内に備え、さらに常時クロック周波数
と電圧を採取しており情報処理装置が異常停止する時に
前記システムダウンチェック部の指示により停止し、そ
の時のクロック周波数と電圧の値と時刻と試験パターン
項目の情報を保持しておく限界点トレース回路を備えて
いる。
【０００８】
【作用】したがって本発明によれば、診断装置内のＲＡ
Ｍに予め試験パターンと試験開始時のクロック／電圧の
初期値を記憶させておくことにより、クロック／電圧の
限界点を自動的に多数または連続して採取できる。ま
た、本発明の別の発明によれば、情報処理装置が停止し
たときのクロック周波数と電圧値を示すクロック／電圧
マージン特性グラフを自動的に採取することができる。
Ｍに予め試験パターンと試験開始時のクロック／電圧の
初期値を記憶させておくことにより、クロック／電圧の
限界点を自動的に多数または連続して採取できる。ま
た、本発明の別の発明によれば、情報処理装置が停止し
たときのクロック周波数と電圧値を示すクロック／電圧
マージン特性グラフを自動的に採取することができる。
【０００９】
【実施例】以下本発明の実施例について図面を用いて説
明する。図１は本発明によるクロック／電圧マージン試
験を実現するための一実施例を示すブロック図である。
図２及び図３は図１におけるＲＡＭ内に格納すべき試験
パターンと、限界点トレース回路内に格納されるシステ
ムが異常停止したときのクロック周波数と電圧と時刻と
試験パターン項目の採取データの一例をそれぞれ示した
ものである。
明する。図１は本発明によるクロック／電圧マージン試
験を実現するための一実施例を示すブロック図である。
図２及び図３は図１におけるＲＡＭ内に格納すべき試験
パターンと、限界点トレース回路内に格納されるシステ
ムが異常停止したときのクロック周波数と電圧と時刻と
試験パターン項目の採取データの一例をそれぞれ示した
ものである。
【００１０】図１において、テストプログラムは情報処
理装置内部に持つディスク装置９に格納されており、情
報処理装置が立ち上がると診断装置１により自動的にこ
のテストプログラムが主記憶装置１０にロードされてラ
ンニングを開始する。また、クロック発生源２と電源装
置３は通常の情報処理装置の動作時に使用されているも
のであり、それぞれクロック設定回路６と電源設定回路
７を経由して、情報処理装置内部に分配される。
理装置内部に持つディスク装置９に格納されており、情
報処理装置が立ち上がると診断装置１により自動的にこ
のテストプログラムが主記憶装置１０にロードされてラ
ンニングを開始する。また、クロック発生源２と電源装
置３は通常の情報処理装置の動作時に使用されているも
のであり、それぞれクロック設定回路６と電源設定回路
７を経由して、情報処理装置内部に分配される。
【００１１】また、試験装置１内には試験パターンと試
験開始時のクロック／電圧の初期値をマージン試験項目
として記憶するＲＡＭ１ａと、試験中の異常停止を監視
するためのシステムダウンチェック部１ｂを備えてお
り、このＲＡＭ１ａの出力には試験パターンを解読する
第１デコーダ４と、試験開始時のクロック／電圧の初期
値を解読する第２デコーダ５が接続されている。
験開始時のクロック／電圧の初期値をマージン試験項目
として記憶するＲＡＭ１ａと、試験中の異常停止を監視
するためのシステムダウンチェック部１ｂを備えてお
り、このＲＡＭ１ａの出力には試験パターンを解読する
第１デコーダ４と、試験開始時のクロック／電圧の初期
値を解読する第２デコーダ５が接続されている。
【００１２】さらにクロック設定回路６は、第１デコー
ダ４と第２デコーダ５の出力により試験開始時のクロッ
ク周波数をセットするためのクロック初期値設定部６ａ
と、第１デコーダ４の出力によりクロック周波数を変動
するクロック変動部６ｂから構成される。電圧設定回路
７は、第１デコーダ４と第２デコーダ５の出力により試
験開始時の電圧をセットするための電圧初期値設定部７
ａと、第１デコーダ４の出力により電圧を変動する電圧
変動部７ｂから構成されている。
ダ４と第２デコーダ５の出力により試験開始時のクロッ
ク周波数をセットするためのクロック初期値設定部６ａ
と、第１デコーダ４の出力によりクロック周波数を変動
