JPH05150890A - 位置読取装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】 この発明の目的は、押圧位置における押圧レ
ベルを正確に測定することにより、押圧位置の読取精度
を向上させることのできる、位置読取装置を提供するこ
とである。 【構成】 この装置は、導電性のＸ方向抵抗膜１０ａお
よびＹ方向抵抗膜１０ｂを微小な隙間を開けて相互にオ
ーバーラップするように重ね合わせた構造を備え、押圧
位置Ａが押圧された場合、所定の手順によりスイッチの
開閉制御を行なって押圧位置Ａが押圧されたことによっ
て得られる接触抵抗Ｒ_P のＸ方向およびＹ方向のレベル
を検出し、その押圧レベルが十分であることに応じて、
次の手順に従うスイッチの開閉制御を行なって、測定電
圧Ｖ_X およびＸ_y による押圧位置Ａの座標測定が行なわ
れるように構成される。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】この発明は位置読取装置に関し、
特に、抵抗薄膜の主面上が押圧されたことに応じて、こ
の押圧位置を電気信号にして読取る位置読取装置に関す
る。

【０００２】

【従来の技術】図５は、従来および本発明の一実施例に
適用される座標入出力装置の構成図である。

【０００３】図５において座標入出力装置は該装置を集
中的に管理および制御するためのＣＰＵ（中央処理装
置）１、プログラムおよびデータをストアするために設
けられているＲＯＭ２およびＲＡＭ３、時計４、該装置
に接続されるプリンタやＣＲＴ（陰極線管）などを含む
Ｉ／Ｏ（入出力）部５、該装置に外部からデータを入力
するために設けらるキーボード６、液晶ディスプレイな
どを含む表示部７、ＣＰＵ１により制御され、表示部７
を表示駆動する表示駆動回路８、Ａ／Ｄコンバータ（ア
ナログ／デジタル変換回路）９、タブレット部１０、Ｃ
ＰＵ１により制御され、応じてタブレット部１０を駆動
制御するためのタブレットコントローラ１１を含んで構
成される。

【０００４】図６に、図５に示されたタブレット部１０
の構成が示される。タブレット部１０は、図面の水平方
向（以下、Ｘ方向と呼ぶ）の両側端に電極を設けた抵抗
薄膜であるＸ方向抵抗膜１０ａと図面の垂直方向（以
下、Ｙ方向と呼ぶ）の両側端に電極を付けた抵抗薄膜で
あるＹ方向抵抗膜１０ｂとを微小な隙間を一様に設けて
重ね合わせられた構造を有する。Ｘ方向抵抗膜１０ａは
タブレットコントローラ１１からの電圧印加時、Ｘ−Ｈ
ＩＧＨ側電極からＸ−ＬＯＷ側電極へ電気が流れる。ま
た、Ｙ方向抵抗膜１０ｂはタブレットコントローラ１１
からの電圧印加時、Ｙ−ＸＩＧＨ側電極からＸ−ＬＯＷ
側電極へ電気が流れる。

【０００５】動作において、ユーザは、ペンや鉛筆など
の先端でタブレット部１０の主表面上の任意の位置を押
圧すると、その押圧位置で抵抗膜１０ａおよび１０ｂが
接触する。そして、この押圧力が電気信号にして検出さ
れ、この検出レベルが所定レベルに達していると、抵抗
膜１０ａおよび１０ｂ上での分割抵抗値、すなわち押圧
位置が電圧レベルで検出される。この電圧信号は、Ｘ方
向抵抗膜１０ａおよびＹ方向抵抗膜１０ｂで個別に導出
されてＡ／Ｄコンバータ９を介して、ＸＹ座標値にして
ＣＰＵ１に与えられる。ＣＰＵ１は与えられる座標値に
基づいて表示駆動回路８を駆動し、回路８はこれにより
表示部７上の該当する液晶画素を表示駆動する。これに
より、ユーザはタブレット部１０上の所望の位置を押圧
すれば、その押圧位置に対応した表示部７の画素を表示
駆動することができる。

