JPH049702A - ネジ穴検査測定装置 - Google Patents
ネジ穴検査測定装置Info
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- JPH049702A JPH049702A JP11420690A JP11420690A JPH049702A JP H049702 A JPH049702 A JP H049702A JP 11420690 A JP11420690 A JP 11420690A JP 11420690 A JP11420690 A JP 11420690A JP H049702 A JPH049702 A JP H049702A
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- A Measuring Device Byusing Mechanical Method (AREA)
- Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
本発明は、ネジ品質を考慮してネジ穴の有効ネジ部のネ
ジ深さ等を自動的に検査することができるネジ穴検査測
定装置に関する。
ジ深さ等を自動的に検査することができるネジ穴検査測
定装置に関する。
従来、ネジ穴の手動式測定法としては、第６図に示した
ように、作業者等が手動測定用ゲージを工作物の予め加
工されたネジ穴に挿入し、そのネジ穴のネジ山を感覚的
にその先端部で検出し、その時のネジ穴の入口における
手動測定用ゲージの目盛りを読み取りネジ深さを測定す
る方法がある。 ネジ穴の自動式測定法としては、第７図に示したように
、マスクネジを工作物のネジ穴に所定のトルクにてねじ
込み、その時のマスクネジのねじ込み量である移動量を
測定する方法がある。 又、静電容量の相対比較を利用したタップミス検出器を
用い、ネジ下穴だけとネジ加工済とのネジ穴の静電容量
の違いからタップミスを検出する程度のものが知られて
いる。
ように、作業者等が手動測定用ゲージを工作物の予め加
工されたネジ穴に挿入し、そのネジ穴のネジ山を感覚的
にその先端部で検出し、その時のネジ穴の入口における
手動測定用ゲージの目盛りを読み取りネジ深さを測定す
る方法がある。 ネジ穴の自動式測定法としては、第７図に示したように
、マスクネジを工作物のネジ穴に所定のトルクにてねじ
込み、その時のマスクネジのねじ込み量である移動量を
測定する方法がある。 又、静電容量の相対比較を利用したタップミス検出器を
用い、ネジ下穴だけとネジ加工済とのネジ穴の静電容量
の違いからタップミスを検出する程度のものが知られて
いる。
機械加工部品に、ネジ穴は必ずと言ってよい程付随して
存在している。そして、機械加工部品にあって、そのネ
ジ穴は機能上重要な役割を占めるにも拘わらず、自動加
工する場合の自動検査・測定方法において有用な手段の
確率が成されていない。 上述のネジ穴の手動式測定法における手動測定用ゲージ
を用いた測定では、下火不良やタップ不良も発見し離く
、ネジ穴の奥に必ず存在する不完全ネジ部の把握ができ
なかった。 又、ネジ穴の自動式測定法において、マスクネジを加工
されたネジ穴に機械的にねじ込むことにより測定でき−
るのは、有効ネジ部のネジ深さのみであり、下穴不良や
タップ不良によるネジ不良まで判定する必要があるよう
なネジ品質に関して検査することはできなかった。 更に、ネジ穴におけるネジそのものは正常であってもネ
ジ加工された時の切粉の残留等があったりすると、有効
ネジ部のネジ深さにおいても誤判定をする可能性が多か
った。 又、タップミス検出器においては、ネジ穴のネジ加工の
有無を平均値的に捉えるため、有効ネジ部のネジ深さの
測定やネジ品質の確認は不可能であった０ 本発明は、上記の課題を解決するために成されたもので
あり、その目的とするところは、ゴミや切粉等異物の付
着による測定誤差を無くし、下穴不良やタップ不良によ