するクロック変動部６ｂから構成される。電圧設定回路
７は、第１デコーダ４と第２デコーダ５の出力により試
験開始時の電圧をセットするための電圧初期値設定部７
ａと、第１デコーダ４の出力により電圧を変動する電圧
変動部７ｂから構成されている。
【００１３】また限界点トレース回路８は、クロック設
定回路６の出力側のクロック線１２と電圧設定回路７の
出力側の電源線１３より常時クロック周波数，電圧を採
取しており情報処理装置が異常停止するときにシステム
ダウンチェック部１ｂのトレース停止線１１よりの指示
により停止し、その時のクロック周波数と電圧の値と時
刻と試験パターン項目の情報を保持するものとなってい
る。
定回路６の出力側のクロック線１２と電圧設定回路７の
出力側の電源線１３より常時クロック周波数，電圧を採
取しており情報処理装置が異常停止するときにシステム
ダウンチェック部１ｂのトレース停止線１１よりの指示
により停止し、その時のクロック周波数と電圧の値と時
刻と試験パターン項目の情報を保持するものとなってい
る。
【００１４】次に、かかるクロック／電圧マージン試験
の動作を説明する。この試験を開始する前に、まずクロ
ックおよび電圧のどちらを固定しどちらを変動させるか
の試験パターンと固定設定を選択した側の試験開始時の
初期値を決定したうえ、この組合せデータを実施予定の
試験回数分を試験スケジュールとして診断装置１内のＲ
ＡＭ１ａに格納しておく（図２参照）。
の動作を説明する。この試験を開始する前に、まずクロ
ックおよび電圧のどちらを固定しどちらを変動させるか
の試験パターンと固定設定を選択した側の試験開始時の
初期値を決定したうえ、この組合せデータを実施予定の
試験回数分を試験スケジュールとして診断装置１内のＲ
ＡＭ１ａに格納しておく（図２参照）。
【００１５】しかして試験開始時に診断装置１はＲＡＭ
１ａの内容を出力する。するとＲＡＭ１ａの出力には試
験パターンを解読する第１デコーダ４と試験開始時の初
期値を解読する第２デコーダ５が接続されており、これ
により試験の実施項目が判断される。例えば、図２に示
すＲＡＭ１ａ内の試験パターンにおいて項１が選択され
るとクロックを初期値Ａに設定し電圧を上げていく。こ
の場合はクロック初期値設定部６ａと電圧変動部７ｂが
制御される。また項４が選択されると電圧を初期値ｂに
設定しクロック周波数を下げていく。この場合には電圧
初期値設定部７ａ，クロック変動部６ｂが制御される。
１ａの内容を出力する。するとＲＡＭ１ａの出力には試
験パターンを解読する第１デコーダ４と試験開始時の初
期値を解読する第２デコーダ５が接続されており、これ
により試験の実施項目が判断される。例えば、図２に示
すＲＡＭ１ａ内の試験パターンにおいて項１が選択され
るとクロックを初期値Ａに設定し電圧を上げていく。こ
の場合はクロック初期値設定部６ａと電圧変動部７ｂが
制御される。また項４が選択されると電圧を初期値ｂに
設定しクロック周波数を下げていく。この場合には電圧
初期値設定部７ａ，クロック変動部６ｂが制御される。
【００１６】そして、クロック周波数または電圧を変動
させていった時にクロックまたは電圧の限界点に達しシ
ステムが異常停止した場合は、診断装置１内のシステム
ダウンチェック部１ｂにより確認され、診断装置１がこ
の時の障害情報を採取すると同時に、トレース停止線１
１により限界点トレース回路８内にそのときのクロック
周波数値と電圧値と時刻と試験項目を格納するよう指示
する（図３参照）。
させていった時にクロックまたは電圧の限界点に達しシ
ステムが異常停止した場合は、診断装置１内のシステム
ダウンチェック部１ｂにより確認され、診断装置１がこ
の時の障害情報を採取すると同時に、トレース停止線１
１により限界点トレース回路８内にそのときのクロック
周波数値と電圧値と時刻と試験項目を格納するよう指示
する（図３参照）。
【００１７】次に続いて、診断装置１はＲＡＭ１ａ内の
試験スケジュールを参照して残試験項目があれば次の試
験パターンを実施する前に、システムをリセットし再立
ち上げを自動的に行った後、ディスク装置９内のテスト
プログラムを起動させてスケジュールに合わせたクロッ