【０００６】次に、図５に示された座標入出力装置の座
標入力のための従来の動作を、図７の回路を参照しなが
ら、図８の処理フローに基づいて説明する。

【０００７】ＣＰＵ１は、図８に示される座標測定の処
理フローを内蔵するタイマの定期的な割り込みに応じて
繰返し実行している。

【０００８】ＣＰＵ１は、図８のステップＳ１００（図
中、Ｓ１００と略す）の処理において、Ｘ方向押圧測定
用の電圧を印加する。言い換えれば、ＣＰＵ１はタブレ
ットコントローラ１１を介して図７に示されるスイッチ
ＳＷ_{X H} およびＳＷ_{X P} をＯＮ状態に設定し、他のスイ
ッチはすべてＯＦＦ状態に設定する。これにより、電圧
源ＶからスイッチＳＷ_{X H} を介した電圧の供給が開始さ
れる。ＣＰＵ１は、供給電圧が安定するまで所定時間待
機し、その後、次のステップＳ１０１の処理においてＸ
方向の押圧を測定する。

【０００９】今、図７のＡが押圧位置であると想定す
る。このとき、測定電圧Ｖ_X は Ｖ_X ＝Ｖ・Ｒ_{L X} ／（Ｒ_{X 1} ＋Ｒ_P ＋Ｒ_{y 2} ＋Ｒ_{L X} ） …（１） となる。

【００１０】なお、Ａ／Ｄコンバータの入力抵抗Ｒ
_{A D X} は十分に大きい。ここで、Ｒ_{X 1} 、Ｒ_{y 2} ＜＜Ｒ
_P （押圧レベルにより変化する接触抵抗）であれば、測
定電圧Ｖｘは押圧位置に関係なく押圧レベルを示すこと
になる。

【００１１】前述のステップＳ１０１の処理において押
圧レベルが測定電圧Ｖ_X として求まるので、次のステッ
プＳ１０２の処理においてこの押圧レベルが所定値より
も大きいか否かに基づいて、押圧は十分であるか否かを
判定する。このとき、押圧が不十分であれば、座標測定
は不可能として処理は終了する。

【００１２】前述のステップＳ１０２の処理において押
圧レベルが十分であれば、ステップＳ１０３以降の処理
が実行される。

【００１３】ステップＳ１０３の処理において、ＣＰＵ
１はＸ方向座標測定用の電圧を印加する。これは、ＣＰ
Ｕ１がタブレットコントローラ１１を介して図７に示さ
れるスイッチＳＷ_{X H} およびＳＷ_{X L} をＯＮ状態に設定
し、他のスイッチはすべてＯＦＦ状態に設定する。これ
により抵抗膜１０ａのＸ方向への電圧印加が行なわれ
る。ＣＰＵ１は印加電圧が安定するまで所定時間待機
し、その後ステップＳ１０４の処理において測定電圧Ｖ
_X をＡ／Ｄコンバータ９を介して測定する。Ａ／Ｄコン
バータ９は測定電圧Ｖ_X をデジタル信号に変換し、ＣＰ
Ｕ１に与える。その後、ＣＰＵ１はタブレットコントロ
ーラ１１を介してタブレット部１０への印加電圧を解除
する。すなわち、図７に示されるすべてのスイッチがＯ
ＦＦ状態に設定される。

【００１４】ＣＰＵ１は、次のステップＳ１０５の処理
においてＹ方向座標測定用の電圧を印加する。これは、
ＣＰＵ１がタブレットコントローラ１１を介して図７に
示されるスイッチＳＷ_{Y H} およびＳＷ_{Y L} をＯＮ状態に
設定し、その他のスイッチはすべてＯＦＦ状態に設定す
ることにより行なわれる。これにより、抵抗膜１０ｂに
Ｙ方向へ電圧源Ｖからの電圧が印加される。ＣＰＵ１は
この印加電圧が安定するまでの所定時間待機した後、次
のステップＳ１０６の処理において、Ｙ方向の座標測定
を行なう。これは、Ａ／Ｄコンバータ９が測定電圧Ｖｙ
を読取り、応じてデジタル信号に変換しＣＰＵ１に与え
ることにより測定される。

【００１５】座標測定後、ステップＳ１０７〜Ｓ１０９
で確認のために再度押圧を測定する。これにより、途中
でペンが離されたこと（押圧レベルが低下したこと）を
検出できる。