るネジ不良を判定できると共にネジ穴の奥の不完全ネジ
部を除いた有効ネジ部のネジ深さ等の測定を正確に自動
的に行うことができるネジ穴検査測定装置を提供するこ
とである。
存在している。そして、機械加工部品にあって、そのネ
ジ穴は機能上重要な役割を占めるにも拘わらず、自動加
工する場合の自動検査・測定方法において有用な手段の
確率が成されていない。 上述のネジ穴の手動式測定法における手動測定用ゲージ
を用いた測定では、下火不良やタップ不良も発見し離く
、ネジ穴の奥に必ず存在する不完全ネジ部の把握ができ
なかった。 又、ネジ穴の自動式測定法において、マスクネジを加工
されたネジ穴に機械的にねじ込むことにより測定でき−
るのは、有効ネジ部のネジ深さのみであり、下穴不良や
タップ不良によるネジ不良まで判定する必要があるよう
なネジ品質に関して検査することはできなかった。 更に、ネジ穴におけるネジそのものは正常であってもネ
ジ加工された時の切粉の残留等があったりすると、有効
ネジ部のネジ深さにおいても誤判定をする可能性が多か
った。 又、タップミス検出器においては、ネジ穴のネジ加工の
有無を平均値的に捉えるため、有効ネジ部のネジ深さの
測定やネジ品質の確認は不可能であった０ 本発明は、上記の課題を解決するために成されたもので
あり、その目的とするところは、ゴミや切粉等異物の付
着による測定誤差を無くし、下穴不良やタップ不良によ
るネジ不良を判定できると共にネジ穴の奥の不完全ネジ
部を除いた有効ネジ部のネジ深さ等の測定を正確に自動
的に行うことができるネジ穴検査測定装置を提供するこ
とである。
上記課題を解決するための発明の構成は、予め加工され
たネジ穴のネジ山の形状に沿って先端に配設された接触
子が変位することにより前記ネジ穴のネジ山の形状に対
応してその半径方向の変位量を検出し信号を出力する測
定ヘッドと、前記測定ヘッドの接触子の前記ネジ穴の深
さ方向の移動量を検出し信号を出力する測長部と、前記
測定ヘッドの接触子を前記ネジ穴に挿入し、前記測定ヘ
ッドを前記ネジ穴の深さ方向に駆動させるヘッド駆動部
と、前記測定ヘッドと前記測長部とから出力された信号
を入力し、前記ネジ穴の有効ネジ部のネジ深さ等を算出
する信号演算処理部とを備えたことを特徴とする。
たネジ穴のネジ山の形状に沿って先端に配設された接触
子が変位することにより前記ネジ穴のネジ山の形状に対
応してその半径方向の変位量を検出し信号を出力する測
定ヘッドと、前記測定ヘッドの接触子の前記ネジ穴の深
さ方向の移動量を検出し信号を出力する測長部と、前記
測定ヘッドの接触子を前記ネジ穴に挿入し、前記測定ヘ
ッドを前記ネジ穴の深さ方向に駆動させるヘッド駆動部
と、前記測定ヘッドと前記測長部とから出力された信号
を入力し、前記ネジ穴の有効ネジ部のネジ深さ等を算出
する信号演算処理部とを備えたことを特徴とする。
予め加工されたネジ穴のネジ山の形状に沿って先端に配
設された接触子が変位する測定ヘッドによりネジ穴のネ
ジ山の形状に対応してその半径方向の変位量が検出され
、その信号が出力される。 又、測長部により上記測定ヘッドの接触子のネジ穴の深
さ方向の移動量が検出され、その信号が出力される。 ヘッド駆動部により測定ヘッドの接触子をネジ穴に挿入
した後、測定ヘッドがネジ穴の深さ方向に駆動される。 そして、信号演算処理部には測定ヘッドと測長部とから
出力された信号が入力され、ネジ穴の有効ネジ部のネジ
深さ等が算出される。
設された接触子が変位する測定ヘッドによりネジ穴のネ
ジ山の形状に対応してその半径方向の変位量が検出され
、その信号が出力される。 又、測長部により上記測定ヘッドの接触子のネジ穴の深
さ方向の移動量が検出され、その信号が出力される。 ヘッド駆動部により測定ヘッドの接触子をネジ穴に挿入
した後、測定ヘッドがネジ穴の深さ方向に駆動される。 そして、信号演算処理部には測定ヘッドと測長部とから
出力された信号が入力され、ネジ穴の有効ネジ部のネジ