ク／電圧マージン試験を以後行う。試験項目毎に採取し
たデータは限界点トレース回路８内に保持されることに
なる。
試験スケジュールを参照して残試験項目があれば次の試
験パターンを実施する前に、システムをリセットし再立
ち上げを自動的に行った後、ディスク装置９内のテスト
プログラムを起動させてスケジュールに合わせたクロッ
ク／電圧マージン試験を以後行う。試験項目毎に採取し
たデータは限界点トレース回路８内に保持されることに
なる。
【００１８】
【発明の効果】以上説明したように本発明は、テストプ
ログラムをディスク装置内に格納しておき診断装置の指
示により起動させる方式とし、試験項目を格納するため
のＲＡＭを診断装置内に有し、またＲＡＭの内容を読解
するデコーダとクロック／電圧を設定および変動させる
ための回路を有することにより、人手の介入無しにテス
トプログラムの起動、システムの再立ち上げ、クロック
および電圧の設定や変動が可能となり、クロック／電圧
の限界点を多数また連続して採取することができる。
ログラムをディスク装置内に格納しておき診断装置の指
示により起動させる方式とし、試験項目を格納するため
のＲＡＭを診断装置内に有し、またＲＡＭの内容を読解
するデコーダとクロック／電圧を設定および変動させる
ための回路を有することにより、人手の介入無しにテス
トプログラムの起動、システムの再立ち上げ、クロック
および電圧の設定や変動が可能となり、クロック／電圧
の限界点を多数また連続して採取することができる。
【００１９】また本発明の別の発明は、システムの異常
停止を監視するシステムダウンチェック部と異常停止時
のクロック／電圧等を採取する限界点トレース回路を有
することにより、試験毎のクロック／電圧関係の限界点
を自動的に記録でき、クロック／電圧マージン特性グラ
フとして編集することができる。
停止を監視するシステムダウンチェック部と異常停止時
のクロック／電圧等を採取する限界点トレース回路を有
することにより、試験毎のクロック／電圧関係の限界点
を自動的に記録でき、クロック／電圧マージン特性グラ
フとして編集することができる。
【図１】本発明によるクロック／電圧マージン試験方式
の一実施例を示すブロック図である。
の一実施例を示すブロック図である。
【図２】図１のＲＡＭに格納する試験パターンの一例を
示す図である。
示す図である。
【図３】図１の限界点トレース回路内に格納されるシス
テム異常停止時のクロック／電圧／時刻／試験項目の採
取データの一例を示す図である。
テム異常停止時のクロック／電圧／時刻／試験項目の採
取データの一例を示す図である。
１ 診断装置 １ａ ＲＡＭ １ｂ システムダウンチェック部 ２ クロック発生源 ３ 電源装置 ４ 第１デコーダ ５ 第２デコーダ ６ クロック設定回路 ６ａ クロック初期値設定部 ６ｂ クロック変動部 ７ 電圧設定回路 ７ａ 電圧初期値設定部 ７ｂ 電圧変動部 ８ 限界点トレース回路 ９ ディスク装置 １０ 主記憶装置 １１ トレース停止線 １２ クロック線 １３ 電源線
Claims (2)
- 【請求項１】 情報処理装置内部で使用されるクロック
周波数または電圧のどちらかを固定し他方を変動してマ
ージン試験を行う試験パターンおよびこの試験パターン
毎に固定設定される側の試験開始時のクロック周波数ま
たは電圧の初期値を組み合わせたデータを予め生成した
ものを、連続的なクロック／電圧マージン試験項目とし
て格納しておくＲＡＭと、前記ＲＡＭ内の試験パターン
データの出力を解読する第１デコーダと、前記ＲＡＭ内
の試験開始時の初期値データの出力を解読する第２デコ
ーダと、前記第１デコーダと第２デコーダの出力により
試験開始時のクロック周波数をセットするためのクロッ
ク初期値設定部および前記第１デコーダの出力によりク
ロック周波数を変動するクロック変動部を有するクロッ
ク設定回路と、前記第１デコーダと第２デコーダの出力
により試験開始時の電圧をセットするための電圧初期値
設定部および前記第１デコーダの出力により電圧を変動
する電圧変動部を有する電圧設定回路により構成され、
自動的にかつ連続的なマージン試験を行うことを特徴と
