JPH0511560B2 - - Google Patents

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JPH0511560B2
JPH0511560B2 JP61287340A JP28734086A JPH0511560B2 JP H0511560 B2 JPH0511560 B2 JP H0511560B2 JP 61287340 A JP61287340 A JP 61287340A JP 28734086 A JP28734086 A JP 28734086A JP H0511560 B2 JPH0511560 B2 JP H0511560B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
semiconductor
card
flexible
semiconductor module
semiconductor element
Prior art date
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Expired - Lifetime
Application number
JP61287340A
Other languages
English (en)
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JPS63139795A (ja
Inventor
Tetsuya Ueda
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
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Publication date
Application filed by Mitsubishi Electric Corp filed Critical Mitsubishi Electric Corp
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Publication of JPS63139795A publication Critical patent/JPS63139795A/ja
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Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] この発明はICカード等に適用される薄形半導
体カードに関するものである。
[従来の技術] この種半導体カードには多くの種類があるが、
ここでは最も汎用性のあるICカードについて説
明する。第3図A,Bは、たとえば特公昭53−
6491号公報に示された従来の薄形半導体カードの
1つであるICカードを示すものである。同図に
おいて、1は外部電極2をもつた半導体モジユー
ルであり、ICカード本体3に植設されている。
第4図A〜Cは、上記半導体モジユール1の構
成を示すものである。同図において、4はメモリ
のような半導体素子6を封止する封止樹脂、5は
半導体素子6と配線部7とを電気的に接続するワ
イヤー、8は半導体素子6の設定基板である。上
記半導体素子6側と上記外部電極2側とは、この
外部電極2を介して半導体素子6と外部装置で信
号の授受かなされるように電気的接続関係が設定
されている。
つぎに、動作について説明する。ICカード本
体3内の半導体素子6を動作させる場合、ICカ
ードを外部装置に挿入すれば、ICカードの外部
電極2と外部装置の電極とが接触し、両電極を通
して電気的な信号の授受が行なわれる。
[発明が解決しようとする問題点] 従来の薄形半導体カードは以上のように構成さ
れており、カード本体3の全域が一様に剛性化さ
れている。このため、半導体モジユール1は外部
からのストレスに非常に弱く、すなわちカード本
体3の変形によつて応力の集中を受けると、半導
体素子6の破壊等が発生し、半導体素子6に記憶
されていた情報も消滅してしまうという問題点が
あつた。
この発明は上記のような問題点を解消するため
になされたもので、半導体モジユール内の半導体
素子をストレスから保護し得る薄形半導体カード
を提供することを目的としている。
[問題点を解決するための手段] この発明に係る薄形半導体カードは、半導体モ
ジユール内に柔軟性節部を設けたものである。
[作用] この発明における薄形半導体カードは、外部か
らカード本体に対してストレスが付与されてカー
ド本体が変形した場合、半導体モジユールも柔軟
性節部を介して同じように変形できるため、半導
体モジユール内の半導体素子の破壊等のおそれが
解消される。
[発明の実施例] 以下、この発明の一実施例を図面について説明
する。
第1図A〜Cはこの発明に係る薄形半導体カー
ドが適用されたICカードにおける半導体モジユ
ールを示すもので、従来のものと同一部所には同
一符号を付して説明を省略する。
同図において、9は半導体モジユール1に設け
られた柔軟性節部であり、たとえばポリイミド、
ポリエステルのような柔軟性を有する材料からな
り、上記モジユール1を横断する基材10と、こ
の基材10に埋設されて上記横断部分の電気的な
接続関係を維持する柔軟性電線11とからなる。
つぎに、上記構成の作用について説明する。
カード本体3に外部からストレスが付勢されて
このカード本体3が変形した際、半導体モジユー
ル1には、柔軟性をもつ基材10および電線11
からなる柔軟性節部9があるため、上記カード本
体3の変形とともに、半導体モジユール1も第2
図のように上記節部9の部位で変形する。これに
より、半導体モジユール内の半導体素子6等の破
壊等が防止される。
なお、上記実施例では、半導体モジユール1の
1箇所だけに柔軟性節部9を設けた場合について
説明したが、この柔軟性節部9は半導体モジユー
ル1内の複数箇所に分けて設けてもよく、また、
その形状や材質等も適宜変更可能である。
[発明の効果] 以上のようにこの発明によれば、カード本体に
植設された半導体モジユールに柔軟性節部を設け
たからカード本体に応力が付与された場合、カー
ド本体とともに半導体モジユールも柔軟性節部が
曲がることにより、半導体素子に応力が集中する
のが回避され、該半導体素子の破壊等のおそれが
解消される。
【図面の簡単な説明】
第1図A,B,Cはそれぞれこの発明の一実施
例による薄形半導体カードに組み付けられる半導
体モジユールの平面図、一部破断正面図および下
面図、第2図はこの発明の薄形半導体カードの作
用説明図、第3図A,Bはそれぞれ薄形半導体カ
ードの平面図および正面図、第4図A,B,Cは
それぞれ従来の薄形半導体カードにおける半導体
モジユールの一部破断平面図、一部破断正面図お
よび下面図である。 1……半導体モジユール、2……外部電極、3
……カード本体、4……封止樹脂、6……半導体
素子、9……柔軟性節部、10……基材、11…
…電線。なお、図中、同一符号は同一もしくは相
当部分を示す。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 外部電極を介して外部装置との信号の授受が
    行なわれるように設定された半導体素子と、この
    半導体素子を被う封脂樹脂とを有する半導体モジ
    ユールをカード本体に植設した薄形半導体カード
    において、上記半導体モジユール内に外部応力を
    吸収する柔軟性節部を設けたことを特徴とする薄
    形半導体カード。 2 上記柔軟性節部は、柔軟性を有し、半導体モ
    ジユールを横断する基材ならびにこの基材の横断
    部分の電気的接続関係を維持させる柔軟性電線か
    らなる特許請求の範囲第1項記載の薄形半導体カ
    ード。
JP61287340A 1986-12-01 1986-12-01 薄形半導体カ−ド Granted JPS63139795A (ja)

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JP61287340A JPS63139795A (ja) 1986-12-01 1986-12-01 薄形半導体カ−ド

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JP61287340A JPS63139795A (ja) 1986-12-01 1986-12-01 薄形半導体カ−ド

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JPS63139795A JPS63139795A (ja) 1988-06-11
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JP2658353B2 (ja) * 1989-02-02 1997-09-30 富士通株式会社 Icカード

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JPS63139795A (ja) 1988-06-11

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