深さ等が算出される。
以下、本発明を具体的な実施例に基づいて説明する。
第１図は本発明のネジ穴検査測定装置の構成を示した構
成図である。 １０は測定ヘッドであり、測定ヘッド１０の先端には接
触子１１が配設されている。又、測定ヘッド１０には測
長部を構成する測長ゲージ２０が一体的に配設されてい
る。 測長ゲージ２０の先端部２１は工作物Ｗのネジ穴深さ等
を測定するために、そのネジ穴の入口近傍に当接させる
必要があるが、本実施例においては、中間部材２２を介
して間接的に測長ゲージ２０の先端部２１を工作物Ｗの
ネジ穴の入口近傍に当接させている。そして、ネジ穴検
査測定時には、中間部材２２は測長ゲージ２０の先端部
２１と常に接触状態を保たれている。この中間部材２２
は測長ゲージ２０の先端部２１が工作物Ｗに当接してそ
の表面を傷つけたりしないよう又、ネジ穴検査測定準備
段階等において、測定ヘッド１０の接触子１１の周囲を
覆っており、その接触子１１の保護等を兼ねている。 ヘッド駆動部３０は、主として、基台３１にその両端を
軸支されたボールネジ３２、そのボールネジ３２を回転
駆動させるモータ３３及び測定ヘッド１０及び測長ゲー
ジ２０をボールネジ３２に取り付ける取付台３４とから
構成されている。そして、測定ヘッド１０及び測長ゲー
ジ２０はヘッド駆動部３０によりネジ穴深さ方向（図中
Ｘ矢印方向）に駆動される。 測定ヘッド１０及び測長ゲージ２０からの出力信号は信
号演算処理部４０に入力される。信号演算処理部４０は
、主として、測定ヘッド１０及び測長ゲージ２０からの
各入力信号を増幅する増幅器４１，４３、増幅器４１．
４３からの各アナログ信号をディジタル信号に変換する
Ａ／Ｄ変換器４２．４４、Ａ／Ｄ変換器４２．４４から
の各ディジタル信号をインタフェース（ＩＦ）４５を介
して入力し、ネジ穴の有効ネジ部のネジ深さ等を算出す
るＣＰＵ４６及び制御プログラム及び各種データを記憶
したメモリ４７とから構成されている。 又、各種データを入力、ネジ穴検査測定開始等を指示す
る操作盤５１とネジ穴検査測定結果等を表示する表示器
５２とがインタフェース（ＩＦ）４８を介してＣＰＵ４
６に接続されている。 次に、測定ヘッド１０及び測長ゲージ２０のより詳細な
構成について、第２図及び第３図を参照して説明する。 測定ヘッド１０の接触子１１は板バネ１３．１４等にて
支持されており、それら板バネ１３．１４等に対して接
触子１１と反対側には高透磁率の金属体１５が取り付け
られている。そして、その金属体１５の外周を囲むよう
に差動トランス１６が測定ヘッド１０の台板１２に固設
されている。 従って、接触子１１の変位は金属体１５の差動トランス
１６に対するネジ穴のネジ山の形状の半径方向の相対変
位量として検出される。 測長ゲージ２０の先端部２１０反対側には磁気目盛りで
あるマグネスケール２３が一体的に配設されている。そ
して、マグネスケール２３の移動量は測長ゲージ２０の
本体側に配設された磁気ヘッドを有する検出部２４によ
り読み取られる。 次に、信号演算処理部４０で使用されているＣＰ Ｕ
４６の処理手順を示した第４図のフローチャートに基づ
き、ネジ穴検査測定開始直後の測定ヘッド１０の接触子
１１及び測長ゲージ２０の先端部２１と工作物Ｗのネジ
穴との関係を示した第５図（ａ）、測定ヘッド１０及び
測長ゲージ２０からの各出力信号を示した第５図（ｂ）
を参照して説明する。 先ず、ステップ１００で測定ヘッド１０からの出力信号
Ｓ、を読み込む。 次にステップ１０２に移行して、ステップ１００で読み
込まれた測定ヘッド１０の出力信号Ｓｌが有効ネジ部の
変位量の下限値として予め設定された設定値ｊ以上であ
るか否かが判定される。 ここで、第５図（ａ）で示されたネジ穴検査測定開始直
後においては、ネジ下穴部に測定ヘッド１０の接触子１
１は接触しており、変位をしないので測定ヘッド１０の
出力信号Ｓ１は設定値ｊ以下であり、ステップ１．０２
の判定はＮＯであり、ステップ１００に戻り、上述の処