【００１６】以上の手順で、押圧レベルの測定がＸ方向
の１方向だけ行なわれた後、Ｘ方向およびＹ方向による
押圧位置Ａの座標測定が行なわれ、最後に確認のため、
再度押圧（Ｘ方向）の測定が行なわれる。

【００１７】

【発明が解決しようとする課題】上述したようなタブレ
ット部１０上での座標を測定するには、測定点における
押圧レベルが十分であり、上下の抵抗膜、すなわちＸ方
向抵抗膜１０ａとＹ方向抵抗膜１０ｂの接触が確実であ
ることが重要である。図７に示される接触抵抗Ｒ _P は押
圧力に反比例しており、もし、押圧力が不十分であれ
ば、接触抵抗Ｒ_P が大きくなり、座標測定が不正確にな
ってしまう。また、抵抗膜１０ａと１０ｂとの接触が不
十分であれば、座標測定中に上下の抵抗膜が離れたりす
る可能性も高いと考えられる。さらに、接触抵抗Ｒ
_P は、押圧レベルの変化に対してかなり急峻に変化する
ことが知られている。このため、精度の高い座標測定を
行なうためには、精度の高い押圧レベルの測定を行なっ
た上で、この押圧測定値に基づき確実な接触状態が得ら
れていることを確認することが重要である。

【００１８】しかしながら、近年はタブレット部１０の
大型化や消費電流の低減などの要求により、必ずしもＲ
_{X 1} ，Ｒ_{y 2} ＜＜Ｒ_P ではなくなってきており、その影
響が無視できない。つまり、上述の式（１）に示される
ように、測定電圧Ｖ_X は押圧位置に関係なく押圧レベル
を示すことになるので、押圧した位置によっては、押圧
力が不十分であるのに、測定電圧Ｖ_X を測定する上では
十分な押圧レベルが得られているということになってし
まい、押圧レベル測定値の押圧された位値によるばらつ
きが大きくなり座標測定そのものが正確で無くなるとい
う問題があった。

【００１９】それゆえにこの発明の目的は、押圧位置に
おける押圧レベルを正確に測定することにより、押圧位
置の読取の精度を向上させることのできる、位置読取装
置を提供することである。

【００２０】

【課題を解決するための手段】この発明にかかる位置読
取装置は、その主面上で第１の方向に電圧が印加される
導電性の第１のシート部材と、その主面上で第１方向と
直交する第２の方向に電圧が印加される導電性の第２の
シート部材とを、その主面同士を一様な所定間隔を有し
て対面するように配置し、外部から前述した主面とは反
対側の面上の任意の位置が十分に押圧されたことに応じ
て、主面同士が押圧された位置で接触し、応じて押圧さ
れた位置を第１および第２方向の電気信号の組合せにし
て読取る位置読取装置であって、さらに第１および第２
検知手段、ならびに第１および第２読取手段とを含んで
構成される。

【００２１】第１検知手段は第１方向に電圧を印加し
て、第１シート部材における押圧のレベルを電気信号に
して検知する。

【００２２】第２検知手段は第２方向に電圧を印加し
て、第２シート部材における押圧のレベルを電気信号に
して検知する。

【００２３】第１読取手段は、第１検知手段の検知信号
レベルに応答して、押圧された位置を第１方向の電気信
号にして読取る。

【００２４】第２読取手段は、第２検知手段の検知信号
レベルに応答して、押圧された位置を第２方向の電気信
号にして読取る。

【００２５】

【作用】この発明にかかる位置読取装置は、上述のよう
に構成されて、ペンの先端などでシート部材の面上の任
意の位置を押圧した場合、その押圧レベルが第１および
第２検知手段により第１および第２方向について個別に
検知されるので、従来の１方向のみについて検知する場
合に比較して、押圧レベルのシート部材面上の押圧位置
によるばらつきを抑制することが可能となる。