するクロック／電圧マージン試験方式。 - 【請求項２】 請求項１のクロック／電圧マージン試験
方式において、クロック周波数または電圧を変動させた
ときに情報処理装置が異常停止するときの状態監視をす
るシステムダウンチェック部を診断装置内に備え、さら
に常時クロック周波数と電圧を採取しており情報処理装
置が異常停止する時に前記システムダウンチェック部の
指示により停止し、その時のクロック周波数と電圧の値
と時刻と試験パターン項目の情報を保持しておく限界点
トレース回路を備えて、情報処理装置が停止したときの
クロック周波数と電圧値を示すクロック／電圧マージン
特性グラフを自動的に採取することを特徴とするクロッ
ク／電圧マージン試験方式。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3347665A JPH05158572A (ja) | 1991-12-04 | 1991-12-04 | クロック／電圧マージン試験方式 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3347665A JPH05158572A (ja) | 1991-12-04 | 1991-12-04 | クロック／電圧マージン試験方式 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05158572A true JPH05158572A (ja) | 1993-06-25 |
Family
ID=18391759
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3347665A Pending JPH05158572A (ja) | 1991-12-04 | 1991-12-04 | クロック／電圧マージン試験方式 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH05158572A (ja) |
Cited By (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6697952B1 (en) * | 2000-07-24 | 2004-02-24 | Dell Products, L.P. | Margining processor power supply |
| JP2005285114A (ja) * | 1996-03-01 | 2005-10-13 | Samsung Electronics Co Ltd | プロセッサの性能を強化する方法及び装置 |
| US7434118B2 (en) | 2003-04-04 | 2008-10-07 | Verigy (Singapore) Pte. Ltd. | Parameterized signal conditioning |
| JP2009020630A (ja) * | 2007-07-11 | 2009-01-29 | Fujitsu Ltd | コンピュータ装置の試験方法及び装置及びプログラム |
| JP2010066945A (ja) * | 2008-09-10 | 2010-03-25 | Fujitsu Ltd | 情報処理装置、許容電圧試験システム、許容電圧試験方法 |
| JP2012168769A (ja) * | 2011-02-15 | 2012-09-06 | Nec Computertechno Ltd | インタフェース障害処理方式、情報処理装置及びインタフェース障害処理方法 |
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| JP2020071604A (ja) * | 2018-10-30 | 2020-05-07 | 株式会社日立製作所 | クロック生成回路、半導体集積回路、及び、同半導体集積回路を備えた装置 |
-
1991
- 1991-12-04 JP JP3347665A patent/JPH05158572A/ja active Pending
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