理を繰り返す。 測定ヘッド１０の接触子１１はヘッド駆動部３０により
ネジ穴の入口方向へ移動されるに従って、ネジ穴のネジ
下穴部から不完全ネジ部へ、更に、不完全ネジ部から有
効ネジ部へと移動される。 すると、測定ヘッドエ０の出力信号Ｓ１は不完全ネジ部
から有効ネジ部へと移行する位置で設定値ｊ以上となり
、ステップ１０２の判定はＹＥＳとなり、ステップ１０
４に移行する。 ステップ１０４では測定ヘッド１０の出力信号Ｓにより
ネジ穴の不完全ネジ部から有効ネジ部へと移行する位置
として測長ゲージ２０からの出力信号Ｓ２を読み込む。 そして、ステップ１０６に移行し、ステップ１０４で読
み込んだ測長ゲージ２０からの出力信号Ｓ２をｌ、とし
て記憶する。 次にステップ１０８に移行して、再度、測定ヘッド１０
からの出力信号Ｓｌを読み込む。 次にステップ１１０に移行して、ステップ１０８で読み
込まれた測定ヘッド１０の８力信号Ｓ、が有効ネジ部の
変位量の上限値として予め設定された設定値に以上であ
るか否かが判定される。 ここで、第５図（ａ）で示された有効ネジ部に沿って測
定ヘッド１０の接触子１１が接触している間は設定値に
以下であり、ステップ１１０の判定はＮＯであり、ステ
ップ１０８に戻り、上述の処理を繰り返す。 測定ヘッド１０の接触子１１はヘッド駆動部３０により
更に、ネジ穴の入口方向へ移動される。 すると、測定ヘッド１０の出力信号Ｓｌはネジ穴の有効
ネジ部から入口部へと移行する位置で測定ヘッド１０の
接触子１１がネジ穴から外れて大きく変位するため設定
値に以上となり、ステップ１１０の判定はＹＥＳとなり
、ステップ１１２に移行する。 ステップ］、 １２では測定ヘッド】０の出力信号Ｓ。 によりネジ穴の有効ネジ部から入口部へと移行する位置
として測長ゲージ２０からの出力信号Ｓ２を読み込む。 そして、ステップ１１４に移行し、ステップ１１２で読
み込んだ測長ゲージ２０からの出力信号Ｓ２を１２とし
て記憶する。 次にステップ１１６に移行して、ステップ１０６で記憶
された！、とステップ１１４で記憶されたｌ。 とから有効ネジ部のネジ深さｌを次式にて求める。 Ａ＝ Ａ、−＃。 次にステップ１１８に移行して、ステップ１１６で算出
された工作物Ｗのネジ穴の有効ネジ部のネジ深さｌがネ
ジ深さの許容値として予め設定された設定値り以上であ
るか否かが判定される。 ステップ１１ｇの判定は、工作物Ｗのネジ穴の有効ネジ
部のネジ深さｌが設定値り以上であるとＹＥＳであり、
ステップ１２０に移行し、ＯＫ表示を表示器５２に出力
し、設定値り未満であるとＮＯであり、ステップ１２２
に移行し、ＮＧ表示を表示器５２に出力して、本プログ
ラムを終了する。 尚、上述のプログラムでは、工作物Ｗのネジ穴の有効ネ
ジ部のネジ深さｌのみを判定し、その結果を表示するよ
うにしているが、予め適当な設定値を設定し、その設定
値と測定ヘッド１０又は測長ゲージ２０からの出力信号
とを比較することによりネジ下穴部の深さの測定及びネ
ジ下穴部の不良判定や不完全ネジ部の深さの測定も実行
可能であることは明らかである。 又、信号演算処理部４０のメモリ４７に判定したいネジ
穴に対応したネジ穴のモデルパターンの変位量を予め記
憶しておき、ヘッド駆動部３０と同期させてそのモデル
パターンと測定ヘット１０から読み込んだ出力信号とを
比較することによりネジ穴の形状判定を行うことも可能
となる。 この場合、ネジ穴のモデルパターンに対して、その判定
境界パターンを適当に設定することにより、下穴不良に
よるネジ不良やタップ摩耗等のタップ不良によるネジ不
良の判別、更に、ゴミや切粉等異物の付着の発見が容易
となり、ネジ品質に関する検査測定まで行うことが可能
となる。 更に、上述の実施例ではネジ穴の深さ方向の移動量の検
出に測長ゲージを使用しているが、これに限られるもの
でなく、ヘッド駆動部３０のモータ３３に取り付けられ
るエンコーダの信号によってその移動量を検出するよう
にしても良い。