【００２６】

【実施例】以下、この発明の一実施例について図面を参
照して詳細に説明する。

【００２７】なお、本実施例における座標入出力装置の
構成は前述した図５および図６に示されるものと同様な
ので、それらに関する詳細な説明は省略する。

【００２８】図１は、本発明の一実施例による座標入出
力装置のタブレット部の駆動回路および測定回路の概略
構成図である。

【００２９】図２（ａ）および（ｂ）は、本発明の一実
施例による座標入出力装置の座標測定の原理を説明する
図である。

【００３０】図３（ａ）および（ｂ）は、本発明の一実
施例による座標入出力装置の押圧測定の原理を説明する
ための図である。

【００３１】図４は、本発明の一実施例による座標入出
力装置の座標測定のための処理フロー図である。

【００３２】前述した図６に示されるように、本実施例
における座標入出力装置のタブレット部１０の構造は、
Ｘ方向の両側端に電極を設けた抵抗膜１０ａとＹ方向の
両側端に電極を設けた抵抗膜１０ｂを微小な隙間を開け
て相互に完全にオーバーラップするように重ねた構造を
とっている。また、タブレット部１０をコントロールす
るタブレットコントローラ１１に含まれるスイッチは、
トランジスタなどのスイッチング素子からなる。また、
タブレット部１０の測定電圧は、Ａ／Ｄコンバータ９に
より読取られ、デジタル信号に変換されてＣＰＵ１に導
出される。

【００３３】次に、本実施例によるタブレット部１０の
座標測定における、回路の接続状態を、図２を参照して
説明する。

【００３４】タブレット部１０上における押圧位置の座
標は、Ｘ方向およびＹ方向の２方向について行なわれ、
各方向について個別に、すなわち２回の座標測定が行な
われる。

【００３５】まず、図２（ａ）に示されるように、回路
を接続する。今、Ａ点が押圧されていると想定する。接
触抵抗Ｒ_P は、Ａ点が押圧されているときの抵抗膜１０
ａおよび１０ｂ間の接触抵抗であり、Ａ／Ｄコンバータ
の入力抵抗Ｒ_{A D} は、（Ｒ_{A D} ＞＞Ｒ_P 、Ｒ_{X 1} 、Ｒ
_{X 2} 、Ｒ_{y 1} 、Ｒ_{y 2} ）である。Ｘ方向の分割抵抗Ｒ_X
1 、Ｒ_{X 2} は、押圧位置Ａにおける抵抗膜１０ａでの分
割抵抗値であり、Ｙ方向の分割抵抗Ｒ_{y 1} 、Ｒ_{y 2} は、
押圧位置Ａにおける抵抗膜１０ｂでの分割抵抗値であ
る。

【００３６】押圧位置Ａであるとき、Ｘ方向座標の測定
電圧Ｖ_X は、 Ｖ_X ＝Ｖ・Ｒ_{X 2} ／（Ｒ_{X 1} ＋Ｒ_{X 2} ） …（２） （Ｒ_{A D} は他に比べ十分に大きいとする）となり、Ｘ方
向の押圧位置Ａに比例した電圧レベルとなる。よって、
測定電圧Ｖ_X を測定することにより、押圧位置Ａ点にお
ける分割抵抗Ｒ_{X 2} 、すなわちＸ座標が得られる。

【００３７】次に、図２（ｂ）のように回路を接続する
と、Ｙ方向座標の測定電圧Ｖ_y は同様に Ｖ_y ＝Ｖ・Ｒ_{y 2} ／（Ｒ_{y 1} ＋Ｒ_{y 2} ） …（３） となり、押圧位置Ａ点の分割抵抗Ｒ_{y 2} 、すなわちＹ座
標が求まる。

【００３８】以上のように、タブレット部１０上におけ
る押圧位置Ａの座標は、分割抵抗Ｒ _{X 2} およびＲ_{y 2} に
依存した測定電圧Ｖ_X およびＶ_y にして求めることがで
きる。

