JPH046860A - 半導体装置 - Google Patents

半導体装置

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JPH046860A
JPH046860A JP2109609A JP10960990A JPH046860A JP H046860 A JPH046860 A JP H046860A JP 2109609 A JP2109609 A JP 2109609A JP 10960990 A JP10960990 A JP 10960990A JP H046860 A JPH046860 A JP H046860A
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JP
Japan
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semiconductor element
thermal conductivity
die pad
resin
semiconductor device
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Pending
Application number
JP2109609A
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English (en)
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Jun Shibata
潤 柴田
Haruo Shimamoto
晴夫 島本
Eiji Kobayashi
栄治 小林
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Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
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Publication date
Application filed by Mitsubishi Electric Corp filed Critical Mitsubishi Electric Corp
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Publication of JPH046860A publication Critical patent/JPH046860A/ja
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    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/4805Shape
    • H01L2224/4809Loop shape
    • H01L2224/48091Arched
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
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    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/481Disposition
    • H01L2224/48151Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
    • H01L2224/48221Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
    • H01L2224/48245Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic
    • H01L2224/48247Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic connecting the wire to a bond pad of the item
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/73Means for bonding being of different types provided for in two or more of groups H01L2224/10, H01L2224/18, H01L2224/26, H01L2224/34, H01L2224/42, H01L2224/50, H01L2224/63, H01L2224/71
    • H01L2224/732Location after the connecting process
    • H01L2224/73251Location after the connecting process on different surfaces
    • H01L2224/73265Layer and wire connectors