成図である。 １０は測定ヘッドであり、測定ヘッド１０の先端には接
触子１１が配設されている。又、測定ヘッド１０には測
長部を構成する測長ゲージ２０が一体的に配設されてい
る。 測長ゲージ２０の先端部２１は工作物Ｗのネジ穴深さ等
を測定するために、そのネジ穴の入口近傍に当接させる
必要があるが、本実施例においては、中間部材２２を介
して間接的に測長ゲージ２０の先端部２１を工作物Ｗの
ネジ穴の入口近傍に当接させている。そして、ネジ穴検
査測定時には、中間部材２２は測長ゲージ２０の先端部
２１と常に接触状態を保たれている。この中間部材２２
は測長ゲージ２０の先端部２１が工作物Ｗに当接してそ
の表面を傷つけたりしないよう又、ネジ穴検査測定準備
段階等において、測定ヘッド１０の接触子１１の周囲を
覆っており、その接触子１１の保護等を兼ねている。 ヘッド駆動部３０は、主として、基台３１にその両端を
軸支されたボールネジ３２、そのボールネジ３２を回転
駆動させるモータ３３及び測定ヘッド１０及び測長ゲー
ジ２０をボールネジ３２に取り付ける取付台３４とから
構成されている。そして、測定ヘッド１０及び測長ゲー
ジ２０はヘッド駆動部３０によりネジ穴深さ方向（図中
Ｘ矢印方向）に駆動される。 測定ヘッド１０及び測長ゲージ２０からの出力信号は信
号演算処理部４０に入力される。信号演算処理部４０は
、主として、測定ヘッド１０及び測長ゲージ２０からの
各入力信号を増幅する増幅器４１，４３、増幅器４１．
４３からの各アナログ信号をディジタル信号に変換する
Ａ／Ｄ変換器４２．４４、Ａ／Ｄ変換器４２．４４から
の各ディジタル信号をインタフェース（ＩＦ）４５を介
して入力し、ネジ穴の有効ネジ部のネジ深さ等を算出す
るＣＰＵ４６及び制御プログラム及び各種データを記憶
したメモリ４７とから構成されている。 又、各種データを入力、ネジ穴検査測定開始等を指示す
る操作盤５１とネジ穴検査測定結果等を表示する表示器
５２とがインタフェース（ＩＦ）４８を介してＣＰＵ４
６に接続されている。 次に、測定ヘッド１０及び測長ゲージ２０のより詳細な
構成について、第２図及び第３図を参照して説明する。 測定ヘッド１０の接触子１１は板バネ１３．１４等にて
支持されており、それら板バネ１３．１４等に対して接
触子１１と反対側には高透磁率の金属体１５が取り付け
られている。そして、その金属体１５の外周を囲むよう
に差動トランス１６が測定ヘッド１０の台板１２に固設
されている。 従って、接触子１１の変位は金属体１５の差動トランス
１６に対するネジ穴のネジ山の形状の半径方向の相対変
位量として検出される。 測長ゲージ２０の先端部２１０反対側には磁気目盛りで
あるマグネスケール２３が一体的に配設されている。そ
して、マグネスケール２３の移動量は測長ゲージ２０の
本体側に配設された磁気ヘッドを有する検出部２４によ
り読み取られる。 次に、信号演算処理部４０で使用されているＣＰ Ｕ
４６の処理手順を示した第４図のフローチャートに基づ
き、ネジ穴検査測定開始直後の測定ヘッド１０の接触子
１１及び測長ゲージ２０の先端部２１と工作物Ｗのネジ
穴との関係を示した第５図（ａ）、測定ヘッド１０及び
測長ゲージ２０からの各出力信号を示した第５図（ｂ）
を参照して説明する。 先ず、ステップ１００で測定ヘッド１０からの出力信号
Ｓ、を読み込む。 次にステップ１０２に移行して、ステップ１００で読み
込まれた測定ヘッド１０の出力信号Ｓｌが有効ネジ部の
変位量の下限値として予め設定された設定値ｊ以上であ
るか否かが判定される。 ここで、第５図（ａ）で示されたネジ穴検査測定開始直
後においては、ネジ下穴部に測定ヘッド１０の接触子１
１は接触しており、変位をしないので測定ヘッド１０の
出力信号Ｓ１は設定値ｊ以下であり、ステップ１．０２
の判定はＮＯであり、ステップ１００に戻り、上述の処
理を繰り返す。 測定ヘッド１０の接触子１１はヘッド駆動部３０により
ネジ穴の入口方向へ移動されるに従って、ネジ穴のネジ