【００３９】次に、本実施例のタブレット部１０におけ
る押圧レベルの測定の原理について図３を参照して説明
する。

【００４０】図３には押圧レベル測定の場合の回路の接
続状態が示される。まず、Ｘ方向の押圧レベルを測定す
るために、図３（ａ）のように回路が接続される。押圧
測定用抵抗Ｒ_L は（Ｒ_L ＜＜Ｒ_{A D} ）の関係を有する。
押圧位置Ａであるとき、押圧測定電圧Ｖ_{p x} は Ｖ_{P X} ＝Ｖ・Ｒ_L ／（Ｒ_{X 1} ＋Ｒ_P ＋Ｒ_{y 2} ＋Ｒ_L ） …（４） となり、Ｒ_P ＞＞Ｒ_{X 1} 、Ｒ_{y 2} とすると、押圧測定電
圧Ｖ_{p x} は、接触抵抗Ｒ_P に反比例した値となるので、
押圧測定電圧Ｖ_{P X} から接触抵抗Ｒ_P を測定できる。

【００４１】次に、Ｙ方向の押圧測定電圧Ｖ_{P y} は図３
（ｂ）のように回路を接続することによって得られる。
この場合、押圧測定電圧Ｖ_{P y} は Ｖ_{P y} ＝Ｖ・Ｒ_L ／（Ｒ_{X 2} ＋Ｒ_P ＋Ｒ_{y 1} ＋Ｒ_L ） …（５） となり、押圧測定電圧Ｖ_{P y} から接触抵抗Ｒ_P を測定で
きる。

【００４２】以上のように、押圧位置Ａを押圧したと
き、Ｘ方向の押圧測定電圧Ｖ_{P X} およびＹ方向の押圧測
定電圧Ｖ_{P y} （いずれも接触抵抗Ｒ_P に反比例）の大き
さ、すなわち接触抵抗Ｒ_P の大きさが座標測定可能レベ
ルにまで達しているか否かを示すことになる。

【００４３】次に、図１のタブレット部１０の駆動回路
および測定回路を参照しながら、図４の処理フローに基
づいて、座標測定動作について説明する。

【００４４】ＣＰＵ１は、図４の座標測定動作を、内蔵
するタイマの定期的な割り込みに応答して、繰返し実行
している。

【００４５】図４のステップＳ１（図中、Ｓ１と略す）
の処理において、ＣＰＵ１はＸ方向押圧測定用の電圧を
印加する。ＣＰＵ１はタブレットコントローラ１１を介
して、図１のスイッチＳＷ_{X H} およびＳＷ_{X P} をＯＮ状
態に設定し、他のスイッチをすべてＯＦＦ状態に設定す
ることにより、タブレット部１０に対してＸ方向押圧測
定用の電圧を印加し、この印加電圧が安定するまでＣＰ
Ｕ１は待機する。

【００４６】次のステップＳ２の処理において、ＣＰＵ
１はＸ方向押圧測定を行なう。今、押圧位置Ａが押圧さ
れていると想定する。このときＸ方向の押圧レベルは、
前述した式（４）を適用することにより測定電圧Ｖ_X に
より求められる。すなわち、このときの接触抵抗Ｒ_P の
大きさが求められる。

【００４７】その後、次のステップＳ３の処理において
前述のステップＳ２の処理において求められたＸ方向の
押圧レベル（接触抵抗Ｒ_P ）に基づいて、押圧が十分で
あるか否かが判定される。これは、測定電圧Ｖ_X が所定
の電圧レベルと比較され、その比較結果に基づいてＸ方
向の押圧が十分であるか否かが判定される。このとき、
押圧は不十分であり、高精度の座標測定は不可能である
と判定されれば、一連の座標測定のための処理を終了す
る。逆に、押圧レベルは十分であり、高精度の座標測定
が可能なまでの押圧レベルがあると判定されれば、ステ
ップＳ４以降の処理が実行される。

【００４８】次のステップＳ４の処理において、ＣＰＵ
１はＸ方向座標測定用の電圧を印加する。これは、タブ
レットコントローラ１１を介してスイッチＳＷ_{X H} およ
びスイッチＳＷ_{X L} をＯＮ状態に設定し、その他のスイ
ッチをすべてＯＦＦ状態に設定することにより、タブレ
ット部１０に対してＸ方向座標測定用の電圧が印加され
る。この印加電圧が安定レベルに達するまで、ＣＰＵ１
は待機する。

【００４９】次のステップＳ５の処理においてＸ方向座
標測定が行なわれる。これは、前述の式（２）を適用し
て得られる測定電圧Ｖ_X がＡ／Ｄコンバータ９を介して
読取られ、これがデジタル信号に変換されてＣＰＵ１に
Ｘ座標信号にして導出されることにより測定される。