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  • Cooling Or The Like Of Semiconductors Or Solid State Devices (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は半導体素子を樹脂封止した半導体装置に関す
るものである。
〔従来の技術〕
第4図は従来の半導体装置を示す断面図で、図において
、(11は半導体素子、(2)は半導体素子(1)を固
定するダイパッド、(3)は半導体素子(1)をダイパ
ッド(2)に接着するはんだなとの接着層、(4)は半
導体装置(1)を外部回路と電気的機械的に接続するリ
ード、(5)は半導体素子(11とリード(4)を電気
的に接続するAu線、(6)は符号(1) −(5)の
部品をリード(4)の端部か外部に露出するようにして
封止する封止樹脂、(7)は半導体素子(1)がダイパ
ッド(2)に搭載されている側の封止樹脂(6)表面に
取付けられたヒートシンク、(8)はリード(4)を接
続する基板である。
次に動作について説明する。半導体素子(1)が作動す
ることにより発熱し、その熱は封止樹脂(6)を通して
ヒートシンク(7)に伝わり空気中に放熱される。
〔発明か解決しようとする課題〕
従来の半導体装置は以上のように構成されていたので、
半導体素子で発生した熱は、熱伝導性の悪い封止樹脂を
通らなければヒートシンクに伝わらず、また、熱はダイ
パッドやリードなとのり一トフレームを通しても放熱さ
れるが、半導体素子との熱膨張係数を合わせるため、熱
伝導性の悪い42アロイなとを使用する場合があるので
、放熱効率か悪く、また、ヒートシンクを外付けしてい
るので、占有体積が大きくなるなとの問題があった。
この発明は上記のような問題点を解消するためになされ
たもので、効率よく放熱できるとともに、小型化かでき
る半導体装置を得ることを目的とする。
〔課題を解決するだめの手段〕
この発明に係る半導体装置は、半導体素子を固定するダ
イパッドに貫通口又は凹部を設け、この凹部に高熱伝導
特性を有する材料の凸部をはめ込んで樹脂封止をしたも
のである。
〔作 用〕
この発明における半導体装置は、半導体素子か固定され
ているダイパッドは、貫通口又は凹部か設けられている
ため、高熱伝導率を有する材料を半導体素子に密着又は
近接して設置てき、封止樹脂、リードフレーム材料の影
響を受けることなく、効率の良い放熱ができ、また、高
熱伝導率を有する材料を一体て樹脂封止したのて小型化
かてきる。
〔実施例〕
以下、この発明の一実施例を図について説明する。第1
図において、(1)は半導体素子、(2)は半導体素子
(1)を固定するダイパッド、(3)は半導体素子(1
)をダイパッド(2)に接着するはんたなとの接着層、
(4)は外部回路と電気的機械的に接続するリート、(
5)は半導体素子(1)とリート(4)とを電気的に接
続するAu線で、リード(4)は半導体素子(1)かA
u線(5)でリート(4)と接続されている面倒に折り
曲げられている。(21)はダイパッド(2)に設けら
れたダイパッド貫通口、(7)は高熱伝導特性を有する
材料で作られたヒートシンクで、ダイパッド貫通口(2
1)にはめ込まれる凸部を有する。(9)はヒートシン
ク(7)のダイパッド貫通口(21)にはめ込まれた凸
部を半導体素子(1)の裏面に接着させるAgペースト
、シリコーン樹脂なとの緩衝層で、半導体素子(1)と
ヒートシンク(7)のすき間を埋めて密着性を高め、熱
伝導性を高める。また、半導体素子(1)とヒートシン
ク(ア)の熱膨張の差を吸収するという働きもする。
(6)は上記符号(11〜(5]、(71(9)の部品
をリード(4)及びヒートシンク(7)の一部が外部に
露出するように封止する封止樹脂である。
次に動作について説明する。半導体素子(1)か動作す
ることにより発生した熱は、緩衝層(8)を通りヒート
シンク(7)に伝わり外部に放熱される。
なお、上記実施例ではリード(4)を逆ベントしている
か従来とうりダイパッド(2)の半導体素子(1)が搭
載されている側の逆側に曲げてもよく、その場合ヒート
シンク(7)は基板(8)に接続し、基板(8)に放熱
することになる。
第2図はこの発明の他の実施例を示したもので、図にお
いて、ダイパッド(2)にダイパット凹部(22)を設
け、そこにヒートシンク(7)をはめ込んたものである
。これは、半導体素子(1)のダイパッド(2)への接
着の容易さを考慮しつつ、高い放熱性を得るようにした
ものである。
第3図はこの発明のさらにもう1つの他の実施例を示し
たもので、ヒートシンク(7)に外付はヒートシンクa
〔を取付けて、高い放熱性を得るようにしたちのである
また、上記実施例では外付はヒートシンクα■を設けた
場合を示したが、液冷装置強制空冷なとに適用しても同
様の効果を奏する。
〔発明の効果〕
以上のようにこの発明によれば、半導体装置を半導体素
子か固定されているダイパッドに貫通口又は凹部を設け
、この凹部に高熱伝導特性を有する材料の凸部をはめ込
んた状態て樹脂封止するよにしたので、半導体装置に高
い放熱性を持たせることかでき、また一体化して樹脂封
止したことにより小型化かでき、また半導体素子はダイ
パッドに固定されているので半導体素子に高熱伝導特性
を有する材料強固に固定する必要かないので、熱膨張率
を気にせず熱伝導性の高い材料を選ぶことかてきる。ま
た、ヒートシンクの位置合せが容易になるなとの効果か
ある。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの発明の一実施例である半導体装置の断面図
、第2図、第3図はこの発明の他の実施例を示す半導体
装置の断面図、第4図は従来の半導体装置の断面図であ
る。 図において、(11半導体素子、(2)ダイパッド、(
3)接着層、(6)封止樹脂、(7)ヒートシンク、(
9)は緩衝層、(2I)ダイパッド貫通口、(22)ダ
イパッド凹部を示す。 なお、 図中、 同一符号は同一 または相当部分 を示す。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1.  半導体素子を樹脂封止した半導体装置において、高熱
    伝導特性を有する材料を半導体素子裏面に密着又は近接
    した状態で一体化して樹脂封止したことを特徴とする半
    導体装置。
JP2109609A 1990-04-24 1990-04-24 半導体装置 Pending JPH046860A (ja)

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JP2109609A JPH046860A (ja) 1990-04-24 1990-04-24 半導体装置

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JP2109609A JPH046860A (ja) 1990-04-24 1990-04-24 半導体装置

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JPH046860A true JPH046860A (ja) 1992-01-10

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