下穴部から不完全ネジ部へ、更に、不完全ネジ部から有
効ネジ部へと移動される。 すると、測定ヘッドエ０の出力信号Ｓ１は不完全ネジ部
から有効ネジ部へと移行する位置で設定値ｊ以上となり
、ステップ１０２の判定はＹＥＳとなり、ステップ１０
４に移行する。 ステップ１０４では測定ヘッド１０の出力信号Ｓにより
ネジ穴の不完全ネジ部から有効ネジ部へと移行する位置
として測長ゲージ２０からの出力信号Ｓ２を読み込む。 そして、ステップ１０６に移行し、ステップ１０４で読
み込んだ測長ゲージ２０からの出力信号Ｓ２をｌ、とし
て記憶する。 次にステップ１０８に移行して、再度、測定ヘッド１０
からの出力信号Ｓｌを読み込む。 次にステップ１１０に移行して、ステップ１０８で読み
込まれた測定ヘッド１０の８力信号Ｓ、が有効ネジ部の
変位量の上限値として予め設定された設定値に以上であ
るか否かが判定される。 ここで、第５図（ａ）で示された有効ネジ部に沿って測
定ヘッド１０の接触子１１が接触している間は設定値に
以下であり、ステップ１１０の判定はＮＯであり、ステ
ップ１０８に戻り、上述の処理を繰り返す。 測定ヘッド１０の接触子１１はヘッド駆動部３０により
更に、ネジ穴の入口方向へ移動される。 すると、測定ヘッド１０の出力信号Ｓｌはネジ穴の有効
ネジ部から入口部へと移行する位置で測定ヘッド１０の
接触子１１がネジ穴から外れて大きく変位するため設定
値に以上となり、ステップ１１０の判定はＹＥＳとなり
、ステップ１１２に移行する。 ステップ］、 １２では測定ヘッド】０の出力信号Ｓ。 によりネジ穴の有効ネジ部から入口部へと移行する位置
として測長ゲージ２０からの出力信号Ｓ２を読み込む。 そして、ステップ１１４に移行し、ステップ１１２で読
み込んだ測長ゲージ２０からの出力信号Ｓ２を１２とし
て記憶する。 次にステップ１１６に移行して、ステップ１０６で記憶
された！、とステップ１１４で記憶されたｌ。 とから有効ネジ部のネジ深さｌを次式にて求める。 Ａ＝ Ａ、−＃。 次にステップ１１８に移行して、ステップ１１６で算出
された工作物Ｗのネジ穴の有効ネジ部のネジ深さｌがネ
ジ深さの許容値として予め設定された設定値り以上であ
るか否かが判定される。 ステップ１１ｇの判定は、工作物Ｗのネジ穴の有効ネジ
部のネジ深さｌが設定値り以上であるとＹＥＳであり、
ステップ１２０に移行し、ＯＫ表示を表示器５２に出力
し、設定値り未満であるとＮＯであり、ステップ１２２
に移行し、ＮＧ表示を表示器５２に出力して、本プログ
ラムを終了する。 尚、上述のプログラムでは、工作物Ｗのネジ穴の有効ネ
ジ部のネジ深さｌのみを判定し、その結果を表示するよ
うにしているが、予め適当な設定値を設定し、その設定
値と測定ヘッド１０又は測長ゲージ２０からの出力信号
とを比較することによりネジ下穴部の深さの測定及びネ
ジ下穴部の不良判定や不完全ネジ部の深さの測定も実行
可能であることは明らかである。 又、信号演算処理部４０のメモリ４７に判定したいネジ
穴に対応したネジ穴のモデルパターンの変位量を予め記
憶しておき、ヘッド駆動部３０と同期させてそのモデル
パターンと測定ヘット１０から読み込んだ出力信号とを
比較することによりネジ穴の形状判定を行うことも可能
となる。 この場合、ネジ穴のモデルパターンに対して、その判定
境界パターンを適当に設定することにより、下穴不良に
よるネジ不良やタップ摩耗等のタップ不良によるネジ不
良の判別、更に、ゴミや切粉等異物の付着の発見が容易
となり、ネジ品質に関する検査測定まで行うことが可能
となる。 更に、上述の実施例ではネジ穴の深さ方向の移動量の検
出に測長ゲージを使用しているが、これに限られるもの
でなく、ヘッド駆動部３０のモータ３３に取り付けられ
るエンコーダの信号によってその移動量を検出するよう
にしても良い。
本発明は、先端に配設された接触子が変位することによ
りネジ穴のネジ山の形状に対応してその半径方向の変位