【００５０】次のステップＳ６の処理において、ＣＰＵ
１はタブレット部１０に、タブレットコントローラ１１
を介してＹ方向押圧測定用の電圧を印加する。これは、
タブレットコントローラ１１が図１のスイッチＳＷ_{Y H}
およびＳＷ_{Y P} をＯＮ状態に設定し、その他のスイッチ
をすべてＯＦＦ状態に設定することにより行なわれる。
ＣＰＵ１は、この印加電圧が安定するまで待機する。

【００５１】次のステップＳ７の処理において、ＣＰＵ
１はＹ方向押圧レベルの測定を行なう。これは、前述し
た式（５）により求められる測定電圧Ｖ_y がＡ／Ｄコン
バータ９を介してデジタル信号に変換され、ＣＰＵ１に
導出されることにより測定される。

【００５２】ＣＰＵ１は、次のステップＳ８の処理にお
いて、Ｙ方向押圧レベル、すなわち測定電圧Ｖ_y のデジ
タル信号と所定の電圧レベルに相当するデジタル信号レ
ベルとを比較し、押圧位置ＡにおけるＹ方向への押圧は
十分であるか否か、すなわち接触抵抗Ｒ_p は座標測定を
するのに十分であるか否かが判定される。このとき、押
圧レベルが十分ではないと判断されると、一連の座標測
定の処理は終了する。逆に、押圧位置Ａにおける押圧レ
ベルが十分であれば、ステップＳ９以降の処理が実行さ
れる。

【００５３】ＣＰＵ１は、次のステップＳ９の処理にお
いて、図１のスイッチＳＷ_{Y L} およびＳＷ_{Y H} をＯＮ状
態に設定し、その他のスイッチをすべてＯＦＦ状態に設
定するようにコントローラ１１を制御する。これによ
り、Ｙ方向座標測定用の電圧が印加される。ＣＰＵ１
は、この印加電圧が安定するまで待機する。

【００５４】次のステップＳ１０の処理において、ＣＰ
Ｕ１はＹ方向の座標を測定する。これは、Ａ／Ｄコンバ
ータ９が前述した式（３）により導出される測定電圧Ｖ
_y を読取り、応じてデジタル信号に変換してＣＰＵ１に
導出することにより得られる。その後、ＣＰＵ１はタブ
レットコントローラ１１を介して図１に示されるすべて
のスイッチをＯＦＦ状態にして、該装置における電流の
消費量を下げるように動作する。

【００５５】以上の手順に基づいて、Ｘ方向およびＹ方
向の押圧レベルが測定され、その測定された押圧レベル
が十分であるときのみ、Ｘ方向およびＹ方向のそれぞれ
につて押圧位置Ａにおける座標が初めて導出される。こ
のように、本実施例では押圧レベルの測定をＸ方向およ
びＹ方向の２方向について行なっているので、押圧レベ
ル測定の精度が向上する。この点について、以下に詳細
に説明する。

【００５６】タブレット部１０におけるＸ方向の押圧レ
ベルの測定値は、図３（ａ）から、前述した Ｖ_{P X} ＝Ｖ・Ｒ_L ／（Ｒ_{X 1} ＋Ｒ_P ＋Ｒ_{y 2} ＋Ｒ_L ） …（４） となり、接触抵抗Ｒ_P は求めたい押圧レベルに依存した
値であり、押圧測定用抵抗Ｒ_L は固定の値である。分割
抵抗Ｒ_{X 1} およびＲ_{y 2} は、押圧位置Ａのタブレット部
１０主表面上における位置によって変化する抵抗値であ
る。したがって、同じ圧力で押圧した場合の、タブレッ
ト部１０上の位置による押圧測定値の最大値および最小
値は次のようになる。

