JP4308038B2 - 部品実装検査方法および回路基板検査装置 - Google Patents
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Description
2 電極部
2a 絶縁フィルム
2b 電極
3,13,23 電気計測用プローブ
3a,13a プローブピン
3b 保持部
4 プローブ固定具
5a,5b プローブ移動機構
6 測定部
7 制御部
23a 先端部
23b 基端部
B 回路基板
C 静電容量
D0,D1・・D(n+3) 位置
Lp0,Lp1 距離
P 回路部品
Claims (8)
- 回路基板上における検査対象の回路部品が実装されているべき実装位置において当該回路基板の基板面から当該回路部品の上面までの距離よりも当該基板面から離間している第1の位置と当該実装位置において当該距離よりも当該基板面に接近している第2の位置との間を先端部が移動するようにばね式の電気計測用プローブを移動させ、前記両位置間での前記電気計測用プローブと基準電極との間についての電気的パラメータを間欠的または連続的に測定し、当該電気計測用プローブを移動させている状態において前記測定した測定値が一定値またはほぼ一定値となったときの前記電気計測用プローブから前記基板面までの距離と、前記電気計測用プローブの移動開始時点から当該電気計測用プローブが移動している状態において前記測定値が一定値またはほぼ一定値となった時点までの時間との少なくとも一方に基づいて前記回路部品の実装良否を検査する部品実装検査方法。
- 前記移動開始時点から前記測定値が一定値またはほぼ一定値となった時点までの前記時間が予め規定されている基準時間よりも長いときおよび短いときの少なくとも一方のときに、異なる種類の回路部品の前記回路部品としての実装、および前記回路部品の異常状態での実装のいずれかを検査結果とする請求項1記載の部品実装検査方法。
- 前記電気計測用プローブと前記基準電極との間の静電容量を前記電気的パラメータとして測定する請求項1または2記載の部品実装検査方法。
- 前記測定値が一定値またはほぼ一定値となった時点で前記電気計測用プローブの前記基板面に向けての移動を停止させる請求項1から3のいずれかに記載の部品実装検査方法。
- ばね式の電気計測用プローブと、当該電気計測用プローブを移動させるプローブ移動機構と、前記電気計測用プローブおよび基準電極の間についての電気的パラメータを測定する測定部と、前記プローブ移動機構を制御すると共に前記電気的パラメータの測定値に基づいて前記回路部品の実装良否を検査する制御部とを備え、
前記制御部は、回路基板上における検査対象の前記回路部品が実装されているべき実装位置において当該回路基板の基板面から当該回路部品の上面までの距離よりも当該基板面から離間している第1の位置と当該実装位置において当該距離よりも当該基板面に接近している第2の位置との間を先端部が移動するように前記プローブ移動機構を制御して前記電気計測用プローブを移動させると共に、前記両位置間での前記電気計測用プローブと基準電極との間についての前記電気的パラメータを前記測定部に対して間欠的または連続的に測定させ、当該電気計測用プローブを移動させている状態において前記測定値が一定値またはほぼ一定値となったときの前記電気計測用プローブから前記基板面までの距離と、前記移動開始時点から当該電気計測用プローブが移動している状態において前記測定値が一定値またはほぼ一定値となった時点までの時間との少なくとも一方に基づいて前記回路部品の実装良否を検査する回路基板検査装置。 - 前記制御部は、前記移動開始時点から前記測定値が一定値またはほぼ一定値となった時点までの前記時間が予め規定されている基準時間よりも長いときおよび短いときに、異なる種類の回路部品の前記回路部品としての実装、および前記回路部品の異常状態での実装のいずれかを検査結果とする請求項5記載の回路基板検査装置。
- 前記測定部は、前記電気計測用プローブと前記基準電極との間の静電容量を前記電気的パラメータとして測定する請求項5または6記載の回路基板検査装置。
- 前記制御部は、前記測定値が一定値またはほぼ一定値となった時点で、前記プローブ移動機構を制御して前記電気計測用プローブの前記基板面に向けての移動を停止させる請求項5から7のいずれかに記載の回路基板検査装置。
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