量を検出する測定ヘッドと、その測定ヘッドの接触子の
ネジ穴の深さ方向の移動量を検出する測長部と、測定ヘ
ッドをネジ穴の深さ方向に駆動させるヘッド駆動部と、
測定ヘッドと測長部とから信号を入力し、ネジ穴の有効
ネジ部のネジ深さ等を算出する信号演算処理部とを備え
ており、測定開始点の認識をネジの周期的変化を捉えて
行うため、ゴミや切粉等異物の付着による信号変化や工
作物の測定面状態の異常による測定誤差が無くなり、ネ
ジ穴の奥の不完全ネジ部を除いた有効ネジ部のネジ深さ
等の測定を正確に自動的に行うことができる。
りネジ穴のネジ山の形状に対応してその半径方向の変位
量を検出する測定ヘッドと、その測定ヘッドの接触子の
ネジ穴の深さ方向の移動量を検出する測長部と、測定ヘ
ッドをネジ穴の深さ方向に駆動させるヘッド駆動部と、
測定ヘッドと測長部とから信号を入力し、ネジ穴の有効
ネジ部のネジ深さ等を算出する信号演算処理部とを備え
ており、測定開始点の認識をネジの周期的変化を捉えて
行うため、ゴミや切粉等異物の付着による信号変化や工
作物の測定面状態の異常による測定誤差が無くなり、ネ
ジ穴の奥の不完全ネジ部を除いた有効ネジ部のネジ深さ
等の測定を正確に自動的に行うことができる。
【図面の簡単な説明】
第１図は本発明の具体的な一実施例に係るネジ穴検査測
定装置の構成を示した構成図。第２図は同実施例装置の
測定ヘッド及び測長ゲージ部分の第１図■矢視方向から
の内部構成を示した部分縦断面図。第３図は第２図■矢
視図。第４図は同実施例装置で使用されているＣＰＵの
処理手順を示したフローチャート。第５図（ａ）は同実
施例装置に係る測定ヘッドの接触子及び測長ゲージの先
端部と工作物のネジ穴との関係を示した説明図。第５図
（ｂ）は第５図（ａ）に対応した測定ヘッド及び測長ゲ
ージの出力信号を示した説明図。第６図は従来の手動測
定用ゲージを用いたネジ穴の測定を示した説明図。第７
図は従来のマスクネジを用いたネジ穴の測定を示した説
明図である。 １０ 測定ヘッド １１ 接触子
定装置の構成を示した構成図。第２図は同実施例装置の
測定ヘッド及び測長ゲージ部分の第１図■矢視方向から
の内部構成を示した部分縦断面図。第３図は第２図■矢
視図。第４図は同実施例装置で使用されているＣＰＵの
処理手順を示したフローチャート。第５図（ａ）は同実
施例装置に係る測定ヘッドの接触子及び測長ゲージの先
端部と工作物のネジ穴との関係を示した説明図。第５図
（ｂ）は第５図（ａ）に対応した測定ヘッド及び測長ゲ
ージの出力信号を示した説明図。第６図は従来の手動測
定用ゲージを用いたネジ穴の測定を示した説明図。第７
図は従来のマスクネジを用いたネジ穴の測定を示した説
明図である。 １０ 測定ヘッド １１ 接触子
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 予め加工されたネジ穴のネジ山の形状に沿って先端に配
設された接触子が変位することにより前記ネジ穴のネジ
山の形状に対応してその半径方向の変位量を検出し信号
を出力する測定ヘッドと、前記測定ヘッドの接触子の前
記ネジ穴の深さ方向の移動量を検出し信号を出力する測
長部と、前記測定ヘッドの接触子を前記ネジ穴に挿入し
、前記測定ヘッドを前記ネジ穴の深さ方向に駆動させる
ヘッド駆動部と、 前記測定ヘッドと前記測長部とから出力された信号を入
力し、前記ネジ穴の有効ネジ部のネジ深さ等を算出する
信号演算処理部と を備えたことを特徴とするネジ穴検査測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2114206A JP2902723B2 (ja) | 1990-04-27 | 1990-04-27 | ネジ穴検査測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2114206A JP2902723B2 (ja) | 1990-04-27 | 1990-04-27 | ネジ穴検査測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH049702A true JPH049702A (ja) | 1992-01-14 |