【００５７】 最大値 Ｖ_{P x max} ＝Ｖ・Ｒ_L ／（Ｒ_{x 1 min} ＋Ｒ_P ＋Ｒ_{y 2 min} ＋Ｒ_L ） …（６） 最小値 Ｖ_{P x min} ＝Ｖ・Ｒ_L ／（Ｒ_{x 1 max} ＋Ｒ_P ＋Ｒ_{y 2 max} ＋Ｒ_L ） …（７） 最大値Ｖ_{P x max} は、図３（ａ）上では、左下角を押圧
した場合に得られる値であり、最小値Ｖ_{P x min} は、右
上角を押圧した場合に得られる値である。

【００５８】Ｒ_{X 1 max} −Ｒ_{X 1 min} は抵抗膜のＸ方向
の全抵抗値であり、Ｒ_{y 2 max} −Ｒ _{y2 min} は抵抗膜の
Ｙ方向の全抵抗値となる。

【００５９】これらの全抵抗値は、タブレット部１０の
大型化や消費電流の削減のため、増大する傾向があり、
必ずしもＲ_{X 1} 、Ｒ_{y 2} ＜＜Ｒ_P 、またはＲ_{X 2} ，Ｒ
_{y 1} ＜＜Ｒ_P ではなくなっており、その影響が無視でき
なくなっている。従来技術では、押圧レベルの測定は１
方向だけであったので、上述したような影響が、そのま
ま測定される押圧レベルに表われていた。

【００６０】上述したように本実施例では、図３（ｂ）
の回路も適用して、従来のＸ方向に追加して、Ｙ方向に
ついても押圧レベルの測定を行なう。このときのＹ方向
押圧レベルの測定値は、 Ｖ_{P y} ＝Ｖ・Ｒ_L ／（Ｒ_{X 2} ＋Ｒ_P ＋Ｒ_{y 1} ＋Ｒ_L ） …（５） であり、最大値、最小値は、 最大値 Ｖ_{P y max} ＝Ｖ・Ｒ_L ／（Ｒ_{X 2 min} ＋Ｒ_P ＋Ｒ_{y 1 min} ＋Ｒ_L ） …（８） 最小値 Ｖ_{P y min} ＝Ｖ・Ｒ_L ／（Ｒ_{x 2 max} ＋Ｒ_P ＋Ｒ_{y 1 max} ＋Ｒ_L ） …（９） 最大値Ｖ_{P y max} は図３（ｂ）では右上角、最小値Ｖ
_{P y min} は左下角に対応することになる。

【００６１】以上の結果から、押圧位置による押圧レベ
ル測定値の誤差は、Ｘ方向とＹ方向で逆になることがわ
かる。つまり、たとえば左下角が押圧されたとき、Ｘ方
向の押圧レベルは最大値Ｖ_{P x max} となり、Ｙ方向は最
小値Ｖ_{P y min} となり、ｍａｘ（最大値）とｍｉｎ（最
小値）が逆になっており、Ｘ方向およびＹ方向で相互に
そこに含まれる誤差を打ち消しあっていることがわか
る。押圧レベル測定値の、押圧位置に対する依存は、タ
ブレット部１０の中央部と角の差に抑えることができる
（抵抗膜の抵抗値の±（１／２）αの影響で抑えられ
る）。

【００６２】上述したような結果から、押圧レベルの測
定精度が向上し、押圧しているか否かの判定に用いられ
るスレッシュレベルの設定がより細かく行なえ、座標測
定精度の向上を図ることが可能となる。

【００６３】さらに、本実施例によれば、座標測定の処
理スピートの向上も図られる。この点について以下に説
明する。

【００６４】前述した従来のタブレット部１０の座標読
取のシーケンスは、前述した図８の処理フローに示され
るように、 押圧測定（Ｘ方向） Ｘ座標測定 Ｙ座標測定 押圧測定（Ｘ方向） となっている。このシーケンスで、タブレット１０への
電圧印加手順を考えると、からへ遷移するときに、
さらにはからへ遷移するときには、タブレットコン
トローラ１１はタブレット部１０に対してまったく異な
る向きに電圧を印加することになり、この電圧印加後、
印加電圧が安定レベルに達するまでに長時間待機する必
要がある（→は、印加電圧の変化が少なく、最小の
待ち時間ですむ）。