| JP2902723B2 JP2902723B2 (ja) | 1999-06-07 |
Family
ID=14631869
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2114206A Expired - Fee Related JP2902723B2 (ja) | 1990-04-27 | 1990-04-27 | ネジ穴検査測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2902723B2 (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006317469A (ja) * | 2006-08-30 | 2006-11-24 | Mitsutoyo Corp | ねじ形状測定方法、および、そのプログラムを記録した記録媒体 |
| JP2009020118A (ja) * | 2008-09-19 | 2009-01-29 | Mitsutoyo Corp | ねじ形状測定方法 |
| CN103673838A (zh) * | 2012-09-12 | 2014-03-26 | 昆山广禾电子科技有限公司 | 牙孔检测装置 |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6125001A (ja) * | 1984-07-13 | 1986-02-03 | Nippon Kokan Kk <Nkk> | ネジの検査装置 |
| JPS6191111U (ja) * | 1984-11-21 | 1986-06-13 |
-
1990
- 1990-04-27 JP JP2114206A patent/JP2902723B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6125001A (ja) * | 1984-07-13 | 1986-02-03 | Nippon Kokan Kk <Nkk> | ネジの検査装置 |
| JPS6191111U (ja) * | 1984-11-21 | 1986-06-13 |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006317469A (ja) * | 2006-08-30 | 2006-11-24 | Mitsutoyo Corp | ねじ形状測定方法、および、そのプログラムを記録した記録媒体 |
| JP2009020118A (ja) * | 2008-09-19 | 2009-01-29 | Mitsutoyo Corp | ねじ形状測定方法 |
| JP4641555B2 (ja) * | 2008-09-19 | 2011-03-02 | 株式会社ミツトヨ | ねじ穴形状測定方法 |
| CN103673838A (zh) * | 2012-09-12 | 2014-03-26 | 昆山广禾电子科技有限公司 | 牙孔检测装置 |
| CN103673838B (zh) * | 2012-09-12 | 2016-04-13 | 昆山广禾电子科技有限公司 | 牙孔检测装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2902723B2 (ja) | 1999-06-07 |
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Legal Events
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