【００６５】これに対し、本実施例の場合は、図４の処
理フローにも示されたように、 ′Ｘ方向押圧測定 ′Ｘ座標測定 ′Ｙ方向押圧測定 ′Ｙ座標測定 となっており、′から′へ遷移するときのみ、異な
る方向への電圧印加となり、長い待ち時間を必要とする
が、その他の状態遷移については、最小の待ち時間しか
必要としない。このため、従来の技術に比較して、座標
測定のためのＣＰＵ１の待ち時間が短くなっており、全
体としての処理スピードが向上することになる。

【００６６】また、本実施例では押圧レベル測定と座標
測定との時間差が短くなるので、ユーザが瞬間的にタブ
レット部１０主表面でペンの先端を離したとしても、そ
のペンの離れを検出する可能性が高くなり、不正確な座
標測定が行なわれるのを抑制することができる。この点
に関して、従来の技術では、Ｙ座標測定と押圧レベル測
定との間の時間間隔が大きいので、本実施例では、従来
に比較し座標測定の精度向上を図ることも可能となる。

【００６７】

【発明の効果】以上のようにこの発明によれば、ペンの
先端などでシート部材の面上の任意の位置を押圧した場
合、その押圧レベルを第１および第２の検知手段により
第１および第２の方向について検知するようにしている
ので、従来の１方向のみについて押圧レベルを検知する
場合に比較して、押圧レベルの押圧位置によるばらつき
を抑制（相殺）することができるという効果がある。

【００６８】上述した効果により、シート部材の表面上
で座標測定を可能とするレベルにまで押圧されているか
否かの正確な測定が行なえるので、座標測定の精度を向
上させることができるという効果がある。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の一実施例による座標入出力装置のタブ
レット部の駆動回路および測定回路の概略構成図であ
る。

【図２】（ａ）および（ｂ）は、本発明の一実施例によ
る座標入出力装置の座標測定の原理を説明するための図
である。

【図３】（ａ）および（ｂ）は、本発明の一実施例によ
る座標入出力装置の押圧測定の原理を説明するための図
である。

【図４】本発明の一実施例による座標入出力装置の座標
測定のための処理フロー図である。

【図５】従来および本発明の一実施例に適用される座標
入出力装置の構成図である。

【図６】図５に示されたタブレット部の構成図である。

【図７】図５に示された座標入出力装置の座標入力のた
めの従来の回路動作の原理を説明する図である。

【図８】図５に示された座標入出力装置の座標測定のた
めの従来の処理フロー図である。

【符号の説明】

１ ＣＰＵ ９ Ａ／Ｄコンバータ １０ タブレット部 １１ タブレットコントローラ １０ａ Ｘ方向抵抗膜 １０ｂ Ｙ方向抵抗膜 Ｖ_x ，Ｖ_y 測定電圧 Ｒ_P 接触抵抗 Ｒ_{y 1} 、Ｒ_{y 2} Ｙ方向の分割抵抗 Ｒ_{x 1} 、Ｒ_{x 2} Ｘ方向の分割抵抗 Ａ 押圧位置 なお、各図中、同一符号は同一または相当部分を示す。

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 その主面上で第１の方向に電圧が印加さ
   れる導電性の第１のシート部材と、その主面上で前記第
   １方向と直交する第２の方向に電圧が印加される導電性
   の第２のシート部材と、その主面同士を一様な間隔を有
   して対面するように配置し、外部から前記主面とは反対
   側の面上の任意の位置が十分に押圧されたことに応じ
   て、前記主面同士が前記押圧された位置で接触し、応じ
   て前記押圧された位置を前記第１および第２方向の電気
   信号の組合せにして読取る位置読取装置であって、 前記第１方向に電圧を印加して、前記第１シート部材に
   おける前記押圧のレベルを電気信号にして検知する第１
   検知手段と、 前記第１検知手段の検知信号レベルに応答して、前記押
   圧された位置を前記第１方向の電気信号にして読取る第
   １読取手段と、 前記第２方向に電圧を印加して、前記第２シート部材に
   おける前記押圧のレベルを電気信号にして検知する第２
   検知手段と、 前記第２検知手段の検知信号レベルに応答して、前記押
   圧された位置を前記第２方向の電気信号にして読取る第
   ２読取手段とをさらに備えた、位置読取装置。